FR2741442A1 - Methode d'echantillonnage de l'aluminium et ses alliages pour analyse de composition chimique et dispositif correspondant - Google Patents
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Abstract
La méthode comprend: a) la préparation d'un pion de coulée (7) par prélèvement de métal liquide solidifié dans un moule (1) comprenant une cavité basse cylindrique (11) ayant la forme dudit pion, une 10 cavité haute (12) à partie basse rétreinte, b) le tronçonnage dudit pion de coulée (7) pour former un plan de coupe (70), et l'usinage dudit plan de coupe, et est caractérisée en ce que, 1) ledit moule (1) est formé par association d'au moins deux matériaux, la partie (2) en contact avec la base de ladite cavité basse étant constituée d'un matériau dit "conducteur", le reste (3) du moule, en contact avec ledit métal liquide, étant constitué d'un matériau dit "isolant" dont la conductivité thermique est inférieure à celle du matériau dit "conducteur", 2) ledit plan de coupe (70) est réalisé dans le plan axial dudit pion (7) et intégré pendant l'analyse.
Description
METHODE D'ECHANTILLONNAGE DE L'ALUMINIUM ET SES ALLIAGES POUR
ANALYSE DE COMPOSITION CHIMIQUE ET DISPOSITIF CORRESPONDANT
DOMAINE DE L'INVENTION
L'invention concerne les méthodes d'échantillonnage d'alliages d'aluminium, par prélèvement de métal liquide et solidification dans un moule, en vue de déterminer la composition de ces alliages, notamment à l'aide de méthodes spectrométriques.
ANALYSE DE COMPOSITION CHIMIQUE ET DISPOSITIF CORRESPONDANT
DOMAINE DE L'INVENTION
L'invention concerne les méthodes d'échantillonnage d'alliages d'aluminium, par prélèvement de métal liquide et solidification dans un moule, en vue de déterminer la composition de ces alliages, notamment à l'aide de méthodes spectrométriques.
ETAT DE LA TECHNIQUE
Il est connu que la technique d'échantillonnage de métal solidifié a partir de métal liquide, a une influence sur la précision et la justesse des résultats d'analyse, en particulier pour les méthodes d'analyses spectrométriques sur solides dont le volume analysé est faible en comparaison du volume de l'échantillon. Cet effet est particulièrement marqué pour les éléments sensibles au phénomène de ségrégation majeure conduisant à une hétérogénéité de composition importante de ces éléments dans le volume de l'échantillon solidifié.
Il est connu que la technique d'échantillonnage de métal solidifié a partir de métal liquide, a une influence sur la précision et la justesse des résultats d'analyse, en particulier pour les méthodes d'analyses spectrométriques sur solides dont le volume analysé est faible en comparaison du volume de l'échantillon. Cet effet est particulièrement marqué pour les éléments sensibles au phénomène de ségrégation majeure conduisant à une hétérogénéité de composition importante de ces éléments dans le volume de l'échantillon solidifié.
Pour résoudre cette difficulté, des normes d'échantillonnage ont été fixées, de manière a assurer la justesse et la reproductibilité des résultats d'analyse.
Ainsi, la norme ASTM E716-85 définit trois types de moules (A,
B et C) en vue de l'échantillonnage, qui peuvent être définis par le mode de remplissage, leur forme et leur masselotte (forme et position)
Moule ou échantillon: A B C
Remplissage : louche louche sous vide
Forme : anneau disque disque
Masselotte position : latérale centrale centrale
forme : plate conique cylindrique
En pratique, le type B est le plus utilisé.
B et C) en vue de l'échantillonnage, qui peuvent être définis par le mode de remplissage, leur forme et leur masselotte (forme et position)
Moule ou échantillon: A B C
Remplissage : louche louche sous vide
Forme : anneau disque disque
Masselotte position : latérale centrale centrale
forme : plate conique cylindrique
En pratique, le type B est le plus utilisé.
Une autre norme ASTM (E101-91) précise la technique analytique à utiliser: la spectrométrie d'émission par étincelle (SEE en abrégé). Selon cette technique, à partir de l'échantillon obtenu selon une des trois méthodes d'échantillonnage citées précédemment, on détermine un plan de coupe (usiné perpendiculairement à l'axe du pion, à une cote donnée) qui est soumis à une décharge d'étincelles contrôlée. L'émission des raies caractéristiques des éléments présents est ensuite analysée dans un spectromètre et permet la détermination quantitative de la teneur des éléments identifiés dans le métal analysé après étalonnage préalable du dispositif.
PROBLEMES POSES
Les problèmes posés par l'état de la technique sont de plusieurs ordres
D'une part, la justesse de l'analyse d'éléments sensibles au phénomène de ségrégation majeure dépend du positionnement du plan de coupe qui varie selon la nature et la concentration de l'élément analysé.
Les problèmes posés par l'état de la technique sont de plusieurs ordres
D'une part, la justesse de l'analyse d'éléments sensibles au phénomène de ségrégation majeure dépend du positionnement du plan de coupe qui varie selon la nature et la concentration de l'élément analysé.
D'autre part, la dispersion des résultats est liée à la robustesse (au sens statistique) du plan de coupe vis-à-vis du profil de ségrégation axiale de l'élément considéré (faible variabilité du résultat en fonction de l'ajustement du plan de coupe).
Enfin, le ressèrement des fourchettes de composition des alliages conduisent à rechercher des techniques notablement plus précises que la technique de spectrométrie d'émission par étincelle pour le dosage des éléments majeurs en particulier.
Une solution intéressante à ce problème est apportée par la spectrométrie de fluorescence X (SFX en abrégé). La zone analysée par cette technique est positionnée au centre de l'échantillon. Or cette zone centrale est, dans le cas des échantillons de type B, non représentative de la composition moyenne de l'échantillon d'une part, et affectée de porosités et de criques internes défavorables à la qualité de l'analyse d'autre part.
La demanderesse a donc recherché une méthode et un dispositif (un moule) résolvant simultanément ces différents problèmes, de manière à ce qu'un même moule puisse être utilisé pour produire des pions d'analyses pour les deux techniques (SEE et
SFX), en garantissant la justesse et la reproductibilité des dosages pour un plan de coupe unique de l'échantillon.
SFX), en garantissant la justesse et la reproductibilité des dosages pour un plan de coupe unique de l'échantillon.
DESCRIPTION DE L'INVENTION
Selon l'invention, la méthode d'échantillonnage de l'aluminium et ses alliages pour des techniques d'analyses sur solides permettant la détermination de leur composition chimique comprend a) la préparation d'un pion de coulée par prélèvement de métal liquide solidifié dans un moule comprenant une cavité basse cylindrique ayant la forme dudit pion, et une cavité haute à partie basse rétreinte, typiquement tronconique, formant une alimentation de ladite cavité basse, b) le tronçonnage dudit pion de coulée pour former un plan de coupe, et l'usinage dudit plan de coupe, et est caractérisée en ce que, 1) ledit moule est formé par association d'au moins deux matériaux, la partie en contact avec la base de ladite cavité basse étant constituée d'un matériau dit "conducteur", le reste du moule, en contact avec ledit métal liquide, étant constitué d'un matériau dit "isolant" dont la conductivité thermique est inférieure à celle du matériau dit "conducteur", la conductivité thermique du matériau dit "conducteur" étant au moins égale à 5 fois celle du matériau dit "isolant", de manière à assurer une solidification unidirectionnelle depuis la base jusqu'au sommet du pion, 2) ledit plan de coupe est réalisé dans le plan axial dudit pion, de manière à obtenir une surface d'analyse axiale unique pour lesdites techniques d'analyse, 3) lesdites techniques d'analyse sont appliquées sur tout ou partie dudit plan axial, de manière à intégrer les gradients de concentration éventuels résultant de ladite solidification unidirectionnelle.
Selon l'invention, la méthode d'échantillonnage de l'aluminium et ses alliages pour des techniques d'analyses sur solides permettant la détermination de leur composition chimique comprend a) la préparation d'un pion de coulée par prélèvement de métal liquide solidifié dans un moule comprenant une cavité basse cylindrique ayant la forme dudit pion, et une cavité haute à partie basse rétreinte, typiquement tronconique, formant une alimentation de ladite cavité basse, b) le tronçonnage dudit pion de coulée pour former un plan de coupe, et l'usinage dudit plan de coupe, et est caractérisée en ce que, 1) ledit moule est formé par association d'au moins deux matériaux, la partie en contact avec la base de ladite cavité basse étant constituée d'un matériau dit "conducteur", le reste du moule, en contact avec ledit métal liquide, étant constitué d'un matériau dit "isolant" dont la conductivité thermique est inférieure à celle du matériau dit "conducteur", la conductivité thermique du matériau dit "conducteur" étant au moins égale à 5 fois celle du matériau dit "isolant", de manière à assurer une solidification unidirectionnelle depuis la base jusqu'au sommet du pion, 2) ledit plan de coupe est réalisé dans le plan axial dudit pion, de manière à obtenir une surface d'analyse axiale unique pour lesdites techniques d'analyse, 3) lesdites techniques d'analyse sont appliquées sur tout ou partie dudit plan axial, de manière à intégrer les gradients de concentration éventuels résultant de ladite solidification unidirectionnelle.
C'est la combinaison de ces moyens essentiels qui permet de résoudre les problèmes posés par l'invention.
DESCRIPTION DES FIGURES
La figure la représente, en coupe axiale, le moule (1) selon l'invention, constitué d'une base (2) en matériau dit "conducteur", de deux demi-parois (3), en matériau dit "isolant" maintenues solidaires entre elles et avec ladite base grâce à une bague de serrage (4). Ledit moule peut être manipulé grâce à deux poignées assemblées grâce à un trou borgne (5) dans chacune des deux demi-parois.
La figure la représente, en coupe axiale, le moule (1) selon l'invention, constitué d'une base (2) en matériau dit "conducteur", de deux demi-parois (3), en matériau dit "isolant" maintenues solidaires entre elles et avec ladite base grâce à une bague de serrage (4). Ledit moule peut être manipulé grâce à deux poignées assemblées grâce à un trou borgne (5) dans chacune des deux demi-parois.
Ledit moule (1) délimite une cavité basse (11) à sa partie inférieure, une cavité haute (12) à sa partie supérieure à partie basse rétreinte formant une alimentation (13) de ladite cavité basse (11).
La figure lb représente en coupe axiale la pièce brute (6) obtenue après coulée de métal liquide dans ledit moule (1), pièce constituée dudit pion (7) surmonté de sa masselotte (8).
La figure lc représente en perspective le pion cylindrique (7) après séparation de la masselotte (8) et tronçonnage selon un plan axial, de manière à former ledit plan de coupe (70).
La figure id est analogue â la figure la, mais avec une base ;2) en matériau dit "conducteur' dent la section est sensiblement celle de la base de ladite cavité basse (11). La base du moule comprend donc une partie complémentaire (30) en matériau dit "isolant" qui peut être le même ou différent de celui des deux demi-parois (3) en matériau dit "isolant".
Les figures 2 à 5 sont des diagrammes portant en ordonnées une composition (en pourcentage pondéral d'un élément à doser), et en abscisses une distance en mm.
Sur toutes ces figures, la courbe en trait plein correspond à la teneur en Cu d'un alliage AlCu4,5%, et la courbe en pointillés correspond à la teneur en Mg d'un alliage 5182 (nomenclature selon l'Aluminum Association).
Les figures 2 et 3 sont relatives respectivement au moule B selon l'état de la technique, et au moule selon l'invention, ces deux figures présentant les profils de composition axiale, c'est à dire la variation de la composition (en ordonnées) en fonction de la distance axiale (en abscisses) depuis la base (2) constituée par le matériau dit "conducteur".
Les figures 4 et 5 sont relatives respectivement au moule B selon l'état de la technique, et au moule selon l'invention, ces deux figures présentant les profils de composition radiale, c'est à dire la variation de la composition (en ordonnées) en fonction de la distance (en abscisses) d'un bord à l'autre dudit pion, et à mi-hauteur dudit pion.
DESCRIPTION DETAILLEE DE L'INVENTION
Selon l'invention, ladite cavité cylindrique a un rapport hauteur/diamètre H/D de préférence compris entre 0,2 et 2.
Selon l'invention, ladite cavité cylindrique a un rapport hauteur/diamètre H/D de préférence compris entre 0,2 et 2.
En effet, si ce rapport est inférieur à 0,2, ou supérieur à 2, on obtient un pion respectivement trop plat, ou trop effilé, ou trop volumineux, ou un pion dont les cotes sont peu adaptées aux techniques d'analyse.
En particulier, on choisit la hauteur H en fonction des exigences desdites méthodes d'analyses d'éléments.
En effet, chaque méthode d'analyse a ses propres exigences pratiques en ce qui concerne la géométrie propre du plan de coupe.
Typiquement, avec les techniques analytiques du type SEE ou
SFX, la hauteur H est de préférence comprise entre 20 et 60 mm .
SFX, la hauteur H est de préférence comprise entre 20 et 60 mm .
I1 peut être avantageux selon l'invention que ladite alimentation soit positionnée de manière décentrée par rapport à l'axe de solidification dudit pion, pour favoriser encore le caractère unidirectionnel de la solidification du pion près de la masselotte.
Selon l'invention, la conductivité thermique du matériau dit "conducteur" est supérieure à 10 W.m'l.K'1 (à température ambiante).
Ledit matériau conducteur est de préférence de l'acier ou du cuivre ou alliage de cuivre.
Ledit matériau isolant est de préférence constitué par un matériau réfractaire fibreux ou une céramique.
L'invention s'applique plus particulièrement, mais non exclusivement, auxdites méthodes d'analyses d'éléments comprenant la spectrométrie d'émission par étincelle et la spectrométrie de fluorescence X.
Un autre objet de l'invention est constitué par le moule pour mettre en oeuvre la méthode selon l'invention.
EXEMPLES DE REALISATION
On a fabriqué un moule identique à celui représenté à la figure la, avec H = 25 mm et D = 38 mm.
On a fabriqué un moule identique à celui représenté à la figure la, avec H = 25 mm et D = 38 mm.
Le matériau dit "conducteur" (2) formant la base de ladite cavité basse (11) est de l'acier (nuance XC48). Le matériau dit "isolant" formant le reste du moule en contact avec le métal liquide est en céramique, en Stumatite (R) qui est un aluminosilicate.
La conductivité thermique de l'acier est de: 40 W. m'l. K' 1 (à température ambiante).
Celle de la Stumatite (R) est de : 2 W.m'l.K'1 (à température ambiante).
Le rapport des conductivités du matériau "conducteur" / matériau "isolant" est donc de : 20
Le moule (1) comprend deux demi-parois (3) qui coopèrent et enserrent la base (2), grâce à une bague de serrage (4). La bague(4) est enlevée pour ouvrir le moule et obtenir la pièce brute de coulée (6) de la figure lb.
Le moule (1) comprend deux demi-parois (3) qui coopèrent et enserrent la base (2), grâce à une bague de serrage (4). La bague(4) est enlevée pour ouvrir le moule et obtenir la pièce brute de coulée (6) de la figure lb.
Le moule (1) selon l'invention a été comparé au moule B selon l'état de la technique cité (norme ASTM E716-85) dans le dosage de Cu de l'alliage AlCu4,5%, et le dosage de Mg de l'alliage d'aluminium 5182 (désignation normalisée de l'Aluminum Association).
D'une part, on a déterminé par microanalyse X les profils de composition axiaux de Cu et Mg pour le moule de type B selon l'état de la technique (figure 2 - H = 12 mm), et pour le moule selon l'invention (figure 3 - H = 25 mm).
Le plan de coupe est un plan axial (70) dans les deux cas, et la distance figurant en abscisses est comptée, depuis la base du pion, selon la direction axiale "H" (voir figure lc).
La comparaison des figures 2 et 3 montre de façon très claire la grande différence de profil, en "U" dans le cas du moule selon l'état de la technique, sensiblement linéaire dans le cas du moule selon l'invention.
D'autre part, on a déterminé par microanalyse X les profils de composition radiaux de Cu et Mg pour le moule B selon l'état de la technique (figure 4 - D = 52 mm), et pour le moule selon l'invention (figure 5 - D = 35 mm), le plan de coupe étant le même plan axial, le pion étant analysé d'un bord à l'autre.
On observe également une grande différence de profil, profil en "U" dans le cas du pion obtenu avec le moule B (figure 4), profil sensiblement plat avec le pion obtenu avec le moule selon l'invention.
Par ailleurs, on a comparé les méthodes d'échantillonnage selon l'invention et celle selon la norme ASTM citée qui utilise le moule B, et cela pour deux techniques différentes d'analyse (SEE et SFX), en comparant les résultats à l'analyse chimique réalisée sur un prélèvement homogène, prise en référence.
A) Comparaison des résultats de dosages (% pondéral) entre un pion et un plan de coupe axial selon l'invention (noté "invention") et le pion type B et plan de coupe radial selon la norme ASTM citée (noté "ASTM")
<tb> élément <SEP> Technique <SEP> de <SEP> dosage
<tb> <SEP> SEE <SEP> Voie <SEP> chimique <SEP> SFX
<tb> <SEP> Invention <SEP> ASTM <SEP> Invention <SEP> ASTM
<tb> Mg(%) <SEP> 4,81 <SEP> 4,70 <SEP> 4,71+/-0,03 <SEP> 4,64 <SEP> 4,46
<tb> Cu(%) <SEP> 4,69 <SEP> 4,53 <SEP> 4,73+/-0,03 <SEP> 4,82 <SEP> 4,64
<tb>
Globalement, les résultats selon l'invention sont plus justes que ceux selon la norme ASTM quels que soient les éléments chimiques dosés et quelle que soit la technique analytique.En effet, les valeurs les plus éloignées de la "vraie" valeur (voie chimique) sont obtenues selon la norme ASTM (4,53 pour le dosage de Cu par SEE, 4,46 pour le dosage de Mg par SFX).
<tb> <SEP> SEE <SEP> Voie <SEP> chimique <SEP> SFX
<tb> <SEP> Invention <SEP> ASTM <SEP> Invention <SEP> ASTM
<tb> Mg(%) <SEP> 4,81 <SEP> 4,70 <SEP> 4,71+/-0,03 <SEP> 4,64 <SEP> 4,46
<tb> Cu(%) <SEP> 4,69 <SEP> 4,53 <SEP> 4,73+/-0,03 <SEP> 4,82 <SEP> 4,64
<tb>
Globalement, les résultats selon l'invention sont plus justes que ceux selon la norme ASTM quels que soient les éléments chimiques dosés et quelle que soit la technique analytique.En effet, les valeurs les plus éloignées de la "vraie" valeur (voie chimique) sont obtenues selon la norme ASTM (4,53 pour le dosage de Cu par SEE, 4,46 pour le dosage de Mg par SFX).
B) Comparaison des dispersions des dosages (dispersion déterminée sur 15 essais dans le cas de l'invention, sur 10 essais dans le cas de la méthode ASTM):
<tb> Elément <SEP> Technique <SEP> de <SEP> dosage
<tb> <SEP> SEE <SEP> SFX
<tb> <SEP> Invention <SEP> ASTM <SEP> Invention <SEP> ASTM
<tb> Mg <SEP> 0,061 <SEP> 0,10 <SEP> 0,026 <SEP> 0,20
<tb> Cu <SEP> 0,048 <SEP> 1 <SEP> 0,09 <SEP> 0,023 <SEP> 0,11
<tb>
On observe donc que la dispersion est moindre avec l'invention qu'avec l'utilisation de la norme ASTM, tant en SEE qu'en SFX - et surtout en SFX.
<tb> <SEP> SEE <SEP> SFX
<tb> <SEP> Invention <SEP> ASTM <SEP> Invention <SEP> ASTM
<tb> Mg <SEP> 0,061 <SEP> 0,10 <SEP> 0,026 <SEP> 0,20
<tb> Cu <SEP> 0,048 <SEP> 1 <SEP> 0,09 <SEP> 0,023 <SEP> 0,11
<tb>
On observe donc que la dispersion est moindre avec l'invention qu'avec l'utilisation de la norme ASTM, tant en SEE qu'en SFX - et surtout en SFX.
Ces résultats, en particulier, la faible dispersion des valeurs numériques, résultent vraisemblablement de la linéarisation des profils de composition (figures 3 et 5) avec le moule selon l'invention : le caractère monotone et moins accentué du profil de composition résulte lui-même de la structure du moule selon l'invention, de l'absence de ségrégation radiale, et de l'intégration du plan de coupe axial.
Autre exemple
On a aussi fabriqué un moule selon la figure ld. Dans ce moule, la pièce (2) en matériau dit "conducteur" de l'exemple précédent et de la figure la a été remplacée par une pièce composite comprenant une partie centrale (2), au droit de la cavité (11) en matériau dit "conducteur" de l'exemple précédent (acier), et une partie annulaire (30) en matériau dit "isolant" de l'exemple précédent (Stumatite (R)).
On a aussi fabriqué un moule selon la figure ld. Dans ce moule, la pièce (2) en matériau dit "conducteur" de l'exemple précédent et de la figure la a été remplacée par une pièce composite comprenant une partie centrale (2), au droit de la cavité (11) en matériau dit "conducteur" de l'exemple précédent (acier), et une partie annulaire (30) en matériau dit "isolant" de l'exemple précédent (Stumatite (R)).
On a obtenu sensiblement les mêmes résultats qu'avec le moule selon l'exemple précédent.
AVANTAGES DE L'INVENTION
La méthode d'échantillonnage selon l'invention et le moule correspondant constituent un progrès très significatif, par rapport à l'état de la technique, dans le recherche d'une méthode unique adaptée à l'analyse de différents éléments (ici les résultat relatifs à Cu et Mg ne sont donnés qu'à titre d'exemples non limitatifs), avec différentes techniques (SEE et SFX ne sont pas non plus limitatifs).
La méthode d'échantillonnage selon l'invention et le moule correspondant constituent un progrès très significatif, par rapport à l'état de la technique, dans le recherche d'une méthode unique adaptée à l'analyse de différents éléments (ici les résultat relatifs à Cu et Mg ne sont donnés qu'à titre d'exemples non limitatifs), avec différentes techniques (SEE et SFX ne sont pas non plus limitatifs).
En particulier, la méthode selon l'invention permet une diminution sensible de la dispersion des résultats d'analyse, ce qui est essentiel pour assurer une qualité constante des
Claims (1)
- 3) lesdites techniques d'analyse sont appliquées sur tout ou partie dudit plan axial, de manière à intégrer les gradients de concentration éventuels résultant de la solidification unidirectionnelle.2 - Méthode selon la revendication 1 dans laquelle ladite cavité cylindrique (11) a un rapport hauteur/diamètre H/D de préférence compris entre 0,2 et 2.3 - Méthode selon la revendication 2 dans laquelle la hauteurH est choisie en fonction des exigences desdites méthodes d'analyses d'éléments.4 - Méthode selon la revendication 3 dans laquelle la hauteurH est de préférence comprise entre 20 et 60 mm.5 - Méthode selon une quelconque des revendications 1 a 4 dans laquelle ladite alimentation (13) est positionnée de manière décentrée par rapport à l'axe de solidification dudit pion.6 - Méthode selon une quelconque des revendications 1 a 5 dans laquelle la conductivité thermique du matériau dit "conducteur" est supérieure a 10 W.m-1.K-1 (å température ambiante).7 - Méthode selon une quelconque des revendications 1 å 6 dans laquelle ledit matériau conducteur est de préférence de l'acier ou du cuivre ou alliage de cuivre.8 - Méthode selon une quelconque des revendications 1 a 7 dans laquelle ledit matériau isolant est de préférence constitué par un matériau réfractaire fibreux ou une céramique.9 - Méthode selon une quelconque des revendications 1 a 8 dans laquelle lesdites méthodes d'analyses d'éléments comprennent la spectrométrie d'émission par étincelle et la spectrométrie de fluorescence X.10 - Dispositif constitué par le moule pour mettre en oeuvre la méthode selon une quelconque des revendications 1 a 9.
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9514269A FR2741442A1 (fr) | 1995-11-22 | 1995-11-22 | Methode d'echantillonnage de l'aluminium et ses alliages pour analyse de composition chimique et dispositif correspondant |
| FR9612157A FR2741443B1 (fr) | 1995-11-22 | 1996-10-01 | Methode d'echantillonnage de l'aluminium et ses alliages pour analyse de composition chimique et dispositif correspondant |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9514269A FR2741442A1 (fr) | 1995-11-22 | 1995-11-22 | Methode d'echantillonnage de l'aluminium et ses alliages pour analyse de composition chimique et dispositif correspondant |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FR2741442A1 true FR2741442A1 (fr) | 1997-05-23 |
Family
ID=9485086
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FR9514269A Pending FR2741442A1 (fr) | 1995-11-22 | 1995-11-22 | Methode d'echantillonnage de l'aluminium et ses alliages pour analyse de composition chimique et dispositif correspondant |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| FR (1) | FR2741442A1 (fr) |
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- 1995-11-22 FR FR9514269A patent/FR2741442A1/fr active Pending
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