JP2000072848A - Resin composition - Google Patents

Resin composition

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JP2000072848A
JP2000072848A JP10241594A JP24159498A JP2000072848A JP 2000072848 A JP2000072848 A JP 2000072848A JP 10241594 A JP10241594 A JP 10241594A JP 24159498 A JP24159498 A JP 24159498A JP 2000072848 A JP2000072848 A JP 2000072848A
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JP
Japan
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group
epoxy resin
resin
organic
component
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JP10241594A
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Japanese (ja)
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Minoru Kobayashi
稔 小林
Sumiya Miyake
澄也 三宅
Takeshi Endo
剛 遠藤
Fumio Mita
文雄 三田
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Sumitomo Bakelite Co Ltd
Original Assignee
Sumitomo Bakelite Co Ltd
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To obtain an epoxy resin composition for semiconductors having good storage stability, excellent in curing property as well as fluidity and moisture resistance by including an epoxy resin, a phenol resin and a specific phosphorane. SOLUTION: This resin composition basically contains three components of (A) an epoxy resin (e.g. bisphenol A type epoxy resin), (B) a phenol resin (e.g. phenol novolak resin) and (C) an organic phosphorane of the formula (R1 to R3 are each an alkyl, an aralkyl or the like; R4 and R5 are each an electron attracting group or an organic group). The component A is preferably compounded with the component B so that hydroxy group in the component B becomes 0.5-2.0 per epoxy equivalent in the component A. The component C is preferably compounded in an amount of 0.1-20 pts.wt. based on 100 total amount of the components A and B, with the components A and B. Additives such as an inorganic filler, a silane coupling agent, a mold release agent and a flame retardant can be added to the composition.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、保存安定性が良好
で、かつ硬化性に優れ、流動性、耐湿性に優れた半導体
封止用のエポキシ樹脂組成物に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation having good storage stability, excellent curability, excellent fluidity and moisture resistance.

【0002】[0002]

【従来の技術】一般に半導体封止用エポキシ樹脂組成物
は、成形時における硬化を促進するために触媒(硬化促
進剤)が添加されている。しかしこの触媒は、室温程度
の低い温度でも硬化促進効果を示すために、樹脂組成物
の品質を低下させてしまうことが問題となっていた。す
なわち、ICやLSIのような半導体素子や電気部品な
どの封止材料として用いる際に、成形時の流動性の低下
による充填不良や、ICチップの金ワイヤーの断線、導
通不良などを生ずる問題を抱えていた。
2. Description of the Related Art In general, a catalyst (curing accelerator) is added to an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation in order to accelerate curing during molding. However, this catalyst has a problem of deteriorating the quality of the resin composition because it exhibits a curing acceleration effect even at a temperature as low as about room temperature. In other words, when used as a sealing material for semiconductor elements such as ICs and LSIs and electrical components, problems such as poor filling due to reduced fluidity during molding, breakage of gold wires of IC chips, and poor conduction are caused. I was holding it.

【0003】触媒として、例えば、イミダゾール系化合
物やアミン類、含窒素複素環式化合物、有機ホスフィン
化合物などを用いた場合、保存・運搬時の低温保管、諸
成分との混合時の管理、成形条件の厳密性といった、製
造後の品質管理のための煩雑な手間を免れることが出来
なかった。
For example, when an imidazole compound, an amine, a nitrogen-containing heterocyclic compound, an organic phosphine compound, or the like is used as a catalyst, low-temperature storage during storage / transportation, management during mixing with various components, molding conditions It was not possible to avoid the troublesome work for quality control after production, such as the strictness of manufacturing.

【0004】そこで、保存安定性を改良するために近年
では、室温程度の比較的低温では活性を示さず、加熱成
形時にのみ活性を示すような、触媒能の潜伏化の検討が
なされてきた。例えば、マイクロカプセル化や化学的修
飾といった手法である。これらの手法のうちで現在最も
有効なアプローチは、三級ホスフィンの四級ホスホニウ
ム化である。実際にテトラ置換ホスホニウムのボレート
塩や有機酸塩を触媒として用いることにより、保存安定
性が良好で、流動性に優れ、かつ硬化性に優れた樹脂組
成物を得ることができることは、当業者間においては既
に公知である。
Therefore, in order to improve the storage stability, in recent years, studies have been made on making the catalytic activity latent so that it does not show activity at a relatively low temperature of about room temperature but shows activity only at the time of heat molding. For example, there are techniques such as microencapsulation and chemical modification. The currently most effective approach among these approaches is the quaternary phosphonium conversion of tertiary phosphines. By using a borate salt or an organic acid salt of a tetra-substituted phosphonium as a catalyst, a resin composition having good storage stability, excellent fluidity, and excellent curability can be obtained by those skilled in the art. Is already known.

【0005】しかし、触媒が塩構造をしていることか
ら、樹脂マトリックス中に分散したときに、遊離アニオ
ンが耐湿性に悪影響を与え、ICチップの腐食を引き起
こすことがある。このため触媒として、イオン構造でな
い非塩系触媒の開発が求められている。
[0005] However, since the catalyst has a salt structure, when dispersed in a resin matrix, free anions adversely affect moisture resistance and may cause corrosion of IC chips. Therefore, development of a non-salt catalyst having no ionic structure has been demanded as a catalyst.

【0006】[0006]

【発明が解決しようとする課題】本発明は、前記のよう
な問題点を克服すべく種々検討の結果なされたもので、
保存安定性が良好で、かつ硬化性に優れ、流動性、耐湿
性に優れた半導体封止用エポキシ樹脂組成物を提供する
ことを目的とするものである。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made as a result of various studies in order to overcome the above problems.
An object of the present invention is to provide an epoxy resin composition for semiconductor encapsulation having good storage stability, excellent curability, excellent fluidity and moisture resistance.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明者らは、上記の目
的を達成するため、有機ホスホランの触媒活性を置換基
により制御することを検討した結果、立体的に嵩高い置
換基および電子吸引性置換基を導入することにより、優
れた保存安定性と硬化性を両立させ得るとの知見に到達
し、さらに検討を重ねて本発明を完成するに至った。
Means for Solving the Problems In order to achieve the above object, the present inventors have studied the control of the catalytic activity of an organic phosphorane by a substituent. It has been found that the introduction of a sex substituent allows both excellent storage stability and curability to be achieved, and the present inventors have further studied and completed the present invention.

【0008】即ち本発明は、エポキシ樹脂(A)、フェ
ノール樹脂(B)、および下記の一般式(1)で表され
る有機ホスホラン(C)の3成分を基本的に含有するこ
とを特徴とする樹脂組成物である。
That is, the present invention is characterized in that it basically contains three components of an epoxy resin (A), a phenol resin (B), and an organic phosphorane (C) represented by the following general formula (1). It is a resin composition.

【0009】[0009]

【化1】 式中、置換基R1〜R3はアルキル基、置換または無置換
のアラルキル基、もしくは置換または無置換のアリール
基であり、それらは互いに同一であっても異なっていて
も良い。また、R4およびR5は電子吸引基または有機基
であって、そのうちの少なくとも一つは電子吸引基であ
り、且つR4およびR5の一方または両方が炭素数を6個
以上含むものであって、それらは互いに同一であっても
異なっていても良い。
Embedded image In the formula, the substituents R 1 to R 3 are an alkyl group, a substituted or unsubstituted aralkyl group, or a substituted or unsubstituted aryl group, which may be the same or different. R 4 and R 5 are an electron-withdrawing group or an organic group, at least one of which is an electron-withdrawing group, and one or both of R 4 and R 5 contain 6 or more carbon atoms. Thus, they may be the same or different from each other.

【0010】[0010]

【発明の実施の形態】本発明で用いるエポキシ樹脂
(A)としては、分子内にエポキシ基を二つ以上有する
ものであれば特に制限されるものではなく、例えば、ビ
スフェノールA型エポキシ樹脂、ビスフェノールF型エ
ポキシ樹脂、ビスフェノールAD型エポキシ樹脂、含臭
素エポキシ樹脂、ビフェニル型エポキシ樹脂、フェノー
ルノボラック型エポキシ樹脂、クレゾールノボラック型
エポキシ樹脂、環状脂肪族エポキシ樹脂、グリシジルエ
ステル系エポキシ樹脂、グリシジルアミン系エポキシ樹
脂、3官能型エポキシ樹脂、例えばトリスヒドロキシン
フェニルメタン型エポキシ樹脂、トリグリシジルイソシ
アネート樹脂、スチルベン型エポキシ樹脂、およびジシ
クロペンタジエンとフェノール類の縮合反応により合成
されたフェノール樹脂をグリシジルエーテル化すること
によって得られるエポキシ樹脂や、ナフタレン型エポキ
シ樹脂などの、従来から半導体装置の封止用に使われる
各種エポキシ樹脂が用いられる。また、分子内にエポキ
シ基を二つ以上有するものであればよいので、一般には
モノマーと解釈されることもある、カテコールやレゾル
シンをエピクロロヒドリンでエポキシ化したものや、多
環式炭化水素のビフェノールの同様のエポキシ化物、ジ
ヒドロキシナフタレンのエポキシ化物も含まれる。
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION The epoxy resin (A) used in the present invention is not particularly limited as long as it has two or more epoxy groups in a molecule. For example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol AD type epoxy resin, brominated epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, phenol novolak type epoxy resin, cresol novolak type epoxy resin, cycloaliphatic epoxy resin, glycidyl ester type epoxy resin, glycidylamine type epoxy resin Trifunctional epoxy resins, for example, trishydroxynphenylmethane type epoxy resin, triglycidyl isocyanate resin, stilbene type epoxy resin, and phenol resin synthesized by a condensation reaction of dicyclopentadiene and phenols And epoxy resins obtained by glycidyl etherification, such as naphthalene type epoxy resins, various epoxy resins conventionally used for sealing of semiconductor device is used. In addition, since it is only necessary to have two or more epoxy groups in the molecule, it may be generally interpreted as a monomer, catechol or resorcin epoxidized with epichlorohydrin, polycyclic hydrocarbon And epoxidized dihydroxynaphthalene.

【0011】上記のエポキシ樹脂と共に用いるフェノー
ル樹脂(B)は、エポキシ樹脂の硬化剤として作用する
ものであり、フェノール類とホルムアルデヒドとの縮合
反応によって得られる樹脂である。ここで、フェノール
類とは、ベンゼン、ナフタレン、フェロセンなど芳香族
性を持つ分子の、芳香環上の水素原子を水酸基に置換し
たものとして定義される。得られた樹脂には、いわゆる
フェノールノボラック樹脂、クレゾールノボラック樹
脂、t―ブチルフェノールノボラック樹脂、ナフトール
樹脂、ノニルフェノールノボラック樹脂などのノボラッ
ク型樹脂の他、レゾール型のものもある。これらフェノ
ール類とホルムアルデヒドとの縮合反応によって得られ
る樹脂以外にも、フェノールアラルキル樹脂のようにパ
ラキシレンジメタノールとフェノールを反応させたもの
や、前記のようにジシクロペンタジエンとフェノール類
の反応によるフェノール樹脂も、本発明におけるフェノ
ール樹脂の範疇に含まれる。
The phenolic resin (B) used together with the above epoxy resin acts as a curing agent for the epoxy resin, and is a resin obtained by a condensation reaction between phenols and formaldehyde. Here, the phenols are defined as those in which a hydrogen atom on an aromatic ring of a molecule having aromaticity such as benzene, naphthalene, and ferrocene is substituted with a hydroxyl group. The obtained resin includes so-called phenol novolak resin, cresol novolak resin, t-butylphenol novolak resin, naphthol resin, and nonylphenol novolak resin, as well as resol type resins. In addition to the resins obtained by the condensation reaction between these phenols and formaldehyde, those obtained by reacting paraxylene dimethanol with phenol, such as phenol aralkyl resins, and phenol obtained by the reaction of dicyclopentadiene and phenols as described above Resins are also included in the category of phenolic resins in the present invention.

【0012】本発明におけるエポキシ樹脂とフェノール
樹脂の配合比B/Aは、エポキシ樹脂中のエポキシ基当
量あたり、フェノール樹脂中の水酸基が0.5〜2.0と
なるように配合することが好ましい。上記の範囲をはず
れると、充分な硬化性が得られないことがある。
The mixing ratio B / A of the epoxy resin and the phenolic resin in the present invention is preferably such that the hydroxyl group in the phenolic resin is 0.5 to 2.0 per equivalent of the epoxy group in the epoxy resin. . If the ratio is out of the above range, sufficient curability may not be obtained.

【0013】エポキシ樹脂およびフェノール樹脂に加え
て、触媒(硬化促進剤)として有機ホスホラン(C)を
用いるが、その構造は下記の一般式(1)で表される。
An organic phosphorane (C) is used as a catalyst (curing accelerator) in addition to the epoxy resin and the phenol resin, and its structure is represented by the following general formula (1).

【0014】[0014]

【化1】 Embedded image

【0015】式中、置換基R1〜R3はアルキル基、置換
または無置換のアラルキル基、もしくは置換または無置
換のアリール基であり、例えばメチル基、エチル基、ブ
チル基、アリル基、フェニル基、トリル基、エチルフェ
ニル基、アルコキシフェニル基、ベンジル基、ナフチル
基などが例示されるが、それらは互いに同一であっても
異なっていても良い。
In the formula, the substituents R 1 to R 3 are an alkyl group, a substituted or unsubstituted aralkyl group, or a substituted or unsubstituted aryl group, for example, a methyl group, an ethyl group, a butyl group, an allyl group, a phenyl group. Examples thereof include a group, a tolyl group, an ethylphenyl group, an alkoxyphenyl group, a benzyl group and a naphthyl group, which may be the same or different.

【0016】また、R4およびR5は電子吸引基または有
機基であって、そのうちの少なくとも一つは電子吸引基
であり、且つR4およびR5の一方または両方が炭素数を
6個以上含むものであって、それらは互いに同一であっ
ても異なっていても良い。R4およびR5の組み合わせと
しては、片方が炭素数を6個以上含む有機基で、もう
一方が電子吸引基である場合、片方が炭素数を6個以
上含む有機基で、もう一方が炭素数を6個以上含む電子
吸引基である場合、片方が炭素数を6個以上含む電子
吸引基で、もう一方が有機基である場合、片方が炭素
数を6個以上含む電子吸引基で、もう一方が電子吸引基
である場合、片方が炭素数を6個以上含む電子吸引基
で、もう一方も炭素数を6個以上含む電子吸引基である
場合、これら5種類の組み合わせがある。それぞれの組
み合わせの例を、式(2)〜式(6)に示した。
R 4 and R 5 are an electron-withdrawing group or an organic group, at least one of which is an electron-withdrawing group, and one or both of R 4 and R 5 have 6 or more carbon atoms. And they may be the same or different from each other. As a combination of R 4 and R 5 , when one is an organic group containing 6 or more carbon atoms and the other is an electron withdrawing group, one is an organic group containing 6 or more carbon atoms and the other is an organic group containing 6 or more carbon atoms. When the number of the electron-withdrawing groups is 6 or more, one is an electron-withdrawing group containing 6 or more carbon atoms, and when the other is an organic group, one is an electron-withdrawing group containing 6 or more carbon atoms. When the other is an electron withdrawing group, one is an electron withdrawing group containing 6 or more carbon atoms, and the other is an electron withdrawing group containing 6 or more carbon atoms. Examples of each combination are shown in equations (2) to (6).

【0017】[0017]

【化2】 Embedded image

【0018】[0018]

【化3】 Embedded image

【0019】[0019]

【化4】 Embedded image

【0020】[0020]

【化5】 Embedded image

【0021】[0021]

【化6】 Embedded image

【0022】炭素数を6個以上含む有機基としては、ア
ミル基、ノルマルヘキシル基、フェニル基、トリル基、
エチルフェニル基、アルコキシフェニル基などが、取り
扱いおよび原料供給の面で好適である。これらの嵩高い
置換基を導入した場合、保存安定性の向上が認められ
た。これは、有機ホスホランの触媒活性部位(ツヴィッ
ターイオン部位)の反応性が、立体的に遮蔽されている
ためと推測される。しかしながら、この立体効果による
保存安定性の向上に対して、硬化性が低下する傾向があ
るため、硬化性の向上を目的として、電子吸引基を導入
した。
Examples of the organic group having 6 or more carbon atoms include an amyl group, a normal hexyl group, a phenyl group, a tolyl group,
An ethylphenyl group, an alkoxyphenyl group and the like are suitable in terms of handling and supply of raw materials. When these bulky substituents were introduced, an improvement in storage stability was observed. This is presumably because the reactivity of the catalytically active site (Zwitter ion site) of the organic phosphorane is sterically shielded. However, the curability tends to decrease with respect to the improvement of storage stability due to the three-dimensional effect. Therefore, an electron withdrawing group was introduced for the purpose of improving curability.

【0023】電子吸引基としては、シアノ基、ニトロ
基、ハロゲン、トリフルオロアセチル基、アシル基、ホ
ルミル基、カルボキシル基、エステル基などが例示され
る。電子吸引基の定義としてハメットの考え方を採用す
れば、σP-Xが正の値を示すものを電子吸引基と言うこ
とができる(東京化学同人「有機反応機構」第五版P3
77ー381参照)。
Examples of the electron withdrawing group include a cyano group, a nitro group, a halogen, a trifluoroacetyl group, an acyl group, a formyl group, a carboxyl group and an ester group. If Hammett's concept is adopted as the definition of the electron-withdrawing group, those having a positive value of σP-X can be called an electron-withdrawing group (Tokyo Kagaku Doujin “Organic Reaction Mechanism”, 5th edition, P3
77-381).

【0024】そこで置換基の電子効果について考察する
と、NMR(核磁気共鳴装置)やIR(赤外線吸収)測
定により得られる分光学的データから、触媒活性を予測
することが可能である。例えば、31P-NMRにおけ
る吸収シグナルのケミカルシフト値を用いることができ
る。トリフェニルホスフィンと同程度の触媒活性能を有
する、トリフェニルホスホラニリデンアセテートのケミ
カルシフトは、14.7 ppm に観測されるが、この値より
も低磁場側に観測される有機ホスホランでは、より高い
触媒活性が期待される。これは、31P-NMR観測値
がリン原子上の電子密度を反映していると考えられるた
めである。
Considering the electronic effect of the substituent, it is possible to predict the catalytic activity from spectroscopic data obtained by NMR (nuclear magnetic resonance) or IR (infrared absorption) measurement. For example, a chemical shift value of an absorption signal in 31P-NMR can be used. The chemical shift of triphenylphosphoranylidene acetate, which has the same catalytic activity as that of triphenylphosphine, is observed at 14.7 ppm. Activity is expected. This is because it is considered that the 31P-NMR observation value reflects the electron density on the phosphorus atom.

【0025】有機ホスホラン(C)の配合量は、エポキ
シ樹脂とフェノール樹脂の合計100重量部に対して、
0.1〜20重量部の範囲で用いることが好ましい。す
なわち、有機ホスホランの配合量が0.1重量部未満で
は充分な硬化促進効果が得られなかったり、逆に20重
量部を超えると成形時の流動性および耐湿性の低下が見
られる場合がある。
The amount of the organic phosphorane (C) is based on 100 parts by weight of the total of the epoxy resin and the phenol resin.
Preferably, it is used in the range of 0.1 to 20 parts by weight. That is, if the amount of the organic phosphorane is less than 0.1 part by weight, a sufficient curing promoting effect cannot be obtained, and if it exceeds 20 parts by weight, the fluidity and moisture resistance during molding may be reduced. .

【0026】また、本発明によるエポキシ樹脂組成物に
は、必要に応じて上記A〜C成分以外に、無機充填剤、
シランカップリング剤、離型剤、難燃剤、顔料などの、
当業者間では公知の添加剤を加えることができる。
The epoxy resin composition according to the present invention may further comprise, if necessary, an inorganic filler,
Silane coupling agents, release agents, flame retardants, pigments, etc.
Additives known to those skilled in the art can be added.

【0027】[0027]

【実施例】以下に、実施例と比較例を示して本発明を具
体的に説明するが、本発明はこれによって何ら制限され
るものではない。先ず成形材料を調製し、特性評価のた
め、成形材料のスパイラルフロー、硬化トルク、および
保存後のフロー残存率を測定し、さらに、成形部品につ
いてプレッシャークッカー試験(PCT)を行なった。
それぞれの評価方法は、下記の通りとした。
EXAMPLES The present invention will be specifically described below with reference to examples and comparative examples, but the present invention is not limited to these examples. First, a molding material was prepared, and a spiral flow, a curing torque, and a flow residual ratio after storage of the molding material were measured for property evaluation. Further, a pressure cooker test (PCT) was performed on the molded part.
Each evaluation method was as follows.

【0028】1.スパイラルフロー EMMI―I―66に準じたスパイラルフロー測定用の
金型を用いて、金型温度175℃、注入圧力70kg/c
m2、硬化時間2分で測定する。スパイラルフロー(cm)
は流動性のパラメーターであり、値が大きいほど流動性
が大きいことを示す。
1. Spiral flow Using a mold for spiral flow measurement according to EMMI-I-66, mold temperature 175 ° C, injection pressure 70kg / c
Measured in m 2 , curing time 2 minutes. Spiral flow (cm)
Is a parameter of fluidity, and a larger value indicates greater fluidity.

【0029】2.硬化トルク キュラストメーター(オリエンテック(株)製、JSRキ
ュラストメーターIVPS型)を用いて、175℃、90
秒加熱後のトルクを求める。キュラストメーターにおけ
るトルクは硬化性のパラメーターであり、値の大きい方
が硬化性が高いことを示す。
2. Curing torque Using a curast meter (manufactured by Orientec Co., Ltd., JSR curast meter IVPS type) at 175 ° C., 90
Find the torque after second heating. Torque in a curast meter is a parameter of curability, and a larger value indicates higher curability.

【0030】3.フロー残存率 成形材料を調製した直後のスパイラルフロー、および3
0℃にて7日間保存した後のスパイラルフローを測定
し、材料調製直後のスパイラルフロー(cm)に対する、
保存後のスパイラルフロー(cm)の百分率を算出した。
フロー残存率の値が大きいほど、保存性が良好であるこ
とを示す。
3. Spiral flow immediately after molding material preparation, and 3
The spiral flow after storage at 0 ° C. for 7 days was measured, and the spiral flow (cm) immediately after the material preparation was determined.
The percentage of spiral flow (cm) after storage was calculated.
The larger the value of the residual flow rate, the better the storage stability.

【0031】4.プレッシャークッカー試験(PCT) テスト素子を搭載した16pDIPを、175℃、2分
の条件で成形した後、175℃で8時間ポストキュアを
実施し、オートクレーブ中、125℃、2.3気圧の条
件で耐湿試験を実施した。不良判定は、n=10にて5
個導通不良になった時間を、50%不良発生時間とし
た。50%不良発生時間の長いものほど、耐湿性が良好
であることを示す。
4. Pressure Cooker Test (PCT) A 16pDIP equipped with a test element was molded at 175 ° C. for 2 minutes, and then post-cured at 175 ° C. for 8 hours. A moisture resistance test was performed. The defect judgment is 5 when n = 10.
The time when the individual conduction failure occurred was defined as a 50% failure occurrence time. The longer the 50% failure occurrence time, the better the moisture resistance.

【0032】(実施例1)軟化点65℃、エポキシ当量
210のオルソクレゾールノボラック型エポキシ樹脂
(日本化薬(株)製、EOCN―1025―65)を67
重量部、軟化点105℃、水酸基当量104のフェノー
ルノボラック樹脂(住友デュレズ(株)製、PR―514
70)を33重量部、触媒として式(2)で示される有
機ホスホランを2.0重量部、溶融シリカ300重量
部、およびカルナバワックス2重量部を配合し、90℃
で8分間ロール混練して成形材料を得た。この成形材料
のスパイラルフローは95cm、硬化トルクは79kgf
・cmであった。また、フロー残存率は98%で、 P
CT耐湿信頼性試験においては、2000時間まで不良
は発生しなかった。
(Example 1) Orthocresol novolak type epoxy resin having a softening point of 65 ° C and an epoxy equivalent of 210 (EOCN-1025-65, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.)
Phenol novolak resin having a softening point of 105 ° C. and a hydroxyl equivalent of 104 by weight (PR-514, manufactured by Sumitomo Durez Co., Ltd.)
70) were mixed with 2.0 parts by weight of an organic phosphorane represented by the formula (2) as a catalyst, 300 parts by weight of fused silica, and 2 parts by weight of carnauba wax.
For 8 minutes to obtain a molding material. This molding material has a spiral flow of 95 cm and a curing torque of 79 kgf.
Cm. The residual flow rate is 98%, and P
In the CT humidity resistance test, no failure occurred up to 2000 hours.

【0033】(実施例2)式(7)で表される構造のエ
ポキシ樹脂(油化シェルエポキシ(株)製、YX4000
H,エポキシ当量187〜197)を52重量部、式
(8)で表される構造のフェノール樹脂48重量部、触
媒として式(2)で示される有機ホスホランを3.0重
量部、球状溶融シリカ800重量部、およびカルナバワ
ックス3重量部を配合し、実施例1と同様に操作して成
形材料を調製した。得られた成形材料のスパイラルフロ
ーは88cm、硬化トルクは82kgf・cmであった。
また、フロー残存率は95%で、PCT耐湿信頼性試験
において、2000時間まで不良は発生しなかった。
(Example 2) Epoxy resin having a structure represented by the formula (7) (YX4000 manufactured by Yuka Shell Epoxy Co., Ltd.)
H, epoxy equivalents 187 to 197), 52 parts by weight, 48 parts by weight of a phenol resin having a structure represented by the formula (8), 3.0 parts by weight of an organic phosphorane represented by the formula (2) as a catalyst, spherical fused silica 800 parts by weight and 3 parts by weight of carnauba wax were blended, and a molding material was prepared in the same manner as in Example 1. The spiral flow of the obtained molding material was 88 cm, and the curing torque was 82 kgf · cm.
The flow residual rate was 95%, and no failure occurred in the PCT humidity resistance test until 2000 hours.

【0034】[0034]

【化7】 Embedded image

【0035】[0035]

【化8】 Embedded image

【0036】(実施例3,5,7,および9)実施例1
において、触媒をそれぞれ式(3)〜式(6)で示され
る有機ホスホラン2.0重量部に替えた以外は、実施例
1と同じ配合・操作を繰り返して、成形材料を調製し
た。得られた成形材料の評価結果は、それぞれ表1に示
した通りであった。
(Embodiments 3, 5, 7 and 9) Embodiment 1
, A molding material was prepared by repeating the same blending and operation as in Example 1 except that the catalyst was changed to 2.0 parts by weight of the organic phosphoranes represented by Formulas (3) to (6). The evaluation results of the obtained molding materials were as shown in Table 1.

【0037】(実施例4,6,8,および10)実施例
2において、触媒をそれぞれ式(3)〜式(6)で示さ
れる有機ホスホラン3.0重量部に替えた以外は、実施
例2と同じ配合・操作を繰り返して、成形材料を調製し
た。得られた成形材料の評価結果は、それぞれ表1に示
した通りであった。
(Examples 4, 6, 8, and 10) The procedure of Example 2 was repeated except that the catalyst was replaced by 3.0 parts by weight of the organic phosphorane represented by the formulas (3) to (6). The same blending and operation as in Example 2 were repeated to prepare a molding material. The evaluation results of the obtained molding materials were as shown in Table 1.

【0038】(比較例1)実施例1において、触媒をト
リフェニルホスフィン0.8重量部に替えた以外は、実
施例1と同じ配合・操作を繰り返して、成形材料を調製
した。得られた成形材料のスパイラルフローは76cm、
硬化トルクは61kgf・cmであった。また、フロー
残存率は43%で、PCT耐湿信頼性試験の50%不良
発生時間は、1300時間であった。
Comparative Example 1 A molding material was prepared in the same manner as in Example 1, except that the catalyst was changed to 0.8 parts by weight of triphenylphosphine. The spiral flow of the obtained molding material is 76 cm,
The curing torque was 61 kgf · cm. The flow residual rate was 43%, and the 50% failure occurrence time in the PCT humidity resistance test was 1,300 hours.

【0039】(比較例2)実施例2において、触媒をト
リフェニルホスフィン1.2重量部に替えた以外は、実
施例2と同じ配合・操作を繰り返して、成形材料を調製
した。得られた成形材料のスパイラルフローは92cm、
硬化トルクは66kgf・cmであった。また、フロー
残存率は51%で、PCT耐湿信頼性試験の50%不良
発生時間は、1400時間であった。
Comparative Example 2 A molding material was prepared by repeating the same blending and operation as in Example 2, except that the catalyst was changed to 1.2 parts by weight of triphenylphosphine. The spiral flow of the obtained molding material is 92 cm,
The curing torque was 66 kgf · cm. The flow residual rate was 51%, and the 50% failure occurrence time in the PCT humidity resistance test was 1,400 hours.

【0040】(比較例3,および5)実施例1におい
て、触媒をそれぞれ、テトラフェニルホスホニウムテト
ラフェニルボレート(TPP−K)2.5重量部,式
(9)で示される有機ホスホラン2.0重量部に替えた
以外は、実施例1と同じ配合・操作を繰り返して、成形
材料を調製した。得られた成形材料の評価結果は、それ
ぞれ表1に示した通りであった。
Comparative Examples 3 and 5 In Example 1, 2.5 parts by weight of tetraphenylphosphonium tetraphenylborate (TPP-K) and 2.0 parts by weight of an organic phosphorane represented by the formula (9) were used. A molding material was prepared by repeating the same blending and operation as in Example 1 except that the parts were changed. The evaluation results of the obtained molding materials were as shown in Table 1.

【0041】(比較例4,および6)実施例2におい
て、触媒をそれぞれ、TPP−K 4.0重量部,式
(9)で示される有機ホスホラン3.0重量部に替えた
以外は、実施例2と同じ配合・操作を繰り返して、成形
材料を調製した。得られた成形材料の評価結果は、それ
ぞれ表1に示した通りであった。
(Comparative Examples 4 and 6) The procedure of Example 2 was repeated, except that the catalyst was replaced by 4.0 parts by weight of TPP-K and 3.0 parts by weight of the organic phosphorane represented by the formula (9), respectively. By repeating the same blending and operation as in Example 2, a molding material was prepared. The evaluation results of the obtained molding materials were as shown in Table 1.

【0042】[0042]

【化9】 Embedded image

【0043】[0043]

【表1】 [Table 1]

【0044】本発明の有機ホスホラン触媒を配合してな
る実施例1〜10の樹脂組成物は、いずれも製造直後の
流動性が良好であり、またフロー残存率も極めて高い値
を示したことから、保存安定性に優れていることが分か
る。また、硬化トルクも高い値を示し、PCT50%不
良発生時間が2000時間を超えるレベルであったこと
から、硬化性および耐湿性にも優れていることが明らか
である。
The resin compositions of Examples 1 to 10 containing the organophosphorane catalyst of the present invention had good fluidity immediately after production and exhibited extremely high flow residual ratio. It can be seen that they have excellent storage stability. In addition, the curing torque also showed a high value, and the PCT 50% failure occurrence time was at a level exceeding 2000 hours, which clearly indicates that the composition has excellent curability and moisture resistance.

【0045】これに対して、比較例1,および2は、流
動性や硬化性は実施例同様の良好な値を示すものの、フ
ロー残存率は50%以下の低い値を示し、保存安定性に
問題がある。比較例3,および4では、流動性、硬化
性、保存安定性が良好であるものの、PCT50%不良
発生時間が1000時間以下となり耐湿性が良くない。
また、比較例5,および6は、PCT50%不良発生時
間は優れているものの、保存安定性の点で不十分であ
る。
On the other hand, in Comparative Examples 1 and 2, although the fluidity and the curability show the same good values as in the example, the flow residual ratio shows a low value of 50% or less, and the storage stability is low. There's a problem. In Comparative Examples 3 and 4, although the fluidity, curability, and storage stability were good, the PCT 50% failure occurrence time was 1000 hours or less, and the moisture resistance was poor.
Comparative Examples 5 and 6 are excellent in the PCT 50% failure occurrence time, but are insufficient in storage stability.

【0046】[0046]

【発明の効果】本発明に係るエポキシ樹脂組成物は、立
体的に嵩高い置換基および電子吸引性置換基を導入した
有機ホスホランを触媒として利用することにより、保存
安定性及び硬化性を改良、両立させたもので、いわゆる
潜在硬化性に優れており、室温程度では硬化反応が起こ
りにくいため、長期間にわたる安定保存が可能になっ
た。また、触媒が非塩系構造をしているために、耐湿性
に優れた材料を与えることから、特に半導体封止用材料
として有用である。
The epoxy resin composition according to the present invention has improved storage stability and curability by utilizing, as a catalyst, an organic phosphorane having a sterically bulky substituent and an electron-withdrawing substituent. Both of them are excellent in so-called latent curability and hardly cause a curing reaction at about room temperature, so that stable storage for a long period of time has become possible. In addition, since the catalyst has a non-salt structure, it provides a material having excellent moisture resistance, and thus is particularly useful as a semiconductor sealing material.

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 4J002 CC03X CC04X CC05X CC27X CD02W CD03W CD04W CD05W CD06W CD08W CD12W CD13W CD14W EW016 FD156 GH01 GH02 4J036 AC01 AC02 AC05 AD07 AD08 AF06 AF08 AG00 AJ08 AJ14 AJ18 AK04 DD07 FB07 FB08 JA07  ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 4J002 CC03X CC04X CC05X CC27X CD02W CD03W CD04W CD05W CD06W CD08W CD12W CD13W CD14W EW016 FD156 GH01 GH02 4J036 AC01 AC02 AC05 AD07 AD08 AF06 AF08 AG00 AJ08 AJ04 DD07

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 エポキシ樹脂(A)、フェノール樹脂
(B)、および下記の一般式(1)で表される有機ホス
ホラン(C)の3成分を基本的に含有することを特徴と
する樹脂組成物。 【化1】 式中、置換基R1〜R3はアルキル基、置換または無置換
のアラルキル基、もしくは置換または無置換のアリール
基であり、それらは互いに同一であっても異なっていて
も良い。また、R4およびR5は電子吸引基または有機基
であって、そのうちの少なくとも一つは電子吸引基であ
り、且つR4およびR5の一方または両方が炭素数を6個
以上含むものであって、それらは互いに同一であっても
異なっていても良い。
1. A resin composition comprising basically three components of an epoxy resin (A), a phenol resin (B), and an organic phosphorane (C) represented by the following general formula (1). object. Embedded image In the formula, the substituents R 1 to R 3 are an alkyl group, a substituted or unsubstituted aralkyl group, or a substituted or unsubstituted aryl group, which may be the same or different. R 4 and R 5 are an electron-withdrawing group or an organic group, at least one of which is an electron-withdrawing group, and one or both of R 4 and R 5 contain 6 or more carbon atoms. Thus, they may be the same or different from each other.
【請求項2】 一般式(1)で表される有機ホスホラン
の置換基R4およびR5の一方が、炭素数6個以上の直鎖
アルキル基またはアリール基であることを特徴とする、
請求項1記載の樹脂組成物。
2. One of the substituents R 4 and R 5 of the organophosphorane represented by the general formula (1) is a straight-chain alkyl group or an aryl group having 6 or more carbon atoms,
The resin composition according to claim 1.
【請求項3】 電子吸引基が、シアノ基、ニトロ基、ハ
ロゲン、トリフルオロアセチル基、アシル基、ホルミル
基、カルボキシル基、およびエステル基からなる群より
選択された1種類または2種類の置換基であることを特
徴とする、請求項1記載の樹脂組成物。
3. The electron-withdrawing group is one or two types of substituents selected from the group consisting of a cyano group, a nitro group, a halogen, a trifluoroacetyl group, an acyl group, a formyl group, a carboxyl group, and an ester group. The resin composition according to claim 1, wherein
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
SG128412A1 (en) * 2000-08-24 2007-01-30 Nitto Denko Corp Resin composition for sealing semiconductor, semiconductor device using the same semiconductor waferand mounted structure of semiconductor device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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