FI112546B - Förfarande för att testa en elektronikprodukt, förfarande för att rikta åtgärder mot en elektronikprodukt och en produktpalett - Google Patents

Förfarande för att testa en elektronikprodukt, förfarande för att rikta åtgärder mot en elektronikprodukt och en produktpalett Download PDF

Info

Publication number
FI112546B
FI112546B FI992622A FI19992622A FI112546B FI 112546 B FI112546 B FI 112546B FI 992622 A FI992622 A FI 992622A FI 19992622 A FI19992622 A FI 19992622A FI 112546 B FI112546 B FI 112546B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
product
palette
test
signal
testing
Prior art date
Application number
FI992622A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI19992622A (sv
Inventor
Jyri Tolonen
Original Assignee
Jot Automation Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to FI992622A priority Critical patent/FI112546B/sv
Application filed by Jot Automation Oy filed Critical Jot Automation Oy
Priority to DE60039787T priority patent/DE60039787D1/de
Priority to EP00987496A priority patent/EP1257833B1/en
Priority to AT00987496T priority patent/ATE403879T1/de
Priority to DK00987496T priority patent/DK1257833T3/da
Priority to PCT/FI2000/001076 priority patent/WO2001042800A1/en
Priority to US10/148,197 priority patent/US7088998B2/en
Priority to AU23747/01A priority patent/AU2374701A/en
Priority to ES00987496T priority patent/ES2309009T3/es
Publication of FI19992622A publication Critical patent/FI19992622A/sv
Application granted granted Critical
Publication of FI112546B publication Critical patent/FI112546B/sv

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2834—Automated test systems [ATE]; using microprocessors or computers
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Mobile Radio Communication Systems (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Liquid Developers In Electrophotography (AREA)
  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
  • Automatic Assembly (AREA)

Claims (41)

1. Förfarande för att testa en elektronikprodukt, i vilket förfarande; - produkten placeras pä en produktpalett, - produktpaletten med den därpä placerade produkten förflyttas 5 längs en produktionslinje tili en arbetsstation pä produktionslinjen för att utsätta produkten för funktioner, kännetecknat av att före och/eller efter arbetsstationen utförs i förfarandet en eller flera testätgärder pä produkten i produktpaletten genom att mata en eller flera testimpulser frän produktpaletten tili produkten pä produktio paletten ooh i vilket förfarande inverkan av en eller flera testimpulser pä produkten pä produktpaletten som testas detekteras i produktpaletten och att i förfarandet matar produktpaletten operationsinställningsdata tili produkten, vilka operationsinställningsdata produkten behöver för sin operation.
2. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att impulsen 15 mätäs tili produkten med hjälp av ett testarrangemang i produktpaletten.
3. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att impulsen genereras med hjälp av ett testarrangemang i produktpaletten.
4. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att energin som erfordras för att generera och mata testimpulsen erhälls frän en energikäl- 20 la i produktpaletten.
5. Förfarande enligt patentkrav 1,kännetecknat av att inverkan : i av testimpulsen pä produkten som testas detekteras med hjälp av ett testar- : rangemang i produktpaletten.
'. : 6. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att energin . : >. 25 som behövs för att detektera testimpulsens inverkan erhälls frän en energikälla i produktpaletten.
7. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att testning-en pä produktpaletten utförs dä produktpaletten rör sig pä produktionslinjen.
: 8. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att testning- * : 30 en pä produktpaletten utförs dä produktpaletten är stillastäende pä produk- ; : tionslinjen.
9. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att testning-en pä produktpaletten utförs dä produktpaletten har avlägsnats frän produktionslinjen. 112:^6
10. Förfarande enligt patentkrav 1,kännetecknat avatti förfa-randet är arbetsstationen en teststation, varvid en del av testningen i förfaran-det utförs i produktpaletten och en del av testningen utförs i teststationen.
11. Förfarande enligt patentkrav 1, k ä n n e t e c k n a t av att en eller 5 flera aktiveringssignaler mätäs frän produktpaletten tili produkten pä produktpaletten för att möjliggöra aktivering av produkten.
12. Förfarande enligt patentkrav 11,kännetecknat av att som aktiveringssignal används en drivsignal som möjliggör funktion av produkten som testas. 10
13. Förfarande enligt patentkrav 12, kännetecknat av att som drivsignal i förfarandet används en drivenergisignal som är en eller flera av föl-jande: driveffekt, drivspänning, drivström.
14. Förfarande enligt patentkrav 11, kännetecknat av att som aktiveringssignal används en aktiveringssignal som kopplar pä drivsignalen 15 som produkten som testas behöver för sin operation.
15. Förfarande enligt patentkrav 14, kännetecknat av att som aktiveringssignal används en aktiveringssignal som kopplar pä drivsignalen som erhalls frän drivsignalkällan för produkten som testas.
16. Förfarande enligt patentkrav 11, kännetecknat av att som 20 aktiveringssignal används en drivsignal som möjliggör operation för produkten som testas och en aktiveringssignal som kopplar pä drivsignalen i samma eller : en annan aktiveringssignal.
• 17. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att i förfa- randet är produkten som testas en elektronikprodukt försedd med ett använ-,: 25 dargränssnitt och/eller en bildskärm.
18. Förfarande enligt patentkrav 1 eller 16, kännetecknat av att . i förfarandet är produkten som testas en elektronikprodukt försedd med ett an- vändargränssnitt och/eller en bildskärm, som en mobil telefon eller en annan trädlös radiosändarmottarterminal. ; ; 30
19. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att i förfa randet är produkten som testas ett kretskort försett med komponenter och kopplingar som förenar komponenterna.
20. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att impul-sen som mätäs frän produktpaletten tili produkten är en analog signal. 35
21. Förfarande enligt patentkrav 1, kä n neteckn at av att impul- sen som mätäs frän produktpaletten tili produkten är en digital signal. 11Z. b 4 6
22. Förfarande enligt patentkrav 1,kännetecknat avatt inver-kan av impulsen ρέ produkten vilken detekteras i produktpaletten är en analog svarssignal som uppmäts fran produkten.
23. Förfarande enligt patentkrav 1,kännetecknat avatt inver-5 kan av impulsen pä produkten vilken detekteras i produktpaletten är en digital svarssignal som uppmäts fran produkten.
24. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat avatt produktpaletten till produkten matar operationsinställningsdata som produkten be-höver för sin operation. 10
25. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat avatt opera tionsinställningsdata som produktpaletten matar till produkten är en eller flera programvaror och/eller en eller flera programvarudelar som produkten behöver för sin operation.
26. Produktpalett för transport av en elektronikprodukt pä en pro- 15 duktionslinje för en elektronikprodukt, kännetecknad avatt produktpaletten omfattar ett signalgränssnitt för att bilda en signalförbindelse mellan produktpaletten och produkten och ett testarrangemang i samband med signal-gränssnittet, med vilket testarrangemang en eller flera testätgärder utförs i produktpaletten pä produkten via signalgränssnittet, och att produktpaletten 20 omfattar förflyttningsmedel för att fran produktpaletten till produkten förflytta operationsinställningsdata som produkten behöver för sin operation.
-'': 27. Produktpalett enligt patentkrav 26, kännetecknad av att *’. < testarrangemanget i produktpaletten omfattar en testimpulsgenerator för att ::: generera en eller flera testimpulser i produktpaletten och att testimpulsgenera- : 25 torn är kopplad till signalförbindelsen som förbinder produktpaletten och pro dukten för att mata en eller flera testimpulser frän produktpaletten till produkten pä produktpaletten.
28. Produktpalett enligt patentkrav 26 eller 27, kännetecknad av att testarrangemanget i produktpaletten omfattar en detektor för detektering 30 av inverkan av en eller flera testimpulser ρέ produkten som skall testas pa produktpaletten.
29. Produktpalett enligt patentkrav 26, kännetecknad av att testarrangemanget i produktpaletten och/eller produktpaletten i annat fall omfattar en energikälla för att tillhandahalla energi för att generera en eller flera 35 testimpulser. 112546
30. Produktpalett enligt patentkrav 27, kännetecknad av att i testarrangemanget i produktpaletten omfattar genereraren av testimpulsen en genererare av en analog impuls.
31. Produktpalett enligt patentkrav 27, kännetecknad av att i 5 testarrangemanget i produktpaletten omfattar genereraren av testimpulsen en genererare av en digital impuls.
32. Produktpalett enligt patentkrav 28, kännetecknad av att i testarrangemanget i produktpaletten omfattar detektorn av inverkan av impul-sen en detektor av ett analogt svar.
33. Produktpalett enligt patentkrav 28, kännetecknad av att i testarrangemanget i produktpaletten omfattar detektorn av inverkan av impul-sen en detektor av ett digitalt svar.
34. Produktpalett enligt patentkrav 28, kännetecknad av att produktpaletten omfattar ett minne avsett för operationsinställningsdata och att 15 minnet stär i förbindelse med överföringsmedel för operationsinställningsdata.
35. Produktpalett enligt patentkrav 26 eller 34, kännetecknad av att de operationsinställningsdata som produktpaletten matar till produkten bestär av en eller flera programvaror och/eller en eller flera programvarudelar som produkten behöver för sin operation.
36. Produktpalett för transport av en elektronikprodukt pä en pro- duktionslinje för en elektronikprodukt, kännetecknad av att produktpalet-. · · ten omfattar ett signalgränssnitt för att bilda en signalförbindelse frän produkt- :, ; paletten till produkten och produktpaletten omfattar ett minne som star i förbin- : : delse med signalgränssnittet och frän vilket produktpaletten till produkten ma- : > 25 tar operationsinställningsdata som produkten behöver för sin operation.
, . 37. Produktpalett enligt patentkrav 36, kännetecknad avattde operationsinställningsdata som produktpaletten matar till produkten bestär av en eller flera programvaror och/eller en eller flera programvarudelar som produkten behöver för sin operation. 30
38. Förfarande för att utsätta en elektronikprodukt för ätgärder, i vil ket förfarande; - produkten placeras pä en produktpalett, - produktpaletten med den därpä placerade produkten förflyttas längs en produktionslinje tili en arbetsstation pä produktionslinjen för att utsätta 35 produkten för funktioner, 11kWc kännetecknat avatt före och/eller efter arbetsstationen utförs i förfarandet en eller flera datainmatningsatgärder frän produktpaletten till pro-dukten genom att frän produktpaletten mata en eller flera operationsinställ-ningsdatauppgifter till produkten pä produktpaletten. 5
39. Förfarande enligt patentkrav 38, kännetecknat av att de operationsinställningsdata som produktpaletten matar till produkten bestär av en eller flera programvaror och/eller en eller flera programvarudelar som produkten behöver för sin operation.
40. Förfarande enligt patentkrav 38, kännetecknat av att pro-10 dukten är en elektronikprodukt försedd med användargränssnitt och/eller bild- skärm, som en mobil telefon eller annan trädlös radiosändarmottagarterminal.
41. Förfarande enligt patentkrav 26 eller 35, kännetecknat av att produktpaletten är en produktpalett för produktion av en trädlös radiosän-darmottagare. I I
FI992622A 1999-12-07 1999-12-07 Förfarande för att testa en elektronikprodukt, förfarande för att rikta åtgärder mot en elektronikprodukt och en produktpalett FI112546B (sv)

Priority Applications (9)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI992622A FI112546B (sv) 1999-12-07 1999-12-07 Förfarande för att testa en elektronikprodukt, förfarande för att rikta åtgärder mot en elektronikprodukt och en produktpalett
EP00987496A EP1257833B1 (en) 1999-12-07 2000-12-07 Method and product palette for testing electronic products
AT00987496T ATE403879T1 (de) 1999-12-07 2000-12-07 Verfahren und produktpalette zum prüfen elektronischer produkte
DK00987496T DK1257833T3 (da) 1999-12-07 2000-12-07 Fremgangsmåde og produktpalet til test af elektronikprodukter
DE60039787T DE60039787D1 (de) 1999-12-07 2000-12-07 Verfahren und produktpalette zum prüfen elektronischer produkte
PCT/FI2000/001076 WO2001042800A1 (en) 1999-12-07 2000-12-07 Method and product palette for testing electronic products
US10/148,197 US7088998B2 (en) 1999-12-07 2000-12-07 Method and product palette for testing electronic products
AU23747/01A AU2374701A (en) 1999-12-07 2000-12-07 Method and product palette for testing electronic products
ES00987496T ES2309009T3 (es) 1999-12-07 2000-12-07 Procedimiento y paleta para probar productos electronicos.

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI992622A FI112546B (sv) 1999-12-07 1999-12-07 Förfarande för att testa en elektronikprodukt, förfarande för att rikta åtgärder mot en elektronikprodukt och en produktpalett
FI992622 1999-12-07

Publications (2)

Publication Number Publication Date
FI19992622A FI19992622A (sv) 2001-06-08
FI112546B true FI112546B (sv) 2003-12-15

Family

ID=8555708

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI992622A FI112546B (sv) 1999-12-07 1999-12-07 Förfarande för att testa en elektronikprodukt, förfarande för att rikta åtgärder mot en elektronikprodukt och en produktpalett

Country Status (9)

Country Link
US (1) US7088998B2 (sv)
EP (1) EP1257833B1 (sv)
AT (1) ATE403879T1 (sv)
AU (1) AU2374701A (sv)
DE (1) DE60039787D1 (sv)
DK (1) DK1257833T3 (sv)
ES (1) ES2309009T3 (sv)
FI (1) FI112546B (sv)
WO (1) WO2001042800A1 (sv)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ATE498276T1 (de) * 2006-07-24 2011-02-15 Harman Becker Automotive Sys System und verfahren zum kalibrieren einer freisprechanlage
EP2385383A1 (de) * 2010-05-06 2011-11-09 Siemens Aktiengesellschaft Werkstückträger und Verfahren zum Fertigen einer elektronischen Baugruppe
CN102332237A (zh) * 2011-08-05 2012-01-25 三一重机有限公司 一种用于显示屏的检测系统
US9448279B2 (en) 2011-09-02 2016-09-20 Apple Inc. Test systems for electronic devices with wireless communications capabilities
KR102361592B1 (ko) 2012-05-29 2022-02-14 에이브이엘 테스트 시스템즈, 인코포레이티드 배기 샘플링 시스템용 자동제어가능한 백 필링
CN106872836A (zh) * 2015-12-11 2017-06-20 研祥智能科技股份有限公司 生产线上的分布式自动化检测系统和方法
US10188207B2 (en) 2016-03-23 2019-01-29 Communications Test Design, Inc. Apparatus and method for simultaneously testing a plurality of mobile devices

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3515698A1 (de) * 1985-05-02 1986-11-06 Robert Bosch Gmbh, 7000 Stuttgart Steuersystem fuer mobile transporteinheiten auf transportstrassen
FR2619232B1 (fr) * 1987-08-07 1994-04-29 Muller & Cie Ets M Equipement d'acquisition et de traitement de donnees pour centre de controle technique automobile
US5872458A (en) * 1996-07-08 1999-02-16 Motorola, Inc. Method for electrically contacting semiconductor devices in trays and test contactor useful therefor
US6127836A (en) * 1996-07-22 2000-10-03 Micro Instrument Company Electronic test apparatus
EP0914617B1 (de) * 1996-07-24 2005-05-11 Infineon Technologies AG Verfahren zum testen eines produktes und vorrichtung zum durchführen des verfahrens
DE19652035C2 (de) 1996-12-13 1999-07-22 Rohde & Schwarz Prüfplatz und Verfahren für elektronische Baueinheiten, insbesondere Mobilfunktelefone
US5935264A (en) * 1997-06-10 1999-08-10 Micron Technology, Inc. Method and apparatus for determining a set of tests for integrated circuit testing
KR100292028B1 (ko) * 1997-12-05 2001-06-01 윤종용 반도체 장비의 실시간 제어방법
US6476629B1 (en) * 2000-02-23 2002-11-05 Micron Technology, Inc. In-tray burn-in board for testing integrated circuit devices in situ on processing trays

Also Published As

Publication number Publication date
ES2309009T3 (es) 2008-12-16
ATE403879T1 (de) 2008-08-15
US20030109224A1 (en) 2003-06-12
US7088998B2 (en) 2006-08-08
DE60039787D1 (de) 2008-09-18
FI19992622A (sv) 2001-06-08
AU2374701A (en) 2001-06-18
EP1257833B1 (en) 2008-08-06
WO2001042800A1 (en) 2001-06-14
EP1257833A1 (en) 2002-11-20
DK1257833T3 (da) 2008-10-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10277734B2 (en) Methods and systems for eSIM programming of cellular devices
CN104105576B (zh) 具有测试托盘的测试系统以及自动化测试托盘处理
EP1489866B2 (en) Test apparatus and method which can simultaneously execute various tests of one or a plurality of radio communication terminals of various types of communication systems
FI112546B (sv) Förfarande för att testa en elektronikprodukt, förfarande för att rikta åtgärder mot en elektronikprodukt och en produktpalett
CN105226779B (zh) 无线充电设备及其控制方法和控制装置
CN107566053A (zh) 射频指标的测试方法、系统及计算机可读存储介质
HUP0003157A2 (hu) Hordozható készülék mobil rádióhálózathoz, csipkártya, valamint kommunikációs eljárás
CN104939804B (zh) 生理参数量测系统及方法
CN104850486B (zh) 一种温度数据处理方法及系统
CN104111354B (zh) 测试适配器
CN106940433A (zh) 一种双通道电能表检定流水线用检定装置及方法
CN106199237A (zh) 测试设备天线的系统
RU2124269C1 (ru) Устройство для оценки радиотехнических характеристик устройства мобильной связи
CN103840249B (zh) 涉及可携式电子装置的系统及与其相关的方法
CN201360353Y (zh) 一种移动终端测试系统
US20130009753A1 (en) Radio tag sensor system and method for calibrating same
CN111556522A (zh) 一种物联网模组的可靠性测试方法
CN217010875U (zh) 一种射频测试设备及系统
CN103428346A (zh) Lcd自适应的移动固话及lcd自适应装置
KR20010001752A (ko) 무선 단말기의 소비전력 감소 방법
CN106841973B (zh) 逻辑测试装置及方法
CN107357280B (zh) 用于数字测力系统的现场维护装置以及数字测力系统
CN204614002U (zh) 一种用于电能表插卡试验的接触式ic模拟卡
CN109639346A (zh) Bosa校准方法、测试终端及可读存储介质
KR100189634B1 (ko) 씨디엠에이(cdma) 이동 통신 단말기의 성능 측정장치

Legal Events

Date Code Title Description
PC Transfer of assignment of patent

Owner name: JOT AUTOMATION OY

Free format text: JOT AUTOMATION OY

MM Patent lapsed