ITMI981824A1 - CIRCUIT FOR THE CREATION OF CURRENTS FOR THE ANALYSIS OF THE FUNCTIONALITY OF DIFFERENTIAL SWITCHES - Google Patents

CIRCUIT FOR THE CREATION OF CURRENTS FOR THE ANALYSIS OF THE FUNCTIONALITY OF DIFFERENTIAL SWITCHES Download PDF

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ITMI981824A1
ITMI981824A1 IT98MI001824A ITMI981824A ITMI981824A1 IT MI981824 A1 ITMI981824 A1 IT MI981824A1 IT 98MI001824 A IT98MI001824 A IT 98MI001824A IT MI981824 A ITMI981824 A IT MI981824A IT MI981824 A1 ITMI981824 A1 IT MI981824A1
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Italy
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IT98MI001824A
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Joze Arh
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Metrel Merilna In Regulacijska
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Description

DESCRIZIONE DESCRIPTION

Problema tecnico Technical problem

L'invenzione risolve il problema tecnico della creazione delle forme di corrente prescritte dagli standard per l'analisi della funzionalità degli interruttori differenziali nel modo più semplice e meno dispendioso possibile. The invention solves the technical problem of creating the forms of current prescribed by the standards for the analysis of the functionality of RCDs in the simplest and least expensive way possible.

Stato della tecnica State of the art

L'interruttore differenziale (figura 1) è adibito alla protezione di apparecchi ed in particolare degli utenti dalla pericolosa tensione di contatto, che insorge in caso di corto circuito della tensione di fase al conduttore di protezione E. L'interruttore differenziale deve interrompere il circuito protetto immediatamente nel momento in cui aumenta la differenza delle correnti tra i rami L (fase) - 1 e N (conduttore di neutro) - 2 sino a valori tra 0,5 ΙΔΝ e 1,4ΔΝ, ove ΙΔΝ rappresenta la sensibilità nominale di corrente dell'interruttore differenziale. Secondo lo standard i valori nominali di ΙΔΝ sono: 10 mA, 30 mA, 100 mA, 300 mA e superiori, ma negli impianti domestici vengono usati interruttori differenziali con il valore massimo di ΙΔΝ pari a 500 mA. The differential switch (figure 1) is used to protect appliances and in particular users from the dangerous contact voltage, which arises in the event of a short circuit of the phase voltage to the protective conductor E. The differential switch must interrupt the circuit protected immediately when the difference in currents between branches L (phase) - 1 and N (neutral conductor) - 2 increases up to values between 0.5 ΙΔΝ and 1.4ΔΝ, where ΙΔΝ represents the nominal current sensitivity of the differential switch. According to the standard, the nominal values of ΙΔΝ are: 10 mA, 30 mA, 100 mA, 300 mA and above, but RCDs with the maximum value of ΙΔΝ equal to 500 mA are used in domestic systems.

In funzione dei numerosi diversi utilizzatori di energia elettrica si possono avere forme diverse di correnti differenziali, per cui anche nella prassi vengono usati interruttori differenziali che sono sensibili a diverse forme di correnti differenziali. Perciò non risulta sufficiente solamente la prova in regime di corrente alternata, ma è necessario analizzare la funzionalità anche con corrente pulsante a semionda, sovrapposta ad una corrente continua raddrizzata con valore massimo di 6 mA e con corrente continua appianata. Le richieste di verifica sono contenute dagli standard IEC 755/1983, IEC 755 Allegato 1/1988, IEC 755 Allegato 2/1992, IEC 1009-1/1996, DIE IEC 1557, 1 . e 6. Parte. Depending on the many different users of electrical energy, different forms of residual current currents can be had, so that also in practice, residual current devices are used which are sensitive to different forms of residual currents. Therefore, the test in alternating current regime is not sufficient, but it is necessary to analyze the functionality also with half-wave pulsating current, superimposed on a rectified direct current with a maximum value of 6 mA and with smoothed direct current. The verification requests are contained in the standards IEC 755/1983, IEC 755 Annex 1/1988, IEC 755 Annex 2/1992, IEC 1009-1 / 1996, DIE IEC 1557, 1. and 6. Party.

Per la formazione di correnti di prova sono note più soluzioni. Così ad es. l'analizzatore di funzionalità per interruttori differenziali del produttore Edgcumbe - Instruments - N.E.I. Electronics (Bothwell-Glasgow, Inghilterra) contiene un circuito, indicato schematicamente nella fig. 3. Il circuito ha un commutatore con numerose resistenze ed un interruttore elettronico, il che rende possibile l'analisi di funzionalità in regime di corrente alternata e continua pulsante, ma non in regime di corrente continua e mutevole. Il circuito usato dal produttore Norma Messtechnik, Optik, Elektronik GmbH (WR.Neudorf, Austria) è indicato nella fig. 4 e dispone di un transistor di potenza nel ponte di raddrizzamento, ove il transistor è guidato in modo che la corrente alternata in uscita sia della forma e intensità desiderate. Il circuito citato rende possibile l'indipendenza dell'ampiezza della corrente di misurazione dalla tensione di rete e rende possibile la variazione dell'intensità della corrente di analisi durante la prova, ma non rende possibile l'analisi con la corrente continua. Several solutions are known for the formation of test currents. So eg. the functional analyzer for RCCBs from the manufacturer Edgcumbe - Instruments - N.E.I. Electronics (Bothwell-Glasgow, England) contains a circuit, shown schematically in fig. 3. The circuit has a commutator with numerous resistors and an electronic switch, which makes it possible to analyze functionality in alternating and pulsating direct current conditions, but not in direct and changing current conditions. The circuit used by the manufacturer Norma Messtechnik, Optik, Elektronik GmbH (WR.Neudorf, Austria) is shown in fig. 4 and has a power transistor in the rectification bridge, where the transistor is guided so that the alternating current at the output is of the desired shape and intensity. The mentioned circuit makes possible the independence of the amplitude of the measurement current from the mains voltage and makes it possible to change the intensity of the analysis current during the test, but does not make it possible to analyze with direct current.

Descrizione della nuova soluzione Description of the new solution

La sostanza della nuova soluzione contenuta nella presente invenzione sta nel ponte di raddrizzamento diviso dagli interruttori S1 e S2, nell'unità di dispersione guidata di corrente P (Current Sink) e nell'unità di appianamento F. Mediante l'ausilio degli interruttori SI e S2 nel ponte di raddrizzamento suddiviso è possibile creare una forma di corrente sia alternata che continua a semionda nonché corrente continua raddrizzata della direziona desiderata. L'intensità della corrente ed anche la forma (alternata o continua a semionda) viene determinata mediante la regolazione dell'elemento di dispersione di corrente P. La nuova soluzione verrà spiegata in particolare mediante l'ausilio delle figure che illustrano: The substance of the new solution contained in the present invention lies in the rectification bridge divided by switches S1 and S2, in the guided current dispersion unit P (Current Sink) and in the smoothing unit F. By means of the switches SI and S2 in the split rectification bridge it is possible to create a form of both alternating and direct half-wave current as well as rectified direct current of the desired direction. The intensity of the current and also the shape (alternating or continuous half-wave) is determined by adjusting the current dispersion element P. The new solution will be explained in particular with the aid of the figures which illustrate:

Figura 1 collegamento schematico dell'interruttore differenziale nella rete elettrica ; Figure 1 schematic connection of the differential switch in the electrical network;

figura 2 - illustrazione schematica dell'elemento di dispersione della corrente di prova figure 2 - schematic illustration of the leakage element of the test current

figura 3 - soluzione secondo lo stato della tecnica (Edgcumbe Instruments) figure 3 - solution according to the state of the art (Edgcumbe Instruments)

figura 4 - soluzione secondo lo stato della tecnica (Norma); figure 4 - solution according to the state of the art (Norma);

figure dalla 5 alla 10 - illustrazione della forma elementare delle correnti di prova; figures 5 to 10 - illustration of the elementary form of the test currents;

figura 11 - illustrazione del circuito oggetto dell 'invenzione. figure 11 - illustration of the circuit object of the invention.

Nella figura 1 è illustrato il collegamento dell'interruttore differenziale. Normalmente la corrente presente nel ramo L - 1 è uguale e di direzione opposta a quella nel ramo N - 2. Il loro apporto al flusso magnetico nel nucleo dell'interruttore differenziale è quindi nullo. In caso di corto tra la fase L e il conduttore di protezione E parte della corrente scorre dal contatto 1 attraverso Rp nel contatto 3. A seguito di ciò insorge una differenza di correnti nei rami L -l e N - 2. La corrente nel ramo L - 1 è maggiore per la corrente che scorre da 1 attraverso Rp sino a 3. Una differenza sufficientemente grande di correnti deve causare l'azionamento dell'interruttore differenziale. Figure 1 shows the connection of the differential switch. Normally the current present in branch L - 1 is equal and of opposite direction to that in branch N - 2. Their contribution to the magnetic flux in the core of the RCD is therefore zero. In the event of a short between phase L and the protective conductor E, part of the current flows from contact 1 through Rp into contact 3. As a result, a difference in currents arises in branches L -l and N - 2. The current in branch L - 1 is greater for the current flowing from 1 through Rp to 3. A sufficiently large difference in currents must cause the RCD to operate.

Nella figura 2 è illustrato il tester come unità di dispersione della corrente P - corrente alternata costante, con il quale, attraverso la linea K, si determinano l'intensità e la forma della corrente. Figure 2 shows the tester as a unit of dispersion of the current P - constant alternating current, with which, through the line K, the intensity and shape of the current are determined.

Siccome sull'azionamento dell'interruttore differenziale influisce solamente la differenza tra le correnti nei rami L - l e N - 2, una tale modalità di prova risulta soddisfacente. Since only the difference between the currents in the branches L - 1 and N - 2 affects the operation of the differential switch, this test method is satisfactory.

Le figure dalla 5 alla 10 illustrano le forme di corrente per l'analisi della funzionalità degli interruttori differenziali e precisamente nella figura 5 è illustrata la corrente di prova alternata ia, nella 6 pure la corrente alternata ia, ma questa ha inizio con spostamento di fase pari a 180°. La figura 7 illustra la corrente continua pulsante ic con una debole componente di corrente continua raddrizzata Ib. Nella figura 8 sono illustrate la corrente continua pulsante ic con una debole componente di corrente continua raddrizzata Ib, entrambe di direzione opposta rispetto a quelle della figura 7. Le figure 9 e 10 illustrano le correnti continue Id, ove la corrente Id della figura 10 ha direzione opposta della corrente della figura 9. Figures 5 to 10 illustrate the forms of current for analyzing the functionality of RCCBs and precisely in Figure 5 the alternating test current ia is illustrated, in 6 also the alternating current ia, but this begins with a phase shift equal to 180 °. Figure 7 illustrates the pulsating direct current ic with a weak rectified direct current component Ib. Figure 8 illustrates the pulsating direct current ic with a weak rectified direct current component Ib, both in the opposite direction to those of Figure 7. Figures 9 and 10 illustrate the direct currents Id, where the current Id of Figure 10 has opposite direction of the current of Figure 9.

Tutte le forme di corrente, illustrate nelle figure dalla 5 alla 10, vengono create mediante il circuito oggetto di questa invenzione, illustrato nella figura 11. Gli elementi del circuito sono i diodi di raddrizzamento D1, D2, D3 e D4, gli interruttori Si e S2, l'unità di appianamento F e l'unità di dispersione di corrente P regolata attraverso la linea K. Tutte questi elementi sono noti e annoverati nello stato della tecnica, mentre nuovo risulta il loro mutuo collegamento. All the forms of current, illustrated in Figures 5 to 10, are created by means of the circuit object of this invention, illustrated in Figure 11. The elements of the circuit are the rectifying diodes D1, D2, D3 and D4, the switches Si and S2, the smoothing unit F and the current leakage unit P regulated through the line K. All these elements are known and included in the state of the art, while their mutual connection is new.

Il circuito oggetto di questa invenzione è composto nel seguente modo: The circuit object of this invention is composed as follows:

Il contatto 1 è collegato al catodo del diodo D1 ed all'anodo del diodo D2; il contatto 2 è collegato al contatto 11 dell'interruttore SI ed al contatto 14 dell'interruttore S2; il contatto 3 è collegato al catodo del diodo D3 e all'anodo del diodo D4 ; 1'anodo del diodo D1 è collegato al contatto 12 dell'interruttore S1; il catodo del diodo D2 è collegato al contatto 13 dell'interruttore S2; l'anodo del diodo D3 è collegata al contatto 5 dell'unità di dispersione di corrente P, al contatto 7 dell'interruttore Si ed al contatto 15 dell'interruttore S2; il catodo del diodo D4 è collegato al contatto 4 dell'unità di dispersione di corrente p, al contatto 8 dell'interruttore S2 ed al contatto 10 dell'interruttore S1; il contatto dell'unità di appianamento F è collegato al contatto 6 dell'interruttore S1, mentre il contatto dell'unità F con il contatto 9 dell'interruttore S2 . Contact 1 is connected to the cathode of diode D1 and to the anode of diode D2; contact 2 is connected to contact 11 of switch SI and to contact 14 of switch S2; contact 3 is connected to the cathode of diode D3 and to the anode of diode D4; The anode of the diode D1 is connected to the contact 12 of the switch S1; the cathode of diode D2 is connected to contact 13 of switch S2; the anode of the diode D3 is connected to the contact 5 of the current leakage unit P, to the contact 7 of the switch Si and to the contact 15 of the switch S2; the cathode of the diode D4 is connected to the contact 4 of the current leakage unit p, to the contact 8 of the switch S2 and to the contact 10 of the switch S1; the contact of the smoothing unit F is connected to the contact 6 of the switch S1, while the contact of the unit F is connected to the contact 9 of the switch S2.

Nell'ambito dell'unità di dispersione della corrente P per contatto 4 s'intende quello in cui fluisce la corrente, mentre per contatto 5 quello dal quale la corrente defluisce. L'unità di dispersione della corrente è regolata mediante la linea K. In the context of the current dispersion unit P, by contact 4 is meant that in which the current flows, while by contact 5 that from which the current flows. The current leakage unit is regulated via the K line.

Durante la prova i contatti 1,2 e 3 cono collegati con i contatti dell'interruttore differenziale contrassegnati allo stesso modo (figura 1). During the test the contacts 1,2 and 3 are connected with the contacts of the differential switch marked in the same way (figure 1).

L'unità di appianamento F è composta da un condensatore e da una resistenza collegate in parallelo. The smoothing unit F consists of a capacitor and a resistor connected in parallel.

L'unità di dispersione della corrente P funge da regolatore della corrente di prova. In sostanza è composta da un transistor di potenza e dall'elettronica di regolazione. Nel caso nostro la tensione di regolazione viene fornita da un microprocessore attraverso un convertitore digitale analogico. The current leakage unit P acts as a test current regulator. Basically it is composed of a power transistor and the regulation electronics. In our case, the regulation voltage is supplied by a microprocessor through a digital analog converter.

Gli interruttori S1 e S2 sono indipendenti tra loro ed hanno entrambi due possibili posizioni, quindi quattro combinazioni possibili, delle quali ne vengono usate solo tre e precisamente: Switches S1 and S2 are independent of each other and both have two possible positions, therefore four possible combinations, of which only three are used, namely:

1. SI in posizione I (chiusi i contatti 6-11 e 7-12) e S2 in posizione I (chiusi i contatti 8-13 e 9-14) .Il circuito in questo caso fornisce corrente alternata ia. Durante il semiperiodo positivo (il contatto 1 è positivo rispetto al contatto 2) la corrente alternata fluisce dal conduttore di fase L attraverso il ramo L - 1 ed attraversa il diodo D2, l'unità di dispersione di corrente P, il diodo D3 e quindi attraverso il contatto 3 indietro nel conduttore neutro N (il contatto 3 è collegato al conduttore di protezione E, che dispone di presa a terra ed è collegato al conduttore neutro N) Vedi figura 1. Durante il semiperiodo negativo la corrente alternata fluisce dal conduttore neutro N attraverso il contatto 3 , attraverso il diodo D4, l'unità di dispersione di corrente P, il diodo DI e quindi attraverso il ramo L - 1 indietro nel conduttore di fase. Attraverso il ramo L - 1 fluisce corrente alternata, mentre attraverso l'unità di dispersione di corrente fluisce corrente continua pulsante (corrente alternata unidirezionale a semionda). L'ampiezza della corrente alternata di prova ia viene mantenuta al valore prescelto dall'unità di dispersione della corrente P, regolata mediante impulsi unidirezionali di forma sinusoidale. Gli impulsi di regolazione sono in fase con la tensione alternata applicata (tensione tra i contatti 1 e 2). Mediante la regolazione dell'unità di dispersione della corrente P si può anche determinare l'inizio della corrente. 1. YES in position I (contacts 6-11 and 7-12 closed) and S2 in position I (contacts 8-13 and 9-14 closed). The circuit in this case supplies alternating current ia. During the positive half-period (contact 1 is positive with respect to contact 2) the alternating current flows from the phase conductor L through the branch L - 1 and passes through the diode D2, the current leakage unit P, the diode D3 and therefore through contact 3 back into the neutral conductor N (contact 3 is connected to the protective conductor E, which has a ground connection and is connected to the neutral conductor N) See figure 1. During the negative half-period, alternating current flows from the neutral conductor N through contact 3, through the diode D4, the current leakage unit P, the diode DI and then through the branch L - 1 back into the phase conductor. Alternating current flows through branch L - 1, while pulsating direct current (unidirectional half-wave alternating current) flows through the current leakage unit. The amplitude of the alternating test current ia is maintained at the pre-selected value by the current leakage unit P, adjusted by unidirectional sinusoidal pulses. The regulation pulses are in phase with the applied alternating voltage (voltage between contacts 1 and 2). The start of the current can also be determined by adjusting the current leakage unit P.

2. SI in posizione II (chiusi i contatti 6-10) ed S2 in posizione I. Il circuito fornisce in questo caso sia corrente continua pulsante ic sovrapposta ad una debole componente continua Ib (figura 7) che corrente continua appianata Id (figura 9) , in dipendenza dalla regolazione dell'unità di dispersione della corrente P. Durante il semiperiodo positivo (il contatto 1 è positivo rispetto al contatto 2) la corrente continua pulsante ic fluisce dal conduttore di fase L attraverso il ramo L - 1 (in direzione da L verso 1) , attraverso il diodo D2, l'unità di dispersione della corrente, attraverso il diodo D3 sino al contatto 3 e da lì nel conduttore di neutro N. L'unità di dispersione di corrente P durante il semiperiodo positivo è regolata come nel caso della corrente alternata e fornisce una forma sinusoidale normale di semionda di corrente ic, mentre durante la semionda successiva il microprocessore guida la regolazione in modo che l'unità di dispersione di corrente P fornisca corrente Ib. In questo periodo la fonte per la corrente Ib è il condensatore dell'unità di appianamento F, che durante il secondo semiperiodo si scarica nell'anello che parte dal contatto dell'unità di appianamento F, continua attraverso l'unità di dispersione della corrente P, sino al diodo D3, al contatto 3, al conduttore di neutro N, attraverso il ramo N 2 e si chiude sul contatto - dell'unità di appianamento F. Durante il secondo semiperiodo la corrente Ib non fluisce nel ramo L - 1, bensì nel ramo N - 2, ma ha la stessa direzione di quella avuta dalla corrente ic attraverso il ramo L - 1 durante il primo semiperiodo, per cui il suo effetto sul flusso magnetico nel nucleo dell'interruttore differenziale è esattamente uguale a quello che scaturirebbe se la corrente fluisse nella stessa direzione nel ramo L - 1. Quando viene effettuata la prova con corrente continua appianata Id il condensatore dell'unità di appianamento F rappresenta la fonte interna per la corrente di prova Id, mentre l'unità di dispersione della corrente è regolata ad un valore costante dell' intensità prescelta della corrente Id. La corrente Id fluisce nello stesso circuito della corrente Ib. 2. SI in position II (contacts 6-10 closed) and S2 in position I. In this case, the circuit supplies both pulsating direct current ic superimposed on a weak direct component Ib (figure 7) and smoothed direct current Id (figure 9 ), depending on the setting of the current leakage unit P. During the positive half-period (contact 1 is positive with respect to contact 2) the pulsating direct current ic flows from the phase conductor L through the branch L - 1 (in the direction from L to 1), through the diode D2, the current leakage unit, through the diode D3 to contact 3 and from there into the neutral conductor N. The current leakage unit P during the positive half-period is regulated as in the case of alternating current and provides a normal sinusoidal form of half-wave of current ic, while during the next half-wave the microprocessor drives the regulation so that the current leakage unit P supplies current Ib. In this period the source for the current Ib is the capacitor of the smoothing unit F, which during the second half period discharges in the ring starting from the contact of the smoothing unit F, continues through the current dispersion unit P , up to diode D3, to contact 3, to neutral conductor N, through branch N 2 and closes on contact - of the smoothing unit F. During the second half-period the current Ib does not flow in branch L - 1, but in the N - 2 branch, but has the same direction as that of the current ic through the L - 1 branch during the first half period, so its effect on the magnetic flux in the RCD core is exactly the same as that which would arise if the current flowed in the same direction in the branch L - 1. When the test with smoothed direct current Id is carried out, the capacitor of the smoothing unit F represents the internal source for the test current Id, while the unit current leakage is adjusted to a constant value of the preselected intensity of the current Id. The current Id flows in the same circuit as the current Ib.

3. SI in posizione I ed S2 in posizione II ( chiusi i contatti 9-15). In questo caso il circuito eroga corrente continua pulsante ic sovrapposta ad una componente debole Ib (figura 8) oppure corrente continua appianata Id (figura 10), in dipendenza dalla regolazione dell'unità di dispersione di corrente P, nel qual caso comunque le correnti ic, Ib e Id hanno direzione opposta a quelle precedenti . Durante il semiperiodo negativo (contatto 2 positivo rispetto al contatto 1) la corrente continua pulsante ic fluisce nel circuito dal conduttore di neutro N ad attraverso il contatto 3, il diodo D4, l'unità di dispersione di corrente P, il diodo DI ed attraverso il ramo L - 1 ritorna nel conduttore di fase L. L'unità di dispersione della corrente P durante il semiperiodo negativo è regolata come per la corrente alternata e fornisce una corrente ic con semionda dalla normale forma sinusoidale. 3. YES in position I and S2 in position II (contacts 9-15 closed). In this case, the circuit delivers pulsating direct current ic superimposed on a weak component Ib (figure 8) or smoothed direct current Id (figure 10), depending on the regulation of the current leakage unit P, in which case the currents ic , Ib and Id have the opposite direction to the previous ones. During the negative half-period (contact 2 positive with respect to contact 1) the pulsating direct current ic flows in the circuit from the neutral conductor N to through the contact 3, the diode D4, the current leakage unit P, the diode DI and through the branch L - 1 returns to the phase conductor L. The unit of dispersion of the current P during the negative half-period is regulated as for the alternating current and supplies a current ic with a half-wave having a normal sinusoidal shape.

Durante il semiperiodo successivo il microprocessore guida la regolazione in modo che l'unità di dispersione P fornisca corrente Ib. In questo periodo la fonte di corrente Ib è il condensatore dell'unità di appianamento F, che durante il secondo semiperiodo si scarica nell'anello che parte dal contatto dell'unità di appianamento F, fluendo attraverso il ramo N - 2, il conduttore di neutro N, il contatto 3, il diodo D4, l'unità di dispersione di corrente P e ritorna al contatto - dell'unità di appianamento F. Durante il secondo semiperiodo la corrente Ib non scorre nel ramo L -1, bensì in quello N - 2, ma ha la stessa direzione di quella avuta dalla corrente ic attraverso il ramo L - 1 nel primo semiperiodo ed il suo effetto sul flusso magnetico nel nucleo dell'interruttore differenziale è esattamente uguale a quello che avrebbe se fluisse nella stessa direzione attraverso il ramo L - 1. Il condensatore dell'unità di appianamento F si scarica con corrente ic anche durante il primo semiperiodo, quando la tensione sul condensatore dell'unità di appianamento è maggiore della tensione tra i contatti l e 2. During the following half-period the microprocessor guides the regulation so that the dispersion unit P supplies current Ib. In this period the current source Ib is the capacitor of the smoothing unit F, which during the second half-period discharges in the ring that starts from the contact of the smoothing unit F, flowing through the branch N - 2, the conductor of neutral N, contact 3, diode D4, the current leakage unit P and returns to the contact - of the smoothing unit F. During the second half-period the current Ib does not flow in branch L -1, but in branch N - 2, but it has the same direction as that of the current ic through the branch L - 1 in the first half period and its effect on the magnetic flux in the core of the RCD is exactly the same as it would if it flowed in the same direction through the branch L - 1. The smoothing unit capacitor F discharges with current ic even during the first half period, when the voltage across the smoothing unit capacitor is greater than the voltage between contacts l and 2.

Quando la prova viene effettuata con corrente appianata continua Id, il condensatore dell'unità di appianamento F rappresenta la fonte interna della corrente di prova Id, mentre l'unità di dispersione P è regolata ad un valore costante prescelto di intensità della corrente Id. La corrente Id scorre nello stesso circuito della corrente Ib. When the test is carried out with continuous smoothed current Id, the capacitor of the smoothing unit F represents the internal source of the test current Id, while the leakage unit P is regulated at a preselected constant value of intensity of the current Id. La current Id flows in the same circuit as current Ib.

Quando l'unità di dispersione di corrente P opera in prova con corrente appianata Id in regime di corrente costante, mediante il corretto dimensionamento dell'unità di appianamento F non si origina corrente di prova ondulata Id, nonostante la tensione relativamente ondulata sul condensatore dell'unità di appianamento F. In funzione della semplificazione della descrizione dei circuiti ho presupposto che il conduttore di protezione E è sul potenziale del conduttore di neutro N (fig. 1). Nella prassi possono insorgere piccole differenze di potenziale, che però non disturbano l'unità di dispersione di corrente P, che mantiene l'efficacia di erogazione delle intensità prescritte delle singole correnti di prova. When the leakage current unit P operates under test with smoothed current Id in constant current regime, through the correct sizing of the smoothing unit F no wavy test current Id is generated, despite the relatively undulating voltage on the capacitor of the smoothing unit F. In order to simplify the description of the circuits, I assumed that the protective conductor E is at the potential of the neutral conductor N (fig. 1). In practice, small potential differences may arise, which however do not disturb the leakage current unit P, which maintains the delivery efficiency of the prescribed intensities of the individual test currents.

Gli interruttori SI ed S2 sono solitamente relè che vengono azionati dal microprocessore e si trovano in posizione I se il relè non risulta attivato . The switches SI and S2 are usually relays which are activated by the microprocessor and are in position I if the relay is not activated.

La corrente continua Ib, che viene aggiunta alla corrente a semionda ic, è adibita all'accertamento del disinserimento dell 'interrutore differenziale. Se l'accertamento del disinserimento viene realizzato in altro modo, detta corrente non è necessaria. La corrente di prova a semionda ic può essere fornita anche quando gli interruttori SI e S2 sono in posizione I, se l'unità di dispersione di corrente P viene adeguatamente regolata. The direct current Ib, which is added to the half-wave current ic, is used to ascertain the disconnection of the differential switch. If the disconnection detection is carried out in some other way, this current is not necessary. The half-wave test current ic can also be supplied when switches SI and S2 are in position I, if the leakage current unit P is properly adjusted.

L'unità di dispersione di corrente P (Current Sink) si annovera nello stato della tecnica ed è descritta ad es. nelle "Application Notes" della ditta National Semiconductor GmbH (Fürstenfeldbruck, Germania) del 1973. The current leakage unit P (Current Sink) is included in the state of the art and is described e.g. in the "Application Notes" of the company National Semiconductor GmbH (Fürstenfeldbruck, Germany) of 1973.

Il circuito oggetto di questa invenzione è poco costoso. In caso di corrente di prova continua Id fornisce, ad una capacità dell'unità di appianamento pari a 47 /xF ed alla tensione di alimentazione 230 Vef , almeno 800 mA. In questo caso l'unità di dispersione P è regolata per una corrente costante. The circuit object of this invention is inexpensive. In case of continuous test current Id supplies, to a capacity of the smoothing unit equal to 47 / xF and to the power supply voltage 230 Vef, at least 800 mA. In this case, the leakage unit P is regulated for a constant current.

Claims (1)

RIVENDICAZIONE Circuito per la creazione di correnti per l'analisi della funzionalità degli interruttori differenziali, composto dai diodi direzionali (DI), (D2 ) , (D3), (D4), dagli interruttori (SI), (S2), dall'unità di appianamento (F), dall'unità regolabile di dispersione di corrente (P), caratterizzato dal fatto che il contatto (2) è collegato al contatto (11) dell'interruttore (SI) ed al contatto (14) dell'interruttore (S2), che il contatto (3) è collegato al catodo del diodo (D3) ed all'anodo del diodo (D4), che l'anodo del diodo (D3) è collegato al contatto (7) dell'interruttore (51), al contatto (5) dell'unità di dispersione di corrente (P) e al contatto (15) dell'interruttore (52), che il contatto (4) dell'unità di dispersione di corrente (P) è collegato al catodo del diodo (D4), al contatto (8) dell'interruttore (S2) ed al contatto (10) dell'interruttore (SI), che l'anodo del diodo (DI) è collegato al contatto (12) dell'interruttore (SI), che il catodo del diodo (D2) è collegato al contatto (13) dell'interruttore (S2), che il contatto (+) dell'unità di appianamento (F) è collegato al contatto (6) dell'interruttore (SI) ed infine che il contatto(-) dell ' unità di appianamento (F) è collegato al contatto (9) dell'interruttore (S2). CLAIM Circuit for the creation of currents for the analysis of the functionality of RCCBs, consisting of directional diodes (DI), (D2), (D3), (D4), circuit breakers (SI), (S2), smoothing (F), by the adjustable current leakage unit (P), characterized by the fact that the contact (2) is connected to the contact (11) of the circuit breaker (SI) and to the contact (14) of the circuit breaker (S2 ), that the contact (3) is connected to the cathode of the diode (D3) and to the anode of the diode (D4), that the anode of the diode (D3) is connected to the contact (7) of the switch (51), to the contact (5) of the leakage current unit (P) and to the contact (15) of the switch (52), that the contact (4) of the leakage current unit (P) is connected to the cathode of the diode (D4), to the contact (8) of the switch (S2) and to the contact (10) of the switch (SI), that the anode of the diode (DI) is connected to the contact (12) of the switch (SI) , that the cathode of the diode (D2) is connected to the contact or (13) of the switch (S2), that the contact (+) of the smoothing unit (F) is connected to the contact (6) of the switch (SI) and finally that the contact (-) of the smoothing (F) is connected to the contact (9) of the switch (S2).
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