ES2369802B1

ES2369802B1 - DIMENSIONAL PATTERN FOR LASER SCANNER AND PHOTOGRAMETRIC SYSTEMS.

Info

Publication number: ES2369802B1
Application number: ES201000591A
Authority: ES
Inventors: Higinio González Jorge; Belén Riveiro Rodríguez; Julia Armesto Gonzalez; Pedro Arias Sanchez
Original assignee: Universidade de Vigo
Current assignee: Universidade de Vigo
Priority date: 2010-05-07
Filing date: 2010-05-07
Publication date: 2012-06-26
Anticipated expiration: 2030-05-07
Also published as: ES2369802A1

Abstract

Patrón dimensional para sistemas laser y fotogramétricos.#Consiste en un objeto que permite verificar la precisión, exactitud y deriva de sistemas de medición basados en laser escáner y fotogramétricos por medio del cálculo de las distancias conocidas entre centros de las esferas (2) ensambladas sobre un bloque (1). Sobre dicho bloque están también mecanizados cubos (4) y cajeras (5) de diferentes tamaños para obtener la resolución vertical y horizontal en la medición de salientes y hendiduras. Además, dispone de cajeras en la parte inferior para aligerar el peso de la estructura y anillas toroidales (3) que favorecen el anclaje de las esferas al bloque.Dimensional pattern for laser and photogrammetric systems. # Consists of an object that allows to verify the precision, accuracy and drift of measurement systems based on laser scanner and photogrammetric by means of the calculation of the known distances between centers of the spheres (2) assembled on a block (1). On this block are also machined cubes (4) and pockets (5) of different sizes to obtain the vertical and horizontal resolution in the measurement of projections and grooves. In addition, it has pockets on the bottom to lighten the weight of the structure and toroidal rings (3) that favor the anchoring of the spheres to the block.

Description

nación de un distanciómetro láser para la medida de nation of a laser distance meter for measuring

Patrón dimensional para sistemas láser escáner y fotogramétricos. Dimensional pattern for laser scanner and photogrammetric systems.

La presente invención se reﬁere al desarrollo de un patrón que sirve para la veriﬁcación dimensional de sistemas tipo láser escáner y fotogramétricos, obteniendo la precisión, exactitud y deriva de los mismos, así como comprobando su resolución horizontal y vertical en la medición de relieves como hendiduras The present invention refers to the development of a pattern that serves for the dimensional verification of scanner and photogrammetric laser systems, obtaining the precision, accuracy and drift thereof, as well as checking their horizontal and vertical resolution in the measurement of reliefs as grooves

o salientes. or outgoing.

Antecedentes de la invención Background of the invention

Los sistemas de medición basados en fotogrametría y láser escáner permiten la obtención de nubes de puntos con coordenadas espaciales de la superﬁcie de objetos para posteriormente obtener modelos tridimensionales de los mismos. Estas aplicaciones resultan de utilidad en sectores como la arquitectura, ingeniería civil, conservación del patrimonio, geodesia, e incluso en industrias como la naval o aeronáutica. Measurement systems based on photogrammetry and laser scanning allow obtaining point clouds with spatial coordinates of the surface of objects to subsequently obtain three-dimensional models of them. These applications are useful in sectors such as architecture, civil engineering, heritage conservation, geodesy, and even in industries such as naval or aeronautical.

Las técnicas de fotogrametría digital se basan en la utilización de cámaras réﬂex o compactas digitales en las cuales se conocen u obtienen previamente los parámetros correspondientes a su orientación interna como por ejemplo las distorsiones radial y tangencial de la lente, coordenadas del punto principal, distancia focal de la lente, tamaño del sensor, etc. Estos parámetros en deﬁnitiva modelan la geometría del sistema óptico de la cámara y establecen una relación entre el sistema de coordenadas de la imagen y el sistema de coordenadas del sensor. Estos parámetros combinados con la orientación externa de la imágenes obtenidas del objeto y empleando la algorítmica adecuada, basada en gran parte en el principio de colinealidad, permiten la obtención de las coordenadas espaciales tridimensionales del objeto. La orientación externa establece una relación entre el sistema de coordenadas del sensor y el correspondiente al mundo real. El modelo obtenido se debe dimensionar empleando por ejemplo dianas de control de coordenadas geométricas conocidas o barras de escala. La fotogrametría está íntimamente unida a tecnologías como la visión artiﬁcial, procesado digital de imagen o la óptica, que contribuyen a su desarrollo y avance. Digital photogrammetry techniques are based on the use of digital compact or reflex cameras in which the parameters corresponding to their internal orientation are known or obtained previously, such as radial and tangential distortions of the lens, coordinates of the main point, focal length of the lens, sensor size, etc. These parameters definitely define the geometry of the camera's optical system and establish a relationship between the image coordinate system and the sensor coordinate system. These parameters combined with the external orientation of the images obtained from the object and using the appropriate algorithmic, based largely on the principle of collinearity, allow obtaining the three-dimensional spatial coordinates of the object. External orientation establishes a relationship between the sensor coordinate system and that corresponding to the real world. The model obtained must be sized using, for example, known geometric coordinate control targets or scale bars. Photogrammetry is closely linked to technologies such as arti ﬁ cial vision, digital image processing or optics, which contribute to its development and advancement.

En la actualidad casi todos los desarrollos relacionados con la metrología en sistemas fotogramétricos se han ocupado de factores como por ejemplo la fabricación de elementos ópticos de alta calidad para disminuir las distorsiones ópticas, incrementar el número de píxeles de los sensores para obtener imágenes con mayor resolución espacial, establecer procedimientos para la correcta calibración interna de las cámaras, desarrollo de algoritmos fotogramétricos para mejorar la orientación externa de las fotografías del objeto y mejorar las coordenadas tridimensionales obtenidas o aplicar procesado digital de imagen para automatizar el proceso de búsqueda de puntos ﬁduciales. A pesar de los grandes desarrollos realizados no existen comercialmente patrones tridimensionales orientados a este tipo de tecnología. Dichos patrones deberían permitir que los usuarios de estos equipos comprueben las especiﬁcaciones metrológicas (precisión, exactitud y resolución) ofrecidas por los fabricantes de cámaras y desarrolladores de software fotogramétrico, y por otra parte, veriﬁcar el sostenimiento de las mismas durante la vida útil de los equipos (deriva). Nowadays almost all the developments related to metrology in photogrammetric systems have dealt with factors such as the manufacture of high quality optical elements to reduce optical distortions, increase the number of pixels of the sensors to obtain higher resolution images spatial, establish procedures for the correct internal calibration of the cameras, development of photogrammetric algorithms to improve the external orientation of the photographs of the object and improve the obtained three-dimensional coordinates or apply digital image processing to automate the process of searching for focal points. Despite the great developments made, there are no commercially three-dimensional patterns oriented to this type of technology. Such patterns should allow users of these devices to check the metrological speci ﬁ cations (accuracy, accuracy and resolution) offered by camera manufacturers and photogrammetric software developers, and on the other hand, verify their maintenance over the life of the devices. equipment (drift).

distancia con dos espejos móviles a partir de los que se obtienen los ángulos cenital y acimutal. Esto hace que la superﬁcie del objeto se sitúe en un sistema de coordenadas de tipo esférico que después se puede fácilmente convertir a cartesiano. A nivel metrológico se ha trabajado mucho en la obtención de distanciómetros más precisos, encoders de alta precisión para obtener mayor calidad en la medición de los ángulos, modelado de los errores típicos del sistema como por ejemplo el error lineal de rango, errores periódicos en la medición de distancia, errores de colimación, errores en la medida de ángulos, etc. distance with two moving mirrors from which the zenith and azimuthal angles are obtained. This causes the surface of the object to be placed in a spherical coordinate system that can then be easily converted to Cartesian. At the metrological level, much work has been done to obtain more precise distance meters, high precision encoders to obtain greater quality in the measurement of the angles, modeling of the typical system errors such as linear range error, periodic errors in the distance measurement, collimation errors, angle measurement errors, etc.

De la misma forma que con los sistemas fotogramétricos, no existen patrones tridimensionales ni procedimientos de veriﬁcación normalizados que permitan a los usuarios comprobar las especiﬁcaciones metrológicas ofrecidas por los fabricantes de este tipo de instrumentación, así como las derivas existentes durante la vida útil de los instrumentos. In the same way as with photogrammetric systems, there are no three-dimensional standards or standardized verification procedures that allow users to check the metrological specifications offered by the manufacturers of this type of instrumentation, as well as the existing drifts during the useful life of the instruments .

En la presente patente se muestra un patrón dimensional versátil que se puede aplicar indistintamente a sistemas fotogramétricos o láser escáner y que permitirá comprobar las especiﬁcaciones metrológicas de los mismos: exactitud, precisión, resolución y deriva. Descripción de la invenciónThis patent shows a versatile dimensional pattern that can be applied interchangeably to photogrammetric or laser scanning systems and which will allow metrological specifications to be checked: accuracy, precision, resolution and drift. Description of the invention

El patrón dimensional aquí desarrollado permite veriﬁcar la exactitud y precisión de los sistemas láser escáner y fotogramétricos en rangos variables a través de la medición de distancias conocidas entre centros de esferas ﬁjas sobre un bloque. Para ello, a partir de las coordenadas geométricas referidas a la superﬁcie de las esferas se extraen los centros de las mismas empleando un ajuste por mínimos cuadrados o similar. Las distancias entre centros dan lugar a distancias geométricas hasta un rango máximo materializado por la longitud entre las coordenadas de los centros de las esferas de los extremos. Evaluando la repetitividad de las medidas se obtendrá la desviación típica de los datos obtenidos que será representativa de la precisión del sistema. Por otra parte, comparando los valores de distancia calculados frente a los previamente certiﬁcados por otro procedimiento metrológicamente superior, como por ejemplo con una máquina de medición por coordenadas, se podrá evaluar la exactitud del sistema. De forma similar, si se guarda un histórico con las medidas observadas y éstas se repiten a lo largo del tiempo, se podrá observar la evolución de la precisión y exactitud del equipo durante su vida útil (deriva). The dimensional pattern developed here allows verifying the accuracy and precision of the laser scanner and photogrammetric systems in varying ranges through the measurement of known distances between centers of fixed spheres on a block. To do this, from the geometric coordinates referred to the surface of the spheres, the centers of the spheres are extracted using an adjustment by least squares or similar. The distances between centers give rise to geometric distances up to a maximum range materialized by the length between the coordinates of the centers of the end spheres. Evaluating the repeatability of the measurements will obtain the standard deviation of the data obtained that will be representative of the accuracy of the system. On the other hand, comparing the distance values calculated against those previously certified by another metrologically superior procedure, such as with a coordinate measuring machine, the accuracy of the system can be evaluated. Similarly, if a history is kept with the observed measures and these are repeated over time, the evolution of the precision and accuracy of the equipment during its useful life (drift) can be observed.

Además, el patrón también permite la determinación de la resolución vertical y horizontal de dichos sistemas en la medición de relieve, tanto en salientes, materializados físicamente por cubos de diferentes dimensiones mecanizados sobre un plano de referencia, como en la medición de hendiduras, materializadas por cajeras mecanizadas respecto a un plano de referencia. La resolución tanto en la medición de salientes como de hendiduras vendrá dada por la distancia geométrica menor que es capaz de detectarse en cada uno de los ejes. En el caso de la resolución vertical esta magnitud se obtendrá a través de la distancia entre dos planos. Uno de los planos proviene en ambos casos, salientes y hendiduras, de un ajuste por mínimos cuadrados de los puntos geométricos situados en la superﬁcie de referencia. El otro plano, dependienIn addition, the pattern also allows the determination of the vertical and horizontal resolution of said systems in the measurement of relief, both in projections, physically materialized by cubes of different dimensions machined on a reference plane, as in the measurement of grooves, materialized by mechanized pockets with respect to a reference plane. The resolution both in the measurement of projections and grooves will be given by the smaller geometric distance that is capable of being detected in each of the axes. In the case of vertical resolution this magnitude will be obtained through the distance between two planes. One of the planes comes in both cases, protrusions and indentations, from an adjustment by least squares of the geometric points located on the reference surface. The other plane, depend

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do del caso, proviene de la superﬁcie superior de los cubos o la inferior de las cajeras. En el caso de la resolución horizontal se puede utilizar un método basado en extraer la distancia horizontal entre el máximo y el mínimo de la función derivada de las coordenadas verticales sobre las coordenadas horizontales. In this case, it comes from the upper surface of the cubes or the lower one of the pockets. In the case of horizontal resolution, a method based on extracting the horizontal distance between the maximum and the minimum of the function derived from the vertical coordinates over the horizontal coordinates can be used.

La distancia entre cubos debe ser suﬁciente para evitar efectos de sombra entre las diversas fotografías que se realicen al veriﬁcar una técnica fotogramétrica. The distance between cubes must be sufficient to avoid shadow effects between the various photographs taken when verifying a photogrammetric technique.

El patrón es portátil y se puede sujetar con un trípode de los empleados típicamente en topografía, que permitirá su desplazamiento para comprobar sus características metrológicas a distancias y ángulos diferentes entre los equipos de medición y el patrón. The pattern is portable and can be held with a tripod typically used in topography, which will allow its displacement to check its metrological characteristics at different distances and angles between the measuring equipment and the pattern.

El patrón dispone también de cajeras inferiores sin objetivo metrológico, pero con la función importante de aligerar peso en el sistema. The pattern also has lower pockets without a metrological objective, but with the important function of lightening weight in the system.

La principal ventaja que presenta esta invención consiste en que permitirá de una forma sencilla que los usuarios de equipos láser escáner y fotogramétricos veriﬁquen las especiﬁcaciones metrológicas de dichos sistemas tanto en el momento de su compra como el mantenimiento de las mismas durante su vida útil. Además, el patrón está pensado para minimizar los escaneados y fotografías necesarias para la veriﬁcación de los sistemas y se puede utilizar de forma portátil. Breve descripción de los dibujosThe main advantage of this invention is that it will allow the users of laser scanner and photogrammetric equipment to verify the metrological speci ﬁ cations of such systems both at the time of purchase and their maintenance during their useful life. In addition, the pattern is designed to minimize the scans and photographs necessary for the verification of the systems and can be used in a portable way. Brief description of the drawings

Para una mejor comprensión de cuanto queda descrito en la presente memoria, se acompañan los siguientes dibujos. For a better understanding of how much is described herein, the following drawings are attached.

La ﬁgura 1 muestra una vista del patrón dimensional en la que se observan las esferas para la medición de exactitud, precisión y deriva en la medida de distancia, los cubos para la determinación de la resolución en la medida de salientes y las cajeras de la parte inferior para la disminución del peso. La ﬁgura 2 muestra una vista en la que destacan, además de las esferas y cajeras anteriormente mencionadas, otras cajeras de ancho progresivo que permiten obtener la resolución en la medición de hendiduras. Figure 1 shows a view of the dimensional pattern in which the spheres are observed for the measurement of accuracy, precision and drift in the distance measurement, the cubes for the determination of the resolution in the measurement of projections and the pockets of the part lower for weight loss. Figure 2 shows a view that highlights, in addition to the aforementioned spheres and pockets, other progressive-width pockets that allow obtaining the resolution in the measurement of slits.

Descripción de una realización preferidaDescription of a preferred embodiment

El patrón dimensional para sistemas láser escáner y fotogramétricos posee un bloque (1) preferentemente de aluminio para minimizar en lo posible el peso del mismo manteniendo rigidez estructural. El material más indicado es el aluminio porque resulta fácilmente mecanizable y, aunque sufre dilataciones superiores a materiales como el acero, éstas serán despreciables frente a las características metrológicas que presentan los sistemas láser escáner y fotogramétricos con resoluciones típicamente por encima del milímetro. En la parte superior de dicho bloque de aluminio The dimensional pattern for laser and photogrammetric laser systems has a block (1) preferably made of aluminum to minimize its weight while maintaining structural rigidity. The most suitable material is aluminum because it is easily machinable and, although it undergoes greater dilatation to materials such as steel, these will be negligible compared to the metrological characteristics presented by the laser and photogrammetric laser systems with resolutions typically above the millimeter. On top of said aluminum block

(1) (one): se ensamblan 5 esferas (2) de nylon, que permitirán veriﬁcar la exactitud, precisión y deriva de los sistemas de medición aquí tratados mediante la obtención de varias distancias (rango inferior -distancia entre primera y segunda esfera y rango superior -distancia entre primera y quinta esfera). El acoplamiento entre las esferas y el bloque de aluminio se realiza a través de anillas toroidales (3) también fabricadas en nylon y un adhesivo tipo epoxi, de forma que se incrementa la superﬁcie de contacto entre ambos y se mejora su estabilidad mecánica. 5 spheres (2) of nylon are assembled, which will allow verifying the accuracy, precision and drift of the measurement systems treated here by obtaining several distances (lower range - distance between first and second sphere and upper range - distance between first and fifth sphere). The coupling between the spheres and the aluminum block is done through toroidal rings (3) also made of nylon and an epoxy type adhesive, so that the contact surface between the two is increased and its mechanical stability is improved.

Los cubos (4) para la medición de la resolución horizontal y vertical en la medida de salientes se mecanizan directamente sobre el bloque de aluminio, de forma que sus dimensiones en los tres ejes disminuyen progresivamente. De la misma forma las cajeras The cubes (4) for measuring the horizontal and vertical resolution in the measurement of protrusions are machined directly on the aluminum block, so that their dimensions in the three axes decrease progressively. In the same way the cashiers

(5) (5): para la medición de la resolución en hendiduras también disminuyen paulatinamente su ancho en uno de los ejes horizontales, mientas que el otro eje horizontal y el eje vertical se mantienen constantes. Esta solución se adopta para disminuir en lo posible el peso del sistema y aprovechar el espacio existente. De la misma forma se mecanizan unas cajeras en la parte inferior (6) para contribuir a la disminución de peso. El hecho de que tanto los cubos (4) para la medición de resolución de salientes como las cajeras (6) para la medición de resolución en hendiduras estén mecanizados sobre el mismo bloque, le conferirá al sistema gran estabilidad mecánica. to measure the resolution in slits, they also gradually decrease their width in one of the horizontal axes, while the other horizontal axis and the vertical axis remain constant. This solution is adopted to reduce as much as possible the weight of the system and take advantage of the existing space. In the same way some pockets are machined in the lower part (6) to contribute to the reduction of weight. The fact that both the cubes (4) for the measurement of protrusion resolution and the pockets (6) for the measurement of groove resolution are machined on the same block, will confer great mechanical stability on the system.

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Claims

1. The dimensional pattern for laser scanning and photogrammetric systems is essentially characterized by a set of spheres (2) assembled linearly on a block (1), which materialize a length for the verification of precision, accuracy and drift.

2. The dimensional pattern for laser scanner and photogrammetric systems, has cubes (4) with different sizes and pockets of different width (5) for veri ﬁ cation of the resolution in both projections and measurements on slits.

3. The dimensional pattern for laser scanner and photogrammetric systems is also characterized by having pockets (6) for the reduction of system weight.

ES 2 369 802 A1

SPANISH OFFICE OF THE PATENTS AND BRAND

Application no .: 201000591

SPAIN

Date of submission of the application: 07.05.2010

Priority Date:

REPORT ON THE STATE OF THE TECHNIQUE

51 Int. Cl.: G01B21 / 04 (2006.01) G01C25 / 00 (2006.01)

RELEVANT DOCUMENTS

Categoría Category: Documentos citados Reivindicaciones afectadas Documents cited Claims Affected

X X: DE 10222575 A1 (VOLKSWAGEN AG) 27.11.2003, resumen; figura. 1,2 DE 10222575 A1 (VOLKSWAGEN AG) 27.11.2003, summary; figure. 1.2

A TO: US 5983512 A (TRAPET) 16.11.1999, columna 1, línea 60. 3 US 5983512 A (TRAPET) 16.11.1999, column 1, line 60. 3

X X: JP 2002039742 A (NAT INST OF ADV IND & TECHNOL et al.) 06.02.2002, párrafo [26]; figuras 4,6; resumen. 1,3 JP 2002039742 A (NAT INST OF ADV IND & TECHNOL et al.) 06.02.2002, paragraph [26]; figures 4.6; summary. 1.3

X X: US 2004036867 A1 (JEDAMZIK et al.) 26.02.2004, párrafos [21-24]; figura. 1 US 2004036867 A1 (JEDAMZIK et al.) 02.22.2004, paragraphs [21-24]; figure. one

X X: JP 2003302202 A (NAT INST OF ADV IND & TECHNOL et al.) 24.10.2003, figuras 3,4,12; resumen. 1 JP 2003302202 A (NAT INST OF ADV IND & TECHNOL et al.) 24.10.2003, figures 3,4,12; summary. one

X X: US 6493957 B1 (TAKATSUJI et al.) 17.12.2002, párrafos [8,10,27,28]; figuras 1,9,10. 1 US 6493957 B1 (TAKATSUJI et al.) 17.12.2002, paragraphs [8,10,27,28]; Figures 1,9,10. one

X X: DE 29722450 U1 (LEITZ BROWN & SHARPE MESTECHNI) 26.03.1998, resumen; figura 1. 1 DE 29722450 U1 (LEITZ BROWN & SHARPE MESTECHNI) 26.03.1998, summary; Figure 1. one

A TO: CN 101526336 A (BINGSHENG CHEN) 09.09.2009 resumen; figuras1,2. 2 CN 101526336 A (BINGSHENG CHEN) 09.09.2009 summary; Figures 1.2. 2

Categoría de los documentos citados X: de particular relevancia Y: de particular relevancia combinado con otro/s de la misma categoría A: refleja el estado de la técnica O: referido a divulgación no escrita P: publicado entre la fecha de prioridad y la de presentación de la solicitud E: documento anterior, pero publicado después de la fecha de presentación de la solicitud Category of the documents cited X: of particular relevance Y: of particular relevance combined with other / s of the same category A: reflects the state of the art O: refers to unwritten disclosure P: published between the priority date and the date of priority submission of the application E: previous document, but published after the date of submission of the application

El presente informe ha sido realizado • para todas las reivindicaciones • para las reivindicaciones nº: This report has been prepared • for all claims • for claims no:

Fecha de realización del informe 28.10.2011 Date of realization of the report 28.10.2011: Examinador Javier Olalde Página 1/4 Examiner Javier Olalde Page 1/4

REPORT OF THE STATE OF THE TECHNIQUE

Application number: 201000591

Minimum documentation sought (classification system followed by classification symbols) G01B21 / 04, G01C25 / 00, G12B13 / 00 Electronic databases consulted during the search (name of the database and, if possible, terms of

search used) INVENES, EPODOC, WPI

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WRITTEN OPINION

Application number: 201000591

Date of the Written Opinion: 28.10.2011

Statement

Novedad (Art. 6.1 LP 11/1986) Novelty (Art. 6.1 LP 11/1986): Reivindicaciones Reivindicaciones 1-3 SI NO Claims Claims 1-3 IF NOT

Actividad inventiva (Art. 8.1 LP11/1986) Inventive activity (Art. 8.1 LP11 / 1986): Reivindicaciones Reivindicaciones 1-3 SI NO Claims Claims 1-3 IF NOT

The application is considered to comply with the industrial application requirement. This requirement was evaluated during the formal and technical examination phase of the application (Article 31.2 Law 11/1986).

Opinion Base.-

This opinion has been made on the basis of the patent application as published.

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WRITTEN OPINION

Application number: 201000591

1. Documents considered.-

The documents belonging to the state of the art taken into consideration for the realization of this opinion are listed below.

Documento Document: Número Publicación o Identificación Fecha Publicación Publication or Identification Number publication date

D01 D01: DE 10222575 A1 27.11.2003 FROM 10222575 A1 11.27.2003

D02 D02: US 5983512 A 16.11.1999 US 5983512 A 11/16/1999

D03 D03: JP 2002039742 A 06.02.2002 JP 2002039742 A 06.02.2002

D04 D04: US 2004036867 A1 26.02.2004 US 2004036867 A1 02.22.2004

D05 D05: JP 2003302202 A 24.10.2003 JP 2003302202 A 24.10.2003

D06 D06: US 6493957 B1 17.12.2002 US 6493957 B1 17.12.2002

D07 D07: DE 29722450 U1 26.03.1998 FROM 29722450 U1 26.03.1998

2. Statement motivated according to articles 29.6 and 29.7 of the Regulations for the execution of Law 11/1986, of March 20, on Patents on novelty and inventive activity; quotes and explanations in support of this statement

Documents D01, D03-D07 disclosed dimensional patterns suitable for use with laser scanner / photogrammetric systems comprising a set of spheres (2) assembled linearly on a block (1), which materialize a length. Therefore, the object defined by claim 1 seems to lack novelty against any of them, in the sense of art. 6.1 of Law 11/86 on patents (LP).

D01 disclosed a pattern that additionally comprises cubes with different sizes and pockets of different width. Therefore, the object defined by claim 2 appears to be novel in comparison to D01.

The additional feature of claim 3, that is, the arrangement of additional pockets in the block to obtain a decrease in system weight is commonly used in the art. This fact is explicitly exemplified by document D02 (column 1, line 60), so that its object would appear to lack inventive activity within the meaning of art. 8.1 of the LP. Additionally, D03 disclosed (paragraph 26) the possibility of decreasing the weight of the pattern by means of recesses, so that the object defined by claim 3 appears to be novel in comparison to D03.

However, it is considered that a claim defining a combined pattern as depicted in the figures in a less general way (exact arrangement of each of the elements on the block) could apparently meet the requirements of novelty and inventive activity required .

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