IT202000004783A1 - Metodo e sistemi per la rilevazione e classificazione di difetti su superfici - Google Patents

Description

DESCRIZIONE dell?invenzione industriale dal titolo "Metodo e sistemi per la rilevazione e classificazione di difetti su superfici"

La presente invenzione si riferisce ad un metodo e a sistemi per la rilevazione e classificazione (o catalogazione) di difetti su superfici complesse, quali ad esempio le carrozzerie di autoveicoli. In particolare, i difetti da rilevare possono ad esempio essere difetti estetici su superfici verniciate.

I difetti presenti sulle superfici verniciate hanno spesso un carattere tridimensionale, cio? non sono semplicemente delle variazioni locali di colore, ma dei rilievi, delle mancanze di materiale o comunque delle irregolarit? sulla superficie.

Questi difetti vengono in gergo chiamati difetti ?estetici? in quanto l?utilizzatore li pu? percepire visivamente. In genere essi hanno dimensioni di almeno 10-20 micron.

Le superfici spaziali da scansionare vengono definite complesse in quanto possono essere una combinazione tra superfici concave e superfici convesse, entrambe anche con raggi di curvatura variabili e con la presenza di cuspidi e di raccordi curvilinei tra le diverse parti che costituiscono la superficie stessa.

Ad esempio una scocca di un autoveicolo pu? essere considerata una superficie complessa in quanto possiede le caratteristiche appena descritte. La localizzazione dei difetti su una superficie complessa ? una fase fondamentale del processo industriale in quanto permette di rintracciare ed eventualmente correggere le difettosit? estetiche del prodotto che possono essere percepite dall?utilizzatore finale e che spesso sono considerate un indice di qualit? dell?intero prodotto.

Nella tecnica nota, sono stati proposti sistemi automatici che scansionano la superficie da esaminare in modo da ottenere immagini elettroniche di porzioni della superficie. Le immagini cos? ottenute sono poi elaborate da appositi programmi per computer, appositamente realizzati per individuare difetti sulle superfici. I programmi possono anche suddividere i difetti in base alla loro tipologia (ad esempio, irregolarit? di colore, depressioni, bolle, graffi, ecc.) cos? da segnalare anche il tipo di difetto ed eventualmente proporre possibili rimedi al personale umano o a sistemi automatici di riparazione.

Per la corretta individuazione e catalogazione di un difetto ? necessario che la testa di scansione, che produce le immagini da elaborare dai programmi di rilevazione, abbia una relativamente elevata risoluzione spaziale. A causa della risoluzione spaziale richiesta, l?area ripresa dalla testa deve per? essere necessariamente molto ridotta e la testa viene fatta traslare lungo la superficie per esaminarla completamente. Sempre a causa della relativamente elevata risoluzione, e perci? della mole di dati di immagine prodotti dalla testa e che devono essere elaborati, la velocit? di trattamento delle immagini (e in genere la velocit? di spostamento della testa sulla superficie) risulta relativamente bassa.

Da tutto ci? deriva che con i sistemi noti, l?operazione di scansione, individuazione dei difetti e loro catalogazione richiede tempi considerevoli, soprattutto nel caso di superfici estese, quali sono ad esempio le superfici di carrozzerie di autoveicoli.

Scopo della presente invenzione ? quello di realizzare un metodo e sistemi di rilevazione e classificazione di difetti su superfici, anche estese, come ad esempio le scocche di autoveicoli, che siano veloci ed affidabili.

In vista di tale scopo, si ? pensato di realizzare, secondo l'invenzione, un metodo per la rilevazione e classificazione automatica di difetti sulla superficie di un oggetto, comprendente: una prima fase di individuazione dei difetti durante la quale una prima testa di scansione per la ripresa di immagini ad una prima risoluzione ? mossa lungo traiettorie di scansione sulla superficie dell?oggetto, difetti sulle superfici vengono localizzati nelle immagini riprese dalla prima testa di scansione e la posizione dei difetti viene rilevata; e una seconda fase di classificazione dei difetti durante la quale una seconda testa di scansione per la ripresa di immagini ad una seconda risoluzione, pi? alta della prima risoluzione, ? mossa alle posizioni dei difetti rilevate nella prima fase e i difetti vengono classificati in base alle immagini riprese dalla seconda testa di scansione.

Sempre secondo l?invenzione, si ? pensato di realizzare un sistema per la rilevazione e classificazione automatica di difetti sulla superficie di un oggetto secondo il metodo precedente, comprendente la prima testa di scansione per la ripresa di immagini alla prima risoluzione; la seconda testa di scansione per la ripresa di immagini alla seconda risoluzione; almeno un posizionatore motorizzato per il movimento e posizionamento delle teste sulle superfici; almeno una unit? elettronica di controllo ed elaborazione connessa alle teste e al posizionatore per ricevere le immagini riprese dalle teste e muovere le teste sulle superfici dell?oggetto.

Per rendere pi? chiara la spiegazione dei principi innovativi della presente invenzione ed i suoi vantaggi rispetto alla tecnica nota si descriver? di seguito, con l'aiuto dei disegni allegati, realizzazioni esemplificative applicanti tali principi. Nei disegni:

-figura 1 rappresenta una vista schematica di un primo sistema di rilevazione di difetti secondo l?invenzione;

-figura 2 rappresenta una vista schematica in alzata laterale di una possibile realizzazione di due teste di scansione in un sistema secondo l?invenzione;

-figura 3 rappresenta una vista schematica in pianta delle teste di scansione di figura 2;

-figura 4 rappresenta una vista schematica in prospettiva di una seconda realizzazione di un sistema di rilevazione di difetti secondo l?invenzione; -figura 5 rappresenta una vista schematica in prospettiva di una terza realizzazione di un sistema di rilevazione di difetti secondo l?invenzione. Con riferimento alle figure, in figura 1 ? mostrato un sistema, indicato genericamente con 10, realizzato secondo l?invenzione per rilevare difetti superficiali su un oggetto 11, ad esempio la scocca verniciata di un autoveicolo. I difetti superficiali possono ad esempio comprendere bolle, infossamenti, graffi, mancanze di eventuale vernice, incorporamento di corpi estranei (fili, polvere, ecc.) nella eventuale vernice, ecc.

Il sistema 10 pu? anche comprendere un noto sistema di trasporto 12 che porta sequenzialmente gli oggetti 11 da sottoporre ad analisi.

Il sistema di trasporto pu? essere ad esempio un convogliatore. Nel caso che gli oggetti 11 siano scocche di veicoli, il sistema di trasporto 12 potr? essere un noto trasportatore a skid con le scocche montate su noti skid. Il sistema 10 comprende una prima testa di scansione 13a e una seconda testa di scansione 13b che sono movimentate per seguire opportune traiettorie 14 (di cui una mostrata a titolo di esempio in figura 1) e scorrere adeguatamente lungo le superfici 15 dell?oggetto 11 sulle quali si desiderano individuare gli eventuali difetti.

Nella realizzazione di figura 1, le due teste 13a e 13b sono entrambe movimentate da un adatto posizionatore motorizzato 16 che pu? vantaggiosamente essere un robot opportunamente programmato per fare scorrere automaticamente la testa lungo le dette traiettorie sopra le superfici dell?oggetto 11. Il robot 16 pu? essere vantaggiosamente un noto braccio robot antropomorfo, ad esempio con sei assi controllabili in modo interpolato, con entrambe le teste 13a e 13b montate sul polso 17 del robot. Secondo i principi dell?invenzione, la testa 13a ? una testa di ripresa di immagini avente una prima risoluzione, e la testa 13b ? una testa ripresa di immagini avente una seconda risoluzione maggiore della prima.

In particolare, la prima risoluzione potr? essere scelta tale da permettere la rilevazione della presenza di un difetto in una certa posizione della superficie, anche se non con una precisione elevata, e senza una classificazione precisa del difetto.

La seconda risoluzione sar? invece scelta abbastanza elevata da permettere la classificazione dei difetti.

La risoluzione pu? essere divisa in risoluzione ottica dovuta anche alle lenti della camera, e in risoluzione del sensore (che permette di definire anche quanto effettivamente si acquisisce).

Ad esempio, per la prima risoluzione, la prima risoluzione ottica pu? essere compresa fra 5mm/pixel e 0,1micron/pixel e, preferibilmente, nell?intorno di 0,1mm/pixel). La prima risoluzione del sensore pu? essere vantaggiosamente fra 0.25 e 70 megapixel e, preferibilmente, nell?intorno di 5megapixel

Ad esempio, per la seconda risoluzione, la seconda risoluzione ottica pu? essere compresa fra 2mm/pixel e 0,01micron/pixel e, preferibilmente, nell?intorno di 15micron/pixel). La seconda risoluzione del sensore pu? essere preferibilmente fra 512 e 16384 pixel/linea e, preferibilmente, nell?intorno di 7142 pixel/linea.

Inoltre, la prima testa 13a pu? essere scelta, anche in virt? della sua minore risoluzione, per avere un?area di ripresa maggiore dell?area di ripresa della seconda testa. Ad esempio, l?area di ripresa della prima testa pu? essere compresa fra 5 e 100000 volte, vantaggiosamente nell?intorno di 1800 volte (preferibilmente nell?intorno di 1850 volte) l?area di ripresa della seconda testa.

Per la ripresa delle immagini, ciascuna testa comprender? una adatta nota unit? di ripresa (ad esempio una telecamera). Le teste possono anche comprendere noti sistemi di illuminazione per illuminare adeguatamente l?area ripresa.

Almeno la seconda testa pu? comprendere vantaggiosamente una nota telecamera stereoscopica, in modo da fornire immagini tridimensionali al sistema di elaborazione e catalogazione dei difetti. Ci? permette di classificare pi? facilmente difetti che comportano variazioni di altezza della superficie, distinguendo con maggiore chiarezza ad esempio fra bolle in rilievo e incavi nella superficie verniciata.

Una opportuna unit? elettronica di controllo 41, ad esempio un adatto sistema di elaborazione opportunamente programmato, come sar? chiaro dal seguito, controlla il movimento delle teste lungo le traiettorie di scansione, per mezzo del posizionatore 16, in modo sincronizzato con l?acquisizione delle immagini dalle teste, cosicch? le immagini via via riprese dalle teste possono ad esempio sommarsi per formare immagine pi? ampie delle superfici.

Ad esempio, preferibilmente le teste 13a e 13b possono essere realizzate per formare unit? di ripresa dell?immagine di tipo lineare, vale a dire unit? di ripresa formate da sensori di luce posti sostanzialmente su una sola linea, per ottenere sul loro asse ottico, o direzione di vista della testa, una immagine che ? formata sostanzialmente da un segmento di ripresa 18a,18b (vale a dire con una immagine con una ampiezza molto limitata nella direzione di movimento della testa lungo la traiettoria). La scansione sulle superfici 15 dell?oggetto 11 avverr? perci? in tale caso per segmenti di scansione 18 fra loro paralleli e trasversali alla traiettoria di movimento della testa. I segmenti di ripresa 18a o 18b paralleli, che sono via via acquisiti con la testa di scansione 13a o 13b grazie ad un movimento relativo fra testa e superficie da scansionare trasversale ai segmenti di ripresa, compongono cos? le immagini della superficie come somma dei singoli segmenti di ripresa. Adatte telecamere lineari da inserire nelle teste sono ad esempio in s? conosciute.

Nelle figure 2 e 3 sono mostrate a titolo di esempio due teste 13a e 13b montate su un unico supporto 19 per essere movimentate contemporaneamente dal posizionatore 16.

Come si vede bene in figura 2, le teste possono essere montate sul supporto 19 con le loro direzioni di vista 29a e 29b divergenti. Durante l?uso, le teste potranno perci? essere rivolte alternativamente con la loro direzione di vista verso e perpendicolare alla superficie 15 per seguire le volute traiettorie 14 ed essere impiegate alternativamente per scansionare tali superfici e ottenerne le volute immagini.

Disponendo le teste con direzioni di vista divergenti come mostrato nelle figure si ? trovato possibile ridurre l?interferenza fra la testa non in uso e il movimento dell?altra testa in uso. In altre parole, con la disposizione divergente la testa non in uso sar? pi? lontana dalle superfici 15 rispetto alla testa in uso e ci saranno meno possibilit? di interferenza della testa non in uso con le superfici 15 sottoposte a scansione con l?altra testa. In figura 3 sono anche mostrati i possibili differenti segmenti di ripresa 18a e 18b delle due teste 13a e 13b realizzate con unit? di ripresa dell?immagine di tipo lineare.

L?unit? di controllo 41 eseguir? anche una elaborazione delle immagini, secondo procedimenti (in s? noti e perci? qui non mostrati o descritti nel dettaglio essendo facilmente immaginabili dal tecnico esperto) che permetteranno di individuare automaticamente difetti sulle superfici 15 nelle immagini riprese ed eventualmente classificarli, con la precisione permessa dalle risoluzioni delle immagini prodotte dalle teste.

In particolare, in una prima fase di individuazione dei difetti, il sistema 41 comander? il movimento del posizionatore 16, in modo da effettuare una prima scansione delle superfici 15 per mezzo della prima testa 13a. L?unit? 41 individuer? cos? (con il processo di elaborazione delle immagini in s? noto) l?esistenza di eventuali difetti delle superfici visibili nelle immagini prodotte dalla testa 13a. Per ciascun difetto individuato, l?unit? 41 rilever? le coordinate spaziali del difetto sulla superficie per poterlo ritrovare.

Terminata la prima fase di scansione delle superfici con la prima testa, l?unit? 41 eseguir? una seconda fase di scansione per la classificazione dei difetti. In tale seconda fase di scansione, l?unit? 41 impiegher? la seconda testa di scansione 13b, portandola direttamente a scansionare le superfici in corrispondenza delle coordinate dei difetti rilevati nella prima fase di scansione.

Poich? la testa 13a ha una risoluzione relativamente bassa e, preferibilmente, un campo di ripresa relativamente pi? ampio, la prima fase di scansione delle intere superfici 15 sar? pi? veloce che se fosse eseguita con una testa avente le caratteristiche di risoluzione, ed eventualmente campo di ripresa, della seconda testa. Per contro, la seconda testa dovr? effettuare la scansione solo delle zone delle superfici con i difetti gi? rilevati nella prima fase. In altre parole, la seconda testa, pi? lenta a causa della pi? alta risoluzione ed, eventualmente, del pi? ridotto campo di ripresa, dovr? esaminare solo piccole zone delle superfici dove ? gi? stato individuato un difetto, in modo da poterlo classificare (con i metodi di classificazione in s? noti) grazie alla sua pi? alta risoluzione. Se desiderato, la seconda testa, grazie alla sua maggiore risoluzione, potr? anche raffinare l?individuazione della posizione del difetto a partire dalle coordinate del difetto ottenute grazie alla prima testa.

L?intera procedura di individuazione e di classificazione dei difetti sar? perci? ottimizzata e molto pi? rapida di quanto si otterrebbe con i sistemi di tecnica nota.

Il sistema secondo l?invenzione fornisce perci? rapidamente sia la precisa posizione dei difetti sia la loro classificazione. Tali informazioni possono poi essere passate a sistemi noti, manuali, automatici o semiautomatici, di trattamento dei difetti, come noto nel campo.

In figura 4 ? mostrata una prima variante realizzativa di un sistema di individuazione e classificazione di difetti secondo l?invenzione. In tale variante, indicata genericamente con 110, si hanno sempre le due teste 13a e 13b come sopra descritte, ma tali teste sono ciascuna supportata da propri posizionatori, rispettivamente indicati con 16a e 16b (che possono essere sostanzialmente dello stesso tipo del posizionatore 16 della realizzazione precedente).

In tale modo, l?unit? di controllo 41 pu? muovere in modo sostanzialmente contemporaneo e indipendente le due teste sulla superficie 15. Se desiderato, le due fasi di scansione, rispettivamente per l?individuazione dei difetti e per la classificazione dei difetti, possono cos? essere condotte in modo parallelo o semi-parallelo. Ad esempio, a mano a mano che l?unit? di controllo 41 individua difetti con la prima testa, la seconda testa pu? essere portata a classificarli, mentre la prima testa individua ulteriori difetti, e cos? via. Ci? velocizza ancora di pi? le operazioni complessive di individuazione e classificazione dei difetti.

In figura 5 ? mostrata una seconda variante realizzativa di un sistema di individuazione e classificazione di difetti secondo l?invenzione. In tale variante, indicata genericamente con 210, si hanno sempre le due teste 13a e 13b come sopra descritte, ma tali teste sono ciascuna supportata da propri posizionatori, rispettivamente indicati con 16a e 16b e posti in differenti stazioni di scansione 50 e 51 nelle quali gli oggetti 11 sono portati sequenzialmente. La prima stazione 50 realizza perci? una stazione di individuazione automatica dei difetti, mentre la seconda stazione 51 realizza una stazione di classificazione automatica dei difetti individuati nella prima stazione.

In tale modo, l?unit? di controllo 41 pu? muovere in modo sostanzialmente contemporaneo e indipendente le due teste sulla superfici 15 anche su oggetti differenti nelle due stazioni.

Con una pluralit? di oggetti 11 da esaminare e che sono mossi sequenzialmente lungo la linea di trasporto 12, la fase di individuazione dei difetti nella stazione 50 su un oggetto successivo pu? cos? avvenire in parallelo con la fase di classificazione dei difetti nella stazione 51 di un oggetto precedente gi? passato per la stazione 50 per l?individuazione della posizione dei difetti. Il tempo totale del ciclo di individuazione e classificazione su una sequenza continua di oggetti (come le scocche di autoveicoli in un impianto di trattamento e verniciatura) sar? perci? sensibilmente ridotto.

E? a questo punto chiaro come si siano raggiunti gli scopi dell?invenzione. Grazie ai principi dell?invenzione, la localizzazione e la catalogazione dei difetti per la loro eventuale successiva rimozione ? rapida, precisa ed efficiente.

Naturalmente, la descrizione sopra fatta di realizzazioni applicanti i principi innovativi della presente invenzione ? riportata a titolo esemplificativo di tali principi innovativi e non deve perci? essere presa a limitazione dell'ambito di privativa qui rivendicato.

Ad esempio, le teste possono avere una forma e/o proporzioni differenti da quelle mostrate, a seconda ad esempio della forma delle telecamere e degli illuminatori impiegati per realizzarle e/o della conformazione ed estensione delle superfici da scansionare. Ad esempio, la testa pu? avere pianta quadrata anzich? rettangolare ed essere anche di dimensioni pi? ridotte di quelle mostrate nei disegni, in modo ad esempio di ispezionare superfici pi? piccole, con maggiore concavit? o in spazi angusti. Il segmento di scansione della telecamera (e perci? della testa) potr? anche essere pi? o meno lungo a seconda della estensione delle superfici e della velocit? di scansione desiderata. Le due teste possono essere anche inserite in uno stesso involucro.

Come ora facilmente immaginabile dal tecnico, ? anche possibile realizzare le teste con pi? telecamere e/o pi? illuminatori in modo da ottenere aree o segmenti di ripresa pi? o meno ampi a seconda delle specifiche esigenze. Inoltre, potr? essere impiegato un posizionatore della testa differente da quello mostrato e descritto a titolo di esempio. In particolare, potrebbe essere impiegato un posizionatore cartesiano o un portale, anche in funzione della geometria dell?oggetto da scansionare.

L?unit? di controllo 41 pu? essere anche suddivisa o comprendere una unit? di individuazione dei difetti e una unit? di classificazione dei difetti, con la prima che passa le coordinate dei difetti alla seconda, come ora facilmente immaginabile dal tecnico sulla base della descrizione sopra fatta. Nel sistema con stazioni separate, ciascuna stazione potr? comprendere una propria unit? di controllo con la elaborazione delle immagini fornite dalla corrispondente testa e la movimentazione di tale testa. L?unit? di controllo della stazione di individuazione dei difetti potr? cos? semplicemente passare le coordinate dei difetti alla unit? di controllo della stazione di classificazione.

Naturalmente, in ogni caso le traiettorie 14 seguite dalle due teste possono essere fra loro differenti.

Claims (16)

1. RIVENDICAZIONI 1. Metodo per la rilevazione e classificazione automatica di difetti sulla superficie (15) di un oggetto (11), comprendente: -una prima fase di individuazione dei difetti durante la quale una prima testa di scansione (13a) per la ripresa di immagini ad una prima risoluzione ? mossa lungo traiettorie di scansione sulla superficie dell?oggetto, difetti sulle superfici vengono localizzati nelle immagini riprese dalla prima testa di scansione (13a) e la posizione dei difetti viene rilevata; e -una seconda fase di classificazione dei difetti durante la quale una seconda testa di scansione (13b) per la ripresa di immagini ad una seconda risoluzione, pi? alta della prima risoluzione, ? mossa alle posizioni dei difetti rilevate nella prima fase e i difetti vengono classificati in base alle immagini riprese dalla seconda testa di scansione (13b).
2. 2. Metodo secondo rivendicazione 1, caratterizzato dal fatto che la prima risoluzione comprende una prima risoluzione ottica fra 5mm/pixel e 0,1micron/pixel e, preferibilmente, nell?intorno di 0,1mm/pixel e/o una prima risoluzione del sensore fra 0.25 e 70 megapixel e, preferibilmente, nell?intorno di 5megapixel.
3. 3. Metodo secondo rivendicazione 1, caratterizzato dal fatto che la seconda risoluzione comprende una seconda risoluzione ottica fra 2mm/pixel e 0,01micron/pixel e, preferibilmente, nell?intorno di 15micron/pixel). e/o una seconda risoluzione del sensore preferibilmente fra 512 e 16384 pixel/linea e, preferibilmente, nell?intorno di 7142 pixel/linea.
4. 4. Metodo secondo rivendicazione 1, caratterizzato dal fatto che la prima testa (13a) ha area di ripresa maggiore dell?area di ripresa della seconda testa (13b) e, preferibilmente, compresa fra 5 e 100000 volte, vantaggiosamente nell?intorno di 1800 volte e preferibilmente nell?intorno di 1850 volte, l?area di ripresa della seconda testa.
5. 5. Metodo secondo rivendicazione 1, caratterizzato dal fatto che almeno la seconda testa comprende una telecamera stereoscopica.
6. 6. Metodo secondo rivendicazione 1, caratterizzato dal fatto che le teste (13a e 13b) formano unit? di ripresa dell?immagine di tipo lineare per ottenere, in una direzione di vista della testa, un proprio segmento di ripresa (18a, 18b) e l?immagine della superficie (15) prodotta da una testa ? ottenuta come somma dei suoi segmenti di ripresa (18a o 18b) paralleli, che sono via via acquisiti con la testa di scansione grazie ad un movimento relativo fra testa e superficie da scansionare e che ? trasversale alla estensione del segmento di ripresa (18a,18b).
7. 7. Metodo secondo rivendicazione 1, caratterizzato dal fatto che gli oggetti (11) sono scocche di veicoli.
8. 8. Sistema per la rilevazione e classificazione automatica di difetti sulla superficie di un oggetto secondo il metodo di una qualsiasi delle rivendicazioni precedenti, comprendente la prima testa di scansione (13a) per la ripresa di immagini alla prima risoluzione; la seconda testa di scansione (13b) per la ripresa di immagini alla seconda risoluzione; almeno un posizionatore motorizzato (16, 16a, 16b) per il movimento e posizionamento delle teste sulle superfici (15); almeno una unit? elettronica di controllo ed elaborazione (41) connessa alle teste (13a, 13b) e al posizionatore (16, 16a, 16b) per ricevere le immagini riprese dalle teste e muovere le teste sulle superfici (15) dell?oggetto (11).
9. 9. Sistema secondo rivendicazione 8, caratterizzato dal fatto che le teste (13a, 13b) sono montate su uno stesso posizionatore (16) per essere mosse assieme.
10. 10. Sistema secondo rivendicazione 9, caratterizzato dal fatto che le teste (13a, 13b) sono montate sullo stesso posizionatore (16) con direzioni di vista (29a, 29b) divergenti.
11. 11. Sistema secondo rivendicazione 8, caratterizzato che le teste (13a, 13b) sono montate ciascuna su un proprio posizionatore (16a, 16b) per essere mobili indipendentemente una dall?altra.
12. 12. Sistema secondo rivendicazione 8, caratterizzato dal fatto che la prima testa (13a) con il proprio posizionatore (16a) ? in una prima stazione (50) di individuazione dei difetti e la seconda testa (13b) con il proprio posizionatore (16b) ? in una seconda stazione (50) di classificazione dei difetti.
13. 13. Sistema secondo rivendicazione 12, caratterizzato dal fatto che fra prima stazione (50) e seconda stazione (51) ? presente una linea (12) di trasporto sequenziale degli oggetti (11).
14. 14. Sistema secondo rivendicazione 8, caratterizzato dal fatto il posizionatore (16, 16a, 16b) ? un robot programmato.
15. 15. Sistema secondo rivendicazione 14, caratterizzato dal fatto il robot (16, 16a, 16b) ? un braccio robot antropomorfo.
16. 16. Sistema secondo rivendicazione 7, caratterizzato dal fatto che ? destinato a scansionare oggetti (11) in forma di scocche di veicoli. Il Mandatario