FI96994B - Anordning för uträknande av spricklängden hos ledande givare - Google Patents

Claims (12)

1. Metod att mätä spricktillväxt i ett fast material (10) med en förformad spricka (20) och en sprickmynning 5 (18), vilken metod innefattar stegen: att man tillför en Ström (32) till det fasta mate-rialet för att alstra ett potentialfält i den fasta krop-pen (10), att man gör en första mätning av en inledande 10 spricklängd (a0), att man uppmäter en första uppsättning potentialer (Vc) över sprickan med användande av ätminstone tvä par prober (26 - 30) anordnade pä i förväg bestämda avständ frän nämnda sprickmynning längs en längd hos sprickan, 15 varvid de tvä proberna frän varje probpar anordnas pä mot-satta sidor om sprickan pä samma avständ frän sprickmyn-ningen, att man extrapolerar ett interceptvärde (X0)0 sam-manhörande med den inledande spricklängden (a„), där poten-20 tialen V = 0, med hjälp av en kurva över nämnda första ... uppsättning potentialer (V0) mätta som funktion av de i , *;' förväg bestämda avständen hos de ätminstone tvä par prober I I (26-30) frän sprickmynningen (18), kännetecknad *. ' av *‘,i 25 att man gör en mätning av en efterföljande sprick- längd (ax), «V: att man uppmäter en andra uppsättning potentialer (Vx) över sprickan med användande av ätminstone tvä par . .*♦ prober anordnade pä i förväg bestämda avständ frän sprick- , ·». 30 mynningen (18), • · · ’· att man extrapolerar ett interceptvärde (X„), • « ° * : sammanhörande med spricklängden (ax), där potentialen V = tr* \ 0, med hjälp av en kurva över den andra uppsättningen po- : tentialer (V^ mätta som funktion av de i förväg bestämda I I ", 35 avständen hos probparen (26-30) frän sprickmynningen (18), att man mäter en efterföljande uppsättning potentialer (VA) över sprickan, vilken uppsättning potentialer II 96994 23 (Vj) sanunanhör med en efterföljande spricklängd (at) med användande av probparen anordnade pä i förväg bestämda avständ frän nämnda sprickmynning (18), att man extrapolerar ett interceptvärde (X0)i sam-5 manhörande med nämnda efterföljande spricklängd (ai), där potentialen V = 0, med hjälp av en kurva över den efterföljande uppsättningen potentialer (Vt) mätta som funktion av avständen för probparen (26-30) frän sprickmynningen (18), och 10 att man beräknar den efterföljande spricklängden (aA) utifrän ekvationen a^a. (Xe)i-(Xo)i +ai (Xo)i“(Xo)o (Xe)i-(X,)o (X„)i-(X„)0

15 I— —1

2. Metod enligt patentkrav 1, känneteck-n a d av att den inkluderar: att man approximerar en kurva med nämnda mätta spänningar (v) över probparen som funktion av avständ, 20 avsatt pä en x-axel, för nämnda probpar frän nämnda sprickmynning, att man extrapolerar kurvan för att erhälla nämnda '·;* x-interceptvärde, där V = 0, sammanhörande med den inle- *·’. dande spricklängden ac, 25 att man approximerar en kurva med de uppmätta spän- ningarna (V) över probparen som funktion av ett avständ, : avsatt pä nämnda x-axel, för nämnda probpar frän nämnda sprickmynning, • · att man extrapolerar kurvan för att erhälla nämnda . .·. 30 x-interceptvärde (X0)t, där V = 0, sammanhörande med nämnda .···. spricklängd alr • · · att man approximerar en efterföljande kurva med nämnda efterföljande uppmätta spänningar (V) över probparen som funktion av ett avständ, avsatt pä nämnda x-axel, 35 för nämnda probpar frän nämnda sprickmynning, och 96994 24 att man extrapolerar nämnda efterföljande räta linjefunktion för att erhälla nämnda efterföljande x-inter-ceptvärde (Xoi), där V = 0.

3. Metod enligt patentkrav 2, känneteck-5 n a d av att approximeringen av nämnda kurvor ästadkommes med användande av en mlnsta kvadratanpassningsberäkning.

4. Metod enligt patentkrav 3, känneteck-n a d av att frän tre tili sju probpar positioneras över sprickan för att mätä spänningar.

5. Metod enligt patentkrav 1, känneteck- n a d av att den inkluderar: att man approximerar en rät linjefunktion med den första uppsättningen uppmätta spänningar (V) över probpa-ren som funktion av avständ, avsatt pä en x-axel, för 15 probparen frän sprickmynningen, att man extrapolerar nämnda rät linjefunktion för att erhälla nämnda x-interceptvärde (X0)0, där V = 0, sam-manhörande med nämnda inledande spricklängd a0, att man approximerar en rät linjefunktion med den 20 andra uppsättningen uppmätta spänningar (V) över probparen som funktion av ett avständ, avsatt pä x-axelen, för probparen frän sprickmynningen, I I att man extrapolerar den räta linjefunktionen för \·.· att erhälla x-interceptvärdet (X0)i, där V = 0, sammanhö- "./· 25 rande med spricklängden at, och : att man erhäller ytterligare x-interceptvärden (X0)i ·*;*; genom att approximera rät linjefunktioner för de uppmätta spänningarna över ätminstone tvä probpar som funktion av • · avständ, avsatt pä x-axel, för probparen (26 - 30) frän 30 sprickmynningen, och extrapolera rät linjefunktionerna Γ" tili x-axeln, där V = 0. • · ·

6. Metod enligt patentkrav 5, känneteck-i : : n a d av att den inkluderar: i ( < i att man beräknar efterföljande spricklängder at sam- « · < , 35 manhörande med (X.h-värdena med användande av sambandet • · I • * i • · • M • # • · · It 25 96994 *1 - »o + (X.). - (X.). N

7. Metod enligt patentkrav 6, känneteck-5 n a d av att lutningen N är väsentligen lika med ett (N = 1).

8. Metod enligt patentkrav 1, 5, 6 eller 7, k ä n -netecknad av att det fasta materialet eller sen-sorn, allt efter omständigheterna, innefattar en sensor 10 med en geometri med dubbla fribärande armar.

9. Metod enligt nägot av föregäende patentkraven, kännetecknad av att sprickan belastas med en last som Sr tillräcklig för att fä sprickan att växa.

10. Metod enligt patentkrav 8, känneteck-15 n a d av att sensorn utsätts för en driftmiljö, och att den övervakade spricktillväxt används för att uppskatta spricktillväxtskador pä en utrustningskomponent som arbe-tar i miljön.

11. Metod enligt patentkrav 10, känneteck-20 n a d av att sensorn har samma sammansättning som utrust- ningskomponenten.

,12. Metod enligt patentkrav 11, känneteck-n a d av att sensorn belastas för att ästadkomma en spän-ningsintensitetsfaktor för sprickspetsen som är väsentli-25 gen lika med en förväntad spänningsintensitetsfaktor som erfars av nämnda utrustningskomponent. • « · • · · • · · • · • · · ♦ · · • · « • · « • · · ··· • · » • · · • · · • « · t • ·