JP2000058571A - Mold for resin sealing for semiconductor chip and method therefor using the same - Google Patents
Mold for resin sealing for semiconductor chip and method therefor using the sameInfo
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばプラスチッ
ク・ボール・グリッド・アレイパッケージ(以下、「P
BGAパッケージ」という。)やプラスチック・ピン・
グリッド・アレイパッケージのような片面封止型の半導
体装置を対象とした、半導体チップ樹脂封止用金型及び
これを用いた半導体チップ樹脂封止方法に関する。The present invention relates to a plastic ball grid array package (hereinafter referred to as "P
"BGA package". ) And plastic pins
The present invention relates to a semiconductor chip resin encapsulation mold and a semiconductor chip resin encapsulation method using the same for a single-sided encapsulation type semiconductor device such as a grid array package.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来、PBGAパッケージは、図6に示
す半導体チップ樹脂封止用金型(以下「封入金型」とい
う。)によって形成されるようになっている。図6に示
す封入金型は、上キャビティブロック51と下キャビテ
ィブロック52とにより構成されている。上キャビティ
ブロック51は、樹脂封止エリアを形成する上キャビテ
ィ53を備えている。また、下キャビティブロック52
は、比較的大きい凹部からなる下キャビティ54を備え
た固定キャビティブロック52Aと、下キャビティ54
内に設けられた移動キャビティブロック52Bとにより
構成されている。2. Description of the Related Art Conventionally, a PBGA package is formed by a mold for encapsulating a semiconductor chip resin (hereinafter referred to as "encapsulation mold") shown in FIG. The sealing mold shown in FIG. 6 includes an upper cavity block 51 and a lower cavity block 52. The upper cavity block 51 has an upper cavity 53 forming a resin sealing area. Also, the lower cavity block 52
Is a fixed cavity block 52A having a lower cavity 54 formed of a relatively large recess, and a lower cavity 54
And a moving cavity block 52B provided therein.
【0003】移動キャビティブロック52Bは、その下
側のばね収納用凹部52Baに装備された皿ばね55に
よって、常時所定の押圧力をもって上方に押し上げられ
るようになっている。そして、移動キャビティブロック
52Bと皿ばね55とによって圧力逃げ機構(フローテ
ィング機構)60が構成されている。PBGAパッケー
ジの封入時には、圧力逃げ機構60によって、基板57
の厚さバラツキが吸収されることにより、基板配線(図
示せず)が保護されるようになっている。[0003] The moving cavity block 52B is always pushed upward with a predetermined pressing force by a disc spring 55 provided in the lower spring accommodating recess 52Ba. The moving cavity block 52B and the disc spring 55 constitute a pressure relief mechanism (floating mechanism) 60. When the PBGA package is sealed, the substrate 57 is released by the pressure relief mechanism 60.
The substrate wiring (not shown) is protected by absorbing the thickness variation.
【0004】次に、上記従来例におけるPBGAパッケ
ージの半導体チップ樹脂封止方法(以下、「封入方法」
という。)について説明する。[0004] Next, the semiconductor chip resin encapsulation method of the PBGA package in the above-mentioned conventional example (hereinafter referred to as "encapsulation method")
That. ) Will be described.
【0005】まず、図6に示す封入金型を加熱する。そ
して、封入金型が所定の温度に到達したら、移動キャビ
ティブロック52B上に、ワイヤボンディング済みの基
板57を載置する。続いて、上キャビティブロック51
と下キャビティブロック52とを、基板配線を破壊せず
に、封入樹脂の注入時に上キャビティ53周囲から樹脂
漏れの発生しない圧力となるように型締めする。この型
締め作業が完了した時点より樹脂を所定圧力にて注入
し、注入が完了した後、樹脂硬化反応時間を経て封入金
型を開き、封入工程を完了する。[0005] First, the sealing mold shown in FIG. 6 is heated. When the temperature of the sealing mold reaches a predetermined temperature, the substrate 57 on which the wire bonding has been performed is placed on the moving cavity block 52B. Subsequently, the upper cavity block 51
The lower cavity block 52 and the lower cavity block 52 are clamped so that the resin does not leak from the periphery of the upper cavity 53 when the sealing resin is injected without breaking the substrate wiring. After the completion of the mold clamping operation, the resin is injected at a predetermined pressure. After the injection is completed, the encapsulation mold is opened after a resin curing reaction time, and the encapsulation process is completed.
【0006】[0006]
【発明が解決しようとする課題】PBGAパッケージに
使用する基板は、1フレーム内に半導体チップが複数搭
載された多数個取りとなっている。このため、封入金型
は複数のキャビティを有し、基板を位置合わせをしてそ
の後に型締めを行う。この時、前述した圧力逃げ機構
は、基板の厚さバラツキを例えば100〔μm〕程度吸
収する。The substrate used for the PBGA package is a multi-cavity in which a plurality of semiconductor chips are mounted in one frame. For this reason, the encapsulating mold has a plurality of cavities, and the substrate is positioned and then clamped. At this time, the above-described pressure relief mechanism absorbs, for example, about 100 [μm] in the thickness variation of the substrate.
【0007】しかしながら、基板配線による凹凸がある
ため、基板配線の厚い基板では押圧力が大きく、基板配
線の薄い基板では押圧力が小さいという、型締めした基
板へのいわゆる片当たり(押圧力の不均一)が発生す
る。この片当たりによる部分的な基板の破壊を防止する
ために型締圧力を調整すると樹脂漏れが発生し、樹脂漏
れを防ぐように型締圧力を調整すると部分的に基板の破
壊が発生するという不都合が生じていた。However, because of the unevenness due to the substrate wiring, the pressing force is large on a substrate with a thick substrate wiring, and the pressing force is small on a substrate with a thin substrate wiring. Uniform) occurs. Adjusting the mold clamping pressure to prevent partial destruction of the substrate due to this one-sided contact causes resin leakage, and adjusting the mold clamping pressure to prevent resin leakage will cause partial substrate destruction. Had occurred.
【0008】[0008]
【発明の目的】そこで、本発明の目的は、PBGAパッ
ケージ等の封入工程での樹脂漏れや基板破壊などによる
歩留まり低下を防止し、更にパッケージの縮小化が可能
となる、封入金型及び封入方法を提供することにある。SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide an encapsulating mold and an encapsulating method which can prevent the yield from being reduced due to resin leakage or substrate destruction in the encapsulating step of a PBGA package or the like, and can further reduce the size of the package. Is to provide.
【0009】[0009]
【課題を解決するための手段】本発明に係る封入金型
は、第一キャビティブロックと、第二キャビティブロッ
クと、前記第一キャビティブロックに設けられた半導体
チップ樹脂封止用の複数のキャビティと、クランプブロ
ックとを備えている。前記第一キャビティブロック及び
前記第二キャビティブロックは、半導体チップが一部に
ダイボンディングされた基板を、当該半導体チップが前
記キャビティ内かつ当該基板の周辺が前記キャビティ外
に位置するように挟持するものである。前記クランプブ
ロックは、前記キャビティの前記基板に接する周端を囲
繞するように当該各キャビティ毎に前記第一キャビティ
ブロック内に設けられ、前記第一キャビティブロック及
び前記第二キャビティブロックとは独立して当該各キャ
ビティ毎に前記基板を押圧可能としたものである。According to the present invention, there is provided an encapsulating mold comprising a first cavity block, a second cavity block, and a plurality of semiconductor chip resin sealing cavities provided in the first cavity block. , A clamp block. The first cavity block and the second cavity block sandwich a substrate on which a semiconductor chip is partially die-bonded such that the semiconductor chip is located in the cavity and the periphery of the substrate is located outside the cavity. It is. The clamp block is provided in the first cavity block for each cavity so as to surround a peripheral end of the cavity in contact with the substrate, and is independent of the first cavity block and the second cavity block. The substrate can be pressed for each cavity.
【0010】次に、本発明に係る封入金型の使用方法を
説明する。前述のとおり、基板をインサートとし封止樹
脂を注入する複数のキャビティと、各キャビティごとに
基板を押圧する可動式のクランプブロックとを有する封
入金型を使用する。そして、第二キャビティブロック上
に基板を配置し、第一キャビティブロック及びクランプ
ブロックによりキャビティが基板上に封入エリアを形成
するように型締めを行う。このとき、型締め圧力をクラ
ンプブロック毎に検出し、型締め圧力が所定の圧力に達
した時点から所定量クランプブロックを可動させる。こ
れにより基板を型締めし、樹脂を注入する。型締め圧力
を検出する代わりに、位置を検出するようにしてもよ
く、又は圧力と位置との両方を検出するようにしてもよ
い。Next, a method of using the mold according to the present invention will be described. As described above, an encapsulation mold having a plurality of cavities into which a substrate is used as an insert and a sealing resin is injected, and a movable clamp block that presses the substrate for each cavity is used. Then, the substrate is placed on the second cavity block, and the mold is clamped by the first cavity block and the clamp block so that the cavity forms an enclosed area on the substrate. At this time, the mold clamping pressure is detected for each clamp block, and the clamp block is moved by a predetermined amount when the mold clamping pressure reaches a predetermined pressure. Thereby, the substrate is clamped and resin is injected. Instead of detecting the mold clamping pressure, the position may be detected, or both the pressure and the position may be detected.
【0011】各キャビティ毎にクランプブロックに対す
る圧力又は位置を制御することにより、各キャビティ毎
に異なる基板厚さに対応するように、型締め圧力が全キ
ャビティに渡り均一になる。したがって、封入時の樹脂
漏れが防止されるとともに片当たりが発生しないので、
基板破壊が発生することもなく、キャビティ毎に最低限
必要な型締め圧力又は位置制御による押し込み量にて、
樹脂注入が行える。By controlling the pressure or position on the clamp block for each cavity, the mold clamping pressure is uniform across all cavities to accommodate different substrate thicknesses for each cavity. Therefore, resin leakage at the time of encapsulation is prevented and one-side contact does not occur,
With no breakage of the substrate, the minimum amount of mold clamping pressure required for each cavity or the amount of pressing by position control,
Resin injection can be performed.
【0012】[0012]
【発明の実施の形態】図1は、本発明に係る封入金型の
第一実施形態を示す概略断面図である。図2は、図1の
封入金型の一部を示す分解斜視図である。以下、この図
面に基づき説明する。ただし、図6と同一部分は同一符
号を付すことにより重複説明を省略する。FIG. 1 is a schematic sectional view showing a first embodiment of an encapsulating mold according to the present invention. FIG. 2 is an exploded perspective view showing a part of the sealing mold of FIG. Hereinafter, description will be made based on this drawing. However, the same parts as those in FIG.
【0013】本実施形態の封入金型は、上キャビティブ
ロック10と、下キャビティブロック52と、上キャビ
ティブロック10に設けられた半導体チップ樹脂封止用
の複数の上キャビティ53と、上キャビティ53毎に設
けられた複数のクランプブロック12とを備えている。
上キャビティブロック10及び下キャビティブロック5
2は、半導体チップ56が一部にダイボンディングされ
た基板57を、半導体チップ56が上キャビティ53内
かつ基板57の周辺が上キャビティ53外に位置するよ
うに挟持するものである。クランプブロック12は、上
キャビティ53の基板57に接する周端を囲繞するよう
に各上キャビティ53毎に上キャビティブロック10内
に設けられ、上キャビティブロック10及び下キャビテ
ィブロック52とは独立して各上キャビティ53毎に基
板57を押圧可能としたものである。すなわち、クラン
プブロック12は、上キャビティブロック10内部で上
下に摺動可能となっている。なお、上キャビティ53及
びクランプブロック12は、便宜上一個のみ図示してい
る。The encapsulating mold of the present embodiment includes an upper cavity block 10, a lower cavity block 52, a plurality of upper cavities 53 provided in the upper cavity block 10 for sealing a semiconductor chip resin, and each upper cavity 53. And a plurality of clamp blocks 12 provided at the same position.
Upper cavity block 10 and lower cavity block 5
Reference numeral 2 denotes a substrate for sandwiching a substrate 57 to which a semiconductor chip 56 is partly die-bonded such that the semiconductor chip 56 is located in the upper cavity 53 and the periphery of the substrate 57 is located outside the upper cavity 53. The clamp block 12 is provided in the upper cavity block 10 for each of the upper cavities 53 so as to surround a peripheral end of the upper cavity 53 in contact with the substrate 57, and is provided independently of the upper cavity block 10 and the lower cavity block 52. The substrate 57 can be pressed for each upper cavity 53. That is, the clamp block 12 can slide up and down inside the upper cavity block 10. Note that only one upper cavity 53 and one clamp block 12 are shown for convenience.
【0014】また、本実施形態の封入金型には、クラン
プブロック12毎に基板57への押圧力を制御する加圧
機構(押圧部材14Aのみ図示)が付設されている。加
圧機構は、押圧力発生源(図示せず)、この圧力発生源
から発生した押圧力をクランプブロック12に伝達する
押圧部材14、基板57への押圧力を検出する圧力セン
サ(図示せず)、この圧力センサで検出された押圧力が
所定値になるように押圧力発生源を制御するコントロー
ラ(図示せず)等を備えている。したがって、加圧機構
によって上キャビティ53毎に型締め圧力を調整でき
る。In addition, a pressurizing mechanism (only the pressing member 14A is shown) for controlling the pressing force on the substrate 57 is provided for each clamp block 12 in the sealing mold of the present embodiment. The pressing mechanism includes a pressing force source (not shown), a pressing member 14 for transmitting the pressing force generated from the pressure generating source to the clamp block 12, and a pressure sensor (not shown) for detecting the pressing force on the substrate 57. ), And a controller (not shown) for controlling a pressing force source so that the pressing force detected by the pressure sensor becomes a predetermined value. Therefore, the mold clamping pressure can be adjusted for each upper cavity 53 by the pressurizing mechanism.
【0015】押圧力発生源は、例えばサーボモータ、油
圧装置等である。圧力センサは、例えば加圧機構内に設
けられたロードセルである。圧力センサの代わりに位置
センサを用いてもよい。コントローラは、例えばマイク
ロコンピュータである。The source of the pressing force is, for example, a servomotor, a hydraulic device or the like. The pressure sensor is, for example, a load cell provided in a pressurizing mechanism. A position sensor may be used instead of the pressure sensor. The controller is, for example, a microcomputer.
【0016】次に、図1の封入金型の動作を説明する。Next, the operation of the sealing mold shown in FIG. 1 will be described.
【0017】例えばPBGAの6連基板の封入をする場
合、下キャビティ54の皿バネ55による圧力逃げ機構
60の押し上げ力は80〜100〔kg/cm2 〕が目安
となる。皿バネ55を複数個組み合わせることにより、
求めるバネ力となるよう調整する。このとき、上キャビ
ティブロック10と下キャビティブロック52とによる
型締め力を100〔kg/cm2 〕以上に設定しても、圧
力逃げ機構60の作用によって基板57には皿バネ55
による一定の圧力のみ加わることになる。この皿バネ5
5の設定値は、基板57にダメージを与えない圧力とす
ることが望ましい。この状態で、上キャビティ53毎に
クランプブロック12を下降させ、基板57が破断しな
い100〜150〔kg/cm2 〕程度の圧力に達するま
で押し込む。このように、上キャビティ53毎に樹脂漏
れの発生しない状態にクランプが完了した後、樹脂を注
入する。For example, when enclosing a six-substrate PBGA board, the pushing force of the pressure relief mechanism 60 by the disc spring 55 of the lower cavity 54 is approximately 80 to 100 kg / cm 2 . By combining a plurality of disc springs 55,
Adjust so that the required spring force is obtained. At this time, even if the clamping force by the upper cavity block 10 and the lower cavity block 52 is set to 100 kg / cm 2 or more, the plate relief spring 55
Only a certain pressure due to This disc spring 5
It is desirable that the set value of 5 be a pressure that does not damage the substrate 57. In this state, the clamp block 12 is lowered for each of the upper cavities 53 and pushed down until the pressure reaches about 100 to 150 [kg / cm 2 ] at which the substrate 57 does not break. As described above, after the clamp is completed in a state where the resin does not leak in each of the upper cavities 53, the resin is injected.
【0018】図3は、本発明に係る封入金型の第二実施
形態を示す概略断面図である。以下、この図面に基づき
説明する。ただし、図1と同一部分は同一符号を付すこ
とにより重複説明を省略する。FIG. 3 is a schematic sectional view showing a second embodiment of the encapsulating mold according to the present invention. Hereinafter, description will be made based on this drawing. However, the same parts as those in FIG.
【0019】本実施形態の封入金型では、クランプブロ
ック12の押圧によって変形した基板57を逃がすクラ
ンプブロック逃げ52Bbを備えている。クランプブロ
ック逃げ52Bbは、下キャビティブロック20を構成
する移動キャビティブロック52Bの、クランプブロッ
ク12に対向する位置に設けられている。これにより、
クランプブロック12のストロークを最大限延長するこ
とが可能となる。また樹脂の注入が完了した後、更にク
ランプブロック12を基板57の厚さ分(この場合0.
36〔mm〕)押し込むことにより、基板57の個片切
断を行うことが可能となる。The mold of the present embodiment is provided with a clamp block relief 52Bb for releasing the substrate 57 deformed by the pressing of the clamp block 12. The clamp block relief 52Bb is provided at a position of the moving cavity block 52B constituting the lower cavity block 20 facing the clamp block 12. This allows
The stroke of the clamp block 12 can be maximized. After the resin injection is completed, the clamp block 12 is further moved by the thickness of the substrate 57 (in this case, 0.1 mm).
36 [mm]), the substrate 57 can be cut into individual pieces.
【0020】図4は、本発明に係る封入金型の第三実施
形態を示す概略断面図である。以下、この図面に基づき
説明する。ただし、図3と同一部分は同一符号を付すこ
とにより重複説明を省略する。FIG. 4 is a schematic sectional view showing a third embodiment of the encapsulating mold according to the present invention. Hereinafter, description will be made based on this drawing. However, the same parts as those in FIG.
【0021】本実施形態の封入金型では、上キャビティ
ブロック30に設けられたキャビティ32の一部がクラ
ンプブロック12によって構成されている。詳しくは、
キャビティ32の側面(基板57に垂直な面)がクラン
プブロック12によって構成されている。これにより、
樹脂外周の稜線が垂直なPBGAパッケージを製造する
ことができる。したがって、本実施形態の封入金型によ
れば、樹脂封入エリアを最小にすることが可能となる。In the mold of the present embodiment, a part of the cavity 32 provided in the upper cavity block 30 is constituted by the clamp block 12. For more information,
The side surface (the surface perpendicular to the substrate 57) of the cavity 32 is constituted by the clamp block 12. This allows
It is possible to manufacture a PBGA package in which the ridgeline of the resin outer periphery is vertical. Therefore, according to the sealing mold of the present embodiment, it is possible to minimize the resin sealing area.
【0022】図5は、図3の封入金型を用いた封入方法
を工程順に示した概略断面図である。以下、この図面に
基づき説明する。FIG. 5 is a schematic sectional view showing a sealing method using the sealing mold of FIG. 3 in the order of steps. Hereinafter, description will be made based on this drawing.
【0023】まず、移動キャビティブロック52B上に
基板57を位置決めし(図5〔1〕)、上キャビティブ
ロック10と下キャビティブロック20とを型締めする
(図5〔2〕)。下キャビティ54には皿バネ55によ
る圧力逃げ機構60が付いているため、図5〔2〕の状
態では皿バネ55のバネ力により基板57が型締めされ
ている。このときのバネ力による型締め圧力は、基板5
7を破壊しない程度である。この状態では、樹脂が注入
されないので、間隙があってもかまわない。First, the substrate 57 is positioned on the moving cavity block 52B (FIG. 5A), and the upper cavity block 10 and the lower cavity block 20 are clamped (FIG. 5B). Since the lower cavity 54 is provided with a pressure relief mechanism 60 using a disc spring 55, the substrate 57 is clamped by the spring force of the disc spring 55 in the state of FIG. At this time, the mold clamping pressure due to the spring force is
7 is not destroyed. In this state, since no resin is injected, there may be a gap.
【0024】図5〔2〕の状態から圧力をモニターしつ
つクランプブロック12を加圧し、基板57を変形させ
たところで、クランプブロック12の加圧を停止する
(図5〔3〕)。この状態になったところで、樹脂を注
入する。樹脂注入が終了したら金型を開き、製品を取り
出す。When the clamp block 12 is pressurized while monitoring the pressure from the state shown in FIG. 5B and the substrate 57 is deformed, the pressurization of the clamp block 12 is stopped (FIG. 5C). In this state, the resin is injected. When resin injection is completed, open the mold and take out the product.
【0025】また、基板57を変形させるクランプブロ
ック12の動作は位置制御によっても可能であるし、位
置及び圧力の併用であっても可能である。更に、樹脂注
入終了後、基板57が破壊するまでクランプブロック1
2を加圧すれば、樹脂稜線での切断工程を同時に行うこ
ともできる。The operation of the clamp block 12 for deforming the substrate 57 can be performed by position control, or by using both position and pressure. Further, after the resin injection is completed, the clamp block 1 is used until the substrate 57 is broken.
By pressing 2, the cutting step at the resin ridge line can be performed at the same time.
【0026】なお、これらの各実施形態に記載した以外
にも、プラスチック基板を使用した片面封止型パッケー
ジの封入工程及び切断工程に広く応用することが可能で
ある。本発明により、樹脂漏れが少なくかつ基板ダメー
ジの少ない封入が可能であり、従来の封入金型を使用し
た場合に比べてパッケージ外形寸法より小さくすること
が可能である。In addition to those described in the above embodiments, the present invention can be widely applied to the encapsulating step and the cutting step of a single-sided sealed package using a plastic substrate. According to the present invention, encapsulation with less resin leakage and less substrate damage is possible, and it is possible to make the outer dimensions of the package smaller than when using a conventional encapsulation die.
【0027】[0027]
【発明の効果】本発明に係る封入金型及び封入方法によ
れば、キャビティの基板に接する周端を囲繞するように
各キャビティ毎にクランプブロックを設けたことによ
り、第一キャビティブロック及び第二キャビティブロッ
クとは独立して各キャビティ毎に基板を押圧することが
できるので、基板の厚さバラツキに起因する樹脂漏れ又
は基板配線の破壊などの不具合を防止でき、これにより
歩留まりを向上させることができる。According to the sealing mold and the sealing method according to the present invention, the first cavity block and the second cavity block are provided by providing the clamp block for each cavity so as to surround the peripheral end of the cavity in contact with the substrate. Since the substrate can be pressed for each cavity independently of the cavity block, problems such as resin leakage or substrate wiring destruction due to variations in substrate thickness can be prevented, thereby improving the yield. it can.
【0028】請求項2記載の封入金型又は請求項4記載
の封入方法によれば、クランプブロックの押圧によって
変形した基板を逃がすクランプブロック逃げを備えたこ
とにより、より確実に基板を押圧することができるの
で、基板の厚さバラツキに起因する樹脂漏れをより確実
に防止できる。According to the enclosing mold according to the second aspect or the enclosing method according to the fourth aspect, the substrate is more reliably pressed by providing the clamp block relief for releasing the substrate deformed by the pressing of the clamp block. Therefore, it is possible to more reliably prevent resin leakage due to variations in the thickness of the substrate.
【0029】請求項3記載の封入金型によれば、キャビ
ティの一部が前記クランプブロックによって構成されて
いることにより、製品の寸法を小さくすることが可能な
樹脂稜線での切断が実現できる。According to the third aspect of the present invention, since a part of the cavity is constituted by the clamp block, it is possible to realize cutting at a resin ridge line which can reduce the size of a product.
【0030】請求項5記載の封入方法によれば、クラン
プブロックによって基板を切断することにより、従来必
要であった基板の切断工程を省略できる。According to the enclosing method of the fifth aspect, the substrate cutting step which has been conventionally required can be omitted by cutting the substrate by the clamp block.
【図1】本発明に係る半導体チップ樹脂封止用金型の第
一実施形態を示す概略断面図である。FIG. 1 is a schematic sectional view showing a first embodiment of a semiconductor chip resin sealing mold according to the present invention.
【図2】図1の半導体チップ樹脂封止用金型の一部を示
す分解斜視図である。FIG. 2 is an exploded perspective view showing a part of the semiconductor chip resin sealing mold of FIG. 1;
【図3】本発明に係る半導体チップ樹脂封止用金型の第
二実施形態を示す概略断面図である。FIG. 3 is a schematic sectional view showing a second embodiment of a semiconductor chip resin sealing mold according to the present invention.
【図4】本発明に係る半導体チップ樹脂封止用金型の第
三実施形態を示す概略断面図である。FIG. 4 is a schematic sectional view showing a third embodiment of a semiconductor chip resin sealing mold according to the present invention.
【図5】図3の封入金型を用いた半導体チップ樹脂封止
方法を示した概略断面図であり、図5〔1〕〜〔3〕の
順に工程が進行する。FIG. 5 is a schematic cross-sectional view showing a method for sealing a semiconductor chip resin using the encapsulating mold shown in FIG. 3, and the process proceeds in the order of FIGS. 5 [1] to [3].
【図6】従来の半導体チップ樹脂封止用金型を示す概略
断面図である。FIG. 6 is a schematic cross-sectional view showing a conventional semiconductor chip resin sealing mold.
10,30 上キャビティブロック(第一キャビティブ
ロック) 12 クランプブロック 14A 加圧機構の押圧部材 30,52 下キャビティブロック(第二キャビティブ
ロック) 32,53 上キャビティ(半導体チップ樹脂封止用の
キャビティ) 54 下キャビティ 57 基板 56 半導体チップ 52Bb クランプブロック逃げ10, 30 Upper cavity block (first cavity block) 12 Clamp block 14A Pressing member of pressure mechanism 30, 52 Lower cavity block (second cavity block) 32, 53 Upper cavity (cavity for sealing semiconductor chip resin) 54 Lower cavity 57 Substrate 56 Semiconductor chip 52Bb Clamp block escape
Claims (6)
ティブロックと、前記第一キャビティブロックに設けら
れた半導体チップ樹脂封止用の複数のキャビティとを備
え、 前記第一キャビティブロック及び前記第二キャビティブ
ロックは、半導体チップが一部にダイボンディングされ
た基板を、当該半導体チップが前記キャビティ内かつ当
該基板の周辺が前記キャビティ外に位置するように挟持
するものである、 半導体チップ樹脂封止用金型において、 前記キャビティの前記基板に接する周端を囲繞するよう
に当該各キャビティ毎に前記第一キャビティブロック内
に設けられ、前記第一キャビティブロック及び前記第二
キャビティブロックとは独立して当該各キャビティ毎に
前記基板を押圧可能とした、クランプブロックを、 備えたことを特徴とする半導体チップ樹脂封止用金型。1. A first cavity block, a second cavity block, and a plurality of cavities provided in the first cavity block for sealing a semiconductor chip resin, wherein the first cavity block and the second cavity are provided. The block is for holding a substrate on which a semiconductor chip is partially die-bonded so that the semiconductor chip is located in the cavity and the periphery of the substrate is located outside the cavity. In the mold, provided in the first cavity block for each of the cavities so as to surround a peripheral end of the cavity in contact with the substrate, and each of the cavities is independent of the first and second cavity blocks. A clamp block capable of pressing the substrate for each cavity. The semiconductor chip resin sealing die according to symptoms.
形した基板を逃がすクランプブロック逃げを備えた、請
求項1記載の半導体チップ樹脂封止用金型。2. The semiconductor chip resin sealing mold according to claim 1, further comprising a clamp block relief for releasing a substrate deformed by the pressing of the clamp block.
ロックによって構成されている、請求項1又は2記載の
半導体チップ樹脂封止用金型。3. The semiconductor chip resin sealing mold according to claim 1, wherein a part of said cavity is constituted by said clamp block.
樹脂封止用金型を用いた半導体チップ樹脂封止方法であ
って、 前記第一キャビティブロックと前記第二キャビティブロ
ックとで前記基板を挟持することにより予備的に型締め
を行い、 続いて、前記クランプブロックによって前記各キャビテ
ィ毎に前記基板を押圧することにより型締めを行う、 半導体チップ樹脂封止方法。4. A semiconductor chip resin sealing method using a semiconductor chip resin sealing mold according to claim 1, 2 or 3, wherein the first cavity block and the second cavity block comprise a substrate. A semiconductor chip resin sealing method, wherein a mold is preliminarily clamped by sandwiching the mold, and then the mold is clamped by pressing the substrate for each of the cavities by the clamp block.
金型を用いた半導体チップ樹脂封止方法であって、 前記第一キャビティブロックと前記第二キャビティブロ
ックとで前記基板を挟持することにより予備的に型締め
を行い、 続いて、前記クランプブロックによって前記各キャビテ
ィ毎に前記基板を押圧することにより型締めを行い、 更に前記クランプブロックによって前記基板を変形させ
る、 半導体チップ樹脂封止方法。5. A semiconductor chip resin sealing method using the semiconductor chip resin sealing mold according to claim 2, wherein the substrate is sandwiched between the first cavity block and the second cavity block. A semiconductor mold resin sealing method, wherein the mold is preliminarily clamped, the mold is clamped by pressing the substrate for each cavity by the clamp block, and the substrate is deformed by the clamp block. .
金型を用いた半導体チップ樹脂封止方法であって、 前記第一キャビティブロックと前記第二キャビティブロ
ックとで前記基板を挟持することにより予備的に型締め
を行い、 続いて、前記クランプブロックによって前記各キャビテ
ィ毎に前記基板を押圧することにより型締めを行い、 更に前記クランプブロックによって前記基板を切断す
る、 半導体チップ樹脂封止方法。6. A semiconductor chip resin sealing method using a semiconductor chip resin sealing mold according to claim 2, wherein the substrate is sandwiched between the first cavity block and the second cavity block. Preliminarily, clamping is performed by pressing the substrate for each of the cavities by the clamp block, and the substrate is further cut by the clamp block. .
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10218104A JP3116913B2 (en) | 1998-07-31 | 1998-07-31 | Semiconductor chip resin sealing mold and semiconductor chip resin sealing method using the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10218104A JP3116913B2 (en) | 1998-07-31 | 1998-07-31 | Semiconductor chip resin sealing mold and semiconductor chip resin sealing method using the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000058571A true JP2000058571A (en) | 2000-02-25 |
JP3116913B2 JP3116913B2 (en) | 2000-12-11 |
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10218104A Expired - Fee Related JP3116913B2 (en) | 1998-07-31 | 1998-07-31 | Semiconductor chip resin sealing mold and semiconductor chip resin sealing method using the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3116913B2 (en) |
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