JP2000009644A - 蛍光光度計 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】試料室を閉じた状態で高反射率の試料により、
蛍光光度計の励起光が減衰されずに蛍光側分光器に入
り、光電子増倍管に過大電流が流れ光電子増倍管を劣化
させることは防止出来なかった。 【解決手段】光電子増倍管の出力電流を規定電流と比較
し、その比較結果により光電子増倍管の印加電圧を変化
させることにより、光電子増倍管の出力電流を規定電流
以下に制御を行うことにより、光電子増倍管に過大電流
が流れ光電子増倍管を劣化を防止することにある。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は蛍光光度計に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来は、蛍光光度計の試料室の扉を開け
たとき太陽光や室内照明などの強い光が蛍光光度計の蛍
光側分光器に入り、光電子増倍管に過大電流が流れ光電
子増倍管を劣化させる可能性があるため、試料室の扉と
機械的に連動した機構により蛍光光度計の蛍光側分光器
への入射光を遮断していた。

【０００３】

【発明が解決しようとする課題】上記従来の技術では、
試料室の扉と機械的に連動した機構の故障の問題と、試
料室の扉をとじた状態で、高反射率の試料により、蛍光
光度計の励起光が減衰されずに蛍光側分光器に入り、光
電子増倍管に過大電流が流れ光電子増倍管を劣化させる
という問題があった。

【０００４】本発明の目的は、光電子増倍管の過大電流
防止機能を有する蛍光光度計を供給することにある。

【０００５】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、光電子増倍管の出力電流を規定電流と比較し、その
比較結果により、光電子増倍管の印加電圧を変化させる
ことにより、光電子増倍管の出力電流を規定電流以下に
制御する。

【０００６】

【発明の実施の形態】本発明の一実施例を図に示す。

【０００７】図１は、蛍光光度計の基本構成である。

【０００８】Ｘｅランプ１１から放射された光は、励起
側分光器１２によって分光され試料室１３内に置かれた
試料１４に照射される。試料１４から放射された蛍光
は、蛍光側分光器１５によって分光され光電子増倍管１
６によって電流に変換される。光電子増倍管１６の出力
電流を電流比較回路１７によって規定電流と比較し、規
定電流を超えていない場合は、蛍光信号出力回路１８に
よって光電子増倍管１６の出力電流を蛍光信号へ変換し
出力する。

【０００９】規定電流を超えている場合は、印加電圧制
御回路１９へ光電子増倍管１６の印加電圧を減らす信号
を出し、規定電流になるまで光電子増倍管１６への印加
電圧を減少させる。同時に表示器２０へ光電子増倍管１
６の出力電流異常の表示を行う。

【００１０】

【発明の効果】本発明によれば、高反射率の試料によ
り、蛍光光度計の励起光が減衰されずに蛍光側分光器に
入り、光電子増倍管に過大電流が流れ、光電子増倍管を
劣化させることを防止した蛍光光度計を供給出来る効果
がある。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の蛍光光度計の基本構成図。

【符号の説明】

１１…Ｘｅランプ、１２…励起側分光器、１３…試料
室、１４…試料、１５…蛍光側分光器、１６…光電子増
倍管、１７…電流比較回路、１８…蛍光信号出力回路、
１９…印加電圧制御回路、２０…表示器。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】光電子増倍管の出力電流を規定電流と比較
   する手段と、その比較結果により光電子増倍管の印加電
   圧を変化させる手段により、光電子増倍管の出力電流を
   規定電流以下に制御する手段を有することを特徴とする
   蛍光光度計。