FR2791445A1 - Procede et dispositif pour la compensation de charge de balayage dans un detecteur numerique - Google Patents
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Abstract
Un détecteur à pixels discrets (22) est compensé en charge dans une pluralité de modes de balayage. Dans chaque mode de balayage, un nombre différent de rangées (56) est validé, et des signaux produits en des emplacements de pixels discrets sont lus au niveau des colonnes (58) du détecteur. Les charges dues à la capacité parasite entre les rangées et les colonnes sont compensées en appliquant une tension de compensation aux rangées non validées. Le nombre de rangées recevant la tension de compensation varie en fonction du nombre de rangées validées dans chaque mode de balayage. Une tension de compensation unique peut être utilisée en appliquant la tension de compensation à un multiple fixe du nombre de rangées validées dans chaque mode de balayage.
Description
I Procédé et dispositif pour la compensation de charge de balayage dans un
détecteur numérique
La présente invention concerne de manière générale le domai-
ne des circuits de détection pour systèmes d'imagerie et systèmes simi-
laires. En particulier, l'invention concerne une technique pour com-
penser la capacité parasite dans un circuit de détection, tel qu'un cir-
cuit numérique à réseau de pixels utilisé dans les systèmes d'imagerie par rayons X.
Diverses techniques sont connues et sont actuellement utili-
sées pour donner des images de sujets d'intérêt. Par exemple, dans le
domaine de l'imagerie médicale, des techniques à rayons X sont utili-
sées depuis longtemps pour fournir des images utiles de l'anatomie in-
térieure d'un patient. Dans les techniques à rayons X classiques, on émet un rayonnement à travers un sujet et on le laisse entrer en contact avec un film photographique qui capture l'image désirée. Le film est
ensuite traité pour apporter du contraste entre les zones d'intérêt. Ré-
cemment, des techniques à rayons X numériques ont été développées, qui permettent une capture et un traitement numériques des images,
qui sont sauvegardées sous forme numérique, transmises, ré-impri-
mées, et ainsi de suite.
L'avènement des systèmes d'imagerie numérique, en particu-
lier les systèmes à rayons X, a soulevé un ensemble de problèmes, no-
tamment en ce qui concerne la conception et le fonctionnement des
circuits d'acquisition de données. Dans les systèmes à rayons X numé-
riques, par exemple, un détecteur est employé pour générer des si-
gnaux qui représentent une quantité ou une intensité de rayonnement frappant des éléments d'image individuels, ou pixels, d'une surface du détecteur. Pendant la séquence d'acquisition de données, l'ensemble de
circuits à l'intérieur du détecteur est balayé séquentiellement pour cap-
turer les signaux obtenus. Les signaux peuvent alors être traités pour
obtenir des données d'image utile qui sont ensuite utilisées pour recon-
struire l'image voulue. Les images sont ensuite affichées sur écran d'ordinateur, stockées sur film photographique classique, et ainsi de
suite, pour pouvoir être utilisées par les médecins et radiologues.
Dans un type de détecteur de rayons X numérique, des ran-
gées et des colonnes d'éléments de détection génèrent des signaux en réponse aux photons heurtant un scintillateur. Chaque élément est
constitué d'une photodiode et d'un transistor à couches minces. La ca-
thode de la diode est connectée à la source du transistor, et les anodes
de toutes les diodes sont connectées à une tension de polarisation né-
gative. Les grilles des transistors d'une rangée sont connectées ensem-
ble et l'électrode de rangée est connectée h des circuits électroniques
de balayage. Les drains des transistors de chaque colonne sont connec-
tés ensemble et chaque électrode de colonne est connectée à des cir-
cuits électroniques de lecture supplémentaires. Le balayage séquentiel des rangées et des colonnes permet au système d'acquérir la totalité de
l'ensemble ou matrice de signaux pour le traitement du signal et l'affi-
chage subséquents.
Dans les détecteurs numériques du type décrit ci-dessus, des problèmes se présentent, dûs à la capacité parasite entre les colonnes et les rangées. En général, quand la tension de commande de rangées
passe d'une tension "arrêt " à une tension "marche", la capacité parasi-
te entre chaque rangée et chaque colonne provoque l'apparition d'une
charge au niveau de l'électrode de colonne. Cette tension peut provo-
quer de mauvaises lectures, saturer les circuits de capteurs, et provo-
quer des anomalies dans les données d'image obtenues. Ces dernières,
à leur tour, peuvent donner lieu à des artefacts indésirables.
Des techniques ont été développées pour compenser cette ca-
pacité parasite. Dans une technique connue, par exemple, la charge sur une colonne est compensée par une tension de compensation appliquée aux rangées autres que la ou les rangées sous tension. De plus, on peut changer le nombre de rangées auxquelles est appliquée la tension de compensation, ou bien l'on peut modifier la tension de compensation
elle-même pour fournir le degré de compensation nécessaire.
Bien que la technique précitée apporte des résultats générale-
ment satisfaisants, elle n'est pas sans inconvénients. Par exemple, en fonction du mode de balayage employé avec le détecteur, on peut ba-
layer une seule ou plusieurs rangées à la fois. De plus, lorsque plu-
sieurs rangées sont balayées simultanément, des modes de balayage
différents peuvent demander différents nombres de rangées à balayer.
Les techniques de compensation existantes ne sont pas bien adaptées à ces modes multiples de balayage. De telles techniques pourraient faire appel à des tensions de compensation différentes pour les différents
modes de balayage, en fonction du nombre de rangées balayées simul-
tanément, mais ces adaptations nécessitent des circuits de polarisation analogique plus compliqués, et elles pourraient demander des niveaux de tension de compensation qui peuvent dépasser les limites de
conception souhaitées.
Il existe, par conséquent, un besoin pour une technique amé-
liorée de compensation du couplage capacitif dans les circuits de dé-
tection numérique qui facilite la mise en oeuvre de modes de balayage multiples. Par ailleurs, il existe un besoin pour une combinaison de compensation améliorée qui permette des modes de balayage à rangées simples ou multiples, tout en permettant l'utilisation d'une tension de
compensation uniforme dans chacun des différents modes.
La présente invention propose une technique nouvelle de compensation en tension pour détecteurs numériques afin de répondre
à ces besoins. Cette technique peut être employée dans toute une va-
riété de dispositifs, et est particulièrement bien adaptée pour une mise en oeuvre dans un détecteur de rayons X numérique. Cette technique propose plusieurs modes de balayage différents, tels que le balayage
de rangée simple, double ou multiple, comme par exemple pour ba-
layer 16 ou 32 rangées d'un coup dans le détecteur. En fonction du mo-
de de balayage choisi, un nombre différent de rangées sont polarisées à une tension de compensation, compensant de ce fait les charges dues à la capacité parasite entre rangées et colonnes. Cette technique peut être utilisée dans des détecteurs présentant diverses configurations d'échantillonnage ou de balayage de rangées et de colonnes. De même, cette technique peut être employée dans des scanners ayant diverses dimensions de matrice de pixels. Cette technique répond donc à des
scénarios de balayage exigeants dans lesquels un grand nombre de ran-
gées doivent être compensées, tout en permettant à un nombre plus fai- ble de rangées d'être compensées dans des modes de balayage moins exigeants. Ainsi, selon un premier aspect de l'invention, un procédé pour balayer des données d'image dans un détecteur à pixels discrets
est proposé. Le détecteur est du type comportant une pluralité de ran-
gées et une pluralité de colonnes agencées en une matrice d'image.
D'après ce procédé, la lecture de données d'image des rangées est per-
mise séquentiellement dans un mode parmi une pluralité de modes de balayage. Dans chacun des modes de balayage, un nombre différent de rangées est validé. Pour chaque étape séquentielle de validation de
rangée, une tension de compensation est appliquée à un groupe d'au-
tres rangées. La tension de compensation est la même pour chacun des différents modes de balayage. Par conséquent, un nombre différent de rangées reçoit la tension de compensation dans chacun des modes de balayage. Pour chaque étape séquentielle de validation de rangée, des
données d'image sont alors lues dans chaque colonne du détecteur.
La tension de compensation est déterminée de façon appro-
priée en référence au mode de balayage le plus exigeant, c'est-à-dire, dans lequel un nombre de rangées maximum est balayé. Ensuite, une
tension de compensation unique peut être appliquée pour la compensa-
tion des charges de capacité parasite, le nombre de rangées recevant la
tension de compensation étant proportionnellement le même par rap-
port au nombre de rangées validées dans chaque mode de balayage. La
tension de compensation peut être déterminée en se basant sur des fac-
teurs tels que le rapport rangées validées/rangées de compensation, une tension seuil, une tension de validation, une tension "arrêt" ou
d'invalidation et des valeurs anticipées ou réelles de capacité parasite.
L'invention propose également un procédé pour compenser
les charges dans un détecteur de pixel élémentaire dans lequel un nom-
bre maximum de rangées à valider pendant n'importe lequel des modes d'une pluralité de modes de balayage est déterminé, de même qu'est déterminé un nombre maximum désiré de rangées à utiliser pour la
compensation de charge quand les rangées validées maximum sont oc-
cupées. La tension de compensation désirée est alors déterminée en se basant sur le nombre maximum de rangées validées et le nombre de
rangées à utiliser pour la compensation. Une fois cette tension de com-
pensation établie, le nombre de rangées de compensation peut être dé-
terminé pour chacun des modes de balayage de la pluralité de modes.
Une fois encore, le rapport entre le nombre de rangées validées et le nombre de rangées de compensation peut rester constant dans tous les
différents modes de balayages.
L'invention propose également un système de détecteur adap-
té pour mettre en oeuvre les techniques de compensation de charge. Le système de détecteur comprend des circuits permettant de valider des rangées, ainsi que des circuits permettant d'appliquer des tensions de compensation à un certain nombre de rangées pendant chaque étape de validation. L'ensemble de circuits permet par conséquent à une tension
de compensation unique d'être utilisée pour la compensation de char-
ge, indépendamment du nombre de rangées validées à un instant don-
né.
La présente invention propose un procédé de balayage de
données d'image dans un détecteur à pixels discrets, le détecteur com-
portant une pluralité de rangées et une pluralité de colonnes. Le procé-
dé comprend les étapes consistant à valider et lire séquentiellement
des données d'image dans chaque rangée dans un premier mode de ba-
layage ou un deuxième mode de balayage; dans le premier mode, des données provenant d'un premier nombre de rangées prédéterminé sont validées et dans le deuxième mode un deuxième nombre plus grand de rangées est validé. Pour chaque étape séquentielle de validation de rangée, appliquer une tension de compensation à un groupe d'autres rangées, la tension de compensation étant la même pour le premier et le deuxième modes de balayage. Et, pour chaque étape séquentielle de validation de rangée, lire des données d'image dans chaque colonne du détecteur.
Le nombre des autres rangées auxquelles la tension de com-
pensation est appliquée peut être supérieur au nombre de rangées vali-
dées pendant chaque étape séquentielle de validation de rangée.
Le nombre des autres rangées auxquelles la tension de com-
pensation est appliquée pendant chaque étape de validation de rangée peut être égal à 31 fois le nombre de rangées validées. Les colonnes du détecteur peuvent être configurées pour être
lues séquentiellement.
Dans une variante, au moins une rangée est validée séquen-
tiellement dans le premier mode de balayage et au moins deux rangées
sont validées séquentiellement dans le deuxième mode de balayage.
Dans une autre variante, le nombre des autres rangées aux-
quelles la tension de compensation est appliquée pour chaque étape de validation de rangée est prédéterminé en se basant sur un nombre maximum de rangées validées à tout moment dans n'importe quel mode
de balayage.
Dans une variante, la tension de compensation est basée sur
le rapport du nombre de rangées validées dans chaque mode de balaya-
ge, le nombre de rangées disponibles pour la compensation et une ex-
cursion de tension positive de rangées validées.
Dans une autre variante, le nombre de rangées auxquelles la
tension de compensation est appliquée pendant chaque étape de valida-
tion de rangée est un multiple prédéterminé du nombre de rangées va-
lidées.
Dans une variante, le rapport du nombre de rangées auxquel-
les la tension de compensation est appliquée pendant chaque étape de validation de rangée au nombre de rangées validées pendant chaque étape de validation est déterminé par la relation Rc:Re = (M-k):k
o Rc est le nombre de rangées auxquelles on applique la ten-
sion de compensation pendant chaque étape de validation de rangées, Re est le nombre de rangées validées pendant l'étape de validation de
rangées, M est le nombre total de rangées disponibles pour la valida-
tion et la compensation, et k est un nombre maximum de rangées vali-
dées à tout instant dans n'importe quel mode de balayage.
L'invention propose également un procédé pour compenser des charges induites par balayage dans un détecteur à pixels discrets, le détecteur comportant une pluralité de rangées et de colonnes à partir desquelles on peut lire des signaux d'image. Le procédé comprend les étapes consistant à déterminer un nombre maximum de rangées Remax à valider pendant l'un quelconque des modes d'une pluralité de modes de balayage; déterminer un nombre maximum souhaité de rangées Rcmax à
utiliser pour la compensation de charge quand le nombre Remax de ran-
gées est validé; et déterminer une tension de compensation souhaitée
Vc en se basant au moins sur Remax et Rcmax.
Le procédé peut comprendre de plus les étapes consistant à déterminer au moins deux nombres différents de rangées Re1 et Re2 à
valider pendant au moins deux modes de balayage respectifs; et déter-
miner des nombres de rangées Rc1 et Rc2 auxquels on applique la mê-
me tension de compensation Vc pour chaque mode de balayage en se basant sur les nombres Re1 et Re2 et sur la tension de compensation Vc.
La valeur de Rcmax peut être la différence entre le nombre to-
tal de rangées dans une partie prédéterminée du détecteur et la valeur Remax. On peut déterminer une tension de compensation Vc unique
pour au moins trois modes de balayage différents, des nombres diffé-
rents de rangées Re1, Re2, Re3 étant validés dans chaque mode de ba-
layage, et des nombres de rangées différents correspondants Rc!, Rc2,
Rc3 recevant la tension de compensation Vc dans chaque mode de ba-
layage.
Le rapport du nombre de rangées validées au nombre de ran-
gées recevant la tension de compensation peut être le même dans cha-
cun des modes de balayage.
L'invention propose également un système formant détecteur numérique pour lire des signaux dans une pluralité d'emplacement
agencés en rangées et colonnes d'une matrice. Le système formant dé-
tecteur comprend un circuit de commande de rangées configuré pour appliquer aux rangées une tension parmi une pluralité de tensions, les
tensions comprenant une tension de validation, une tension d'invalida-
tion et une tension de compensation de charge, le circuit de commande de rangée appliquant séquentiellement la tension de validation à au moins deux différents nombres de rangées dans au moins deux modes
de balayage respectifs, et appliquant une tension unique de compensa-
tion de charge à une pluralité de rangées dans chacun des modes de ba-
layage; et des circuits de lecture de colonnes configurés pour lire les signaux provenant du système formant détecteur pendant chacun des
modes de balayage.
Le circuit de commande de rangées peut appliquer la tension
de compensation à un nombre de rangées égal à un multiple prédéter-
miné du nombre de rangées validées séquentiellement.
Le multiple prédéterminé peut être constant dans toute la plu-
ralité de modes de balayage.
Dans un mode de réalisation préféré, le multiple prédéterminé
est 31.
Le circuit de commande de rangées peut comprendre une plu-
ralité de circuits formant dispositif de commande de rangées, chaque
circuit formant dispositif de commande de rangées commandant l'ap-
plication des tensions de validation, d'invalidation et de compensation
à une pluralité de rangées du système formant détecteur.
Le circuit de commande de rangées peut être configuré pour appliquer les tensions de validation et de compensation dans au moins
3 modes de balayage différents.
L'invention propose également un système d'imagerie à
rayons X numérique configuré pour générer des images d'un sujet d'in-
térêt. Ce système comprend une source de rayons X, un détecteur nu-
mérique pour détecter le rayonnement émis par la source et pour géné-
rer des signaux représentant ce dernier dans un réseau prédéterminé de
rangées et de colonnes, et un circuit de commande de détecteur, le cir-
cuit de commande étant configuré pour appliquer des signaux de vali-
dation et des signaux de compensation de charge au détecteur dans au
moins deux modes de balayage différents et pour lire les signaux pro-
venant du détecteur pendant l'application des signaux de lecture et de
compensation de charge.
Dans une variante, dans chaque mode de balayage le circuit de commande de détecteur applique les signaux de validation à des nombres différents de rangées et applique les signaux de compensation
de charge à un multiple prédéterminé de rangées validées.
Le multiple prédéterminé peut être déterminé en se basant sur un nombre maximum de rangées recevant le signal de validation à tout instant dans n'importe quel mode de balayage.
Le multiple prédéterminé peut être 31.
Le détecteur peut comprendre une pluralité d'unités, chaque unité comprenant une pluralité de rangées, et le circuit de commande de détecteur comprend une pluralité de dispositifs de commande pour
commander la pluralité d'unités.
Le circuit de commande de détecteur peut être configuré pour
lire les signaux générés par le détecteur au niveau des colonnes pen-
dant que sont validés différents nombres de rangées pendant chacun
des modes de balayage.
La présente invention sera mieux comprise à la lecture de la
description détaillée suivante, faite en référence aux dessins d'accom-
pagnement dans lesquels: la figure 1 est un schéma fonctionnel général d'un système
d'imagerie à rayons X numérique employant une technique de compen-
sation selon certains aspects de la présente invention; la figure 2 est une représentation sous forme de diagramme
d'un système de détecteur numérique destiné à être utilisé dans un sys-
tème d'imagerie du type de la figure 1; la figure 3 est une représentation sous forme de diagramme d'une partie des circuits de détection de la figure 2, représentant en
particulier les circuits servant à balayer les rangées et colonnes du dé-
tecteur; la figure 4 est une représentation schématique d'un circuit de
compensation servant à mettre en oeuvre la présente technique de com-
pensation;
la figure 5 est un diagramme illustrant divers modes de ba-
layage qui peuvent être mis en oeuvre et compensés par la présente
technique;--
la figure 6 est une représentation graphique d'une compensa-
tion séquentielle de rangées selon la présente technique; et la figure 7 est une représentation graphique d'un balayage
multi-rangées compensé selon la présente technique.
La figure 1 représente un système d'imagerie sous forme d'un système à rayons X numérique 10. Le système d'imagerie 10 comprend une source de rayonnement X 12 adjacente à un collimateur 14. Le collimateur 14 permet à un flux 16 de rayonnement de passer dans une
région dans laquelle un sujet, tel qu'un patient humain 18, est placé.
Une partie du rayonnement 20 passe à travers ou autour du sujet et
vient heurter un détecteur de rayons X numérique représenté générale-
ment par le numéro de référence 22. Comme décrit plus en détail plus
loin, le détecteur 22 convertit les photons de rayons X reçus à sa sur-
face en des photons d'énergie plus faible, puis en signaux électriques
qui sont stockés et traités pour reconstruire une image des caractéristi-
ques de l'intérieur du sujet.
La source 12 est commandée par un circuit d'alimenta-
tion/commande 24 qui fournit à la fois du courant et des signaux de commande pour les séquences d'examen. De plus, le détecteur 22 est couplé à un contrôleur 26 de détecteur qui commande l'acquisition des signaux générés dans le détecteur. Le contrôleur 26 de détecteur peut
également exécuter diverses fonctions de traitement du signal et de fil-
trage, telles que le réglage des plages dynamiques, l'entrelacement des
données d'image numérique, et ainsi de suite. Le circuit d'alimenta-
tion/commande 24 aussi bien que le contrôleur 26 de détecteur sont
sensibles aux signaux provenant d'un contrôleur 28 de système. En gé-
néral, le contrôleur 28 de système commande le fonctionnement du système d'imagerie pour exécuter des protocoles d'examens et pour traiter les données d'image acquises. En conséquence, le contrôleur 28
de système comprendra typiquement un ordinateur polyvalent ou per-
sonnalisé, des circuits de mémoire associés, des circuits d'interface, et ainsi de suite. Dans le mode de réalisation illustré en figure 1, le
contrôleur 28 de système est relié à un dispositif d'affichage/impri-
mante 30 et à une station de travail 32 pour opérateur. Dans une confi-
guration typique du système, le dispositif d'affichage/imprimante 30
permettra de récupérer les images en vue de leur utilisation par un mé-
decin ou un radiologue. La station de travail 32 pour opérateur permet à un clinicien ou à un radiologue de diriger l'examen, elle permet aux configurations du système d'être revues, etc. La figure 2 est une représentation sous forme de diagramme
de composants fonctionnels du détecteur numérique 22. La figure 2 re-
présente également un contrôleur de détecteur de système d'imagerie ou CDI 34 qui est typiquement configuré à l'intérieur du contrôleur 26
de détecteur. Le CDI 34 comprend une unité centrale (UC) ou un dis-
positif de traitement numérique des signaux, ainsi que des circuits de mémoire pour commander l'acquisition des signaux détectés provenant
du détecteur. Le CDI 34 est couplé via des conducteurs à fibres opti-
ques bi-latéraux au circuit de commande 36 de détecteur à l'intérieur du détecteur 22. Le CDI 34, de cette manière, échange des signaux de
commande pour les données d'image avec le détecteur pendant le fonc-
tionnement.
Le circuit de commande 36 de détecteur reçoit une alimenta-
* tion en courant continu d'une source d'alimentation représentée géné-
ralement par le numéro de référence 38. Le circuit de commande 36 de
détecteur est configuré de façon à produire des instructions de syn-
chronisation et de commande pour les dispositifs de commande de ran-
gées et de colonnes utilisés pour transmettre les signaux détectés pen-
dant une phase d'acquisition de données. Le circuit 36 transmet par
conséquent de l'énergie et des signaux de commande à un circuit de ré-
férence/régulateur 40, et reçoit des données de pixel d'image numéri-
que en provenance du circuit 40.
Le détecteur 22 est constitué d'un oscillateur qui convertit les photons des rayons X reçus sur une surface du détecteur pendant les
examens en photons d'énergie plus faible (lumière). Un réseau de pho-
todétecteurs convertit alors les photons de lumière en signaux électri-
ques qui représentent le nombre de photons ou l'intensité du rayonne-
ment heurtant les régions de pixels individuels de la surface du détec-
teur. Comme décrit ci-dessous, les circuits électroniques de lecture convertissent les signaux analogiques obtenus en valeurs numériques
qui peuvent être traitées, stockées, et affichées en utilisant des techni-
ques de traitement d'images bien connues. Dans un mode de réalisation actuellement préféré, le réseau de photodétecteurs est fait d'un seul morceau de silicium amorphe. Les éléments du réseau sont organisés
en rangées et colonnes, chaque élément étant constitué d'une photodio-
de et d'un transistor à couches minces. La cathode de chaque diode est connectée à la source du transistor, et les anodes de toutes les diodes sont connectées à une tension de polarisation négative. Les grilles des
transistors de chaque rangée sont connectées ensemble et les électro-
des de rangée sont reliées aux circuits électroniques de balayage dé-
crits plus loin. Les drains des transistors de chaque colonne sont
connectés ensemble et une électrode pour chaque colonne est connec-
tée aux circuits électroniques de lecture.
Dans le mode de réalisation particulier illustré en figure 2, un bus 42 pour rangées comprend une pluralité de conducteurs pour permettre la lecture des différentes rangées du détecteur ainsi que pour invalider des rangées et appliquer une tension de compensation de charge à des rangées sélectionnées. Un bus 44 pour colonnes comprend des conducteurs supplémentaires servant à commander la lecture des colonnes tandis que les rangées sont validées séquentiellement. Le bus 42 des rangées est couplé à une série de dispositifs de commande 46 de rangées, chacun d'entre eux commandant la validation d'une série
de rangées dans le détecteur. De manière similaire, les circuits électro-
niques de lecture 48 sont couplés au bus 44 des colonnes pour com-
mander la lecture de toutes les colonnes du détecteur.
Dans le mode de réalisation illustré, les dispositifs de com-
mande 46 de rangées et les circuits électroniques de lecture 48 sont couplés à un panneau 50 de détecteur qui est subdivisé en une pluralité
d'unités 52. Chaque unité 52 est couplée à l'un des dispositifs de com-
mande 46 de rangées, et comprend 256 rangées. De même, chaque dis-
positif de commande 48 de colonne est couplé à une série de colonnes.
L'agencement de photodiodes et de transistors à couches minces men-
tionné plus haut définit donc une série de pixels ou d'éléments d'imagediscrets 54 qui sont agencés en rangées 56 et colonnes 58. Les rangées et colonnes définissent une matrice 60 d'image présentant une hauteur
62 et une largeur 64.
Il est à noter que la configuration particulière du panneau 50
de détecteur, et la subdivision du panneau en rangées et colonnes com-
mandée par les dispositifs de commande de rangées et de colonnes est sujette à diverses variantes de configuration. En particulier, on peut
utiliser plus ou moins de dispositifs de commande de rangées et de co-
lonnes, et l'on peut y définir des panneaux de détecteur présentant di-
verses dimensions de matrice. Par exemple, dans un présente mode de
réalisation, 8 unités de 256 rangées sont définies pour donner une hau-
teur 62 de 2048 rangées. De plus, le panneau de détecteur peut être en-
core subdivisé en régions d'unités multiples, comme par exemple le
long d'une ligne centrale verticale ou horizontale.
La figure 3 représente plus en détail deux des dispositifs de commande 46 de rangées représentés en figure 2 couplé au panneau 50
de détecteur. Comme mentionné ci-dessus, les dispositifs de comman-
de 46 de rangées reçoivent divers signaux de commande provenant du circuit de référence/régulateur 40 pour la validation de rangées dans le
panneau de détecteur. Dans le mode de réalisation illustré, chaque dis-
positif de commande 46 de rangées comprend une paire de circuits in-
tégrés de dispositif de commande de rangées ou CIDCR 66 et 68. Cha-
que CIDCR est configuré pour commander la validation de 128 rangées
du détecteur. Le circuit de référence/régulateur 40 reçoit divers si-
gnaux de commande et d'instructions pour le fonctionnement des
CIDCR, tels que des signaux de commande de mode balayage, des si-
gnaux de commande de compensation de charge, des signaux à impul-
sions de validation, et ainsi de suite. Dans une configuration actuelle-
ment préférée, le circuit 40 inclut une logique de commande configu-
rée pour la commande des CIDCR. Le circuit 40 transmet les comman-
des sur une pluralité de conducteurs du bus 42 des rangées (voir figure 2). Dans la représentation sous forme de diagramme de la figure 3, trois de ces conducteurs sont illustrés, comprenant un conducteur
Vmarche 70, un conducteur Varrêt 72, et un conducteur Vcomp 74.
Chaque conducteur est relié à chaque CIDCR. Les autres conducteurs (non représentés) sont prévus comme décrit plus loin, en référence en particulier à la figure 4, pour commander la sortie des CIDCR afin de valider, invalider et compenser en charge les rangées individuelles du détecteur. Comme mentionné ci-dessus, chaque dispositif de commande de rangées est couplé à une pluralité d'électrodes de rangée, comme
l'électrode 76 de rangée illustrée en figure 3. Chaque électrode de ran-
gée traverse une série d'électrodes de colonne, dont une seule électro-
de 78 est représentée en figure 3. Comme mentionné ci-dessus, les photodiodes et les transistors à couches minces (non représentés en figure 3) sont couplés à chaque électrode de rangée et de colonne pour former le réseau du panneau de détecteur. Chaque électrode de colonne est couplée à un circuit intégré amplificateur de lecture analogique CILA 80 qui extrait le signal produit au niveau de la photodiode de chaque croisement de rangée et de colonne pendant les séquences de lecture. La lecture des signaux détectés par le détecteur s'effectue comme suit. Des modes de balayage multiple peuvent être sélectionnés
pour lire des données provenant du détecteur, ou pour tester le détec-
teur. Dans un mode de réalisation actuellement préféré, quatre de ces modes de lecture ou de balayage sont prévus. Dans un premier mode
ou mode à haute résolution, on valide une seule rangée à la fois. Pen-
dant que chaque rangée du panneau est ainsi séquentiellement validée
pour la lecture, les colonnes du détecteur sont analysées, et tous les si-
gnaux provenant du réseau sont de cette manière lus progressivement.
En particulier, un registre à décalage à 128 bits est compris dans cha-
que CIDCR. On fait passer un bit de mise en route dans le CIDCR, et dans les CIDCR successifs couplés au panneau. Ainsi, la validation commence avec un bit de démarrage et se déplace le long de la série de rangées, soit dans un format de balayage extérieur-vers-intérieur
soit dans un format intérieur-vers-extérieur.
Dans un deuxième mode de balayage, on valide simultané-
ment des paires de rangées, et les colonnes sont analysées pour chaque paire de rangées. Il est à noter que dans le présent mode de réalisation, les circuits électroniques de lecture de colonne du CILA réalisent une conversion analogique-numérique des signaux détectés. Dans chaque
mode de lecture, les signaux sont ensuite transmis à des circuits élec-
troniques de commande, puis du détecteur au CDI et au contrôleur du système.
En plus des modes de lecture ou de balayage résumés ci-des-
sus, dans un présent mode de réalisation, des modes de "deuxième or-
dre" sont prévus dans lesquels 16 ou 32 rangées contiguës sont déca-
lées dans le panneau. Dans ces modes également, la charge des rangées validées est compensée par une combinaison de compensation comme décrit ci-dessous. Les modes de deuxième ordre fonctionnent par
ailleurs de manière similaire aux autres modes de lecture.
La validation des rangées du panneau est réalisée en faisant passer une tension appliquée à l'électrode correspondante de la ou des rangée(s) validée(s) d'un état "arrêt" à un état "marche". Cependant, en raison de la capacité parasite entre les rangées et les colonnes, comme représenté avec le numéro de référence 82 dans la figure 3, une charge est injectée par les rangées sur les colonnes qui peut conduire à une
saturation de l'amplificateur CILA, provoquant des artefacts non dési-
rés dans l'image reconstruite obtenue. Cette capacité parasite peut voir son origine dans diverses sources et peut présenter des caractéristiques diverses en fonction de ces sources. Ces sources peuvent comprendre le transistor à effet de champ lui-même à chaque croisement de rangée et de colonne, entre autres. De plus, certaines des sources de capacité parasite peuvent exister dans la structure du détecteur elle-même, comme indiqué par le numéro de référence 82 dans la figure 3, tandis qu'une autre capacité parasite, indiquée par le numéro de référence 82a dans la figure 3, peut provenir d'états transitoires du détecteur, tels qu'indiqués par le numéro de référence 83 dans la figure 3. Ainsi, la
capacité peut être ou ne pas être constante à chaque croisement de ran-
gée et de colonne, et peut varier légèrement à certains endroits dans le détecteur.
Dans la présente technique, de telles charges sont compen-
sées par l'application d'une tension différentielle ou polarisation de compensation Vcomp à une série de rangées non validées. Bien que la compensation de charge de modes à balayage multiple pourrait en
théorie être accomplie en faisant varier la valeur de Vcomp, la présen-
te technique permet d'employer une tension de compensation unique pour toute la pluralité de modes de balayage. En fonction du nombre
de rangées qui sont validées en même temps dans les modes de balaya-
ge, un nombre différent de rangées sont compensées en charge pour
modifier la charge de capacité parasite créée par les rangées validées.
Les séquences de synchronisation et les circuits logiques préférés pour exécuter cette technique de compensation de charge sont décrits plus
en détail ci-dessous.
Dans le présent mode de réalisation, un niveau approprié de tension de compensation Vcomp est déterminé en passant en revue les exigences des modes de balayage les plus exigeants. Par exemple, dans
le présent mode de réalisation, le mode de deuxième ordre à 32 ran-
gées donne le plus petit nombre proportionnel de rangées restantes dis-
ponibles pour la compensation de charge. Plus spécifiquement, dans un scanner ou une unité de scanner à 1024 rangées, le mode de deuxième
ordre à 32 rangées laisse 992 rangées disponibles pour la compensa-
tion de charge possible. Les autres modes de balayage validant tous si-
multanément moins de rangées, il y a plus de rangées disponibles pour la compensation de charge dans ces modes de balayage. Cependant, afin de disposer d'une tension de compensation Vcomp constante pour toute la série de modes, ce qui permet de simplifier les circuits et la logique, le cas du mode de balayage à 32 rangées est utilisé comme
base pour établir la tension de compensation. La combinaison de com-
pensation et la tension sélectionnée, bien entendu, peuvent être sujet-
tes à des séquences de calibration adaptées à l'application et au détec-
teur pour régler le système comme souhaité.
En particulier, la tension de compensation est déterminée en se basant sur des facteurs tels que le rapport du nombre de rangées restantes et disponibles pour la compensation de charge dans un mode de balayage et le nombre maximum de rangées qui sont validées dans le même mode de balayage. Le mode de balayage est de préférence un mode comportant le plus de rangées validées à tout moment et le moins de rangées disponibles pour la compensation. Ce rapport peut être exprimé comme suit: Rc:Re = (M-k):k (équ. 1); o Rc est le nombre de rangées auxquelles on applique la tension de
compensation à chaque étape de validation de rangées, Re est le nom-
bre de rangées validées pendant l'étape de validation de rangées, M est
le nombre total de rangées disponibles pour la lecture et la compensa-
tion, et k est un nombre maximum de rangées validées à tout instant dans n'importe quel mode de balayage. Ainsi, dans le présent mode de réalisation, le rapport Rc:Re est de 31 (c'est-à-dire (1024-32): 32). Les personnes du métier apprécieront le fait que la même technique peut
être employée pour d'autres configurations de panneau et de balayage.
En outre, on peut utiliser la même technique pour moins que 4 modes
de balayage, y compris simplement 2 modes de balayage, o une ten-
sion de compensation unique est souhaitée, mais aussi pour plus de
quatre modes de balayage.
La relation qui précède permet une tension de compensation unique ainsi qu'une détermination du nombre de rangées qui doivent recevoir la tension de compensation pendant chaque étape séquentielle de validation de chaque mode de balayage. Plus spécifiquement, le nombre de rangées recevant la tension de compensation dans chacun des modes de balayage peut être exprimé par la relation: Rc = (M-k) * n/k (équ. 2); o les valeurs Rc, M et k sont les mêmes que dans l'équation 1 donnée plus haut, et o la valeur n est le nombre de rangées analysées ou lues
simultanément dans le mode de balayage particulier.
Par ailleurs, les CIDCR du présent mode de réalisation sont conçus pour offrir deux modes de compensation, à savoir un mode de compensation "complet" et un mode de compensation "partiel". Pour le
balayage à une rangée, un CIDCR voisin de chaque dispositif de com-
mande de rangée fonctionne dans le mode de compensation "partiel"
dans lequel 31 des 128 rangées commandées en tout sont compensées.
De même, pour le mode de balayage à deux rangées, deux CIDCR voi-
sins couplé au panneau sont compensés dans le mode de compensation "partiel" si bien que 62 des 256 rangées sont compensées. Le mode de compensation "complet" est employé pour les modes de balayage à 16
et 32 rangées. Dans ce mode de compensation, toutes les rangées com-
mandées par les deux CIDCR d'au moins deux dispositifs de comman-
de de rangées sont actives. En particulier, dans le mode de balayage à 16 rangées, 496 rangées reçoivent la tension de compensation afin de
maintenir le rapport voulu et d'utiliser le niveau de tension de com-
pensation unique. Ceci est accompli en validant séquentiellement 16 rangées à la fois couplées à deux dispositifs de commande de rangées, y compris le CIDCR commandant les rangées, toutes les autres rangées
couplées aux dispositifs de commande recevant la tension de compen-
sation. Etant donné que, dans le présent mode de réalisation, chaque
dispositif de commande de rangée commande la validation de 256 ran-
gées, le rapport désiré et la tension de compensation uniforme Vcomp sont maintenus pendant que les groupes de 16 rangées sont validés et le reste (496 rangées) reçoit la tension de compensation. Dans le mode de balayage à 32 rangées, 4 dispositifs de commande de rangées sont commandés de sorte que des groupes de 32 rangées sont validés, tandis que toutes les autres rangées couplées aux 4 dispositifs de commande de rangées reçoivent la tension de compensation. Ici encore, le rapport
uniforme est maintenu, tout comme la différence de tension de com-
pensation requise pour modifier la charge.
Les relations précitées peuvent être exprimées comme suit Rangées balayées Mode Comp CIDCR Rc Rapport Re/RC 1 _ Partiel 31 31 2 Partiel 62 31 16 Complet 496 31 32 Complet 992 31
Comme mentionné ci-dessus, la combinaison de compensa-
tion précitée peut être modifiée pour s'adapter à une grande variété de circuits électroniques de panneaux et de commande de rangées. En particulier, la même approche de compensation peut être adaptée à des panneaux comprenant plus ou moins de rangées, des panneaux dans
lesquels les colonnes sont validées contrairement aux rangées, des dé-
tecteurs dans lesquels les circuits électroniques de commande sont configurés autrement, et ainsi de suite. En particulier, la présente technique n'est pas destinée à être limitée aux détecteurs dans lesquels on valide les rangées séquentiellement et les colonnes sont lues. Elle est, au contraire, destinée à être étendue à des systèmes similaires
dans lesquels les colonnes sont séquentiellement validées et les ran-
gées sont séquentiellement lues. De même, en fonction des modes de balayage particuliers mis en ouvre, le rapport constant entre rangées
validées et rangées de compensation qui facilite l'utilisation d'une ten-
sion de compensation unique peut être modifié. La présente technique simplifie donc sensiblement la compensation de tout un ensemble de
modes de balayage, dont les modes précités ne sont que des exemples.
La figure 4 représente une partie d'un circuit de commande 84 à semiconducteurs employé dans les dispositifs de commande de
rangées évoqués plus haut. Comme montré en figure 4, la sortie du cir-
cuit peut avoir une valeur VMARCHE, correspondant à la tension de va-
lidation, une valeur VARRT, correspondant à l'état "arrêt", ou une va-
leur Vcomp, correspondant à l'état de tension de compensation. Les
transistors du circuit 84 sont couplés à des sources de tension corres-
pondantes, par exemple par les conducteurs 70,72 et 74 (voir figure 3), comme montré par les numéros de référence 86, 88 et 90. Dans le mode de réalisation illustré, trois transistors 92, 94 et 96 sont reliés les uns aux autres comme illustré. En particulier, le transistor 92 est
un transistor à effet de champ à technologie métal-oxyde-semiconduc-
teur (MOSFET) à canal P, dont la grille est couplée à une ligne de
commande 98, dont la source est couplée à la tension VMARCHE (com-
me illustré au niveau du numéro de référence 86), et dont le drain est couplé à une ligne de sortie 108. Le transistor 94 est un transistor MOSFET à canal N dont la grille est couplée à une ligne de commande
, dont la source est couplée à la tension VARR T (numéro de réfé-
rence 88), et dont le drain est couplé à la ligne de sortie 108. Enfin, le transistor 96 est aussi un MOSFET à canal N, dont la grille est couplée à une troisième ligne de commande 102, dont la source est couplée à la tension Vcomp (au niveau du numéro de référence 90), et dont le drain
est couplé à la ligne de sortie 108.
Les lignes de commande 98, 100 et 102 sont couplées à des dispositifs amont de logique de commande et transmettent des signaux de commande aux transistors pour sélectionner la tension sur la ligne
de sortie 108 qui est transmise à l'électrode de rangée particulière.
Dans le présent mode de réalisation, 128 de ces circuits sont compris sur chaque CIDCR pour commander les rangées correspondantes du
détecteur. Comme pourront l'apprécier les gens du métier, quand un si-
gnal logique "bas" est transmis sur la ligne de commande 98, le trans-
istor 98 est nmis dans un état conducteur, appliquant la tension de vali-
dation VMARCHE à la ligne de sortie 108. Bien entendu, pendant ce
temps, la logique de commande rend les transistors 94 et 96 non pas-
sants. Un signal logique "haut" sur la ligne de commande 100 fait pas-
ser le transistor 94 à un état conducteur pour appliquer le niveau bas
logique ou tension d'arrêt VARRiT à l'électrode de rangée. Enfin, un si-
gnal logique "haut" au niveau de la ligne de commande 102 met le transistor 96 dans un état conducteur pour appliquer la tension de compensation Vcomp à l'électrode de rangée. Comme mentionné plus haut, en aval du circuit, le long de l'électrode de rangée, une série de
transistors (non représentés) est placée correspondant à chaque colon-
ne traversée par l'électrode de rangée. La ligne de sortie 108 est cou-
plée à la grille des transistors pour fournir les signaux de validation
ou signaux de compensation de charge souhaités.La technique de com-
pensation de charge précitée est illustrée graphiquement dans les figu-
res 5, 6 et 7. Comme montré tout d'abord en figure 5, le panneau 50 de détecteur, composé d'une matrice de rangées 56 et de colonnes 58 peut être balayée dans un mode d'une pluralité de modes de balayage. Dans la figure 5, ces modes de balayage sont représentés par les numéros de référence 110, 112, 114 et 116. Dans le mode de balayage 110, des
rangées simples R1, R2, R3 et ainsi de suite sont séquentiellement va-
lidées, tandis que les signaux détectés par les circuits du détecteur sont lus simultanément au niveau des électrodes de colonne. Dans le
deuxième mode de balayage 112, des paires de rangées sont séquen-
tiellement validées, telles que les rangées R1 et R2, les rangées R3 et
R4, et ainsi de suite. Dans les autres modes de balayage, plusieurs ran-
gées contiguës peuvent être validées simultanément. Par exemple, comme évoqué plus haut, dans le mode de balayage 114, 16 rangées peuvent être validées, tandis que dans le mode de balayage 116, 32
rangées peuvent être validées simultanément.
Les figures 6 et 7 représentent sous forme graphique les si-
gnaux appliqués à certaines des rangées montrées en figure 5, respecti-
vement pendant le cours du mode de balayage 110 à une rangée, et pendant le mode de balayage 112 à double rangée. Comme montré en figure 6, les rangées 118, 120, 122 et ainsi de suite, sont séquentielle-
ment validées par l'application d'une tension de validation VMARCHE.
Aux autres périodes de la séquence de lecture, un niveau de tension
correspondant à l'état "arrêt" est appliqué aux autres rangées. Cepen-
dant, afin de fournir une compensation de charge, une série de rangées
reçoit une tension de compensation Vcomp pendant la période corres-
pondant à la validation de rangées successives.
Dans le mode de balayage à une rangée de la figure 6, une première rangée 118 est validée à l'instant t!. Les autres rangées du panneau reçoivent la tension "arrêt" VARRiT comme indiqué au niveau des rangées 120 et 122. En même temps, une série de rangées reçoit une tension de compensation comme indiqué par la trace R(N). Comme résumé ci- dessus, dans le présent mode de réalisation préféré, 31 de ces rangées reçoivent la tension de compensation uniforme Vcomp
pour chaque rangée qui est validée. Pendant ce temps, les signaux dé-
tectés par les pixels de la ou des rangée(s) validée(s) sont lus au ni-
veau des colonnes.
A l'instant t2, après la fin de la lecture de toutes les colonnes
du panneau, les tensions de validation et de compensation sont suppri-
mées des rangées. A l'instant t3, la deuxième rangée 120 est validée.
En même temps, une série de rangées reçoit la tension de compensa-
tion Vcomp comme indiqué au niveau de la trace R(N). Une fois enco-
re, dans le mode de réalisation préféré, 31 de ces rangées reçoivent la tension de compensation pour chaque rangée validée. Faisant suite à la lecture de toutes les colonnes croisant la rangée 120, les tensions de lecture et de compensation sont supprimées et une rangée suivante est validée, les autres rangées recevant la tension de compensation dans la
même proportion que précédemment.
Comme montré en figure 7, dans la séquence de balayage à double rangée, deux rangées 118 et 120 sont validées simultanément à l'instant t1. Au même moment, une série de rangées reçoit la tension de compensation comme indiqué au niveau de la trace R(N). Ici encore,
dans le mode de réalisation préféré, le rapport entre le nombre de ran-
gées validées et le nombre de rangées de compensation reste constant.
Ainsi, pour chaque ensemble de rangées 118 et 120 recevant la tension de validation, 62 rangées reçoivent la tension de compensation comme indiqué pour les rangées R(N). Les autres rangées reçoivent la tension d'invalidation VARRpT. Avec les rangées multiples ainsi validées, on lit les colonnes du panneau pour récupérer les signaux d'image comme
précédemment. Après cette séquence de lecture, les tensions de valida-
tion et de compensation sont supprimées pour toutes les rangées, et à l'instant t3 la paire de rangées suivante est validée comme indiqué
pour les rangées 122 et 124. Une fois encore, une série de rangées re-
çoit la tension de compensation pendant cette période dans la même proportion que précédemment. La séquence de lecture progresse de la même manière jusqu'à ce que toutes les rangées du détecteur aient été lues.
Les modes de balayage 114 et 116 résumé en figure 5 se dé-
roulent de la même manière. en particulier, les rangées qui doivent être validées en groupe dans les divers modes de balayage reçoivent la tension de "marche" VMARCHE à des intervalles de temps pré-établis, les autres rangées recevant la tension de compensation Vcomp dans les
mêmes proportions que précédemment.
Claims (26)
1. Procédé de balayage de données d'image dans un détecteur à pixels discrets, le détecteur comportant une pluralité de rangées (56) et une pluralité de colonnes (58), le procédé étant caractérisé en ce qu'il comprend les étapes consistant à: valider et lire séquentiellement des données d'image dans
chaque rangée dans un premier mode de balayage ou un deuxième mo-
de de balayage, dans lequel dans le premier mode, des données prove-
nant d'un premier nombre de rangées prédéterminé sont validées et dans le deuxième mode un deuxième nombre plus grand de rangées est validé;
pour chaque étape séquentielle de validation de rangée, appli-
quer une tension de compensation à un groupe d'autres rangées, la ten-
sion de compensation étant la même pour le premier et le deuxième modes de balayage; et pour chaque étape séquentielle de validation de rangée, lire
des données d'image dans chaque colonne du détecteur.
2. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le nombre des autres rangées auxquelles la tension de compensation est appliquée est supérieur au nombre de rangées validées pendant chaque
étape séquentielle de validation de rangée.
3. Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce que le nombre des autres rangées auxquelles la tension de compensation est appliquée pendant chaque étape de validation de rangée est égal à 31
fois le nombre de rangées validées.
4. Procédé selon la revendication 2, caractérisé en ce que les
colonnes du détecteur sont configurées pour être lues séquentielle-
ment.
5. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce qu'au moins une rangée est validée séquentiellement dans le premier mode de balayage et au moins deux rangées sont validées séquentiellement
dans le deuxième mode de balayage.
6. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le nombre des autres rangées auxquelles la tension de compensation est appliquée pour chaque étape de validation de rangée est prédéterminé
en se basant sur un nombre maximum de rangées validées à tout mo-
ment dans n'importe quel mode de balayage.
7. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que la tension de compensation est basée sur le rapport du nombre de rangées
validées dans chaque mode de balayage, le nombre de rangées disponi-
bles pour la compensation et une excursion de tension positive de ran-
gées validées.
8. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le
nombre de rangées auxquelles la tension de compensation est appli-
quée pendant chaque étape de validation de rangée est un multiple pré-
déterminé du nombre de rangées validées.
9. Procédé selon la revendication 1, caractérisé en ce que le rapport du nombre de rangées auxquelles la tension de compensation est appliquée pendant chaque étape de validation de rangée au nombre de rangées validées pendant chaque étape de validation est déterminé par la relation: Rc:Re = (M-k):k
o Rc est le nombre de rangées auxquelles on applique la ten-
sion de compensation pendant chaque étape de validation de rangées, Re est le nombre de rangées validées pendant l'étape de validation de
rangées, M est le nombre total de rangées disponibles pour la valida-
tion et la compensation, et k est un nombre maximum de rangées vali-
dées à tout instant dans n'importe quel mode de balayage.
10. Procédé pour compenser des charges induites par balaya-
ge dans un détecteur à pixels discrets, le détecteur comportant une pluralité de rangées (56) et de colonnes (58) à partir desquelles on peut lire des signaux d'image, le procédé étant caractérisé en ce qu'il comprend les étapes consistant à: déterminer un nombre maximum de rangées Remax à valider
pendant l'un quelconque des modes d'une pluralité de modes de ba-
layage; déterminer un nombre maximum souhaité de rangées Rcmax à
utiliser pour la compensation de charge quand le nombre Remax de ran-
gées est validé; et déterminer une tension de compensation souhaitée Vc en se
basant au moins sur Remax et RCmax.
11. Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce qu'il comprend de plus les étapes consistant à: déterminer au moins deux nombres différents de rangées Re1 et Re2 à valider pendant au moins deux modes de balayage respectifs; et déterminer des nombres de rangées Rc1 et Rc2 auxquels on applique la même tension de compensation Vc pour chaque mode de balayage en se basant sur les nombres Re1 et Re2 et sur la tension de
compensation Vc.
12. Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce que la valeur de Rcmax est la différence entre le nombre total de rangées
dans une partie prédéterminée du détecteur et la valeur Remax.
13. Procédé selon la revendication 10, caractérisé en ce que l'on détermine une tension de compensation Vc unique pour au moins trois modes de balayage différents, des nombres différents de rangées
Re1, Re2, Re3 étant validés dans chaque mode de balayage, et des nom-
bres de rangées différents correspondants Rc1, Rc2, Rc3 recevant la
tension de compensation Vc dans chaque mode de balayage.
14. Procédé selon la revendication 13, caractérisé en ce que
le rapport du nombre de rangées validées au nombre de rangées rece-
vant la tension de compensation est le même dans chacun des modes
de balayage.
15. Système formant détecteur numérique pour lire des si-
gnaux dans une pluralité d'emplacement agencés en rangées et colon-
nes d'une matrice, le système formant détecteur étant caractérisé en ce qu'il comprend: un circuit de commande de rangées configuré pour appliquer aux rangées une tension parmi une pluralité de tensions, les tensions comprenant une tension de validation, une tension d'invalidation et une tension de compensation de charge, le circuit de commande de rangée appliquant séquentiellement la tension de validation à au moins
deux différents nombres de rangées dans au moins deux modes de ba-
layage respectifs, et appliquant une tension unique de compensation de charge à une pluralité de rangées dans chacun des modes de balayage; et
des circuits de lecture de colonnes configurés pour lire les si-
gnaux provenant du système formant détecteur pendant chacun des mo-
des de balayage.
16. Système selon la revendication 15, caractérisé en ce que
le circuit de commande de rangées applique la tension de compensa-
tion à un nombre de rangées égal à un multiple prédéterminé du nom-
bre de rangées validées séquentiellement.
17. Système selon la revendication 16, caractérisé en ce que le multiple prédéterminé est constant dans toute la pluralité de modes
de balayage.
18. Système selon la revendication 16, caractérisé en ce que
le multiple prédéterminé est 31.
19. Système selon la revendication 15, caractérisé en ce que le circuit de commande de rangées comprend une pluralité de circuits formant dispositif de commande de rangées, chaque circuit formant
dispositif de commande de rangées commandant l'application des ten-
sions de validation, d'invalidation et de compensation à une pluralité
de rangées du système formant détecteur.
20. Système selon la revendication 15, caractérisé en ce que le circuit de commande de rangées est configuré pour appliquer les tensions de validation et de compensation dans au moins 3 modes de
balayage différents.
21. Système d'imagerie à rayons X numérique configuré pour générer des images d'un sujet d'intérêt, le système étant caractérisé en ce qu'il comprend: une source (12) de rayons X; un détecteur numérique (22) pour détecter le rayonnement émis par la source et pour générer des signaux représentant ce dernier dans un réseau prédéterminé de rangées et de colonnes; et un circuit de commande de détecteur, le circuit de commande
étant configuré pour appliquer des signaux de validation et des si-
gnaux de compensation de charge au détecteur dans au moins deux mo-
des de balayage différents et pour lire les signaux provenant du détec-
teur pendant l'application des signaux de lecture et de compensation
de charge.
22. Système selon la revendication 21, caractérisé en ce que
dans chaque mode de balayage le circuit de commande de détecteur ap-
plique les signaux de validation h des nombres différents de rangées et
applique les signaux de compensation de charge à un multiple prédé-
terminé de rangées validées.
23. Système selon la revendication 22, caractérisé en ce que le multiple prédéterminé est déterminé en se basant sur un nombre maximum de rangées recevant le signal de validation à tout instant
dans n'importe quel mode de balayage.
24. Système selon la revendication 22, caractérisé en ce que
le multiple prédéterminé est 31.
25. Système selon la revendication 21, caractérisé en ce que le détecteur comprend une pluralité d'unités, chaque unité comprenant
une pluralité de rangées, et le circuit de commande de détecteur com-
prend une pluralité de dispositifs de commande pour commander la
pluralité d'unités.
26. Système selon la revendication 21, caractérisé en ce que le circuit de commande de détecteur est configuré pour lire les signaux
générés par le détecteur au niveau des colonnes pendant que sont vali-
dés différents nombres de rangées pendant chacun des modes de ba-
layage.
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US09/199,710 US6359967B1 (en) | 1998-11-25 | 1998-11-25 | Method and apparatus for scan charge compensation in a digital detector |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FR2791445A1 true FR2791445A1 (fr) | 2000-09-29 |
Family
ID=22738699
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FR9914795A Pending FR2791445A1 (fr) | 1998-11-25 | 1999-11-24 | Procede et dispositif pour la compensation de charge de balayage dans un detecteur numerique |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
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| FR (1) | FR2791445A1 (fr) |
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1998
- 1998-11-25 US US09/199,710 patent/US6359967B1/en not_active Expired - Fee Related
-
1999
- 1999-11-24 FR FR9914795A patent/FR2791445A1/fr active Pending
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|---|---|
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