FR2667878A2 - Methode de metallisation et formation d'un alliage qui peut etre a haute permeabilite magnetique par vaporisation sous vide. - Google Patents

Methode de metallisation et formation d'un alliage qui peut etre a haute permeabilite magnetique par vaporisation sous vide. Download PDF

Info

Publication number
FR2667878A2
FR2667878A2 FR8811556A FR8811556A FR2667878A2 FR 2667878 A2 FR2667878 A2 FR 2667878A2 FR 8811556 A FR8811556 A FR 8811556A FR 8811556 A FR8811556 A FR 8811556A FR 2667878 A2 FR2667878 A2 FR 2667878A2
Authority
FR
France
Prior art keywords
wave
evaporation
homogeneous alloy
metals
alloy layer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
FR8811556A
Other languages
English (en)
Other versions
FR2667878B2 (fr
Inventor
Clausse Georges
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from FR8809898A external-priority patent/FR2634223B1/fr
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to FR8811556A priority Critical patent/FR2667878B2/fr
Priority to PCT/FR1989/000369 priority patent/WO1990000632A1/fr
Priority to AU38712/89A priority patent/AU3871289A/en
Publication of FR2667878A2 publication Critical patent/FR2667878A2/fr
Application granted granted Critical
Publication of FR2667878B2 publication Critical patent/FR2667878B2/fr
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/06Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the coating material
    • C23C14/14Metallic material, boron or silicon

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

L'invention a pour objet une amélioration apportée à la demande de brevet Ndegré 88.09898 déposée le 12 Juillet 1988. Cette amélioration se réfère à la métallisation sous vide et au principe nouveau du mélange de plusieurs métaux dans la source d'évaporation qui permet en une seule opération non seulement de créer des couches successives de ces métaux sur le substrat à métalliser selon leur point d'ébullition en température et dans le temps, mais aussi d'obtenir la formation par vaporisation sur le substrat d'une couche d'alliage de ces métaux qui peut être magnétiquement perméable.

Description

T'invention a pour objet une amélioration dans la définition de la métallisation sous vide d'un substrat par plusieurs métaux en une seule opération dans le but de lui ajouter la faculté d'être un blindage contre les ondes lectromagnétiques. Cette métallisation préconisée dans la demande de brevet N4 88 98 déposh le 12' Juillet Iti prévoit un dépot de couches successives de métaux différents au départ d'un mélange de ces métaux dans les creusets en une seule opération sous vide
Les températures d'ébullitoin de ces métaux étant différentes les fractions de seconde de différence entre les vaporisations successives permettent ce processus.
Toutefois Si les métaux sont pulvérulents et intimement mélangés dans les sources d'évaporation ou creusets, on peut obtenir des points dêbullition tellement rapprochés pour chacun des composants qu'on peut les déclarer simultanés, et tout ou partie des composants en présence s'évapore en formant un alliage qui se dépose sur le substrat.
Cec @ permet des formations d'alliage a haute perméabilité magnétique Les diagrammes figures et explications qui suivent ainsi que le tableau (non exhaustif) donnant la nature de métaux préconisés permet d'analyser plus en profondeur le procédé et l'invention.
Les ondes élctromagnétiques TBF et UBF (très basse et ultra tasse fréquence) sont celles mises en cause et plus particuliérement les ondes pulsées qui vont de 10 hz a 27 KHz.
vour effectuer un blindage adéquat contre la propagation dans une direction z du produit vectoriel E#H de ces ondes dans un milieu gazeux ionisé tel que I air ambiant, on part du principe qu-une onde électromagnétique (t ) est transmise sans atténuation.
Lorsqu'elle est incidente à une interface plane A entre deux milieux linéaires, cela donne naissance à une onde trans,m,ise le long de (nt) et une onde réfléchie le long de (n2). Ives trois ondes satisfont aux conditions de continuité des composantes tangentielles de P et de H å l'interface R. Il est donc nécessaire que la nature du milieu au point interface permette que l'onde sur nt > l'onde sur nr qui devrait tendre vers n#.

Pour tendre vers n# il faut qu'en milieu 2, on rencontre un bon conducteur à grande perméabilité magnétique t conducteur qui se définit par # 1/50 ce qui signitie que la densité de courant de conduction #E vaut au moins de 50 tois la densité de courant de déplacement #D /#t en sachant que est en avance de sur 1/ dans les bons conducteurs.Il faut se rappeler que dans E#H les deux vecteurs E et 8 sont en phase et perpendiculaires l'un à l'autre, que le vecteur #=E#H (vecteur de Poynting) donne la direction et le sens de la propagation selon une constante jk, et que les ondes planes électromagnétiques sont transverses dans tout milieu homogène, isotropes linéaire et immobile
Une définition importante est S ou l'épaisseur de peau" (courant de foucault) ou g X, )qui représente la distance d'atténuation requise des bons conducteurs opaques a la lumière, sauf en cas de films extremement fins comme ceux étudiés pour la métallisation des roseaux filtrants dans lequels la vitesse de phase est égale å
Figure img00020001

et est proportionnelle å
Figure img00020002
La pression de radiation sur un bon conducteur à incidence normale fait que E transmis dans le métal < onde incidente mais en tout cas n'est pas nul et se fait selon la conductivité du milieu de l'interface d'épaisseur dz.
Sans tenir compte de la perméabilité la force magnétique s'exerce sur un électron proportionnellement a oH dans le cas d'électrons lents comme ceux de la conduction en exergant sur l'épaisseur dz une pression dP = # Et o Ht dz; donc le champ magnétique possède une quantité de mouvement. On a trouvé expérimentalement des moyens d'accélération des mouvements d'électrons pour E transmis dans le métal.
Les ondes de transmission d'un signal à diverses composantes de fréquence, issues d'un tube cathodique, se propagent a des vitesses différentes. A travers d'un gaz ionisé la forme de signal (enveloppe de l'onde) change au fur et à mesure que les ondes se propagent en milieu dispersif. De ce fait il est souhaitable de bénéficier de caractéristiques multiples pour le réseau filtrant qui permettent à la fois une élimination des champs E et une atténuation importante des champs 8 pour tous ces paramètres Le milieu filtrant ne permet que l'utilisation de fines couches métalliques et donc une "épaisseur de peau minimale.L'alliage Fer-Nickel dans des proportions Fe < /.5 Ni
HQY avec ajout de cuivre et de chrome permet une Lrbès haute perméabilité pour un alliage å faible anisotropie. Il faf prendre soin de fixer soigneusement la composition des éléments utilisés (voir tableau page 4)
L'obtention d'un alliage par évaporation sous vide fait novation la matière et permet 1) annulation de l'anisotropie et de la magnétostriction pour rendre les parois de Block très mobiles.
2) élimination des obstacles aux mouvements des parois, qui sont formés principalement par les impuretés.
3) le bénéfice d'un traitement thermique dans le vide par le processus meme de vaporisation simultanée des éléments requis.
4 > l'utilisation par trains d'aimants permanents d'un champ magnétique ni le substrat (réseau a mailles micromètriques) pendant le processus de vaporisation, qui permet l'orientation cristalline des élments.
5) l'obtention par 3) et 4) d'une grande perméabilité initiale 6) l'obtention d'une propriété de surface qui donne un fini sans défaut avec un haut indice de réflexion nécessaire au réseau filtrant principalement pour le controle des ondes lumineuses.
7) l'absence d'un vieillissement magnétique aux basses conductions.
TABLEAU DESCRIPTIF DES ELEMENTS POUR VAPORISATION SIMULTANEE SUR UN SUBSTRAT
= RESEAU DE MAILLES MICROMETRIQUES (MONOFILAMENTS POLYST./POLYM.)
ELEMENT NICKEL (Ni) CUIVRE (Cu) FER (Fe) CHROME (Cr) Wi Cu Fe
N ATOMIQUE 28 29 26 24
POIDS ATOM 58,69 63,64 55,85 52,01
DENSITE (20 C) gr/cm3 8,9 8,96 7,87 7,19
FUSION C 1455 1083 1539 1890
EBULLITION C 2730 2600 2740 2500
RESIST. 20 C /cm 6,840 1,673 9,710 13,000 42,000
CONDUCT. ( -a)-1 1,3x107 5,8x107 1,0x107 3,8x107 0,16x107
ELAST. 10 dyn/cm2 30,0 16,0 20,3 36,0
STRUCTURE CRISTAL CFC CFC CC CC
CONSTANTE RESEAU 3,5167 3,6080 2,8606 2,8787
DIST. MIN. PASS.ATOMES 2,486 2,551 2,476 2,493
PERMEABILITE (relat.) 1,10 1,00 2x10 1,00 2x104
EPAISSEUR PEAU 60 Hz 0,18 0,85 0,14 1,00 0,037
i KHz 4,4 2,1 0,35 2,b 0,092
1 MHz 0,014 0,066 0,011 0,081 0,0029 % POUR EVAPORATION 75 5 R Z 100
NOTES :CFC = Cubique faces centrées -CC = Cubique centré
R = Résiduel impuretés comprises
Sources d'évaporation Tungstène
Ni et Fe tentent de s'allier 6 la source d'évaporation
Cr sublime
Cu pas de problème particulier
Fe doit avoir moins de 20 p.p.s. de Carbone
La tigure 1 représente la courbe de perméabilité d'un réseau a micromailles traité en vaporisation sous vide par alliage repris au tableau.
En référence aux figures 2 à 5, une onde électromagnétique est incidente dans le milieu t sur l'interface entre les milieux 1 et 2 et donne naissance à la fois å une onde réfléchir et à une onde transmise. Les vecteurs ni, nr et nt sont les vecteurs unitaires normaux aux fronts d'onde respectifs, et dont dirigés dans le sens de la propagation. Les angles #i, #r, #t sont, respectivement, les angles d'incidence, de reflexion et de réfraction.
- Pour des angles d'incidence #i supérieurs ou égaux à l'angle critique #i@, l'onde est totalement rsseflechie dans le milieu 1.
- Quand l'onde incidente est polarisée avec son vecteur parallèle au plan d'incidence il n'ya pas d'onde reflechie si on
Le rayon reflechli qui manque ferait un angle de 90 avec le rayon transmis. Quels que soient les deux milieux, la somme des deux angles #iB vaut 90v.
En référence à la figure 6 représentant les réflexion et réfraction à la surface d'un bon conducteur pour une onde électromagnétique arrivant sous incidence normale sur une lame conductrice d'épaisseur n 5 les indices i,r, t, tr,tt,indiquent, respectivement l'onde incidente, l'onde réfléchie à la première interface, l'onde transmise à la première interface, etc.. On néglige les ré+lections multiples à l'intérieur de la lame conductrice.
Les symboles représentés correspondent g = champ électrique
H = champ magnétique, champ su@@@
Q = facteur de qualité du milieu
= = densité superficielle de charges conductivité
= = déplacement électrique = perméabilité magnétique relative = B/H = perméabilité
= temps = produit vectoriel de E et H
S = distance d'atténuation
k = nombre d'onde = kz - # ki = #/U
ki = constante d'atténuation
t = longueur d'onde réduite
w = fréquence angulaire
f = fréquence
U = vitesse de phase d'une onde
kr = 1/t
jk = constante de propaqation
z = = direction de propagation
= moment dipolaire électrique par unité de volume
polarisation électrique
= élément de longueur, épaisseur, distance

Claims (2)

REVENDICATIONS
1. MPtallisation d'un substrat selon la revendication i du brevet principal par une couche mince obtenue en une seule opération au moyen de plusieurs métaux comme par exemple du Cuivre, du Nickel, du Fer et du Chrome dans le but de former une protection contre les ondes électromagnétiques pour toutes matières vivantes ou inertes, caractérisée en ce que ces métaux, qui ont des températures d3hbullition di++rentes, sont dans un premier temps intimement mélangés dans des creusets, et ensuite vaporisés sous vide en une seule opération au départ desdits creusets ou sources d' évaporation.
2 tallisation d'un substrat selon la revendication précédente, caractérisée en ce que le dépôt d'alliage forme un blindage de protection, du fait de la haute perméabilité magnétique initiale de la couche mince déposée, laquelle ne présente au surplus aucun défaut directement visible et a par conséquent un bon indice de réflexion.
FR8811556A 1988-07-12 1988-08-25 Methode de metallisation et formation d'un alliage qui peut etre a haute permeabilite magnetique par vaporisation sous vide. Expired - Lifetime FR2667878B2 (fr)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR8811556A FR2667878B2 (fr) 1988-07-12 1988-08-25 Methode de metallisation et formation d'un alliage qui peut etre a haute permeabilite magnetique par vaporisation sous vide.
PCT/FR1989/000369 WO1990000632A1 (fr) 1988-07-12 1989-07-12 Metallisations et substrats obtenus par evaporation sous vide de plusieurs metaux a partir d'une source
AU38712/89A AU3871289A (en) 1988-07-12 1989-07-12 Metallizations and substrates obtained by vacuum evaporation of a plurality of metals from a source

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR8809898A FR2634223B1 (fr) 1988-07-12 1988-07-12 Procede de metallisation d'un filtre offrant des protections multiples contre les ondes electromagnetiques
FR8811556A FR2667878B2 (fr) 1988-07-12 1988-08-25 Methode de metallisation et formation d'un alliage qui peut etre a haute permeabilite magnetique par vaporisation sous vide.

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FR2667878A2 true FR2667878A2 (fr) 1992-04-17
FR2667878B2 FR2667878B2 (fr) 1994-04-15

Family

ID=26226812

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FR8811556A Expired - Lifetime FR2667878B2 (fr) 1988-07-12 1988-08-25 Methode de metallisation et formation d'un alliage qui peut etre a haute permeabilite magnetique par vaporisation sous vide.

Country Status (1)

Country Link
FR (1) FR2667878B2 (fr)

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE565082A (fr) * 1957-02-27
US3450465A (en) * 1968-08-02 1969-06-17 Gen Motors Corp Mirror with a partially reflecting thin metal alloy coating on a plastic base
GB1160813A (en) * 1966-07-14 1969-08-06 Ibm Ferromagnetic Films
DE3017713A1 (de) * 1980-05-08 1981-11-12 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zur fortlaufenden beschichtung von kunststoffolien mit metallschichten
FR2592395A1 (fr) * 1985-12-26 1987-07-03 Grandclement Gilbert Procede de realisation d'un reflecteur d'ondes hyperfrequences par depot ionique sur matiere plastique injectee.

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
BE565082A (fr) * 1957-02-27
GB1160813A (en) * 1966-07-14 1969-08-06 Ibm Ferromagnetic Films
US3450465A (en) * 1968-08-02 1969-06-17 Gen Motors Corp Mirror with a partially reflecting thin metal alloy coating on a plastic base
DE3017713A1 (de) * 1980-05-08 1981-11-12 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Verfahren zur fortlaufenden beschichtung von kunststoffolien mit metallschichten
FR2592395A1 (fr) * 1985-12-26 1987-07-03 Grandclement Gilbert Procede de realisation d'un reflecteur d'ondes hyperfrequences par depot ionique sur matiere plastique injectee.

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS, vol. 62, no. 9, 1 novembre 1987, pages 3694-3699, American Institute of Physics, New York, US; Y. SHIROISHI et al.: "Crystallographic and electrical properties of Fe/Cr and Cu/Ni superlattices" *
JOURNAL OF VACUUM SCIENCE & TECHNOLOGY/PART A, vol. 4, no. 5, série 2, septembre/octobre 1986, pages 2364-2368, American Vacuum Society, Woodbury, NY, US; Y. NAGAI et al.: "Magnetoresistance effect of Ni-Fe film formed by ion beam sputtering" *

Also Published As

Publication number Publication date
FR2667878B2 (fr) 1994-04-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Baral et al. Mechanical properties of composition modulated Cu‐Ni foils
Smith et al. Z-scan measurement of the nonlinear absorption of a thin gold film
Wolf et al. Proximity electron tunneling spectroscopy I. Experiments on Nb
Haensel et al. Measurement of photoabsorption of the lithium halides near the lithium K edge
Lindau et al. Experimental verification of optically excited longitudinal plasmons
Pettit et al. Film structure and enhanced superconductivity in evaporated aluminum films
Rasing et al. Giant nonlinear magneto‐optical Kerr effects from Fe interfaces
Kanetsuki et al. Effect of thickening outermost layers in Al/Ni multilayer film on thermal resistance of reactively bonded solder joints
Morawe et al. Structure and thermal stability of sputtered metal/oxide multilayers: The case of Co/Al2O3
Tsuneoka et al. Localization and pair breaking parameter in superconducting molybdenum nitride thin films
FR2667878A2 (fr) Methode de metallisation et formation d&#39;un alliage qui peut etre a haute permeabilite magnetique par vaporisation sous vide.
Dutheil et al. AlN, ZnO thin films and AlN/ZnO or ZnO/AlN multilayer structures deposited by PLD for surface acoustic wave applications
Nestell Jr et al. Structure and optical properties of evaporated films of the Cr‐and V‐group metals
Vinogradov et al. Thermostimulated polariton emission of zinc selenide films on metal substrate
Conrad et al. Phase effects in magnetic second-harmonic generation on ultrathin Co and Ni films on Cu (001)
Watton Grain size and enhanced transition temperature in quenched thin films
Xiao et al. Nondestructive determination of film thickness with laser-induced surface acoustic waves
Morita et al. Bulk and shear relaxation processes in poly-i-butyl methacrylate
Konzelmann et al. Wavelength dependence of the second harmonic generation of percolating gold thin films
Stjerna et al. Optical and electrical properties of SnOx thin films made by reactive RF magnetron sputtering
Fasasi et al. Non-linear absorption and second harmonic imaging of Zn–BaTiO3 thin films prepared by laser ablation
Zhu et al. Grazing-incidence x-ray study of the charge-density-wave phase transition in K 0.3 MoO 3
Yao et al. Optical and electrical properties of BaSnO3 and In2O3 mixed transparent conductive films deposited by filtered cathodic vacuum arc technique at room temperature
Krištofik et al. The Effect of Pressure on Conductivity and Permittivity of As2Te3‐Based Glasses
Hugenschmidt et al. Surface morphology after low coverage Pt deposition on Cu (110)