JP2000009844A - 機器健全性監視装置 - Google Patents
機器健全性監視装置Info
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- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
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- Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
- Measurement Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 監視対象機器内の放射線の強度を直接計測す
ること。 【解決手段】 放射線除去装置１０、排気配管１４、１
８内にシンチレーションファイバ２８を配置し、オフガ
スに含まれる放射線がシンチレーションファイバ２８に
入射したときに、放射線の入射に伴うシンチレーション
光をシンチレーションファイバ２８、光ファイバ３８、
４０を介して伝送し、シンチレーション光の時間当たり
の発光数を演算回路６０で求め、この演算結果を表示器
６２に表示する。
ること。 【解決手段】 放射線除去装置１０、排気配管１４、１
８内にシンチレーションファイバ２８を配置し、オフガ
スに含まれる放射線がシンチレーションファイバ２８に
入射したときに、放射線の入射に伴うシンチレーション
光をシンチレーションファイバ２８、光ファイバ３８、
４０を介して伝送し、シンチレーション光の時間当たり
の発光数を演算回路６０で求め、この演算結果を表示器
６２に表示する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、機器健全性監視装
置に係り、特に、原子力施設の排気に含まれる放射線を
除去する放射線除去装置などを監視対象機器として、監
視対象機器内の放射線の状態から監視対象機器の機能に
関する健全性を監視するに好適な機器健全性監視装置に
関する。
置に係り、特に、原子力施設の排気に含まれる放射線を
除去する放射線除去装置などを監視対象機器として、監
視対象機器内の放射線の状態から監視対象機器の機能に
関する健全性を監視するに好適な機器健全性監視装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】原子力発電所などにおいては、原子力施
設から排気されるオフガス内に主要核種として、Ｋｒ−
８５などのβ線放出核種が含まれているため、原子力施
設の排気系には排気に含まれる放射線を除去する放射線
除去装置が設けられている。この放射線除去装置内には
吸着フィルタが収納されており、排気に含まれる放射線
は吸着フィルタに吸着されるため、排気系に放射線除去
装置を設けることで、排気系から正常化された空気を排
出することができる。
設から排気されるオフガス内に主要核種として、Ｋｒ−
８５などのβ線放出核種が含まれているため、原子力施
設の排気系には排気に含まれる放射線を除去する放射線
除去装置が設けられている。この放射線除去装置内には
吸着フィルタが収納されており、排気に含まれる放射線
は吸着フィルタに吸着されるため、排気系に放射線除去
装置を設けることで、排気系から正常化された空気を排
出することができる。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】従来技術においては、
放射線除去装置内に収納された吸着フィルタの交換時期
を放射線除去装置外から直接確認することについて十分
配慮されていない。すなわち、β線放出核種の特性上そ
の物質透過力は弱いため、放射線除去装置および周辺の
排気配管の外側からオフガス内に含まれる放射線の強度
を直接測定するのが困難である。このため放射線除去装
置の除去機能を正確にかつ連続的に監視することは困難
であり、合理的な監視方法が要望されている。さらに、
原子力施設における放射線計測に当たっては、湿度変化
および電磁ノイズなどの電気的外乱の影響を受けにく
く、かつ耐放射線性に優れた監視装置が必要であり、狭
隘部への取付が可能で現場機器が最少となる小型の計測
系であることが要望されている。
放射線除去装置内に収納された吸着フィルタの交換時期
を放射線除去装置外から直接確認することについて十分
配慮されていない。すなわち、β線放出核種の特性上そ
の物質透過力は弱いため、放射線除去装置および周辺の
排気配管の外側からオフガス内に含まれる放射線の強度
を直接測定するのが困難である。このため放射線除去装
置の除去機能を正確にかつ連続的に監視することは困難
であり、合理的な監視方法が要望されている。さらに、
原子力施設における放射線計測に当たっては、湿度変化
および電磁ノイズなどの電気的外乱の影響を受けにく
く、かつ耐放射線性に優れた監視装置が必要であり、狭
隘部への取付が可能で現場機器が最少となる小型の計測
系であることが要望されている。
【０００４】なお、放射線を計測する検出器として、例
えば、特開平６−２５８４４６号公報に記載されている
シンチレーション検出器を用いることも考えられるが、
この検出器を単に放射線除去装置内に設置することは困
難である。
えば、特開平６−２５８４４６号公報に記載されている
シンチレーション検出器を用いることも考えられるが、
この検出器を単に放射線除去装置内に設置することは困
難である。
【０００５】本発明の目的は、監視対象機器内の放射線
を直接検出して監視対象機器の機能に関する健全性を監
視することができる機器健全性監視装置を提供すること
にある。
を直接検出して監視対象機器の機能に関する健全性を監
視することができる機器健全性監視装置を提供すること
にある。
【０００６】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に、本発明は、第１の装置として、監視対象機器の内部
に配置されて放射線の入射により発光しこの発光による
シンチレーション光を出力する放射線検出手段と、前記
監視対象機器の外部に配置されて前記放射線検出手段の
検出によるシンチレーション光に従って監視対象機器の
機能に関する健全性を判定する健全性判定手段とを備え
てなる機器健全性監視装置を構成したものである。
に、本発明は、第１の装置として、監視対象機器の内部
に配置されて放射線の入射により発光しこの発光による
シンチレーション光を出力する放射線検出手段と、前記
監視対象機器の外部に配置されて前記放射線検出手段の
検出によるシンチレーション光に従って監視対象機器の
機能に関する健全性を判定する健全性判定手段とを備え
てなる機器健全性監視装置を構成したものである。
【０００７】第２の装置として、監視対象機器の内部に
配置されて放射線の入射により発光しこの発光によるシ
ンチレーション光を伝送するシンチレーションファイバ
と、前記監視対象機器の外部に配置されて前記シンチレ
ーションファイバからのシンチレーション光に従って監
視対象機器の機能に関する健全性を判定する健全性判定
手段とを備えてなる機器健全性監視装置を構成したもの
である。
配置されて放射線の入射により発光しこの発光によるシ
ンチレーション光を伝送するシンチレーションファイバ
と、前記監視対象機器の外部に配置されて前記シンチレ
ーションファイバからのシンチレーション光に従って監
視対象機器の機能に関する健全性を判定する健全性判定
手段とを備えてなる機器健全性監視装置を構成したもの
である。
【０００８】第３の装置として、監視対象機器の内部に
配置されて放射線の入射により発光しこの発光によるシ
ンチレーション光を前記放射線の入射点を基点としてそ
の両側に伝送するシンチレーションファイバと、前記監
視対象機器の外部に配置されて前記シンチレーションフ
ァイバの両端側から出力されたシンチレーション光に従
って監視対象機器の機能に関する健全性を判定する健全
性判定手段とを備えてなる機器健全性監視装置を構成し
たものである。
配置されて放射線の入射により発光しこの発光によるシ
ンチレーション光を前記放射線の入射点を基点としてそ
の両側に伝送するシンチレーションファイバと、前記監
視対象機器の外部に配置されて前記シンチレーションフ
ァイバの両端側から出力されたシンチレーション光に従
って監視対象機器の機能に関する健全性を判定する健全
性判定手段とを備えてなる機器健全性監視装置を構成し
たものである。
【０００９】第４の装置として、監視対象機器の内部を
中心にして前記監視対象機器の入口側から出口側にわた
って配置されて放射線の入射により発光しこの発光によ
るシンチレーション光を前記放射線の入射点を基点とし
てその両側に伝送するシンチレーションファイバと、前
記監視対象機器の外部に配置されて前記シンチレーショ
ンファイバの両端側から出力されたシンチレーション光
に従って監視対象機器の機能に関する健全性を判定する
健全性判定手段とを備えてなる機器健全性監視装置を構
成したものである。
中心にして前記監視対象機器の入口側から出口側にわた
って配置されて放射線の入射により発光しこの発光によ
るシンチレーション光を前記放射線の入射点を基点とし
てその両側に伝送するシンチレーションファイバと、前
記監視対象機器の外部に配置されて前記シンチレーショ
ンファイバの両端側から出力されたシンチレーション光
に従って監視対象機器の機能に関する健全性を判定する
健全性判定手段とを備えてなる機器健全性監視装置を構
成したものである。
【００１０】第５の装置として、監視対象機器の内部を
中心にして前記監視対象機器の入口側流体通路から出口
側流体通路にわたって配置されて放射線の入射により発
光しこの発光によるシンチレーション光を前記放射線の
入射点を基点としてその両側に伝送するシンチレーショ
ンファイバと、前記監視対象機器の外部に配置されて前
記シンチレーションファイバの両端側から出力されたシ
ンチレーション光に従って監視対象機器の機能に関する
健全性を判定する健全性判定手段とを備えてなる機器健
全性監視装置を構成したものである。
中心にして前記監視対象機器の入口側流体通路から出口
側流体通路にわたって配置されて放射線の入射により発
光しこの発光によるシンチレーション光を前記放射線の
入射点を基点としてその両側に伝送するシンチレーショ
ンファイバと、前記監視対象機器の外部に配置されて前
記シンチレーションファイバの両端側から出力されたシ
ンチレーション光に従って監視対象機器の機能に関する
健全性を判定する健全性判定手段とを備えてなる機器健
全性監視装置を構成したものである。
【００１１】第６の装置として、前記監視対象機器の入
口側流体通路と出口側流体通路にそれぞれ配置されて放
射線の入射により発光しこの発光によるシンチレーショ
ン光を伝送する複数のシンチレーションファイバと、前
記監視対象機器の外部に配置されて前記各シンチレーシ
ョンファイバから出力されたシンチレーション光に従っ
て監視対象機器の機能に関する健全性を判定する健全性
判定手段とを備えてなる機器健全性監視装置を構成した
ものである。
口側流体通路と出口側流体通路にそれぞれ配置されて放
射線の入射により発光しこの発光によるシンチレーショ
ン光を伝送する複数のシンチレーションファイバと、前
記監視対象機器の外部に配置されて前記各シンチレーシ
ョンファイバから出力されたシンチレーション光に従っ
て監視対象機器の機能に関する健全性を判定する健全性
判定手段とを備えてなる機器健全性監視装置を構成した
ものである。
【００１２】前記各健全性監視装置を構成するに際し
て、以下の要素を付加することができる。
て、以下の要素を付加することができる。
【００１３】（１）前記健全性判定手段は、前記シンチ
レーション光に従って放射線の強度を算出し、この算出
値に従って監視対象機器の機能に関する健全性を判定し
てなること。
レーション光に従って放射線の強度を算出し、この算出
値に従って監視対象機器の機能に関する健全性を判定し
てなること。
【００１４】（２）前記シンチレーションファイバをら
せん状に配置してなる。
せん状に配置してなる。
【００１５】（３）前記シンチレーションファイバと前
記健全性判定手段との間に光ファイバを配置し、光ファ
イバの一端に光ファイバ用コネクタを接続するととも
に、前記シンチレーションファイバの出力側に前記光フ
ァイバ用コネクタと嵌合可能な接続用コネクタを配置
し、前記シンチレーションファイバと前記光ファイバと
をそれぞれ前記コネクタを介して接続してなる。
記健全性判定手段との間に光ファイバを配置し、光ファ
イバの一端に光ファイバ用コネクタを接続するととも
に、前記シンチレーションファイバの出力側に前記光フ
ァイバ用コネクタと嵌合可能な接続用コネクタを配置
し、前記シンチレーションファイバと前記光ファイバと
をそれぞれ前記コネクタを介して接続してなる。
【００１６】前記した手段によれば、監視対象機器の内
部に放射線検出手段として、例えばシンチレーションフ
ァイバを配置し、放射線の入射に伴って発光するシンチ
レーション光をシンチレーションファイバを介して伝送
し、シンチレーションファイバからのシンチレーション
光にしたがって監視対象機器の機能に関する健全性を判
定するようにしたため、監視機器対象内部の放射線の状
態を直接計測して監視対象機器の機能に関する健全性を
監視することができる。このため、監視対象機器の機能
を正確にかつ連続的に監視することができるとともに、
合理的な監視を行なうことができる。さらにシンチレー
ションファイバをらせん状に配置することで、放射線有
感部分が増え、より高感度な放射線の計測が可能にな
る。
部に放射線検出手段として、例えばシンチレーションフ
ァイバを配置し、放射線の入射に伴って発光するシンチ
レーション光をシンチレーションファイバを介して伝送
し、シンチレーションファイバからのシンチレーション
光にしたがって監視対象機器の機能に関する健全性を判
定するようにしたため、監視機器対象内部の放射線の状
態を直接計測して監視対象機器の機能に関する健全性を
監視することができる。このため、監視対象機器の機能
を正確にかつ連続的に監視することができるとともに、
合理的な監視を行なうことができる。さらにシンチレー
ションファイバをらせん状に配置することで、放射線有
感部分が増え、より高感度な放射線の計測が可能にな
る。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図面
に基づいて説明する。
に基づいて説明する。
【００１８】図１は本発明の一実施形態を示す装置の全
体構成図、図２はシンチレーションファイバを放射線除
去装置に設置したときの構成を示す構成図である。図１
および図２において、監視対象機器となる放射線除去装
置１０は原子力施設の排気系に設置されており、放射線
除去装置１０の入口側には、入口側配管フランジ１２を
介して、入口側流体通路を構成する排気配管１４が接続
され、出口側には出口側配管フランジ１６を介して、出
口側流体流路を構成する排気配管１８が接続されてい
る。排気配管１４の管の途中には入口側配管フランジ２
０、２２が設けられており、出口側排気配管１８の管の
途中には出口側配管フランジ２４、２６が設けられてい
る。そして入口側排気配管１４内には原子力施設から排
気されるオフガスが導入されるようになっており、オフ
ガス内に含まれる主要核種であるＫｒ−８５などのβ線
放出核種が放射線除去装置１０内の吸着フィルタによっ
て除去されるようになっている。放射線が除去された空
気は出口側排気配管１８を介して排気塔から排気系外に
排出されるようになっている。
体構成図、図２はシンチレーションファイバを放射線除
去装置に設置したときの構成を示す構成図である。図１
および図２において、監視対象機器となる放射線除去装
置１０は原子力施設の排気系に設置されており、放射線
除去装置１０の入口側には、入口側配管フランジ１２を
介して、入口側流体通路を構成する排気配管１４が接続
され、出口側には出口側配管フランジ１６を介して、出
口側流体流路を構成する排気配管１８が接続されてい
る。排気配管１４の管の途中には入口側配管フランジ２
０、２２が設けられており、出口側排気配管１８の管の
途中には出口側配管フランジ２４、２６が設けられてい
る。そして入口側排気配管１４内には原子力施設から排
気されるオフガスが導入されるようになっており、オフ
ガス内に含まれる主要核種であるＫｒ−８５などのβ線
放出核種が放射線除去装置１０内の吸着フィルタによっ
て除去されるようになっている。放射線が除去された空
気は出口側排気配管１８を介して排気塔から排気系外に
排出されるようになっている。
【００１９】放射線除去装置１０内には吸着フィルタと
ともに、放射線検出手段を構成するシンチレーションフ
ァイバ２８の一部が収納されている。このシンチレーシ
ョンファイバ２８は入口側排気配管１４側から出口側排
気配管１８側に渡って配置されており、シンチレーショ
ンファイバ２８の両端には接続用コネクタ３０、３２が
接続されている。接続用コネクタ３０、３２は、図３に
示すように、それぞれ配管フランジ２２、２６に固定さ
れており、各コネクタ３０、３２には光ファイバ用コネ
クタ３４、３６が接続されている。そして各光ファイバ
用コネクタ３４、３６にはそれぞれ伝送用光ファイバ３
８、４０が接続されており、各光ファイバ３８の他端に
は受光部４２、４４に接続されている。受光部４２は前
置増幅器４６、線形増幅器５０を介して時間波高分析器
５６に接続され、受光部４４は前置増幅器４８、線形像
複器５２、遅延回路５４を介して時間波高分析器５６に
接続されている。時間波高分析器５６は波高分析器５
８、演算回路６０を介して放射線強度表示器６２に接続
されている。
ともに、放射線検出手段を構成するシンチレーションフ
ァイバ２８の一部が収納されている。このシンチレーシ
ョンファイバ２８は入口側排気配管１４側から出口側排
気配管１８側に渡って配置されており、シンチレーショ
ンファイバ２８の両端には接続用コネクタ３０、３２が
接続されている。接続用コネクタ３０、３２は、図３に
示すように、それぞれ配管フランジ２２、２６に固定さ
れており、各コネクタ３０、３２には光ファイバ用コネ
クタ３４、３６が接続されている。そして各光ファイバ
用コネクタ３４、３６にはそれぞれ伝送用光ファイバ３
８、４０が接続されており、各光ファイバ３８の他端に
は受光部４２、４４に接続されている。受光部４２は前
置増幅器４６、線形増幅器５０を介して時間波高分析器
５６に接続され、受光部４４は前置増幅器４８、線形像
複器５２、遅延回路５４を介して時間波高分析器５６に
接続されている。時間波高分析器５６は波高分析器５
８、演算回路６０を介して放射線強度表示器６２に接続
されている。
【００２０】シンチレーションファイバ２８は、オフガ
ス内に含まれる主要核種であるＫｒ−８５などのβ線放
出核種を直接計測する放射線検出器として、放射線の入
射により発光し、この発光によるシンチレーション光を
放射線の入射点を基点としてその両側に伝送するように
なっている。すなわち排気配管１４、放射線除去装置１
０、排気配管１８内を放射線が通過する際、シンチレー
ションファイバ２８のいずれかの部位に放射線が入射す
ると、入射点を基点としてその両側にシンチレーション
光が伝送するようになっている。このシンチレーション
光は光ファイバ３８、４０を介してそれぞれ受光部４
２、４４に伝送される。各受光部４２、４４は伝送され
たシンチレーション光による光信号を電気信号に変換
し、変換した電気信号を前置増幅器４６、４８にそれぞ
れ出力するようになっている。各前置増幅器４６、４８
は電気信号を所定のレベルに増幅し、増幅した信号をそ
れぞれ線形増幅器５０、５２に出力するようになってい
る。線形増幅器５０は入力した電気信号を線形増幅した
あと時間波高分析器５６に出力するようになっている。
線形増幅器５２は入力した電気信号を線形増幅したあと
遅延回路５４を介して時間波高分析器５６に出力するよ
うになっている。
ス内に含まれる主要核種であるＫｒ−８５などのβ線放
出核種を直接計測する放射線検出器として、放射線の入
射により発光し、この発光によるシンチレーション光を
放射線の入射点を基点としてその両側に伝送するように
なっている。すなわち排気配管１４、放射線除去装置１
０、排気配管１８内を放射線が通過する際、シンチレー
ションファイバ２８のいずれかの部位に放射線が入射す
ると、入射点を基点としてその両側にシンチレーション
光が伝送するようになっている。このシンチレーション
光は光ファイバ３８、４０を介してそれぞれ受光部４
２、４４に伝送される。各受光部４２、４４は伝送され
たシンチレーション光による光信号を電気信号に変換
し、変換した電気信号を前置増幅器４６、４８にそれぞ
れ出力するようになっている。各前置増幅器４６、４８
は電気信号を所定のレベルに増幅し、増幅した信号をそ
れぞれ線形増幅器５０、５２に出力するようになってい
る。線形増幅器５０は入力した電気信号を線形増幅した
あと時間波高分析器５６に出力するようになっている。
線形増幅器５２は入力した電気信号を線形増幅したあと
遅延回路５４を介して時間波高分析器５６に出力するよ
うになっている。
【００２１】時間波高分析器５６は、２系統の伝送系か
らそれぞれ入力した信号の到達時間差からシンチレーシ
ョンファイバ２８における放射線の入射位置を決定する
ようになっている。すなわち、シンチレーション光が発
光した位置が放射線除去装置１０内、排気配管１４内、
排気配管１８内であるか否かを決定するために、到達す
る信号の時間差から放射線の入射位置を決定するように
なっている。さらに、本実施形態においては、到達時間
差を正確に求めるために、時間波高分析器５６の両側に
接続された伝送系のうち一方の伝送系に遅延回路５４が
挿入されている。 この遅延回路５４は、時間波高分析
器５６での処理における到達時間差を測定するためのス
タート、ストップ信号を発生させるものであり、上記一
方の伝送系に相当する遅延時間を有する。
らそれぞれ入力した信号の到達時間差からシンチレーシ
ョンファイバ２８における放射線の入射位置を決定する
ようになっている。すなわち、シンチレーション光が発
光した位置が放射線除去装置１０内、排気配管１４内、
排気配管１８内であるか否かを決定するために、到達す
る信号の時間差から放射線の入射位置を決定するように
なっている。さらに、本実施形態においては、到達時間
差を正確に求めるために、時間波高分析器５６の両側に
接続された伝送系のうち一方の伝送系に遅延回路５４が
挿入されている。 この遅延回路５４は、時間波高分析
器５６での処理における到達時間差を測定するためのス
タート、ストップ信号を発生させるものであり、上記一
方の伝送系に相当する遅延時間を有する。
【００２２】時間波高分析器５６の出力信号は波高分析
器５８に入力され、波高分析器５８において放射線の種
類に応じたエネルギーに関する情報が分析される。演算
回路６０は波高分析器５８からの信号を基に、放射線の
発光数／秒から放射線の強度を求め、放射線の強度に関
する情報を放射線強度表示器６２に表示するようになっ
ている。またこの表示器６２には放射線の入射位置が表
示されるとともに、波高分析器５８の分析結果も表示さ
れるようになっている。すなわち受光部４２、４４、前
置増幅器４６、４８、線形増幅器５０、５２、遅延回路
５４、時間波高分析器５６、波高分析器５８、演算回路
６０、放射線強度表示器６２はそれぞれ健全性判定手段
の一要素として構成されている。
器５８に入力され、波高分析器５８において放射線の種
類に応じたエネルギーに関する情報が分析される。演算
回路６０は波高分析器５８からの信号を基に、放射線の
発光数／秒から放射線の強度を求め、放射線の強度に関
する情報を放射線強度表示器６２に表示するようになっ
ている。またこの表示器６２には放射線の入射位置が表
示されるとともに、波高分析器５８の分析結果も表示さ
れるようになっている。すなわち受光部４２、４４、前
置増幅器４６、４８、線形増幅器５０、５２、遅延回路
５４、時間波高分析器５６、波高分析器５８、演算回路
６０、放射線強度表示器６２はそれぞれ健全性判定手段
の一要素として構成されている。
【００２３】上記構成において、原子力施設から排気さ
れるオフガスが排気管１４に導入されると、オフガスに
含まれる放射線がシンチレーションファイバ２８のいず
れかの部位に入射すると、入射点を基点としてシンチレ
ーション光がシンチレーションファイバ２８、光ファイ
バ３８、４０を介して伝送し、演算回路６０において時
間当たりの発光数が計数率として求められ、図４に示す
ような計測結果が得られる。
れるオフガスが排気管１４に導入されると、オフガスに
含まれる放射線がシンチレーションファイバ２８のいず
れかの部位に入射すると、入射点を基点としてシンチレ
ーション光がシンチレーションファイバ２８、光ファイ
バ３８、４０を介して伝送し、演算回路６０において時
間当たりの発光数が計数率として求められ、図４に示す
ような計測結果が得られる。
【００２４】図４において、計測点Ａは排気配管１４の
管の途中における計測点、計測点Ｂは放射線除去装置１
０内の計測点、計測点Ｃは排気配管１８の管の途中の計
測点である。図４は、横軸を時間Ｔ、縦軸を計数率とし
ており、放射線の除去時間の経過による各計測点での放
射線強度の推移を示している。
管の途中における計測点、計測点Ｂは放射線除去装置１
０内の計測点、計測点Ｃは排気配管１８の管の途中の計
測点である。図４は、横軸を時間Ｔ、縦軸を計数率とし
ており、放射線の除去時間の経過による各計測点での放
射線強度の推移を示している。
【００２５】すなわち、計測点Ａにおける計測結果は、
放射線除去装置１０による放射線除去前のオフガス排気
であるため、基本的には一定の計数率で、ある程度の変
動幅を持って推移することを示している。計測点Ｂにお
ける計測結果は、放射線除去装置１０内の放射線強度を
示しているため、放射線除去装置１０内の吸着フィルタ
に吸着された放射性物質の増加に伴って計数率が増加し
ていることを示している。また、計測点Ｃにおける計測
結果は、放射線除去装置１０によって放射線が除去され
たあとの放射線強度であり、放射線除去装置１０の放射
線除去機能に依存するため、放射線除去開始のしばらく
の間はほぼ一定の計数率で推移する。しかし、放射線除
去装置１０内の吸着フィルタに放射性物質が吸着し、そ
の吸着量が増加するに伴って放射線除去機能が低下し始
めると、計数率が上昇し始めることを示している。
放射線除去装置１０による放射線除去前のオフガス排気
であるため、基本的には一定の計数率で、ある程度の変
動幅を持って推移することを示している。計測点Ｂにお
ける計測結果は、放射線除去装置１０内の放射線強度を
示しているため、放射線除去装置１０内の吸着フィルタ
に吸着された放射性物質の増加に伴って計数率が増加し
ていることを示している。また、計測点Ｃにおける計測
結果は、放射線除去装置１０によって放射線が除去され
たあとの放射線強度であり、放射線除去装置１０の放射
線除去機能に依存するため、放射線除去開始のしばらく
の間はほぼ一定の計数率で推移する。しかし、放射線除
去装置１０内の吸着フィルタに放射性物質が吸着し、そ
の吸着量が増加するに伴って放射線除去機能が低下し始
めると、計数率が上昇し始めることを示している。
【００２６】図４に示す計測結果から放射線除去装置１
０の健全性を監視するに際しては、放射線除去装置１０
の除染係数などのプロセス量を求め、求めたプロセス量
の内容を判定することにより、放射線装置１０の健全性
および吸着フィルタの最適な交換時期を合理的に判定す
ることができる。
０の健全性を監視するに際しては、放射線除去装置１０
の除染係数などのプロセス量を求め、求めたプロセス量
の内容を判定することにより、放射線装置１０の健全性
および吸着フィルタの最適な交換時期を合理的に判定す
ることができる。
【００２７】具体的には、ある時点での計測点Ａの計測
値Ａｎと計測点Ｃの計測値Ｃｎとの比（Ｃｎ／Ａｎ）を
除染係数として求め、この値が指示変動幅を考慮した監
視係数Ｘ１からＸ２の間に入っている場合には放射線除
去装置１０の健全性が保たれていると判断することがで
き、それ以外のときには放射線除去装置１０の健全性が
損なわれていると判断することができる。
値Ａｎと計測点Ｃの計測値Ｃｎとの比（Ｃｎ／Ａｎ）を
除染係数として求め、この値が指示変動幅を考慮した監
視係数Ｘ１からＸ２の間に入っている場合には放射線除
去装置１０の健全性が保たれていると判断することがで
き、それ以外のときには放射線除去装置１０の健全性が
損なわれていると判断することができる。
【００２８】また計測点Ｃにおける計数値の上昇傾向を
監視することによっても放射線除去装置１０の健全性の
有無を判定することができる。例えば、計測点Ｃにおけ
る一定時間ごとの計数値の積算値を求め、今回の積算計
数値ΣＣｎと前回の積算計数値ΣＣｎ−1との差（ΣＣ
ｎ−ΣＣｎ−1）を求め、この差が予め設定された設定
値Ｘ３を越えた場合（Ｘ３＜ΣＣｎ−ΣＣｎ−1）に
は、放射線除去装置１０の健全性が損なわれたとして判
定し、アラームを発報して吸着フィルタの交換を促すこ
とができる。
監視することによっても放射線除去装置１０の健全性の
有無を判定することができる。例えば、計測点Ｃにおけ
る一定時間ごとの計数値の積算値を求め、今回の積算計
数値ΣＣｎと前回の積算計数値ΣＣｎ−1との差（ΣＣ
ｎ−ΣＣｎ−1）を求め、この差が予め設定された設定
値Ｘ３を越えた場合（Ｘ３＜ΣＣｎ−ΣＣｎ−1）に
は、放射線除去装置１０の健全性が損なわれたとして判
定し、アラームを発報して吸着フィルタの交換を促すこ
とができる。
【００２９】また、図４に示すように、得られた計測値
のうち計測点Ｂの計数率が上昇し始めるポイントａまた
は計測点Ｃの計数率が増加し始めるポイントｂを監視す
ることにより、放射線除去装置１０内の吸着フィルタに
吸着されている放射性物質の強度を直接求めたり、放出
放射線の強度を求めたりすることも可能である。
のうち計測点Ｂの計数率が上昇し始めるポイントａまた
は計測点Ｃの計数率が増加し始めるポイントｂを監視す
ることにより、放射線除去装置１０内の吸着フィルタに
吸着されている放射性物質の強度を直接求めたり、放出
放射線の強度を求めたりすることも可能である。
【００３０】本実施形態によれば、放射線検出手段とし
て、湿度変化および電磁ノイズに伴う電気的外乱の影響
を受けにくく、かつ耐放射線性に優れたシンチレーショ
ンファイバ２８を放射線除去装置１０、排気配管１４、
１８内に挿入し、オフガス内に含まれる放射線をシンチ
レーション光として検出し、このシンチレーション光を
シンチレーションファイバ２８、光ファイバ３８、４０
を介して伝送し、演算回路６０において計数率を求め、
この計数率を表示器６２に表示するようにしたため、オ
フガスに含まれる放射線、例えばＫｒ−８５などのβ線
放出核種を直接計測することができるとともに、連続し
て放射線の状態を監視することができ、放射線除去装置
１０に関する保守作業を合理化することができる。
て、湿度変化および電磁ノイズに伴う電気的外乱の影響
を受けにくく、かつ耐放射線性に優れたシンチレーショ
ンファイバ２８を放射線除去装置１０、排気配管１４、
１８内に挿入し、オフガス内に含まれる放射線をシンチ
レーション光として検出し、このシンチレーション光を
シンチレーションファイバ２８、光ファイバ３８、４０
を介して伝送し、演算回路６０において計数率を求め、
この計数率を表示器６２に表示するようにしたため、オ
フガスに含まれる放射線、例えばＫｒ−８５などのβ線
放出核種を直接計測することができるとともに、連続し
て放射線の状態を監視することができ、放射線除去装置
１０に関する保守作業を合理化することができる。
【００３１】前記実施形態においては、シンチレーショ
ンファイバ２８を排気配管１４、１８の管路に沿ってほ
ぼ直線状に配置するものについて述べたが、図５に示す
ように、シンチレーションファイバ２８のうち排気配管
１４、１８内に配置されるシンチレーションファイバ２
８を排気配管１４、１８の内側に沿って、らせん（螺
旋）状に配置し、排気配管１４、１８内の配線長を長く
して放射線有感部を増やすこともできる。
ンファイバ２８を排気配管１４、１８の管路に沿ってほ
ぼ直線状に配置するものについて述べたが、図５に示す
ように、シンチレーションファイバ２８のうち排気配管
１４、１８内に配置されるシンチレーションファイバ２
８を排気配管１４、１８の内側に沿って、らせん（螺
旋）状に配置し、排気配管１４、１８内の配線長を長く
して放射線有感部を増やすこともできる。
【００３２】本実施形態においては、排気配管１４、１
８内に配置されるシンチレーションファイバ２８をらせ
ん状に配置したため、シンチレーションファイバ２８の
入射放射線が増加し、単位時間当たりの放射線によるシ
ンチレーション光の発光数が多くなり、検出感度を高め
ることができる。
８内に配置されるシンチレーションファイバ２８をらせ
ん状に配置したため、シンチレーションファイバ２８の
入射放射線が増加し、単位時間当たりの放射線によるシ
ンチレーション光の発光数が多くなり、検出感度を高め
ることができる。
【００３３】また、本実施形態によれば、前記実施形態
よりも高感度で正確に放射線を計測することができ、放
射線除去装置１０の健全性をより正確に判定することが
できる。
よりも高感度で正確に放射線を計測することができ、放
射線除去装置１０の健全性をより正確に判定することが
できる。
【００３４】また、シンチレーションファイバ２８を排
気配管１４、１８内に配置するに際しては、らせん状の
他にＳ字状に配置するなど、シンチレーションファイバ
２８の各排気配管１４、１８内における配線長を長くす
る方式を採用すれば、入射放射線の増加に伴って、より
高感度で正確に放射線を計測することができる。
気配管１４、１８内に配置するに際しては、らせん状の
他にＳ字状に配置するなど、シンチレーションファイバ
２８の各排気配管１４、１８内における配線長を長くす
る方式を採用すれば、入射放射線の増加に伴って、より
高感度で正確に放射線を計測することができる。
【００３５】次に、シンチレーションファイバ２８を２
分割したときの実施形態を図６および図７にしたがって
説明する。
分割したときの実施形態を図６および図７にしたがって
説明する。
【００３６】本実施形態は、シンチレーションファイバ
２８をシンチレーションファイバ２８ａ、２８ｂに２分
割し、一方のシンチレーションファイバ２８ａを排気配
管１４の内周側に沿って、らせん状に配置し、他方のシ
ンチレーションファイバ２８ｂを排気配管１８の内周側
に沿って、らせん状に配置したものである。
２８をシンチレーションファイバ２８ａ、２８ｂに２分
割し、一方のシンチレーションファイバ２８ａを排気配
管１４の内周側に沿って、らせん状に配置し、他方のシ
ンチレーションファイバ２８ｂを排気配管１８の内周側
に沿って、らせん状に配置したものである。
【００３７】上記構成を採用すると、シンチレーション
ファイバ２８ａは放射線除去装置１０の入口側に配置さ
れ、シンチレーションファイバ２８ｂは放射線除去装置
１０の出口側に配置され、各シンチレーションファイバ
２８ａ、２８ｂが互いに分離されているので、各シンチ
レーションファイバ２８ａ、２８ｂに入射した放射線の
強度を演算回路６０で個別に計測することができ、各シ
ンチレーションファイバ２８ａ、２８ｂに入射した放射
線の位置を求める必要がなくなる。このため、図７に示
すように、計測系として、図１に示す時間波高分析器５
６、遅延回路５４、波高分析器５８を省略することがで
き、前記実施形態よりも計測系の簡略化を図ることがで
きる。
ファイバ２８ａは放射線除去装置１０の入口側に配置さ
れ、シンチレーションファイバ２８ｂは放射線除去装置
１０の出口側に配置され、各シンチレーションファイバ
２８ａ、２８ｂが互いに分離されているので、各シンチ
レーションファイバ２８ａ、２８ｂに入射した放射線の
強度を演算回路６０で個別に計測することができ、各シ
ンチレーションファイバ２８ａ、２８ｂに入射した放射
線の位置を求める必要がなくなる。このため、図７に示
すように、計測系として、図１に示す時間波高分析器５
６、遅延回路５４、波高分析器５８を省略することがで
き、前記実施形態よりも計測系の簡略化を図ることがで
きる。
【００３８】また、前記各実施形態においては、オフガ
ス中に含まれる放射線を計測するものについて述べた
が、オフガス以外の流体中の放射線、例えば、水溶液中
の放射性物質を計測する場合でも本発明を適用すること
ができる。
ス中に含まれる放射線を計測するものについて述べた
が、オフガス以外の流体中の放射線、例えば、水溶液中
の放射性物質を計測する場合でも本発明を適用すること
ができる。
【００３９】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
監視対象機器の内部に放射線の入射によりシンチレーシ
ョン光を出力する放射線検出手段を配置し、放射線検出
手段の検出によるシンチレーション光にしたがって監視
対象機器の機能に関する健全性を判定するようにしたた
め、監視対象機器内の放射線の強度を直接計測すること
ができ、監視・保守作業の安全性および合理性の向上に
寄与することができる。
監視対象機器の内部に放射線の入射によりシンチレーシ
ョン光を出力する放射線検出手段を配置し、放射線検出
手段の検出によるシンチレーション光にしたがって監視
対象機器の機能に関する健全性を判定するようにしたた
め、監視対象機器内の放射線の強度を直接計測すること
ができ、監視・保守作業の安全性および合理性の向上に
寄与することができる。
【図１】本発明の一実施形態を示す装置の全体構成図で
ある。
ある。
【図２】シンチレーションファイバの配置方法を説明す
るための図である。
るための図である。
【図３】シンチレーションファイバと光ファイバとの接
続方法を説明するための図である。
続方法を説明するための図である。
【図４】シンチレーションファイバの各計測点における
計測結果を示す特性図である。
計測結果を示す特性図である。
【図５】シンチレーションファイバの一部をらせん状に
配置したときの構成を説明するための図である。
配置したときの構成を説明するための図である。
【図６】シンチレーションファイバを２分割したときの
配置方法を説明するための図である。
配置方法を説明するための図である。
【図７】シンチレーションファイバを２分割したときの
計測系の構成図である。
計測系の構成図である。
１０ 放射線除去装置 １４ 入口側排気配管 １８ 出口側排気配管 ２８ シンチレーションファイバ ３０、３２ 接続用コネクタ ３４、３６ 光ファイバコネクタ ３８、４０ 光ファイバ ４２、４４ 受光部 ４６、４８ 前置増幅器 ５０、５２ 線形増幅器 ５４ 遅延回路 ５６ 時間波高分析器 ５８ 波高分析器 ６０ 演算回路 ６２ 放射線強度表示器
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 北口 博司 茨城県日立市大みか町七丁目２番１号 株 式会社日立製作所電力・電機開発本部内 Ｆターム(参考） 2G075 CA13 CA42 DA08 DA15 EA01 EA09 FA05 FA11 FA18 FB08 FC03 FD01 GA09 GA18 2G088 EE21 EE25 GG09 GG15 GG18 HH03 HH09 JJ09 KK01 KK29 LL26 MM03
Claims (9)
- 【請求項１】 監視対象機器の内部に配置されて放射線
の入射により発光しこの発光によるシンチレーション光
を出力する放射線検出手段と、前記監視対象機器の外部
に配置されて前記放射線検出手段の検出によるシンチレ
ーション光に従って監視対象機器の機能に関する健全性
を判定する健全性判定手段とを備えてなる機器健全性監
視装置。 - 【請求項２】 監視対象機器の内部に配置されて放射線
の入射により発光しこの発光によるシンチレーション光
を伝送するシンチレーションファイバと、前記監視対象
機器の外部に配置されて前記シンチレーションファイバ
からのシンチレーション光に従って監視対象機器の機能
に関する健全性を判定する健全性判定手段とを備えてな
る機器健全性監視装置。 - 【請求項３】 監視対象機器の内部に配置されて放射線
の入射により発光しこの発光によるシンチレーション光
を前記放射線の入射点を基点としてその両側に伝送する
シンチレーションファイバと、前記監視対象機器の外部
に配置されて前記シンチレーションファイバの両端側か
ら出力されたシンチレーション光に従って監視対象機器
の機能に関する健全性を判定する健全性判定手段とを備
えてなる機器健全性監視装置。 - 【請求項４】 監視対象機器の内部を中心にして前記監
視対象機器の入口側から出口側にわたって配置されて放
射線の入射により発光しこの発光によるシンチレーショ
ン光を前記放射線の入射点を基点としてその両側に伝送
するシンチレーションファイバと、前記監視対象機器の
外部に配置されて前記シンチレーションファイバの両端
側から出力されたシンチレーション光に従って監視対象
機器の機能に関する健全性を判定する健全性判定手段と
を備えてなる機器健全性監視装置。 - 【請求項５】 監視対象機器の内部を中心にして前記監
視対象機器の入口側流体通路から出口側流体通路にわた
って配置されて放射線の入射により発光しこの発光によ
るシンチレーション光を前記放射線の入射点を基点とし
てその両側に伝送するシンチレーションファイバと、前
記監視対象機器の外部に配置されて前記シンチレーショ
ンファイバの両端側から出力されたシンチレーション光
に従って監視対象機器の機能に関する健全性を判定する
健全性判定手段とを備えてなる機器健全性監視装置。 - 【請求項６】 前記監視対象機器の入口側流体通路と出
口側流体通路にそれぞれ配置されて放射線の入射により
発光しこの発光によるシンチレーション光を伝送する複
数のシンチレーションファイバと、前記監視対象機器の
外部に配置されて前記各シンチレーションファイバから
出力されたシンチレーション光に従って監視対象機器の
機能に関する健全性を判定する健全性判定手段とを備え
てなる機器健全性監視装置。 - 【請求項７】 前記健全性判定手段は、前記シンチレー
ション光に従って放射線の強度を算出し、この算出値に
従って監視対象機器の機能に関する健全性を判定してな
ることを特徴とする請求項１、２、３、４、５または６
記載の機器健全性監視装置。 - 【請求項８】 前記シンチレーションファイバをらせん
状に配置してなることを特徴とする請求項２、３、４、
５、６または７記載の機器健全性監視装置。 - 【請求項９】 前記シンチレーションファイバと前記健
全性判定手段との間に光ファイバを配置し、光ファイバ
の一端に光ファイバ用コネクタを接続するとともに、前
記シンチレーションファイバの出力側に前記光ファイバ
用コネクタと嵌合可能な接続用コネクタを配置し、前記
シンチレーションファイバと前記光ファイバとをそれぞ
れ前記コネクタを介して接続してなることを特徴とする
請求項２、３、４、５、６、７または８記載の機器健全
性監視装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10174589A JP2000009844A (ja) | 1998-06-22 | 1998-06-22 | 機器健全性監視装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10174589A JP2000009844A (ja) | 1998-06-22 | 1998-06-22 | 機器健全性監視装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000009844A true JP2000009844A (ja) | 2000-01-14 |
Family
ID=15981215
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10174589A Pending JP2000009844A (ja) | 1998-06-22 | 1998-06-22 | 機器健全性監視装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000009844A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007114145A (ja) * | 2005-10-24 | 2007-05-10 | Mitsubishi Electric Corp | 形状可変型放射線検出器 |
| JP2015064260A (ja) * | 2013-09-24 | 2015-04-09 | 株式会社東芝 | 汚染水処理システム、汚染水処理方法および汚染水処理プログラム |
-
1998
- 1998-06-22 JP JP10174589A patent/JP2000009844A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2007114145A (ja) * | 2005-10-24 | 2007-05-10 | Mitsubishi Electric Corp | 形状可変型放射線検出器 |
| JP2015064260A (ja) * | 2013-09-24 | 2015-04-09 | 株式会社東芝 | 汚染水処理システム、汚染水処理方法および汚染水処理プログラム |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20040217 |