FR1182846A - Méthode et appareil pour l'essai des matériaux semi-conducteurs - Google Patents

Méthode et appareil pour l'essai des matériaux semi-conducteurs

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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/26Testing of individual semiconductor devices
    • G01R31/2607Circuits therefor
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1136017B (de) * 1959-09-24 1962-09-06 Telefunken Patent Verfahren zur Messung der elektrischen Groessen eines Halbleiterkristalls

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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DE1136017B (de) * 1959-09-24 1962-09-06 Telefunken Patent Verfahren zur Messung der elektrischen Groessen eines Halbleiterkristalls

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