JP2000078000A - Waveform shaping circuit - Google Patents

Waveform shaping circuit

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JP2000078000A
JP2000078000A JP10243162A JP24316298A JP2000078000A JP 2000078000 A JP2000078000 A JP 2000078000A JP 10243162 A JP10243162 A JP 10243162A JP 24316298 A JP24316298 A JP 24316298A JP 2000078000 A JP2000078000 A JP 2000078000A
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reference frequency
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Yukihiro Koyama
幸博 小山
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a waveform shaping circuit which can shorten the lock time, can decrease the number of delay circuit elements and also can reduce the area of a delay circuit. SOLUTION: This waveform shaping circuit includes a feedback clock sampling circuit 14 which compares the phase of a reference clock CLKS with the phase of an output signal (feedback clock CLKR) and decides whether the leading edge (a) of the clock CLKS. should be set at the leading edge (b) or trailing edge (d) of the clock CLKR, a feedback clock inverting signal generation circuit 13 which outputs the clock CLKR after turning it forward or backward based on the deciding result of the circuit 14 and the delay control circuits 15 and 16 which give the delay value equivalent to the phase difference between the clock CLKS and the output of the circuit 13 to the clock CLKS to use these delay value as output signals.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、波形整形回路に関
し、特に、入力される基準周波数信号の波形を整形して
出力する波形整形回路に関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a waveform shaping circuit, and more particularly to a waveform shaping circuit for shaping and outputting a waveform of an input reference frequency signal.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来の位相合わせ込み回路(波形整形回
路)には、基準周波数信号の波形を整えてフリップフロ
ップ等の所要の回路に供給するものがある。この位相合
わせ込み回路は、位相同期ループ回路(Phase Lock Loo
p:PLL回路)を有し、入力される基準周波数信号の位
相と、入力側に帰還する出力信号(以下、帰還信号とも
呼ぶ)の位相とを比較する。
2. Description of the Related Art Some conventional phase matching circuits (waveform shaping circuits) adjust the waveform of a reference frequency signal and supply the adjusted signal to a required circuit such as a flip-flop. This phase matching circuit is a phase locked loop circuit (Phase Lock Loo
p: PLL circuit), and compares the phase of an input reference frequency signal with the phase of an output signal that is fed back to the input side (hereinafter also referred to as a feedback signal).

【0003】上記従来の位相合わせ込み回路が、クロッ
ク抽出回路として特開平6-61993号公報等に記載されて
いる。一般に、位相合わせ込み回路は、位相比較器を有
しており、この位相比較器では、基準周波数信号の立上
がりエッジと帰還信号の立上がりエッジとを相互に比較
し、基準周波数信号の立上がりエッジに少しずつ遅延を
与えながら、基準周波数信号と帰還信号とのタイミング
を合わせる。
The above-mentioned conventional phase matching circuit is described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 6-61993 as a clock extraction circuit. In general, the phase matching circuit has a phase comparator. The phase comparator compares the rising edge of the reference frequency signal with the rising edge of the feedback signal, and generates a small signal at the rising edge of the reference frequency signal. The timing of the reference frequency signal and the timing of the feedback signal are adjusted while delaying each time.

【0004】[0004]

【発明が解決しようとする課題】上記従来の位相比較器
を用いた位相合わせ込み(波形整形)処理では、基準周
波数信号と帰還信号との間に例えば半周期程度の位相差
がある場合に、遅延回路素子による遅延調整幅が少なく
とも1周期分は用意されていなければ、位相合わせ込み
を適正に行うことができない。このため、膨大な数の遅
延回路素子が必要になり、また、約1周期分の遅延調整
幅内で位相ロックするための長いロックタイムが必要で
あった。
In the above-described phase matching (waveform shaping) processing using the phase comparator, when there is a phase difference of, for example, about a half cycle between the reference frequency signal and the feedback signal, If at least one cycle of the delay adjustment width by the delay circuit element is not prepared, the phase matching cannot be properly performed. Therefore, an enormous number of delay circuit elements are required, and a long lock time for phase locking within a delay adjustment width of about one cycle is required.

【0005】本発明は、上記に鑑み、ロックタイムを短
縮することができ、遅延回路素子数を削減し遅延回路の
面積を縮小することができる波形整形回路を提供するこ
とを目的とする。
[0005] In view of the above, it is an object of the present invention to provide a waveform shaping circuit capable of shortening the lock time, reducing the number of delay circuit elements, and reducing the area of the delay circuit.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の波形整形回路は、入力される基準周波数信
号の波形を整形して出力信号とする波形整形回路におい
て、前記基準周波数信号の位相と前記出力信号の位相と
を比較し、前記基準周波数信号の所定の第1エッジを、
前記出力信号の第1及び第2エッジのいずれに合わせ込
むかを判定する判定回路と、前記判定回路の判定結果に
従って、前記出力信号を正転又は反転して出力する正転
/反転回路と、前記基準周波数信号と前記正転/反転回
路の出力との位相差に対応する遅延量を前記基準周波数
信号に与えて前記出力信号とする遅延制御回路とを備え
ることを特徴とする。
In order to achieve the above object, the present invention provides a waveform shaping circuit for shaping a waveform of an input reference frequency signal to obtain an output signal. Is compared with the phase of the output signal, a predetermined first edge of the reference frequency signal,
A determining circuit for determining which of the first and second edges of the output signal is to be matched, a forward / inverting circuit for inverting or inverting the output signal according to the determination result of the determining circuit, A delay control circuit that applies a delay amount corresponding to a phase difference between the reference frequency signal and an output of the forward / inverting circuit to the reference frequency signal to be the output signal.

【0007】本発明の波形整形回路では、出力信号の第
1エッジ及び第2エッジの内で合わせ込みが早い方を選
択しながら基準周波数信号の所定の第1エッジを位相合
わせするので、ロックタイムを従来に比して大幅に短縮
でき、これに伴い、遅延回路素子数を削減し遅延回路の
面積を縮小することができる。
In the waveform shaping circuit according to the present invention, the predetermined first edge of the reference frequency signal is phase-matched while selecting one of the first edge and the second edge of the output signal that has the fastest matching. Can be greatly reduced as compared with the related art, and accordingly, the number of delay circuit elements can be reduced and the area of the delay circuit can be reduced.

【0008】ここで、前記第1エッジが立上がりエッ
ジ、前記第2エッジが立下がりエッジから夫々成り、前
記判定回路は、前記基準周波数信号の立上がりエッジを
前記出力信号の立上がりエッジに合わせ込むと判定した
ときには第1判定信号を出力し、前記基準周波数信号の
立上がりエッジを前記出力信号の立下がりエッジに合わ
せ込むと判定したときには第2判定信号を出力すること
が好ましい。この場合、正転/反転回路によって出力信
号を正転又は反転する処理が迅速になる。
Here, the first edge is a rising edge, and the second edge is a falling edge, and the determination circuit determines that the rising edge of the reference frequency signal matches the rising edge of the output signal. Preferably, a first determination signal is output when the determination is made, and a second determination signal is output when it is determined that the rising edge of the reference frequency signal matches the falling edge of the output signal. In this case, the process of inverting or inverting the output signal by the inversion / inversion circuit is quickened.

【0009】また、前記正転/反転回路は、前記第1判
定信号の出力時には前記出力信号を正転して前記遅延制
御回路に出力し、前記第2判定信号の出力時には前記出
力信号を反転して前記遅延制御回路に出力することが好
ましい。これにより、出力信号を正転又は反転する処理
が迅速になる。
The forward / inverting circuit inverts the output signal when the first determination signal is output and outputs the output signal to the delay control circuit, and inverts the output signal when the second determination signal is output. Then, it is preferable to output to the delay control circuit. This speeds up the process of inverting or inverting the output signal.

【0010】更に好ましくは、前記第1判定信号の出力
時には前記遅延制御回路からの基準周波数信号を正転し
て前記出力信号とし、前記第2判定信号の出力時には前
記遅延制御回路からの基準周波数信号を反転して前記出
力信号とする信号出力回路を更に備える。これにより、
正転/反転回路によって反転された出力信号に準じた基
準周波数信号を正規の状態に戻して出力することができ
る。
More preferably, when the first determination signal is output, the reference frequency signal from the delay control circuit is inverted to be the output signal, and when the second determination signal is output, the reference frequency signal from the delay control circuit is output. And a signal output circuit for inverting a signal to be the output signal. This allows
The reference frequency signal according to the output signal inverted by the normal rotation / inversion circuit can be returned to a normal state and output.

【0011】好ましくは、前記正転/反転回路からの前
記出力信号の正転出力時の遅延分と反転出力時の遅延分
とに夫々対応する第1及び第2の遅延値を有し、前記正
転/反転回路からの前記出力信号の出力状態に応答し
て、前記遅延制御回路への入力に先立って前記基準周波
数信号に前記第1又は第2の遅延値を付与する遅延調整
回路を更に備える。この場合、遅延制御手段への入力前
の基準周波数信号に、出力信号が正転/反転回路を経由
するときの遅延分と等しい遅延分を与え、基準周波数信
号と出力信号とのタイミングを予め調整することができ
る。
Preferably, the output signal has a first delay value and a second delay value respectively corresponding to a delay amount of the output signal from the forward / inverting circuit at the time of forward output and a delay amount at the time of inverted output. A delay adjusting circuit that, in response to an output state of the output signal from the forward / inverting circuit, applies the first or second delay value to the reference frequency signal prior to input to the delay control circuit; Prepare. In this case, a delay equal to the delay when the output signal passes through the forward / inverting circuit is given to the reference frequency signal before input to the delay control means, and the timing between the reference frequency signal and the output signal is adjusted in advance. can do.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】図面を参照して本発明を更に詳細
に説明する。図1は、本発明の一実施形態例における位
相合わせ込み回路(波形整形回路)の全体構成を示すブ
ロック図である。位相合わせ込み回路は、半導体集積回
路に搭載されており、ディジタル・フェーズロックルー
プ回路(以下、PLL回路と呼ぶ)、及びクロックバッ
ファ18を有している。
The present invention will be described in more detail with reference to the drawings. FIG. 1 is a block diagram showing the overall configuration of a phase matching circuit (waveform shaping circuit) according to an embodiment of the present invention. The phase matching circuit is mounted on a semiconductor integrated circuit, and includes a digital phase locked loop circuit (hereinafter, referred to as a PLL circuit) and a clock buffer 18.

【0013】ディジタルPLL回路11は、遅延調整回
路12、帰還クロック反転信号発生回路(正転/反転回
路)13、帰還クロックサンプリング回路(判定回路)
14、位相比較回路15、遅延回路16、信号出力回路
17、基準クロックCLKS(基準周波数信号)が入力され
る入力端子20、及び、入力側に帰還する出力信号(帰
還信号:帰還クロックCLKR)が入力される入力端子21
を有している。
The digital PLL circuit 11 includes a delay adjustment circuit 12, a feedback clock inversion signal generation circuit (forward / inversion circuit) 13, and a feedback clock sampling circuit (judgment circuit).
14, a phase comparison circuit 15, a delay circuit 16, a signal output circuit 17, an input terminal 20 to which a reference clock CLK S (reference frequency signal) is input, and an output signal fed back to the input side (feedback signal: feedback clock CLK R) ) Is input to the input terminal 21
have.

【0014】帰還クロックサンプリング回路14は、基
準クロックCLKSの位相と帰還クロックCLKRの位相とを比
較するサンプリングを行うことにより、基準クロックCL
KSの立上がりエッジでラッチすべき帰還クロックCLKR
立上がり又は立下がりエッジを決定する。帰還クロック
サンプリング回路14は更に、サンプリングによる判定
結果である判定信号(判定フラグ)Fjを、帰還クロッ
ク反転信号発生回路13、遅延調整回路12及び信号出
力回路17に夫々送出する。
The feedback clock sampling circuit 14 performs sampling for comparing the phase of the reference clock CLK S with the phase of the feedback clock CLK R , thereby obtaining the reference clock CL.
K determines the rising or falling edge of the feedback clock CLK R to be latched on the rising edge of S. The feedback clock sampling circuit 14 further sends a determination signal (determination flag) Fj, which is a result of the sampling, to the feedback clock inversion signal generation circuit 13, the delay adjustment circuit 12, and the signal output circuit 17, respectively.

【0015】帰還クロック反転信号発生回路13は、帰
還クロックCLKRと、帰還クロックサンプリング回路14
における判定信号Fjとを夫々取り込み、判定信号Fj
がハイレベル(HIGH)の場合には、帰還クロックCLKRを正
転して位相比較回路15に送出する。一方、判定信号F
jがローレベル(LOW)の場合には、帰還クロックCLKR
反転して反転帰還クロックCLKTとして位相比較回路15
に送出する。
The feedback clock inversion signal generation circuit 13 includes a feedback clock CLK R and a feedback clock sampling circuit 14.
And the determination signal Fj at
Is high level (HIGH), the feedback clock CLK R is inverted and sent to the phase comparison circuit 15. On the other hand, the judgment signal F
When j is at a low level (LOW), the phase of the phase comparison circuit 15 is inverted by inverting the feedback clock CLK R and using it as an inverted feedback clock CLK T.
To send to.

【0016】遅延調整回路12は、入力端子20から入
力される基準クロックCLKSと、帰還クロックサンプリン
グ回路14からの判定信号Fjとを夫々取り込んで、位
相比較回路15に入力されるまでの基準クロックCLKS
遅延量を2段階に調整する。つまり、判定信号FjがLO
Wの場合には帰還クロックCLKRが反転されるため、遅延
調整回路12は、帰還クロック反転信号発生回路13内
の反転ロジック回路(図示せず)を経由する際の比較的
長い遅延を基準クロックCLKSに与える。一方、判定信号
FjがHIGHの場合には帰還クロックCLKRは反転されない
ため、遅延調整回路12は、帰還クロックCLKRの反転時
よりも短い遅延を基準クロックCLKSに与える。これによ
り、基準クロックCLKSと、帰還クロックCLKR又は反転帰
還クロックCLKTとのタイミングが調整された上で、双方
のクロックCLKS及びCLKR(又はCLK T)が位相比較回路15
に入力される。
The delay adjustment circuit 12 receives an input from an input terminal 20.
Input reference clock CLKSAnd the return clock sampler
And the determination signal Fj from the
Reference clock CLK until input to phase comparison circuit 15Sof
Adjust the delay amount in two stages. That is, the judgment signal Fj is LO
Feedback clock CLK for WRIs inverted, so the delay
The adjustment circuit 12 is provided within the feedback clock inversion signal generation circuit 13.
When passing through an inversion logic circuit (not shown)
Long delay with reference clock CLKSGive to. On the other hand, the judgment signal
When Fj is HIGH, the feedback clock CLKRIs not inverted
Therefore, the delay adjustment circuit 12RWhen flipping
Shorter delay than reference clock CLKSGive to. This
And the reference clock CLKSAnd the feedback clock CLKROr inversion
Return clock CLKTAfter adjusting the timing with
Clock CLKSAnd CLKR(Or CLK T) Is the phase comparison circuit 15
Is input to

【0017】位相比較回路15は、遅延調整回路12を
経由した基準クロックCLKSの位相と、サンプリング結果
に対応した帰還クロックCLKR又は反転帰還クロックCLKT
の位相とを比較して、その比較結果を遅延制御信号Cs
として遅延回路16に送る。遅延回路16は、遅延調整
回路12を経由した基準クロックCLKSに対し、位相比較
回路15からの遅延制御信号Csに応答した遅延量を与
え、その結果を信号出力回路17に送出する。すなわ
ち、位相比較器15及び遅延回路16は、基準クロック
CLKSと帰還クロック反転信号発生回路13の出力との位
相差に対応する遅延量を基準クロックCLKSに与えて出力
信号とする遅延制御回路を構成している。
The phase comparison circuit 15 has a phase of the reference clock CLK S passed through the delay adjustment circuit 12 and a feedback clock CLK R or an inverted feedback clock CLK T corresponding to the sampling result.
, And compares the comparison result with the delay control signal Cs
To the delay circuit 16. The delay circuit 16 gives the reference clock CLK S passed through the delay adjustment circuit 12 a delay amount in response to the delay control signal Cs from the phase comparison circuit 15 and sends the result to the signal output circuit 17. That is, the phase comparator 15 and the delay circuit 16
A delay control circuit is provided which provides a delay amount corresponding to the phase difference between CLK S and the output of the feedback clock inversion signal generation circuit 13 to the reference clock CLK S and uses it as an output signal.

【0018】信号出力回路17には、遅延制御信号Cs
に応答した遅延量が与えられた基準クロックCLKSと、帰
還クロックサンプリング回路14からの判定信号Fjと
が夫々入力される。判定信号FjがHIGHの場合には帰還
クロック反転信号発生回路13で帰還クロックCLKRが反
転されないので、信号出力回路17は、遅延回路16か
らの基準クロックCLKSをそのまま出力する。一方、信号
出力回路17は、判定信号FjがLOWの場合には、反転
帰還クロックCLKTに対して位相合わせした基準クロック
CLKSを反転し、位相に戻した状態で出力する。信号出力
回路17の出力は、クロックバッファ18を経由してフ
リップフロップ(FF)群19に入力されるが、いずれ
かのクロックラインが帰還クロックCLKRとして帰還クロ
ックサンプリング回路14にフィードバックされる。
The signal output circuit 17 outputs a delay control signal Cs
The reference clock CLK S to which the delay amount corresponding to the reference clock CLK S is given and the determination signal Fj from the feedback clock sampling circuit 14 are input. When the determination signal Fj is HIGH, the feedback clock CLK R is not inverted by the feedback clock inversion signal generation circuit 13, so that the signal output circuit 17 outputs the reference clock CLK S from the delay circuit 16 as it is. On the other hand, the signal output circuit 17, when the determination signal Fj is LOW, the reference clock phase matching with respect to the inverted feedback clock CLK T
CLK S is inverted and output with its phase returned. The output of the signal output circuit 17 is input to a flip-flop (FF) group 19 via a clock buffer 18, and one of the clock lines is fed back to the feedback clock sampling circuit 14 as a feedback clock CLK R.

【0019】次に、本実施形態例における位相合わせ込
み回路の作動について説明する。まず、外部からの基準
クロックCLKSの位相合わせ込み処理に先立って、帰還ク
ロックサンプリング回路14では、FF群19への出力
がフィードバックされた帰還クロックCLKRの位相と、基
準クロックCLKSの位相とを相互に比較するサンプリング
を行う。
Next, the operation of the phase matching circuit in this embodiment will be described. First, prior to the process of adjusting the phase of the reference clock CLK S from the outside, the feedback clock sampling circuit 14 determines the phase of the feedback clock CLK R to which the output to the FF group 19 is fed back and the phase of the reference clock CLK S. Are compared with each other.

【0020】図2は、帰還クロックサンプリング回路1
4で行われるサンプリング処理を説明するための信号波
形の相互関係を示すタイミングチャートであり、(A)
は帰還クロックCLKR、(B)は(A)とは別のタイミン
グにおける帰還クロックCLKR、(C)は基準クロックCL
KS、(D)は反転帰還クロックCLKTを夫々示す。同図に
おける縦軸は信号レベルを、横軸は時間を夫々示す。
FIG. 2 shows a feedback clock sampling circuit 1.
4A is a timing chart showing a mutual relationship between signal waveforms for explaining the sampling process performed in FIG.
The feedback clock CLK R, (B) is fed back at a different time than the (A) the clock CLK R, (C) is the reference clock CL
K S and (D) indicate the inverted feedback clock CLK T , respectively. In the figure, the vertical axis indicates the signal level, and the horizontal axis indicates time.

【0021】例えば、図2(A)に示すように、帰還ク
ロックCLKRの立上がりエッジbが(C)の基準クロック
CLKSの立上がりエッジaより進んでいる場合には、帰還
クロックサンプリング回路14での判定結果として判定
信号FjにHIGHが出力される。一方、図2(B)に示す
ように、帰還クロックCLKRの立下がりエッジdが(C)
の基準クロックCLKSの立上がりエッジaより進んでいる
場合には、判定信号FjにLOWが出力される。
For example, as shown in FIG. 2A, the rising edge b of the feedback clock CLK R is the reference clock of FIG.
When the leading edge a of CLK S is advanced, the feedback clock sampling circuit 14 outputs HIGH as the determination signal Fj as a determination result. On the other hand, as shown in FIG. 2B, the falling edge d of the feedback clock CLK R is
Of if advances from the rising edge a of the reference clock CLK S are, LOW is output to the determination signal Fj.

【0022】つまり、帰還クロックサンプリング回路1
4は、帰還クロックCLKRの立上がりエッジbを位相比較
に用いると判定した場合には判定信号HjにHIGHを出力
し、帰還クロックCLKRの立下がりエッジdを位相比較に
用いると判定した場合には判定信号HjにLOWを出力す
る。従って、帰還クロック反転信号発生回路13は、帰
還クロックサンプリング回路14からの判定信号Hjが
HIGHであれば、帰還クロックCLKRを反転せずに位相比較
回路15にそのまま送り、また、判定信号HjがLOWで
あれば、帰還クロックCLKRを反転させた反転帰還クロッ
クCLKTとして位相比較回路15に送る。
That is, the feedback clock sampling circuit 1
4 outputs HIGH to the determination signal Hj when it is determined that the rising edge b of the feedback clock CLK R is used for the phase comparison, and when it is determined that the falling edge d of the feedback clock CLK R is used for the phase comparison. Outputs LOW as the judgment signal Hj. Therefore, the feedback clock inversion signal generation circuit 13 outputs the determination signal Hj from the feedback clock sampling circuit 14
If HIGH, the feedback clock CLK R is sent to the phase comparison circuit 15 without inversion, and if the determination signal Hj is LOW, the feedback clock CLK R is inverted and the phase comparison circuit CLK T is inverted. Send to 15.

【0023】また、遅延調整回路12は、帰還クロック
サンプリング回路14からの判定信号Fjに従って、入
力される基準クロックCLKSに対して遅延を与える。この
とき、判定信号FjがLOWであれば比較的長い遅延を基
準クロックCLKSに与え、判定信号FjがHIGHであれば帰
還クロックCLKRの反転時よりも短い遅延を基準クロック
CLKSに与える。これにより、基準クロックCLKSと、帰還
クロックCLKR又は反転帰還クロックCLKTとのタイミング
が調整された状態で位相比較回路15に入力される。
[0023] The delay adjustment circuit 12 in accordance with the determination signal Fj from the feedback clock sampling circuit 14, provides a delay to the reference clock CLK S input. At this time, if the determination signal Fj is LOW, a relatively long delay is given to the reference clock CLK S , and if the determination signal Fj is HIGH, a delay shorter than the inversion of the feedback clock CLK R is provided.
Give to CLK S. As a result, the reference clock CLK S and the feedback clock CLK R or the inverted feedback clock CLK T are input to the phase comparison circuit 15 with their timing adjusted.

【0024】位相比較回路15は、遅延調整回路12及
び帰還クロック反転信号発生回路13から夫々入力され
る基準クロックCLKSと帰還クロックCLKR(又は反転帰還
クロックCLKT)とを比較することに基づいた遅延制御信
号Csを遅延回路16に出力する。このため、遅延回路
16では、遅延制御信号Csに応答して基準クロックCL
KSを少しずつ遅延させ、基準クロックCLKSを帰還クロッ
クCLKRの位相に合わせ込み、双方のクロックCLKS及びCL
KRのタイミングを合わせつつ、出力波形を整形する。
The phase comparison circuit 15 compares the reference clock CLK S input from the delay adjustment circuit 12 and the feedback clock CLK R (or the inverted feedback clock CLK T ) input from the feedback clock inversion signal generation circuit 13, respectively. The delay control signal Cs is output to the delay circuit 16. Therefore, the delay circuit 16 responds to the delay control signal Cs in response to the reference clock CL.
K S is gradually delayed, the reference clock CLK S is adjusted to the phase of the feedback clock CLK R , and both clocks CLK S and CL
While aligning the timing of K R, shaping the output waveform.

【0025】波形整形された信号出力回路17の出力
は、クロックバッファ18を経由してFF群19に入力
されると共に、帰還クロックCLKRとして帰還クロックサ
ンプリング回路14にフィードバックされる。
The output of the signal output circuit 17 whose waveform has been shaped is input to the FF group 19 via the clock buffer 18 and is also fed back to the feedback clock sampling circuit 14 as the feedback clock CLK R.

【0026】以上のように、本実施形態例によると、位
相合わせ込みを行う場合に、帰還クロックCLKRの立上が
りエッジb及び立下がりエッジdのいずれに対して基準
クロックCLKSの立上がりエッジaを比較するのが適切か
を判定しつつ、位相比較を行う。このような本実施形態
例では、従来から用いられていた帰還クロックCLKRの立
上がりエッジbに加えて立下がりエッジdも比較に用い
ることができるので、遅延回路16で用意されるべき遅
延回路素子による調整幅が、従来の半分程度で足りるこ
とになる。従って、最大で基準クロックCLKRの半周期分
の位相合わせ込み時間を従来に比して短縮できる。ま
た、遅延調整するための遅延回路素子は、基準クロック
CLKSの半周期分の数で足りるので、従来に比して約50
%程度の遅延回路素子数の削減となる。これらにより、
ロックタイムの短縮及び遅延回路の面積削減が実現でき
る。
[0026] As described above, according to this embodiment, when performing the phase matching inclusive, the rising edge a of the reference clock CLK S for either of the feedback clock CLK rising edge of R b and falling edge d The phase comparison is performed while determining whether the comparison is appropriate. In this embodiment, since the falling edge d can be used for comparison in addition to the rising edge b of the feedback clock CLK R , which has been conventionally used, the delay circuit element to be prepared in the delay circuit 16 , The adjustment width by about half of the conventional value is sufficient. Therefore, the phase matching time for at most a half cycle of the reference clock CLK R can be reduced as compared with the related art. The delay circuit element for adjusting the delay is based on a reference clock.
Since the number of half cycles of CLK S is enough, it is about 50 times
% Of the number of delay circuit elements can be reduced. By these,
The lock time can be reduced and the area of the delay circuit can be reduced.

【0027】以上、本発明をその好適な実施形態例に基
づいて説明したが、本発明の位相合わせ込み回路等の波
形整形回路は、上記実施形態例の構成にのみ限定される
ものではなく、上記実施形態例の構成から種々の修正及
び変更を施した波形整形回路も、本発明の範囲に含まれ
る。
Although the present invention has been described based on the preferred embodiment, the waveform shaping circuit such as the phase matching circuit of the present invention is not limited to the configuration of the above embodiment. Waveform shaping circuits obtained by making various modifications and changes from the configuration of the above embodiment are also included in the scope of the present invention.

【0028】[0028]

【発明の効果】以上説明したように、本発明の波形整形
回路によると、ロックタイムを短縮することができ、遅
延回路素子数を削減し遅延回路の面積を縮小することが
できる。
As described above, according to the waveform shaping circuit of the present invention, the lock time can be reduced, the number of delay circuit elements can be reduced, and the area of the delay circuit can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の一実施形態例における位相合わせ込み
回路の全体構成を示すブロック図である。
FIG. 1 is a block diagram illustrating an overall configuration of a phase matching circuit according to an embodiment of the present invention.

【図2】本実施形態例におけるサンプリング処理を説明
するための信号波形の相互関係を示すタイミングチャー
トであり、(A)は帰還クロック、(B)は(A)とは
別のタイミングにおける帰還クロック、(C)は基準ク
ロック、(D)は反転帰還クロックを夫々示す。
FIGS. 2A and 2B are timing charts illustrating a relationship between signal waveforms for explaining a sampling process according to the embodiment; FIG. 2A is a feedback clock, and FIG. 2B is a feedback clock at a different timing from FIG. , (C) shows a reference clock, and (D) shows an inverted feedback clock.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

11:ディジタルPLL回路 12:遅延調整回路 13:帰還クロック反転信号発生回路 14:帰還クロックサンプリング回路 15:位相比較回路 16:遅延回路 17:信号出力回路 18:クロックバッファ 19:フリップフロップ群 20、21:入力端子 a、b:立上がりエッジ d:立下がりエッジ Cs:遅延制御信号 CLKR:帰還クロック CLKS:基準クロック CLKT:反転帰還クロック Fj:判定信号11: Digital PLL circuit 12: Delay adjustment circuit 13: Feedback clock inversion signal generation circuit 14: Feedback clock sampling circuit 15: Phase comparison circuit 16: Delay circuit 17: Signal output circuit 18: Clock buffer 19: Flip-flop group 20, 21 : Input terminals a, b: rising edge d: falling edge Cs: delay control signal CLK R : feedback clock CLK S : reference clock CLK T : inverted feedback clock Fj: judgment signal

─────────────────────────────────────────────────────
────────────────────────────────────────────────── ───

【手続補正書】[Procedure amendment]

【提出日】平成11年7月16日(1999.7.1
6)
[Submission Date] July 16, 1999 (1999.7.1)
6)

【手続補正1】[Procedure amendment 1]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】特許請求の範囲[Correction target item name] Claims

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【特許請求の範囲】[Claims]

【手続補正2】[Procedure amendment 2]

【補正対象書類名】明細書[Document name to be amended] Statement

【補正対象項目名】0022[Correction target item name] 0022

【補正方法】変更[Correction method] Change

【補正内容】[Correction contents]

【0022】つまり、帰還クロックサンプリング回路1
4は、帰還クロックCLKRの立上がりエッジbを位相比較
に用いると判定した場合には判定信号FjにHIGHを出力
し、帰還クロックCLKRの立下がりエッジdを位相比較に
用いると判定した場合には判定信号FjにLOWを出力す
る。従って、帰還クロック反転信号発生回路13は、帰
還クロックサンプリング回路14からの判定信号Fjが
HIGHであれば、帰還クロックCLKRを反転せずに位相比較
回路15にそのまま送り、また、判定信号FjがLOWで
あれば、帰還クロックCLKRを反転させた反転帰還クロッ
クCLKTとして位相比較回路15に送る。
That is, the feedback clock sampling circuit 1
4 outputs HIGH to the determination signal Fj when it is determined that the rising edge b of the feedback clock CLK R is used for phase comparison, and when it is determined that the falling edge d of the feedback clock CLK R is used for phase comparison. Outputs LOW as the determination signal Fj. Therefore, the feedback clock inversion signal generation circuit 13 outputs the determination signal Fj from the feedback clock sampling circuit 14
If HIGH, the feedback clock CLK R is sent to the phase comparison circuit 15 without inversion, and if the determination signal Fj is LOW, the phase comparison circuit is used as an inverted feedback clock CLK T obtained by inverting the feedback clock CLK R. Send to 15.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 5J106 AA03 CC21 CC59 DD24 GG10 HH02 JJ07 KK03 KK38 KK39 LL05 5K047 AA02 GG02 GG09 GG24 MM36 MM43 MM63  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 5J106 AA03 CC21 CC59 DD24 GG10 HH02 JJ07 KK03 KK38 KK39 LL05 5K047 AA02 GG02 GG09 GG24 MM36 MM43 MM63

Claims (5)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 入力される基準周波数信号の波形を整形
して出力信号とする波形整形回路において、 前記基準周波数信号の位相と前記出力信号の位相とを比
較し、前記基準周波数信号の所定の第1エッジを、前記
出力信号の第1及び第2エッジのいずれに合わせ込むか
を判定する判定回路と、 前記判定回路の判定結果に従って、前記出力信号を正転
又は反転して出力する正転/反転回路と、 前記基準周波数信号と前記正転/反転回路の出力との位
相差に対応する遅延量を前記基準周波数信号に与えて前
記出力信号とする遅延制御回路とを備えることを特徴と
する波形整形回路。
1. A waveform shaping circuit for shaping a waveform of an input reference frequency signal as an output signal, wherein a phase of the reference frequency signal is compared with a phase of the output signal, and a predetermined phase of the reference frequency signal is A determination circuit for determining whether to align the first edge with the first or second edge of the output signal; and a normal rotation for inverting or inverting the output signal according to a determination result of the determination circuit. / Inverting circuit; and a delay control circuit that gives the reference frequency signal a delay amount corresponding to a phase difference between the reference frequency signal and the output of the forward / inverting circuit, and uses the delay amount as the output signal. Waveform shaping circuit.
【請求項2】 前記第1エッジが立上がりエッジ、前記
第2エッジが立下がりエッジから夫々成り、 前記判定回路は、前記基準周波数信号の立上がりエッジ
を前記出力信号の立上がりエッジに合わせ込むと判定し
たときには第1判定信号を出力し、前記基準周波数信号
の立上がりエッジを前記出力信号の立下がりエッジに合
わせ込むと判定したときには第2判定信号を出力するこ
とを特徴とする請求項1に記載の波形整形回路。
2. The method according to claim 1, wherein the first edge includes a rising edge, and the second edge includes a falling edge, and the determination circuit determines that the rising edge of the reference frequency signal matches the rising edge of the output signal. 2. The waveform according to claim 1, wherein a first determination signal is output, and a second determination signal is output when it is determined that the rising edge of the reference frequency signal matches the falling edge of the output signal. Shaping circuit.
【請求項3】 前記正転/反転回路は、前記第1判定信
号の出力時には前記出力信号を正転して前記遅延制御回
路に出力し、前記第2判定信号の出力時には前記出力信
号を反転して前記遅延制御回路に出力することを特徴と
する請求項2に記載の波形整形回路。
3. The forward / inverting circuit inverts the output signal and outputs the output signal to the delay control circuit when the first determination signal is output, and inverts the output signal when the second determination signal is output. 3. The waveform shaping circuit according to claim 2, wherein the signal is output to the delay control circuit.
【請求項4】 前記第1判定信号の出力時には前記遅延
制御回路からの基準周波数信号を正転して前記出力信号
とし、前記第2判定信号の出力時には前記遅延制御回路
からの基準周波数信号を反転して前記出力信号とする信
号出力回路を更に備えることを特徴とする請求項2又は
3に記載の波形整形回路。
4. When the first determination signal is output, the reference frequency signal from the delay control circuit is inverted and output as the output signal. When the second determination signal is output, the reference frequency signal from the delay control circuit is output. 4. The waveform shaping circuit according to claim 2, further comprising a signal output circuit for inverting the output signal.
【請求項5】 前記正転/反転回路からの前記出力信号
の正転出力時の遅延分と反転出力時の遅延分とに夫々対
応する第1及び第2の遅延値を有し、 前記正転/反転回路からの前記出力信号の出力状態に応
答して、前記遅延制御回路への入力に先立って前記基準
周波数信号に前記第1又は第2の遅延値を付与する遅延
調整回路を更に備えることを特徴とする請求項1乃至4
の内の何れか1項に記載の波形整形回路。
5. The system according to claim 5, further comprising a first delay value and a second delay value respectively corresponding to a delay at the time of forward output and a delay at the time of inversion output of the output signal from the forward / inverting circuit. A delay adjusting circuit that, in response to an output state of the output signal from the inverting / inverting circuit, applies the first or second delay value to the reference frequency signal prior to input to the delay control circuit. 5. The method according to claim 1, wherein:
The waveform shaping circuit according to any one of the above.
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