FI113566B - Refraktometer - Google Patents

Refraktometer Download PDF

Info

Publication number
FI113566B
FI113566B FI20001733A FI20001733A FI113566B FI 113566 B FI113566 B FI 113566B FI 20001733 A FI20001733 A FI 20001733A FI 20001733 A FI20001733 A FI 20001733A FI 113566 B FI113566 B FI 113566B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
optical window
process fluid
refractometer
seal
body structure
Prior art date
Application number
FI20001733A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI20001733A0 (sv
FI20001733A (sv
Inventor
Harri Salo
Original Assignee
Janesko Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Janesko Oy filed Critical Janesko Oy
Priority to FI20001733A priority Critical patent/FI113566B/sv
Publication of FI20001733A0 publication Critical patent/FI20001733A0/sv
Priority to US09/918,528 priority patent/US6760098B2/en
Publication of FI20001733A publication Critical patent/FI20001733A/sv
Application granted granted Critical
Publication of FI113566B publication Critical patent/FI113566B/sv

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/43—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length by measuring critical angle
    • G01N21/431—Dip refractometers, e.g. using optical fibres
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/43—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length by measuring critical angle
    • G01N2021/434—Dipping block in contact with sample, e.g. prism

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Claims (3)

1. Refraktometer, vilken omfattar en inuti en stomkonstruktion fly-tande anordnad optisk modul (4), som omfattar ett i en processvätska (3) pla- 5 cerbart optiskt fönster (2) och don för att bilda ett ljussträlknippe och leda det till processvätskan (3) via det optiska fönstret (2) och för att leda den fran pro-cessvätskan reflekterade delen av ljussträlknippet tillbaka och ytterligare don för att granska en bild som bildats pa ovan nämnda sätt, varvid den optiska modulen (4) är anordnad att stöda mot stomkonstruktionen med hjälp av en 10 tätning (5) som är anordnad mellan det optiska fönstret (2) och stomkonstruktionen, kännetecknad av att den del (6) av stomkonstruktionen som är i kontakt med processvätskan (3) och som det optiska fönstret (2) är anordnat att stöda mot via tätningen (5) är bildad av ett kemiskt hällbart, mekaniskt styvt och hällbart material med god värmeledningsförmaga, och att den del (6) av 15 stomkonstruktionen som det optiska fönstret (2) är anordnat att stöda sig mot är anordnad att leda tili en större yta för tätningskraften mellan det optiska fönstret (2) och stomkonstruktionen.
2. Refraktometer enligt patentkrav 1, kännetecknad av att materialet är en keramiskt material.
3. Refraktometer enligt patentkrav 1, kännetecknad av att » * * * ; V materialet är safir. < i t I « # · f * i · · • 11*1» • · • * » • · a a i » t « * » a a • * a » * · • · * a • a » a • a · a a • a »aa * a
FI20001733A 2000-08-01 2000-08-01 Refraktometer FI113566B (sv)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20001733A FI113566B (sv) 2000-08-01 2000-08-01 Refraktometer
US09/918,528 US6760098B2 (en) 2000-08-01 2001-08-01 Refractometer

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20001733A FI113566B (sv) 2000-08-01 2000-08-01 Refraktometer
FI20001733 2000-08-01

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20001733A0 FI20001733A0 (sv) 2000-08-01
FI20001733A FI20001733A (sv) 2002-02-02
FI113566B true FI113566B (sv) 2004-05-14

Family

ID=8558836

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20001733A FI113566B (sv) 2000-08-01 2000-08-01 Refraktometer

Country Status (2)

Country Link
US (1) US6760098B2 (sv)
FI (1) FI113566B (sv)

Families Citing this family (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004150923A (ja) * 2002-10-30 2004-05-27 Atago:Kk 屈折計
GB0401998D0 (en) * 2004-01-30 2004-03-03 Tyco Electronics Raychem Nv Optical device
WO2006086682A2 (en) * 2005-02-11 2006-08-17 Swagelok Company Fluid concentration sensing arrangement
US8628678B2 (en) * 2006-10-11 2014-01-14 Janesko Oy Method for measuring the active KOH concentration in a KOH etching process
US20090139318A1 (en) * 2007-12-04 2009-06-04 Caterpillar Inc. Systems and methods for monitoring the quality of a reducing agent
FI124114B (sv) * 2009-09-29 2014-03-31 Janesko Oy Mätfönsterkonstruktion
US20110168876A1 (en) * 2010-01-14 2011-07-14 Hsiung Hsiao Optical module and system for liquid sample
US8528399B2 (en) 2010-05-21 2013-09-10 The Mercury Iron and Steel Co. Methods and apparatuses for measuring properties of a substance in a process stream
FI20135064L (sv) 2013-01-23 2014-07-24 Janesko Oy Förfarande för mätning av brytningsindex och refraktometer
FI126449B (sv) 2014-06-11 2016-12-15 Janesko Oy Förfarande och anordning i samband med mätning av ett separatprov taget från processvätskan
FI128037B (sv) 2015-06-29 2019-08-15 Janesko Oy Arrangemang i samband med en refraktometers mätfönster samt refraktometer
FI126927B (sv) 2016-06-09 2017-08-15 Janesko Oy Tätningsarrangemang för en mätanordning samt tätningsmetod
US10203279B1 (en) * 2017-12-07 2019-02-12 Janesko Oy Optical measuring device, a refractometer and an arrangement for an optical measurement
IT201800004247A1 (it) * 2018-04-05 2019-10-05 Dispositivo sensore ottico per sostanze fluide
TWI774152B (zh) * 2019-12-20 2022-08-11 美商恩特葛瑞斯股份有限公司 接近界面之流體之準確溫度讀取
FI20206374A1 (sv) * 2020-12-28 2022-06-29 Kxs Tech Oy Refraktometer

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4451147A (en) 1981-08-31 1984-05-29 Karel Dobes Refractometer
DE4214572C2 (de) 1992-05-03 1994-08-18 Roland Dr Ing Emmrich Hohler vakuumdichter Formkörper aus keramischem Werkstoff
US5585729A (en) 1993-05-13 1996-12-17 Gamma Precision Technology, Inc. Fluid concentration detecting apparatus
DE4418180C2 (de) 1994-06-27 1997-05-15 Emmrich Roland Sondenanordnung zur Messung der spektralen Absorption in Flüssigkeiten, Gasen oder Feststoffen
JPH10123048A (ja) 1996-10-01 1998-05-15 Texas Instr Inc <Ti> 集積化されたセンサおよび生化学的サンプルを検出する方法
FR2766923B1 (fr) * 1997-07-30 1999-10-15 France Etat Instrument de mesure de l'indice de refraction d'un fluide
FI108259B (sv) * 1998-01-30 2001-12-14 Janesko Oy Refraktometer
US6457478B1 (en) * 1999-11-12 2002-10-01 Michael J. Danese Method for treating an object using ultra-violet light
BR0109028A (pt) * 2000-03-02 2003-03-05 Dow Global Technologies Inc Reator tubular, processo para conduzir reações polifásicas lìquido/ lìquido num reator tubular, e processo para compostos aromáticos com nitração no anel num reator tubular
US6500699B1 (en) * 2000-07-11 2002-12-31 Advanced Micro Devices, Inc. Test fixture for future integration

Also Published As

Publication number Publication date
US20020018200A1 (en) 2002-02-14
FI20001733A0 (sv) 2000-08-01
US6760098B2 (en) 2004-07-06
FI20001733A (sv) 2002-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI113566B (sv) Refraktometer
US5542302A (en) Turbine wheel flow measuring transducer
FI108259B (sv) Refraktometer
JP6326284B2 (ja) 原料流体濃度検出器
JP5714977B2 (ja) 光学測定装置
CN102590147B (zh) 灵敏度与动态范围可调的表面等离子体共振系统及方法
JP4712745B2 (ja) 透過光測定用フローセル
JP2014219294A5 (sv)
US9146189B2 (en) Optical cell with disposable fluid cartridge
FI118864B (sv) Refraktometer
US7909063B2 (en) Microchip inspection system and program employed for the same
FI128037B (sv) Arrangemang i samband med en refraktometers mätfönster samt refraktometer
CN102466624A (zh) 表面等离子共振测量用微芯片及表面等离子共振测量装置
Kashyap et al. Portable surface plasmon resonance (SPR) measurement device for sensing applications
KR101971634B1 (ko) 센서칩유닛의 교체가 용이한 다채널 미세유로 측정장치 및 이의 측정방법
US6895130B1 (en) True position sensor for diaphragm valves using reflected light property variation
CN105044029A (zh) 基于导波共振的传感器及传感器测试系统
JP5868626B2 (ja) 光学測定用セル及び光学分析計
FI124114B (sv) Mätfönsterkonstruktion
Hausler et al. Miniaturized Surface Plasmon Resonance based Sensor System.
JP5521211B2 (ja) フローセル
FI124197B (sv) Mätsensor
JP5199083B2 (ja) 流路センサ及びそれに用いるチューブ固定具
JP2021139668A (ja) 光学セル及び光学分析装置
FI20205777A1 (sv) Refraktometer

Legal Events

Date Code Title Description
PC Transfer of assignment of patent

Owner name: VAISALA OYJ

MA Patent expired