FI83706B - Foerfarande och anordning foer maetning av pappersformation. - Google Patents

Foerfarande och anordning foer maetning av pappersformation. Download PDF

Info

Publication number
FI83706B
FI83706B FI885067A FI885067A FI83706B FI 83706 B FI83706 B FI 83706B FI 885067 A FI885067 A FI 885067A FI 885067 A FI885067 A FI 885067A FI 83706 B FI83706 B FI 83706B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
radiation
sample
detector
paper
radiation source
Prior art date
Application number
FI885067A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI885067A0 (fi
FI885067A (fi
FI83706C (sv
Inventor
Risto Ritala
Mikko Laakso
Jari Koponen
Original Assignee
Kajaani Electronics
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Kajaani Electronics filed Critical Kajaani Electronics
Priority to FI885067A priority Critical patent/FI83706C/sv
Publication of FI885067A0 publication Critical patent/FI885067A0/fi
Priority to SE8903636A priority patent/SE8903636L/sv
Priority to CA002001908A priority patent/CA2001908A1/en
Priority to US07/430,670 priority patent/US5025154A/en
Priority to DE3936719A priority patent/DE3936719A1/de
Publication of FI885067A publication Critical patent/FI885067A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI83706B publication Critical patent/FI83706B/fi
Publication of FI83706C publication Critical patent/FI83706C/sv

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/02Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material
    • G01N23/06Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption
    • G01N23/16Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by transmitting the radiation through the material and measuring the absorption the material being a moving sheet or film

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Claims (13)

1. Ett förfarande för mätning av pappersformation, väri genom ett pappersprov leds strälning och strälningen som gätt igenom provet observeras med en β- 5 strälningsdetektor i och för bildandet av ett spektrum som karakteriserar provets formation, kanne-tecknatav att som strälningskälla används en linear β-strälningskälla och att strälningen som gätt igenom pappersprovet observeras i en dimension med en 10 ortskänslig, i LSM-mod arbetande trädkammardetektor.
2. Förfarande enligt patentkravet 1, k ä n-netecknatav att den av strälningskällan alstr-ade β-strälningen kollimeras tili en streckliknande kägla, som riktas mot det plana provet vinkelrätt mot 15 provet med strälningskällan parallell med provet.
3. Förfarande enligt patentkravet 1 eller 2, kännetecknat av att provet besträlas och strälningen mäts med strälningskällan väsentligen i kontakt med provet och provet väsentligen i kontakt med 20 detektorn.
4. Förfarande enligt nägot av patentkraven 1-3, kännetecknat av att β-strälningsinten-siteten som gätt igenom provet mäts pä ett linjeformigt ställe, varefter papperet förflyttas i vinkelrät riktn- 25 ing i förhällande tili det linjeformiga stället som har mätts och mätningen upprepas för mätning av ett pap-perets formation karakteriserande en-dimensionellt spektrum pä flera ställen av provet.
5. Anordning för mätning av formationen av 30 papper (1), tili anordningen hörande en strälningskälla (2) och en strälningsdetektor (3) för inledning av strälning i pappersprovet och observering av strälningen som gätt igenom provet i och för bildandet av strälnin-gens intensitetsfördelning som karakteriserar provets 35 formation, kännetecknad av att strälningskällan (2) är en linear β-strälningskälla och att detektorn (3) är en positionskänslig, i LSM-mod arbetande trädkammardetektor. 11 83706
6. Anordning enligt patentkravet 5, k ä n-netecknad av att β-strälningsdetektorn (3) har anslutits till en analysator (24).
7. Anordning enligt patentkravet 5 eller 6, 5 kännetecknad av att i träddetektorn (3) ingär en resistiv katod (5) med separata ledarelement (6) som har anslutits till en analysator (24).
8. Anordning enligt nägot av patentkraven 5-7, kännetecknad av att i anordningen ingär 10 en kollimator (7) som har anordnats att forma β-sträl-ningen linjeformig.
9. Anordning enligt patentkravet 8, kännetecknad av att kollimatorn (7) är slitsartad.
10. Anordning enligt patentkravet 8, k ä n-15 n e t e c k n a d av att i kollimatorn (7) ingär minst en absorbatorplatta i vilken har gjorts ett antal häl genom vilka β-strälningen kollimeras.
11. Anordning enligt nägot av patentkraven 5- 10, kännetecknad av att pappersprovet (1) 20 har anordnats att bli placerat i kontakt med strälnings- källan (2) och med respektive strälningsdetektor (3).
12. Anordning enligt nägot av patentkraven 5- 11, kännetecknad av att i anordningen ingär en matningsanordning (10) som har anordnats att mata 25 fram pappersprovet (1) mellan strälningskällan (2) och strälningsdetektorn (3) och att anordningen har anordnats att mätä β-strälningsintensiteten pä olika ställen av provet när provet mätäs fram mellan strälningskällan och detektorn.
13. Anordning enligt nägot av patentkraven 5- 12, kännetecknad av att i anordningen ingär tvä eller flera lineära och parallella strälningskällor (2) med respektive strälningsdetektorer för bestämning av formation pä ett flertal ställen av provet samtidigt.
FI885067A 1988-11-03 1988-11-03 Förfarande och anordning för mätning av pappersformation FI83706C (sv)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI885067A FI83706C (sv) 1988-11-03 1988-11-03 Förfarande och anordning för mätning av pappersformation
SE8903636A SE8903636L (sv) 1988-11-03 1989-10-31 Foerfarande och anordning foer maetning av pappersformation
CA002001908A CA2001908A1 (en) 1988-11-03 1989-10-31 Procedure and means for measuring paper formation
US07/430,670 US5025154A (en) 1988-11-03 1989-11-02 Procedure and means for measuring paper formation
DE3936719A DE3936719A1 (de) 1988-11-03 1989-11-03 Verfahren und vorrichtung zur messung der papierformation

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI885067A FI83706C (sv) 1988-11-03 1988-11-03 Förfarande och anordning för mätning av pappersformation
FI885067 1988-11-03

Publications (4)

Publication Number Publication Date
FI885067A0 FI885067A0 (fi) 1988-11-03
FI885067A FI885067A (fi) 1990-05-04
FI83706B true FI83706B (fi) 1991-04-30
FI83706C FI83706C (sv) 1991-08-12

Family

ID=8527300

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI885067A FI83706C (sv) 1988-11-03 1988-11-03 Förfarande och anordning för mätning av pappersformation

Country Status (5)

Country Link
US (1) US5025154A (sv)
CA (1) CA2001908A1 (sv)
DE (1) DE3936719A1 (sv)
FI (1) FI83706C (sv)
SE (1) SE8903636L (sv)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19545340C2 (de) * 1995-12-05 1998-01-29 Vacutec Mestechnik Gmbh Vorrichtung zur Kontrolle von Flächenmassen
SE525320C2 (sv) * 2003-06-06 2005-02-01 More Res Oernskoeldsvik Ab Förfarande och apparatur för bedömning/mätning av ytviktsvariation hos arkmaterial
US20110198269A1 (en) * 2010-02-16 2011-08-18 Grant Young Vibratory screen device

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3016460A (en) * 1958-04-14 1962-01-09 Goodyear Tire & Rubber Method and apparatus for web thickness control
US3489901A (en) * 1965-12-27 1970-01-13 Industrial Nucleonics Corp Method and apparatus for radiation measuring the mass of material having a spatially non-uniform mass distribution
GB1179406A (en) * 1966-02-28 1970-01-28 Atomic Energy Authority Uk Improvements in or relating to Proportional Counters

Also Published As

Publication number Publication date
FI885067A0 (fi) 1988-11-03
SE8903636D0 (sv) 1989-10-31
US5025154A (en) 1991-06-18
CA2001908A1 (en) 1990-05-03
FI885067A (fi) 1990-05-04
FI83706C (sv) 1991-08-12
DE3936719A1 (de) 1990-06-07
SE8903636L (sv) 1990-05-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN1098457C (zh) 确定元素含量的方法与设备
US2763790A (en) Comparator
US9980697B2 (en) Reference detector for correcting fluctuations in dose and energy of x-ray sources
US4228351A (en) Method for measuring the density of lightweight materials
KR900016735A (ko) 두께/밀도 측정장치
US3562525A (en) X-ray fludrescence gauging employing a single x-ray source and a reference sample for comparative measurements
US2642537A (en) Apparatus for determining coating thickness
US3914607A (en) Thickness measuring apparatus and method for tire ply and similar materials
CN1041238C (zh) X射线分析装置
US3843884A (en) X-ray gauging method and apparatus with stabilized response
US3612858A (en) Device for measuring the position, size and intensity of high-energy particles
Piuz et al. Evaluation of systematic errors in the avalanche localization along the wire with cathode strips read-out MWPC
FI83706B (fi) Foerfarande och anordning foer maetning av pappersformation.
US3452192A (en) Multiple energy detection for mixture analysis
Aljboor et al. Light-element sensitive in-air millibeam PIXE setup for fast measurement of atmospheric aerosol samples
US4182954A (en) Method and apparatus for measuring material properties related to radiation attenuation
US3541332A (en) Method and apparatus for measuring the weight of a load on a conveyor belt
US3409774A (en) Method of determining the thickness of a coating on a metal base and method of calibrating the thickness gauge
US4734988A (en) Method of aligning a collimator to a linear array X-ray detector
EP0206735A2 (en) Coating weight and thickness gauges
US7242747B2 (en) Method for determining a gsm substance and/or a chemical composition of a conveyed material sample, and a device for this purpose
EP0370086A4 (en) Neutron range spectrometer
US3175083A (en) Method and apparatus for detecting x-rays
US3848125A (en) Coating thickness gauge
EP0592520B1 (en) Method for calibrating an x-ray layer thickness measuring apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed
MM Patent lapsed

Owner name: KAJAANI ELEKTRONIIKKA OY