FI112281B - Menetelmä ja laitteisto paperirainan ominaisuuksien mittaamiseksi - Google Patents
Menetelmä ja laitteisto paperirainan ominaisuuksien mittaamiseksi Download PDFInfo
- Publication number
- FI112281B FI112281B FI991346A FI991346A FI112281B FI 112281 B FI112281 B FI 112281B FI 991346 A FI991346 A FI 991346A FI 991346 A FI991346 A FI 991346A FI 112281 B FI112281 B FI 112281B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- measuring
- paper web
- reference sample
- measurement
- properties
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
Landscapes
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Pathology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Immunology (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Paper (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
112281
MENETELMÄ JA LAITTEISTO PAPERIRAINAN OMINAISUUKSIEN MITTAAMISEKSI
Keksinnön kohteena on menetelmä paperirainan ominaisuuksien 5 mittaamiseksi, missä menetelmässä mitataan ainakin yhtä paperirainan ominaisuutta ainakin yhdellä mittausvälineellä, joka lähettää ainakin yhdellä mittauskanavalla mittaussäteen, jolloin mitataan ainakin kahdella mittauskanavalla siten, että mitataan ainakin kahdesta paperirainan kohdasta leveyssuunnassa samanaikaisesti.
10 Edelleen keksinnön kohteena on laitteisto paperirainan ominaisuuk sien mittaamiseksi, johon laitteistoon kuuluu ainakin yksi mittausväline, jossa on välineet mittaussäteen lähettämiseksi ainakin yhdellä mittauskanavalla, jolloin laitteisto on sovitettu mittaamaan ainakin yhtä paperirainan ominaisuutta mittaamalla ainakin kahdella paperirainan leveyssuunnassa vierekkäisellä 15 mittauskanavalla samanaikaisesti.
On tunnettua mitata liikkuvan paperirainan ominaisuuksia mittalaitteella siten, että mitta-anturin mittauskohta liikkuu edestakaisin paperirainan poikittaissuunnassa. Mitta-anturi on yleensä kiinnitetty paperirainan poikki asennettuun mittapalkkiin. On myös tunnettua käyttää ns. optista traversointia 20 paperirainan ominaisuuksien mittaamiseksi, kuten on esitetty US-patentissa 5,073,712. Tässä menetelmässä mitta-anturi on asennettu kiinteästi rainan yläpuolelle ja anturista lähetettävä mittaussäde liikkuu rainan yli sen poikki-·;· suunnassa. Tällaisten mittalaitteiden kalibrointi tapahtuu esimerkiksi siten, että ·'**: sijoitetaan referenssinäyte esimerkiksi paperirainan reunaan, sen ulkopuolelle 25 ja mittalaite mittaa sopivin välein edellä mainitun referenssinäytteen ominai-suuksia ja sen perusteella kalibroi mittausvälineet sinänsä tunnetulla tavalla.
» · ·
Kyseisessä ratkaisussa mittalaite kuitenkin mittaa paperirainaa diagonaalia
• · I
* pitkin, jolloin esimerkiksi rinnakkaisista kohdista ei saada mittaustulosta. Edelleen mittaustapa on varsin hidas.
I f · • ·' 30 Mittauksen nopeuttamiseksi ja rinnakkaisten mittaustietojen saami- seksi on tunnettua käyttää ratkaisuja, missä paperirainasta mitataan ominai-:y; suuksia samanaikaisesti rinnakkaisista mittauspisteistä. Tällaisia ratkaisuja on esitetty esimerkiksi US-patenteissa 4,565,444 ja 4,801,809. Edelleen julkai-’·’ sussa “Pertti Puumalainen, Paperikoneen CD-mittausten tulevaisuudennäky- v ‘ 35 mät, Paperirataa on-line mittaavat laitteet ja niihin liittyvät säädöt, 24. - :‘ · 25.2.1998, Lappeenranta” on esitetty ratkaisu, missä sijoitetaan useita mitta- 2 112281 laitteita rinnakkain ja kutakin mittalaitetta liikutetaan edestakaisin osan matkaa paperiradan poikittaissuunnassa. Tällöin kukin anturi analysoi pientä osaa pa-perirainan leveydestä. Tällaisten ratkaisujen kalibrointi on kuitenkin erittäin vaikeaa. Edellä esitetyssä Puumalaisen julkaisussa sijoitetaan kunkin mittalait-5 teen yläpuolelle referenssinäyte ja kalibrointia varten käännetään mittapalkki, johon mittalaitteet on sijoitettu, ylösalaisin siten, että tällöin mittalaitteet mittaa-vat kukin kohdallaan olevan referenssinäytteen arvot. Ongelmana tässä kuitenkin on, että eri referenssinäytteet voivat kuitenkin alkujaankin olla erilaisia tai tulla erilaisiksi vanhenemisen tai erilaisten ympäristövaikutusten, kuten li-10 kaantumisen takia, jolloin mittalaitteet kalibroituvat eri tasolle, eli niiden näyttämät tulevat erilaisiksi. Edelleen kyseinen ratkaisu on rakenteeltaan erittäin monimutkainen ja siten hankala ja kallis.
Tämän keksinnön tarkoituksena on saada aikaan menetelmä ja laitteisto, jossa edellä mainittuja epäkohtia ei esiinny. Edelleen tarkoituksena on 15 saada aikaan menetelmä ja laitteisto, jonka avulla liikkuvan paperirainan ominaisuuksien mittaus on nopeaa ja mittaustulokset ovat tarkkoja ja luotettavia.
Keksinnön mukaiselle menetelmälle on tunnusomaista se, että mittaus toteutetaan heijastusmittauksena ja että eri kohtia mittaavat mittauskanavat kalibroidaan liikuttamalla ainakin yksi referenssinäyte paperirainan poikki-20 suunnassa mittaussäteiden reitin poikki.
Edelleen keksinnön mukaiselle laitteistolle on tunnusomaista se, et-: : ’ tä mittausvälineessä on lähetin ja vastaanotin, jotka on sovitettu samalle puo- ; lelle paperirainaa ja että laitteistoon kuuluu ainakin yksi paperirainan poikki- • · t « : v: suunnassa eri mittaussäteiden reitin poikki liikutettavissa oleva referenssinäyte 25 laitteiston kalibroimiseksi.
Keksinnön olennainen ajatus on, että mitataan ainakin yhtä paperi-;.. rainan ominaisuutta mittaamalla sitä ainakin kahdesta kohdasta paperirainan 1 * leveyssuunnassa samanaikaisesti ja kalibroidaan eri kohtia mittaavat mittavä lineet liikuttamalla ainakin yksi referenssinäyte paperirainan poikkisuunnassa i 30 eri mittauspisteitä mittaavien mittaussäteiden reitin poikki.
I I I
Keksinnön etuna on, että mittausvälineiden mittauskanavat saa-y, daan kalibroitua tai standardoitua samalle tasolle yksinkertaisesti ja tehok- , ··, kaasti. Ratkaisu on erittäin luotettava ja parantaa mittausten luotettavuutta ja käytettävyyttä merkittävästi. Edelleen etuna on myös se, että kalibrointi voi-v : 35 daan tehdä, vaikka rainan mittaus on käynnissä, koska kalibrointi ei häiritse mittaustapahtumaa koko paperirainan leveydeltä, koska referenssinäyte on 3 112281 niin pieni, että se kalibrointitilanteessa peittää vain joidenkin tai vain yhden mittaussäteen reitin.
Tässä selityksessä termillä “paperi” tarkoitetaan paperin lisäksi myös kartonkia ja pehmopaperia.
5 Tässä selityksessä kalibroinnilla tarkoitetaan tason määrittämistä sellaiselle paperin ominaisuudelle, joka todella mitataan (lämpötila jne.). Mitattavan ominaisuuden mittausvälineen täytyy olla kunnolla kalibroitu, jotta se pystyy ilmaisemaan kulloinkin mitatun stimulanssin oikean arvon. Tällöin kaikki samantyyppiset kalibroidut mittausvälineet osoittavat samaa mitattua arvoa 10 samalle mitatulle stimulanssille.
Monissa mittareissa on kuitenkin tarkoituksena päätellä ensimmäisen ominaisuuden perusteella jokin toinen ominaisuus, jota ei ole mitattu suoraan, käyttäen hyväksi ominaisuuksien välistä korrelaatiota. Esimerkiksi monet paperiteollisuudessa käytetyt mittarit kohdistavat stimulanssin, kuten 15 säteilyenergiaa tai hiukkassuihkun, paperiin, jonka ominaisuuksia mitataan, ja mittaavat sitten paperista säteilevän moduloituneen säteilyvirran tai hiukkasvir-ran. Näistä mittauksista saatua ominaisuuksien välistä korrelaatiota kuvaavaa matemaattista relaatiota käytetään toisen ominaisuuden laskemiseksi ensimmäisen ominaisuuden perusteella. Tällaisen relaation kaavan ja parametrien 20 täytyy olla ennalta tunnettuja tai määritettyjä. Joissakin tapauksissa toinen ominaisuus voidaan päätellä useiden mitattujen ominaisuuksien perusteella : käyttäen monimuuttujarelaatiota.
·!· Koska stimulanssilähteen voimakkuus tai muut ominaisuudet voi-
IDI
• vat vaihdella eri mittareissa tai jopa samassa mittarissa ajan mittaan, kalibroi- • · ....: 25 dun mittauksen ja sen kanssa korreloivan ominaisuuden välinen korrelaatio voi • · * vaihdella eri mittareissa ja eri aikoina samassa mittarissa. Samoin mitatun i i i ominaisuuden ja korreloivan ominaisuuden välinen korrelaatio voi vaihdella muissa mittaamattomissa ominaisuuksissa tapahtuneiden muutosten vuoksi. Esimerkiksi mikroaaltojen takaisinsironnan ja näytteen kosteuspitoisuuden vä-: ·’ 30 linen korrelaatio muuttuu, jos näytteessä on hiilimustaa.
Standardointia käytetään stimulanssissa tai korrelaatiossa esiinty-vien muutosten ja erojen kompensointiin. Standardointi on myös kalibrointikei-no silloin, kun stimulanssissa tai korrelaatiossa esiintyvät erot ovat tunnettuja ; tai niiden tiedetään olevan merkityksettömiä.
' 35 Standardoinnissa mitataan ainakin yhden sellaisen referenssi- näytteen ominaisuus, jonka referenssinäytteen jokin muu ominaisuus on tun- 4 112281 nettu, ja lasketaan tunnetun ominaisuuden ja mitatun ominaisuuden suhdetta kuvaava parametri mittausvälineitä varten. Edullisesti käytetään useita vertai-lunäytteitä, joiden jokaisen toinen ominaisuus tunnetaan. Jos käytetään useita vertailunäytteitä, joiden toisilla tunnetuilla ominaisuuksilla on eri arvoja, relaa-5 tiolle voidaan laskea useita parametrejä. Tällöin sopivimpien parametrien laskemiseen voidaan käyttää tilastollisia menetelmiä, kuten pienimmän neliösumman menetelmää. Tilastollisten menetelmien avulla voidaan myös valita relaation kaava muiden parametrien lisäksi.
Kalibrointia sovelletaan siis ominaisuuksiin, jotka mitataan suoraan 10 ja joiden yhteydessä korjataan mittausvälineen kalibrointipoikkeamaa. Tällaisia ominaisuuksia ovat esimerkiksi lämpötila ja paperin paksuus. Standardointia sovelletaan ominaisuuksiin, jotka mitataan epäsuorasti ja joiden yhteydessä kompensoidaan samanaikaisesti yhtä tai useampaa seuraavista seikoista (i) mitattujen ja johdettujen ominaisuuksien väliset korrelaatioerot, ii) käytetyssä 15 stimulanssissa esiintyvät erot, iii) mittausvälineen kalibrointipoikkeama. Tällaisia ominaisuuksia ovat esimerkiksi neliöpaino, kosteus, tuhkapitoisuus, väri jne. Selvyyden vuoksi kuitenkin tässä selityksessä termi ’’kalibrointi” sisältää kalibroinnin lisäksi myös standardoinnin.
Keksintöä selitetään tarkemmin oheisessa piirustuksessa, jossa 20 kuvio 1 esittää kaavamaisesti erästä keksinnön mukaista mittalait- teistoa paperirainan kulkusuunnasta päin katsottuna, : : : kuvio 2 esittää kaavamaisesti kuvion 1 mukaisen mittalaitteiston * - e mittausratoja, il . » :kuvio 3 esittää kaavamaisesti erästä toista keksinnön mukaista 25 mittalaitteistoa paperirainan kulkusuunnasta päin katsottuna ja ... kuvio 4 esittää kaavamaisesti erästä kolmatta keksinnön mukaista : mittalaitteistoa sivultapäin katsottuna.
’·’ Kuviossa 1 on esitetty mittapalkki 1, joka on asennettu paperirainan poikki ja johon mittausvälineet eli mittausanturit 2a - 2d on kiinnitetty. Anturit .: 30 2a - 2d mittaavat samanaikaisesti paperirainan 3 ominaisuuksia rinnakkaisista kohdista siten, että rinnakkaiset anturit 2a - 2d mittaavat samaa paperirainan ominaisuutta samanaikaisesti. Tällöin paperirainan 3 ominaisuuksista saadaan tietoa nopeasti ja laajalta alueelta. Kuvion 1 tapauksessa antureissa 2a - 2d on sekä lähetin että vastaanotin, jolloin mittaus tapahtuu heijastusmittauksella. 35 Haluttaessa voidaan lähetin ja vastaanotin sijoittaa eri puolille paperirainaa 3, jolloin mittaus tapahtuu läpäisymittauksella sinänsä tunnetulla tavalla. Yksin- 5 112281 kertaisimmillaan on kussakin anturissa yksi mittauskanava, mutta yhtä hyvin voi anturissa olla myös useampia mittauskanavia esimerkiksi siten, että anturissa, joka mittaa spektriä, voi jokainen eri kanava mitata saman spektrin eri aallonpituutta. Mittauskanavat voivat myös mitata jokainen omaa spektriään.
5 Yhden anturin eri mittauskanavat voivat mitata samanaikaisesti tai peräkkäin esimerkiksi aikamultipleksoinnin avulla.
Laitteistoon kuuluu edelleen referenssinäyte 4, joka on liikutettavissa paperirainan 3 poikkisuunnassa eri mittauspisteitä mittaavien mittaussätei-den reitin poikki katkoviivalla B esitettyä reittiä. Laitteiston kalibrointi tapahtuu 10 siis niin, että referenssinäyte 4 liikutetaan kunkin anturin 2a - 2d mittaussäteen kautta, jolloin kukin anturi 2a - 2d kalibroidaan sillä hetkellä, kun referenssi-näyte 4 on mittaussäteen kohdalla. Tällöin kukin anturi 2a - 2d kalibroidaan saman referenssinäytteen 4 avulla, jolloin niiden näyttämä saadaan yksinkertaisella tavalla toisiaan vastaavaksi. Kalibrointi tapahtuu niin, että mitataan re-15 ferenssinäyte 4, jossa on mitattavalle ominaisuudelle tietty pitoisuus tai arvo. Jos anturin 2a - 2d näyttämä poikkeaa tästä arvosta, sitä korjataan niin, että anturi 2a - 2d näyttää oikeaa arvoa. Mikäli referenssinäyte 4 kuljetetaan kuvion 1 esittämällä tavalla paperirainan 3 yläpuolella eli sen kanssa eri tasossa, voidaan kalibrointi suorittaa haluttaessa milloin tahansa myös paperin valmistuk-20 sen aikana. Tällöin mittaukset edustavat paperirainan ja referenssinäytteen yhteistä vaikutusta, jolloin näitä mittauksia yhdessä pelkästä paperirainasta : tehtävien mittausten kanssa voidaan käyttää anturien kalibrointiin. Edullisesti käytettäessä referenssinäytteitä yhdessä paperirainan 3 kanssa aiheuttavat kyseiset referenssinäytteet sellaisia muutoksia mittauksiin, jotka ovat suurem-25 pia kuin paperirainan mittausten odotettavissa olevat muutokset mittauksen ... aikana. Mikäli halutaan kuljettaa referenssinäyte 4 samassa tasossa, missä paperiraina 3 on, täytyy kalibrointi toteuttaa katkon aikana, jolloin paperirainaa » * · v ei mittauskohdassa ole lainkaan. Samoin läpimittausta käytettäessä täytyy luonnollisesti kalibrointi tapahtua katkon aikana.
: 30 Liikutettavan referenssinäytteen 4 avulla pystytään valvomaan 1,..; myös mittalaitteiden ja erityisesti yksittäisen mittauskanavan kuntoa. Mittaus- , v. kanavalle määritellään alue, minkä sisällä mittauskanavan lukema on normaa- .··, li. Mikäli referenssinäyte 4 on mittauskanavan mittaussäteen kohdalla ja mit- “.* tauskanavan lukema poikkeaa normaalista merkittävästi, niin pystytään päät- v : 35 telemään, että kyseisen mittauskanavan yhteydessä on jotain vikaa. Tällöin ‘ : ratkaisua pystytään siis käyttämään vikadiagnostiikkaan.
β 112281
Anturit 2a - 2d voivat olla sovitettuna liikkumaan osan matkaa pape-rirainan 3 leveydestä sen poikittaissuunnassa edestakaisin nuolien A osoittamalla tavalla. Tällöin siis saadaan mittaustietoja samanaikaisesti useasta rinnakkaisesta kohdasta paperirainaa 3 ja sen lisäksi pystytään mittaamaan vuo-5 rotellen jokaisesta kohdasta paperirainan leveyttä. Tällaisella niin sanotulla minitraversoinnilla saavutetaan se, että rinnakkaisia mittauskanavia ei tarvita kovin montaa, mutta normaalisti käytettävään yhteen koko raina poikki edestakaisin liikkuvaan anturiin nähden saadaan paperiraina 3 mitattua huomattavasti tarkemmin ja nopeammin. Antureiden kalibrointi voidaan suorittaa refe-10 renssinäytteiden avulla nopeasti joko edellä esitetyn mukaisesti liikutettavan referenssinäytteen avulla tai laitteistoon paperirainan 3 yhdelle tai molemmille reunoille sovitettavien reunareferenssinäytteiden 5 avulla. Tällöin antureiden 2a - 2d mittausradat sovitetaan kuviossa 2 esitetyllä tavalla. Kuviossa 2 kaista a kuvaa kohtaa, missä reunareferenssinäytteet 5 ovat. Kaista b vastaavasti 15 kuvaa paperirainaa 3. Selvyyden vuoksi ovat paperirainan 3 kaista b ja reu-nastandardien 5 kaistat a kuvattu kuviossa 2 samalla tavalla, vaikka reunareferenssinäytteet 5 tyypillisesti ovat liikkumattomia. Reunimmaiset anturit 2a ja 2d sovitetaan liikkumaan edestakaisin sellaisen matkan, että ne mittaavat ainakin osittain paperirainaa 3 ja ainakin jossain vaiheessa reunareferenssi-20 näytettä 5. Edelleen vierekkäisten anturien 2a - 2d mittausradat sovitetaan sellaisiksi, että niillä on yhteinen kaista c, eli että niiden mittausalueet asettu-: vat osittain lomittain. Tällöin kalibrointi tapahtuu siten, että reunimmaiset antu- ·;· rit 2a ja 2d kalibroidaan reunareferenssinäytteiden 5 avulla. Tämän jälkeen mitataan anturin 2a lukema yhteisellä kaistalla cja viereinen anturi 2b mittaa 25 samalla kaistalla, jolloin vertaamalla anturien mittaustuloksia saadaan vierei- • · nen anturi kalibroitua. Kyseinen sykli toistetaan aina seuraavalle viereiselle anturille niin monta kertaa kuin on tarpeen. Tällainen kalibroiva mittaus toiste- I * · ’·' * taan edullisesti useita kertoja peräkkäin, jolloin saadaan kompensoitua virheet, jotka aiheutuvat siitä, että vierekkäiset anturit eivät paperin valmistuksen aika-: V 30 na mittaa täsmälleen samaa kohtaa paperirainan 3 kulkusuunnassa. Reunim- I I 4 :: maisten anturien 2a ja 2d ei välttämättä tarvitse liikkua reunareferenssinäyttei- .’X den 5 päällä muulloin kuin kalibrointitilanteessa. Edelleen mittausten ei myös- kään välttämättä tarvitse asettua lomittain muulloin kuin kalibroitaessa. Edel-leen anturit 2a - 2d voivat olla pääosin mitattaessa liikkumattomia, jolloin niitä \ : 35 liikutettaisiin edestakaisin ainoastaan kalibroitaessa. Myös reunareferenssi- > : näytteet voivat pääosan aikaa sijaita jossain muualla, jolloin ne liikutetaan ku- 7 112281 vioissa esitettyyn kohtaan ainoastaan kalibroinnin ajaksi. Reunareferenssi-näytteitä 5 voidaan käyttää hyödyksi laitteiston kalibrointiin paperin valmistuksen aikana sekä heijastusmittausta että läpäisymittausta käytettäessä.
Referenssinäyte 4 voidaan sovittaa liikutettavaksi myös kuvion 3 5 esittämällä tavalla. Kuvion 3 tapauksessa mittaustilanteessa säteilylähteestä 8 lähetetty mittaussäde kulkee anturin 2a mittaikkunan 6 läpi paperirainaan 3 katkoviivalla esitetyn nuolen C mukaisesti. Kalibrointitilanteessa voidaan mittaussäde kääntää välineellä säteilyn ohjaamiseksi, esimerkiksi peilillä 7, kulkemaan nuolen D mukaisesti osumaan liikutettavaan referenssinäytteeseen 4. 10 Paperiraina 3 liikkuu nuolen E suuntaan ja referenssinäytettä 4 liikutetaan siihen nähden poikittaiseen suuntaan. Peili 7 ja referenssinäyte 4 sovitetaan siten, että mittaussäteen kulkema matka ei muutu, eli peilin 7 ja paperirainan 3 välinen optinen etäisyys on sama kuin peilin 7 ja referenssinäytteen 4 välinen optinen etäisyys. Kuvion 3 mukaista ratkaisua voidaan soveltaa säteilyä käyt-15 tävissä, esimerkiksi optisissa tai muissa sähkömagneettisissa, mittauksissa. Tämän ratkaisun etuna on se, että sitä voidaan käyttää myös paperinvalmistuksen aikana ja siitä huolimatta kalibroinnissa ei tarvita minkäänlaista etäi-syyskompensointia. Kuviossa 3 on piirretty ainoastaan lähetetty säde, mutta edullisesti mittaava säde kulkee esimerkiksi heijastusmittauksessa takaisin-20 päin olennaisesti samaa reittiä kuin lähetetty säde. Silloin, kun mittaussäteen C ja paperirainan 3 välinen kulma poikkeaa 90°:sta pystytään eliminoimaan : peiliheijastuksen vaikutus mittaustulokseen. Referenssinäyte 4 voidaan myös haluttaessa sijoittaa anturin 2a sisäpuolelle eli samaan koteloon mittaussäteen lähettimen kanssa, jolloin referenssinäyte 4 on suojassa ympäristön vaikutuk-'tt[: 25 silta, esimerkiksi likaantumiselta. Toisaalta rakenteellisesti yksinkertainen rat- ...t kaisu on sijoittaa referenssinäyte 4 kuvion 3 mukaisesti anturin 2a ulkopuolel- le, jolloin nuolella D merkitty säde kulkee sivuikkunan 6a läpi. Sen sijaan, että lit '·' * käytettäisiin välinettä säteen ohjaamiseksi, voidaan mittasäteen kulkema mat ka normaalissa mittaustilanteessa ja kalibroitaessa pitää yhtä pitkänä myös : 30 esimerkiksi kääntämällä mittaussäteen lähettävää anturia esimerkiksi kääntä- mällä mittapalkkia 1.
.·’·. Kuviossa 4 on esitetty läpäisymittausperiaatteella toimiva mittaus-
I t I
järjestely. Anturit 2a - 2d lähettävät mittaussäteet kohti paperirainaa, jonka lä-;* päistyään modifioidut säteet tulevat antureihin, tässä tapauksessa ilmaisimeen v *· 35 2e - 2h. Anturit 2e - 2h on kiinnitetty mittapalkkiin T oleellisesti vastaavalle ; i kohdalle antureiden 2a - 2d kanssa. Antureita 2e - 2h voidaan myös liikuttaa „ 112281
O
osan matkaa paperirainan 3 leveydestä sen poikkisuunnassa. Tällöin anturit 2a - 2d ja 2e - 2h liikkuvat oleellisesti yhtäaikaa ja samassa kohdassa. Refe-renssinäyte 4 kuljetetaan mittaussäteiden reitin poikki samassa tasossa, missä paperiraina 3 normaalisti on. Tällöin ei tarvita minkäänlaista referenssinäytteen 5 etäisyyskompensointia, vaan kalibroinnin suorittaminen on yksinkertaista.
Referenssinäyte 4 ja reunareferenssinäytteet 5 ovat referenssima-teriaalia, jolla on tunnetut ominaisuudet. Edelleen referenssinäytteet voivat koostua useasta eri referenssinäytteestä, jolloin niissä on eri referenssinäyte-osat esimerkiksi saman ominaisuuden eri pitoisuuksille, esimerkiksi neliöpai-10 noille ja muille ominaisuuksille. Tällöin kalibroitaessa valitaan referenssinäytteestä se osa, jonka ominaisuudet ovat lähimpänä mitattavan paperirainan 3 ominaisuuksia, esimerkiksi eri osista valitaan se, jonka neliöpaino on lähimpänä mitattavan paperirainan 3 neliöpainoa. Tällöin pystytään toteuttamaan absoluuttisen tason kalibrointi. Mikäli referenssinäytteet koostuvat useasta eri 15 osasta, vaihtelee eri osien ominaisuudet yhtä laajalla tai laajemmalla alueella kuin odotettavissa oleva vaihtelu vastaavan paperirainan ominaisuuden osalta, jolloin pystytään toteuttamaan kalibrointi vaihtelun herkkyydelle. Edelleen refe-renssinäytteessä voi olla eri referenssinäyteosat paperirainan eri ominaisuuksien, kuten kosteus- ja tuhkapitoisuusmittauksen kalibrointia varten. Liikutelta-20 van referenssinäytteen 4 eri osia voidaan liikuttaa joko yhdellä traversointiväli-neellä tai eri osat voidaan jakaa liikutettavaksi useammalla traversointiväli-; · '; neellä. Vertailunäyte voi olla esimerkiksi transmissioreferenssi, absorptiorefe- renssi tai heijastusreferenssi, jolloin heijastus voi olla joko peiliheijastus tai • , ·, diffuusioheijastus.
’ ' . 25 Referenssinäyte 4 on niin pieni, että se kalibrointitilanteessa peittää !,, ’ vain joidenkin tai esimerkiksi ainoastaan yhden anturin 2a - 2d mittaussäteen • I » ’ ; / reitin. Tällöin kalibroitaessa liikutettavan referenssinäytteen 4 avulla on aino- ’ ‘ ' astaan osa antureista pois mittauskäytöstä muiden jatkaessa mittausta nor maaliin tapaan. Edelleen keksinnön mukainen kalibrointi on varsin nopea to- • 30 teuttaa, koska kalibrointi kestää ainoastaan sen ajan, mikä referenssinäyt- teeltä 4 kestää liikkua paperirainan reunasta toiseen. Tyypillisesti mittalaitteet , kalibroidaan nykyään esimerkiksi noin kerran tunnissa. Keksinnön mukaisella ratkaisulla voidaan tarvittaessa toteuttaa kalibrointi useamminkin, koska ka- « > : ’ ’ librointi on nopea toteuttaa ja se häiritsee normaalimittauksia ainoastaan var- 35 sin lyhyen aikaa.
9 112281
Keksinnön mukaiset rinnakkaiset mittaukset voidaan toteuttaa siten, että käytetään joko useita rinnakkaisia antureita tai sitten mitataan yhdellä anturilla useaa eri mittauspistettä, jolloin käytetään esimerkiksi yhtä anturia, joka mittaa usealla mittauskanavalla samanaikaisesti, esimerkiksi US-5 patentissa 4,565,444 esitetyllä tavalla. Edelleen mekaanisen traversoinnin lisäksi voidaan vierekkäisten anturien mittausalueet sovittaa lomittain esimerkiksi optisen multipleksoinnin avulla.
Piirustus ja siihen liittyvä selitys on tarkoitettu vain havainnollistamaan keksinnön ajatusta ja yksityiskohdiltaan keksintö voi vaihdella patentti-10 vaatimusten puitteissa.
• 1 · ♦ » » • · • » t · I · · 1 f t · » ♦
Claims (23)
1. Menetelmä paperirainan ominaisuuksien mittaamiseksi, missä menetelmässä mitataan ainakin yhtä paperirainan (3) ominaisuutta ainakin 5 yhdellä mittausvälineellä, joka lähettää ainakin yhdellä mittauskanavalla mit-taussäteen, jolloin mitataan ainakin kahdella mittauskanavalla siten, että mitataan ainakin kahdesta paperirainan (3) kohdasta leveyssuunnassa samanaikaisesti, tunnettu siitä, että mittaus toteutetaan heijastusmittauksena ja että eri kohtia mittaavat mittauskanavat kalibroidaan liikuttamalla ainakin yksi 10 referenssinäyte (4) paperirainan (3) poikkisuunnassa mittaussäteiden reitin poikki.
2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että liikutetaan referenssinäyte (4) eri tasossa paperirainan (3) kanssa.
3. Patenttivaatimuksen 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, 15 että referenssinäyte (4) liikutetaan paperirainan (3) poikkisuunnassa paperin valmistuksen aikana ja sovitetaan mittaussäteen reitti kalibrointitilanteessa erilaiseksi kuin mittaustilanteessa, jolloin kalibrointitilanteessa ohjataan mitta-ussäde kohdistumaan referenssinäytteeseen (4).
4. Patenttivaatimuksen 3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, 20 että mittaussäteen referenssinäytteeseen (4) kulkema matka kalibrointilait- teessa sovitetaan olennaisesti yhtäsuureksi kuin mittaussäteen paperirainaan : : : (3) kulkema matka mittaustilanteessa.
5. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, jv, että kalibrointitilanteessa liikutetaan referenssinäytettä (4) siinä tasossa, missä ψ * ' 25 paperiraina (3) on normaalissa mittaustilanteessa.
6. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mitataan paperirainan (3) ominaisuuksia ainakin kah- t « i ‘ della vierekkäisellä mittauskanavalla, jolloin vierekkäiset mittauskanavat mit taavat ainakin osan aikaa yhteistä kaistaa (c), jolloin paperirainan (3) ainakin • V 30 toisella reunalla on ainakin kalibroitaessa reunareferenssinäyte (5), jolloin reunimmainen mittauskanava mittaa ainakin kalibroitaessa reunareferenssi-näytteen (5) arvon, minkä jälkeen kyseinen mittauskanava mittaa yhteisen I t » kaistan (c) arvon, jolloin kyseinen mittaustieto viedään viereiselle mittauskana-; ‘ valle, joka mittaa saman yhteisen kaistan (c) arvon kyseisen mittauskanavan v : 35 kalibroimiseksi. 112281
7. Patenttivaatimuksen 6 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittauskanavat on sovitettu ainakin kahteen vierekkäiseen mittausvälineeseen ja että vierekkäisiä mittausvälineitä liikutetaan ainakin kalibroitaessa ainakin osan matkaa paperirainan (3) leveyssuunnassa edestakaisin.
8. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että referenssinäytteessä (4, 5) on ainakin kaksi eri osaa eri ominaisuuksille tai saman ominaisuuden eri pitoisuuksille.
9. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että määritellään mittauskanavan lukemalle normaali alue, 10 sovitetaan referenssinäyte (4) mittauskanavan mittaussäteen kohdalle ja luetaan mittauskanavan lukema, verrataan mittauskanavan lukemaa määriteltyyn normaaliin alueeseen ja lukeman poiketessa merkittävästi normaalista ilmaistaan mittauskanavan yhteydessä oleva vikaa.
10. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, 15 tunnettu siitä, että mittausvälineitä on sovitettuna useita vierekkäin paperirainan (3) poikkisuunnassa.
11. Jonkin edellisen patenttivaatimuksen mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittausvälineitä liikutetaan ainakin osan matkaa paperirainan (3) poikkisuunnassa edestakaisin.
12. Laitteisto paperirainan ominaisuuksien mittaamiseksi, johon laitteistoon kuuluu ainakin yksi mittausväline, jossa on välineet mittaussäteen > · ; lähettämiseksi ainakin yhdellä mittauskanavalla, jolloin laitteisto on sovitettu mittaamaan ainakin yhtä paperirainan (3) ominaisuutta mittaamalla ainakin lv. kahdella paperirainan (3) leveyssuunnassa vierekkäisellä mittauskanavalla * · [ *. 25 samanaikaisesti, tunnettu siitä, että mittausvälineessä on lähetin ja vas- taanotin, jotka on sovitettu samalle puolelle paperirainaa ja että laitteistoon kuuluu ainakin yksi paperirainan (3) poikkisuunnassa eri mittaussäteiden reitin ’ poikki liikutettavissa oleva referenssinäyte (4) laitteiston kalibroimiseksi.
13. Patenttivaatimuksen 12 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, > · » j V 30 että referenssinäyte (4) on sovitettu liikutettavaksi eri tasossa paperirainan (3) kanssa. f.j·,
14. Patenttivaatimuksen 13 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, ; että referenssinäyte (4) on sovitettu liikutettavaksi paperirainan (3) poikkisuun- ’ ·; ‘ nassa paperin valmistuksen aikana. 112281
15. Patenttivaatimuksen 14 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että laitteistossa on välineet mittaussäteen kulkeman matkan sovittamiseksi olennaisesti yhtä pitkäksi mittaustilanteessa ja kalibrointitilanteessa.
16. Patenttivaatimuksen 15 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, 5 että laitteistoon kuuluu väline mittaussäteen ohjaamiseksi kalibrointitilanteessa.
17. Patenttivaatimuksen 16 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että väline mittaussäteen ohjaamiseksi on peili (7).
18. Patenttivaatimuksen 12 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, 10 että referenssinäyte (4) on sovitettu liikutettavaksi samassa tasossa paperirai- nan (3) kanssa.
19. Jonkin patenttivaatimuksen 12 - 18 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että laitteistoon kuuluu ainakin kaksi paperirainan (3) ominaisuuksia mittaavaa vierekkäistä mittauskanavaa, jotka on ainakin osan aikaa 15 sovitettu mittaamaan yhteistä kaistaa (c), paperirainan (3) ainakin toiselle reunalle sovitettu reunareferenssinäyte (5), jolloin reunimmainen mittauskanava on sovitettu ainakin kalibroitaessa mittaamaan reunareferenssinäytteen (5) arvon ja tämän jälkeen yhteisen kaistan (c) arvon ja välineet mittaustiedon viemiseksi viereiselle mittauskanavalle, joka on sovitettu mittaamaan yhteisen 20 kaistan (c) arvon kyseisen mittauskanavan kalibroimiseksi.
20. Patenttivaatimuksen 19 mukainen laitteisto, tunnettu siitä, että laitteistoon kuuluu ainakin kaksi vierekkäistä mittausvälinettä, jolloin mit- ·:· tauskanavat on sovitettu vierekkäisiin mittausvälineisiin ja että laitteistoon ·’·*: kuuluu välineet vierekkäisten mittausvälineiden liikuttamiseksi edestakaisin ai- 25 nakin osan matkaa paperirainan (3) leveyssuunnassa.
21. Jonkin patenttivaatimuksen 12 - 20 mukainen laitteisto, tun-nettu siitä, että referenssinäytteessä (4, 5) on ainakin kaksi eri osaa eri * · ominaisuuksille tai saman ominaisuuden eri pituuksille.
22. Jonkin patenttivaatimuksen 12 - 21 mukainen laitteisto, tu n- : ' 30 nettu siitä, että mittausvälineitä on useita vierekkäin paperirainan (3) poikki- suunnassa. f;’;
23. Jonkin patenttivaatimuksen 12-22 mukainen laitteisto, tun- .·. nettu siitä, että laitteistoon kuuluu välineet mittausvälineiden liikuttamiseksi ; ainakin osan matkaa paperirainan (3) poikkisuunnassa edestakaisin. ( · 112281
Priority Applications (7)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI991346A FI112281B (fi) | 1999-06-11 | 1999-06-11 | Menetelmä ja laitteisto paperirainan ominaisuuksien mittaamiseksi |
| EP00936918A EP1192449B1 (en) | 1999-06-11 | 2000-06-09 | Method and apparatus for measuring properties of paper web |
| CA002376491A CA2376491C (en) | 1999-06-11 | 2000-06-09 | Method and apparatus for measuring properties of paper web |
| AT00936918T ATE557272T1 (de) | 1999-06-11 | 2000-06-09 | Verfahren und vorrichtung zur messung der eigenschaften einer papierbahn |
| PCT/FI2000/000523 WO2000077498A1 (en) | 1999-06-11 | 2000-06-09 | Method and apparatus for measuring properties of paper web |
| AU52237/00A AU5223700A (en) | 1999-06-11 | 2000-06-09 | Method and apparatus for measuring properties of paper web |
| US09/997,714 US6538743B2 (en) | 1999-06-11 | 2001-11-29 | Method and apparatus for measuring properties of paper web |
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| FI991346A FI112281B (fi) | 1999-06-11 | 1999-06-11 | Menetelmä ja laitteisto paperirainan ominaisuuksien mittaamiseksi |
| FI991346 | 1999-06-11 |
Publications (3)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| FI991346A0 FI991346A0 (fi) | 1999-06-11 |
| FI991346A FI991346A (fi) | 2000-12-12 |
| FI112281B true FI112281B (fi) | 2003-11-14 |
Family
ID=8554869
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| FI991346A FI112281B (fi) | 1999-06-11 | 1999-06-11 | Menetelmä ja laitteisto paperirainan ominaisuuksien mittaamiseksi |
Country Status (7)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US6538743B2 (fi) |
| EP (1) | EP1192449B1 (fi) |
| AT (1) | ATE557272T1 (fi) |
| AU (1) | AU5223700A (fi) |
| CA (1) | CA2376491C (fi) |
| FI (1) | FI112281B (fi) |
| WO (1) | WO2000077498A1 (fi) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FI120053B (fi) | 2000-12-22 | 2009-06-15 | Metso Automation Oy | Menetelmä ja laitteisto liikkuvan paperirainan kosteusprofiilin säätämiseksi |
| FI121240B (fi) * | 2001-03-23 | 2010-08-31 | Metso Paper Automation Oy | Sovitelma paperikoneen yhteydessä ja puhalluslaatikko |
| SE0103530L (sv) * | 2001-10-22 | 2003-03-25 | Shapeline Ab | Kalibreringsanordning och metod vid en optisk profilmätningsutrustning |
| FI115163B (fi) * | 2001-11-29 | 2005-03-15 | Metso Automation Oy | Spektrierottelevaan mittaukseen perustuva laadun- ja kunnonvalvonta |
| US7678233B2 (en) * | 2005-12-29 | 2010-03-16 | Honeywell Asca, Inc. | Machine direction sensor system with cross direction averaging |
| FI122156B (fi) * | 2007-03-13 | 2011-09-15 | Metso Automation Oy | Rainan mittaus |
| DE102007055820A1 (de) * | 2007-12-14 | 2009-06-18 | Voith Patent Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung zumindest einer die Eigenschaften einer Oberfläche in einer Materialbahnbehandlungseinrichtung wenigstens mittelbar charaktersierenden Größe und Verfahren zur Optimierung der Betriebsweise einer Materialbahnbehandlungseinrichtung |
| ATE554380T1 (de) * | 2009-01-14 | 2012-05-15 | Baumer Inspection Gmbh | Verfahren und anordnung zur visuellen oberflächeninspektion |
| EP2468429A1 (de) | 2010-12-21 | 2012-06-27 | Siemens VAI Metals Technologies GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Geschwindigkeit eines Walzgutes |
| DE102011083653A1 (de) * | 2011-09-28 | 2013-03-28 | Voith Patent Gmbh | Messvorrichtung und Messverfahren zur Messung von Bahneigenschaften |
| US9540770B2 (en) * | 2014-09-25 | 2017-01-10 | Honeywell Limited | Modular sensing system for web-based applications |
Family Cites Families (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4587434A (en) * | 1981-10-22 | 1986-05-06 | Cubic Western Data | Currency note validator |
| US4565444A (en) * | 1982-11-01 | 1986-01-21 | Sentrol Systems Ltd. | Electronically scanned spectrometer color, brightness and opacity measurement and control system |
| CH658733A5 (de) | 1984-02-21 | 1986-11-28 | Merchandising International S | Eichvorrichtung fuer colorprinter sowie verfahren zu deren betrieb. |
| US4801809A (en) * | 1987-07-13 | 1989-01-31 | Process Automation Business, Inc. | Sheet inspection apparatus and methods providing simultaneous resolution of measurement zones and wavelength bands |
| US5073712A (en) * | 1991-04-11 | 1991-12-17 | Abb Process Automation, Inc. | Light scanner web profile measurement apparatus and method |
| GB9112397D0 (en) | 1991-06-10 | 1991-07-31 | Infrared Eng | Apparatus for sampling a material travelling past a sampling region |
| FR2704643B1 (fr) * | 1993-04-26 | 1995-06-23 | Lorraine Laminage | Procede et dispositf d'etalonnage pour un ensemble de mesure du profil transversal d'epaisseur d'un produit plat. |
| US5625196A (en) * | 1995-05-30 | 1997-04-29 | Abb Industrial Systems, Inc. | Method and apparatus for monitoring/calibrating a process measuring system |
| GB2309299B (en) * | 1996-01-16 | 2000-06-07 | Mars Inc | Sensing device |
| DE19646888C1 (de) * | 1996-11-13 | 1998-04-23 | Schoeller Felix Jun Foto | Vorrichtung zum Kalibrieren eines mit einem abtastenden Lichtstrahl arbeitenden Untersuchungssystems für bahnförmige Materialien |
| US5923413A (en) * | 1996-11-15 | 1999-07-13 | Interbold | Universal bank note denominator and validator |
-
1999
- 1999-06-11 FI FI991346A patent/FI112281B/fi not_active IP Right Cessation
-
2000
- 2000-06-09 AT AT00936918T patent/ATE557272T1/de active
- 2000-06-09 WO PCT/FI2000/000523 patent/WO2000077498A1/en active Application Filing
- 2000-06-09 AU AU52237/00A patent/AU5223700A/en not_active Abandoned
- 2000-06-09 CA CA002376491A patent/CA2376491C/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-06-09 EP EP00936918A patent/EP1192449B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-11-29 US US09/997,714 patent/US6538743B2/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP1192449B1 (en) | 2012-05-09 |
| EP1192449A1 (en) | 2002-04-03 |
| AU5223700A (en) | 2001-01-02 |
| US20020085201A1 (en) | 2002-07-04 |
| ATE557272T1 (de) | 2012-05-15 |
| FI991346A (fi) | 2000-12-12 |
| WO2000077498A1 (en) | 2000-12-21 |
| CA2376491C (en) | 2008-12-09 |
| US6538743B2 (en) | 2003-03-25 |
| FI991346A0 (fi) | 1999-06-11 |
| CA2376491A1 (en) | 2000-12-21 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| FI112281B (fi) | Menetelmä ja laitteisto paperirainan ominaisuuksien mittaamiseksi | |
| FI59170C (fi) | Jaemfoerelsefoerfarande och anordning foer maetning av maengden av en substans som transporteras av en loepande materialbana | |
| US8148165B2 (en) | Apparatus and method for measuring concentration of carbon dioxide in water | |
| CN101073006B (zh) | 气体检测方法和系统 | |
| FI87492B (fi) | Foerfarande och anordning foer maetning och reglering av bestrykningsmaengden. | |
| CA2437711A1 (en) | Method and apparatus for calibration of instruments that monitor the concentration of a sterilant in a system | |
| US8394449B2 (en) | Differential coat weight measurement by means of nuclear or X-ray gauges | |
| US11782008B2 (en) | Method for correcting two measured values from different analytical measuring devices and measuring point for carrying out the method | |
| CN118130310B (zh) | 一种全检式面密度仪的校准方法 | |
| EP3341703B1 (en) | Holmium oxide glasses as calibration standards for near infrared moisture sensors | |
| US10088416B2 (en) | Method and device for determining gas component inside a transparent container | |
| CN104048922A (zh) | 一种荧光光谱偏振度和偏振角的测量方法 | |
| US20180266939A1 (en) | Method and device for determining a substance concentration or a substance in a liquid medium | |
| US20110292392A1 (en) | Absorption optical probe provided with monitoring of the emission source | |
| US6627043B1 (en) | Measuring amount of silicone coating on paper web | |
| CN109916282A (zh) | 一种基于光纤传感的结构变形装置及其检测方法 | |
| US6779377B2 (en) | Method and apparatus for the calibration of fiber stock consistency sensors | |
| WO2000077497A1 (en) | Method and apparatus for measuring properties of paper web | |
| NO146451B (no) | Apparat for maaling av fuktighetsinnhodet i en bevegelig papirbane | |
| KR102100822B1 (ko) | 흡광도를 이용한 농도 측정 방법 | |
| FI114660B (fi) | Menetelmä radiometrisen mittarin mittaustarkkuuden parantamiseksi ja radiometrinen mittari | |
| JP2007216399A (ja) | 見当検出装置の検査装置及び検査方法 | |
| FI110640B (fi) | Menetelmä hygroskooppisen materiaalin pintakerroksen syvyyssuuntaisen kosteusjakauman mittaamiseksi | |
| CN118032818A (zh) | 紧凑型横向c型框架扫描仪 | |
| CN118671049A (zh) | 用拉曼光谱的硼酸溶液浓度光谱自校准测量方法及系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| MA | Patent expired |