FR2558981A1 - MAGNETIC RECORDING MEDIUM - Google Patents
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- 230000005291 magnetic effect Effects 0.000 title claims abstract description 101
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims abstract description 17
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims abstract description 6
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 13
- 229910020630 Co Ni Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 229910002440 Co–Ni Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 claims description 10
- 239000000956 alloy Substances 0.000 claims description 10
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052745 lead Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910052718 tin Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 150000001768 cations Chemical class 0.000 claims 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 8
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 8
- 230000005294 ferromagnetic effect Effects 0.000 description 6
- 239000010953 base metal Substances 0.000 description 3
- 229910002056 binary alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000002050 diffraction method Methods 0.000 description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 description 2
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 2
- 239000010408 film Substances 0.000 description 2
- 238000005289 physical deposition Methods 0.000 description 2
- 229920001721 polyimide Polymers 0.000 description 2
- 238000007711 solidification Methods 0.000 description 2
- 230000008023 solidification Effects 0.000 description 2
- 229910052716 thallium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 2
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 2
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 2
- 229910052774 Proactinium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 230000008021 deposition Effects 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000696 magnetic material Substances 0.000 description 1
- 230000005415 magnetization Effects 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000002360 preparation method Methods 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Classifications
-
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- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
- G11B5/62—Record carriers characterised by the selection of the material
- G11B5/64—Record carriers characterised by the selection of the material comprising only the magnetic material without bonding agent
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Abstract
L'INVENTION CONCERNE UN SUPPORT D'ENREGISTREMENT MAGNETIQUE COMPRENANT UN SUBSTRAT NON MAGNETIQUE ET UNE COUCHE MAGNETIQUE POSSEDANT DES CARACTERISTIQUES MAGNETIQUES ANISOTROPES LE LONG D'UNE SURFACE DE LADITE COUCHE MAGNETIQUE FORMEE SUR LEDIT SUBSTRAT NON MAGNETIQUE, LADITE COUCHE MAGNETIQUE ETANT CONSTITUEE DE CO OU D'UN ALLIAGE CO-NI AYANT UNE COMPOSITION REPRESENTEE PAR CO100-XNI, OU X REPRESENTE LE POURCENTAGE ATOMIQUE DU NICKEL, ET ETANT EGALEMENT CONSTITUE D'UNE PHASE CRISTALLINE DU TYPE STRUCTURE CUBIQUE A FACES CENTREES, SOIT C.F.C. ET D'UNE PHASE CRISTALLINE DU TYPE ASSEMBLAGE HEXAGONAL COMPACT, SOIT A.H.C., LE RAPPORT DESDITES DEUX PHASES ETANT DEFINI PAR Y PHASE C.F.C.(PHASE C.F.C. PHASE A.H.C.) 100 EN VOLUME, OU LESDITES VALEURS X ET Y SATISFAISANTES SE TROUVENT DANS UNE AIRE DEFINIE PAR LES LIGNES Y 40 0,8 X, Y 10 X, X 0, ET X 50, EN COORDONNEES CARTESIENNES.THE INVENTION RELATES TO A MAGNETIC RECORDING MEDIA INCLUDING A NON-MAGNETIC SUBSTRATE AND A MAGNETIC LAYER HAVING ANISOTROPIC MAGNETIC CHARACTERISTICS ALONG A SURFACE OF THE SAID MAGNETIC LAYER FORMED ON THEIT NON-MAGNETIC SUBSTRATE AND A MAGNETIC LAYER HAVING ANISOTROPIC MAGNETIC CHARACTERISTICS ALONG A SURFACE OF THE SAID MAGNETIC LAYER FORMED ON THEIT NON-MAGNETIC SUBSTRATE, THE LADITE CONSTITUTE OR MAGNETIC LAYER. '' A CO-NI ALLOY HAVING A COMPOSITION REPRESENTED BY CO100-XNI, OR X REPRESENTS THE ATOMIC PERCENTAGE OF NICKEL, AND IS ALSO CONSTITUTED OF A CRYSTALLINE PHASE OF THE CENTER-SIDED CUBIC STRUCTURE TYPE, OR CFC AND OF A CRYSTALLINE PHASE OF THE COMPACT HEXAGONAL ASSEMBLY TYPE, OR AHC, THE RATIO OF SAID TWO PHASES BEING DEFINED BY Y CFC PHASE (CFC PHASE PHASE AHC) 100 IN VOLUME, OR THE SAID SATISFACTORY X AND Y VALUES ARE LOCATED IN AN AREA DEFINED BY THE LINES Y 40 0,8 X, Y 10 X, X 0, AND X 50, IN CARD COORDINATES.
Description
La présente invention concerne un support d'enregistrement magnétique et,The present invention relates to a magnetic recording medium and,
plus spécialement, un support d'enregistrement magnétique dit anisotrope possédant une couche magnétique de Co ou d'alliage Co-Ni et présentant des caractéristiques magnétiques anisotropes le long d'une surface de la couche magnétique. Il a récemment été étudié un support d'enregistrement magnétique du type à pellicule mince, c'est-à-dire un support d'enregistrement magnétique produit par formation d'une pellicule mince ferromagnétique de Co ou Co-Ni, etc sur un substrat non magnétique par un procédé tel que le dépôt sous vide dans le but de réaliser un enregistrement magnétique de densité élevée. Plus spécialement, un champ coercitif Hc élevé et un rapport rectangulaire Mr/Ms élevé sont nécessaires dans un support d'enregistrement magnétique anisotrope sur lequel une pellicule mince ferromagnétique est formée par dépôt sous vide suivant une direction sensiblement verticale. more specifically, a so-called anisotropic magnetic recording medium having a magnetic layer of Co or of Co-Ni alloy and having anisotropic magnetic characteristics along a surface of the magnetic layer. A magnetic recording medium of the thin film type, that is to say a magnetic recording medium produced by the formation of a ferromagnetic thin film of Co or Co-Ni, etc., has recently been studied on a substrate. non-magnetic by a process such as vacuum deposition in order to achieve high density magnetic recording. More specifically, a high Hc coercive field and a high Mr / Ms rectangular ratio are necessary in an anisotropic magnetic recording medium on which a thin ferromagnetic film is formed by vacuum deposition in a substantially vertical direction.
C'est un but de l'invention de proposer un support d'enre- It is an object of the invention to provide a recording medium.
gistrement magnétique perfectionné sur lequel est formée une couche improved magnetic registration on which a layer is formed
de métal ferromagnétique par un dépôt physique sous forme vapeur. of ferromagnetic metal by physical deposition in vapor form.
Un autre but de l'invention est de proposer un support d'enregistre- Another object of the invention is to provide a recording medium
ment magnétique présentant des caractéristiques magnétiques magnetic with magnetic characteristics
anisotropes le long d'une surface de la couche magnétique. anisotropic along a surface of the magnetic layer.
Un autre but de l'invention est de proposer un support d'enregistrement magnétique présentant un champ coercitif élevé Another object of the invention is to provide a magnetic recording medium having a high coercive field
et un rapport rectangulaire élevé. and a high rectangular ratio.
Selon un aspect de l'invention, il est proposé un support d'enregistrement magnétique comprenant un substrat non magnétique et une couche magnétique présentant des caractéristiques magnétiques anisotropes le long d'une surface de la couche magnétique formée sur le substrat non magnétique. La couche magnétique est constituée de Co ou d'un alliage Co- Ni ayant une composition représentée sous la forme Co100 xNix, o x représente le pourcentage atomique de According to one aspect of the invention, there is provided a magnetic recording medium comprising a non-magnetic substrate and a magnetic layer having anisotropic magnetic characteristics along a surface of the magnetic layer formed on the non-magnetic substrate. The magnetic layer consists of Co or of a Co-Ni alloy having a composition represented in the form Co100 xNix, where x represents the atomic percentage of
nickel, et la couche magnétique est constituée d'une phase cristal- nickel, and the magnetic layer consists of a crystal phase-
line du type assemblage cubique compact, ou système cubique à faces centrées, soit c.f.c., et d'une phase cristalline du type assemblage hexagonal compact, soit a.h.c. Le rapport des deux phases est défini comme étant y = phase c.f.c./(phase c.f.c. + phase a.h.c.) x 100 % en volume, o les valeurs de x et de y satisfont la condition d'appartenir à l'aireentourée par les lignes y = 40 + 0,8x, y = 10 + x, x = 0 et x = 50, en coordonnées cartésiennes. line of the compact cubic assembly type, or face-centered cubic system, i.e. c.f.c., and of a crystalline phase of the compact hexagonal assembly type, i.e. a.h.c. The ratio of the two phases is defined as being y = cfc phase / (cfc phase + ahc phase) x 100% by volume, where the values of x and y satisfy the condition of belonging to the area surrounded by the lines y = 40 + 0.8x, y = 10 + x, x = 0 and x = 50, in Cartesian coordinates.
La description suivante, conçue à titre d'illustration The following description, intended for illustration
de l'invention, vise à expliquer plus complètement l'invention, en relation avec la figure unique, qui représente un graphe montrant la relation existant entre la proportion de Ni et la proportion of the invention, aims to explain more fully the invention, in relation to the single figure, which represents a graph showing the relationship between the proportion of Ni and the proportion
de la phase c.f.c. dans la composition Co100_xNix. of the c.f.c. phase in the composition Co100_xNix.
Selon l'invention, une couche métallique de base non magnétique faite de Bi, etc, est formée sur un substrat non magnétique, et une couche métallique ferromagnétique de Co ou d'alliage Co-Ni est formée sur la couche métallique de base non According to the invention, a non-magnetic base metal layer made of Bi, etc., is formed on a non-magnetic substrate, and a ferromagnetic metal layer of Co or Co-Ni alloy is formed on the base metal layer not
magnétique par dépôt physique sous forme vapeur de manière à consti- magnetic by physical deposition in vapor form so as to constitute
tuer un support d'enregistrement magnétique. Le support d'enregistre- kill a magnetic recording medium. The recording medium
ment magnétique préparé de la manière ci-dessus décrite possède un champ coercitif Hc élevé du fait que le métal non magnétique de la couche métallique de base diffuse dans la couche de métal ferromagnétique et, ainsi, des particules cristallines de la The magnetic material prepared in the above-described manner has a high coercive field Hc because the non-magnetic metal of the base metal layer diffuses into the layer of ferromagnetic metal and, thus, crystalline particles of the
couche métallique ferromagnétique sont finement fractionnées. ferromagnetic metal layer are finely fractionated.
De plus, le support d'enregistrement magnétique possède des caractéristiques magnétiques anisotropes le long d'une surface de la couche magnétique, puisqu'il est préparé par application d'un faisceau de vapeur du métal magnétique dirigé sensiblement In addition, the magnetic recording medium has anisotropic magnetic characteristics along a surface of the magnetic layer, since it is prepared by applying a beam of vapor of the magnetic metal directed substantially
perpendiculairement à la surface du substrat. perpendicular to the surface of the substrate.
Dans un alliage binaire massif de Co-Ni, le passage In a massive binary alloy of Co-Ni, the passage
entre la structure du type assemblage hexagonal compact, soit a.h.c. between the structure of the compact hexagonal assembly type, i.e. a.h.c.
( E) et la structure du type assemblage cubique compact ou système (E) and the structure of the compact cubic assembly or system type
cubique à faces centrées, soit c.f.c. (a) se produit, à la tempé- cubic with centered faces, i.e. c.f.c. (a) occurs, at the
rature ambiante, dans la région de 22 à 32 atomes pour cent de Ni. L'alliage binaire présente la phase a.h.c. si la teneur en Ni n'est pas supérieure à 22 atomes pour cent et présente la phase c.f.c. si la teneur en Ni n'est pas inférieure à 32 atomes pour ambient rature, in the region of 22 to 32 atomic percent of Ni. The binary alloy presents the phase a.h.c. if the Ni content is not more than 22 atom percent and has the c.f.c. if the Ni content is not less than 32 atoms for
cent. En ce qui concerne l'anisotropie magnétique, la phase a.h.c. hundred. With regard to magnetic anisotropy, the phase a.h.c.
est du type anisotropie uniaxe, tandis que La phase c.f.c. est du is of the uniaxial anisotropy type, while the phase c.f.c. is of
type anisotropie cubique. Les constantes d'anisotropie (c'est-à- cubic anisotropy type. The constants of anisotropy (i.e.
dire la constante d'anisotropie uniaxe Kuet la constante d'ani- say the uniaxial anisotropy constant Kuet the ani- constant
ul3ul3
sotropie cubique K1) sont Ku1 = 4,4 x 104J/m3 et K1 = -1,0 x 104J/m3. cubic sotropy K1) are Ku1 = 4.4 x 104J / m3 and K1 = -1.0 x 104J / m3.
Le champ coercitif Hc est un facteur important, car il est une The Hc coercive field is an important factor, because it is a
propriété du support d'enregistrement magnétique qui est proportion- property of the magnetic recording medium which is proportion-
neLLe à l'amplitude de la constante d'anisotropie. Dans le support d'enregistrement magnétique anisotrope o L'axe-d'aimantation facile est réparti aléatoirement sur deux dimensions, Le rapport rectangulaire neLLe to the amplitude of the anisotropy constant. In the anisotropic magnetic recording medium o The easy magnetization axis is randomly distributed over two dimensions, The rectangular ratio
Mr/Ms est théoriquement Mr/Ms = 0,64 dans la phase a.h.c. d'ani- Mr / Ms is theoretically Mr / Ms = 0.64 in the phase a.h.c. ani-
sotropie uniaxe, tandis qu'il est Mr/Ms = 0,98 dans la phase c.f.c. uniaxial sotropy, while it is Mr / Ms = 0.98 in the c.f.c. phase
d'anisotropie cubique.cubic anisotropy.
La demanderesse a étudié les phases de Co et de l'alliage Co-Ni dans la couche magnétique à l'aide d'une analyse de diffraction par faisceau électronique, et elle a découvert que le changement de phase n'était pas nécessairement le même que celui de l'alliage Co-Ni massif présentant la même composition. Bien qu'il puisse The Applicant studied the phases of Co and of the Co-Ni alloy in the magnetic layer using an electron beam diffraction analysis, and discovered that the phase change was not necessarily the same than that of solid Co-Ni alloy having the same composition. Although he can
exister certaines variations en fonction des conditions de prépara- exist certain variations depending on the preparation conditions
tion de la couche magnétique, la proportion de la phase c.f.c. tion of the magnetic layer, the proportion of the c.f.c.
tend à augmenter lorsque la teneur en Ni augmente. De cette manière, Lorsque la phase a.h.c. et la phase c.f.c. coexistent dans la couche magnétique, les caractéristiques magnétiques varient de la manière suivante, dans la mesure o la proportion de la phase c.f.c. (y) est définie,comme paramètre, par y = quantité de phase c.f.c./(quantité de phase a.h.c. + quantité de phase c.f.c.) x 100 (volume %). La constante d'anisotropie de toute la pellicule magnétique mince diminue lorsque La valeur de y augmente, par conséquent, le champ coercitif Hc diminue. Le rapport rectangulaire tends to increase as the Ni content increases. In this way, When the phase a.h.c. and the c.f.c phase coexist in the magnetic layer, the magnetic characteristics vary in the following way, insofar as the proportion of the phase c.f.c. (y) is defined, as a parameter, by y = quantity of phase c.f.c./( quantity of phase a.h.c. + quantity of phase c.f.c.) x 100 (volume%). The anisotropy constant of the entire thin magnetic film decreases as the value of y increases, therefore, the coercive field Hc decreases. The rectangular report
Mr/Ms s'élève lorsque la valeur de v augmente. Un support d'enre- Mr / Ms rises as the value of v increases. A recording medium
gistrement magnétique à haute densité demande un champ coercitif Hc éLevé et un rapport rectangulaire Mr/Ms élevé, ces deux facteurs dépendant de la valeur de y, c'est-à-dire de la proportion de la high density magnetic recording requires a high Hc coercive field and a high rectangular Mr / Ms ratio, these two factors depending on the value of y, i.e. the proportion of the
phase c.f.c.phase c.f.c.
Par conséquent, dans le support d'enregistremet magnétique anisotrope possédant une couche magnétique de Co ou d'alliage Co-Ni Therefore, in the anisotropic magnetic recording medium having a magnetic layer of Co or Co-Ni alloy
25589,8 125,589.8 1
seLon l'invention, dans la mesure o la composition de la couche magnétique représentée par Co100 xNix et o la proportion de la phase c.f. c. à la phase a.h.c. est représentée par y = quantité de la phase c.f.c. /Cquantité de la phase a.h.c. + quantité de la phase c.f.c.) x 100 (volume %), on choisit les valeurs de x et de v de façon qu'elles se trouvent dans une région limitée par deux lignes droites représentées par y = a + bx, à savoir y = 40 + 0,8x et y = 10 + x, dans l'intervalle 0 < x. 50, ceci permettant d'obtenir un support d'enregistrement magnétique anisotrope possédant des caractéristiques magnétiques o le champ coercitif et le rapport rectangulaire sont tous deux rendus élevés et bien équilibrés. Un métal non magnétique, par exemple Bi, qui se dilate en volume à la solidification est déposé sur un substrat non According to the invention, insofar as the composition of the magnetic layer represented by Co100 xNix and o the proportion of the phase c.f. c. in phase a.h.c. is represented by y = quantity of the c.f.c. phase / Quantity of phase a.h.c. + quantity of the phase cfc) x 100 (volume%), the values of x and v are chosen so that they lie in a region limited by two straight lines represented by y = a + bx, namely y = 40 + 0.8x and y = 10 + x, in the interval 0 <x. 50, this making it possible to obtain an anisotropic magnetic recording medium having magnetic characteristics where the coercive field and the rectangular ratio are both made high and well balanced. A non-magnetic metal, for example Bi, which expands in volume upon solidification is deposited on a non-metallic substrate.
magnétique, par exemple une pellicule de polyimide, par évapora- magnetic, for example a polyimide film, by evaporating
tion sous vide, après quoi une couche magnétique de Co100 xNi (0 < x < 50) est déposé sur la couche de Bi. L'épaisseur de la couche de Bi, constituant une couche de base est 10 nm, et la tion under vacuum, after which a magnetic layer of Co100 xNi (0 <x <50) is deposited on the layer of Bi. The thickness of the layer of Bi, constituting a base layer is 10 nm, and the
température du substrat au moment du dépôt varie de 100 C à 300 C. substrate temperature at the time of deposition varies from 100 C to 300 C.
La structure cristalline de la couche magnétique préparée a été examinée par analyse de diffraction par faisceau électronique et, en résultat, des pics de diffraction correspondant à la fois à la phase a.h.c. et à la phase c.f.c. ont été observés dans toute la couche magnétique. En fonction de cette observation, on confirme The crystal structure of the prepared magnetic layer was examined by electron beam diffraction analysis and, as a result, diffraction peaks corresponding to both the a.h.c. phase. and in the c.f.c phase have been observed throughout the magnetic layer. Based on this observation, we confirm
la coexistence des deux phases. La proportion de la phase c.f.c. the coexistence of the two phases. The proportion of the c.f.c.
à la phase a.h.c., c'est-à-dire y = quantité de phase c.f.c./(quantité de phase a.h.c. + quantité de phase c.f.c.) x 100 (volume %), est obtenue à partir de valeurs entières des intensités relatives des in phase a.h.c., i.e. y = quantity of phase c.f.c./( quantity of phase a.h.c. + quantity of phase c.f.c.) x 100 (volume%), is obtained from whole values of the relative intensities of the
pics de diffraction.diffraction peaks.
En résultat, il est clair que, lorsque la proportion de la phase c.f.c., soit y, et la proportion de Ni, soit x, dans la couche magnétique de Co100_xNix sont choisis dans une région (I) limitée par deux lignes droites représentées respectivement par y = 40 + 0,8x et y = 10 + x, dans l'intervalle 0 _ x _ 50, comme cela est représenté par les lignes obliques sur la figure unique, il est possible d'obtenir des caractéristiques magnétiques-seLon LesqueLLes Le champ coercitif Hc et Le rapport rectangulaire Mr/Ms du support d'enregistrement magnétique sont tous deux élevés et bien équilibrés, indépendamment du fait que la couche non magnétique soit formée de Bi. En termes concrets, le champ coercitif Hc et le rapport rectanguLaire Mr/Ms sont respectivement tels que Hc est compris entre 63,6 x 103 et 103 x 103 A/m et Mr/Ms est compris entre As a result, it is clear that, when the proportion of the phase cfc, either y, and the proportion of Ni, or x, in the magnetic layer of Co100_xNix are chosen in a region (I) limited by two straight lines represented respectively by y = 40 + 0.8x and y = 10 + x, in the interval 0 _ x _ 50, as represented by the oblique lines in the single figure, it is possible to obtain magnetic characteristics - according to which coercive field Hc and The rectangular Mr / Ms ratio of the magnetic recording medium are both high and well balanced, regardless of whether the non-magnetic layer is formed from Bi. In concrete terms, the coercive field Hc and the rectangular ratio Mr / Ms are respectively such that Hc is between 63.6 x 103 and 103 x 103 A / m and Mr / Ms is between
0,70 et 0,94.0.70 and 0.94.
Exemole 1 On fait déposer une couche de base de Bi d'une épaisseur de 10 nm sur un substrat non magnétique constitué par une pellicule de polyimide d'une épaisseur de 30 pm, sous un vide de 10-4 Pa, à une température de substrat valant 1500C, après quoi, on fait déposer un alliage Co-Ni (80 atomes pour cent de Co, et 20 atomes pour cent de Ni) sur la couche de Bi afin de former une couche Example 1 A base layer of Bi with a thickness of 10 nm is deposited on a non-magnetic substrate constituted by a polyimide film with a thickness of 30 μm, under a vacuum of 10-4 Pa, at a temperature of substrate worth 1500C, after which a Co-Ni alloy (80 atoms per cent Co, and 20 atoms per cent Ni) is deposited on the layer of Bi in order to form a layer
magnétique d'une épaisseur de 30 nm. magnetic with a thickness of 30 nm.
On a analysé, par diffraction électronique, la proportion de la phase de c.f.c. à la phase de a.h.c., soit y, dans la couche magnétique, et on a obtenu y = 41 %. De plus, les caractéristiques magnétiques du support d'enregistrement magnétique se sont révélées être telles que le champ coercitif Hc valait 81,1 x 103 A/m et le rapport rectangulaire Mr/Ms valait 0,84. Les caractéristiques magnétiques sont alors presque idientiques, même lorsque la mesure est effectuée dans une quelconque direction de la surface de la The proportion of the c.f.c. phase was analyzed by electronic diffraction. in the phase of a.h.c., i.e. y, in the magnetic layer, and we obtained y = 41%. In addition, the magnetic characteristics of the magnetic recording medium were found to be such that the coercive field Hc was 81.1 x 103 A / m and the rectangular ratio Mr / Ms was 0.84. The magnetic characteristics are then almost identical, even when the measurement is made in any direction of the surface of the
couche magnétique.magnetic layer.
Exemple 2Example 2
De La même manière que dans l'exemple 1, mis à part le fait que la couche de base était formée de Ga et que son épaisseur In the same way as in Example 1, apart from the fact that the base layer was formed of Ga and that its thickness
valait 10 nm, on a préparé un support d'enregistrement magnétique. was 10 nm, a magnetic recording medium was prepared.
La proportion de la phase c.f.c. à la phase a.h.c. dans la couche magnétique a été examinée, et il a été obtenu y = 36 %. Les caractéristiques magnétiques du support d'enregistrement magnétique sont telles que le champ coercitif vaut Hc = 70 x 103 A/m et que The proportion of the c.f.c. in phase a.h.c. in the magnetic layer was examined, and it was obtained y = 36%. The magnetic characteristics of the magnetic recording medium are such that the coercive field is Hc = 70 x 103 A / m and that
le rapport rectangulaire vaut Mr/Ms = 0,82. the rectangular ratio is Mr / Ms = 0.82.
ExempLe de comparaison 1 De la même manière que dans l'exemple 1, à l'exception du Comparison example 1 In the same way as in Example 1, except for the
fait que la température du substrat était de 250 C et que l'épais- the substrate temperature was 250 C and the thickness
seur de la couche de base de Bi valait 20 nm, on a préparé un support d'enregistrement magnétique. On a recherché La valeur de la proportion de La phase c.f.c. à la phase a.h.c. dans la couche magnétique, et on a obtenu y = 20 %. Les caractéristiques magnétiques du support d'enregistrement magnétique sont telles que le champ coercitif Hc vaut 83, 5 x 103 A/m et que le rapport rectangulaire If the base layer of Bi was 20 nm, a magnetic recording medium was prepared. The value of the proportion of the phase c.f.c. in phase a.h.c. in the magnetic layer, and we got y = 20%. The magnetic characteristics of the magnetic recording medium are such that the coercive field Hc is equal to 83.5 x 103 A / m and that the rectangular ratio
Mr/Ms vaut 0,68.Mr / Ms is worth 0.68.
Exemple de comparaison 2 De la même manière que dans l'exemple 1, à l'exception du Comparison example 2 In the same way as in Example 1, except for the
fait que la température du substrat était de 140 C et que l'épais- the substrate temperature was 140 C and the thickness
seur de la couche de base de Bi était 4 nm, on a préparé un support d'enregistrement magnétique. On a cherché à mesurer la proportion de la phase c.f.c. à la phase a.h.c. dans la couche magnétique, et on a obtenu y = 60 %. Les caractéristiques magnétiques du support d'enregistrement magnétique étaient telles que Le champ coercitif valait Hc = 34,2 x 103 A/m et que le rapport rectangulaire valait If the base layer of Bi was 4 nm, a magnetic recording medium was prepared. We tried to measure the proportion of the c.f.c. phase. in phase a.h.c. in the magnetic layer, and we got y = 60%. The magnetic characteristics of the magnetic recording medium were such that the coercive field was worth Hc = 34.2 x 103 A / m and that the rectangular ratio was worth
Mr/Ms = 0,92.Mr / Ms = 0.92.
Le métal non magnétique qui se dilate en volume à la solidification et qui est utilisé comme couche de base peut être choisi parmi Sb, Tl, Sn, Pb, In, Zn et leurs alliages, ainsi que The non-magnetic metal which expands in volume upon solidification and which is used as a base layer can be chosen from Sb, Tl, Sn, Pb, In, Zn and their alloys, as well as
Bi et Ga.Bi and Ga.
Comme cela résulte clairement des exemples 1 et 2, lorsque les valeurs donnant la proportion de Ni, soit xet la proportion de la phase c.f.c., soit,se trouvent dans la région (I) représentée sur la figure unique, on peut obtenir un support d'enregistrement magnétique présentant un champ coercitif élevé et un rapport rectangulaire élevé. Au contraire, comme dans les exemples de comparaison 1 et 2, lorsque les valeurs de x et y ne se trouvent pas dans la région (I), l'une des valeurs du champ coercitif et du rapport rectangulaire est bas, et il ne peut être obtenu un support d'enregistrement magnétique anisotrope possédant des caractéristiques magnétiques telles que le champ coercitif As is clear from Examples 1 and 2, when the values giving the proportion of Ni, either x and the proportion of the phase cfc, or, are in the region (I) shown in the single figure, it is possible to obtain a support d magnetic recording having a high coercive field and a high rectangular ratio. On the contrary, as in comparison examples 1 and 2, when the values of x and y are not in region (I), one of the values of the coercive field and of the rectangular ratio is low, and it cannot be obtained an anisotropic magnetic recording medium having magnetic characteristics such as the coercive field
et le rapport rectangulaire soient élevés. and the rectangular ratio are high.
De plus, lorsque la teneur en Ni dépasse 50 atomes %, il ne peut être obtenu un champ coercitif élevé, et une semblable couche magnétique ne convient pas à l'obtention d'un support In addition, when the Ni content exceeds 50 atom%, a high coercive field cannot be obtained, and a similar magnetic layer is not suitable for obtaining a support.
d'enregistrement magnétique à haute densité. high density magnetic recording.
Par conséquent, selon l'invention, on fixe la température du substrat lors de l'évaporation sous vide à une valeur de 100 à 300 C, et on choisi le matériau servant pour la couche de base parmi Bi, Ga, Sb, Sn, Pb, In, Zn,Tl et leurs alliages. De plus, dans la mesure o les conditions relatives à la région (I) de la figure unique sont satisfaites, il est possible d'obtenir un support d'enregistrement magnétique anisotrope possédant des Consequently, according to the invention, the temperature of the substrate is fixed during evaporation under vacuum at a value of 100 to 300 ° C., and the material used for the base layer is chosen from Bi, Ga, Sb, Sn, Pb, In, Zn, Tl and their alloys. In addition, as long as the conditions relating to the region (I) of the single figure are satisfied, it is possible to obtain an anisotropic magnetic recording medium having
caractéristiques magnétiques satisfaisantes. satisfactory magnetic characteristics.
14 Bien entendu, l'homme de l'art pourra imaginer, à partir 14 Of course, those skilled in the art can imagine, from
du support d'enregistrement magnétique dont la description vient of the magnetic recording medium of which the description comes
d'être donnée à titre simplement illustratif et nullement limitatif, diverses variantes et modifications ne sortant pas du cadre de l'invention. to be given by way of illustration only and in no way limiting, various variants and modifications not departing from the scope of the invention.
Claims (2)
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59015459A JPS60160015A (en) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | Magnetic recording medium |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FR2558981A1 true FR2558981A1 (en) | 1985-08-02 |
| FR2558981B1 FR2558981B1 (en) | 1988-11-25 |
Family
ID=11889378
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FR8501370A Expired FR2558981B1 (en) | 1984-01-31 | 1985-01-31 | MAGNETIC RECORDING MEDIUM |
Country Status (6)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60160015A (en) |
| CA (1) | CA1255972A (en) |
| DE (1) | DE3503109A1 (en) |
| FR (1) | FR2558981B1 (en) |
| GB (1) | GB2153852B (en) |
| NL (1) | NL8500246A (en) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR870011582A (en) * | 1986-05-27 | 1987-12-24 | 시노하라 아끼라 | Magnetic recording media |
| US11637234B2 (en) | 2017-09-15 | 2023-04-25 | Tokyo Institute Of Technology | Manufacturing method for multilayer structure of magnetic body and BiSb layer, magnetoresistive memory, and pure spin injection source |
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| EP0068131A2 (en) * | 1981-06-30 | 1983-01-05 | International Business Machines Corporation | A magnetic recording medium |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR1511664A (en) * | 1966-12-23 | 1968-02-02 | Commissariat Energie Atomique | Thin films with strong coercive field |
| CA1188796A (en) * | 1981-04-14 | 1985-06-11 | Kenji Yazawa | Magnetic recording medium |
| JPS5968815A (en) * | 1982-10-12 | 1984-04-18 | Sony Corp | Magnetic recording medium |
-
1984
- 1984-01-31 JP JP59015459A patent/JPS60160015A/en active Pending
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- 1985-01-18 CA CA000472361A patent/CA1255972A/en not_active Expired
- 1985-01-29 NL NL8500246A patent/NL8500246A/en not_active Application Discontinuation
- 1985-01-29 GB GB08502154A patent/GB2153852B/en not_active Expired
- 1985-01-30 DE DE19853503109 patent/DE3503109A1/en not_active Withdrawn
- 1985-01-31 FR FR8501370A patent/FR2558981B1/en not_active Expired
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Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| FR2558981B1 (en) | 1988-11-25 |
| NL8500246A (en) | 1985-08-16 |
| GB2153852B (en) | 1987-04-29 |
| GB8502154D0 (en) | 1985-02-27 |
| DE3503109A1 (en) | 1985-08-22 |
| JPS60160015A (en) | 1985-08-21 |
| GB2153852A (en) | 1985-08-29 |
| CA1255972A (en) | 1989-06-20 |
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