ES2626172T3 - Prueba de un aparato de comunicaciones - Google Patents

Abstract

Una disposición de prueba (4; 9; 17; 21) que tiene: una interfaz de prueba (11; 11a) configurada para proporcionar una pluralidad de primeras señales de prueba (i(1)-i(n)) a un aparato de comunicaciones por satélite (3); donde: la interfaz de prueba incluye una primera guía de ondas (12), una pluralidad de segundas guías de ondas (13; 13a) acopladas a la primera guía de ondas y una pluralidad de primeros puertos (15(1)-15(n)) que corresponden a guías de ondas respectivas de las segundas guías de ondas; la primera guía de ondas está dispuesta para recibir una primera señal de entrada (i(0)) a través de un primer puerto de entrada (P1); la primera guía de ondas y las segundas guías de ondas están configuradas para propagar la primera señal de entrada; y los primeros puertos están dispuestos para producir como salida la primera señal de entrada propagada en guías de ondas respectivas de las segundas guías de ondas como primeras señales de prueba respectivas, siendo cada una de las primeras señales de prueba sustancialmente igual que la primera señal de entrada.

Description

DESCRIPCION

Prueba de un aparato de comunicaciones.

5 La presente invencion se refiere a la prueba de un aparato de comunicaciones configurado para recibir y transmitir senales multiplexadas.

La calidad de funcionamiento de un aparato de comunicaciones puede probarse aplicando una o mas senales de entrada y evaluando las caracterfsticas de la senal de una o mas senales de salida. En particular, un transpondedor 10 para uso en un satelite puede sufrir una prueba prevuelo exhaustiva para comprobar y caracterizar su calidad de funcionamiento, en cuanto a sus caracterfsticas de la senal de salida y/o un patron de radiacion de su disposicion de antena.

Tales transpondedores estan configurados para llevar varios canales de comunicacion. Por ejemplo, un 15 transpondedor de satelite que opere en la banda Ka puede transmitir y recibir senales por mas de cien canales de comunicacion. Esto puede requerir un numero correspondiente de conexiones al transpondedor a traves de una o mas interfaces de prueba, con el resultado de una disposicion de prueba compleja. Esto puede resultar problematico cuando el entorno de prueba es una camara de vacfo, ya que puede haber espacio insuficiente para acomodar las interfaces de prueba y los conectores requeridos para probar cada canal.

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El documento US5.635.944A describe una unica alimentacion de antena integrada que transmite y recibe ondas electromagneticas en las bandas de frecuencia C, X y Ku, e incluye un tubo metalico interior que esta situado a lo largo de un eje central y un tubo metalico exterior que es coaxial con el tubo metalico interior y lo rodea. El documento US2003/064683A1 describe un satelite de haces multiples que incluye una primera antena para recibir 25 una primera pluralidad de haces, una segunda antena para transmitir una segunda pluralidad de haces, y un compartimento para equipo, que puede incluir una unidad de prueba, acoplada entre la primera antena y la segunda antena. El documento DE10106557A1 describe una disposicion de prueba para prueba de alta frecuencia en paralelo de una pluralidad de chips de memoria dinamica de acceso aleatorio (DRAM).

30 Un objeto de la presente invencion es la facilitacion de prueba multicanal mejorada de un aparato de comunicaciones.

De acuerdo con la presente invencion, se proporciona una disposicion de prueba de acuerdo con la reivindicacion 1.

35 En otras palabras, la disposicion de prueba incluye una interfaz de prueba multipuerto.

En tal interfaz de prueba, cada una de la pluralidad de segundas gufas de ondas puede usarse para proporcionar una senal de prueba para un canal correspondiente que ha de ser recibido por el aparato sometido a prueba. Tal interfaz de prueba puede permitir el suministro de senales de entrada que corresponden a cualquiera, algunos o 40 todos los canales simultaneamente.

El uso de tal interfaz de prueba multipuerto permite la provision de un gran numero de senales de canal sin requerir conexiones respectivas separadas a un aparato sometido a prueba. Esto puede resultar particularmente util cuando la prueba se realiza en un espacio constrenido, por ejemplo, cuando se prueba equipo para una aplicacion con base 45 en el espacio en una camara de vacfo, cuando solo puede haber espacio limitado disponible para acomodar conectores y/o cuando el acceso repetido al aparato sometido a prueba para cambiar las conexiones pudiera requerir mucho tiempo o, si no, resultar poco practico.

La primera gufa de ondas y las segundas gufas de ondas pueden estar configuradas para propagar la primera senal 50 de entrada, y los primeros puertos pueden estar dispuestos para producir como salida la primera senal de entrada propagada en gufas de ondas respectivas de las segundas gufas de ondas como primeras senales de prueba respectivas.

La primera y segunda gufas de ondas pueden estar dispuestas en forma de una gufa de ondas alargada y multiples 55 porciones de gufa transversal respectivamente.

La interfaz de prueba puede incluir un primer puerto de salida configurado para producir como salida las primeras senales de entrada propagadas en la primera gufa de ondas.

La primera gufa de ondas puede estar dispuesta para recibir una segunda senal de entrada a traves de un segundo puerto de entrada, teniendo la segunda senal de entrada una frecuencia diferente de la primera senal de entrada, la primera y segunda gufas de ondas pueden estar configuradas para propagar la segunda senal de entrada, la interfaz de prueba puede incluir segundos puertos que corresponden a gufas de ondas respectivas de las segundas gufas 5 de ondas, y los segundos puertos pueden estar dispuestos para producir como salida la segunda senal de entrada propagada en gufas de ondas respectivas de las segundas gufas de ondas como segundas senales de prueba respectivas para suministro a un segundo aparato.

Las senales de prueba y las segundas senales de prueba pueden ser separadas usando filtros. Tal configuracion 10 puede permitir que se pruebe en paralelo mas de un aparato, o parte de un aparato, usando la pluralidad de senales de prueba y la pluralidad de segundas senales de prueba respectivamente. Por ejemplo, si se prueba un aparato de comunicaciones por satelite, la configuracion puede usarse para generar senales de prueba para una disposicion de antena y un repetidor simultaneamente.

15 La interfaz de prueba puede incluir segundos puertos que corresponden a gufas de ondas respectivas de las segundas gufas de ondas, los segundos puertos pueden estar dispuestos para recibir una pluralidad de segundas senales de entrada, donde las frecuencias de las segundas senales de entrada son diferentes de la frecuencia de la primera senal de entrada, las segundas gufas de ondas pueden estar configuradas para propagar senales respectivas de las segundas senales de entrada, y los primeros puertos pueden estar dispuestos para producir como 20 salida senales respectivas de las segundas senales de entrada.

La interfaz de prueba puede estar dispuesta para producir como salida dichas primeras senales de prueba y dichas segundas senales de prueba simultaneamente.

25 La interfaz de prueba puede incluir un primer puerto de salida configurado para producir como salida al menos una de la primera senal de entrada propagada en la primera gufa de ondas y la segunda senal de entrada propagada en la primera gufa de ondas.

El aparato puede incluir una disposicion de antena dispuesta para producir una salida basada en la pluralidad de 30 primeras senales de prueba, y la disposicion de prueba puede comprender un detector configurado para detectar variaciones espaciales en un patron de radiacion de la disposicion de antena del aparato.

La interfaz de prueba puede incluir segundos puertos que corresponden a gufas de ondas respectivas de las segundas gufa de ondas, los segundos puertos pueden estar dispuestos para recibir una pluralidad de segundas 35 senales de entrada para propagacion en gufas de ondas respectivas de las segundas gufas de ondas y en la primera gufa de ondas, y los primeros puertos pueden estar dispuestos para producir como salida senales respectivas de las segundas senales de entrada propagadas en gufas de ondas respectivas de las segundas gufas de ondas.

La primera interfaz puede incluir un primer puerto de salida, dispuesto para producir como salida al menos una de la 40 primera senal de entrada propagada en la primera gufa de ondas y una senal multiplexada que combina las segundas senales de entrada propagadas en la primera gufa de ondas.

La interfaz de prueba puede incluir un puerto de monitorizacion. La senal propagada por la primera gufa de ondas puede ser muestreada para proporcionar una senal de retorno a traves del puerto de monitorizacion. La senal de 45 retorno puede usarse para monitorizar la senal de entrada suministrada al aparato de comunicaciones. Por ejemplo, la senal de retorno puede compararse con una senal de salida del aparato de comunicaciones para determinar las caracterfsticas de calidad de funcionamiento del aparato de comunicaciones. El puerto de monitorizacion puede ser una interfaz de gufa de ondas, tal como un extremo de la primera gufa de ondas o una de las segundas gufas de ondas, o una interfaz coaxial proporcionada por una transicion coaxial a gufa de ondas en la primera gufa de ondas 50 o una de las segunda gufas de ondas.

Ademas, o alternativamente, cuando el aparato de comunicaciones incluye una disposicion de una o mas antenas, la disposicion de prueba puede incluir un detector para determinar variaciones espaciales en una salida de la disposicion de antena. Como la interfaz de prueba permite la entrada de multiples senales de canal en paralelo y, 55 por lo tanto, permite que las condiciones de prueba se asemejen a las condiciones de funcionamiento en mayor grado que las instalaciones de prueba previas. Ademas, el patron de radiacion puede corresponder mas estrechamente al patron de radiacion producido por el aparato de comunicaciones cuando esta en funcionamiento normal. En particular, esto puede permitir la evaluacion de la interferencia cocanal potencial entre areas de cobertura para canales que utilizan la misma banda de frecuencias o bandas de frecuencia superpuestas.

El uso de tal interfaz de prueba multipuerto de esta manera evita la necesidad de que se efectuen conexiones separadas entre el aparato y una disposicion de monitorizacion. Esto puede resultar particularmente util cuando la prueba se realiza en un espacio constrenido y/o cuando el acceso repetido al aparato sometido a prueba para 5 cambiar las conexiones pudiera requerir mucho tiempo o, si no, resultar poco practico.

La interfaz de prueba puede incluir una pluralidad de segundas salidas que corresponden a gufas de ondas respectivas de las segundas gufas de ondas, dispuestas para producir como salida una pluralidad de senales de prueba basadas en senales respectivas de la pluralidad de senales recibidas desde el aparato. Esto permite que las 10 senales de salida procedentes del aparato se usen para probar otro equipo. Por ejemplo, la salida de un repetidor puede ser monitorizada, a traves de la senal procedente de la primera gufa de ondas, mientras que una pluralidad de senales de prueba basadas en la salida del repetidor son suministradas a una disposicion de antena.

La interfaz de prueba puede incluir un puerto de entrada de la primera gufa de ondas, dispuesto para recibid una 15 senal de entrada, estando configuradas las segundas salidas para producir como salida la senal de entrada como una pluralidad de senales de prueba, donde la senal de entrada tiene una frecuencia que es diferente de la frecuencia de las senales recibidas desde el aparato y la primera senal de entrada tiene frecuencia diferente. Tal disposicion permite la generacion de dos conjuntos de senales de prueba que tienen frecuencias diferentes, uno basado en la senal de entrada y uno basado en las senales procedentes del aparato.

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El aparato puede incluir una disposicion de antena dispuesta para producir una salida basada en la pluralidad de segundas senales de prueba, y la disposicion de prueba puede comprender un detector configurado para detectar variaciones espaciales en un patron de radiacion de la disposicion de antena del aparato.

25 La disposicion de prueba puede incluir una segunda interfaz de prueba que tiene una tercera gufa de ondas dispuesta para propagar la primera senal de entrada, una pluralidad de cuartas gufas de ondas acopladas a la tercera gufa de ondas y una segunda pluralidad de primeros puertos que corresponden a gufas de ondas respectivas de las cuartas gufas de ondas, donde la tercera gufa de ondas puede estar dispuesta para recibir la primera senal de entrada procedente de la primera gufa de ondas, la tercera gufa de ondas y las cuartas gufas de ondas pueden estar 30 configuradas para propagar la primera senal de entrada, y la segunda pluralidad de primeros puertos pueden estar dispuestos para producir como salida la primera senal de entrada propagada en gufas de ondas respectivas de las cuartas gufas de ondas como primeras senales de prueba respectivas. Por ejemplo, las interfaces de prueba pueden ser prefabricadas para que tengan un numero estandar de segundas gufas de ondas y configuradas para ser conectables entre sf para uso en una disposicion de prueba donde se requiere un numero de segundas gufas de 35 ondas que es mayor que el numero estandar. En tal disposicion, la primera y tercera gufas de ondas pueden ser conectadas usando una interfaz coaxial, por ejemplo, usando un cable coaxial, o por una interfaz de gufa de ondas directa.

La disposicion de prueba puede incluir una segunda interfaz de prueba configurada para recibir una pluralidad de 40 senales de entrada adicionales procedentes del aparato, incluyendo la segunda interfaz de prueba una tercera gufa de ondas y una pluralidad de cuartas gufas de ondas acopladas a la primera gufa de ondas y una pluralidad adicional de primeros puertos que corresponden a gufas de ondas respectivas de las cuartas gufas de ondas; y estando dispuestas las cuartas gufas de ondas para propagar senales respectivas de la pluralidad de senales, donde la primera gufa de ondas puede estar dispuesta para producir como salida una senal multiplexada que incluye la 45 pluralidad de senales de entrada adicionales, y/o la pluralidad adicional de primeros puertos pueden estar configurados para producir como salida las senales de entrada adicionales propagadas en gufas de ondas respectivas de las cuartas gufas de ondas.

De acuerdo con la presente invencion, tambien se proporciona un procedimiento que comprende proporcionar una 50 interfaz de prueba configurada para proporcionar una pluralidad de senales de prueba a un aparato de comunicacion por satelite de acuerdo con la reivindicacion 11.

El aparato puede ser un repetidor y puede comprender una disposicion de antena dispuesta para producir una salida basada en las senales de prueba, y el procedimiento puede comprender detectar variaciones espaciales en un 55 patron de radiacion de la disposicion de antena.

A continuacion se describiran realizaciones de la presente invencion, a tftulo de ejemplo, con referencia a los dibujos adjuntos, en los cuales:

la figura 1 representa una disposicion de prueba de acuerdo con una primera realizacion de la invencion; las figuras 2 y 3 representan una interfaz de prueba que puede utilizarse en la disposicion de prueba de la figura 1; las figuras 4 y 5 representan puertos de ejemplo para introducir y producir como salida senales procedentes de una interfaz de prueba en la disposicion de prueba de la figura 1;

5 la figura 6 representa una interfaz de prueba alternativa que puede utilizarse en la disposicion de prueba de la figura 1;

la figura 7 representa otra interfaz de prueba alternativa que puede utilizarse en la disposicion de prueba de la figura 1;

la figura 8 representa el flujo de senales a traves de una interfaz de prueba de la disposicion de la figura 1 cuando se 10 usa para dividir una senal de entrada en una pluralidad de senales de prueba;

la figura 9 representa el flujo de senales a traves de una interfaz de prueba de la disposicion de prueba de la figura 1 cuando se usa para generar una senal de salida combinada a partir de una pluralidad de senales recibidas; la figura 10 representa la reutilizacion de canales a traves de areas de cobertura de una disposicion de antena en un aparato de comunicaciones que ha de ser probado;

15 la figura 11 representa el flujo de senales a traves de una interfaz de prueba de la disposicion de prueba de la figura 1 cuando se usa para generar dos conjuntos de senales de prueba;

la figura 12 representa el flujo de senales a traves de una interfaz de prueba de la disposicion de prueba de la figura 1 cuando se usa en una tecnica alternativa para generar dos conjuntos de senales de prueba; la figura 13 representa una parte de la disposicion de prueba de la figura 1 cuando se usa en un primer modo de 20 prueba;

la figura 14 representa una parte de la disposicion de prueba de la figura 1 cuando se usa en un segundo modo de prueba;

la figura 15 representa una parte de la disposicion de prueba de la figura 1 cuando se usa en un tercer modo de prueba;

25 la figura 16 representa una realizacion de una interfaz de prueba de un solo lado; y

la figura 17 representa una realizacion de una interfaz de prueba que tiene una primera gufa de ondas plegada.

La figura 1 representa una disposicion de prueba (1) de acuerdo con una primera realizacion de la invencion. La disposicion de prueba (1) incluye un generador de senal (2), dispuesto para proporcionar una senal de entrada (i(0)), 30 senal que ha de aplicarse a un aparato de comunicaciones (3). La senal de entrada (i(0)) se proporciona a una unidad de interfaz de prueba multipuerto (MTIU) (4), que esta configurada para proporcionar multiples salidas para la senal de entrada (i(0)) para suministrar una pluralidad de senales de prueba (i(1 )-i(n)) al aparato de comunicaciones (3). En la presente realizacion, las senales de prueba (i(1)-i(n)) producidas por la MTIU (4) son introducidas en una disposicion de filtrado (5), configurada para filtrar las senales de prueba (i(1)-i(n)) de modo que las senales de 35 prueba (i(1)-i(n)) son divididas entre dos o mas bandas de frecuencia diferentes y/o para evitar reflexiones. La disposicion tambien incluye uno o mas detectores (6), (7) dispuestos para detectar las propiedades de una salida del aparato de comunicaciones (3) y un controlador (8) dispuesto para controlar el generador de senal (2) y los detectores (6), (7). En este ejemplo particular, el controlador (8) es un ordenador que comprende uno o mas procesadores o microprocesadores, no mostrados.

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La disposicion de prueba de ejemplo mostrada en la figura 1 tambien incluye una segunda disposicion de filtrado (10), y una segunda MTIU (9) dispuesta para recibir multiples senales de salida (o(1)) a (o(n)) procedentes del aparato de comunicaciones (3) a traves de la segunda disposicion de filtrado (10). Una senal de salida (o(0)) procedente de la segunda MTIU (9) tambien puede ser dirigida a uno de los detectores (6).

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La figura 2 representa una MTIU (4), mientras que la figura 3 representa la misma MTIU (4) mostrando parte de su estructura interior. La MTIU (4) incluye una interfaz de prueba (11) que tiene una primera gufa de ondas (12) y una pluralidad de segundas gufas de ondas (13). En este ejemplo particular, la interfaz de prueba (11) esta formada a partir de un bloque mecanizado de metal y la primera y la segunda gufas de ondas (12), (13) son gufas de ondas 50 rectangulares alargadas huecas. Cada segunda gufa de ondas (13) esta acoplada a la primera gufa de ondas (12), de manera similar a la usada en un acoplador de gufa transversal, para permitir la comunicacion entre la primera y la segunda gufas de ondas (12), (13). Pueden estar provistas bridas (14) para permitir que la interfaz de prueba (11) sea fijada en una posicion dentro de la disposicion de prueba (1).

55 En el presente ejemplo, la interfaz de prueba incluye un total de 14 segundas gufas de ondas (13(1 )-13(n)), de las cuales dos estan ocultas de la vista en la figura 2. En otras realizaciones, sin embargo, pueden proporcionarse otros numeros de segundas gufas de ondas. La MTIU (4) comprende ademas primeras y segundas bridas de extremo (19), (20). Las bridas de extremo (19), (20) permiten que una MTIU (4) sea acoplada a una o otras MTIU mas si se requieren mas puertos de salida que los que estan presentes en una sola MTIU.

Una senal de entrada (i(0)) puede, por lo tanto, suministrarse a un puerto de entrada (P1) de la interfaz de prueba (11), y dividida para proporcionar una pluralidad de senales de prueba (i(1)) a (i(n)) en las salidas (15(1)) a (15(n)) que corresponden a las segundas gufas de ondas (13). Las segundas gufas de ondas (13) estan dispuestas de 5 modo que las senales de prueba (i(1)) a (i(n)) producidas como salida desde las segundas gufas de ondas (13) son cada una sustancialmente iguales que la senal de entrada (i(0)). Es decir, en la presente realizacion, cada segunda gufa de ondas esta dispuesta para tener un factor de acoplamiento a la primera gufa de ondas que es sustancialmente constante a lo largo de todas las frecuencias de la senal de entrada (i(0)), de modo que todas las frecuencias de la senal de entrada (i(0)) estan acopladas a todos los puertos de salida (15(1)) a (15(n)). Si es 10 necesario, puede estar provisto un puerto de salida adicional (P2), como salida adicional para una senal de retorno (i(ret)) que puede usarse con fines de monitorizacion.

La senal de entrada (i(0)) puede suministrarse al puerto de entrada (P1) a traves de una transicion coaxial a gufa de ondas. Las figuras 4 y 5 representan ejemplos de puertos de entrada (P1) configurados para recibir un conector 15 coaxial. El puerto de entrada (P1) puede estar provisto en una cara de extremo de la primera gufa de ondas (12) como una transicion de lanzamiento de extremo, tal como se representa en la figura 4, o en una cara lateral de la interfaz de prueba (P1) como una transicion de pared lateral, tal como se muestra en las figuras 2, 3 y 5. El puerto de salida (P2) y/o las salidas (15(1)) a (15(n)) mostrados en las figuras 2 y 3 pueden estar configurados de manera similar para recibir conectores coaxiales.

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Como alternativa a los conectores coaxiales, la senal de entrada (i(0)) puede suministrarse al puerto de entrada (P1) y/o una senal de monitorizacion (i(ret)) producida como salida desde el puerto de salida (P2) usando una interfaz de gufa de ondas directa. Por ejemplo, en la realizacion mostrada en las figuras 2 y 3, una interfaz de gufa de ondas directa (10) esta provista en un extremo de la primera gufa de ondas (12). Esta interfaz (10) puede usarse para 25 enviar la senal de entrada (i(0)) a otra MTIU acoplada a la primera MTIU (4). Si la primera MTIU (4) de las figuras 2 y 3 ha de usarse por sf sola, es decir, si la primera MTIU (4) tiene un numero suficiente de puertos de salida (13(1)- 13(N)) para satisfacer los requisitos de la prueba, puede terminarse la interfaz de gufa de ondas directa (10) en el extremo de la primera gufa de ondas (12), o puede omitirse completamente.

30 Dependiendo de los requisitos de la prueba, la segunda MTIU (9) puede tener una estructura que sea igual o, alternativamente, diferente de la de la primera MTIU (4) mostrada en las figuras 2 y 3.

Un ejemplo de dimensiones adecuadas para una interfaz de prueba (11) es una longitud l de aproximadamente 350 mm y una anchura w de aproximadamente 30 mm. Sin embargo, pueden estar provistas interfaces de prueba de 35 otras dimensiones, dependiendo de los requisitos de la prueba, el equipo sometido a prueba y las condiciones bajo las cuales ha de llevarse a cabo la prueba. Por ejemplo, la longitud de la interfaz de prueba (11) puede depender del numero de salidas (15(1)) a (15(n)) necesarias para proporcionar el numero requerido de senales de prueba (i(1)) a (i(n)).

40 Aunque la MTIU (4) en este ejemplo particular tiene catorce salidas (15(1)) a (15(n)), las MTIU en otras realizaciones de la invencion pueden tener un numero diferente de salidas (15(1)) a (15(n)), de dos en adelante, dependiendo de las caracterfsticas del aparato (3) que ha de probarse. Por ejemplo, cuando el aparato de comunicacion (3) sometido a prueba es un repetidor, la MTIU (4) puede tener un numero de segundas gufas de ondas (13) que sea mayor que, o igual al numero de canales que se pretende que el repetidor reciba y transmita. Para probar un transpondedor de 45 banda Ka en tal aparato, ese numero de canales puede ser mayor que, o igual a cien y por eso puede estar provista una MTIU (4) con cien o mas salidas (15(1)) a (15(n)).

El numero requerido n de salidas (15(1)) a (15(n)) puede proporcionarse fabricando una sola interfaz de prueba (4) configurada con el numero requerido n de segundas gufas de ondas (13) y salidas (15(1)) a (15(n)). 50 Alternativamente, tal como se muestra en las figuras 6 y 7, dos o mas interfaces de prueba (11a), (11b), (11c) pueden estar conectadas entre sf para proporcionar el numero requerido de salidas (15(1)) a (15(n)).

La figura 6 representa una MTIU alternativa (17) que puede usarse en lugar de una o ambas interfaces de prueba (4), (9) en la disposicion de prueba de la figura 1. En este ejemplo, dos interfaces de prueba (11a), (11b) estan 55 conectadas entre sf de modo que sus primeras gufas de ondas respectivas estan una en comunicacion con otra y una senal de entrada (i(0)) suministrada a la primera gufa de ondas de la primera interfaz de prueba (11a) puede pasar a la primera gufa de ondas de la segunda interfaz de prueba (11b). En el presente ejemplo, las interfaces de prueba (11a), (11b) son unidas entre sf empernando entre sf las bridas de extremo respectivas (19b), (20a) de la primera y la segunda interfaces de prueba (11a), (11b). Alternativamente, las interfaces de prueba (11a), (11b)

pueden ser conectadas entre si usando un cable coaxial, a traves de puertos tales como los mostrados en las figuras 4 y 5.

La figura 7 representa otra MTIU alternativa (21) que puede usarse en lugar de una o ambas MTIU (4), (9) en la 5 disposicion de prueba (1) de la figura 1. En la figura 7, solo se ilustran las primeras gufas de ondas (12a), (12b), (12c) y las segundas gufas de ondas (13a), (13b), (13c) de la interfaz de prueba (11a), (11b), (11c), omitiendose los restantes componentes de cada interfaz de prueba por claridad. En este ejemplo, la MTIU (21) incluye tres interfaces de prueba (11a), (11b), (11c), conectadas entre si en serie por cables coaxiales (22a), (22b), que transporta la senal de entrada (i(0)) de una interfaz de prueba (11a), (11b), (11c) a otra. Esto permite que las interfaces de prueba (11a), 10 (11b), (11c) esten colocadas en una configuracion plegada, de modo que puede proporcionarse un mayor numero de salidas (15(1)) a (15(n)) sin aumentar significativamente la longitud total (1) de la MTIU (21).

En otras realizaciones, pueden usarse configuraciones plegadas que tienen dos o mas interfaces de prueba (11a), (11b), (11c) y un numero apropiado de gufas de ondas de conexion.

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En realizaciones adicionales, puede proporcionarse una configuracion plegada en la cual dos o mas interfaces de prueba (11a), (11b), (11c) estan conectadas por gufas de ondas adicionales.

En caso de disposiciones donde las interfaces de prueba (11a), (11b), (11c) estan conectadas entre sf, como en los 20 ejemplos mostrados en las figuras 6 y 7, las interfaces de prueba (11a), (11b), (11c) pueden ser prefabricadas con un numero estandar de salidas (15(1)) a (15(n)). Si una interfaz de prueba requiere un numero de senales de entrada (i(1)) a (i(n)) que es superior al numero estandar, puede proporcionarse una interfaz de prueba adecuada conectando entre sf dos o mas interfaces de prueba prefabricadas (11a), (11b), (11c).

25 La figura 8 muestra el flujo de senales a traves de las MTIU (4), (9) en la disposicion de prueba (1) de la figura 1. Se proporciona una senal de entrada (i(0)) por un puerto de entrada (P1) de la MTIU (4). La senal de entrada (i(0)) se propaga a traves de la primera y la segunda gufas de ondas. Una pluralidad de senales de prueba (i(1)) a (i(n)) puede ser obtenida entonces de los puertos de salida (15(1)) a (15(n)) de la MTIU (4), filtrada por filtros respectivos en la disposicion de filtrado (5) y suministrada a entradas correspondientes del aparato de comunicaciones (3). En 30 otra realizacion de la invencion, pueden estar provistos filtros en los puertos de salida (15(1)) a (15(n)). Tales filtros pueden usarse tambien, o en lugar de, la disposicion de filtrado separada (5) mostrada en la figura 1.

Una senal de monitorizacion (i(ret)) puede ser obtenida por el puerto de salida (P2) de la primera gufa de ondas, por ejemplo, por comparacion con la senal de entrada (i(0)) para comprobar que la MTIU (4) esta funcionando de la 35 manera esperada.

Haciendo referencia de nuevo a la figura 1, en la realizacion mostrada, estan provistos dos detectores (6), (7). El primer detector (6) esta dispuesto para recibir senales de salida (o(1)) a (o(n)) desde el aparato de comunicaciones (3).

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Por ejemplo, el detector (6) puede estar configurado para comparar las senales de salida (o(1)) a (o(n)) con la senal de monitorizacion (i(ret)) y/o la senal de entrada (i(0)) y determinar una o mas caracterfsticas de calidad de funcionamiento del aparato de comunicaciones (3), tales como la linealidad, el retardo de grupo, la variacion de ganancia con la frecuencia, una relacion entre la potencia de entrada y la potencia de salida, etcetera. 45 Alternativamente, o adicionalmente, el detector (6) puede estar dispuesto para recibir las senales de entrada (i(1)) a (i(n)) y compararlas con las senales de salida (o(1)) a (o(n)).

El aparato de comunicaciones (3) puede ser, o puede incluir, una disposicion de antena (24) que tiene una o mas antenas y, opcionalmente, uno o mas elementos tales como reflectores. La disposicion de antena (24) puede estar 50 configurada para proporcionar multiples haces puntuales, de modo que las senales de canal pueden transmitirse a diferentes areas, o celulas, en un sistema de comunicacion. El segundo detector (7) puede ser un detector de radiacion configurado para determinar un patron de radiacion de tal disposicion de antena (24).

La segunda MTIU (9) en la disposicion de prueba (1) puede estar dispuesta para generar senales de prueba para la 55 disposicion de antena (24), de la manera mostrada en la figura 8. En otras palabras, una senal de entrada, que corresponde a (i(0)) en la figura 8, puede proporcionarse al puerto de entrada (P1) de la MTIU (9) y las senales de salida procedentes de cada puerto de salida (15(1)) a (15(n)) de la segunda MTIU (9), que corresponden a senales de prueba (i(1)) a (i(n)) en la figura 8, usarse como entrada para la disposicion de antena (24).

La figura 9 muestra una MTIU (4), (9) en otra disposicion que tambien es adecuada para generar senales de prueba para la disposicion de antena (24). En la disposicion de la figura 9, el puerto de entrada (P1) esta terminado y una pluralidad de senales de entrada (i(1)) a (i(n)) son suministradas a entradas de las segundas gufas de ondas y producidas como salida por las salidas (15(1)) a (15(n)). Por ejemplo, las senales de entrada (i(1)) a (i(n)) pueden ser 5 las senales de canal enviadas desde una antena al repetidor durante una prueba. Adicionalmente, como las segundas gufas de ondas estan acopladas a la primera gufa de ondas, una senal de monitorizacion (i(ret)) que corresponde a las senales de entrada combinadas (i(1)) a (i(n)) puede ser obtenida por el puerto (P2).

En las MTIU de las figuras 7, 8 y 9, cada segunda gufa de ondas se extiende por ambos lados de la primera gufa de 10 ondas de modo que cada segunda gufa de ondas tiene tanto un puerto de entrada como un puerto de salida. Esto permite que la MTIU sea acoplada, por ejemplo, entre una antena y un repetidor, en tanto que permitiendo que las senales pasen sin cambios desde la antena hasta el repetidor. Por lo tanto, la MTIU puede dejarse en su sitio cuando se despliega el satelite de comunicaciones, ya que no interfiere con el funcionamiento normal del aparato al cual esta conectada. Durante la prueba de la antena y el repetidor antes del lanzamiento, el puerto (P1) puede ser 15 acoplado al generador de senal (2) para inyectar senales de prueba (i(1)) a (i(n)) dentro del repetidor. Alternativamente, o al mismo tiempo, el otro puerto (P2) puede ser acoplado al detector (6) para monitorizar la senal de retorno (i(ret)). Una vez que la prueba esta completa, pueden terminarse ambos puertos (P1) y (P2), y la MTIU puede dejarse en su sitio sin interferir con el funcionamiento normal del satelite.

20 El suministro de senales de prueba (i(1)) a (i(n)) para multiples canales en pseudoparalelo, usando la MTIU (9), permite que se determine el patron de radiacion cuando la disposicion de antena (24) se utiliza para enviar un numero considerable de senales de canal, o incluso todas. Esto puede resultar particularmente util para determinar la interferencia cocanal. La figura 10 representa un ejemplo de un plan de reutilizacion de canal (25) para multiples celulas de un sistema de comunicacion. En la figura 10, los sombreados negro, blanco, diagonal y horizontal indican 25 una banda de frecuencia A, B, C, D en la cual las senales de canal se transmiten en una celula dada. La disposicion de prueba puede estar dispuesta para suministrar senales de prueba (o(1)) a o(n)) para los canales que han de ser transmitidos en una banda de frecuencia particular A. El patron de radiacion detectado por el detector (7) puede usarse entonces para investigar si existe alguna interferencia entre las senales transmitidas a las celulas (26a), (26b), etcetera, usando esa banda de frecuencia particular A.

30

La figura 11 representa una MTIU (9) cuando se usa para generar multiples conjuntos de senales de prueba simultaneamente. En este ejemplo particular, las senales de canal (o(1)) a (o(n)) producidas como salida por el aparato de comunicaciones (3) son suministradas a puertos de entrada de las segundas gufas de ondas. Los puertos pueden ser puertos coaxiales, similares a los mostrados en las figuras 4 y 5. Las senales de canal (o(1)) a 35 (o(n)) son filtradas antes de entrar en la MTIU (9) para evitar reflexiones por una disposicion de filtrado (10), tal como se muestra en la figura 1 o por filtros provistos en la MTIU (9), por ejemplo, en forma de cavidades sintonizadas en los puertos de entrada o las segundas gufas de ondas.

De manera similar a la mostrada en la figura 8, la MTIU (9) produce como salida senales de prueba (o(1)') a (o(n)') 40 que corresponden a senales respectivas de las senales de canal (o(1)) a (o(n)) y una senal multiplexada (o(todas)) basada en las senales de canal (o(1)) a (o(n)), para producir como salida a traves del puerto (P2).

Ademas, una senal de entrada adicional (i(0)) es suministrada al puerto (P1) de la MTIU (9). La senal de entrada adicional (i(0)) tiene una frecuencia diferente de las senales de canal (o(1)) a (o(n)). De manera similar a la mostrada 45 en la figura 8, una pluralidad de segundas senales de prueba (i(1)) a (i(n), basadas en la senal de entrada adicional (i(0)), pueden proporcionarse a traves de los puertos de salida (15(1)) a (15(n)) ademas de las senales de salida (o(1)') a (o(n)'). Igualmente, puede obtenerse una senal de monitorizacion (i(ret)) del puerto (P2) ademas de la senal multiplexada (o(todas)).

50 Por lo tanto, la MTIU (9) puede usarse para generar dos conjuntos de senales de prueba (i(1)) a (i(n)) y (o(1)') a (o(n)'). Como la senal de prueba (i(1)) y la segunda senal de prueba (o(1)') obtenidas de una cualquiera de las segundas gufas de ondas se diferencian en la frecuencia, pueden ser separadas usando filtros, tales como cavidades sintonizadas dentro de la MTIU (9) que corresponden a una salida (15(1)) o una disposicion de filtro externa.

55

En las figuras 9 y 11, se muestra que cada segunda gufa de ondas tiene un puerto de entrada en un extremo y un puerto de salida en el otro extremo. Sin embargo, como la MTIU es un dispositivo recfproco pasivo, cualquier puerto puede usarse como entrada o salida. Por ejemplo, tal como se muestra en la figura 12, una MTIU (4) puede producir como salida simultaneamente dos conjuntos de senales de prueba. Una primera senal de entrada (i(0)) es

suministrada al puerto (P1) de la MTIU (4), y se producen como salida senales de prueba (i(1)) a (i(n)) tal como se describe anteriormente en relacion con la figura 8. Ademas, una segunda senal de entrada (i(0)'), que tiene una frecuencia diferente a la primera senal de entrada (i(0)), es suministrada al puerto (P2) de la MTlU (4) que, de manera similar, produce como salida segundas senales de prueba (i(1)') a (i(n)'). Las primeras y segundas senales 5 de prueba (i(1)) a (i(n)), (i(1)') a (i(n)') tienen diferentes frecuencias y por eso pueden ser separadas usando filtros, tal como se describe anteriormente en relacion con la figura 11. En este ejemplo particular, las segundas gufas de ondas incluyen cavidades sintonizadas de manera diferente en sus extremos, de modo que las primeras senales de prueba (i(1)) a (i(n)) son producidas como salida por los puertos de salida (15(1)) a (15(n)) y las segundas senales de prueba son producidas como salida por los puertos (27(1)) a (27(n)). Ademas, las senales de monitorizacion 10 (i(ret)), (i(ret)') pueden ser obtenidas de los puertos (P2) y (P1) respectivamente.

Las figuras (13) a (15) representan parte de la disposicion de prueba de la figura 1, incluyendo una o mas MTIU (21), (21'), en configuraciones de prueba de ejemplo.

15 La figura 13 muestra una configuracion de ejemplo para un primer modo de prueba, adecuado para probar un repetidor de satelite. Una primera MTIU (21) se usa para proporcionar una pluralidad de senales de prueba (i(1)) a (i(n)), de la manera mostrada en la figura 8. La primera MTIU (21) comprende tres interfaces de prueba, (11a), (11b), (11c) acopladas entre si, por ejemplo tal como se muestra en la figura 6 o 7. Las senales de prueba (i(1)) a (i(n)) se proporcionan como senales de canal de entrada al repetidor (3). Las senales de canal (o(1)) a (o(n)) producidas 20 como salida por el repetidor (3) son combinadas en una senal de salida multiplexada (o(todas)) por una segunda MTIU (21'). Al igual que la primera MTIU (21), la segunda MTIU (21') tambien comprende tres interfaces de prueba (11a'), (11b'), (11c') acopladas entre si, por ejemplo tal como se muestra en la figura 6 o 7.

La figura 14 representa un segundo modo de prueba que usa la primera y la segunda MTIU (21), (21'), el cual es una 25 alternativa al mostrado en la figura 13. En el segundo modo de prueba, se generan senales de salida (o(1)') a (o(n)'), que corresponden a las senales de salida (o(1)) a (o(n)) procedentes del repetidor (3), de la manera mostrada en la figura 9. Las senales de salida (o(1)') a (o(n)') pueden monitorizarse individualmente, para evaluar la calidad de funcionamiento del repetidor (3) para cada canal, y/o usarse como senales de entrada a una disposicion de antena (24), de modo que el repetidor (3) y la disposicion de antena (24) pueden ser probados en una prueba combinada o, 30 si es necesario, simultaneamente.

La figura 15 representa un tercer modo de prueba. En este modo, una o mas senales de prueba (i(1)) a (i(n)), i(1)') a (i(n)') son generadas por la primera y la segunda MTIU (21), (21'), respectivamente, de la manera mostrada en la figura 8. Tales senales pueden usarse para probar disposiciones de antena (24). Por ejemplo, puede usarse un 35 conjunto de senales de prueba (i(1)) a (i(n)) para probar una disposicion de antena receptora, mientras que el otro conjunto de senales de prueba (i(1)') a (i(n)') puede ser introducido en una disposicion de antena transmisora (24). En tal ejemplo, el segundo conjunto de senales de prueba (i(1)') a (i(n)') podrfan ser senales de alta potencia, en relacion con el primer conjunto de senales de prueba (i(1)) a (i(n)), con el fin de simular condiciones de funcionamiento.

40

Aunque las disposiciones mostradas en las figuras 13 a 15 incluyen dos MTIU (21), (21'), otras disposiciones pueden utilizar una MTIU para realizar las funciones de ambas MTIU (21), (21'). Por ejemplo, en las disposiciones de la figura 13 y 14, una MTIU puede usarse para generar las senales de prueba (i(1)) a (i(n)) a partir de la senal de entrada (i(0)) y para generar la senal de salida multiplexada (o(todas)) y, opcionalmente, las senales de salida (o(1)') 45 a (o(n)') a partir de las senales de canal de salida (o(1)) a (o(n)) de la manera descrita anteriormente y mostrada en la figura 11. Igualmente, las MTIU (21) de la figura 14 puede sustituirse por una MTIU dispuesta para generar dos conjuntos de senales de prueba (i(1)) a (i(n)), (i(1)') a (i(n)') a partir de senales de entrada respectivas (i(0)), (i(0)') de la manera representada en la figura 12.

50 Aunque las interfaces de prueba (11), (11a), (11b), (11c) mostradas en las figuras 2 a 9 y 11 a 15 tienen segundas gufas de ondas que se extienden a cada lado de la primera gufa de ondas, en otras realizaciones las segundas gufas de ondas pueden terminarse en un extremo de modo que solo se usa un extremo de la segunda gufa de ondas como puerto de entrada/salida. Un ejemplo de tal interfaz de prueba se muestra en la figura 16, en la cual la interfaz de prueba tiene una pluralidad de puertos de salida (15(1)) a (15(n)) que corresponden a la pluralidad de 55 segundas gufas de ondas. Al igual que la interfaz de prueba de la figura 8, cuando se proporciona una senal de entrada (i(0)) al puerto (P1), se producen como salida senales de prueba (i(1)) a (i(n)) desde los puertos de salida (15(1)) a (15(n)), y puede obtenerse una senal de monitorizacion (i(ret)) en el puerto (P2).

Igualmente, aunque las interfaces de prueba (11), (11a), (11b), (11c) mostradas en las figuras 2 a 9 y 11 a 16 son de

forma lineal, interfaces de prueba que tienen otras configuraciones pueden usarse en disposiciones de prueba de acuerdo con otras realizaciones. La figura 17 ilustra un ejemplo de una interfaz de prueba que tiene una primera gufa de ondas plegada, con un total de catorce segundas gufas de ondas que se extienden desde un lado de la primera gufa de ondas. En otras realizaciones, pueden estar provistos otros numeros de segundas gufas de ondas. Al igual 5 que los ejemplos anteriores, cuando se proporciona una serial de entrada (i(0)) al puerto (P1), se producen como salida senales de prueba (i(1)) a (i(14)) desde los puertos de salida, y puede obtenerse una senal de monitorizacion (i(ret)) en el puerto (P2).

Las realizaciones descritas anteriormente proporcionan disposiciones de prueba que utilizan una o mas unidades de 10 interfaz de prueba multpuerto (4), (9), (17), (21) para simplificar la provision de una pluralidad de senales de prueba (i(1)) a (i(n)) a un aparato de comunicacion (3). Las realizaciones permiten que sean suministradas simultaneamente multiples senales de prueba (i(1)) a (i(n)), lo cual puede proporcionar una simulacion mas exacta de las condiciones de funcionamiento y permitir la evaluacion de efectos de interferencia potenciales.

15 Las condiciones de prueba pueden impedir la provision de un gran volumen de espacio para acomodar conexiones y/o dificultar el cambio de conexiones. Por ejemplo, cuando el aparato de comunicaciones esta pensado para uso en el espacio, la prueba puede requerir condiciones de vacfo cuando el espacio disponible es limitado y el cambio de conexiones y la obtencion repetida de condiciones de vacfo tras los cambios a conexiones puede requerir mucho tiempo. El uso de una interfaz de prueba multipuerto (4), (9), (17), (21) puede simplificar las conexiones entre un 20 generador de senal (2) y un aparato de comunicaciones (3), reduciendo potencialmente el espacio necesario para acomodar las conexiones y reduciendo la necesidad de cambiar las conexiones, en particular con respecto a las disposiciones anteriores en las cuales se han usado conexiones individuales.

Por otra parte, las MTIU (4), (9), (17), (21) pueden usarse para generar multiples conjuntos de senales de prueba, 25 permitiendo que se realizan simultaneamente dos o mas pruebas. De esta manera, puede probarse mas de un aparato, o mas de una seccion de un aparato, sin requerir la reconfiguracion de la disposicion de prueba (1). Esto resulta particularmente ventajoso cuando la prueba se lleva a cabo en un entorno de vacfo, ya que puede, potencialmente, reducir el numero de veces que se rompe y restablece el vacfo. Esto puede permitir que se acelere el procedimiento de prueba.

30

Las interfaces de prueba (4), (9), (17), (21) descritas anteriormente pueden ser adecuadas tanto para pruebas de alta potencia como de baja potencia. Por ejemplo, cuando se prueban funciones de transmision y recepcion de un repetidor, respectivamente.

35 Las disposiciones descritas con referencia a las figuras 1 a 15 proporcionan realizaciones de ejemplo no limitativas de la invencion. En particular, aunque la figura 6 representa una MTIU (17) con dos interfaces de prueba (11), las figuras 8, 9 y 11 representan MTIU (4), (9) con solo una interfaz de prueba (11) y las figuras 7 y 13 a 15 representan MTIU (21) con tres interfaces de prueba (11a), (11b), (11c), la invencion puede materializarse usando una MTIU con cualquier numero de interfaces de prueba.

40

Pueden efectuarse modificaciones de esas disposiciones sin apartarse del alcance de la invencion tal como se define por las siguientes reivindicaciones.

Claims (10)

1. REIVINDICACIONES

   1. Una disposicion de prueba (4; 9; 17; 21) que tiene:

   5 una interfaz de prueba (11; 11a) configurada para proporcionar una pluralidad de primeras senales de prueba (i(1)- i(n)) a un aparato de comunicaciones por satelite (3);

   donde:

   10 la interfaz de prueba incluye una primera gufa de ondas (12), una pluralidad de segundas gufas de ondas (13; 13a) acopladas a la primera gufa de ondas y una pluralidad de primeros puertos (15(1 )-15(n)) que corresponden a gufas de ondas respectivas de las segundas gufas de ondas;

   la primera gufa de ondas esta dispuesta para recibir una primera senal de entrada (i(0)) a traves de un primer puerto de entrada (P1);

   15 la primera gufa de ondas y las segundas gufas de ondas estan configuradas para propagar la primera senal de entrada; y

   los primeros puertos estan dispuestos para producir como salida la primera senal de entrada propagada en gufas de ondas respectivas de las segundas gufas de ondas como primeras senales de prueba respectivas, siendo cada una de las primeras senales de prueba sustancialmente igual que la primera senal de entrada.

   20
2. 2. Una disposicion de prueba de acuerdo con la reivindicacion 1, donde la interfaz de prueba incluye un primer puerto de salida (P2) configurado para producir como salida las primeras senales de entrada propagadas en la primera gufa de ondas.

   25 3. Una disposicion de prueba de acuerdo con la reivindicacion 1, donde:

   la primera gufa de ondas esta dispuesta para recibir una segunda senal de entrada (i(0)') a traves de un segundo puerto de entrada (P2), teniendo la segunda senal de entrada una frecuencia diferente de la primera senal de entrada;

   30 la primera y la segunda gufas de ondas estan configuradas para propagar la segunda senal de entrada;

   la interfaz de prueba incluye segundos puertos (27(1)-27(n)) que corresponden a gufas de ondas respectivas de las segundas gufas de ondas; y

   los segundos puertos estan dispuestos para producir como salida la segunda senal de entrada propagada en gufas de ondas respectivas de las segundas gufas de ondas como segundas senales de prueba respectivas (i(1)'-i(n)') 35 para suministro a un segundo aparato.
3. 4. Una disposicion de prueba de acuerdo con la reivindicacion 1, donde:

   la interfaz de prueba incluye segundos puertos que corresponden a gufas de ondas respectivas de las segundas 40 gufas de ondas;

   los segundos puertos estan dispuestos para recibir una pluralidad de segundas senales de entrada, donde las frecuencias de las segundas senales de entrada son diferentes de la frecuencia de la primera senal de entrada; las segundas gufas de ondas estan configuradas para propagar senales respectivas de las segundas senales de entrada; y

   45 los primeros puertos estan dispuestos para producir como salida senales respectivas de las segundas senales de entrada.
4. 5. Una disposicion de prueba de acuerdo con la reivindicacion 3 o 4, donde la interfaz de prueba esta dispuesta para producir como salida dichas primeras senales de prueba y dichas segundas senales de prueba

   50 simultaneamente, y/o

   donde la interfaz de prueba incluye un primer puerto de salida configurado para producir como salida al menos una de la primera senal de entrada propagada en la primera gufa de ondas y de la segunda senal de entrada propagada en la primera gufa de ondas.

   55
5. 6. Una disposicion de prueba de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones anteriores, donde el aparato de comunicaciones por satelite incluye una disposicion de antena (24) dispuesta para producir una salida basada en la pluralidad de primeras senales de prueba, comprendiendo la disposicion de prueba:

   un detector (7) configurado para detectar variaciones espaciales en un patron de radiacion de la disposicion de antena del aparato de comunicaciones por satelite.
6. 7. Una disposicion de prueba de acuerdo con la reivindicacion 1, donde:

   5

   la interfaz de prueba incluye segundos puertos (27(1)-27(n)) que corresponden a gufas de ondas respectivas de las segundas gufas de ondas;

   los segundos puertos estan dispuestos para recibir una pluralidad de segundas senales de entrada para propagacion en gufas de ondas respectivas de las segundas gufas de ondas y en la primera gufa de ondas; y 10 los primeros puertos estan dispuestos para producir como salida senales respectivas de las segundas senales de entrada propagadas en gufas de ondas respectivas de las segundas gufas de ondas.
7. 8. Una disposicion de prueba de acuerdo con la reivindicacion 7, donde la primera interfaz incluye un primer puerto de salida (P2), dispuesto para producir como salida al menos una de la primera senal de entrada

   15 propagada en la primera gufa de ondas y una senal multiplexada que combina las segundas senales de entrada propagadas en la primera gufa de ondas, y/o

   donde el aparato de comunicaciones por satelite incluye una disposicion de antena (24) dispuesta para producir una salida basada en la pluralidad de segundas senales de prueba, comprendiendo la disposicion de prueba un detector (7) configurado para detectar variaciones espaciales en un patron de radiacion de la disposicion de antena del 20 aparato de comunicaciones por satelite.
8. 9. Una disposicion de prueba de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones anteriores, que incluye una segunda interfaz de prueba (11b) que tiene una tercera gufa de ondas (12b) dispuesta para propagar la primera senal de entrada, una pluralidad de cuartas gufas de ondas (13b) acopladas a la tercera gufa de ondas y una

   25 segunda pluralidad de primeros puertos que corresponden a gufas de ondas respectivas de las cuartas gufas de ondas, donde:

   la tercera gufa de ondas esta dispuesta para recibir la primera senal de entrada procedente de la primera gufa de ondas;

   30 la tercera gufa de ondas y las cuartas gufas de ondas estan configuradas para propagar la primera senal de entrada; y

   la segunda pluralidad de primeros puertos estan dispuestos para producir como salida la primera senal de entrada propagada en gufas de ondas respectivas de las cuartas gufas de ondas como primeras senales de prueba respectivas.

   35
9. 10. Una disposicion de prueba de acuerdo con cualquiera de las reivindicaciones 1 a 6, que incluye:

   una segunda interfaz de prueba configurada para recibir una pluralidad de senales de entrada adicionales desde el aparato de comunicaciones por satelite, incluyendo la segunda interfaz de prueba una tercera gufa de ondas y una 40 pluralidad de cuartas gufas de ondas acopladas a la primera gufa de ondas y una pluralidad adicional de primeros puertos que corresponden a gufas de ondas respectivas de las cuartas gufas de ondas; y estando dispuestas las cuartas gufas de ondas para propagar senales respectivas de la pluralidad de senales, donde:

   la primera gufa de ondas esta dispuesta para producir como salida una senal multiplexada que incluye la 45 pluralidad de senales de entrada adicionales; y/o

   la pluralidad adicional de primeros puertos esta configurada para producir como salida las senales de entrada adicionales propagadas en gufas de ondas respectivas de las cuartas gufas de ondas.
10. 11. Un procedimiento que comprende:

    50

    proporcionar una interfaz de prueba configurada para proporcionar una pluralidad de senales de prueba a un aparato de comunicaciones por satelite, incluyendo la interfaz de prueba una primera gufa de ondas, una pluralidad de segundas gufas de ondas acopladas a la primera gufa de ondas y una pluralidad de primeros puertos que corresponden a gufas de ondas respectivas de las segundas gufas de ondas;

    55

    recibir por la primera gufa de ondas una primera senal de entrada a traves de un primer puerto de entrada; propagar la primera senal de entrada por la primera gufa de ondas y las segundas gufas de ondas; y producir como salida desde los primeros puertos senales respectivas de las senales propagadas en las segundas gufas de ondas como primeras senales de prueba respectivas, siendo cada una de las primeras

    senales de prueba sustancialmente igual que la primera senal de entrada.