FI111104B - Method and arrangement for determining the condition of the connector and the integrity of the connections - Google Patents

Method and arrangement for determining the condition of the connector and the integrity of the connections Download PDF

Info

Publication number
FI111104B
FI111104B FI20011448A FI20011448A FI111104B FI 111104 B FI111104 B FI 111104B FI 20011448 A FI20011448 A FI 20011448A FI 20011448 A FI20011448 A FI 20011448A FI 111104 B FI111104 B FI 111104B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
connector
resistance
resistor
contact
condition
Prior art date
Application number
FI20011448A
Other languages
Finnish (fi)
Swedish (sv)
Other versions
FI20011448A (en
FI20011448A0 (en
Inventor
Erkki Lassila
Original Assignee
Scanfil Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Scanfil Oy filed Critical Scanfil Oy
Priority to FI20011448A priority Critical patent/FI111104B/en
Publication of FI20011448A0 publication Critical patent/FI20011448A0/en
Priority to PCT/FI2002/000597 priority patent/WO2003005048A1/en
Publication of FI20011448A publication Critical patent/FI20011448A/en
Application granted granted Critical
Publication of FI111104B publication Critical patent/FI111104B/en

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/70—Testing of connections between components and printed circuit boards

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Description

111104111104

Menetelmä ja järjestely liittimen kunnon ja kytkentöjen eheyden määrittämiseksiMethod and arrangement for determining the condition of the connector and the integrity of the connections

Keksinnön kohteena on menetelmä liittimen kunnon ja kytkentöjen f 5 eheyden määrittämiseksi, missä liittimessä on kontaktipiikkejä ja liittimen toi nen puoli on yhdistetty yhteen pisteeseen, johon on yhdistetty toisiopuolen liitin, missä menetelmässä liittimen kunto ja kytkentöjen eheys määritetään resistanssi mittauksen perusteella.The invention relates to a process for the condition of the connector and connecting the f for determining the integrity of the 5, wherein the connector has a contact spikes and the connector of the introduced side is connected to one point, which is connected to the secondary side of the connector, in which method the condition of the connector and connecting the integrity of the resistance is determined on the basis of the measurement.

Edelleen keksinnön kohteena on järjestely liittimen kunnon ja ehey-10 den määrittämiseksi, missä järjestelyssä liittimessä on useita kontaktipiikkejä ja liittimen toinen puoli on yhdistetty yhteen pisteeseen, johon on yhdistetty toisiopuolen liitin.The invention further relates to an arrangement condition and categories of integrity of the connector 10-determining arrangement where the connector has a plurality of contact spikes and the other half of the connector is connected to one point, which is connected to the secondary side of the connector.

Elektroniikkalaitteet koostuvat tyypillisesti jonkin tyyppisistä kasettiin asennetuista elektroniikkapiirikorteista. Kasetti käsittää takalevyn, jossa on liit-15 timet siihen liitettäville korteille ja vastaavasti kortissa on liitin kortin liittämiseksi kasetin takalevyn liittimeen. Tyypillisesti takalevyssä oleva liitin on ns. urospuolinen liitin käsittäen n kappaletta piikkejä, jotka vastaanottavat kortissa olevan naaraspuolisen liittimen aukot.Electronic devices typically consist of some type of electronic circuit board mounted on a cassette. The cassette comprises a back plate having connectors for the cards to be inserted therein, and the card has a connector for attaching the card to the connector on the back of the cassette. Typically, the connector on the back panel is so called. a male connector comprising n pins that receive the slots of the female connector on the card.

Laitteen luotettavalle toiminnalle on olennaista, että takalevyn liitti-20 met ja kytkennät ovat ehyitä. Niinpä ennen laitteen käyttöönottoa tulee liittimen kunto ja kytkentöjen eheys varmistaa. Tyypillisesti nykyään liittimen kunto ja kytkentöjen eheys määritetään kuviossa 1 esitetyllä tavalla. Liittimessä 1 on n kappaletta kontaktipiikkejä 2a - 2n. Liittimen 1 toisiopuoli on kytketty yhteen pisteeseen, jossa on myös toisiopuolen liitin 3. Liittimen 1 kunto ja kytkentöjen 25 eheys mitataan mittaamalla mittalaitteella 4 kunkin kontaktipiikin 2a - 2n ja toisiopuolen liittimen 3 välinen resistanssi. Mikäli resistanssi poikkeaa normaaliarvosta on kyseistä kontaktipiikistä 2a - 2n mitattava kytkentä viallinen. Resistanssi mitataan yksitellen jokaisen kontaktipiikin 2a - 2n ja toisiopuolen liittimen 3 väliltä. Mittauksen toteuttamista varten kuuluu mittausjärjestelyyn kytkin 5, 30 jolla pystytään vuorotellen valitsemaan mitattava kontaktipiikki 2a - 2n. Yhden *: liittimen 1 kunnon ja kytkentöjen eheyden määrittäminen vaatii siis n kappalet ta mittauksia, jolloin järjestely on varsin hankala, työläs ja aikaa vievä.It is essential for the reliable operation of the device that the 20-meter rear panel connector and connections are intact. Thus, the condition of the connector and the integrity of the connections must be checked before the device is put into operation. Typically today, the condition of the connector and the integrity of the connections are determined as shown in Figure 1. The connector 1 has n contact pins 2a to 2n. Terminal 1 is connected to the secondary side of a point, which is the secondary side of the connector 3. The connector 1 and the wiring 25 form integrity is measured by measuring device 4 each contact of the peak 2a - 2n, and a secondary side of the connector between the three resistance. If the resistance deviates from the normal value, the measured connection from this contact pin 2a to 2n is defective. The resistance is measured individually for each contact of the peak 2a - 2n, and a secondary side of the connector 3 in between. To carry out the measurement, the measuring arrangement includes a switch 5 30 which alternately selects the contact pin 2a to 2n to be measured. Thus, determining the condition of one single connector 1 and the integrity of the connections requires n measurements, which makes the arrangement quite cumbersome, laborious and time consuming.

Tämän keksinnön tarkoituksena on saada aikaan menetelmä ja jär-jestely, joilla liittimen kunto ja eheys pystytään määrittämään tehokkaasti.It is an object of the present invention to provide a method and arrangement for effectively determining the condition and integrity of a connector.

35 Keksinnön mukaiselle menetelmälle on tunnusomaista se, että sovi tetaan useisiin liittimen kontaktipiikkeihin vastus ja kytketään vastusten toiset 2 111104 päät yhteen tähtipisteeseen, jolloin vastukset on kytketty muodostamaan rin-nankytkentä, lasketaan kyseisen tähtipisteen ja toisiopuolen liittimen välinen resistanssi, määritetään todellisen tilanteen mukainen resistanssi ja verrataan määritettyä resistanssia laskettuun resistanssiin liittimen kunnon ja kytkentöjen 5 eheyden määrittämiseksi.The method according to 35 the invention is characterized in that the suitable VED plurality of connector kontaktipiikkeihin resistor and connected to resistances another 2 111 104 the ends of the star point, wherein the resistors are connected to form an ester-nankytkentä, calculated on the star point and the resistance between the secondary side of the connector is determined by the resistance of the actual situation and compared with the the specified resistance to the calculated resistance to determine the condition of the connector and the integrity of the connections.

Edelleen on keksinnön mukaiselle järjestelylle tunnusomaista se, että sovitetaan useisiin kontaktipiikkeihin vastukset siten, että kunkin vastuksen ensimmäinen pää on yhdistetty kontaktipiikkiin ja vastusten toiset päät on yhdistetty keskenään tähtipisteeseen ja missä järjestelyssä on mittalaite tähtipis-10 teen ja toisiopuolen liittimen välisen resistanssin määrittämiseksi.Furthermore, the arrangement according to the invention is characterized by arranging a plurality of kontaktipiikkeihin resistors such that the first end of each resistor is connected to the contact pin and resistors in the other ends are connected to each other at the star point, and wherein the arrangement is a measuring device tähtipis-10 I and the secondary resistance between the connector determining.

Keksinnön olennainen ajatus on, että sovitetaan liittimen useisiin kontaktipiikkeihin vastukset siten, että kunkin vastuksen ensimmäinen pää on yhdistetty kontaktipiikkiin ja vastusten toiset päät on yhdistetty keskenään tähtipisteeseen. Tämän jälkeen lasketaan resistanssi liittimen yhdessä olevan toils sen puolen ja vastusten tähtipisteen välillä ja sen jälkeen määritellään esimerkiksi vastusmittauksella todellisen tilanteen mukainen resistanssi. Määritetään siis rinnankytkettyjen vastusten muodostaman vastusverkon resistanssi. Mikäli liitin on kunnossa ja kytkennät ehyitä on vastusverkon resistanssi siis edellä lasketun suuruinen. Mikäli resistanssi on tätä suurempi voidaan todeta, että 20 liittimestä mitattava kytkentä on viallinen. Erään edullisen sovellutusmuodon ajatuksena on, että kontaktipiikkeihin liitettävät vastukset ovat suuruudeltaan eri suuruisia, jolloin määritetystä resistanssista pystytään sen suuruuden perusteella määrittämään minkä vastuksen kohdalla olevaan kytkentäpiikkiin vika liittyy.An essential idea of the invention is to fit resistors to a plurality of contact pins of the connector such that the first end of each resistor is connected to the contact peak and the other ends of the resistors are connected to each other at a star point. The resistance is then calculated together with the toils of the connector between its side and the neutral point of the resistors and then the resistance of the resistance measurement is defined for example according to the actual situation. Thus, the resistance of the resistor network formed by the parallel resistors is determined. If the connector is in good condition and the connections are intact, then the resistance of the resistor network will be as calculated above. If the resistance is higher than this, the connection measured at the 20 terminals is defective. The idea of a preferred embodiment is that the resistors to be connected to the contact pins are of different magnitudes, so that from the determined resistance it is possible to determine, based on the magnitude of the resistance, to which switching pin at the resistor.

25 Keksinnön etuna on, että mittaus saadaan toteutettua koko liittimen osalta aikaisempaa huomattavasti nopeammin. Kun kontaktipiikkeihin kytkettävät vastukset ovat erisuuria, pystytään erittäin nopeasti määrittämään missä kohdassa vika esiintyy.An advantage of the invention is that the measurement can be carried out much faster for the entire connector. When the resistors to be connected to contact pins are different, it is possible to determine very quickly where the fault occurs.

Keksintöä selitetään tarkemmin oheisissa piirustuksissa, jossa 30 kuvio 1 esittää kaavamaisesti tekniikan tason mukaista ratkaisua ja ’ kuvio 2 esittää kaavamaisesti erästä keksinnön mukaista ratkaisua.The invention will be explained in more detail in the accompanying drawings, in which Figure 1 schematically represents a prior art solution and 'Figure 2 schematically shows a solution according to the invention.

Kuviossa 2 on esitetty kytkentärima eli liitin 1, joka sovitetaan esimerkiksi eletroniikkalaitteen kasetin takalevyyn. Liittimessä 1 on n kappaletta kontaktipiikkejä 2a - 2n. Liittimen 1 toinen puoli on yhdistetty yhteen pistee-35 seen, johon on yhdistetty myös toisiopuolen liitin 3.Fig. 2 shows a terminal strip, i.e. a connector 1, which is fitted, for example, on the back plate of an electronic device cassette. The connector 1 has n contact pins 2a to 2n. 1, the second half of the connector is connected to one of pistee-35, which is also connected to the secondary side of the connector 3.

3 1111043, 111104

Jokaiseen kontaktipiikkiin 2a - 2n on yhdistetty vastus Ra - Rn. Vastusten Ra - Rn toiset päät on yhdistetty keskenään tähtipisteeseen 6. Mittalaitteella 4 määritetään tähtipisteen 6 ja toisiopuolen liittimen 3 välinen resistanssi. Kyseinen resistanssi on siis sellaisen verkon resistanssi, jossa vastukset Ra f 5 - Rn on kytketty sarjaan liittimen 1 kanssa ja vastukset Ra - Rn on kytketty rin nan. Mikäli kytkentä on kunnossa on resistanssi tähtipisteen 6 ja toisiopuolen liittimen 3 välillä olennaisesti yhtäsuuri kuin rinnan kytkettyjen vastusten Ra -Rn muodostaman rinnankytkennän resistanssi. Mikäli mitattu resistanssi on tätä suurempi, voidaan päätellä, että ainakin yhden kontaktipiikin 2a - 2n yhtey-10 dessä on jokin vika kuten heikkolaatuinen juotos tai katkospaikka.A resistor Ra - Rn is connected to each contact peak 2a - 2n. The resistors Ra - Rn second ends are connected to each other at the star point 6. The measurement device 4 is determined by the star point of the secondary side 6 and 3 the resistance between the connector. This resistance is thus the resistance of a network in which resistors Ra f 5 - R n are connected in series with terminal 1 and resistors Ra - R n are connected in parallel. If the connection is OK is the resistance of the neutral point of the secondary side of the connector 6 and the three substantially equal to the resistance formed by the parallel connection of the parallel-connected resistors R -Rn. If the measured resistance is greater than this, it can be concluded that there is a fault at least one of the contact peaks 2a to 2n, such as poor quality soldering or breakage.

Resistanssi voidaan määrittää esimerkiksi siten, että mittalaite 4 on yleismittari, joka mittaa resistanssin. Mikäli mitattu kokonaisresistanssi on etukäteen lasketun tavoitearvon suuruinen, voidaan siis todeta, että liitin on kunnossa ja kytkennät ehyitä. Mikäli jokaiseen kontaktipiikkiin 2a - 2n on yhdistetty 15 vastus Ra - Rn tarvitaan ainoastaan yksi mittaus, jolloin liitin 1 saadaan koe-stettua nopeasti. Mikäli kokonaisresistanssi poikkeaa tavoitearvosta voidaan tämän jälkeen jatkaa mittauksia esimerkiksi yksitellen vikapaikan paikallistamiseksi. Edullisimmin kuitenkin sovitetaan tässä vaiheessa vastukset puoleen kontaktipiikeistä, jolloin tälle määrälle vastuksia sisältävälle rinnankytkennälle 20 on laskettu oma resistanssin tavoitearvonsa. Mikäli mittaustulos vastaa kyseistä resistanssin tavoitearvoa, voidaan todeta, että vikapaikka ei ole kyseisten kontaktipiikkien kohdalla. Tämän jälkeen mitataan resistanssi jäljelle jääneiden kontaktipiikkien kohdalta jatkuvasti pienentäen vastusverkossa rinnankytken-nässä olevien vastusten määrää, kunnes jokaisesta kontaktipiikistä on tieto " 25 onko se kunnossa vai ei. Tällaisessa ratkaisussa voi jokaisen vastuksen resis tanssi olla yhtäsuuri, jolloin kokonaisresistanssi on yksinkertainen laskea sen ollessa yhden vastuksen resistanssin suuruus jaettuna rinnankytkettyjen vastusten lukumäärällä.The resistance can be determined, for example, by measuring device 4 being a multimeter that measures resistance. Thus, if the total resistance measured is equal to the pre-calculated target value, then it can be stated that the connector is in good condition and the connections are intact. If 15 resistors Ra - Rn are connected to each contact peak 2a - 2n, only one measurement is required, so that connector 1 can be tested quickly. If the total resistance deviates from the target value, measurements can then be continued, for example, individually to locate the fault. Most preferably, however, at this point, the resistors are matched to half of the contact peaks, whereby for this number of resistors, the parallel connection 20 has its own resistance target value calculated. If the result of the measurement corresponds to this resistance target value, it can be stated that the fault location is not at the contact peaks in question. Thereafter, the resistance at the remaining contact peaks is measured, continuously decreasing the number of resistors in the resistor network until each contact peak has information "25 is OK or not. In such a solution, the resistance of each resistor can be equal; the magnitude of the resistance divided by the number of resistors connected in parallel.

Vielä edullisimmin on jokaisen vastuksen Ra - Rn arvo erisuuri. Täl-30 löin mittaustuloksesta pystytään heti päättelemään minkä vastuksen Ra - Rn '' kohdalla on vikaa. Tarkistettaessa esimerkiksi kytkentää, mihin kuuluu neljä » 1 kontaktipiikkiä, voidaan käyttää esimerkiksi vastuksien arvoja Ra = 1 Ω , Rb = 2 Ω, Rc = 4 Ω ja Rd = 8 Ω. Kytkennästä muodostuva resistanssi, jota tässä esimerkissä merkitään Rkok, voidaan laskea kaavasta — — — 1 _ 1 mMost preferably, the value of each resistor Ra - Rn is different. Thus, it is possible to immediately determine from the measurement result which resistor Ra - Rn '' is wrong. For example, when checking a circuit with four »1 contact peaks, values of resistances Ra = 1 Ω, Rb = 2 Ω, Rc = 4 Ω and Rd = 8 Ω can be used. The coupling resistance, denoted by Rkok in this example, can be calculated from the formula - - - 1 - 1 m

Ra + Rb + Rc + Rd Rkok ' ' ' 35 4 111104Ra + Rb + Rc + Rd Rkok '' '35 4 111104

Sijoittamalla kaavaan (1) vastuksien Ra, Rb, Rc ja Rd arvot saadaan 1 1 1 1__1_ 1+ 2 + 4 + 8 ~ Rkokl ’ 5 jolloin kytkentää vastaavan resistanssin käänteisluku 1/Rkokl = 15/8, kun summan tekijöiden nimittäjät on lavennettu samoiksi. 1/Rkokl vastaa siis tässä esimerkissä kytkennän resistanssin tavoitearvon käänteislukua. Mikäli kon-taktipiikkiä 2b vastaava liitos on viallinen, on kontaktipiikkiä 2b vastaavan vasto tuksen Rb arvo ääretön, jolloin kaavan (1) avulla esitettynä kytkentää vastaa tilanne 1 J_ 1 1__1_ 1 + oo 4 + 8 Rkok2 15 Tätä vikatilannetta vastaavan kytkennän resistanssin käänteisluku 1/Rkok2 = 11/8, koska 1/ooon käytännössä nolla. Suorittamalla vähennyslasku 1/Rkok1 -1/Rkok2 saadaan 15/8 -11/8 = 4/8 = 1/2, jonka käänteisluku osoittaa vastusta Rb = 2 Ω vastaavan kytkentäpiikin 2b liitoksen olevan viallinen.Placing the values of resistances Ra, Rb, Rc and Rd in equation (1) gives 1 1 1 1__1_ 1+ 2 + 4 + 8 ~ Rkokl '5 where the inverse of the resistance corresponding to the coupling is 1 / Rkokl = 15/8 when the denominators of the sum are extended to the same . Thus, 1 / Rkokl in this example corresponds to the inverse of the target resistance value of the coupling. If the connection corresponding to the contact peak 2b is defective, the value of the Resistance Rb corresponding to the contact peak 2b is infinite, whereby the circuit represented by equation (1) corresponds to the situation 1 J_ 1 1__1_ 1 + oo 4 + 8 Rkok2 15 Rkok2 = 11/8 because 1 / o practically zero. Performing the subtraction 1 / Rkok1 -1 / Rkok2 gives 15/8 -11/8 = 4/8 = 1/2, the inverse of which shows that the coupling pin 2b corresponding to Rb = 2 Ω is defective.

Edellisessä esimerkissä vastuksien Ra, Rb, Rc ja Rd arvot oli valittu 20 binäärikoodausta hyväksikäyttäen eli Ra = 2° = 1, Rb = 21 = 2, Rc = 22 = 4 ja Rd = 23 = 8. Kun vastuksien arvot on valittu binäärikoodausta hyväksikäyttäen saadaan yhdellä ainoalla mittauksella suoraan selville kaikki vialliset liitokset, koska ainoastaan yksi vastuskombinaatio voi vastata sitä resistanssin arvoa, « minkä verran kytkennän resistanssi poikkeaa kytkennän resistanssin tavoi-25 tearvosta. Vastuksien arvot voidaan luonnollisesti valita erisuuriksi myös muullakin tavalla, mutta tällöin ei välttämättä yhdellä ainoalla mittauksella saada selville, mitkä liitokset ovat viallisia, mikäli samassa liittimessä on useampi liitos yhtäaikaa viallinen.In the previous example, the values of resistors Ra, Rb, Rc, and Rd were selected using 20 binary coding, i.e., Ra = 2 ° = 1, Rb = 21 = 2, Rc = 22 = 4, and Rd = 23 = 8. When the values of resistors are selected using binary coding, in one single measurement, all faulty joints are directly detected, since only one resistor combination can match the value of resistance, «the extent to which the coupling resistance deviates from the coupling resistance target value. The values of the resistors can of course also be chosen differently, but in this case it may not be possible to determine at a single measurement which connections are defective if several connections at the same time are defective.

Piirustus ja siihen liittyvä selitys on tarkoitettu vain havainnollista- % 30 maan keksinnön ajatusta. Yksityiskohdiltaan keksintö voi vaihdella patenttivaatimusten puitteissa. Niinpä resistanssin tähtipisteen 6 ja toisiopuolen liittimen 3 välillä voidaan määrittää monellakin eri tavalla. Voidaan siis käyttää kuviossa 2 esitettyä suoraan resistanssin mittaavaa yleismittaria. Edelleen voidaan yllä kuvattuun kytkentään tuoda tunnettu tasavirta ja mitata kytkennän yli syntyvä 5 111104 jännite-ero. Tällöin kytkennän resistanssin ollessa rinnankytkettyjen vastusten muodostaman rinnankytkennän resistanssi syntyy Ohmin lain U=RI (2) ’ 5 missä U on jännite, R on resistanssi ja I on virta, 10 mukaisesti etukäteen määriteltävissä oleva jännite kytkennän yli. Mikäli jännite on tästä poikkeava, johtuu se kokonaisresistanssin arvon poikkeamasta ja voidaan tehdä johtopäätös, että liittymästä mitattava kytkentä on viallinen.The drawing and the description related thereto are for illustrative purposes only. The details of the invention may vary within the scope of the claims. Thus, the resistance of the neutral point of the secondary side of the connector 6 and between 3 can be determined in many different ways. Thus, a multimeter directly measuring resistance can be used as shown in Fig. 2. Further, a known direct current can be introduced into the circuit described above and the voltage difference across the circuit can be measured. Then, with the resistance of the circuit being the resistance of the parallel circuit formed by the parallel resistors, the Ohm's law U = RI (2) '5 where U is the voltage, R is the resistance and I is the current, 10 is a predetermined voltage across the circuit. If the voltage is different, this is due to the deviation of the total resistance value and it can be concluded that the connection measured at the interface is defective.

Claims (8)

1. Förfarande för att bestämma ett anslutningsdons skick och kopp-lingars helhet, väri anslutningsdonet (1) uppvisar kontaktpiggar (2a-2n) och an-5 slutningsdonets (1) ena sida är kopplad tili en punkt, tili vilken sekundärsidans anslutningsdon (3) är kopplat, i vilket förfarande anslutningsdonets skick och kopplingarnas helhet bestäms pä basis av en resistansmätning, känne-t e c k n a t av att i flera av anslutningsdonets (1) kontaktpiggar (2a-2n) inpas-sas motstand (Ra-Rn) och motständens (Ra-Rn) ena ändar kopplas tili en 10 stjärnpunkt (6), varvid motstanden (Ra-Rn) är kopplade att bilda en parallell-koppling, resistansen mellan stjärnpunkten (6) i fräga och sekundärsidans an slutningsdon (3) beräknas, resistansen enligt den verkliga situationen bestäms och den bestämda resistansen jämförs med den beräknade resistansen för att bestämma anslutningsdonets (1) skick och kopplingarnas helhet. 151. A method for determining the condition of the connector and the whole of the connectors, wherein the connector (1) has contact pins (2a-2n) and one side of the connector (1) is connected to a point to which the secondary side connector (3) is coupled, in which method the condition of the connector and the whole of the couplings is determined on the basis of a resistance measurement, characterized in that resistance (Ra-Rn) and resistance (Ra) of several of the connector (1) of the connector (1) are fitted. One end is connected to a star point (6), the resistor (Ra-Rn) being coupled to form a parallel connection, the resistance between the star point (6) in question and the secondary side connector (3) is calculated, the resistance according to the the actual situation is determined and the determined resistance is compared with the calculated resistance to determine the condition of the connector (1) and the whole of the connections. 15 2. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att mot- ständet (Ra-Rn) inpassas i varje kontaktpigg (2a-2n) hos anslutningsdonet (1).Method according to claim 1, characterized in that the resistor (Ra-Rn) is fitted into each contact pin (2a-2n) of the connector (1). 3. Förfarande enligt patentkrav 1 eller 2, kännetecknat av att i varje kontaktpigg (2a-2n) inpassas ett motstand (Ra-Rn) med lika stor resis-tans. 20Method according to claim 1 or 2, characterized in that in each contact spike (2a-2n) a resistor (Ra-Rn) with equal resistance is fitted. 20 4. Förfarande enligt patentkrav 1 eller 2, kännetecknat av att i de olika kontaktpiggarna (2a-2n) inpassas ett olika stort motstand (Ra-Rn), beräknas resistansen mellan stjärnpunkten (6) och sekundärsidans anslutningsdon (3) i en normalsituation och i eventuella felsituationer, och utgäende fran ·:· det bestämda resistansvärdet beslutas i en eventuell felsituation i vilken kon- 25 taktpiggs (2a-2n) koppling felet finns.Method according to Claim 1 or 2, characterized in that in the different contact pins (2a-2n) a different large resistance (Ra-Rn) is fitted, the resistance between the star point (6) and the secondary side connector (3) in a normal situation is calculated. any failure situations, and starting from ·: · the determined resistance value is determined in any failure situation in which the contact pin (2a-2n) coupling error exists. 5. Arrangemang för att bestämma anslutningsdonets skick och helhet, i vilket arrangemang anslutningsdonet (1) uppvisar flera kontaktpiggar (2a-2n) och anslutningsdonets (1) ena sida är kopplat tili en punkt, tili vilken sekundärsidans anslutningsdon (3) är kopplat, kännetecknat av att i flera 30 kontaktpiggar (2a-2n) inpassas motstand (Ra-Rn), sä att vart och ett mot-ständs (Ra-Rn) första ända är kopplad tili kontaktpiggen (2a-2n) och motstan-dens andra ändar är sinsemellan kopplade tili en stjärnpunkt (6) och vilket arrangemang uppvisar en mätanordning (4) för att bestämma resistansen mellan stjärnpunkten (6) och sekundärsidans anslutningsdon (5).5. Arrangements for determining the condition and overall of the connector, in which the arrangement of the connector (1) has several contact pins (2a-2n) and one side of the connector (1) is connected to a point to which the secondary side connector (3) is connected, characterized by accommodating resistance (Ra-Rn) in several contact spikes (2a-2n), so that each first end (Ra-Rn) is connected to the contact spigot (2a-2n) and the other ends of the resistor are interconnected to a star point (6) and which arrangement has a measuring device (4) for determining the resistance between the star point (6) and the secondary side connector (5). 6. Arrangemang enligt patentkrav 5, kännetecknat av att tili varje kontaktpigg (2a-2n) är ett motstand (Ra-Rn) kopplat. 111104Arrangement according to claim 5, characterized in that a resistor (Ra-Rn) is coupled to each contact pin (2a-2n). 111104 7. Arrangemang enligt patentkrav 5 eller 6, kännetecknat av att motständen (Ra-Rn) har lika stor resistans.Arrangement according to claim 5 or 6, characterized in that the resistor (Ra-Rn) has equal resistance. 8. Arrangemang enligt patentkrav 5 eller 6, kännetecknat av att motständen (Ra-Rn) har olika stor resistans. i •« * 9. i «Arrangement according to claim 5 or 6, characterized in that the resistor (Ra-Rn) has different large resistance. i • «* 9. i«
FI20011448A 2001-07-03 2001-07-03 Method and arrangement for determining the condition of the connector and the integrity of the connections FI111104B (en)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20011448A FI111104B (en) 2001-07-03 2001-07-03 Method and arrangement for determining the condition of the connector and the integrity of the connections
PCT/FI2002/000597 WO2003005048A1 (en) 2001-07-03 2002-07-02 Establishing condition of connector and malfunction of couplings

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20011448 2001-07-03
FI20011448A FI111104B (en) 2001-07-03 2001-07-03 Method and arrangement for determining the condition of the connector and the integrity of the connections

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20011448A0 FI20011448A0 (en) 2001-07-03
FI20011448A FI20011448A (en) 2003-01-04
FI111104B true FI111104B (en) 2003-05-30

Family

ID=8561574

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20011448A FI111104B (en) 2001-07-03 2001-07-03 Method and arrangement for determining the condition of the connector and the integrity of the connections

Country Status (2)

Country Link
FI (1) FI111104B (en)
WO (1) WO2003005048A1 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102007020882B4 (en) 2007-05-04 2014-02-13 Knorr-Bremse Systeme für Nutzfahrzeuge GmbH Device for checking the attachment of a printed circuit board to a carrier

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3919960C2 (en) * 1989-06-19 1998-06-10 Siemens Ag Circuit arrangement for line monitoring in a binary signal transmitter
FR2709017B1 (en) * 1993-08-12 1995-09-22 Snecma Circuit for detecting the position of several bipolar contactors and application to a thrust reverser of a turbojet engine.
JP3228631B2 (en) * 1993-12-24 2001-11-12 東京エレクトロン株式会社 Tester
US5712571A (en) * 1995-11-03 1998-01-27 Analog Devices, Inc. Apparatus and method for detecting defects arising as a result of integrated circuit processing
DE19640120A1 (en) * 1996-09-28 1998-04-02 Pks Systemtechnik Circuit for checking switching matrix

Also Published As

Publication number Publication date
FI20011448A (en) 2003-01-04
WO2003005048A1 (en) 2003-01-16
FI20011448A0 (en) 2001-07-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0450808B1 (en) Fault detection and isolation in automotive wiring harness
US8933702B2 (en) Battery monitor with correction for internal OHMIC measurements of battery cells in parallel connected battery strings
US3818329A (en) Cable testing circuit employing a pair of diodes to detect specific conductor pair conditions
EP3384586B1 (en) Improvements in or relating to converters
US10084214B2 (en) Automatic switchover from cell voltage to interconnect voltage monitoring
FI111104B (en) Method and arrangement for determining the condition of the connector and the integrity of the connections
CN109994697B (en) Contact unit and method for electrically contacting at least one electronic section of an electronic module
JP2630846B2 (en) Testing of electrical circuits
EP2811305A1 (en) Bus-bar electricity measuring arrangement
US6995568B2 (en) Method for fault tracing in electronic measurement and test arrangements for electrochemical elements
CN101074974B (en) Grounded inspection circuit
US7742267B2 (en) Circuit arrangement and method for detecting the state of a circuit protection element
US20110279124A1 (en) Float current monitor
CN108828391B (en) Binding detection device of display device
CN219512375U (en) Partial pressure acquisition circuit and battery pack detection equipment
CN113051853B (en) Damaged component carrier determination method, computer program, computer readable medium, and detection system
CN115343529B (en) Electric quantity detection circuit and method and electronic equipment
CN113328297B (en) Cable network and method for judging plug plugging state of cable network
CN217901960U (en) Printed circuit board testing device and printed circuit board system
JP2006145478A (en) Temperature abnormality detection method and system
CN218974449U (en) Signal acquisition circuit and signal acquisition device
JP7111534B2 (en) Wiring confirmation device
KR101002573B1 (en) Apparatus for diagnosis of slot
CN217739306U (en) Reliability detection device of NTC resistance
KR20010061435A (en) Multi line cable checking device

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed