JP2000111524A - Mass spectrometer - Google Patents

Mass spectrometer

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JP2000111524A
JP2000111524A JP10278065A JP27806598A JP2000111524A JP 2000111524 A JP2000111524 A JP 2000111524A JP 10278065 A JP10278065 A JP 10278065A JP 27806598 A JP27806598 A JP 27806598A JP 2000111524 A JP2000111524 A JP 2000111524A
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Japan
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gas
pressure
vacuum container
mass spectrometer
unit
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Hiroto Itoi
弘人 糸井
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Shimadzu Corp
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a mass spectrometer in which the inside of a vacuum container in a measuring or standby state can be returned to atmospheric pressure in a short time. SOLUTION: When the inside of a vacuum container 1 is to be returned to atmospheric pressure in a maintenance operation or the like, a temperature regulator 9 and an evacuation pump 2 are stopped. Then, when a leak switch 14 is turned on, a solenoid valve 12 is opened. An inert gas in a high-pressure gas cylinder 13 is jetted from a nozzle 10 and a nozzle 11 which are arranged and installed so as to be close to a heating part (a sample introduction part 3 and an ionization part 4 in the figure) inside the vacuum container 1. Consequently, the heating part is cooled quickly. When a pressure inside the vacuum container 1 reaches atmospheric pressure, a pressure switch 15 acts, and the solenoid, valve 12 is closed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、ガスクロマトグラ
フィ質量分析(GC/MS)などに用いられる質量分析
装置に関する。
The present invention relates to a mass spectrometer used for gas chromatography mass spectrometry (GC / MS) and the like.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来、質量分析による有機化合物の成分
分析に用いられるガスクロマトグラフィ質量分析装置
(GC/MS装置)には第2図に示すような構成が採ら
れている。ガスクロマトグラフ(GC)で成分分離をさ
れた試料は試料導入部3のセパレータでキャリアガスの
除去ならびに大気圧のGC側から高真空にある質量分析
装置(MS)側への減圧が行われ、試料導入部3からイ
オン化部4へ送られる。イオン化部4で試料は例えば電
子衝撃イオン化法による場合、レニウムなどのフィラメ
ントから放射される熱電子により衝撃されて試料の分
子、原子がイオン化される。イオン化された試料の分
子、原子イオンは例えば四重極マスアナライザ等の質量
分析計5で質量分離が行われ、そして質量分離を行った
試料の分子、原子イオンを例えばエレクトロンマルチプ
ライアといったイオン検出部6で検出することにより試
料中の特定元素の定性、定量測定を行う。イオン化から
イオン検出に至る系は測定イオンが他のイオンや残留ガ
スとの衝突を無くするため高真空に保つ必要があるので
試料導入部3、イオン化部4、質量分析部5、そしてイ
オン検出部6は真空容器1の中に収められ、そのための
排気ポンプ2が真空容器1に接続される。分析時および
待機時には排気ポンプ2を運転し、真空容器1の内部を
常時高真空に保つようにしている。
2. Description of the Related Art Conventionally, a gas chromatography mass spectrometer (GC / MS device) used for analyzing components of an organic compound by mass spectrometry has a structure as shown in FIG. The sample from which the components have been separated by the gas chromatograph (GC) is subjected to removal of the carrier gas by the separator of the sample introduction unit 3 and decompression from the GC side at atmospheric pressure to the mass spectrometer (MS) side under high vacuum. It is sent from the introduction unit 3 to the ionization unit 4. When the sample is subjected to, for example, an electron impact ionization method in the ionization section 4, molecules and atoms of the sample are ionized by being bombarded by thermoelectrons emitted from a filament such as rhenium. The molecules and atomic ions of the ionized sample are subjected to mass separation by a mass spectrometer 5 such as a quadrupole mass analyzer, and the molecules and atomic ions of the sample subjected to mass separation are detected by an ion detection unit such as an electron multiplier. By detecting in step 6, qualitative and quantitative measurement of the specific element in the sample is performed. In the system from ionization to ion detection, it is necessary to maintain a high vacuum in order to eliminate collision of the measured ions with other ions and residual gas. Therefore, the sample introduction unit 3, the ionization unit 4, the mass analysis unit 5, and the ion detection unit 6 is housed in the vacuum vessel 1, and an exhaust pump 2 for that purpose is connected to the vacuum vessel 1. During analysis and during standby, the exhaust pump 2 is operated so that the inside of the vacuum vessel 1 is always kept at a high vacuum.

【0003】一方、試料導入部3、イオン化部4、質量
分析部5、そしてイオン検出部6は試料の吸着、付着を
防止するために一般的に200゜C前後の温度に加熱さ
れており、そのためのヒータ7、8および温調器9が用
意される。また装置のメンテナンスなどのために真空容
器1を大気圧に戻すときのために図2、B部のように大
気に向かってリークさせるためのリークバルブ17を真
空容器1に取り付ける方法や、A部のように真空容器1
内を清浄に保つために置換ガス(窒素やヘリウム等の不
活性ガス)を真空容器1内に導入するため、置換ガスボ
ンベ16と電磁弁12が取り付けられる。メンテナンス
時にはヒータ7、8の通電を切り、排気ポンプ2の運転
を止め、リークバルブ17を開いて真空容器1内を大気
圧に戻すか、A部の場合では電磁弁12を開いて置換ガ
スボンベ16内の置換ガスを真空容器1に導入して真空
容器1内が大気圧に達した時電磁弁12を閉じる。
On the other hand, the sample introduction section 3, ionization section 4, mass analysis section 5, and ion detection section 6 are generally heated to a temperature of about 200 ° C. in order to prevent adsorption and adhesion of the sample. Heaters 7, 8 and a temperature controller 9 for that purpose are prepared. In order to return the vacuum container 1 to the atmospheric pressure for maintenance of the apparatus, a method of attaching a leak valve 17 for leaking to the atmosphere as shown in FIG. Vacuum container 1 like
In order to introduce a replacement gas (inert gas such as nitrogen or helium) into the vacuum vessel 1 to keep the inside clean, a replacement gas cylinder 16 and a solenoid valve 12 are attached. At the time of maintenance, the heaters 7 and 8 are turned off, the operation of the exhaust pump 2 is stopped, and the leak valve 17 is opened to return the inside of the vacuum vessel 1 to the atmospheric pressure, or in the case of part A, the solenoid valve 12 is opened and the replacement gas cylinder 16 is opened. The replacement gas is introduced into the vacuum vessel 1 and when the inside of the vacuum vessel 1 reaches the atmospheric pressure, the electromagnetic valve 12 is closed.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】従来の質量分析装置は
以上のように構成されているが、装置のメンテナンスな
どのために真空容器を大気圧に戻そうとする時、いきな
りバルブを開いて空気や置換ガスを真空容器に導入する
と高温になっている加熱部表面は空気中の酸素によって
激しく酸化され、また空気中の不純物、汚れの焼き付き
が生じ、加熱部の損傷を来すことがある(置換ガス導入
の場合でもメンテナンスのために真空容器を開ける場合
は開口部が大きく室内の空気に触れる恐れがある)。そ
のために通常は先に加熱を絶ち、加熱部の温度が100
゜C以下に下がるのを待ってから排気を停止し、その
後、真空容器を大気圧に戻していた。
The conventional mass spectrometer is constructed as described above. However, when the vacuum vessel is returned to the atmospheric pressure for maintenance of the apparatus, the valve is opened and the air is suddenly opened. When a hot gas or a replacement gas is introduced into a vacuum vessel, the surface of the heated section, which is hot, is violently oxidized by oxygen in the air, causing impurities and dirt in the air to seize, possibly causing damage to the heated section ( Even when the replacement gas is introduced, if the vacuum container is opened for maintenance, the opening is large and there is a risk of contact with room air.) Therefore, the heating is usually stopped first, and the temperature of the heating unit is set to 100
The evacuation was stopped after waiting for the temperature to drop below ゜ C, and then the vacuum vessel was returned to atmospheric pressure.

【0005】このために、真空容器を一度大気圧に戻そ
うとすると長い待ち時間を必要とし、非常に作業性が悪
かった。本発明は、このような事情に鑑みてなされたも
のであって、真空容器を大気圧に戻すとき、短時間でそ
の作業が完了する質量分析装置を提供することを目的と
する。
[0005] For this reason, once the vacuum vessel is returned to the atmospheric pressure, a long waiting time is required, and the workability is extremely poor. The present invention has been made in view of such circumstances, and it is an object of the present invention to provide a mass spectrometer that can complete its operation in a short time when returning a vacuum vessel to atmospheric pressure.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明の質量分析装置は、試料を導入する試料導入
部と導入された試料をイオン化するイオン化部とイオン
を質量ごとに分離する質量分析部と分離されたイオンを
検出するイオン検出部の少なくともいずれか一つに加熱
手段を備えるとともに、高圧ガス源に遮断弁を介して接
続されたノズルを設置し、このノズルが真空容器内で前
記加熱部位に向かって配設されたものである。これによ
って高圧ガス源に接続されたノズルは加熱部の温度を急
速に低下させ、短時間に真空容器を大気圧に戻すことが
できる。
In order to achieve the above object, a mass spectrometer according to the present invention separates ions by mass into a sample introduction section for introducing a sample and an ionization section for ionizing the introduced sample. At least one of the mass spectrometer and the ion detector for detecting the separated ions is provided with a heating means, and a nozzle connected to a high-pressure gas source via a shutoff valve is installed. And is disposed toward the heating portion. As a result, the nozzle connected to the high-pressure gas source rapidly reduces the temperature of the heating unit, and can return the vacuum container to the atmospheric pressure in a short time.

【0007】[0007]

【発明の実施の形態】以下、本発明の質量分析装置の一
実施例を図1により説明する。図1において、1は真空
容器で排気ポンプ2が接続されている。3はガスクロマ
トグラフから送られる試料を導入する試料導入部で、イ
オン化部4、質量分析部5そしてイオン検出部6が接続
され真空容器1内に配設されている。そして試料導入部
3、イオン化部4、質量分析部5そしてイオン検出部6
の内、加熱すべき部位に対してヒータ7、8が配設され
(図では加熱すべき部位として試料導入部3とイオン化
部4が選ばれている)、そのための温調器9がヒータ
7、8に接続される。一方同じく加熱された部位に合い
対して適当なオリフィスを有するノズル10、11が配
設され、これらのノズル10、11はヘリウムガス、ア
ルゴンガスまたは窒素ガスなどの不活性ガスの高圧ガス
ボンベ13と電磁弁12を介して配管接続されている。
なお電磁弁12は真空容器1に取り付けられた圧力スイ
ッチ15および操作盤に取り付けられたリークスイッチ
14と電気回路(図中点線で示されている)で接続され
ている。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS One embodiment of the mass spectrometer of the present invention will be described below with reference to FIG. In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a vacuum vessel to which an exhaust pump 2 is connected. Reference numeral 3 denotes a sample introduction unit for introducing a sample sent from the gas chromatograph. The ionization unit 4, the mass analysis unit 5, and the ion detection unit 6 are connected to each other and disposed in the vacuum vessel 1. Then, the sample introduction unit 3, the ionization unit 4, the mass analysis unit 5, and the ion detection unit 6
Among them, heaters 7 and 8 are arranged for a portion to be heated (in the figure, the sample introduction unit 3 and the ionization unit 4 are selected as a portion to be heated). , 8. On the other hand, nozzles 10 and 11 having appropriate orifices are provided corresponding to heated portions, and these nozzles 10 and 11 are connected to a high-pressure gas cylinder 13 of an inert gas such as helium gas, argon gas or nitrogen gas. The piping is connected via a valve 12.
The electromagnetic valve 12 is connected to a pressure switch 15 attached to the vacuum vessel 1 and a leak switch 14 attached to the operation panel via an electric circuit (indicated by a dotted line in the figure).

【0008】次に、図1の質量分析装置の動作を説明す
る。質量分析装置が測定中、または待機中、排気ポンプ
2は運転されており真空容器1は10−3Pa程度の高
真空に保たれている。そして真空容器1内の加熱すべき
部位、すなわち試料導入部3、イオン化部4、は各々配
設されている各ヒータ7、8によって250゜C〜20
0゜C程度の高温に加熱されている。温調器9はヒータ
7、8の温度を一定に制御するため、これらヒータの電
源をON/OFFしている。ここで質量分析装置をメン
テナンスなどのために運転を一時休止し、真空容器1内
を大気圧に戻そうとする時、オペレータはヒータ7、8
のヒータ通電を温調器9で断って加熱を停止させ、さら
に排気ポンプ2の運転を停止する。そしてリークスイッ
チ14をONにすると電磁弁12は開となって高圧ガス
ボンベ13内のガスはノズル10、11から加熱部位に
向かって噴射される。ノズル10、11が開かれた瞬間
は噴射されたガスは真空部への断熱自由膨張となって、
この場合は真空容器1内が真空に保たれているためガス
の膨張に逆らう力は存在せず、したがってガス分子間の
相互作用は全く無く、膨張によるガス分子間の距離が増
加(体積の増加)してもエネルギの出入りは起こらない
からガスの温度は変化しない。しかし、排気が停止され
容器は密閉された状態にあるから極めて短時間の内に真
空容器1内の圧力は上昇し、高圧ガスの噴射は真空容器
1内への断熱可逆膨張へ移行する。すなわちガス膨張に
逆らう力が生じ、膨張によってガスの持つ内部エネルギ
が消費され、その結果ガス温度が低下するのである。高
圧ガスの体積がV1からV2へ変化(膨張)するとし、
同じく絶対温度がT1からT2へと変化するとした場
合、比熱比をγとして真空容器1内のガス温度T2はT
2=T1(V1/V2)γ −1となって加熱部は急冷さ
れる。そして真空容器1内が大気圧に達すると圧力スイ
ッチ15が働いて電磁弁12は閉じられる。
Next, the operation of the mass spectrometer shown in FIG. 1 will be described. During measurement or standby of the mass spectrometer, the exhaust pump 2 is operated, and the vacuum vessel 1 is kept at a high vacuum of about 10 −3 Pa. The portions to be heated in the vacuum vessel 1, that is, the sample introduction section 3 and the ionization section 4, are heated to 250 ° C. to 20 ° C. by the heaters 7 and 8 provided respectively.
It is heated to a high temperature of about 0 ° C. In order to control the temperature of the heaters 7 and 8 to be constant, the temperature controller 9 turns on and off the power of these heaters. Here, when the operation of the mass spectrometer is temporarily stopped for maintenance or the like, and the interior of the vacuum vessel 1 is to be returned to the atmospheric pressure, the operator operates the heaters 7 and 8.
Is turned off by the temperature controller 9 to stop heating, and further, the operation of the exhaust pump 2 is stopped. When the leak switch 14 is turned on, the solenoid valve 12 is opened, and the gas in the high-pressure gas cylinder 13 is injected from the nozzles 10 and 11 toward the heated portion. At the moment when the nozzles 10 and 11 are opened, the injected gas becomes adiabatic free expansion into a vacuum part,
In this case, since the inside of the vacuum vessel 1 is kept in a vacuum, there is no force against the expansion of the gas, so there is no interaction between the gas molecules, and the distance between the gas molecules due to the expansion increases (the volume increases). ) Does not change the gas temperature because no energy enters or exits. However, since the evacuation is stopped and the container is in a sealed state, the pressure in the vacuum container 1 increases in a very short time, and the injection of the high-pressure gas shifts to adiabatic reversible expansion into the vacuum container 1. That is, a force against the gas expansion is generated, and the internal energy of the gas is consumed by the expansion, and as a result, the gas temperature decreases. Assuming that the volume of the high-pressure gas changes (expands) from V1 to V2,
Similarly, when the absolute temperature changes from T1 to T2, the gas temperature T2 in the vacuum vessel 1 becomes T
2 = T1 (V1 / V2) γ− 1, and the heating unit is rapidly cooled. When the pressure in the vacuum chamber 1 reaches the atmospheric pressure, the pressure switch 15 operates and the solenoid valve 12 is closed.

【0009】なお、図示例では加熱部位として試料導入
部3とイオン化部4が選ばれ、それに対してノズルが設
けられているが、それ以外の質量分析部5やイオン検出
部6にヒータおよびノズルを設けても良く、より試料イ
オンの効率の良い飛翔が期待できる。
In the illustrated example, the sample introduction section 3 and the ionization section 4 are selected as heating portions, and nozzles are provided for the sample introduction section 3 and the ionization section 4. May be provided, and more efficient flight of sample ions can be expected.

【0010】また、上記の実施例では、高圧ガスを真空
容器1内への噴射ガス源として用いるよう説明したが、
これに限定されるものではなく、例えば液化ガスを噴射
ガス源として用いることもできる。さらに、上記の実施
例では、真空容器1内の圧力が大気圧になったとき電磁
弁12を閉じていたが、温調器9を利用して加熱部位が
100゜C以下に下がったことを検出してこの信号で電
磁弁12を閉じることもできる。この場合、真空容器1
内の圧力が高くなるのを避けるため真空容器1に逆止弁
を取り付け、或程度ガスを流出させて真空容器1内を低
圧に保つようにすれば膨張を大きく、したがって温度低
下も大きくできて冷却はより効果的である。
[0010] In the above embodiment, the high pressure gas is used as the source of the injection gas into the vacuum vessel 1.
However, the present invention is not limited to this. For example, a liquefied gas can be used as the injection gas source. Further, in the above embodiment, the solenoid valve 12 was closed when the pressure in the vacuum vessel 1 reached the atmospheric pressure. However, it was confirmed that the temperature of the heated portion was reduced to 100 ° C. or less by using the temperature controller 9. Upon detection, this signal can be used to close the solenoid valve 12. In this case, the vacuum vessel 1
If a non-return valve is attached to the vacuum vessel 1 in order to prevent the internal pressure from increasing, and if a certain amount of gas is allowed to flow out to keep the inside of the vacuum vessel 1 at a low pressure, the expansion will be large, and the temperature drop will be large. Cooling is more effective.

【0011】[0011]

【発明の効果】本発明の質量分析装置は前記のように構
成されており、高圧ガスを真空容器内の加熱部位にノズ
ルから噴射するようにしたので加熱部位の温度を急速に
下げることができるので真空容器を大気に戻すために長
時間待つ必要がなく、短時間に真空容器を開放してメン
テナンスにかかることができる。
According to the mass spectrometer of the present invention, the high-pressure gas is jetted from the nozzle to the heated portion in the vacuum vessel, so that the temperature of the heated portion can be rapidly lowered. Therefore, it is not necessary to wait for a long time to return the vacuum container to the atmosphere, and it is possible to open the vacuum container in a short time and perform maintenance.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】 本発明の質量分析装置の一実施例を示す図で
ある。
FIG. 1 is a diagram showing one embodiment of a mass spectrometer of the present invention.

【図2】 従来の質量分析装置を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a conventional mass spectrometer.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1………真空容器 9………温調器 2………排気ポンプ 10、11…ノズル 3………試料導入部 12………電磁弁 4………イオン化部 13………高圧ガスボ
ンベ 5………質量分析部 14………リークスイ
ッチ 7、8…ヒータ 15………圧力スイッ
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Vacuum container 9 ... Temperature controller 2 ... Exhaust pump 10, 11 ... Nozzle 3 ... Sample introduction part 12 ... Solenoid valve 4 ... Ionization part 13 ... High-pressure gas cylinder 5 ...... Mass spectrometer 14 Leak switch 7, 8 Heater 15 Pressure switch

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 試料を導入する試料導入部と、導入され
た試料をイオン化するイオン化部と、イオンを質量ごと
に分離する質量分析部と、分離されたイオンを検出する
イオン検出部およびこれらを収容する真空容器から成る
質量分析装置において、前記試料導入部とイオン化部と
質量分析部とイオン検出部の少なくとも一つに加熱手段
を備えるとともに、高圧ガス源に遮断弁を介して接続さ
れたノズルを備え、このノズルが前記真空容器内で前記
加熱部位に向かって設置されていることを特徴とする質
量分析装置。
1. A sample introduction section for introducing a sample, an ionization section for ionizing the introduced sample, a mass analysis section for separating ions by mass, an ion detection section for detecting separated ions, and In a mass spectrometer comprising a vacuum container to house therein, at least one of the sample introduction unit, the ionization unit, the mass analysis unit, and the ion detection unit includes a heating unit, and a nozzle connected to a high-pressure gas source via a shutoff valve. Wherein the nozzle is installed in the vacuum vessel toward the heating portion.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2005055396A (en) * 2003-08-07 2005-03-03 Shimadzu Corp Power source frequency determination device, temperature regulator including the same, and analyzer
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