JP2000088705A - Device for monitoring light of excimer laser - Google Patents

Device for monitoring light of excimer laser

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JP2000088705A
JP2000088705A JP27424998A JP27424998A JP2000088705A JP 2000088705 A JP2000088705 A JP 2000088705A JP 27424998 A JP27424998 A JP 27424998A JP 27424998 A JP27424998 A JP 27424998A JP 2000088705 A JP2000088705 A JP 2000088705A
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JP
Japan
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beam splitter
monitor
optical
light
monitoring device
Prior art date
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Application number
JP27424998A
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Japanese (ja)
Inventor
Hirokazu Tanaka
宏和 田中
Koichi Sakano
晃一 坂野
Satoru Butsushida
了 仏師田
Yasushi Shio
耕史 塩
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Komatsu Ltd
Original Assignee
Komatsu Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a light monitoring device in which damage to optical parts is almost prevented and maintainability is improved. SOLUTION: A light monitoring device is provided with a beam splitter 3 to sample a part of the laser light 2 of a narrow-band excimer laser, a light monitor to measure the output characteristics of sample light, and a monitor box 8 to house and approximately shield the light monitor so as to prevent outer air from mixing into the vicinity of the light monitor. In this case, the light monitoring device is provided with a mounting unit 10 with both a flange part 12 provided at the peripheral part on one end side of a hollow tubular cabinet 11 for mounting the beam splitter 3 and a beam splitter mounting surface 16 inclined by a predetermined degree θ with respect to the axis on the other end side of the tubular cabinet 11, and the no-coat beam splitter 3 is mounted to the beam splitter mounting surface 16.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、狭帯域化されたエ
キシマレーザのレーザ光の特性を計測する光モニタ装置
に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an optical monitor for measuring the characteristics of laser light of an excimer laser having a narrow band.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、波長を狭帯域化された狭帯域
化エキシマレーザにおいて、そのレーザ光の一部をサン
プル光として光軸の外部にサンプリングし、レーザ光の
パワーや中心波長等の特性を測定する、光モニタ装置が
知られている。図3及び図4は、従来技術に係わる光モ
ニタ装置の構成図であり、以下同図に基づいて従来技術
を説明する。
2. Description of the Related Art Conventionally, in a narrow-band excimer laser whose wavelength is narrowed, a part of the laser light is sampled outside the optical axis as a sample light, and characteristics such as power and center wavelength of the laser light are sampled. There is known an optical monitoring device for measuring the following. 3 and 4 are configuration diagrams of an optical monitoring device according to the related art, and the related art will be described below with reference to the drawings.

【0003】まず、図3に、従来技術に係わる光モニタ
装置の一例を示す。同図において、狭帯域化エキシマレ
ーザ1から発振されたレーザ光2の一部は、ビームスプ
リッタ3で図中下方に反射し、レーザ光2の特性を測定
するためのサンプル光4となる。このサンプル光4を第
2ビームスプリッタ27で分配し、パワー検出器6や波
長検出器7等の検出器に入力させてその特性を測定する
技術が知られている。
First, FIG. 3 shows an example of an optical monitor device according to the prior art. In FIG. 1, a part of a laser beam 2 oscillated from a narrow-band excimer laser 1 is reflected downward by a beam splitter 3 in the figure to become a sample beam 4 for measuring the characteristics of the laser beam 2. There is known a technique in which the sample light 4 is distributed by a second beam splitter 27 and input to detectors such as a power detector 6 and a wavelength detector 7 to measure the characteristics.

【0004】しかしながら、図3に示す光モニタ装置で
は、第2ビームスプリッタ27等のサンプル光4の光路
に配置されている光学部品や、検出器に使用されている
光学部品が外気に対してむき出しになっているため、こ
れらの光学部品に埃が付着することがある。そして、光
学部品にサンプル光4が照射された際に、付着した埃が
焼きつけられ、光学部品を損傷させることがある。
However, in the optical monitoring device shown in FIG. 3, the optical components such as the second beam splitter 27 disposed on the optical path of the sample light 4 and the optical components used for the detector are exposed to the outside air. Therefore, dust may adhere to these optical components. Then, when the optical component is irradiated with the sample light 4, the attached dust is burned and may damage the optical component.

【0005】そのため、図4に示すように、これらの光
学部品をモニタボックス8に収納して外気から略遮蔽
し、モニタボックス8の内部に窒素等の清浄な不活性ガ
スをパージして、光学部品に埃が付着しないようにする
技術が知られている。
[0005] Therefore, as shown in FIG. 4, these optical components are housed in a monitor box 8 so as to be substantially shielded from the outside air, and a clean inert gas such as nitrogen is purged into the monitor box 8. A technique for preventing dust from adhering to components is known.

【0006】同図において、モニタボックス8はダクト
9によって狭帯域化エキシマレーザ1と連結されてい
る。そして、モニタボックス8は、ビームスプリッタ3
の下流にウィンドウ25を備えており、レーザ光2はこ
のウィンドウ25を透過してモニタボックス8の外部に
出射する。このウィンドウ25はモニタボックス8の壁
面の一部を構成しており、外気がモニタボックス8の内
部に入り込むのを略遮蔽する役割を果たしている。ま
た、モニタボックス8にはパージ用の配管26が接続さ
れ、清浄な窒素をモニタボックス8内部にパージしてい
る。
In FIG. 1, a monitor box 8 is connected to a narrow-band excimer laser 1 by a duct 9. Then, the monitor box 8 includes the beam splitter 3
The laser beam 2 passes through the window 25 and exits outside the monitor box 8. The window 25 forms a part of the wall surface of the monitor box 8 and plays a role of substantially shielding outside air from entering the inside of the monitor box 8. Further, a purge pipe 26 is connected to the monitor box 8 to purge clean nitrogen into the monitor box 8.

【0007】[0007]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記図
4に示された従来技術には、次に述べるような問題点が
ある。
However, the prior art shown in FIG. 4 has the following problems.

【0008】前記従来技術におけるウィンドウ25に
は、レーザ光2に対する透過率を上げるための反射防止
コーティングが施されている。この反射防止コーティン
グが施されていないと、レーザ光2はウィンドウ25に
入射した際にその一部が反射され、ウィンドウ25を透
過するレーザ光2のパワーが数%減少してしまう。さら
には、ウィンドウ25で反射した反射光が、モニタボッ
クス8の内部で乱反射して前記特性の計測の誤差の原因
となったり、狭帯域化エキシマレーザ1に戻ってレーザ
発振に悪影響を与えたりする。そのため、ウィンドウ2
5をレーザ光2の光路内に配置する場合には、反射防止
コーティングを施す必要がある。
The window 25 in the prior art is provided with an anti-reflection coating for increasing the transmittance to the laser beam 2. If the anti-reflection coating is not applied, a part of the laser beam 2 is reflected when entering the window 25, and the power of the laser beam 2 passing through the window 25 is reduced by several percent. Further, the light reflected by the window 25 is irregularly reflected inside the monitor box 8 and causes a measurement error of the characteristics, or returns to the narrow-band excimer laser 1 and adversely affects laser oscillation. . Therefore, window 2
When the laser beam 5 is arranged in the optical path of the laser beam 2, it is necessary to apply an antireflection coating.

【0009】ところが、この反射防止コーティングのコ
ーティング膜は、紫外線であるレーザ光2に対する耐性
が弱く、長期間レーザ光2を照射すると劣化する。その
ために、ウィンドウ25の透過率が下がってしまうばか
りか、なおも照射を続けると、劣化したコーティング膜
にレーザ光2が集中し、ウィンドウ25が損傷する。こ
のため、従来はたびたびウィンドウ25を交換しなけれ
ばならず、そのメンテナンスに多大な時間を要している
という問題がある。
However, the coating film of the antireflection coating has a low resistance to the laser beam 2, which is ultraviolet rays, and deteriorates when the laser beam 2 is irradiated for a long time. Therefore, not only does the transmittance of the window 25 decrease, but if the irradiation is continued, the laser beam 2 concentrates on the deteriorated coating film, and the window 25 is damaged. For this reason, conventionally, the window 25 has to be replaced frequently, and there is a problem that much time is required for the maintenance.

【0010】本発明は、上記の問題点に着目してなされ
たものであり、光学部品の損傷を起こりにくくし、かつ
メンテナンス性を向上させた、エキシマレーザの光モニ
タ装置を提供することを目的としている。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above problems, and an object of the present invention is to provide an optical monitor for an excimer laser, in which damage to an optical component is less likely to occur and maintenance is improved. And

【0011】[0011]

【課題を解決するための手段、作用及び効果】上記の目
的を達成するために、第1構成の発明は、狭帯域化エキ
シマレーザが出力するレーザ光の光路上に設けられ、レ
ーザ光の一部をサンプリングするビームスプリッタと、
このサンプリングされたサンプル光の特性を計測する光
モニタと、この光モニタを収納して、光モニタの近傍に
外気が混入しないように略遮蔽するモニタボックスとを
備えたエキシマレーザの光モニタ装置において、前記ビ
ームスプリッタがモニタボックスの壁面の一部を構成
し、このビームスプリッタにより、モニタボックスの内
部を略遮蔽している。
Means for Solving the Problems, Functions and Effects In order to achieve the above object, the invention of the first configuration is provided on an optical path of a laser beam output from a narrow-band excimer laser, and includes a laser beam. A beam splitter for sampling the section,
An excimer laser optical monitor device including an optical monitor that measures the characteristics of the sampled sample light and a monitor box that houses the optical monitor and substantially shields outside air from entering near the optical monitor. The beam splitter forms a part of the wall surface of the monitor box, and the inside of the monitor box is substantially shielded by the beam splitter.

【0012】第1構成に記載の発明によれば、ビームス
プリッタにより、モニタボックスを遮蔽させている。こ
れにより、モニタボックスのウィンドウが不要となり、
光学部品の数が減って、光モニタ装置の構成が簡単にな
る。
According to the invention described in the first configuration, the monitor box is shielded by the beam splitter. This eliminates the need for a monitor box window,
The number of optical components is reduced, and the configuration of the optical monitoring device is simplified.

【0013】また、第2構成の発明は、第1構成記載の
光モニタ装置において、前記ビームスプリッタが、反射
防止コーティングされていないノーコートのビームスプ
リッタである。
According to a second aspect of the present invention, in the optical monitoring device according to the first aspect, the beam splitter is an uncoated beam splitter that is not coated with an anti-reflection coating.

【0014】第2構成に記載の発明によれば、ビームス
プリッタをノーコートとしている。これにより、反射防
止コーティングがないので、コーティング膜が劣化する
ことがなく、ビームスプリッタの損傷が起こりにくくな
ってその寿命が長くなる。
According to the invention described in the second configuration, the beam splitter is uncoated. As a result, since there is no antireflection coating, the coating film does not deteriorate, the beam splitter is less likely to be damaged, and its life is extended.

【0015】また、第3構成の発明は、狭帯域化エキシ
マレーザが出力するレーザ光の光路上に設けられ、レー
ザ光の一部をサンプリングするビームスプリッタと、こ
のサンプリングされたサンプル光の特性を計測する光モ
ニタと、この光モニタを収納して、光モニタの近傍に外
気が混入しないように略遮蔽するモニタボックスとを備
えたエキシマレーザの光モニタ装置において、中空の筒
状筐体と、その筒状筐体の一端側の外周部に設けられ
た、筒状筐体をモニタボックスに取りつけるためのフラ
ンジ部と、この筒状筐体の他端側に軸芯方向に対して所
定角度θ傾けて設けられた、ビームスプリッタを取りつ
けるためのビームスプリッタ取付面とを有する取付ユニ
ットを備え、このビームスプリッタ取付面にノーコート
のビームスプリッタを取りつけている。
Further, the invention of the third configuration provides a beam splitter provided on the optical path of the laser light output from the narrow-band excimer laser and sampling a part of the laser light, and a characteristic of the sampled light sampled. A hollow cylindrical housing in an excimer laser optical monitoring device including an optical monitor to be measured and a monitor box that houses the optical monitor and substantially shields outside air from entering near the optical monitor; A flange portion provided on an outer peripheral portion at one end side of the cylindrical housing for attaching the cylindrical housing to a monitor box, and a predetermined angle θ with respect to the axial direction at the other end side of the cylindrical housing. A mounting unit having a beam splitter mounting surface for mounting the beam splitter, the mounting unit being provided at an angle, and an uncoated beam splitter mounted on the beam splitter mounting surface. It is mounting.

【0016】第3構成記載の発明によれば、所定の角度
の取付面を有するビームスプリッタ取付ユニットにビー
ムスプリッタを取りつけ、これをモニタボックスに取り
つけている。これにより、ビームスプリッタが予め所定
の角度に取りつけられているので、位置決めが容易とな
る。また、交換や洗浄時に、ビームスプリッタが容易に
取り外し可能であるので、メンテナンス性が向上する。
According to the invention described in the third configuration, the beam splitter is mounted on the beam splitter mounting unit having the mounting surface at a predetermined angle, and this is mounted on the monitor box. This facilitates positioning because the beam splitter is previously mounted at a predetermined angle. In addition, since the beam splitter can be easily removed at the time of replacement or cleaning, the maintainability is improved.

【0017】また、第4構成の発明は、第3構成記載の
光モニタ装置において、前記モニタボックスに前記取付
ユニット取りつけ用の位置決めピンを設けている。
According to a fourth aspect of the present invention, in the optical monitoring device according to the third aspect, the monitor box is provided with positioning pins for mounting the mounting unit.

【0018】第4構成記載の発明によれば、モニタボッ
クスに位置決めピンを設けている。これにより、ビーム
スプリッタを取りつけた取付ユニット10をモニタボッ
クス8に容易に位置決め可能であり、取りつけ時の手間
が省力化できる。
According to the invention described in the fourth configuration, the positioning pins are provided on the monitor box. Thus, the mounting unit 10 on which the beam splitter is mounted can be easily positioned on the monitor box 8, and labor for mounting can be saved.

【0019】[0019]

【発明の実施の形態】以下、図を参照しながら、本発明
に係わる実施形態を詳細に説明する。尚、前記図3、図
4と同一の要素には同一符号を付し、重複説明は省略す
る。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Note that the same elements as those in FIGS. 3 and 4 are denoted by the same reference numerals, and redundant description will be omitted.

【0020】図1は、本実施形態に係わる光モニタ装置
の構成図である。同図において、光モニタ装置は、狭帯
域化エキシマレーザ1から発振されたレーザ光2の一部
をサンプリングするビームスプリッタ3、ビームスプリ
ッタ3を取りつける取付ユニット10、ビームスプリッ
タ3でサンプリングされたサンプル光4の特性を計測す
る光モニタ5、光モニタ5を収納するモニタボックス
8、モニタボックス8から突出した中空の筒状のダクト
9、及び光モニタ5をコントロールする光モニタコント
ローラ28を備えている。さらに、モニタボックス8に
はパージ用の配管26が接続され、窒素などの清浄な不
活性ガスをここから導入し、モニタボックス8内をクリ
ーンな環境に保つようになっている。
FIG. 1 is a configuration diagram of an optical monitor device according to the present embodiment. In FIG. 1, an optical monitoring device includes a beam splitter 3 for sampling a part of a laser beam 2 oscillated from a narrow-band excimer laser 1, a mounting unit 10 for mounting the beam splitter 3, and a sample beam sampled by the beam splitter 3. An optical monitor 5 for measuring the characteristics of the optical monitor 4, a monitor box 8 accommodating the optical monitor 5, a hollow cylindrical duct 9 protruding from the monitor box 8, and an optical monitor controller 28 for controlling the optical monitor 5 are provided. Further, a purge pipe 26 is connected to the monitor box 8, and a clean inert gas such as nitrogen is introduced from here, so that the inside of the monitor box 8 is kept in a clean environment.

【0021】まず、光モニタ5は、サンプル光4のパワ
ーを計測するパワー検出器6、サンプル光4の中心波長
及び線幅を測定する波長検出器7、及びサンプル光4を
パワー検出器6と波長検出器7とに分配する第2ビーム
スプリッタ27を備えている。
First, the optical monitor 5 includes a power detector 6 for measuring the power of the sample light 4, a wavelength detector 7 for measuring the center wavelength and the line width of the sample light 4, and the power detector 6. A second beam splitter 27 for distributing to the wavelength detector 7 is provided.

【0022】そして、パワー検出器6は、光−電圧変換
機構を備えており、サンプル光4のパワーに対応した電
圧を出力する。また、波長検出器7は、サンプル光4を
拡散するすりガラス21、入射した光の波長に対応した
干渉縞を形成するモニタエタロン22、干渉縞を光位置
検出器24に集光する集光レンズ23、及び干渉縞の間
隔と縞幅とを検出し、その間隔と縞幅とに対応した電圧
をそれぞれ出力する光位置検出器24を備えている。パ
ワー検出器6と波長検出器7とは、いずれも光モニタコ
ントローラ28に接続されており、信号を互いに送受信
することが可能である。
The power detector 6 has a light-voltage conversion mechanism and outputs a voltage corresponding to the power of the sample light 4. The wavelength detector 7 includes a frosted glass 21 for diffusing the sample light 4, a monitor etalon 22 for forming interference fringes corresponding to the wavelength of the incident light, and a condenser lens 23 for converging the interference fringes to the optical position detector 24. And an optical position detector 24 that detects the interval and the stripe width of the interference fringes and outputs a voltage corresponding to the interval and the stripe width. The power detector 6 and the wavelength detector 7 are both connected to the optical monitor controller 28 and can transmit and receive signals to and from each other.

【0023】次に図2に、ビームスプリッタ3を取りつ
ける取付ユニット10の詳細断面図を示す。同図に示す
ように、この取付ユニット10は、中空の筒状筐体11
の一端側の外周部にフランジ部12を有しており、この
フランジ部12は、ネジ13によりモニタボックス8に
着脱可能に取りつけられるようになっている。フランジ
部12には、モニタボックス8に取りつけられた位置決
めピン15に嵌合するように、ピン穴14が設けられて
おり、モニタボックス8に対する取付ユニット10の位
置決め、即ちビームスプリッタ3の位置決めをしてい
る。
Next, FIG. 2 shows a detailed sectional view of the mounting unit 10 for mounting the beam splitter 3. As shown in FIG. 1, the mounting unit 10 includes a hollow cylindrical housing 11.
Has a flange portion 12 on one end side thereof, and the flange portion 12 is detachably attached to the monitor box 8 by screws 13. A pin hole 14 is provided in the flange portion 12 so as to be fitted to a positioning pin 15 attached to the monitor box 8, and the positioning of the mounting unit 10 relative to the monitor box 8, that is, the positioning of the beam splitter 3. ing.

【0024】また、筒状筐体11の他端側には、レーザ
光2の光軸2Aに対して所定角度θ傾いたビームスプリ
ッタ取付面16を有しており、さらにこのビームスプリ
ッタ取付面16は、ビームスプリッタ3がほぼ嵌合する
円形の凹み19の底面に設けられている。ビームスプリ
ッタ3は、この凹み19に嵌められて、図中左下方向か
ら板バネ17を介してネジ18によってビームスプリッ
タ取付面16に押しつけられており、レーザ光2の光軸
2Aに対して所定角度θ傾けられて固定される。また、
フランジ部12には、レーザ光2が通過する出射口20
があけられている。このように、取付ユニット10とビ
ームスプリッタ3とはモニタボックス8の壁面の一部を
構成しており、モニタボックス8の内部にある光モニタ
5を外気から略遮蔽する役割を果たしている。
The other end of the cylindrical housing 11 has a beam splitter mounting surface 16 inclined at a predetermined angle θ with respect to the optical axis 2A of the laser beam 2, and further has a beam splitter mounting surface 16 Is provided on the bottom surface of the circular recess 19 into which the beam splitter 3 is almost fitted. The beam splitter 3 is fitted into the recess 19 and pressed against the beam splitter mounting surface 16 by a screw 18 via a leaf spring 17 from the lower left direction in the figure, and is at a predetermined angle with respect to the optical axis 2A of the laser beam 2. θ is tilted and fixed. Also,
The flange portion 12 has an emission port 20 through which the laser light 2 passes.
Has been opened. As described above, the mounting unit 10 and the beam splitter 3 constitute a part of the wall surface of the monitor box 8 and play a role of substantially shielding the optical monitor 5 inside the monitor box 8 from the outside air.

【0025】以下、図1に基づいて、本実施形態に係わ
る光モニタ装置の作用について、詳細に説明する。狭帯
域化エキシマレーザ1から発振されたレーザ光2は、ダ
クト9の内部を通って、図中右方向へと進み、ビームス
プリッタ3に入射する。レーザ光2の大部分は、ビーム
スプリッタ3を透過して筒状筐体11の内部を通り、フ
ランジ部12にあけられた出射口20からモニタボック
ス8の外部に出射する。
Hereinafter, the operation of the optical monitoring device according to the present embodiment will be described in detail with reference to FIG. The laser light 2 oscillated from the narrow band excimer laser 1 passes through the inside of the duct 9, travels rightward in the figure, and enters the beam splitter 3. Most of the laser light 2 passes through the beam splitter 3, passes through the inside of the cylindrical housing 11, and is emitted to the outside of the monitor box 8 from the emission port 20 opened in the flange 12.

【0026】また、レーザ光2の一部はビームスプリッ
タ3で図中下方向に反射され、サンプル光4となって光
モニタ5に入射し、特性を計測される。光モニタ5に入
射したサンプル光4のうち、一部は第2ビームスプリッ
タ27によって右方向に反射されてパワー検出器6に入
射し、残りは第2ビームスプリッタ27を透過して波長
検出器7に入射する。
A part of the laser beam 2 is reflected by the beam splitter 3 in the downward direction in the figure, becomes a sample beam 4 and is incident on the optical monitor 5, and its characteristics are measured. A part of the sample light 4 incident on the optical monitor 5 is reflected rightward by the second beam splitter 27 and is incident on the power detector 6, and the rest is transmitted through the second beam splitter 27 and passed through the wavelength detector 7. Incident on.

【0027】パワー検出器6にサンプル光4が入射する
と、パワー検出器6は入射したサンプル光4のパワーに
対応する電圧を出力する。この出力された電圧を、パワ
ー検出器6に接続された光モニタコントローラ28で演
算し、ビームスプリッタ3及び第2ビームスプリッタ2
7の反射率に基づいて補正することにより、レーザ光2
のパワーを測定することができる。
When the sample light 4 enters the power detector 6, the power detector 6 outputs a voltage corresponding to the power of the incident sample light 4. The output voltage is calculated by the optical monitor controller 28 connected to the power detector 6, and the beam splitter 3 and the second beam splitter 2 are calculated.
7 based on the reflectance of the laser light 2
Power can be measured.

【0028】また、波長検出器7に入射したサンプル光
4は、すりガラス21で拡散され、モニタエタロン22
に入射する。モニタエタロン22は、入射したサンプル
光4の中心波長に対応した間隔及び線幅に対応した縞幅
を有する干渉縞を形成し、この干渉縞は、集光レンズ2
3によって光位置検出器24上に結像される。光位置検
出器24は、この干渉縞の間隔及び縞幅を計測し、波長
検出器7に接続した光モニタコントローラ28に出力す
る。光モニタコントローラ28は、この間隔及び縞幅を
演算することにより、レーザ光2の中心波長及び線幅を
算出している。
The sample light 4 incident on the wavelength detector 7 is diffused by the frosted glass 21 and the monitor etalon 22
Incident on. The monitor etalon 22 forms an interference fringe having an interval corresponding to the center wavelength of the incident sample light 4 and a stripe width corresponding to the line width.
3 forms an image on the light position detector 24. The optical position detector 24 measures the interval and the fringe width of the interference fringes, and outputs them to the optical monitor controller 28 connected to the wavelength detector 7. The optical monitor controller 28 calculates the center wavelength and the line width of the laser light 2 by calculating the interval and the stripe width.

【0029】尚、このときビームスプリッタ3は、反射
防止コーティングを施されていないノーコートのものが
使用されている。なぜならば、反射防止コーティングを
施したビームスプリッタ3においては、レーザ光2の長
時間の照射によってウィンドウ25の場合と同様にコー
ティング膜が損傷し、ビームスプリッタ3をたびたび交
換しなければならない。これに対し、ノーコートのビー
ムスプリッタ3ではその損傷が起こらず、ビームスプリ
ッタ3の寿命を長くすることが可能である。そして、反
射防止コーティングが施されていなくとも、ビームスプ
リッタ3で反射したレーザ光2は、すべて図中下方に反
射されてサンプル光4となる。従って、従来技術のよう
に、反射光がモニタボックス8の内部で乱反射したり、
狭帯域化エキシマレーザ1に戻ったりして問題となるこ
とがない。また、ビームスプリッタ3の材料としては、
SiO2 や、フッ化物結晶、特にCaF2 が望ましい。
これは、これらの材料が特に紫外線光に対する耐久性が
強いためであり、特にArFエキシマレーザに対して有
効である。
At this time, the beam splitter 3 is a non-coated one without an anti-reflection coating. This is because, in the beam splitter 3 provided with the antireflection coating, the coating film is damaged by the long-time irradiation of the laser beam 2 as in the case of the window 25, and the beam splitter 3 must be replaced frequently. On the other hand, no damage occurs in the uncoated beam splitter 3, and the life of the beam splitter 3 can be extended. Then, even if the anti-reflection coating is not applied, all the laser light 2 reflected by the beam splitter 3 is reflected downward in the drawing to become a sample light 4. Therefore, as in the prior art, the reflected light is irregularly reflected inside the monitor box 8,
There is no problem of returning to the narrow band excimer laser 1. Further, as a material of the beam splitter 3,
SiO2 and fluoride crystals, particularly CaF2, are desirable.
This is because these materials have particularly high durability against ultraviolet light, and are particularly effective for an ArF excimer laser.

【0030】また、本実施形態では、光モニタ5として
レーザ光2のパワーを計測するパワー検出器6と中心波
長及び線幅を計測する波長検出器7とを備えているが、
これらの検出器に加えて、或いはこれらの検出器の代わ
りに、レーザ光2の断面形状と位置を測定するビームプ
ロファイル検出器、レーザ光2の発散角と進行方向とを
測定するビームダイバージェンス検出器、レーザ光2の
パルス発振する際の時間幅を測定するパルスデュレーシ
ョン検出器等の検出器を備えてもよい。この場合、サン
プル光4を分配するビームスプリッタが新たに必要とな
る。
In the present embodiment, the optical monitor 5 includes the power detector 6 for measuring the power of the laser beam 2 and the wavelength detector 7 for measuring the center wavelength and the line width.
In addition to or in place of these detectors, a beam profile detector that measures the cross-sectional shape and position of the laser light 2 and a beam divergence detector that measures the divergence angle and traveling direction of the laser light 2 Alternatively, a detector such as a pulse duration detector for measuring the time width of the pulse oscillation of the laser light 2 may be provided. In this case, a new beam splitter for distributing the sample light 4 is required.

【0031】以上説明したように、本実施形態における
光モニタ装置は、光モニタ5にレーザ光2を導くビーム
スプリッタ3が、光モニタ5を収納するモニタボックス
8の壁面の一部を構成し、光モニタ5を外気から略遮蔽
している。これにより、従来技術において必要であった
モニタボックス8の出射側のウィンドウ25が不要とな
り、光学部品の点数が減少する。
As described above, in the optical monitor device according to the present embodiment, the beam splitter 3 that guides the laser light 2 to the optical monitor 5 forms a part of the wall surface of the monitor box 8 that houses the optical monitor 5. The optical monitor 5 is substantially shielded from outside air. This eliminates the need for the window 25 on the emission side of the monitor box 8, which is required in the prior art, and reduces the number of optical components.

【0032】しかも、ノーコートのビームスプリッタ3
でモニタボックス8を遮蔽しているので、反射防止コー
ティングを施したウィンドウ25でモニタボックス8を
遮蔽していた従来技術に比較して、ビームスプリッタ3
が損傷することが非常に少ない。
In addition, the uncoated beam splitter 3
Is shielded by the window splitter 3 compared with the prior art in which the monitor box 8 is shielded by the window 25 coated with an anti-reflection coating.
Very little damage.

【0033】さらに、従来技術では、ウィンドウ25が
レーザ光2の光軸に対して略垂直に配置されているた
め、反射光が狭帯域化エキシマレーザ1内に戻ってレー
ザ発振を妨げたり、モニタボックス8内に乱反射して計
測誤差の原因となったりしている。これに対し、本実施
形態では、ビームスプリッタ3で反射する光はすべてサ
ンプル光4となり、上記のような問題となることがな
く、レーザ光2の特性計測に有効に使用される。
Further, in the prior art, since the window 25 is disposed substantially perpendicular to the optical axis of the laser light 2, the reflected light returns into the narrow band excimer laser 1 to prevent laser oscillation, The irregular reflection in the box 8 causes a measurement error. On the other hand, in the present embodiment, all the light reflected by the beam splitter 3 becomes the sample light 4, and does not cause the above-described problem, and is effectively used for measuring the characteristics of the laser light 2.

【0034】また、フランジ部12を有する取付ユニッ
ト10にビームスプリッタ3を取りつけているので、ビ
ームスプリッタ3を交換する際にも、取りつけ及び取り
外しが容易である。さらに、レーザ光2の光軸2Aに対
して所定角度θを有するビームスプリッタ取付面16に
ビームスプリッタ3を取りつけているので、ビームスプ
リッタ3の取付角度を微調整する必要がない。そして、
モニタボックス8に位置決めピン15を設け、これに合
わせて取付ユニット10を取りつけるので、取りつけの
際に煩雑な位置決めが不要である。このように、ビーム
スプリッタ3の取りつけ及び取り外しが容易であり、メ
ンテナンス性が非常に良好となる。
Further, since the beam splitter 3 is mounted on the mounting unit 10 having the flange portion 12, when the beam splitter 3 is replaced, it can be easily mounted and removed. Further, since the beam splitter 3 is mounted on the beam splitter mounting surface 16 having a predetermined angle θ with respect to the optical axis 2A of the laser beam 2, there is no need to finely adjust the mounting angle of the beam splitter 3. And
Since the positioning pins 15 are provided on the monitor box 8 and the mounting unit 10 is mounted in accordance with the positioning pins 15, complicated positioning is not required at the time of mounting. Thus, the attachment and detachment of the beam splitter 3 are easy, and the maintainability is very good.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施形態に係わる図。FIG. 1 is a diagram related to an embodiment of the present invention.

【図2】ビームスプリッタ取付部の詳細断面図。FIG. 2 is a detailed sectional view of a beam splitter mounting portion.

【図3】従来技術による光モニタ装置の説明図。FIG. 3 is an explanatory diagram of an optical monitoring device according to a conventional technique.

【図4】光モニタ装置の説明図。FIG. 4 is an explanatory diagram of an optical monitoring device.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1…狭帯域化エキシマレーザ、2…レーザ光、2A…光
軸、3…ビームスプリッタ、4…サンプル光、5…光モ
ニタ、6…パワー検出器、7…波長検出器、8…モニタ
ボックス、9…ダクト、10…取付ユニット、11…筒
状筐体、12…フランジ部、13…ネジ、14…ピン
穴、15…位置決めピン、16…ビームスプリッタ取付
面、17…板バネ、18…ネジ、19…凹み、20…出
射口、21…すりガラス、22…モニタエタロン、23
…集光レンズ、24…光位置検出器、25…ウィンド
ウ、26…配管、27…第2ビームスプリッタ、28…
光モニタコントローラ。
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Excimer laser narrowing, 2 ... Laser light, 2A ... Optical axis, 3 ... Beam splitter, 4 ... Sample light, 5 ... Optical monitor, 6 ... Power detector, 7 ... Wavelength detector, 8 ... Monitor box, 9: duct, 10: mounting unit, 11: cylindrical housing, 12: flange, 13: screw, 14: pin hole, 15: positioning pin, 16: beam splitter mounting surface, 17: leaf spring, 18: screw , 19 ... recess, 20 ... exit, 21 ... ground glass, 22 ... monitor etalon, 23
... Condenser lens, 24 ... Optical position detector, 25 ... Window, 26 ... Piping, 27 ... Second beam splitter, 28 ...
Optical monitor controller.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 仏師田 了 栃木県小山市横倉新田400 株式会社小松 製作所テクノセンタ内 (72)発明者 塩 耕史 栃木県小山市横倉新田400 株式会社小松 製作所テクノセンタ内 Fターム(参考) 2G086 EE03 EE12 5F071 AA06 HH02 JJ03 JJ10 5F072 AA06 HH02 JJ03 JJ20 KK15 YY11  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (72) Inventor Ryo Buddha Rata 400 Yokokura Nitta, Koyama City, Tochigi Prefecture Inside the Komatsu Manufacturing Techno Center (72) Inventor Koji Shio 400 Yokokura Nitta 400, Oyama City, Tochigi Prefecture Komatsu Manufacturing Techno Co., Ltd. F term in the center (reference) 2G086 EE03 EE12 5F071 AA06 HH02 JJ03 JJ10 5F072 AA06 HH02 JJ03 JJ20 KK15 YY11

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 狭帯域化エキシマレーザ(1) が出力する
レーザ光(2) の光路上に設けられ、レーザ光(2) の一部
をサンプリングするビームスプリッタ(3) と、 このサンプリングされたサンプル光(4) の特性を計測す
る光モニタ(5) と、 この光モニタ(5) を収納して、光モニタ(5) の近傍に外
気が混入しないように略遮蔽するモニタボックス(8) と
を備えたエキシマレーザの光モニタ装置において、 前記ビームスプリッタ(3) がモニタボックス(8) の壁面
の一部を構成し、このビームスプリッタ(3) により、モ
ニタボックス(8) の内部を略遮蔽していることを特徴と
する光モニタ装置。
1. A beam splitter (3) provided on an optical path of a laser beam (2) output from a narrow-band excimer laser (1) and sampling a part of the laser beam (2). An optical monitor (5) that measures the characteristics of the sample light (4), and a monitor box (8) that houses the optical monitor (5) and substantially shields the outside of the optical monitor (5) so that outside air does not enter. In the excimer laser optical monitoring device provided with the above, the beam splitter (3) constitutes a part of the wall surface of the monitor box (8), and the inside of the monitor box (8) is substantially formed by the beam splitter (3). An optical monitoring device characterized by being shielded.
【請求項2】 請求項1記載の光モニタ装置において、 前記ビームスプリッタ(3) が、反射防止コーティングさ
れていないノーコートのビームスプリッタ(3) であるこ
とを特徴とする光モニタ装置。
2. The optical monitoring device according to claim 1, wherein the beam splitter is a non-coated anti-reflection coated beam splitter.
【請求項3】 狭帯域化エキシマレーザ(1) が出力する
レーザ光(2) の光路上に設けられ、レーザ光(2) の一部
をサンプリングするビームスプリッタ(3) と、 このサンプリングされたサンプル光(4) の特性を計測す
る光モニタ(5) と、 この光モニタ(5) を収納して、光モニタ(5) の近傍に外
気が混入しないように略遮蔽するモニタボックス(8) と
を備えたエキシマレーザの光モニタ装置において、 中空の筒状筐体(11)と、 その筒状筐体(11)の一端側の外周部に設けられた、筒状
筐体(11)をモニタボックス(8) に取りつけるためのフラ
ンジ部(12)と、 この筒状筐体(11)の他端側に軸芯方向に対して所定角度
θ傾けて設けられた、ビームスプリッタ(3) を取りつけ
るためのビームスプリッタ取付面(16)とを有する取付ユ
ニット(10)を備え、 このビームスプリッタ取付面(16)にノーコートのビーム
スプリッタ(3) を取りつけたことを特徴とする光モニタ
装置。
3. A beam splitter (3) provided on an optical path of a laser beam (2) output from a narrow-band excimer laser (1) and sampling a part of the laser beam (2). An optical monitor (5) that measures the characteristics of the sample light (4), and a monitor box (8) that houses the optical monitor (5) and substantially shields the outside of the optical monitor (5) so that outside air does not enter. An optical monitoring device for an excimer laser comprising: a hollow cylindrical housing (11); and a cylindrical housing (11) provided on an outer peripheral portion on one end side of the cylindrical housing (11). A flange portion (12) for mounting to the monitor box (8) and a beam splitter (3) provided at the other end of the cylindrical housing (11) at a predetermined angle θ with respect to the axial direction. And a mounting unit (10) having a beam splitter mounting surface (16) for mounting, the beam splitter mounting surface (16) An optical monitoring device characterized in that an uncoated beam splitter (3) is mounted on the optical monitor.
【請求項4】 請求項3記載の光モニタ装置において、 前記モニタボックス(8) に前記取付ユニット(10)取りつ
け用の位置決めピン(15)を設けたことを特徴とする光モ
ニタ装置。
4. The optical monitoring device according to claim 3, wherein the monitor box (8) is provided with a positioning pin (15) for mounting the mounting unit (10).
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