FR2663738A1 - Dispositif d'analyse de l'intensite lumineuse au sein d'un faisceau. - Google Patents
Dispositif d'analyse de l'intensite lumineuse au sein d'un faisceau. Download PDFInfo
- Publication number
- FR2663738A1 FR2663738A1 FR9007749A FR9007749A FR2663738A1 FR 2663738 A1 FR2663738 A1 FR 2663738A1 FR 9007749 A FR9007749 A FR 9007749A FR 9007749 A FR9007749 A FR 9007749A FR 2663738 A1 FR2663738 A1 FR 2663738A1
- Authority
- FR
- France
- Prior art keywords
- holes
- analysis
- drum
- window
- slots
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 8
- 239000007787 solid Substances 0.000 claims description 7
- 238000011084 recovery Methods 0.000 claims description 5
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 2
- 238000004804 winding Methods 0.000 abstract 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 2
- 238000004513 sizing Methods 0.000 description 2
- NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N (2s)-2-[[4-[2-(2,4-diaminoquinazolin-6-yl)ethyl]benzoyl]amino]-4-methylidenepentanedioic acid Chemical compound C1=CC2=NC(N)=NC(N)=C2C=C1CCC1=CC=C(C(=O)N[C@@H](CC(=C)C(O)=O)C(O)=O)C=C1 NAWXUBYGYWOOIX-SFHVURJKSA-N 0.000 description 1
- 108010076282 Factor IX Proteins 0.000 description 1
- 230000004907 flux Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 1
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
- G01J1/4257—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors applied to monitoring the characteristics of a beam, e.g. laser beam, headlamp beam
- G01J2001/4261—Scan through beam in order to obtain a cross-sectional profile of the beam
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
L'invention concerne un dispositif permettant d'analyser la répartition de l'intensité lumineuse au sein d'un faisceau (I), tel qu'un faisceau laser, par balayage séquentiel suivant des lignes juxtaposées (l) à l'intérieur d'une fenêtre (XY) destinée à recevoir le faisceau lumineux. Le dispositif comprend un tambour d'analyse rotatif (Ma), dont la surface est percée de petis trous (T) régulièrement répartis suivant une hélice s'enroulant sur Na spires autour de l'axe de rotation (A), et un tambour cache (Mc), dont la surface est percée de fentes (F) oblongues en nombre égal à celui desdits trous, régulièrement réparties suivant une hélice formant Nc spires de façon qu'à chaque instant un seul des trous (T) soit découvert dans la fenêtre (XY) par une fente (F). Le PGGD des nombres Na et Nc est choisi égal à 1, et les tambours (Ma, Mc) sont entraînés à des vitesses respectives Va et Vc dont le rapport est égal à celui desdits nombres Na et Nc.
Description
Dispositif d'analyse de l'intensité lumineuse au sein d'un faisceau
La présente invention se rapporte à un dispositif permettant d'analyser la répartition de l'intensité lumineuse au sein d'un faisceau de lumière par balayage séquentiel suivant des lignes juxtaposées à l'intérieur d'une fenêtre destinée à recevoir le faisceau lumineux, ce dispositif comprenant une pièce d'analyse rotative dont la surface, pleine et opaque, est percée de petits trous régulièrement répartis suivant un tracé s'enroulant autour de l'axe de rotation de la pièce de façon que les trous se présentent successivement dans la fenêtre et s'y déplacent en définissant l'une après l'autre les lignes de balayage.
La présente invention se rapporte à un dispositif permettant d'analyser la répartition de l'intensité lumineuse au sein d'un faisceau de lumière par balayage séquentiel suivant des lignes juxtaposées à l'intérieur d'une fenêtre destinée à recevoir le faisceau lumineux, ce dispositif comprenant une pièce d'analyse rotative dont la surface, pleine et opaque, est percée de petits trous régulièrement répartis suivant un tracé s'enroulant autour de l'axe de rotation de la pièce de façon que les trous se présentent successivement dans la fenêtre et s'y déplacent en définissant l'une après l'autre les lignes de balayage.
On utilise aujourd'hui, pour effectuer l'analyse d'un faisceau lumineux, tel qu'un faisceau laser à haut flux, et obtenir une cartographie complète de la répartition de l'intensité lumineuse dans une section transversale du faisceau, des dispositifs d'analyse de deux types principaux.
Les dispositifs du premier type comportent une petite aiguille percée d'un trou, jouant le rôle d'un périscope mobile, qui collecte des échantillons de l'énergie lumineuse d'un faisceau laser et les transmet à un détecteur. L'aiguille, déplacée dans le champ d'analyse par rotation et translation, permet d'obtenir la répartition de l'intensité lumineuse dans une section transversale du faisceau.
Le principal inconvénient de ces dispositifs réside dans la faiblesse de la cadence d'analyse qu'ils autorisent, qui ne permet de disposer d'images cartographiques qu'à une fréquence inférieure au hertz. En outre, ces dispositifs, utilisant des renvois optiques tournants, ne garantissent pas une parfaite indépendance de leur réponse vis-à-vis des caractéristiques propres du faisceau, et en particulier de celles qui sont relatives à la polarisation.
Les dispositifs du second type fonctionnent, suivant le principe imaginé par Nipkow il y a plus d'un siècle, à l'aide d'un disque tournant percé de trous disposés en une spirale qui s'étend sur un tour. Un faisceau laser venant frapper le disque, le flux lumineux élémentaire passant successivement à travers chaque trou est collecté par un système optique et appliqué à un détecteur. La rotation du disque permet de réaliser un échantillonnage complet du champ d'analyse par balayage séquentiel de lignes. Le disque peut être remplacé par un tambour percé de trous disposés en hélice.
Ce second type de dispositifs offre plusieurs avantages.
La cadence d'analyse est relativement importante (plusieurs dizaines d'images complètes par seconde); le dispositif, dont le disque (ou le tambour) diffuse ou réfléchit la majeure partie du faisceau incident vers un piège à lumière, autorise des mesures sur des faisceaux laser de très grande puissance; la partie active dans la fenêtre d'analyse, constituée par un simple trou du disque (ou tambour) tournant, n'apporte aucune perturbation optique et permet ainsi de réaliser des mesures absolues.
Ces avantages s'accompagnent toutefois de plusieurs inconvénients. Il y a d'abord ceux, propres à tout système de balayage, touchant à l'échantillonnage spatial et temporel d'une image. Un autre inconvénient, propre au principe de Nipkow, est le suivant : la surface utile totale du disque (ou tambour) est égale à celle de la fenêtre d'analyse multipliée par le nombre de lignes de balayage, ce qui apporte une limitation pratique soit aux dimensions du champ image balayé pour une résolution imposée (liée au nombre de lignes), soit à la résolution dans un champ donné.
La présente invention a pour but de supprimer cette limitation pratique.
A cet effet, selon l'invention, le tracé suivant lequel sont répartis les trous de ladite pièce d'analyse forme non pas une, mais plusieurs spires autour de l'axe de rotation de celle-ci, et une autre pièce rotative, dite pièce cache, est prévue, tournant dans le même sens autour du même axe, sa surface, pleine et opaque, étroitement juxtaposée avec celle de la pièce d'analyse, étant percée de fentes oblongues, orientées suivant les lignes décrites par les trous de la pièce d'analyse, en nombre égal à celui desdits trous et réparties suivant un tracé formant au moins une spire autour de l'axe de rotation, ces fentes étant disposées et dimensionnées de façon qu'à chaque instant un seul des trous de la pièce d'analyse soit découvert dans la fenêtre par coincidence avec une fente de la pièce cache, tandis que tout autre trou s'y trouvant éventuellement est masqué par la surface opaque de la pièce cache, le nombre Na de spires du tracé relatif aux trous de la pièce d'analyse et le nombre Nc de spires du tracé relatif aux fentes de la pièce cache étant choisis à cet effet tels que leur
PGCD soit égal à 1, tandis que les pièces précitées sont entraînées à des vitesses de rotation respectives Va et Vc dont le rapport est égal à celui des nombres de trous Na et de fentes Nc desdites pièces.
PGCD soit égal à 1, tandis que les pièces précitées sont entraînées à des vitesses de rotation respectives Va et Vc dont le rapport est égal à celui des nombres de trous Na et de fentes Nc desdites pièces.
Ainsi, dans un dispositif selon l'invention, plusieurs trous, parmi tous ceux que comporte la pièce d'analyse, sont présentés simultanément dans la fenêtre d'analyse, chaque trou correspondant à une zone de balayage différente. La pièce cache a pour rôle de sélectionner un seul des trous présents dans ladite fenêtre. Ces deux pièces sont agencées et tournent dans le rapport de vitesse comme énoncé plus haut, de sorte qu'à chaque instant un seul trou de la pièce d'analyse est actif et laisse passer un faisceau élémentaire d'échantillonnage se déplaçant dans la fenêtre suivant un mouvement de balayage séquentiel.
Ce résultat est obtenu avec une pièce d'analyse dont le pourtour a une longueur réduite, par rapport à celle qui serait nécessaire sans pièce cache, d'un facteur égal au nombre de spires Na du tracé suivant lequel sont répartis les trous. Par suite, le dispositif présente un encombrement très inférieur à celui d'un dispositif classique, pour un champ d'analyse de mêmes dimensions et une même résolution.
Dans une première forme de réalisation du dispositif d'analyse, les pièces rotatives qu'il comporte sont des disques percés respectivement de trous et de fentes suivant des tracés en forme de spirales centrées sur leur axe commun.
Dans une deuxième forme de réalisation, les pièces rotatives sont des tambours dont les surfaces latérales, de pourtour circulaire, sont percées respectivement de trous et de fentes suivant des tracés en forme d'hélices.
Plus précisément, il convient de faire en sorte que, la fenêtre d'analyse étant une fenêtre rectangulaire de dimensions X en direction périphérique et Y en direction axiale des tambours, la longueur L de chacune des fentes du tambour cache soit égale à
L = X - (X - d) Nc/Na si Na > Nc ou L = X Nc/Na - (X - d) si Na < Nc, où d est la dimension des trous en direction périphérique, et que les nombres de spires Na et Nc de trous et de fentes des tambours et le nombre de lignes de balayage Ne satisfassent aux conditions
Na (1 + d/X) Ne /g et Na < Nc (It + X - d) / X où It est la distance des trous successifs comptée suivant un parallèle du tambour d'analyse, soit
It = Pa Na / Ne W X + d
Pa étant le périmètre du tambour d'analyse.Ces deux dernières conditions répondent à des contraintes à respecter, selon lesquelles le diamètre des tambours doit être très supérieur à la largeur X de la fenêtre et les fenêtres du tambour cache doivent être disjointes.
L = X - (X - d) Nc/Na si Na > Nc ou L = X Nc/Na - (X - d) si Na < Nc, où d est la dimension des trous en direction périphérique, et que les nombres de spires Na et Nc de trous et de fentes des tambours et le nombre de lignes de balayage Ne satisfassent aux conditions
Na (1 + d/X) Ne /g et Na < Nc (It + X - d) / X où It est la distance des trous successifs comptée suivant un parallèle du tambour d'analyse, soit
It = Pa Na / Ne W X + d
Pa étant le périmètre du tambour d'analyse.Ces deux dernières conditions répondent à des contraintes à respecter, selon lesquelles le diamètre des tambours doit être très supérieur à la largeur X de la fenêtre et les fenêtres du tambour cache doivent être disjointes.
Pour éviter en outre l'apparition de signaux parasites dus à la trop grande proximité d'un trou et de fentes correspondant à la ligne précédente ou suivante, il convient, dans l'hypothèse ordinaire où le taux de recouvrement a des lignes de balayage ( = d/r, r étant la distance entre lignes) est strictement inférieur à 2, que les quantités Na, Nc et Ne (qui s'expriment par des nombres entiers) satisfassent à la condition
int (val + 0,5) - val I > L/Pa où val = Nc (k/Na + k étant un entier compris entre 1 et Na - 1, bornes incluses, et int (z) représentant la partie entière d'un nombre z non entier.
int (val + 0,5) - val I > L/Pa où val = Nc (k/Na + k étant un entier compris entre 1 et Na - 1, bornes incluses, et int (z) représentant la partie entière d'un nombre z non entier.
De préférence, la surface de la pièce d'analyse est placée en amont de celle de la pièce cache dans le sens de propagation du faisceau lumineux à analyser, afin d'améliorer la tenue du dispositif aux faisceaux lumineux de forte puissance et de permettre une meilleure localisation de la surface analyse à l'intérieur du faisceau.
D'autres caractéristiques et avantages de l'invention ressortiront de la description qui va suivre, en regard des dessins annexés, d'exemples de réalisation non limitatifs.
La figure 1 représente en perspective, de façon schématique et simplifiée, un dispositif d'analyse selon l'invention.
Les figures 2a et 2b, composées d'images se succèdant dans le temps à la manière de celles d'un film cinématographique, illustrent le principe de fonctionnement d'un dispositif selon l'invention, dans deux cas distincts.
Les figures 3a à 3e montrent comment est obtenue la réduction d'encombrement que permet un dispositif selon l'invention, la figure 3a représentant la développée de l'hélice des trous du tambour d'analyse, la figure 3b la développée de l'hélice des fentes du tambour cache, la figure 3c la développée du tambour d'analyse, la figure 3d la développée du tambour cache et la figure 3e la développée des deux tambours assemblés.
La figure 4 représente schématiquement une portion des tambours dans la région de la fenêtre d'analyse.
Les figures 5 à 8, analogues à la figure 4, montrent respectivement trois exemples de dispositions inexploitables et un quatrième exemple permettant de réaliser un dispositif fonctionnant effectivement.
Le dispositif d'analyse optique représenté à la figure 1 comprend essentiellement deux tambours rotatifs Ma, Mc, qui peuvent être mis en rotation dans le même sens autour de leur axe commun A à des vitesses respectives Va, Vc par un mécanisme d'entraînement non représenté. Leurs surfaces latérales, en forme de cylindres de révolution et étroitement juxtaposées, sont constituées par des parois pleines percées de petits trous T pour le tambour Ma, dit tambour d'analyse, et de petites fentes oblongues F pour le tambour
Mc, dit tambour cache.
Mc, dit tambour cache.
Les trous T du tambour d'analyse Ma sont disposés suivant un tracé hélicoïdal de façon à décrire, lorsque ce tambour est mis en rotation, des lignes de balayage dans une fenêtre rectangulaire
XY couvrant une portion du pourtour des tambours Ma, Mc. D'un faisceau de lumière parallèle I, tombant suivant une direction radiale à l'intérieur de la fenêtre XY, est extrait un fin pinceau
P qui traverse le tambour Ma par un trou T présent dans la fenêtre
XY. Ce pinceau est dévié, dans le présent exemple par une lentille optique 0, vers un détecteur photo-électrique D qui permet d'en mesurer l'intensité lumineuse. Du fait de la rotation du tambour
Ma, les trous T qu'il comporte décrivent successivement des lignes de balayage parallèles e couvrant toute la fenêtre XY, de sorte que le faisceau incident I peut être analysé point par point dans une section transversale.
XY couvrant une portion du pourtour des tambours Ma, Mc. D'un faisceau de lumière parallèle I, tombant suivant une direction radiale à l'intérieur de la fenêtre XY, est extrait un fin pinceau
P qui traverse le tambour Ma par un trou T présent dans la fenêtre
XY. Ce pinceau est dévié, dans le présent exemple par une lentille optique 0, vers un détecteur photo-électrique D qui permet d'en mesurer l'intensité lumineuse. Du fait de la rotation du tambour
Ma, les trous T qu'il comporte décrivent successivement des lignes de balayage parallèles e couvrant toute la fenêtre XY, de sorte que le faisceau incident I peut être analysé point par point dans une section transversale.
Toutefois, le tracé hélicoïdal sur lequel se succèdent les trous T forme non pas une, mais plusieurs spires sur le tambour Ma, de sorte que plusieurs trous T peuvent être simultanément présents dans la fenêtre XY (au nombre de 2 dans la représentation de la figure 1). C'est pour éviter que, dans un tel cas, plusieurs pinceaux élémentaires P traversent ensemble le tambour Ma et atteignent conjointement le détecteur D que le tambour cache Mc a été prévu. Ce tambour est en effet conçu de façon que ses fentes F, disposées suivant un tracé hélicoïdal comme les trous T, ne découvrent qu'un seul trou T à la fois dans la fenêtre XY.
Les figures 2a et 2b montrent comment peut être sélectionné, grâce aux fentes F du tambour Mc, celui des trous T du tambour Ma qui sera actif, c'est-à-dire non obturé, dans la fenêtre XY. La figure 2a correspond au cas où la vitesse de rotation Vc du tambour Mc est supérieure à la vitesse de rotation
Va du tambour Ma. En lisant cette figure de haut en bas, on voit un trou Ti abordant la fenêtre, de largeur X, pour y décrire une ligne de balayage ei. Ce trou est drabord masqué par la paroi pleine du tambour Mc. Puis, à son entrée dans la fenêtre, il se trouve démasqué par la fente correspondante Fi qui se trouvait juste derrière lui. Le trou Ti parcourt alors la fenêtre, toujours découvert, car il demeure en regard de la fente Fi.Enfin, arrivé près de l'autre bord de la fenêtre, il coïncide avec l'extrémité postérieure de la fente Fi et, sortant de la fenêtre, il est à nouveau masqué. Pendant ce temps, un autre trou Tj, présent dans le fenêtre, est resté constamment masqué par la paroi pleine du tambour Mc.
Va du tambour Ma. En lisant cette figure de haut en bas, on voit un trou Ti abordant la fenêtre, de largeur X, pour y décrire une ligne de balayage ei. Ce trou est drabord masqué par la paroi pleine du tambour Mc. Puis, à son entrée dans la fenêtre, il se trouve démasqué par la fente correspondante Fi qui se trouvait juste derrière lui. Le trou Ti parcourt alors la fenêtre, toujours découvert, car il demeure en regard de la fente Fi.Enfin, arrivé près de l'autre bord de la fenêtre, il coïncide avec l'extrémité postérieure de la fente Fi et, sortant de la fenêtre, il est à nouveau masqué. Pendant ce temps, un autre trou Tj, présent dans le fenêtre, est resté constamment masqué par la paroi pleine du tambour Mc.
La figure 2b montre comment le même résultat est obtenu dans le cas où le tambour cache Mc tourne plus lentement que le tambour d'analyse Ma (Vc < Va). Ici, au lieu que le trou Ti soit rattrapé puis dépassé par la fente Fi pour entre-temps être mis à découvert dans l'espace de la fenêtre de largeur X, c'est le trou
Ti qui rattrape la fente Fi, à son entrée dans la fenêtre, puis la dépasse à sa sortie de cette dernière.
Ti qui rattrape la fente Fi, à son entrée dans la fenêtre, puis la dépasse à sa sortie de cette dernière.
Dans l'exemple de réalisation illustré par les figures 3a à 3e, le tambour Ma comporte 13 trous T et le tambour Mc 13 fentes
F, en nombre égal au nombre Ne = 13 de lignes choisi pour le balayage de la fenêtre XY. L'hélice formée par les trous T (figure 3a) s'étend sur Na = 3 spires sur le tambour Ma (figure 3c), tandis que l'hélice formée par les fentes F (figure 3b) s'étend sur Nc = 2 spires sur le tambour Mc (figure 3d). Dans le présent exemple, le gain sur le diamètre des tambours est donc de 3 par rapport à un dispositif classique utilisant un tambour d'analyse conforme à la figure 3a, mais ne comportant qu'un tour d'hélice, ce qui représente un facteur 9 sur le volume du dispositif, la hauteur étant inchangée. Comme on peut le voir sur la figure 3e montrant les deux tambours juxtaposés, un unique trou T est découvert par une fente F à l'intérieur de la fenêtre XY.Une telle situation est maintenue durant la rotation des tambours Ma et Mc (le tambour Ma faisant 3 tours pendant que le tambour Mc en fait 2), car les chiffres choisis dans le présent exemple satisfont aux conditions nécessaires qui vont être exposées ci-dessous.
F, en nombre égal au nombre Ne = 13 de lignes choisi pour le balayage de la fenêtre XY. L'hélice formée par les trous T (figure 3a) s'étend sur Na = 3 spires sur le tambour Ma (figure 3c), tandis que l'hélice formée par les fentes F (figure 3b) s'étend sur Nc = 2 spires sur le tambour Mc (figure 3d). Dans le présent exemple, le gain sur le diamètre des tambours est donc de 3 par rapport à un dispositif classique utilisant un tambour d'analyse conforme à la figure 3a, mais ne comportant qu'un tour d'hélice, ce qui représente un facteur 9 sur le volume du dispositif, la hauteur étant inchangée. Comme on peut le voir sur la figure 3e montrant les deux tambours juxtaposés, un unique trou T est découvert par une fente F à l'intérieur de la fenêtre XY.Une telle situation est maintenue durant la rotation des tambours Ma et Mc (le tambour Ma faisant 3 tours pendant que le tambour Mc en fait 2), car les chiffres choisis dans le présent exemple satisfont aux conditions nécessaires qui vont être exposées ci-dessous.
Conformément à la figure 4, l'intervalle It séparant deux trous T consécutifs sur l'hélice qui les porte est mesuré suivant un parallèle du tambour Ma. Il en va de même pour l'intervalle If des fentes F consécutives du tambour Mc. Ces dernières, de longueur
L, ont une largeur égale au diamètre d des trous (ronds) T.
L, ont une largeur égale au diamètre d des trous (ronds) T.
Pour l'établissement des conditions à respecter, de nombreuses variables sont utilisables. Comme il existe des relations entre elles, elles ne sont pas toutes indépendantes. Huit d'entre elles ont été choisies comme variables indépendantes pour leur commodité d'utilisation; mais d'autres choix sont possibles.
Ces huit variables indépendantes, qui ont déjà été présentées pour la plupart, sont les suivantes
C = cadence d'images;
Na = nombre de pas d'hélice sur le tambour d'analyse Ma;
Nc = nombre de pas d'hélice sur le tambour cache Mc; Ng = nombre de lignes d'analyse ( = nombre de trous T et de
fentes F);
X = largeur de la fenêtre d'analyse;
Y = hauteur de la fenêtre d'analyse;
d = diamètre des trous T du tambour d'analyse;
It = distance entre trous sur la surface du tambour d'analyse.
C = cadence d'images;
Na = nombre de pas d'hélice sur le tambour d'analyse Ma;
Nc = nombre de pas d'hélice sur le tambour cache Mc; Ng = nombre de lignes d'analyse ( = nombre de trous T et de
fentes F);
X = largeur de la fenêtre d'analyse;
Y = hauteur de la fenêtre d'analyse;
d = diamètre des trous T du tambour d'analyse;
It = distance entre trous sur la surface du tambour d'analyse.
On notera que
Na, Nc et NE sont des entiers,
NE est supérieur à Na et à Nc, et
It est supérieur ou égal à X + d (cf figure 4).
Na, Nc et NE sont des entiers,
NE est supérieur à Na et à Nc, et
It est supérieur ou égal à X + d (cf figure 4).
Les autres variables sont les suivantes
Da = diamètre du tambour d'analyse;
Dc = diamètre du tambour cache;
Pa = périmètre du tambour d'analyse;
Va = vitesse de rotation du tambour d'analyse;
Vc = vitesse de rotation du tambour cache;
r = résolution du balayage (distance entre lignes de balayage
e); Gr = taux de recouvrement du balayage ( = dît), normalement
inférieur à 2;
If = distance entre fentes;
L = longueur des fentes du tambour cache.
Da = diamètre du tambour d'analyse;
Dc = diamètre du tambour cache;
Pa = périmètre du tambour d'analyse;
Va = vitesse de rotation du tambour d'analyse;
Vc = vitesse de rotation du tambour cache;
r = résolution du balayage (distance entre lignes de balayage
e); Gr = taux de recouvrement du balayage ( = dît), normalement
inférieur à 2;
If = distance entre fentes;
L = longueur des fentes du tambour cache.
Les grandeurs, exprimées ou calculées, relatives au tambour cache Mc sont en fait les projections radiales sur le tambour d'analyse Ma des vraies grandeurs. Ces vraies grandeurs sont donc à corriger, dans la direction périphérique des parallèles des tambours, par le rapport des diamètres (Dc/Da).
Un certain nombre de relations peuvent être écrites entre ces variables.
La vitesse de rotation à imprimer à chaque tambour Ma, Mc est proportionnelle à la cadence d'images C et au nombre de spires
Na, Nc des trous ou des fentes qu'ils comportent. Par suite, en exprimant par exemple C en images/seconde et Va et Vc en tours/seconde, on a
Va = C. Na (1)
Vc = C. Nc (2)
Le périmètre Pa du tambour d'analyse, de diamètre Da, est égal à la longueur de l'hélice des trous NE.It divisée par son nombre de spires Na
Pa = v .Da = Ne .It/Na (3)
Il est à remarquer que la vitesse périphérique du tambour d'analyse
Ma, qui est égale au produit de sa vitesse de rotation Va par son périmètre Pa, peut s'écrire (C.Na) (NE.It/Na), soit C.NQ.It et est donc indépendante du nombre de tours d'hélice Na. Elle ne dépend que des paramètres de l'analyse.Ceci a une certaine importance, puisque la tenue à la rupture d'un tambour tournant n'est liée, pour un matériau donné, qu'à sa vitesse périphérique.
Na, Nc des trous ou des fentes qu'ils comportent. Par suite, en exprimant par exemple C en images/seconde et Va et Vc en tours/seconde, on a
Va = C. Na (1)
Vc = C. Nc (2)
Le périmètre Pa du tambour d'analyse, de diamètre Da, est égal à la longueur de l'hélice des trous NE.It divisée par son nombre de spires Na
Pa = v .Da = Ne .It/Na (3)
Il est à remarquer que la vitesse périphérique du tambour d'analyse
Ma, qui est égale au produit de sa vitesse de rotation Va par son périmètre Pa, peut s'écrire (C.Na) (NE.It/Na), soit C.NQ.It et est donc indépendante du nombre de tours d'hélice Na. Elle ne dépend que des paramètres de l'analyse.Ceci a une certaine importance, puisque la tenue à la rupture d'un tambour tournant n'est liée, pour un matériau donné, qu'à sa vitesse périphérique.
La distance It entre trous (figure 4) est au moins égale à la largeur X de la fenêtre augmentée du diamètre d des trous
It > / X + d (4)
On peut en outre déduire de la figure 4 que
r = (Y - d) / (Ne -1) (5)
Le pas périphérique If des fentes F a pour valeur
If = It.Nc/Na (6)
Quant à la longueur L des fentes F, on peut la calculer en écrivant que pendant qu'un trou T parcourt à travers la fenêtre une distance X, une fente F parcourt une distance X + L - d dans le cas où Vc > Va, c'est-à-dire Nc > Na (figure 2a), ou que le trou T parcourt à travers la fenêtre une distance X - d alors qu'une fente parcourt une distance X - L dans le cas où Vc < Va, soit Nc < Na (figure 2b). I1 vient
- si Nc > Na : L = (X.Nc/Na) - (X - d) (7)
- si Nc < Na :L = X - (X - d) Nc/Na (8)
En pratique, la vitesse périphérique du tambour d'analyse Ma n'étant liée qu'aux caractéristiques de l'analyse, on choisira de préférence Nc < Na pour ne pas être pénalisé par une plus grande vitesse du tambour cache Mc.
It > / X + d (4)
On peut en outre déduire de la figure 4 que
r = (Y - d) / (Ne -1) (5)
Le pas périphérique If des fentes F a pour valeur
If = It.Nc/Na (6)
Quant à la longueur L des fentes F, on peut la calculer en écrivant que pendant qu'un trou T parcourt à travers la fenêtre une distance X, une fente F parcourt une distance X + L - d dans le cas où Vc > Va, c'est-à-dire Nc > Na (figure 2a), ou que le trou T parcourt à travers la fenêtre une distance X - d alors qu'une fente parcourt une distance X - L dans le cas où Vc < Va, soit Nc < Na (figure 2b). I1 vient
- si Nc > Na : L = (X.Nc/Na) - (X - d) (7)
- si Nc < Na :L = X - (X - d) Nc/Na (8)
En pratique, la vitesse périphérique du tambour d'analyse Ma n'étant liée qu'aux caractéristiques de l'analyse, on choisira de préférence Nc < Na pour ne pas être pénalisé par une plus grande vitesse du tambour cache Mc.
Après avoir choisi les valeurs des variables indépendantes, on peut calculer toutes les grandeurs de dimensionnement des éléments de l'appareil à l'aide des formules ci-dessus. Toutefois, le choix desdites valeurs comporte certaines contraintes qui vont maintenant être explicitées.
1 / I1 ne doit y avoir qu'un seul trou T découvert par une fente F dans la fenêtre d'analyse XY. Cela implique que le PGCD des valeurs de Na et de Nc soit égal à 1. Autrement dit, ces deux quantités doivent être égales à des nombres entiers premiers entre eux.
20/ Les diamètres Da, Dc des tambours Ma, Mc doivent être beaucoup plus grands que la largeur X de la fenêtre d'analyse.
Cette condition peut s'écrire, à l'aide de la formule (3)
Na NIIt / (tr.X) (9)
30/ Pour que le tambour cache conserve une certaine rigidité les fentes doivent être disjointes; on doit donc avoir, d'après la figure 4
L < If.
Na NIIt / (tr.X) (9)
30/ Pour que le tambour cache conserve une certaine rigidité les fentes doivent être disjointes; on doit donc avoir, d'après la figure 4
L < If.
Ceci n'apporte aucune restriction à la détermination des paramètres dans le cas où Na a été choisi inférieur à Nc (figure 2a).
Dans le cas où Na est supérieur à Nc (figure 2b), en revenant aux variables indépendantes, il vient, en utilisant les formules (6) et (8)
Na < Nc (It + X - d) / X (10)
40/ Pour éviter les signaux parasites, un trou ne doit pas apparaître dans la fenêtre d'analyse à côté d'une fente sur une ligne précédente ou suivante (sauf éventuellement dans le cas de balayage à traces fortement disjointes).
Na < Nc (It + X - d) / X (10)
40/ Pour éviter les signaux parasites, un trou ne doit pas apparaître dans la fenêtre d'analyse à côté d'une fente sur une ligne précédente ou suivante (sauf éventuellement dans le cas de balayage à traces fortement disjointes).
Cela impose que, pour tout k compris entre 1 et Na - 1 (1 4 k k \ < Na - 1), la partie décimale de l'expression
val = Nc (k / Na + 1 / NE) soit comprise entre L/Pa et 1 - L/Pa.
val = Nc (k / Na + 1 / NE) soit comprise entre L/Pa et 1 - L/Pa.
Si int (...) représente la partie entière d'une expression, cette condition s'écrit :
L / Pa 4 val - int(val) 4 1 - L / Pa
Cette condition peut aussi s'énoncer en disant que l'écart de l'expression "val" à l'entier le plus proche doit être supérieur à L / Pa, ce qui s'écrit :
int(val + 0,5) - val 1 > / L / Pa (11)
Les figures 5 à 8 illustrent des cas de respect ou de non-respect des quatre conditions énoncées ci-dessus.Ces figures, établies pour It = X + d (condition correspondant au minimum de temps mort entre lignes successives), montrent toutes un même tambour d'analyse Ma, comportant Ne = 45 trous T disposés suivant une hélice formant Na = 8 spires, auquel sont associés successivement quatre tambours caches Mc dont les 45 fentes F sont différemment agencées.
L / Pa 4 val - int(val) 4 1 - L / Pa
Cette condition peut aussi s'énoncer en disant que l'écart de l'expression "val" à l'entier le plus proche doit être supérieur à L / Pa, ce qui s'écrit :
int(val + 0,5) - val 1 > / L / Pa (11)
Les figures 5 à 8 illustrent des cas de respect ou de non-respect des quatre conditions énoncées ci-dessus.Ces figures, établies pour It = X + d (condition correspondant au minimum de temps mort entre lignes successives), montrent toutes un même tambour d'analyse Ma, comportant Ne = 45 trous T disposés suivant une hélice formant Na = 8 spires, auquel sont associés successivement quatre tambours caches Mc dont les 45 fentes F sont différemment agencées.
Sur la figure 5, l'hélice des fentes F forme Nc = 6 spires. Les nombres Na et Nc n'étant pas premiers entre eux, la condition 10/ n'est pas respectée. On constate en effet que deux trous T1 et T2 (en nombre égal au PGCD de Na et Nc) sont découverts simultanément dans la fenêtre d'analyse XY.
Sur la figure 6, l'hélice des fentes F forme Nc = 3 spires; la formule (10), qui se réduit ici à
Na < 2 Nc n'est pas satisfaite et la condition 30/ n'est pas respectée. On constate en effet que les fentes F se rejoignent les unes les autres, formant une hélice qui découpe complètement le tambour cache Mc.
Na < 2 Nc n'est pas satisfaite et la condition 30/ n'est pas respectée. On constate en effet que les fentes F se rejoignent les unes les autres, formant une hélice qui découpe complètement le tambour cache Mc.
Sur la figure 7, Nc = 5 spires. Dès lors, la quantité val s'écrit
val = 5 (k I 8 + 1 I 45).
val = 5 (k I 8 + 1 I 45).
Dans l'hypothèse où X = d (Ne - 1), on trouve
L / Pa = 0 (Ne - 1) Na - (Ne - 2) Nc 3/ N22
= 0,067
Etant donné que, pour k = 3 (valeur qui est bien dans l'intervalle val Na - in), val = 1,986, la formule (11) n'est pas satisfaite et la condition 40/ n'est pas respectée. Aussi observe-t-on sur la figure 7 des trous désignés par une flèche qui sont trop proches de fentes et seraient cause de lumière parasite en dehors de la lumière passant par le trou actif, découvert par une fente, situé dans la région centrale de la fenêtre.
L / Pa = 0 (Ne - 1) Na - (Ne - 2) Nc 3/ N22
= 0,067
Etant donné que, pour k = 3 (valeur qui est bien dans l'intervalle val Na - in), val = 1,986, la formule (11) n'est pas satisfaite et la condition 40/ n'est pas respectée. Aussi observe-t-on sur la figure 7 des trous désignés par une flèche qui sont trop proches de fentes et seraient cause de lumière parasite en dehors de la lumière passant par le trou actif, découvert par une fente, situé dans la région centrale de la fenêtre.
Après ces trois exemples qui ne peuvent être retenus, celui de la figure 8, correspondant à Nc = 7, satisfait, on peut le vérifier, à toutes les conditions posées, et permet donc de réaliser un dispositif d'analyse optique à deux tambours tel que décrit, offrant un gain en dimension de 8 (égal à Na), soit 64 en volume. A partir de ces données (NE, Na, Nc, X, d), toutes les autres variables peuvent être calculées, ce qui permet de déterminer les paramètres de dimensionnement de l'ensemble du dispositif. Le recouvrement des traces des lignes consécutives n'intervient pas dans les calculs. Simplement, il y a séparation si < 1 et recouvrement si > 1, étant observé qu'il n'y a pas d'intérêt à choisir une valeur supérieure à 2.
I1 est possible de mettre en oeuvre des trous T de forme quelconque. Il faut alors, dans les résultats obtenus, remplacer, dans la direction des parallèles, le diamètre par la largeur du trou et, dans la direction des méridiens, par sa hauteur.
Naturellement, dans le dispositif réalisé, le déphasage entre les tambours rotatifs devra être ajusté de façon que la zone où les trous du tambour d'analyse sont découverts par les fentes du tambour cache coïncide avec l'emplacement choisi pour la fenêtre d'analyse XY. En pratique, pour positionner correctement les deux tambours devant la fenêtre, il suffit de faire concorder dans la fenêtre, et à la fin de son balayage, un trou d'analyse, le bord de la fenêtre, et l'extrémité convenable de la fente correspondante, comme indiqué par une flèche sur les figures 2a et 2b pour les cas
Va < Vc et Va > Vc.
Va < Vc et Va > Vc.
En variante, on peut utiliser, à la place des tambours décrits ci-dessus, des disques juxtaposés tournant autour de leur axe commun, savoir un disque d'analyse percé à sa périphérie de trous suivant une spirale, semblable à un disque de Nipkow, la spirale formant toutefois plusieurs spires, et un disque cache percé à sa périphérie de fentes suivant une spirale formant un nombre de spires différent. Les éléments d'un dispositif d'analyse optique ainsi équipé de disques peuvent se calculer, mutatis mutandis, de la manière explicitée dans ce qui précède pour un dispositif à tambours.
Claims (6)
1. Dispositif permettant d'analyser la répartition de l'intensité lumineuse au sein d'un faisceau de lumière par balayage séquentiel suivant des lignes juxtaposées à l'intérieur d'une fenêtre destinée à recevoir le faisceau lumineux, ce dispositif comprenant une pièce d'analyse rotative dont la surface, pleine et opaque, est percée de petits trous régulièrement répartis suivant un tracé s'enroulant autour de l'axe de rotation de la pièce de façon que les trous se présentent successivement dans la fenêtre et s'y déplacent en définissant l'une après l'autre les lignes de balayage, caractérisé par le fait que le tracé suivant lequel sont répartis les trous (T) de ladite pièce d'analyse (Ma) forme plusieurs spires autour de l'axe de rotation (A) de celle-ci, et qu'une autre pièce rotative, dite pièce cacha, est prévue, tournant dans le même sens autour du même axe (A), sa surface, pleine et opaque, étroitement juxtaposée avec celle de la pièce d'analyse, étant percée de fentes (F) oblongues, orientées suivant les lignes (e) décrites par les trous de la pièce d'analyse, en nombre égal à celui desdits trous et réparties suivant un tracé formant au moins une spire autour de lTaxe de rotation, ces fentes étant disposées et dimensionnées de façon qu'à chaque instant un seul des trous (T) de la pièce d'analyse soit découvert dans la fenêtre (XY) par coïncidence avec une fente (F) de la pièce cache, tandis que tout autre trou s'y trouvant éventuellement est masqué par la surface opaque de la pièce cache, le nombre Na de spires du tracé relatif aux trous de la pièce d'analyse et le nombre Nc de spires du tracé relatif aux fentes de la pièce cache étant choisis à cet effet tels que leur PGCD soit égal à 1, tandis que les pièces précitées (Ma, Mc) sont entraînées à des vitesses respectives Va et Vc dont la rapport est égal à celui des nombres de trous Na et de fentes
Nc desdites pièces.
2. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé par le fait que les pièces rotatives (Ma, Mc) sont des disques percés respectivement de trous (T) et de fentes (F) suivant des tracés en forme de spirales centrées sur leur axe commun.
3. Dispositif selon la revendication 1, caractérisé par le fait que les pièces rotatives (Ma, Mc) sont des tambours dont les surfaces latérales, de pourtour circulaire, sont percées respectivement de trous (T) et de fentes (F) suivant des tracés en forme d'hélices.
4. Dispositif selon la revendication 3, caractérisé par le fait que, la fenêtre d'analyse (XY) étant une fenêtre rectangulaire de dimensions X en direction périphérique et Y en direction axiale des tambours (Ma, Mc), la longueur L de chacune des fentes (F) du tambour cache (Mc) est égale à
L = X - (X - d) Nc/Na si Na > Nc ou L = X Nc/Na - (X - d) si Na < Nc, où d est la dimension des trous (T) en direction périphérique, et que les nombres de spires Na et Nc de trous (T) et de fentes (F) des tambours et le nombre de lignes de balayage Ne satisfont aux conditions
Na Ne.It / (Tr.X) et Na < Nc (It + X - d) / X où It est la distance des trous successifs comptée suivant un parallèle du tambour d'analyse, soit
It = Pa Na / NQ > / X + d
Pa étant le périmètre du tambour d'analyse (Ma).
5. Dispositif selon la revendication 4, caractérisé par le fait que, dans l'hypothèse où le taux de recouvrement C des lignes de balayage (o= d/r, r étant la distance entre lignes) est strictement inférieur à 2, les quantités Na, Nc et NX satisfont à la condition
int (val + 0,5) - val I L/Pa où val = Nc (k/Na + 1/Ne), k étant un entier compris entre 1 et Na - 1, bornes incluses, et int (z) représentant la partie entière d'un nombre z non entier.
6. Dispositif selon l'une quelconque des revendications 1 à 5, caractérisé par le fait que la surface de la pièce d'analyse (Ma) est placée en amont de celle de la pièce cache (Mc) dans le sens de propagation du faisceau lumineux (I) à analyser.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9007749A FR2663738B1 (fr) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | Dispositif d'analyse de l'intensite lumineuse au sein d'un faisceau. |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FR9007749A FR2663738B1 (fr) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | Dispositif d'analyse de l'intensite lumineuse au sein d'un faisceau. |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FR2663738A1 true FR2663738A1 (fr) | 1991-12-27 |
| FR2663738B1 FR2663738B1 (fr) | 1993-11-19 |
Family
ID=9397844
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FR9007749A Expired - Fee Related FR2663738B1 (fr) | 1990-06-21 | 1990-06-21 | Dispositif d'analyse de l'intensite lumineuse au sein d'un faisceau. |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| FR (1) | FR2663738B1 (fr) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1260801A1 (fr) * | 2001-05-14 | 2002-11-27 | Agfa Corporation | Dispositif et méthode pour mesurer la qualité du champ d'illumination d'un système d'eclairage laser linéaire |
Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US1810610A (en) * | 1930-04-26 | 1931-06-16 | Jr William Martin Jones | Television apparatus |
| US1862743A (en) * | 1929-03-11 | 1932-06-14 | Callo D Fahrney | Television |
| GB381545A (en) * | 1931-07-04 | 1932-10-04 | Marconi Wireless Telegraph Co | Improvements in or relating to television scanning apparatus |
| DE572100C (de) * | 1930-07-09 | 1933-03-10 | Heinrich Maushake | Vorrichtung an Ruebenerntemaschinen zum Ausheben vorher gekoepfter Rueben mittels bewegter Werkzeuge |
| FR811143A (fr) * | 1935-12-26 | 1937-04-07 | Nouveau système d'exploration d'image pouvant être utilisé en télévision, émission et réception | |
| DE720115C (de) * | 1936-02-18 | 1942-04-24 | Telefunken Gmbh | Trommelfoermiger mechanischer Bildabtaster fuer Fernsehzwecke |
| DE3706271A1 (de) * | 1987-02-26 | 1988-09-08 | Erwin Strigl | Vorrichtung zum messen des intensitaetsprofils eines laserstrahls |
-
1990
- 1990-06-21 FR FR9007749A patent/FR2663738B1/fr not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US1862743A (en) * | 1929-03-11 | 1932-06-14 | Callo D Fahrney | Television |
| US1810610A (en) * | 1930-04-26 | 1931-06-16 | Jr William Martin Jones | Television apparatus |
| DE572100C (de) * | 1930-07-09 | 1933-03-10 | Heinrich Maushake | Vorrichtung an Ruebenerntemaschinen zum Ausheben vorher gekoepfter Rueben mittels bewegter Werkzeuge |
| GB381545A (en) * | 1931-07-04 | 1932-10-04 | Marconi Wireless Telegraph Co | Improvements in or relating to television scanning apparatus |
| FR811143A (fr) * | 1935-12-26 | 1937-04-07 | Nouveau système d'exploration d'image pouvant être utilisé en télévision, émission et réception | |
| DE720115C (de) * | 1936-02-18 | 1942-04-24 | Telefunken Gmbh | Trommelfoermiger mechanischer Bildabtaster fuer Fernsehzwecke |
| DE3706271A1 (de) * | 1987-02-26 | 1988-09-08 | Erwin Strigl | Vorrichtung zum messen des intensitaetsprofils eines laserstrahls |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1260801A1 (fr) * | 2001-05-14 | 2002-11-27 | Agfa Corporation | Dispositif et méthode pour mesurer la qualité du champ d'illumination d'un système d'eclairage laser linéaire |
| US6618131B1 (en) | 2001-05-14 | 2003-09-09 | Agfa Corporation | System and method for measuring the quality of an illumination field from a laser line illumination system |
| US6765660B2 (en) | 2001-05-14 | 2004-07-20 | Agfa Corporation | System and method for measuring the quality of an illumination field from a laser line illumination system |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2663738B1 (fr) | 1993-11-19 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CA2453126C (fr) | Dispositif de reinitialisation d'un dispositif de bit quantique presentant deux niveaux d'energie | |
| FR2636429A1 (fr) | Appareil de mesure de particules | |
| FR2486263A1 (fr) | Procede et appareil pour explorer un objet au moyen de la lumiere | |
| FR3061297A1 (fr) | Procede de comptage et de caracterisation de particules dans un fluide en mouvement | |
| EP2936127B1 (fr) | Dispositif d'éclairage par balayage, dispositif d'imagerie le comportant et procédé de mise en oeuvre | |
| FR2552895A1 (fr) | Microscope pour l'obtention d'images de haute resolution sans optique de precision | |
| FR2785697A3 (fr) | Dispositif de verification optique d'hologramme | |
| FR2481452A1 (fr) | Appareil et procede pour effectuer la mesure automatique des caracteristiques d'un systeme optique | |
| BE1000092A7 (fr) | Analyse des particularites physiques d'objets de verre. | |
| FR2663738A1 (fr) | Dispositif d'analyse de l'intensite lumineuse au sein d'un faisceau. | |
| FR2658943A1 (fr) | Disque optique et appareil pour lire ce disque. | |
| FR2778983A1 (fr) | Procede et dispositif de mesure de la distribution de la densite de champ d'energie d'un rayon laser | |
| CH390577A (fr) | Procédé de contrôle automatique d'une bobine de fil et appareil pour la mise en oeuvre de ce procédé | |
| FR2565092A1 (fr) | Scanographe comportant un faisceau en eventail rotatif et une couronne de detecteurs non rotative | |
| EP0076209B1 (fr) | Dispositif automatique d'analyse statistique d'un objet | |
| EP1649314B1 (fr) | Dispositif d'imagerie a balayage pour microscopie confocale a soustraction d'images | |
| EP3111188B1 (fr) | Instrument optique pour identifier et localiser des microgravures présentes sur une lentille ophtalmique | |
| FR2497379A1 (fr) | Dispositif de detection de signaux pour appareil de lecture d'informations optiques | |
| FR2675428A1 (fr) | Document fiduciaire ou de securite presentant un graphisle imprime et des signes de securite. | |
| FR2481794A1 (fr) | Dispositif optique d'analyse d'un champ spatial et de localisation angulaire d'un objet rayonnant dans ce champ | |
| WO2024061843A1 (fr) | Microscope optique avec résonateur | |
| FR2615632A1 (fr) | Systeme d'analyse optico-mecanique n'utilisant qu'un seul polygone tournant | |
| EP1276079A1 (fr) | Procédé d'authentification d'un document de sécurité par analyse multifréquence, et dispositif associé | |
| FR2675607A1 (fr) | Procede pour analyser un document fiduciaire ou de securite presentant un graphisme imprime et deux signes de securite superposes, et dispositif pour la mise en óoeuvre du procede. | |
| EP0088169B1 (fr) | Procédé de détection d'une impression graphique en taille douce et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procédé |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| DL | Decision of the director general to leave to make available licences of right | ||
| RN | Application for restoration | ||
| ST | Notification of lapse |
Effective date: 20060228 |