FR3076349A1

FR3076349A1 - Circuit d'autotest et procede de verification de l'integrite d'un signal le long d'un chemin de signal

Info

Publication number: FR3076349A1
Application number: FR1860365A
Authority: FR
Inventors: Julian FRANCHITTI
Original assignee: SKF AB
Current assignee: SKF AB
Priority date: 2017-12-04
Filing date: 2018-11-09
Publication date: 2019-07-05
Anticipated expiration: 2038-11-09
Also published as: DE102018219594A1; US20190170813A1; CN115824646A; FR3076349B1; CN109883701A

Abstract

Des exemples se rapportent à un circuit d'autotest. Le circuit d'autotest comprend des circuits d'entrée ; des circuits de test ; et un circuit à tester, couplé entre les circuits d'entrée et les circuits de test et comprenant au moins un cristal piézoélectrique. Les circuits d'entrée sont configurés pour générer et transférer un signal électrique prédéfini comprenant au moins un signal sinusoïdal à travers au moins le cristal piézoélectrique du circuit à tester pour générer un signal de sortie. Les circuits de test sont configurés pour analyser le signal de sortie.

Description

CIRCUIT D'AUTOTEST ET PROCEDE DE VERIFICATION DE L'INTEGRITE D'UN SIGNAL LE LONG D'UN CHEMIN DE SIGNAL

DOMAINE TECHNOLOGIQUE [0001] Les exemples portent sur un circuit d'autotest et son procédé et, en particulier, un circuit d'autotest et un procédé de vérification de l'intégrité d'un signal le long d'un chemin de signal contenant un cristal piézoélectrique.

ETAT ANTERIEUR [0002] Des cristaux vibratoires sont souvent utilisés pour détecter l'état de roulements en service. Ces cristaux piézoélectriques peuvent être fixés à un roulement, un carter de roulement, ou une machine associée. Ces roulements sont souvent montés dans des emplacements étroits, difficiles à atteindre, avec des pièces mobiles et un accès limité (voir impossible), particulièrement pendant que la machine ou le dispositif fonctionne. Ces facteurs rendent difficile et maladroite l'exécution d'inspection ou de réparation manuelle. Afin d'exécuter de telles inspections, il faudrait mettre hors service la machine (telle qu'un wagon) pour pouvoir y accéder. En cas de panne sur le terrain, celle-ci risque de n'être détectée qu'à l'inspection suivante.

[0003] Un autotest intégré peut être utilisé pour tester le bon fonctionnement de composants de circuit. Relativement aux circuits qui contiennent des cristaux piézoélectriques, pour garantir que les cristaux sont correctement fixés en position, un signal externe peut être appliqué à l'aide d'un capteur ou d'un cristal piézoélectrique secondaire séparé avec un générateur de signaux. Un autre procédé pour déterminer que le cristal est correctement fixé en position consisterait à exciter le logement auquel il est fixé. Ces solutions exigent d'utiliser des composants supplémentaires, un matériel de montage supplémentaire, et davantage de travail. Certains autotests permettant de tester le cristal piézoélectrique sans utiliser de second cristal ont été proposés mais ces procédés ne testent que l'installation correcte du cristal en tant que tel ; ils ne fournissent aucune information sur le bon fonctionnement d'autres étages du circuit en dehors du cristal piézoélectrique.

[0004] En conséquence un circuit d'autotest et un procédé pour tester l'intégrité du système d'un signal sur un chemin de signal contenant un cristal piézoélectrique s'avèrent nécessaires.

RESUME [0005] Les exemples portent sur un circuit d'autotest et son procédé et, en particulier, un circuit d'autotest et un procédé de vérification de l'intégrité d'un signal le long d'un chemin de signal contenant un cristal piézoélectrique. Les exemples de la présente divulgation peuvent être utilisés pour des circuits de capteur de contrôle de conditions d'autotest, tels que des circuits de capteur de contrôle de roulements, par exemple.

[0006] Les exemples se rapportent à un circuit d'autotest. Le circuit d'autotest comprend des circuits d'entrée ; des circuits de test ; et un circuit à tester, couplé entre les circuits d'entrée et les circuits de test et comprenant au moins un cristal piézoélectrique. Les circuits d'entrée sont configurés pour générer et transférer un signal électrique prédéfini comprenant au moins un signal sinusoïdal à travers au moins le cristal piézoélectrique du circuit à tester pour générer un signal de sortie. Les circuits de test sont configurés pour analyser le signal de sortie.

[0007] Dans certains exemples, le circuit d'autotest peut comprendre en outre au moins l'un d'un circuit de filtre passe-bas, passe-bande, et passe-haut. Les circuits d'entrée peuvent être configurés pour transférer le signal électrique prédéfini à travers le cristal piézoélectrique et au moins l'un du circuit de filtre passe-bas, passe-bande et passe-haut du circuit à tester pour générer un signal de sortie.

[0008] Dans certains exemples, le circuit d'autotest peut être configuré pour exécuter des évaluations d'amplitude ou de fréquence de signal sur le signal de sortie.

[0009] Dans certains exemples, les circuits de test peuvent comprendre un processeur de signaux configuré pour convertir le signal de sortie du domaine temps au domaine fréquence et analyser le signal de sortie dans le domaine fréquence.

[00010] Dans certains exemples, les circuits d'entrée peuvent être configurés pour générer l'au moins un signal sinusoïdal d'une fréquence supérieure à 0 Hz et inférieure à la fréquence de résonance du cristal piézoélectrique.

[00011] Dans certains exemples, les circuits d'entrée peuvent comprendre un processeur de signaux numériques configuré pour générer un signal numérique prédéfini et convertir le signal numérique en le domaine analogique afin de générer le signal électrique prédéfini.

[00012] Dans certains exemples, le circuit d'autotest peut comprendre un commutateur configuré pour sélectionner un fonctionnement normal ou un mode de test. Dans le mode de test, le commutateur peut connecter les circuits d'entrée au circuit à tester. Le commutateur peut rester dans le mode de test au moins jusqu'à ce que le signal de sortie soit généré.

[00013]

Les exemples se rapportent à un procédé d'autotest d'un circuit. Le procédé

comprend la génération d'un signal électrique prédéfini ; le transfert du signal électrique prédéfini comprenant au moins un signal sinusoïdal à travers au moins un cristal piézoélectrique d'un circuit à tester pour générer un signal de sortie ; et l'analyse du signal de sortie.

[00014]

Dans certains exemples, le procédé peut comprendre en outre le transfert du

signal électrique prédéfini à travers le cristal piézoélectrique et au moins l'un d'un circuit de filtre passe-bas, passe-bande et passe-haut du circuit à tester pour générer un signal de sortie.

[00015]

Dans certains exemples, l'analyse du signal de sortie peut comprendre la

réalisation d'évaluations d'amplitude et de fréquence de signal sur le signal de sortie.

BREVE DESCRIPTION DES DESSINS

[00016]

Certains exemples d'appareils et/ou de procédés sont décrits ci-après à titre

d'exemple uniquement, et en référence aux figures annexées, dans lesquelles

[00017]	la figure 1 montre un schéma de principe d'un circuit d'autotest ;
[00018]	la figure 2 montre un organigramme d'un procédé d'autotest d'un circuit ;
[00019]	la figure 3 montre un mode de réalisation d'un circuit d'autotest ; et
[00020]	la figure 4 montre des graphes de données obtenus à partir de cinq montages de test différents.

DESCRIPTION DETAILLEE

[00021]

Divers exemples vont maintenant être décrits de manière plus détaillée en

référence aux dessins annexés dans lesquels certains exemples sont illustrés. Dans les figures, les épaisseurs de lignes, couches et/ou régions peuvent être exagérées pour une plus grande clarté.

[00022]

En conséquence, bien que d'autres exemples puissent présenter diverses

modifications et autres formes, certains exemples particuliers de l'invention sont montrés dans les figures et décrits ci-après de manière détaillée. Toutefois, cette description détaillée ne limite pas d'autres exemples aux formes particulières décrites. D'autres exemples peuvent 3 couvrir toutes les modifications, tous les équivalents, et toutes les variantes entrant dans le cadre de la divulgation. Des numéros identiques se réfèrent à des éléments identiques ou similaires dans toute la description des figures, lesquels peuvent être mis en œuvre de manière identique ou modifiée en comparaison les uns aux autres tout en assurant une fonctionnalité identique ou similaire.

[00023] On comprendra que, lorsqu'il est dit qu'un élément est “connecté” ou “couplé” à un autre élément, les éléments peuvent être connectés directement ou par l'intermédiaire d'un ou de plusieurs éléments intermédiaires. Si deux éléments A et B sont combinés à l'aide d'un “ou”, on comprendra que ceci divulgue toutes les combinaisons possibles, à savoir uniquement A, uniquement B ainsi que A et B. Une autre expression pour les mêmes combinaisons est “au moins l'un de A et B”. Il en est de même pour des combinaisons de plus de 2 éléments.

[00024] La terminologie utilisée ici afin de décrire des exemples particuliers ne vise pas à limiter d'autres exemples. Chaque fois qu'une forme singulière telle que “un”, “une” et “le”, “la”, “les” est utilisée et n'utilisant qu'un seul élément n'est définie ni explicitement, ni implicitement comme étant obligatoire, d'autres exemples peuvent également utiliser plusieurs éléments pour mettre en œuvre la fonctionnalité. Pareillement, quand une fonctionnalité est décrite par la suite comme étant mise en œuvre en utilisant de multiples éléments, d'autres éléments peuvent mettre en œuvre la même fonctionnalité en utilisant un seul élément ou une seule entité de traitement. On comprendra en outre que les termes “comprend”, “comprenant”, “comporte” et/ou “comportant”, quand ils sont utilisés, spécifient la présence des caractéristiques, entiers, étapes, opérations, processus, actions, éléments et/ou composants indiqués mais n'excluent pas la présence ou l'ajout d'un(e) ou de plusieurs autres caractéristiques, entiers, étapes, opérations, processus, actions, éléments, composants et/ou n'importe quel groupe de ceux-ci.

[00025] Sauf définition contraire, tous les termes (y compris les termes techniques et scientifiques) sont utilisés ici dans leur sens ordinaire de la technique à laquelle se rapportent les exemples.

[00026] La figure 1 montre un schéma de principe d'un circuit d'autotest 100. Le circuit d'autotest 100 comprend des circuits d'entrée 110, un circuit à tester 120, comprenant au moins un cristal piézoélectrique 121, et des circuits de sortie 130. Le cristal piézoélectrique 121 peut être monté sur un roulement, un logement, une machine associée en tant que moyen de détection de vibrations, par exemple.

[00027] Les circuits d'entrée 110 sont configurés pour générer un signal source électrique qui peut avoir une fréquence et une amplitude prédéterminées uniques. Le signal source électrique devrait contenir des caractéristiques C.A. Une onde sinusoïdale d'une fréquence et d'une amplitude prédéterminées est préférée, bien qu'un signal source électrique combiné (superposé) contenant un nombre fini de fréquences multiples puisse également être utilisé (en tant qu'onde complexe). Bien que dans certains modes de réalisation le signal source électrique puisse avoir une fréquence fixe unique, dans d'autres modes de réalisation la fréquence du signal source électrique peut également varier (p. ex. passer d'une fréquence inférieure à une fréquence supérieure). Il en est de même pour l'amplitude. Le signal source électrique peut comprendre une fréquence supérieure à 0 Hz mais inférieure à la fréquence de résonance du cristal piézoélectrique. Le signal source électrique peut être un signal de tension, par exemple, un signal de tension sinusoïdal de 10 Hz d'une amplitude fixe pourrait être généré.

[00028] On comprendra que les caractéristiques (à savoir fréquence et/ou amplitude) du signal électrique fourni peuvent être ajustées comme il convient pour tester certains composants. Par exemple, une impulsion de forme carrée serait insuffisante car elle ne peut montrer que la connexion ou non des composants, sans offrir les caractéristiques nécessaires pour déterminer qu'un composant donné fonctionne correctement ou non (tel qu'un filtre passebas). Pour tester un composant de filtre passe-bas, des fréquences supérieures à la gamme du filtre devraient être fournies, et le signal de sortie devrait être testé pour déterminer que ces fréquences ont en fait été filtrées ou non. De tels facteurs doivent également être considérés pour le test d'autres composants de circuit.

[00029] Les circuits d'entrée 110 peuvent comprendre un processeur de signaux numériques (DSP) 111 couplé à un convertisseur numérique/analogique (DAC) 112. Le DSP 111 peut générer une onde sinusoïdale numérique qui est ensuite convertie dans le domaine analogique par le DAC 112 avant d'être passée par le circuit à tester 120. Dans l'exemple montré à la figure 1, un DSP et un DAC sont utilisés mais n'importe quel circuit d'entrée 110 configuré pour générer une onde sinusoïdale d'une fréquence et d'une amplitude connues aux caractéristiques C.A. peut être utilisé.

[00030] Le circuit à tester 120 comprend au moins un cristal piézoélectrique 121 et un ou plusieurs autres étages de circuits 122. Plutôt que d'appliquer une force mécanique comme il en est conventionnellement d'usage avec l'utilisation de cristaux piézoélectriques, un signal électrique C.A. sous forme d'onde sinusoïdale est injecté à travers le cristal piézoélectrique 121 d’une capacité connue. En raison de sa caractéristique capacitive, le cristal piézoélectrique 121 laisse passer le signal électrique C.A. Après son passage par le cristal piézoélectrique 121, l'onde sinusoïdale passe alors par d'autres étages de circuits 122.

[00031] Le circuit à tester 120 peut contenir d'autres étages de circuits 122 comprenant en outre un circuit de filtre passe-bas, passe-bande ou passe-haut (montrés collectivement en tant que 123 à la figure 1). D'autres étages de circuits 122 peuvent également comprendre des composants de circuits passifs (par exemple des condensateurs, résistances) ou des composants de circuits actifs (par exemple des amplificateurs, transistors). Le circuit à tester 120 est couplé entre les circuits d'entrée 110 et les circuits de sortie 130.

[00032] Les circuits de sortie 130 sont configurés pour recevoir l'onde sinusoïdale après son passage par le cristal piézoélectrique 121 et autres étages de circuits 122. Comme les caractéristiques des composants du circuit à tester 120 et le signal électrique sont connus, il est possible de déterminer l'effet qu'ils auront sur le signal source électrique durant un fonctionnement normal. Ainsi, il est possible de comparer le signal électrique reçu au niveau des circuits de sortie 130 à un signal de sortie attendue afin de déterminer une variété de paramètres. Par exemple :

[00033] 1 - le fait que le cristal piézoélectrique 121 est fixé électriquement à la carte de circuit imprimé (PCB) et est en mesure de fonctionner ;

[00034] 2 - le gain du circuit à tester 120 peut être établi ;

[00035] 3 - la réponse des filtres 123 dans le domaine numérique ou dans le domaine analogique peut être mappée ;

[00036] 4 - la dégradation de la performance du circuit durant la durée de vie du produit peut être établie ;

[00037] 5 - un auto-étalonnage des vibrations peut être possible ;

[00038] 6 - une vérification de bout en bout du test par un dispositif de capteur distant rendant compte à une application de serveur est possible.

[00039] Les circuits de sortie 130 peuvent comprendre un convertisseur analogique/numérique (ADC) 131 couplé à un processeur de signaux numériques (DSP) 132. L'ADC 131 reçoit l'onde sinusoïdale depuis le circuit à tester 120 et la convertit dans le domaine numérique avant de la passer au DSP 132. Les mêmes DSP 111, 132 peuvent être utilisés pour les circuits d'entrée 110 et les circuits de sortie 130, ou bien le DSP 111 peut être différent du

DSP 132. L'exemple montré à la figure 1 utilise un ADC et un DSP mais on comprendra que n'importe quel circuit de sortie 130 configuré pour recevoir une onde aux caractéristiques C. A peut être utilisé.

[00040] Le DSP 132 peut être configuré pour exécuter des évaluations d'amplitude ou de fréquence de signal sur le signal source reçu au niveau des circuits de sortie 130 (à savoir le signal de sortie). Le DSP 132 peut analyser l'amplitude et/ou la fréquence du signal de sortie par rapport au signal de sortie prévu en fonction de composants connus du circuit à tester 120. Par exemple, le gain du circuit ou le bon fonctionnement des filtres passants peut être vérifié.

[00041] De plus, ou en variante, le DSP 132 peut être configuré pour convertir le signal de sortie du domaine temps au domaine fréquence, par exemple en exécutant une transformée de Fourier rapide (FFT). Le signal de sortie peut alors être analysé dans le domaine fréquence. Ceci est illustré davantage à la figure 3.

[00042] Le signal généré par le DSP 111 est passé par le DAC 112 des circuits d'entrée 110, se propage à travers le circuit à tester 120 des multiples étages 122 et est échantillonné par l'ADC 131 commandé par le processeur de signaux numériques 132 des circuits de sortie 130. [00043] La figure 2 montre un organigramme d'un procédé 200 d'autotest d'un circuit. Le procédé 200 comporte la génération d'un signal électrique prédéfini 210 ; le transfert du signal électrique prédéfini à travers au moins un cristal piézoélectrique d'un circuit à tester pour générer un signal de sortie 220 ; et l'analyse du signal de sortie 230.

[00044] La génération du signal électrique prédéfini 210 peut comprendre la génération d'un signal sinusoïdal. Comme cela est expliqué relativement à la figure 1, n'importe quelle onde aux caractéristiques C.A. peut être utilisée. Une onde sinusoïdale est préférée bien qu'un signal source combiné contenant de multiples caractéristiques puisse également être utilisé (sous forme d'onde complexe). L'onde sinusoïdale peut comprendre une fréquence supérieure à 0 Hz mais inférieure à la fréquence de résonance du cristal piézoélectrique. L'onde sinusoïdale peut être un signal de tension. Par exemple, le signal électrique prédéfini peut être un signal de tension sinusoïdal de 10 Hz d'une amplitude fixe.

[00045] Le signal électrique prédéfini (p. ex. fonde sinusoïdale) est ensuite passé à travers le cristal piézoélectrique du circuit à tester. Le signal peut ensuite passer à travers le cristal piézoélectrique vers tout autre étage du circuit à tester. Le transfert 221 du signal électrique prédéfini peut comprendre en outre le transfert du signal électrique prédéfini à travers le cristal piézoélectrique et au moins l'un d'un circuit de filtre passe-bas, passe-bande et passe-haut du circuit à tester pour générer 220 un signal de sortie . Le signal sinusoïdal peut aussi passer à travers un ou plusieurs autres étages de circuits. Ces autres étages de circuit peuvent comprendre des composants de circuit passifs ou actifs. Une fois que le signal électrique prédéfini est passé par le circuit à tester, un signal de sortie résultant pouvant être analysé est généré.

[00046] L'analyse 230 du signal de sortie peut comprendre la réalisation d'évaluations d'amplitude ou de fréquence sur le signal de sortie. Comme on l'a expliqué relativement à la figure 1, l'amplitude et/ou la fréquence du signal de sortie peuvent être comparées au signal de sortie prédit en fonction des composants connus du circuit à tester.

[00047] La figure 3 montre un mode de réalisation 300 du circuit d'autotest 100 configuré pour employer le procédé 200. Un circuit d'entrée de signal de test, montré en tant que générateur de signaux DAC 310 (correspondant aux DSP 111 et DAC 112 des circuits d'entrée 110) est configuré pour générer un signal électrique prédéfini, p. ex. sous forme d'onde sinusoïdale d'une fréquence prédéfinie. L'onde sinusoïdal peut être injectée dans le circuit à tester par le générateur de signaux DAC 310 par le biais d'un commutateur 313 commandé par une commande d'entrée/sortie de commutateur 314. Le commutateur 313 peut être utilisé pour commuter entre un mode d'autotest (NO) et un fonctionnement normal (NC) du circuit. Normalement, le commutateur reste en position de fonctionnement normal. Quand un autotest est souhaité, le commutateur sélectionne le mode d'autotest afin de permettre aux circuits d'entrée de générer et transférer le signal électrique prédéfini dans le cristal piézoélectrique. Le commutateur reste sur la position NO jusqu'à ce que le signal électrique fourni soit passé à travers le circuit à tester et que le signal de sortie soit généré. Le rôle du commutateur 313 est soit de diriger le signal depuis le cristal piézoélectrique vers une entrée d'amplificateur de charge 323 (c.-à-d. fonctionnement normal), soit de diriger le signal depuis le DAC (en tant que partie du générateur de signaux 310) à travers le cristal (c.-à-d. mode d'autotest). On comprendra que l'utilisation du commutateur 313 empêche le couplage permanent du générateur de signaux 310 au cristal piézoélectrique 321, réduisant ainsi le bruit électrique potentiel. En utilisant le commutateur 313, durant le fonctionnement normal, le générateur de signaux 310 peut être isolé du cristal.

[00048] Le signal électrique prédéfini est transféré à travers le commutateur 313 et à travers le cristal piézoélectrique 321 jusqu'aux autres étages de circuits 322. On comprendra que le signal électrique est transféré à travers le cristal piézoélectrique en tant que tel (d'une manière semblable à un condensateur) plutôt qu'en frappant le cristal d'impulsions pour le faire “sonner” (ce qui se rapproche davantage d'une application d'une force mécanique au roulement auquel le cristal est attaché, comme dans les procédés traditionnels). Les autres étages de circuits 322 en aval du cristal piézoélectrique 321 peuvent comprendre des amplificateurs, filtres, condensateurs, résistances ou autres composants de circuits analogiques et/ou numériques. Dans l'exemple illustré, l'onde sinusoïdale est transférée à travers un étage d'amplificateur 323. Le signal de sortie de l'étage d'amplificateur 323 peut être passé à travers les autres étages de circuits 322, tels qu'un autre filtre passe-bande 324. Enfin, le signal de sortie atteint les circuits de test 330, où le signal analogique est converti par l'ADC 331 et passé à un processeur 332 de telle sorte que des évaluations d'amplitude ou de fréquence puissent être réalisées et le signal de sortie analysé. Le résultat de ces évaluations est montré à la figure.

4.

[00049] La figure 4 montre des graphes 401, 402, 403, 404, 405 d'évaluations d'amplitude sur les données obtenues à partir de cinq montages de test différents selon la figure 3. Les graphes montrent le signal d'autotest numérisé et converti du domaine temps au domaine fréquence. En particulier, une FFT (transformée de Fourier rapide) a été exécutée sur chaque signal. Chaque tracé montre un montage de test différent pour un même signal de test. Dans les montages de test montrés à la figure 3, le signal résultant doit être compris dans des limites prédéfinies qui peuvent être choisies en fonction de tolérances souhaitées.

[00050] Si le signal résultant est compris dans ces limites, le circuit à tester fonctionne correctement. Les valeurs limites peuvent être choisies en fonction de composants de circuits connus, de résultats de sortie prédits, et/ou de tolérances souhaitées.

[00051] Les avantages comportent la possibilité de vérifier le bon état d'un dispositif de capteur distant. De plus, les tendances de cet état peuvent être suivies dans le temps. L'intégrité de sections de la conception peut être vérifiée au moyen du signal capturé au niveau du convertisseur analogique/numérique. Un auto-étalonnage est également possible.

[00052] La présente divulgation facilite la vérification d'une chaîne de signaux de multiples éléments. Celle-ci garantit l'établissement d'une intégrité des composants et des fonctions et aide à détecter l'emplacement des défaillances le long d'un chemin de signal. Plus spécifiquement, elle porte sur la vérification de l'intégrité d'un chemin de signal depuis un cristal piézoélectrique à travers de multiples étages.

[00053] Les aspects et caractéristiques mentionnés décrits ici avec un ou plusieurs des exemples et figures détaillés antérieurement peuvent aussi être combinés avec un ou plusieurs des autres exemples afin de remplacer une caractéristique semblable de l'autre exemple ou afin d'ajouter la caractéristique à l'autre exemple.

[00054] Les exemples peuvent en outre être ou se rapporter à un programme informatique doté d'un code de programme pour mettre en œuvre un ou plusieurs des procédés ci-dessus, quand le programme informatique est exécuté sur un ordinateur ou un processeur. Les étapes, opérations ou processus des divers procédés décrits ci-dessus peuvent être mis en œuvre par des ordinateurs ou processeurs programmés. Les exemples peuvent également couvrir des dispositifs de mémorisation de programmes tels que des supports de mémorisation de données numériques, lesquels sont lisibles par machines, processeurs ou ordinateurs et coder des programmes d'instructions exécutables par machine, exécutables par processeur ou exécutables par ordinateur. Les instructions mettent en œuvre ou amènent la mise en œuvre d'une partie ou de la totalité des actions des procédés décrits ci-dessus. Les dispositifs de mémorisation de programmes peuvent comprendre ou être, par exemple, des mémoires numériques, des supports de mémorisation magnétiques tels que des disques magnétiques ou des bandes magnétiques, des disques durs, ou des supports de mémorisation de données numériques lisibles optiquement. D'autres exemples peuvent également couvrir des ordinateurs, processeurs ou unités de commande programmés pour exécuter les actions des procédés décrits ci-dessus ou des réseaux logiques programmables (par l'utilisateur) ((F)PLA) ou des réseaux prédiffusés programmables (par l'utilisateur) ((F)PGA), programmés pour mettre en œuvre les actions des procédés décrits ci-dessus.

[00055] La description et les dessins illustrent simplement les principes de la divulgation. En outre, tous les exemples cités ici visent principalement à ne servir expressément qu'à des fins pédagogiques pour aider le lecteur à comprendre les principes de la divulgation et les concepts avancés par le ou les inventeurs pour faire avancer la technique. Toutes les déclarations citant ici des principes, aspects et exemples de la divulgation, ainsi que des exemples spécifiques de ceux-ci, visent à englober leurs équivalents.

[00056] Un bloc fonctionnel désigné par “un moyen pour ...” exécuter une certaine fonction peut se référer à un circuit configuré pour exécuter une certaine fonction. Ainsi, un “moyen pour quelque chose” peut être mis en œuvre en tant que “moyen configuré pour ou convenant à quelque chose”, tel qu'un dispositif ou un circuit configuré pour, ou convenant à, la tâche respective.

[00057] Des fonctions de divers éléments montrés dans les figures, y compris tous blocs fonctionnels désignés “moyen”, “moyen pour fournir un signal”, “moyen pour générer un signal”, etc., peuvent être mises en œuvre sous forme de matériel dédié, tel qu’ “un fournisseur de signaux”, “une unité de traitement de signaux”, “un processeur”, “une unité de commande”, etc. ainsi qu'un matériel capable d'exécuter un logiciel en association avec un logiciel approprié. Lorsqu'elles sont assurées par un processeur, les fonctions peuvent être assurées par un seul processeur dédié, par un seul processeur partagé, par une pluralité de processeurs individuels, dont certains ou tous peuvent être partagés. Toutefois, le terme “processeur” ou “unité de commande” ne se limite aucunement au matériel uniquement capable d'exécuter un logiciel, mais peut couvrir un matériel de processeur de signaux numériques (DSP), un processeur de réseau, un circuit intégré spécifique à l'application (ASIC), un réseau prédiffusé programmable par l'utilisateur (FPGA), une mémoire morte (ROM) pour mémoriser un logiciel, une mémoire vive (RAM), et une mémoire rémanente. D'autres matériels, conventionnels et/ou personnalisés, peuvent aussi être inclus.

[00058] Un schéma de principe peut par exemple illustrer un diagramme de circuit général mettant en œuvre les principes de la divulgation. De la même façon, un organigramme, un diagramme de transition d'états, un pseudo code et similaires peuvent représenter différents processus, opérations ou étapes, lesquels peuvent, par exemple, être sensiblement représentés dans un support lisible par ordinateur et ainsi exécutés par un ordinateur ou processeur, que cet ordinateur ou ce processeur soit explicitement montré ou non. Les procédés divulgués dans la spécification ou dans les revendications peuvent être mis en œuvre par un dispositif doté de moyens pour exécuter chacune des actions respectives de ces procédés.

[00059] On comprendra que la divulgation de multiples actions, processus, opérations, étapes ou fonctions divulguées dans la spécification ou les revendications peut ne pas être entendue comme étant dans l'ordre spécifique, sauf indications contraires explicites ou implicites, par exemple pour des motifs techniques. En conséquent, la divulgation de multiples actions ou fonctions ne limite pas celles-ci à un ordre particulier à moins que ces actions ou fonctions ne soient pas interchangeables pour des motifs techniques. En outre, dans certains exemples un(e) seul action, fonction, processus, opération, étape peut inclure ou être 5 décomposé(e) en de multiples sous-actions, sous-fonctions, sous-processus, sous-opérations ou sous-étapes, respectivement. De telles sous-actions peuvent être incluses ou faire partie de la divulgation de cette action unique sauf exclusion explicite.

[00060] En outre, les revendications suivantes sont incorporées ici dans la description détaillée où chaque revendication est indépendante et constitue un exemple séparé. Bien que 10 chaque revendication soit indépendante et constitue un exemple séparé, on notera que, bien qu'une revendication indépendante puisse se référer dans les revendications à une combinaison spécifique d'une ou de plusieurs autres revendications, d'autres exemples peuvent également inclure une combinaison de la revendication dépendante avec le sujet de chaque autre revendication dépendante ou indépendante. De telles combinaisons sont proposées 15 explicitement ici sauf indication d'une combinaison spécifique non envisagée. De surcroît, l'intention est d'inclure également des caractéristiques d'une revendication dans toute autre revendication indépendante même si cette revendication n'est pas rendue directement dépendante de la revendication indépendante.

Claims

Revendications :

1. Circuit d'autotest (100, 300) comprenant :

des circuits d'entrée (110);

des circuits de test (130, 330) ; et un circuit à tester (120) couplé entre les circuits d'entrée et de test et comprenant au moins un cristal piézoélectrique (121);

dans lequel les circuits d'entrée sont configurés pour générer (210) et transférer (221) un signal électrique prédéfini comprenant au moins un signal sinusoïdal à travers au moins le cristal piézoélectrique du circuit à tester pour générer un signal de sortie, et dans lequel les circuits de test sont configurés pour analyser (230) le signal de sortie.
2. Circuit d'autotest selon la revendication 1, dans lequel le circuit à tester comprend en outre au moins l'un d'un circuit de filtre passe-bas, passe-bande et passe-haut (123), et dans lequel les circuits d'entrée sont configurés pour transférer le signal électrique prédéfini à travers le cristal piézoélectrique et l'au moins un du circuit de filtre passe-bas, passe-bande et passe-haut (123) du circuit à tester pour générer un signal de sortie.
3. Circuit d'autotest selon la revendication 1, dans lequel les circuits de test sont configurés pour réaliser des évaluations d'amplitude ou de fréquence de signal sur le signal de sortie.
4. Circuit d'autotest selon la revendication 1, dans lequel les circuits de test comprennent un processeur de signaux configuré pour convertir le signal de sortie du domaine temps au domaine fréquence et analyser le signal de sortie dans le domaine fréquence.
5. Circuit d'autotest selon la revendication 1, dans lequel les circuits d'entrée sont configurés pour générer l'au moins un signal sinusoïdal d'une fréquence supérieure à 0 Hz et inférieure à la fréquence de résonance du cristal piézoélectrique.
6. Circuit d'autotest selon la revendication 1, dans lequel les circuits d'entrée comprennent un processeur de signaux numériques (111) configuré pour générer un signal numérique prédéfini et convertir le signal numérique dans le domaine analogique pour générer le signal électrique prédéfini.
7. Circuit d'autotest selon la revendication 1, comprenant en outre un commutateur (313) configuré pour sélectionner un fonctionnement normal ou un mode de test, dans lequel, dans le mode test, le commutateur connecte les circuits d'entrée au circuit à tester et dans lequel le commutateur reste dans le mode de test au moins jusqu'à ce que le signal de sortie soit généré.
8. Procédé d'autotest (200) d'un circuit comprenant :

la génération (210) d'un signal électrique prédéfini ;

le transfert (221) du signal électrique prédéfini comprenant au moins un signal sinusoïdal à travers au moins un cristal piézoélectrique (121, 312) d'un circuit à tester pour générer un signal de sortie ; et l'analyse du signal de sortie.
9. Procédé selon la revendication 8, comprenant en outre le transfert du signal électrique prédéfini à travers le cristal piézoélectrique et au moins l'un d'un circuit de filtre passebas, passe-bande et passe-haut du circuit à tester pour générer un signal de sortie.
10. Procédé selon la revendication 8, dans lequel l'analyse du signal de sortie comprend la réalisation d'évaluations d'amplitude ou de fréquence de signal sur le signal de sortie.