ES2365408T3 - CIRCUIT MODULE. - Google Patents

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ES2365408T3 ES06738214T ES06738214T ES2365408T3 ES 2365408 T3 ES2365408 T3 ES 2365408T3 ES 06738214 T ES06738214 T ES 06738214T ES 06738214 T ES06738214 T ES 06738214T ES 2365408 T3 ES2365408 T3 ES 2365408T3
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James J. Logothetis
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Abstract

Un conjunto dieléctrico (2000) que comprende: una pluralidad de capas (2220, 2230) de sustrato que comprende una capa superior y una o más capas intermedias, estando unida conjuntamente la pluralidad de capas de sustrato en una disposición estratificada en el que dichas capas (2220, 2230) de sustrato comprenden una circuitería integrada de procesamiento de señales, comprendiendo dicha circuitería integrada de procesamiento de señales una circuitería fijada (2003, 2004) de procesamiento de señales y una circuitería ajustable (2005, 2006) de procesamiento de señales; una entrada (2001) de señales y una salida (2002) de señales, conectada cada una a la circuitería integrada de procesamiento de señales; y una cavidad (2007) formada a través de las capas superior e intermedias, estando configurada dicha cavidad para recibir un elemento de circuito añadido al conjunto después de la unión de las capas de sustrato y exponiendo dicha cavidad (2007) terminales de conexión de señales conectados al circuito integrado de procesamiento de señales para permitir la conexión del elemento de circuito añadido a dicha circuitería integrada de procesamiento de señales; y en el que la circuitería fijada (2003, 2004) de procesamiento de señales actúa alterando las características eléctricas de las señales acopladas a esa circuitería y en el que las características de alteración de dicha circuitería fijada están predeterminadas en el momento de la unión de las capas de sustrato, caracterizándose dicho conjunto dieléctrico porque la circuitería ajustable (2005, 2006) de procesamiento de señales actúa alterando las características eléctricas de las señales acopladas a esa circuitería y en el que las características de alteración de dicha circuitería ajustable pueden ser cambiadas con posterioridad a la unión de las capas de sustrato por medio de la conexión de los componentes (2102-2109) de circuito a las conexiones de las vías de señales en las zonas al descubierto de la superficie del sustrato; la circuitería fijada (2003, 2004) de procesamiento de señales comprende unas circuiterías fijadas primera y segunda de adaptación de la impedancia; la circuitería ajustable (2005, 2006) de procesamiento de señales comprende unas circuiterías ajustables primera y segunda de adaptación de la impedancia; la primera circuitería fijada de adaptación de la impedancia está conectada entre la entrada (2001) de señales y la primera circuitería ajustable de adaptación de la impedancia; la segunda circuitería fijada de adaptación de la impedancia está conectada entre la salida (2002) de señales y la segunda circuitería ajustable de adaptación de la impedancia; la primera circuitería ajustable de adaptación de la impedancia está conectada, además, a los terminales de conexión de señales en la cavidad (2007); la segunda circuitería ajustable de adaptación de la impedancia está conectada, además, a los terminales de conexión de señales en la cavidad (2007); y la circuitería fijada y ajustable (2003, 2004 2005, 2006) de procesamiento de señales permite la adaptación de la impedancia entre la entrada (2001) de señales y los terminales de conexión de señales en la cavidad (2007) y entre la salida (2002) de señales y los terminales de conexión de señales en la cavidad (2007).A dielectric assembly (2000) comprising: a plurality of layers (2220, 2230) of substrate comprising an upper layer and one or more intermediate layers, the plurality of substrate layers being joined together in a stratified arrangement in which said layers (2220, 2230) of substrate comprise an integrated signal processing circuitry, said integrated signal processing circuitry comprising a fixed signal processing circuitry (2003, 2004) and an adjustable signal processing circuitry (2005, 2006); an input (2001) of signals and an output (2002) of signals, each connected to the integrated signal processing circuitry; and a cavity (2007) formed through the upper and intermediate layers, said cavity being configured to receive a circuit element added to the assembly after joining the substrate layers and exposing said cavity (2007) signal connection terminals connected to the integrated signal processing circuit to allow the connection of the added circuit element to said integrated signal processing circuitry; and in which the fixed circuitry (2003, 2004) of signal processing acts by altering the electrical characteristics of the signals coupled to that circuitry and in which the alteration characteristics of said fixed circuitry are predetermined at the time of joining the substrate layers, said dielectric assembly being characterized in that the adjustable signal processing circuitry (2005, 2006) acts by altering the electrical characteristics of the signals coupled to that circuitry and in which the alteration characteristics of said adjustable circuitry can be changed later to the joining of the substrate layers by means of the connection of the circuit components (2102-2109) to the connections of the signal paths in the exposed areas of the substrate surface; the fixed signal processing circuitry (2003, 2004) comprises first and second set impedance matching circuitry; The adjustable signal processing circuitry (2005, 2006) comprises first and second adjustable impedance matching circuitry; the first impedance matching circuitry is connected between the signal input (2001) and the first impedance matching adjustable circuitry; the second impedance matching circuitry is connected between the signal output (2002) and the second impedance matching circuitry; the first adjustable impedance matching circuitry is also connected to the signal connection terminals in the cavity (2007); the second adjustable impedance matching circuitry is also connected to the signal connection terminals in the cavity (2007); and the fixed and adjustable circuitry (2003, 2004 2005, 2006) of signal processing allows adaptation of the impedance between the signal input (2001) and the signal connection terminals in the cavity (2007) and between the output ( 2002) signal and signal connection terminals in the cavity (2007).

Description

Referencia cruzada a solicitudes relacionadas Cross reference to related requests

La presente solicitud reivindica prioridad con respecto a la solicitud de patente estadounidense nº 11/077.935, presentada el 11 de marzo de 2005 y titulada “Circuitry Module”, que es una continuación en parte de la solicitud de patente estadounidense nº 10/659.542, presentada el 10 de septiembre de 2003 y titulada “Coupler Resource Module”. The present application claims priority with respect to U.S. Patent Application No. 11 / 077,935, filed on March 11, 2005 and entitled "Circuitry Module," which is a continuation in part of U.S. Patent Application No. 10 / 659,542, filed. on September 10, 2003 and entitled “Coupler Resource Module”.

Antecedentes de la invención Background of the invention

El desarrollo de medios planares de transmisión a comienzos de la década de 1950 tuvo un impacto fundamental en los circuitos de microondas y en la tecnología de encapsulado de componentes. La tecnología del circuito impreso de microondas y las teorías analíticas de apoyo para la línea de cinta y la microcinta se dieron a un ritmo rápido. Los primeros años de diseño de circuitos de líneas de cinta se dedicaron casi por entero al diseño de circuitos pasivos, como acopladores direccionales, divisores de potencia, filtro y redes de alimentación de antenas. Las primeras implementaciones estaban alojadas en alojamientos metálicos voluminosos y conectadas mediante conectores coaxiales. The development of planar transmission media in the early 1950s had a fundamental impact on microwave circuits and component encapsulation technology. Microwave printed circuit technology and supporting analytical theories for the tape line and the micro tape were given at a rapid pace. The first years of tape line circuit design were devoted almost entirely to the design of passive circuits, such as directional couplers, power dividers, filter and antenna feed networks. The first implementations were housed in bulky metal housings and connected by coaxial connectors.

Para reducir el tamaño y el peso, se desarrollaron acopladores sin cubierta y sin conectores. Estas implementaciones posteriores se denominaban a veces “filmébridos” e incluían conjuntos laminados de líneas de cinta unidos entre sí por fusión, o con películas termoplásticas o termoendurecibles. Siguieron mejoras adicionales en campos como los materiales dieléctricos usados en estos dispositivos y en el propio procedimiento de fabricación de los circuitos de microondas. Puede encontrarse una perspectiva histórica del desarrollo y las aplicaciones de los circuitos integrados de microondas en “Microwave Integrated Circuits - An Historical Perspective”, de H. Howe, Jr., IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-32, pp. 991-996, septiembre de 1984, y en “Microwave Printed Circuits - The Early Years”, de R. M. Barrett, IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-32, pp. 983-990, septiembre de 1984. To reduce size and weight, couplers without cover and without connectors were developed. These later implementations were sometimes referred to as "film-like" and included laminated sets of tape lines joined together by fusion, or with thermoplastic or thermosetting films. Further improvements followed in fields such as dielectric materials used in these devices and in the microwave manufacturing process itself. A historical perspective of the development and applications of microwave integrated circuits can be found in “Microwave Integrated Circuits - An Historical Perspective” by H. Howe, Jr., IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-32, pp. 991-996, September 1984, and in "Microwave Printed Circuits - The Early Years", by R. M. Barrett, IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-32, pp. 983-990, September 1984.

Los componentes de líneas de cinta y de microcintas vienen integrándose para diversas aplicaciones en alojamientos y encapsulados, así como monolíticamente sobre un sustrato común. Los procedimientos de integración y encapsulado afectan a la interfaz y la instalación del sistema, así como a la capacidad del módulo para soportar las temperaturas posteriores al procesamiento (es decir, la posfabricación del componente de líneas de cinta y de microcintas) y a la capacidad de gestión térmica operativa del módulo (es decir, su capacidad de transferencia térmica). Las técnicas comunes para la integración de componentes exigen que se unan entre sí usando, por ejemplo, compuestos epoxi, adhesivos y soldadura. En algunos casos, un módulo que use compuestos epoxi, adhesivos, soldadura y/u otros agentes aglomerantes estará sometido a etapas subsiguientes de procesamiento que exponen al módulo a temperaturas elevadas y a otras condiciones de procesamiento. Estas etapas subsiguientes de procesamiento deben ser compatibles con el agente aglomerante y con el material usado en la formación de los módulos. Por ejemplo, cuando se forma un módulo usando compuestos epoxi, adhesivos y soldadura convencionales, puede ser preciso evitar una alta temperatura posterior al procesamiento, ya que puede causar el deterioro en la unión del módulo. The components of tape and micro tape lines have been integrated for various applications in housings and encapsulates, as well as monolithically on a common substrate. The integration and encapsulation procedures affect the interface and installation of the system, as well as the module's ability to withstand post-processing temperatures (i.e., post-fabrication of the tape and micro-tape component lines) and the ability to Operational thermal management of the module (i.e. its thermal transfer capacity). Common techniques for component integration require that they be bonded together using, for example, epoxy compounds, adhesives and welding. In some cases, a module using epoxy compounds, adhesives, welding and / or other binding agents will be subjected to subsequent processing steps that expose the module to high temperatures and other processing conditions. These subsequent processing steps must be compatible with the binding agent and with the material used in the formation of the modules. For example, when a module is formed using conventional epoxy compounds, adhesives and welding, it may be necessary to avoid a high temperature after processing, since it can cause deterioration in the module joint.

Se desean módulos planares de acoplamiento y procesamiento de señales que puedan ser sometidos a un abanico más amplio de procesos de fabricación y que retengan su integridad bajo los mismos. En consecuencia, existe la necesidad de integrar circuitería acopladora, estructuras de bloqueo de CC, redes de adaptación de la impedancia, estructuras de desacoplamiento de la polarización y terminaciones de carga de RF en una estructura planar modular que sea capaz de soportar, por ejemplo, un procesamiento a temperaturas elevadas u otras etapas de procesamiento a las que el módulo puede ser sometido después de su fabricación. Tal procesamiento puede ocurrir, por ejemplo, cuando el módulo de microondas se integra con otros componentes en un conjunto de circuitos. Además, existe la necesidad de contar con un circuito de acoplamiento que pueda ser fácilmente personalizado por medio de la adición de componentes de forma posterior a la fabricación del conjunto acoplador. Planar modules for coupling and signal processing are desired that can be subjected to a wider range of manufacturing processes and retain their integrity under them. Consequently, there is a need to integrate coupling circuitry, DC blocking structures, impedance matching networks, polarization decoupling structures and RF load terminations into a modular planar structure that is capable of supporting, for example, high temperature processing or other processing steps to which the module can be subjected after its manufacture. Such processing can occur, for example, when the microwave module is integrated with other components in a circuit set. In addition, there is a need for a coupling circuit that can be easily customized by adding components after the coupling assembly is manufactured.

El documento US 2005/051359 A1 describe un módulo acoplador de recursos de capas unidas de sustrato y una capa de reborde metálico. El documento US-B2-6 815 739 da a conocer un sistema de antenas en fase y otros tipos de dispositivos y sistemas de radiofrecuencia que usan conmutadores micromecánicos y una tecnología de cerámica co-sinterizada a baja temperatura. El documento US 2002/196085 A describe un módulo transmisor de alta frecuencia que comprende amplificadores de la potencia de transmisión, circuitos conmutadores, acopladores direccionales y un circuito de filtro de ramificación. US 2005/051359 A1 describes a coupling module of resources of bonded layers of substrate and a metal flange layer. US-B2-6 815 739 discloses a system of phase antennas and other types of radiofrequency devices and systems that use micromechanical switches and a co-sintered ceramic technology at low temperature. US 2002/196085 A describes a high frequency transmitter module comprising transmit power amplifiers, switching circuits, directional couplers and a branching filter circuit.

Resumen de la invención Summary of the Invention

La invención se define en las reivindicaciones adjuntas. The invention is defined in the appended claims.

Se da a conocer un módulo acoplador que puede ser usado, por ejemplo, para la integración de acopladores de microondas, redes de adaptación de la impedancia, estructuras de desacoplamiento de la polarización, terminaciones de carga de RF y circuitería de amplificación. El módulo, también denominado “módulo de recursos” en el presente documento, tiene una arquitectura modular de múltiples capas que incluye múltiples capas de circuitos unidas entre sí y, en algunas implementaciones, un reborde metálico. El reborde metálico puede ser usado para la conexión de dispositivos y la gestión térmica y como una interfaz de encapsulado y para la instalación. El módulo de recursos incluye una zona de conexión de dispositivos (también denominada “pozo de recursos” o “cavidad” que atraviesa las capas de sustrato). El pozo de recursos permite la adición de dispositivos al módulo y el acoplamiento de esos dispositivos a circuitería en el módulo de recursos, después de que el propio módulo se haya formado. Es decir, pueden añadirse dispositivos adicionales al pozo de recursos después de que las capas del módulo de recursos se hayan unido. El pozo de recursos incluye puntos de conexión dentro del pozo, a través de los cuales un dispositivo añadido puede tener una conexión de señales con circuitería acopladora formada en las capas dieléctricas del módulo de recursos, y puede ser acoplado al reborde metálico del módulo. Este módulo puede ser usado para proporcionar una plataforma común para diversas aplicaciones de circuitos de microondas y un procedimiento de interfaz e instalación del sistema que ofrece un grado significativo de libertad permitiendo, por ejemplo, un procesamiento de conexión de dispositivos a temperatura elevada, así como una óptima gestión térmica operativa. Esta plataforma común puede ser personalizada añadiendo una amplia variedad de circuitos y elementos de circuito al módulo de recursos y por medio de la adición de circuitos a los contactos al descubierto en una capa superficial. Estos elementos de circuito pueden incluir circuitos de microondas, transistores, diodos varactores, diodos PIN y diodos de Schottky. A coupler module that can be used, for example, for the integration of microwave couplers, impedance matching networks, polarization decoupling structures, RF load terminations and amplification circuitry is disclosed. The module, also called "resource module" in this document, has a multi-layer modular architecture that includes multiple layers of circuits linked together and, in some implementations, a metal flange. The metal flange can be used for device connection and thermal management and as an encapsulation interface and for installation. The resource module includes a device connection zone (also called "resource well" or "cavity" that crosses the substrate layers). The resource well allows the addition of devices to the module and the coupling of those devices to circuitry in the resource module, after the module itself has been formed. That is, additional devices can be added to the resource well after the resource module layers have joined. The resource well includes connection points within the well, through which an added device can have a signal connection with coupler circuitry formed in the dielectric layers of the resource module, and can be coupled to the metal flange of the module. This module can be used to provide a common platform for various microwave circuit applications and a system interface and installation procedure that offers a significant degree of freedom allowing, for example, high temperature device connection processing, as well as Optimal operational thermal management. This common platform can be customized by adding a wide variety of circuits and circuit elements to the resource module and by adding circuits to bare contacts in a surface layer. These circuit elements may include microwave circuits, transistors, varactor diodes, PIN diodes and Schottky diodes.

En una implementación, el conjunto acoplador incluye múltiples capas de sustrato compuesto y una fusión (opcional) mutua de capas de reborde en una disposición estratificada. Las capas de sustrato están colocadas encima de la capa de reborde e incluyen circuitería integrada fijada de procesamiento de señales (por ejemplo, circuitería de línea de cinta de adaptación de la impedancia) conectada a una entrada de señales y a una salida de señales. Una segunda zona de circuitería “sintonizable” o “ajustable”, por ejemplo circuitería de microcinta de adaptación de la impedancia, está acoplada entre la circuitería integrada fijada de procesamiento de señales y una cavidad formada atravesando una zona de las capas de sustrato. La cavidad deja al descubierto terminales de conexión de señales acoplados a la circuitería integrada ajustable. Estos terminales de conexión de señales están acoplados a la circuitería integrada ajustable y permiten la adición de un elemento de circuito al conjunto después de la unión de las capas de sustrato. La circuitería integrada ajustable está acoplada, además, a la circuitería integrada fijada y permite la adición de elementos de circuito (por ejemplo, resistencias y condensadores) en zonas de contacto sobre la superficie del sustrato para personalizar la circuitería ajustable. El conjunto se configura de tal manera que la circuitería integrada fijada presente una impedancia predeterminada en los terminales de entrada de señales y de salida de señales y presente también unas características predeterminadas de impedancia en la circuitería integrada ajustable. La circuitería integrada ajustable puede ser entonces “sintonizada”, por ejemplo, por medio de la adición de elementos capacitivos y resistivos para permitir la adaptación de la impedancia entre la circuitería integrada fijada y cualesquiera elementos de circuito acoplados dentro del pozo de recursos. Por ello, tal implementación proporciona un módulo que puede ser fácilmente personalizado para la adición de elementos con diferentes impedancias dentro de la cavidad mientras se proporciona un conjunto que presenta una impedancia estandarizada a dispositivos externos. In one implementation, the coupler assembly includes multiple layers of composite substrate and a (optional) mutual fusion of flange layers in a stratified arrangement. The substrate layers are placed on top of the flange layer and include fixed integrated signal processing circuitry (for example, impedance matching tape line circuitry) connected to a signal input and signal output. A second "tunable" or "adjustable" circuitry zone, for example impedance matching microcircle circuitry, is coupled between the fixed integrated signal processing circuitry and a cavity formed through an area of the substrate layers. The cavity exposes signal connection terminals coupled to the adjustable integrated circuitry. These signal connection terminals are coupled to the adjustable integrated circuitry and allow the addition of a circuit element to the assembly after joining the substrate layers. The adjustable integrated circuitry is also coupled to the fixed integrated circuitry and allows the addition of circuit elements (for example, resistors and capacitors) in contact areas on the surface of the substrate to customize the adjustable circuitry. The assembly is configured in such a way that the integrated integrated circuitry has a predetermined impedance at the signal input and signal output terminals and also has predetermined impedance characteristics in the adjustable integrated circuitry. The adjustable integrated circuitry can then be "tuned", for example, by the addition of capacitive and resistive elements to allow impedance matching between the fixed integrated circuitry and any circuit elements coupled within the resource well. Therefore, such an implementation provides a module that can be easily customized for the addition of elements with different impedances within the cavity while providing a set that presents a standardized impedance to external devices.

La implementación puede incluir una o más de las siguientes características. La circuitería integrada de procesamiento de señales (que puede incluir, por ejemplo, circuitería acopladora de microondas, circuitería de adaptación de la impedancia, circuitería de bloqueo de CC, circuitería de desacoplamiento de la polarización y/o terminaciones de carga de RF) puede incluir una primera circuitería de procesamiento de señales acoplada a la entrada de señales y a un primer terminal de conexión de señales al descubierto dentro de la cavidad y una segunda circuitería de procesamiento de señales acoplada a la salida de señales y a un segundo terminal de conexión de señales al descubierto dentro de la cavidad. La cavidad puede estar configurada para recibir un elemento de circuito añadido, como un circuito de microondas, un transistor, un diodo varactor, un diodo PIN, un diodo de Schottky u otros elementos de circuito. También puede haber terminales conductivos al descubierto dentro de la cavidad y acoplados a terminales conductivos en una superficie exterior del conjunto para proporcionar conexiones de señales entre un elemento de circuito añadido a la cavidad y fuentes de señales externas. The implementation may include one or more of the following features. The integrated signal processing circuitry (which may include, for example, microwave coupler circuitry, impedance matching circuitry, DC blocking circuitry, polarization decoupling circuitry and / or RF load terminations) may include a first signal processing circuitry coupled to the signal input and a first signal connection terminal exposed within the cavity and a second signal processing circuitry coupled to the signal output and a second signal connection terminal to the discovered inside the cavity. The cavity can be configured to receive an added circuit element, such as a microwave circuit, a transistor, a varactor diode, a PIN diode, a Schottky diode or other circuit elements. There may also be bare conductive terminals within the cavity and coupled to conductive terminals on an outer surface of the assembly to provide signal connections between a circuit element added to the cavity and external signal sources.

Las implementaciones también pueden incluir una o más de las siguientes características. La cavidad puede dejar al descubierto una superficie superior de la capa de reborde que permite el acoplamiento (por ejemplo, acoplamiento eléctrico o térmico) del elemento de circuito añadido a la capa de reborde. La capa de reborde puede estar formada de un núcleo metálico sustancialmente homogéneo. Pueden añadirse revestimientos metálicos (por ejemplo, níquel, oro u otro metal que inhiba la oxidación del núcleo metálico) a las superficies de la capa de reborde. Pueden realizarse interconexiones entre las capas de sustrato usando agujeros metalizados de interconexión. The implementations may also include one or more of the following features. The cavity can expose an upper surface of the flange layer that allows coupling (eg, electrical or thermal coupling) of the circuit element added to the flange layer. The flange layer may be formed of a substantially homogeneous metal core. Metal coatings (eg, nickel, gold or other metal that inhibits oxidation of the metal core) can be added to the surfaces of the flange layer. Interconnections between the substrate layers can be made using metallic interconnecting holes.

La fabricación del conjunto de acoplamiento incluye el taladrado de las capas de sustrato para crear una pluralidad de vías y formando cortes en las capas de sustrato. Los cortes están colocados de tal manera que, cuando las capas de sustrato se fusionan en una disposición estratificada, los cortes forman una cavidad que atraviesa las capas de sustrato, dejando al descubierto una superficie superior de una capa inferior (por ejemplo, la capa de reborde). En algunas implementaciones, la capa superior puede cubrir la cavidad durante la unión y ser después taladrada o fresada para “abrir” la cavidad y/o dejar al descubierto zonas de las capas del sustrato inferior, mientras que en otras implementaciones, la capa superior puede ya tener fresadas de antemano la cavidad y/u otras zonas que dejan al descubierto capas inferiores para crear una cavidad abierta y superficies al descubierto de las capas inferiores tras la unión. Manufacturing of the coupling assembly includes drilling of the substrate layers to create a plurality of tracks and forming cuts in the substrate layers. The cuts are positioned in such a way that, when the substrate layers are fused in a stratified arrangement, the cuts form a cavity that crosses the substrate layers, exposing an upper surface of a lower layer (e.g., the layer of flange). In some implementations, the upper layer may cover the cavity during bonding and then be drilled or milled to "open" the cavity and / or expose areas of the lower substrate layers, while in other implementations, the upper layer may Already have the cavity and / or other areas that leave exposed lower layers in advance to create an open cavity and exposed surfaces of the lower layers after joining.

Antes de la unión, las superficies de las capas de sustrato se metalizan para formar los elementos de las circuiterías integradas de procesamiento de señales, tanto fijadas como variables, los terminales de entrada y de salida de señales, el terminal de conexión de señales al descubierto dentro de la cavidad y vías conductivas que interconectan las estructuras anteriores cuando la pluralidad de capas de sustrato compuesto se colocan en una disposición estratificada. Prior to joining, the surfaces of the substrate layers are metallized to form the elements of the integrated signal processing circuitry, both fixed and variable, the signal input and output terminals, the bare signal connection terminal within the cavity and conductive pathways that interconnect the above structures when the plurality of composite substrate layers are placed in a stratified arrangement.

Los detalles de una o más implementaciones de la invención se exponen en los dibujos adjuntos y en la descripción de más abajo. Otras características, otros objetos y otras ventajas de la invención serán evidentes a partir de la descripción y los dibujos y a partir de las reivindicaciones. Details of one or more implementations of the invention are set forth in the accompanying drawings and in the description below. Other features, other objects and other advantages of the invention will be apparent from the description and drawings and from the claims.

Descripción de los dibujos Description of the drawings

Las Figuras 1 muestran una vista superior, lateral e inferior de un módulo de recursos montado. Figures 1 show a top, side and bottom view of a mounted resource module.

La Fig. 2 es un diagrama de bloques que muestra componentes del circuito de procesamiento de señales que pueden ser incluidos en una implementación del módulo de recursos de la Fig. 1. La Fig. 3 es un diagrama de bloques que muestra componentes del circuito de procesamiento de señales Fig. 2 is a block diagram showing components of the signal processing circuit which can be included in an implementation of the resource module of Fig. 1. Fig. 3 is a block diagram showing components of the signal processing circuit

que pueden ser incluidos en una implementación alternativa del módulo de recursos de la Fig. 1. which can be included in an alternative implementation of the resource module of Fig. 1.

Las Figuras 4-6 muestran capas metálicas superior e inferior de tres sustratos dieléctricos que implementan el circuito de procesamiento de señales de la Fig. 2. La Fig. 7 muestra vistas superior e inferior de una capa de reborde metálico. La Fig. 8 muestra una matriz de paneles. Las Figuras 9-12 muestran diferentes tipos de líneas de cinta. La Fig. 13 muestra una línea de transmisión en varilla rectangular. La Fig. 14 muestra una realización alternativa de un módulo acoplador de recursos. La Fig. 15 muestra vistas superior, lateral e inferior del módulo acoplador de recursos de la Fig. 14. Las Figuras 16-18 muestran capas metálicas superior e inferior de tres sustratos dieléctricos que Figures 4-6 show upper and lower metal layers of three dielectric substrates that implement the signal processing circuit of Fig. 2. Fig. 7 shows top and bottom views of a metal flange layer. Fig. 8 shows an array of panels. Figures 9-12 show different types of tape lines. Fig. 13 shows a rectangular rod transmission line. Fig. 14 shows an alternative embodiment of a resource coupler module. Fig. 15 shows top, side and bottom views of the resource coupler module of Fig. 14. Figures 16-18 show upper and lower metal layers of three dielectric substrates that

implementan el circuito de procesamiento de señales de la Fig. 14. La Fig. 19 muestra vistas superior e inferior de una capa de reborde metálico. La Fig. 20 muestra un conjunto de circuitería completado que incluye un pozo de recursos, circuiterías they implement the signal processing circuit of Fig. 14. Fig. 19 shows top and bottom views of a metal flange layer. Fig. 20 shows a complete circuitry assembly that includes a resource well, circuitry

integradas de procesamiento de señales tanto fijada como ajustable y puntos de conexión de señales que permiten la adición de componentes al conjunto para ajustar las características eléctricas de la circuitería integrada ajustable de procesamiento de señales. integrated signal processing both fixed and adjustable and signal connection points that allow the addition of components to the assembly to adjust the electrical characteristics of the circuitry Integrated adjustable signal processing.

La Fig. 21 muestra el conjunto de circuitería completado de la Fig. 20 con los componentes 2102-2110 añadidos a los puntos de conexión de señales. Fig. 21 shows the completed circuitry assembly of Fig. 20 with components 2102-2110 added to signal connection points.

Las Figuras 22A, 22B, 22C muestran vistas superior, inferior y lateral del módulo de la Fig. 20. Las Figuras 23A, 23B, 24A, 24B, 25A y 25B muestran vistas superior e inferior de las capas del módulo de la Fig. 20. Figures 22A, 22B, 22C show top, bottom and side views of the module of Fig. 20. Figures 23A, 23B, 24A, 24B, 25A and 25B show top and bottom views of the module layers. Fig. 20.

La Fig. 26A muestra otra implementación de un módulo acoplador configurado de tal manera que pueden añadirse múltiples amplificadores de potencia dentro del pozo de recursos del módulo. La Fig. 26B muestra el módulo de la Fig. 26A con elementos de circuito añadidos a la circuitería de microcinta formada en el módulo. Fig. 26A shows another implementation of a coupler module configured in such a way that they can multiple power amplifiers are added within the module resource well. Fig. 26B shows the module of Fig. 26A with circuit elements added to the micro-tape circuitry formed in the module.

Las Figuras 27-30 muestran las capas del módulo de las Figuras 26A y 26B. La Fig. 31 muestra una implementación en la cual el módulo está construido de forma dividida. La Fig. 32 muestra el módulo de la Fig. 31 con circuitería amplificadora añadida. Figures 27-30 show the module layers of Figures 26A and 26B. Fig. 31 shows an implementation in which the module is divided. Fig. 32 shows the module of Fig. 31 with amplifier circuitry added.

Descripción detallada de la invención Detailed description of the invention

Debería hacerse notar que las realizaciones mostradas en las Figuras 1-19 no forman parte de la invención, sino que representan antecedentes que son útiles para entender la invención. It should be noted that the embodiments shown in Figures 1-19 are not part of the invention, but represent background data that are useful for understanding the invention.

En el presente documento se da a conocer una estructura de “módulo de recursos”. En la Fig. 1 se muestran vistas superior, lateral e inferior del módulo. Tal como se muestra en la vista lateral, y con más detalle en las Figuras 4-7, el módulo 100 de recursos puede estar creado a partir de un apilamiento de capas unidas de sustrato y una capa de reborde metálico. Las capas de sustrato están formadas, preferentemente, de politetrafluoroetileno (PTFE), vidrio y cerámica. Cada capa de sustrato puede incluir circuitería en una o ambas caras. La circuitería puede incluir, por ejemplo, acopladores direccionales de microondas y acopladores de 3 dB en cuadratura, redes de adaptación de la impedancia, bloqueos de CC, desacoplamiento de la polarización y terminaciones de carga de RF. La capa de reborde permite el montaje del recurso y propiedades térmicas mejoradas. A "resource module" structure is disclosed in this document. The top, side and bottom views of the module are shown in Fig. 1. As shown in the side view, and in more detail in Figures 4-7, the resource module 100 may be created from a stack of bonded layers of substrate and a metal flange layer. The substrate layers are preferably formed of polytetrafluoroethylene (PTFE), glass and ceramics. Each substrate layer may include circuitry on one or both sides. The circuitry may include, for example, microwave directional couplers and 3 dB quadrature couplers, impedance matching networks, DC locks, polarization decoupling and RF load terminations. The flange layer allows the mounting of the resource and improved thermal properties.

Las Figuras 2 y 3 son diagramas de bloques para implementaciones diferentes del módulo de recursos. El diagrama de bloques de la Fig. 2 muestra la circuitería 200, que está formada en las capas de sustrato de las Figuras 4-6. Se dará un ejemplo de cómo opera este circuito para el caso de 12,5 ohmios, aunque ocurre una operación similar para circuitos con otros valores de impedancia. El ejemplo mostrado es para el caso de acopladores de 3 dB; sin embargo, pueden componerse otras redes usando acopladores con otros valores de acoplamiento. En las figuras usadas a lo largo de toda esta revelación, los elementos numerados idénticamente hacen referencia a la misma estructura (ya sea, por ejemplo, en forma del diagrama de bloques de las Figuras 2 y 3 o en las formas de las capas dieléctricas y de reborde de las Figuras 4-7). La circuitería mostrada en el diagrama de bloques de la Fig. 2 puede usarse cuando la impedancia en la entrada 15 y en la salida 16 sea diferente de la impedancia de los dispositivos añadidos al pozo 17 de recursos. En particular, la circuitería 200 es para una implementación en la que las entradas y las salidas están a 50 ohmios y el módulo permite la conexión de dispositivos de 12,5 ohmios en el pozo 17 de recursos. La circuitería en el diagrama de bloques de la Fig. 3 es para una implementación en la cual las impedancias de la entrada, la salida y los recursos conectados son la misma. Los elementos de circuito mostrados en la Fig. 3 son sustancialmente idénticos a los de la Fig. 2, salvo que el diagrama de bloques de la Fig. 3 carece de los elementos transformadores 1, 14 de la Fig. 2. Las capas de sustrato para implementar el circuito 300 siguen las del circuito 200 de la Fig. 2. Figures 2 and 3 are block diagrams for different implementations of the resource module. The block diagram of Fig. 2 shows circuitry 200, which is formed in the substrate layers of Figures 4-6. An example of how this circuit operates in the case of 12.5 ohms will be given, although a similar operation occurs for circuits with other impedance values. The example shown is for the case of 3 dB couplers; however, other networks can be composed using couplers with other coupling values. In the figures used throughout this disclosure, the elements numbered identically refer to the same structure (either, for example, in the form of the block diagram of Figures 2 and 3 or in the shapes of the dielectric layers and of flange of Figures 4-7). The circuitry shown in the block diagram of Fig. 2 can be used when the impedance at input 15 and output 16 is different from the impedance of the devices added to resource well 17. In particular, circuitry 200 is for an implementation in which the inputs and outputs are 50 ohms and the module allows the connection of 12.5 ohm devices in the resource well 17. The circuitry in the block diagram of Fig. 3 is for an implementation in which the impedances of the input, the output and the connected resources are the same. The circuit elements shown in Fig. 3 are substantially identical to those in Fig. 2, except that the block diagram of Fig. 3 lacks the transformer elements 1, 14 of Fig. 2. The substrate layers to implement circuit 300 follow those of circuit 200 of Fig. 2.

El circuito 200 recibe una señal de entrada de RF en el terminal 15. La señal de entrada es transformada de 50 ohmios a 12,5 ohmios por el transformador 1, y la señal 22 de salida es dividida entonces por un primer acoplador 2. Las dos señales resultantes en 24, 25 son suministradas entonces por medio de acopladores individuales 4, 5, respectivamente. Los acopladores 4, 5 llevan a cabo funciones de bloqueo de CC. Ahora hay disponibles dos señales 26, 27 de RF en los terminales 18, 19, respectivamente, del pozo de recursos. Las señales en los terminales 18, 19 pueden ser conectadas a dispositivos como transistores, diodos varactores, diodos PIN y diodos de Schottky, que pueden ser añadidos al pozo 17 de recursos después de la formación del módulo 100. Pueden estar presentes terminales adicionales de señales en el pozo 17 para, por ejemplo, conexiones a tierra o conexiones a fuentes de señales externas. Además, pueden colocarse en el pozo 17 de recursos otros componentes sobresalientes, como resistencias, condensadores e inductores. Una vez que las señales de RF son procesadas por los dispositivos del pozo 17, se les da salida a los terminales 20, 21 y son procesadas por la circuitería 8-14. Los circuitos 8-14 llevan a cabo una función complementaria de la de la circuitería 1-7. Es decir, las señales de los terminales 20-21 son proporcionadas en los puntos 33, 34 de entrada a los acopladores 10, 11 y a líneas 8, 9 de cinta de cuarto de onda. Los acopladores 10, 11 sirven para bloquear la polarización de CC de las señales 33, 34 de entrada. Las señales 31, 32 de salida de los acopladores son recombinadas entonces por un acoplador 14 de salida, y la salida 30 del acoplador 12 es proporcionada al transformador 14 de impedancia, que transforma la señal 30 de entrada de una impedancia de 12,5 ohmios a una impedancia de salida de 50 ohmios en el punto 16 de señales. Circuit 200 receives an RF input signal at terminal 15. The input signal is transformed from 50 ohms to 12.5 ohms by transformer 1, and the output signal 22 is then divided by a first coupler 2. The two resulting signals at 24, 25 are then supplied by means of individual couplers 4, 5, respectively. The couplers 4, 5 perform DC blocking functions. Two RF signals 26, 27 are now available at terminals 18, 19, respectively, of the resource well. The signals at terminals 18, 19 can be connected to devices such as transistors, varactor diodes, PIN diodes and Schottky diodes, which can be added to resource well 17 after module 100 is formed. Additional signal terminals may be present. in well 17 for, for example, ground connections or connections to external signal sources. In addition, other outstanding components, such as resistors, capacitors and inductors, can be placed in the resource well 17. Once RF signals are processed by well devices 17, terminals 20, 21 are output and processed by circuitry 8-14. Circuits 8-14 perform a complementary function to that of circuitry 1-7. That is, the signals from terminals 20-21 are provided at input points 33, 34 to couplers 10, 11 and to lines 8, 9 of quarter wave tape. The couplers 10, 11 serve to block the DC polarization of the input signals 33, 34. The output signals 31, 32 of the couplers are then recombined by an output coupler 14, and the output 30 of the coupler 12 is provided to the impedance transformer 14, which transforms the input signal 30 from an impedance of 12.5 ohms. at an output impedance of 50 ohms at signal point 16.

Los dispositivos usados en el módulo 17 de recursos pueden requerir una polarización de CC para su funcionamiento. Esta polarización de CC está contenida en la zona 17 de dispositivos por los bloques 4, 5, 10, 11 de The devices used in the resource module 17 may require a DC polarization for operation. This DC polarization is contained in zone 17 of devices by blocks 4, 5, 10, 11 of

CC. La polarización 28-29, 36-37 de CC se conecta con la zona 17 de dispositivos a través de líneas de desacoplamiento de la polarización (o sea, las líneas 6-9 de cinta de cuarto de onda) que parecen un circuito abierto para la señal de RF en la zona 17 de dispositivos. Las terminaciones 3, 13 de carga de RF están conectadas a los acopladores 2 y 12 en los puntos 23, 35 de señales, respectivamente, y proporcionan adaptación de la impedancia a puertos aislados de los acopladores. La impedancia de las terminaciones 3, 13 iguala la impedancia de los acopladores. DC. DC polarization 28-29, 36-37 is connected to zone 17 of devices through polarization decoupling lines (i.e., lines 6-9 of quarter wave tape) that look like an open circuit for the RF signal in zone 17 of devices. The RF load terminations 3, 13 are connected to the couplers 2 and 12 at signal points 23, 35, respectively, and provide impedance adaptation to isolated ports of the couplers. The impedance of the terminations 3, 13 equals the impedance of the couplers.

Los principios básicos para el diseño del diseño de los acopladores direccionales de microondas y la circuitería de acopladores de 3 dB en cuadratura son bien conocidos para los expertos en la técnica y se describen en monografías como “Shielded Coupled-Strip Transmission Line”, de S. B. Cohn, IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-3, Nº 5, pp. 29-38, octubre de 1955; “Characteristic Impedances of Broadside-Coupled Strip Transmission Lines”, de S. B. Cohn, IRE Trans. MTT-S, Vol. MTT-8, Nº 6, pp. 633-637, noviembre de 1960; e “Impedances of Offset Parallel-Coupled Strip Transmission Lines”, de J. P. Shelton, Jr., IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-14, Nº 1, pp. 7-15, enero de 1966. Los acopladores direccionales se implementan habitualmente como líneas de cinta acopladas por los bordes (Fig. 10) o líneas de cinta acopladas en desnivel (Figuras 11, 12), mientras que los acopladores en cuadratura están configurados típicamente como líneas de cinta acopladas en desnivel (Fig. 12) o líneas de cinta acopladas a lo ancho (Fig. 9). La enseñanza de la presente revelación demuestra que los acopladores de línea de cinta sintetizados a partir de estas teorías pueden ser integrados en un módulo de recursos con reborde integrado. The basic principles for the design of the design of microwave directional couplers and the circuitry of 3 dB quadrature couplers are well known to those skilled in the art and are described in monographs as "Shielded Coupled-Strip Transmission Line" by SB Cohn, IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-3, No. 5, pp. 29-38, October 1955; “Characteristic Impedances of Broadside-Coupled Strip Transmission Lines”, by S. B. Cohn, IRE Trans. MTT-S, Vol. MTT-8, No. 6, pp. 633-637, November 1960; and “Impedances of Offset Parallel-Coupled Strip Transmission Lines”, by J. P. Shelton, Jr., IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-14, No. 1, pp. 7-15, January 1966. Directional couplers are usually implemented as tape lines coupled by the edges (Fig. 10) or tape lines coupled at a drop (Figures 11, 12), while quadrature couplers are typically configured as belt lines coupled at a drop (Fig. 12) or tape lines coupled at a width (Fig. 9). The teaching of the present disclosure demonstrates that tape line couplers synthesized from these theories can be integrated into a resource module with integrated flange.

El módulo de recursos, incluyendo la circuitería de la Fig. 2, puede ser implementado usando tres capas de sustrato dieléctrico unidas entre sí con un reborde grueso metálico. Estas capas de sustrato pueden estar formadas de materiales dieléctricos modernos de compuesto (que contienen PTFE, vidrio y cerámica). Estos materiales tienen propiedades eléctricas y mecánicas que son estables en un amplio intervalo de temperaturas, y tienen propiedades de bajas pérdidas que mejoran el rendimiento en frecuencias de microondas. Los valores del coeficiente de expansión térmica cercanos a los del cobre permiten la formación de agujeros y ranuras pasantes metalizados. Estas formas pasantes metalizadas se usan para conectar las capas conductoras en estructuras apiladas de líneas de cinta, así como para formar planos de tierra separados. Las ranuras a tierra pueden formarse en proximidad matemática a los agujeros de señales a través de las capas dieléctricas para formar líneas de transmisión en varilla rectangular que mantienen una impedancia controlada para la propagación en la dirección Z (es decir, de arriba abajo a través de las capas de la estructura apilada de capas dieléctricas). The resource module, including the circuitry of Fig. 2, can be implemented using three layers of dielectric substrate bonded together with a thick metal flange. These substrate layers may be formed of modern composite dielectric materials (containing PTFE, glass and ceramic). These materials have electrical and mechanical properties that are stable over a wide range of temperatures, and have low loss properties that improve performance at microwave frequencies. The thermal expansion coefficient values close to those of copper allow the formation of metallic through holes and grooves. These metallized through shapes are used to connect the conductive layers in stacked structures of tape lines, as well as to form separate ground planes. Ground grooves can be formed in mathematical proximity to the signal holes through the dielectric layers to form rectangular rod transmission lines that maintain a controlled impedance for propagation in the Z direction (i.e., from top to bottom through the layers of the stacked structure of dielectric layers).

Las Figuras 4-6 muestran vistas superior, lateral e inferior para tres capas 400, 500, 600 de sustrato que forman el módulo 100. La vista superior-lateral puede concordar con la vista de la cara inferior doblando la página en el rectángulo horizontal formado por la vista lateral. Los sustratos 400, 500, 600 pueden estar formados a partir de compuestos de politetrafluoroetileno, vidrio y cerámica, que tienen un intervalo de constantes dieléctricas relativas (Er) de 2,1 a 20,0, y un intervalo de espesores (h) de 0,03 a 1,52 mm. Los sustratos son metalizados con hoja de cobre (típicamente, de 0,02 mm de espesor, pero puede oscilar entre 0,003 y 0,08 mm) y son decapados para formar circuitos. Agujeros y ranuras (es decir, agujeros y aberturas alargados) de interconexión, metalizados con cobre, conectan una capa de sustrato con otra. Ejemplos de ranuras incluyen las ranuras 401; ejemplos de agujeros de interconexión incluyen los agujeros 402 (en los dibujos se muestran otras ranuras y otros agujeros y se dejan sin numerar). En las Figuras 4 a 7 se muestran detalles de cada capa del conjunto. Los módulos están fabricados en paneles en una matriz, según se muestra en la Fig. 8. Figures 4-6 show top, side and bottom views for three layers 400, 500, 600 of substrate forming the module 100. The top-side view can match the view of the bottom face by folding the page in the horizontal rectangle formed by the side view. The substrates 400, 500, 600 may be formed from polytetrafluoroethylene, glass and ceramic compounds, which have a range of relative dielectric constants (Er) of 2.1 to 20.0, and a range of thicknesses (h) of 0.03 to 1.52 mm. The substrates are metallized with copper foil (typically 0.02 mm thick, but can range between 0.003 and 0.08 mm) and are stripped to form circuits. Holes and grooves (i.e. elongated holes and openings) of interconnection, metallized with copper, connect one layer of substrate with another. Examples of slots include slots 401; Examples of interconnecting holes include holes 402 (other slots and other holes are shown in the drawings and left unnumbered). Details of each layer of the set are shown in Figures 4 to 7. The modules are manufactured in panels in a matrix, as shown in Fig. 8.

Los módulos de recursos descritos en esta revelación pueden ser fabricados siguiendo los procedimientos dados a conocer en la patente estadounidense nº 6.099.677 y en la patente estadounidense nº 6.395.374. Las capas 400, 500, 600 y un reborde metálico grueso 700 (Fig. 7) son mutuamente unidos, por medio de un procedimiento de fusión, que utiliza un perfil específico de temperatura y presión para cambiar el estado del material, y forman un dieléctrico homogéneo mientras que también se une permanentemente el dieléctrico al reborde metálico grueso. La unión por fusión de un reborde metálico grueso directamente a las capas dieléctricas proporciona una interfaz mecánica de montaje para la instalación del sistema. El módulo de recursos de capas múltiples puede ser atornillado directamente a un conjunto de sistema por medio de agujeros 701 de montaje en el reborde. Dado que el procedimiento de unión por fusión se da a temperaturas entre 350°C y 400°C, el módulo de recursos puede soportar fácilmente las elevadas temperaturas del procedimiento posterior al procesamiento usadas para la conexión del dispositivo dentro el pozo 17 de recursos. Estas temperaturas del procedimiento posterior al montaje pueden incluir temperaturas que surgen de la conexión de dispositivos usando soldaduras (Sn63, Sn96, Au/Si eutéctico), compuestos epoxi (epoxi de relleno de plata, epoxi aislante) y adhesivos (epoxi de relleno de vidrio, éster cianato de relleno de plata). The resource modules described in this disclosure can be manufactured following the procedures disclosed in US Patent No. 6,099,677 and in US Patent No. 6,395,374. The layers 400, 500, 600 and a thick metal flange 700 (Fig. 7) are mutually joined, by means of a melting process, which uses a specific temperature and pressure profile to change the state of the material, and form a dielectric homogeneous while the dielectric is also permanently attached to the thick metal flange. The fusion joining of a thick metal flange directly to the dielectric layers provides a mechanical mounting interface for system installation. The multi-layer resource module can be screwed directly to a system assembly by means of flange mounting holes 701. Since the fusion bonding procedure is at temperatures between 350 ° C and 400 ° C, the resource module can easily withstand the high temperatures of the post-processing procedure used for the connection of the device within the resource well 17. These post-assembly process temperatures may include temperatures arising from the connection of devices using welding (Sn63, Sn96, Au / Si eutectic), epoxy compounds (silver filling epoxy, insulating epoxy) and adhesives (glass filling epoxy , silver filling cyanate ester).

La unión por fusión de un reborde metálico grueso 700 directamente a las capas dieléctricas (en particular, a la capa inferior 600) proporciona un disipador térmico para la gestión térmica de la potencia disipada de RF y CC. Las zonas recortadas 475, 575, 675 en las capas 400, 500, 600 permiten el montaje del dispositivo directamente en el reborde The fusion joining of a thick metal flange 700 directly to the dielectric layers (in particular, to the lower layer 600) provides a heat sink for thermal management of the dissipated RF and DC power. The trimmed areas 475, 575, 675 in layers 400, 500, 600 allow the device to be mounted directly on the flange

o sobre la superficie de la capa dieléctrica con vías térmicas que conducen el calor hacia el reborde. En algunas implementaciones, las zonas recortadas 475, 575, 675 pueden ser progresivamente menores (desde la superficie superior a la superficie inferior) para dejar al descubierto diferentes zonas de conexión en diferentes capas dieléctricas. En las capas del circuito pueden incluirse resistencias de película metálica decapada y resistencias de película gruesa impresa, aunque los componentes de resistencia pueden también conectarse en el pozo 17 de recursos. Todas estas resistencias, configuradas típicamente como terminaciones de carga de RF, pueden beneficiarse de la conexión al borde disipador térmico, permitiendo que operen con niveles de potencia más elevados. or on the surface of the dielectric layer with thermal paths that conduct heat to the flange. In some implementations, clipped areas 475, 575, 675 may be progressively smaller (from the upper surface to the lower surface) to expose different connection zones in different dielectric layers. In the circuit layers, pickled metal film resistors and printed thick film resistors can be included, although the resistance components can also be connected in the resource well 17. All these resistors, typically configured as RF load terminations, can benefit from the connection to the heat sink edge, allowing them to operate at higher power levels.

Las siguientes etapas resumen la construcción de módulo 100 de recursos según el procedimiento dado a conocer en la patente US 6.099.677 y en la patente US 6.395.374. Debería entenderse que cada sustrato 400-600 y el reborde 700 se fabrican como parte de un panel (por ejemplo, el panel 800) que, en general, incluirá un número de elementos idénticos de sustrato (aunque, en algunos casos, como cuando solo es preciso fabricar algunos dispositivos, podrían fabricarse paneles con un número de sustratos diferentes para formar módulos de recursos configurados de forma diferente). The following steps summarize the construction of resource module 100 according to the procedure disclosed in US 6,099,677 and US 6,395,374. It should be understood that each substrate 400-600 and flange 700 are manufactured as part of a panel (for example, panel 800) which, in general, will include a number of identical substrate elements (although, in some cases, as when only It is necessary to manufacture some devices, panels with a number of different substrates could be manufactured to form differently configured resource modules).

A continuación se describirá la construcción de una implementación del módulo de recursos. La capa de la placa de reborde y cada una de las capas de sustrato pueden ser fabricadas como sigue: The construction of an implementation of the resource module will be described below. The flange plate layer and each of the substrate layers can be manufactured as follows:

Fabricación de la placa de reborde Flange plate manufacturing

1. one.
Cada placa 700 de reborde se forma recubriendo selectivamente un panel de cobre con níquel y oro. Each flange plate 700 is formed by selectively coating a copper panel with nickel and gold.

2. 2.
Pueden taladrarse agujeros 723 de unión, así como ranuras y agujeros para pasadores de alineamiento, a través de la placa 700 de reborde. Los agujeros 723 de unión se incluyen, por ejemplo, cuando el módulo ha de ser montado mediante tornillos en otra superficie. Binding holes 723, as well as grooves and holes for alignment pins, can be drilled through flange plate 700. Joining holes 723 are included, for example, when the module is to be mounted by screws on another surface.

3. 3.
Toda la superficie inferior 710 puede estar chapada en níquel/oro, mientras que la superficie superior 720 puede estar chapada en níquel/oro toda la superficie superior o, en algunas implementaciones, el chapado en níquel/oro puede estar limitado a la zona alrededor del perímetro 724 de la superficie 720 y en la zona 722 que rodea los agujeros 723 de unión y las ranuras. The entire lower surface 710 may be nickel / gold plated, while the upper surface 720 may be nickel / gold plated the entire upper surface or, in some implementations, the nickel / gold plating may be limited to the area around the perimeter 724 of the surface 720 and in the area 722 surrounding the connecting holes 723 and the grooves.

4. Four.
Puede usarse un chapado selectivo en oro en la zona 721 del pozo de recursos. El chapado selectivo 721 en oro proporciona resistencia mejorada a la corrosión en la zona 721 y contribuye a garantizar una buena conexión eléctrica entre la placa 720 de reborde y los dispositivos añadidos en el pozo 17 de recursos. Puede usarse un proceso con resina fotosensible para definir la zona para el chapado selectivo en oro. Selective gold plating can be used in zone 721 of the resource well. Selective gold plating 721 provides improved corrosion resistance in zone 721 and helps ensure a good electrical connection between the flange plate 720 and the devices added in the resource well 17. A process with photosensitive resin can be used to define the area for selective gold plating.

Fabricación de las capas de sustrato Manufacturing of substrate layers

1. one.
Taladrar ranuras y agujeros de interconexión a través de las capas (400, 500, 600) de sustrato. De forma alternativa, pueden formarse ranuras y agujeros de interconexión a través de las capas de sustrato taladrado y, después, decapando por plasma las capas de sustrato al descubierto dentro del agujero y las ranuras, antes de chapar con cobre. Drill grooves and interconnection holes through the layers (400, 500, 600) of substrate. Alternatively, interlocking grooves and holes can be formed through the drilled substrate layers and then plasma stripping the bare substrate layers inside the hole and the grooves, before plating with copper.

2. 2.
A continuación, las capas de sustrato (en particular, el agujero y las ranuras) son chapadas en cobre; en primer lugar, usando una capa seminal de cobre no electrolítico, seguida por una plancha de cobre electrolítico, preferentemente con un grosor de 0,01 a 0,03 mm. Next, the substrate layers (in particular, the hole and the grooves) are copper plated; first, using a seminal layer of non-electrolytic copper, followed by an electrolytic copper plate, preferably with a thickness of 0.01 to 0.03 mm.

3. 3.
Las capas de sustrato son laminadas entonces con resina fotosensible por ambas caras de cada capa. La resina fotosensible se expone usando máscaras fotográficas y luego se somete a revelado para revelar zonas seleccionadas de las capas de sustrato. Después de exponer y revelar la resina fotosensible, la resina fotosensible permanece para proteger la capa de cobre usada para formar estructuras 1-14 y las interconexiones (por ejemplo, 15-37). A continuación, se decapa el cobre chapado de las zonas de las capas de sustrato que no están protegidas por resina fotosensible. The substrate layers are then laminated with photosensitive resin on both sides of each layer. The photosensitive resin is exposed using photographic masks and then subjected to development to reveal selected areas of the substrate layers. After exposing and revealing the photosensitive resin, the photosensitive resin remains to protect the copper layer used to form structures 1-14 and interconnections (for example, 15-37). Next, the plated copper is stripped from the areas of the substrate layers that are not protected by photosensitive resin.

4. Four.
Acto seguido, se forman las resistencias 3 y 13 decapando adicionalmente el cobre en las zonas de las resistencias 3, 13, dejando al descubierto una película delgada de fosfato de níquel por debajo de la capa de cobre. Para hacerlo, vuelve a aplicarse resina fotosensible a las capas de sustrato. Usando una máscara fotográfica, se expone y se revela la resina fotosensible de tal modo que el cobre en las zonas 3, 13 quede al descubierto, mientras que el cobre en otras zonas siga recubierto por la resina fotosensible. El cobre al descubierto en las zonas 3, 13 es decapado entonces para definir resistencias. A continuación, se quita la resina fotosensible. Then, resistors 3 and 13 are formed by further stripping copper in the areas of resistors 3, 13, revealing a thin film of nickel phosphate below the copper layer. To do this, photosensitive resin is reapplied to the substrate layers. Using a photographic mask, the photosensitive resin is exposed and revealed so that copper in zones 3, 13 is exposed, while copper in other areas is still coated by the photosensitive resin. The copper discovered in zones 3, 13 is then stripped to define resistances. Next, the photosensitive resin is removed.

5. 5.
A continuación, se efectúa el chapado selectivo en oro para las conexiones de los contactos de entrada y salida, y las conexiones de los contactos del pozo de recursos y las conexiones de la superficie superior. Para hacerlo, se aplica nuevamente resina fotosensible a ambas caras de todas las capas de sustrato, se expone y se revela. Acto seguido, los sustratos se chapan con níquel y oro. Después del chapado, se quita la resina fotosensible que quede. Next, selective gold plating is carried out for the connections of the input and output contacts, and the connections of the resource well contacts and the upper surface connections. To do this, photosensitive resin is again applied to both sides of all substrate layers, exposed and revealed. Then, the substrates are plated with nickel and gold. After plating, the remaining photosensitive resin is removed.

6. 6.
Se fresan entonces ranuras que atraviesan todos los sustratos. Después del fresado, se limpian las placas aclarándolas en alcohol, y luego en agua destilada caliente (21,11°C) y se secan al vacío durante 1 hora a 149°C. Slots are then milled through all substrates. After milling, the plates are cleaned by rinsing them in alcohol, and then in hot distilled water (21.11 ° C) and dried under vacuum for 1 hour at 149 ° C.

7. 7.
La etapa final de montaje incluye la unión de las capas dieléctricas usando el proceso de fusión descrito en las patentes US 6.395.374 y US 6.099.677. Esta unión puede realizarse a una presión de 1723,69 kPa y una temperatura de 375°C. Las ranuras pueden ser fresadas entonces en el conjunto del módulo, abriendo las cavidades formadas (es decir, la cavidad 17). Es decir, la abertura 475 de la cavidad en la capa superior 400 puede formarse después de la unión por fusión. Los módulos individuales pueden ser despanelados mediante mecanizado. The final stage of assembly includes the joining of the dielectric layers using the fusion process described in US 6,395,374 and US 6,099,677. This connection can be carried out at a pressure of 1723.69 kPa and a temperature of 375 ° C. The grooves can then be milled in the module assembly, opening the formed cavities (ie, cavity 17). That is, the opening 475 of the cavity in the upper layer 400 can be formed after fusion bonding. Individual modules can be dispatched by machining.

Los agujeros de interconexión usados en la formación de interconexiones entre las capas de sustrato y entre las caras de un sustrato pueden presentar una degradación de rendimiento si no se compensan por medio de modelado y análisis electromagnéticos. En general, estos agujeros de interconexión pueden ser modelados como líneas de transmisión en varilla rectangular vertical (Fig. 13). Para proporcionar interconexiones de impedancia controlada en el plano Z, pueden seguirse las enseñanzas de “Microwave Transmission Line Impedance Data”, de M.A.R. Gunston, pp. 63-82, Van Nostrand Reinhold Company, 1971. El conjunto acoplador ejemplar dado a conocer en el presente documento incluye, entre otras cosas, acopladores direccionales de banda ancha de banda ancha amplia y acopladores en cuadratura de banda ancha amplia. Los acopladores direccionales de banda ancha amplia se sintetizan normalmente a partir de las fórmulas dadas, por ejemplo, por “General Synthesis Of Asymmetric Multi-Element Coupled-Transmission-Line Directional Couplers”, de R. Levy, IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT- 11, Nº 4, pp. 226-237, julio de 1963; y “Tables For Asymmetric Multi-Element Coupled-Transmission-Line Directional Couplers”, de R. Levy, IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT- 12, Nº 3, pp. 275-279, mayo de 1964. Por otra parte, los acopladores en cuadratura de banda ancha amplia pueden ser sintetizados a partir de las tablas dadas, por ejemplo, en “Theory And Tables Of Optimum Symmetrical TEM-Mode Coupled-Transmission-Line Directional Couplers”, de E. G. Cristal y L. Young, IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-13, Nº 5, pp. 544-558, septiembre de 1965. Otra opción es seguir la enseñanza expuesta en “Four Port Networks Synthesized From Interconnection Of Coupled And Uncoupled Sections Of Line Lengths”, de Joseph D. Cappucci, patente estadounidense nº 3.761.843, 25 de septiembre de 1973. La patente 3.761.843 da a conocer cómo sintetizar acopladores de banda ancha amplia a partir de una serie de líneas de cinta acopladas y desacopladas. En este caso, se combina una serie de interconexiones desacopladas con una serie de secciones acopladas para formar un acoplador en cuadratura de banda ancha amplia. Además, pueden apilarse y conectarse en tándem las estructuras acopladas no uniformes definidas en “The Design And Construction Of Broadband, High Directivity, 90-Degree Couplers Using Nonuniform Line Techniques”, de C.P. Tresselt, IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-14, Nº 12, pp. 647-656, diciembre de 1966; y “The Design And Computed Performance Of Three Classes Of Equal-Ripple Nonuniform Line Couplers”, de C. P. Tresselt, IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT- 17, Nº 4, pp. 218-230, abril de 1969, para proporcionar un rendimiento de banda muy ancha, caracterizado por una respuesta de frecuencia de paso alto. The interconnection holes used in the formation of interconnections between the substrate layers and between the faces of a substrate can exhibit a performance degradation if they are not compensated by means of electromagnetic modeling and analysis. In general, these interconnection holes can be modeled as vertical rectangular rod transmission lines (Fig. 13). To provide controlled impedance interconnections in the Z plane, the teachings of "Microwave Transmission Line Impedance Data" by M.A.R. Gunston, pp. 63-82, Van Nostrand Reinhold Company, 1971. The exemplary coupler assembly disclosed herein includes, among other things, broadband broadband directional couplers and broadband quadrature couplers. Broadband directional couplers are normally synthesized from the formulas given, for example, by "General Synthesis Of Asymmetric Multi-Element Coupled-Transmission-Line Directional Couplers", by R. Levy, IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-11, No. 4, pp. 226-237, July 1963; and "Tables For Asymmetric Multi-Element Coupled-Transmission-Line Directional Couplers", by R. Levy, IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-12, No. 3, pp. 275-279, May 1964. On the other hand, broadband quadrature couplers can be synthesized from the tables given, for example, in “Theory And Tables Of Optimum Symmetrical TEM-Mode Coupled-Transmission-Line Directional Couplers ”by EG Cristal and L. Young, IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-13, No. 5, pp. 544-558, September 1965. Another option is to follow the teaching set forth in “Four Port Networks Synthesized From Interconnection Of Coupled And Uncoupled Sections Of Line Lengths”, by Joseph D. Cappucci, U.S. Patent No. 3,761,843, September 25, 1973. Patent 3,761,843 discloses how to synthesize broadband broadband couplers from a series of coupled and uncoupled tape lines. In this case, a series of decoupled interconnections is combined with a series of coupled sections to form a broadband quadrature coupler. In addition, non-uniform coupled structures defined in “The Design And Construction Of Broadband, High Directivity, 90-Degree Couplers Using Nonuniform Line Techniques” by C.P. Tresselt, IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-14, No. 12, pp. 647-656, December 1966; and “The Design And Computed Performance Of Three Classes Of Equal-Ripple Nonuniform Line Couplers,” by C. P. Tresselt, IEEE Trans. MTT-S, Vol. MTT-17, No. 4, pp. 218-230, April 1969, to provide very broadband performance, characterized by a high pass frequency response.

Las Figuras 14-19 incluyen un diagrama de bloques de circuito (Fig. 14), vistas superior, lateral e inferior de un módulo completado (Fig. 15), metalizaciones superior e inferior para tres capas de sustrato (Figuras 16-18) y una capa 19 de reborde de una realización alternativa. La realización alternativa de la Fig. 14 incluye un segundo pozo 40 de recursos situado en el lado de entrada del circuito 1400. Figures 14-19 include a circuit block diagram (Fig. 14), top, side and bottom views of a completed module (Fig. 15), top and bottom metallizations for three substrate layers (Figures 16-18) and a flange layer 19 of an alternative embodiment. The alternative embodiment of Fig. 14 includes a second resource well 40 located on the input side of circuit 1400.

El circuito mostrado en la Fig. 14 incluye elementos de circuito y conexiones 9-14, 16, 17, 20-21, 30-37 sustancialmente idénticos a los de la Fig. 2. La realización 1400 también incluye una etapa 50-66 de entrada modificada y un segundo pozo 40 de recursos. La etapa de entrada recibe una señal de RF en la entrada 50. La señal es transformada de 50 ohmios a 12,5 ohmios por el transformador 51 y la señal de salida es proporcionada a un contacto 52 en un pozo 40 de recursos. Pueden acoplarse dispositivos adicionales (por ejemplo, un diodo, una resistencia, un transistor o una conexión de puenteado simple) entre los terminales 52 y 64 del pozo 40 de recursos. La señal 52, tal como es transformada por cualquier dispositivo en el pozo 40 de recursos, es proporcionada al terminal 64 y, de él, a un acoplador 59 de bloque de CC y, después, al acoplador 61 de señales. Las salidas 62-63 del acoplador 61 de señales son proporcionadas a los contactos 65-66 en el pozo 17 de recursos. Puede proporcionarse una polarización de CC a través de los puntos 36-37, 54, 80-87 de contacto de la superficie superior. De formar similar, puede proporcionarse una polarización de CC en la entrada 54 conectada a la línea 53 de cinta de cuarto de onda y en la entrada 36 conectada a la línea 8 de cinta de cuarto de onda y en la entrada 37 conectada a la línea 9 de cinta de cuarto de onda. Las capas 1600, 1700, 1800 de sustrato y la placa 1900 de reborde pueden fabricarse y unirse según el procedimiento descrito para la implementación de la Fig. 2. Otras características de las capas 1600, 1700, 1800 de sustrato y de la placa 1900 de reborde se siguen de las descripciones dadas con respecto a las capas 400, 500, 600 y a la placa 700 de reborde. The circuit shown in Fig. 14 includes circuit elements and connections 9-14, 16, 17, 20-21, 30-37 substantially identical to those of Fig. 2. Embodiment 1400 also includes a step 50-66 of modified entry and a second resource well 40. The input stage receives an RF signal at input 50. The signal is transformed from 50 ohms to 12.5 ohms by the transformer 51 and the output signal is provided to a contact 52 in a resource well 40. Additional devices (for example, a diode, a resistor, a transistor or a simple bridging connection) can be coupled between terminals 52 and 64 of the resource well 40. The signal 52, as transformed by any device in the resource well 40, is provided to the terminal 64 and, from it, to a DC block coupler 59 and then to the signal coupler 61. The outputs 62-63 of the signal coupler 61 are provided to the contacts 65-66 in the resource well 17. A DC polarization can be provided through the contact points 36-37, 54, 80-87 of the upper surface. If similar, a DC bias can be provided at input 54 connected to line 53 of quarter wave tape and at input 36 connected to line 8 of quarter wave tape and at input 37 connected to line. 9 of quarter wave tape. The substrate layers 1600, 1700, 1800 and the flange plate 1900 can be manufactured and joined according to the procedure described for the implementation of Fig. 2. Other characteristics of the substrate layers 1600, 1700, 1800 and of the plate 1900 flanges are followed from the descriptions given with respect to layers 400, 500, 600 and flange plate 700.

Módulo de circuito con circuitería ajustable de microcinta Circuit module with adjustable microcircle circuitry

La Fig. 20 muestra una realización de un conjunto 2000 de un módulo de circuitos adecuado para su uso en aplicaciones de amplificación de potencia y en el cual la circuitería integrada de procesamiento de señales incluye tanto circuitería fijada de línea de cinta como circuitería ajustable de microcinta de procesamiento de señales. La circuitería de microcinta se forma mediante impresión (es decir, depositando y decapando metal) en una cara de una capa de sustrato. En el módulo 2000, la circuitería de microcinta queda expuesta al aire tras la unión del conjunto y hay un plano de tierra en una cara opuesta de la capa del sustrato que contiene esa circuitería. La circuitería fijada de procesamiento de señales incluye circuitería de línea de cinta que está entre dos capas de sustrato. Además, las dos capas de sustrato están colocadas entre planos de tierra. Fig. 20 shows an embodiment of an assembly 2000 of a circuit module suitable for use in power amplification applications and in which the integrated signal processing circuitry includes both tape line fixed circuitry and micro-tape adjustable circuitry Signal processing The micro-tape circuitry is formed by printing (i.e. depositing and stripping metal) on one side of a substrate layer. In module 2000, the micro-tape circuitry is exposed to the air after the assembly is attached and there is a ground plane on an opposite side of the substrate layer containing that circuitry. The fixed signal processing circuitry includes tape line circuitry that is between two layers of substrate. In addition, the two layers of substrate are placed between ground planes.

Las características de procesamiento de señales de la circuitería ajustable de procesamiento de señales pueden ser alteradas por medio de la conexión de componentes de circuitería a los contactos de señales en una superficie al descubierto de una capa de sustrato. Más en particular, el conjunto 2000 incluye entradas 2001 y salidas 2002 que están acopladas a la circuitería fijada de procesamiento de señales integrada en las zonas 2003 y 2004 del sustrato. Las señales procedentes de la circuitería fijada de procesamiento de señales son acopladas a la circuitería ajustable de señales formada en las zonas 2005 y 2005 a partir de metal depositado y decapado en una superficie de una capa de sustrato y a partir de un plano de tierra integrado en una superficie opuesta. Las señales procedentes de esa circuitería ajustable son acopladas, a su vez, a conexiones de señales adyacentes al pozo 2007 de recursos. Puede añadirse un amplificador de potencia u otro circuito en el pozo 2007 de recursos con posterioridad a la unión del conjunto 2000. La circuitería añadida en el pozo 2007 de recursos puede ser acoplada térmicamente a una capa de reborde metálico al descubierto dentro del pozo 2007 de recursos y a contactos eléctricos de señales en los bordes del pozo de recursos. Los contactos eléctricos en el borde del pozo 2007 permiten el acoplamiento de la circuitería añadida en el pozo 2007 a la circuitería ajustable de procesamiento de señales formada en las zonas 2005 y 2006. Mediante la adición de componentes de circuito a los contactos de señales al descubierto en la superficie de las zonas 2005, 2006, pueden cambiarse las características eléctricas de la circuitería ajustable en las zonas 2005, 2006. The signal processing characteristics of the adjustable signal processing circuitry can be altered by connecting circuitry components to the signal contacts on a bare surface of a substrate layer. More particularly, the set 2000 includes inputs 2001 and outputs 2002 that are coupled to the fixed signal processing circuitry integrated in zones 2003 and 2004 of the substrate. The signals from the fixed signal processing circuitry are coupled to the adjustable signal circuitry formed in zones 2005 and 2005 from deposited and stripped metal on a surface of a substrate layer and from a ground plane integrated into an opposite surface. The signals from that adjustable circuitry are, in turn, coupled to signal connections adjacent to the resource well 2007. A power amplifier or other circuit may be added in the resource well 2007 after joining the assembly 2000. The circuitry added in the resource well 2007 can be thermally coupled to a bare metal flange layer within the well 2007 resources and electrical signal contacts at the edges of the resource well. The electrical contacts at the edge of well 2007 allow the coupling of the added circuitry in well 2007 to the adjustable signal processing circuitry formed in zones 2005 and 2006. By adding circuit components to the bare signal contacts On the surface of zones 2005, 2006, the electrical characteristics of the adjustable circuitry in zones 2005, 2006 can be changed.

La Fig. 21 muestra el conjunto de la Fig. 20 con componentes de circuito añadidos. Por ejemplo, la Fig. 21 muestra el conjunto 2000 con un transistor 2110 de potencia colocado dentro del pozo 2007 de recursos, condensador 21022107 de chip, resistencias 2108 y hoja 2109 de cobre de interconexión añadidos en las zonas 2005, 2006 de la superficie. La circuitería añadida 2102-2109 puede llevar a cabo la función de adaptación de la impedancia entre el transistor 2110 y circuitería fijada integrada creada en las zonas 2003, 2004. Fig. 21 shows the assembly of Fig. 20 with added circuit components. For example, Fig. 21 shows the assembly 2000 with a power transistor 2110 placed inside the resource well 2007, chip capacitor 21022107, resistors 2108 and interconnecting copper sheet 2109 added in the areas 2005, 2006 of the surface. The added circuitry 2102-2109 can perform the impedance matching function between transistor 2110 and integrated fixed circuitry created in zones 2003, 2004.

Las Figuras 22A, 22B y 22C son vistas superior, inferior y lateral de la estructura 2000. Según se ve en la Fig. 22C, el conjunto 2000 está formado de tres capas: una capa 2210 de reborde metálico, una capa intermedia 2220 de sustrato compuesto y una capa superior 2230 de sustrato compuesto. Las Figuras 23A, 23B, 24A, 24B, 25A y 25B muestran vistas superiores e inferiores de las capas 2210,2220 y 2230. El procedimiento usado para la construcción de las capas 2210, 2220 y 2230 puede ser el mismo que para la construcción, por ejemplo, de las capas 400, 500 y 700 de la Fig. 1. Además, aunque la realización 2000 incluye solamente una única capa intermedia 2220, las implementaciones pueden tener múltiples capas intermedias, incluyendo cada una de ellas circuitería integrada e incluyendo elementos conductores que pueden ser conectados entre sí por medio de vías de interconexión. Figures 22A, 22B and 22C are top, bottom and side views of structure 2000. As seen in Fig. 22C, assembly 2000 is formed of three layers: a metal flange layer 2210, an intermediate substrate layer 2220 compound and a top layer 2230 of composite substrate. Figures 23A, 23B, 24A, 24B, 25A and 25B show top and bottom views of layers 2210,2220 and 2230. The procedure used for the construction of layers 2210, 2220 and 2230 may be the same as for construction, for example, of layers 400, 500 and 700 of Fig. 1. Furthermore, although embodiment 2000 includes only a single intermediate layer 2220, implementations may have multiple intermediate layers, each including integrated circuitry and including conductive elements. which can be connected to each other through interconnection paths.

La Fig. 26A muestra otra implementación de un módulo acoplador configurado de tal forma que puedan añadirse múltiples amplificadores de potencia dentro del pozo de recursos del módulo. La Fig. 26B muestra el módulo de la Fig. 26A con elementos de circuito añadidos a la circuitería de microcinta formada sobre el módulo. Las Figuras 2730 muestran la construcción de capas del módulo de las Figuras 26A y 26B. Fig. 26A shows another implementation of a coupler module configured in such a way that multiple power amplifiers can be added into the module resource well. Fig. 26B shows the module of Fig. 26A with circuit elements added to the micro-tape circuitry formed on the module. Figures 2730 show the construction of layers of the module of Figures 26A and 26B.

Se hace notar, además, que, aunque se han dado a conocer capas de sustrato compuesto de flouropolímero como una realización, las implementaciones pueden usar otros tipos de capas de sustrato, por ejemplo capas de sustrato de cerámica. De manera similar, aunque la unión por fusión resulta preferible para capas de sustrato compuesto de flouropolímero, en algunas implementaciones pueden usarse otros procedimientos de unión (por ejemplo, películas de unión adhesiva). En consecuencia, otras realizaciones están dentro del alcance de las reivindicaciones siguientes. It is further noted that, although flouropolymer composite substrate layers have been disclosed as an embodiment, implementations can use other types of substrate layers, for example ceramic substrate layers. Similarly, although fusion bonding is preferable for layers of flouropolymer composite substrate, in some implementations other bonding methods (eg, adhesive bonding films) may be used. Accordingly, other embodiments are within the scope of the following claims.

Claims (15)

REIVINDICACIONES 1. Un conjunto dieléctrico (2000) que comprende: 1. A dielectric assembly (2000) comprising: una pluralidad de capas (2220, 2230) de sustrato que comprende una capa superior y una o más capas intermedias, estando unida conjuntamente la pluralidad de capas de sustrato en una disposición estratificada en el que dichas capas (2220, 2230) de sustrato comprenden una circuitería integrada de procesamiento de señales, comprendiendo dicha circuitería integrada de procesamiento de señales una circuitería fijada (2003, 2004) de procesamiento de señales y una circuitería ajustable (2005, 2006) de procesamiento de señales; a plurality of substrate layers (2220, 2230) comprising an upper layer and one or more intermediate layers, the plurality of substrate layers being joined together in a stratified arrangement in which said substrate layers (2220, 2230) comprise a integrated signal processing circuitry, said integrated signal processing circuitry comprising a fixed signal processing circuitry (2003, 2004) and an adjustable signal processing circuitry (2005, 2006); una entrada (2001) de señales y una salida (2002) de señales, conectada cada una a la circuitería integrada de procesamiento de señales; y an input (2001) of signals and an output (2002) of signals, each connected to the integrated signal processing circuitry; Y una cavidad (2007) formada a través de las capas superior e intermedias, estando configurada dicha cavidad para recibir un elemento de circuito añadido al conjunto después de la unión de las capas de sustrato y exponiendo dicha cavidad (2007) terminales de conexión de señales conectados al circuito integrado de procesamiento de señales para permitir la conexión del elemento de circuito añadido a dicha circuitería integrada de procesamiento de señales; y a cavity (2007) formed through the upper and intermediate layers, said cavity being configured to receive a circuit element added to the assembly after joining the substrate layers and exposing said cavity (2007) connected signal connection terminals to the integrated signal processing circuit to allow connection of the added circuit element to said integrated signal processing circuitry; Y en el que in which la circuitería fijada (2003, 2004) de procesamiento de señales actúa alterando las características eléctricas de las señales acopladas a esa circuitería y en el que las características de alteración de dicha circuitería fijada están predeterminadas en el momento de la unión de las capas de sustrato, the fixed circuitry (2003, 2004) of signal processing acts by altering the electrical characteristics of the signals coupled to that circuitry and in which the alteration characteristics of said fixed circuitry are predetermined at the time of joining the substrate layers, caracterizándose dicho conjunto dieléctrico porque said dielectric assembly being characterized because la circuitería ajustable (2005, 2006) de procesamiento de señales actúa alterando las características eléctricas de las señales acopladas a esa circuitería y en el que las características de alteración de dicha circuitería ajustable pueden ser cambiadas con posterioridad a la unión de las capas de sustrato por medio de la conexión de los componentes (2102-2109) de circuito a las conexiones de las vías de señales en las zonas al descubierto de la superficie del sustrato; The adjustable signal processing circuitry (2005, 2006) acts by altering the electrical characteristics of the signals coupled to that circuitry and in which the alteration characteristics of said adjustable circuitry can be changed after joining the substrate layers by means of connecting the circuit components (2102-2109) to the connections of the signal paths in the exposed areas of the substrate surface; la circuitería fijada (2003, 2004) de procesamiento de señales comprende unas circuiterías fijadas primera y segunda de adaptación de la impedancia; the fixed signal processing circuitry (2003, 2004) comprises first and second set impedance matching circuitry; la circuitería ajustable (2005, 2006) de procesamiento de señales comprende unas circuiterías ajustables primera y segunda de adaptación de la impedancia; The adjustable signal processing circuitry (2005, 2006) comprises first and second adjustable impedance matching circuitry; la primera circuitería fijada de adaptación de la impedancia está conectada entre la entrada (2001) de señales y la primera circuitería ajustable de adaptación de la impedancia; the first impedance matching circuitry is connected between the signal input (2001) and the first impedance matching adjustable circuitry; la segunda circuitería fijada de adaptación de la impedancia está conectada entre la salida (2002) de señales y la segunda circuitería ajustable de adaptación de la impedancia; the second impedance matching circuitry is connected between the signal output (2002) and the second impedance matching circuitry; la primera circuitería ajustable de adaptación de la impedancia está conectada, además, a los terminales de conexión de señales en la cavidad (2007); the first adjustable impedance matching circuitry is also connected to the signal connection terminals in the cavity (2007); la segunda circuitería ajustable de adaptación de la impedancia está conectada, además, a los terminales de conexión de señales en la cavidad (2007); y the second adjustable impedance matching circuitry is also connected to the signal connection terminals in the cavity (2007); Y la circuitería fijada y ajustable (2003, 2004 2005, 2006) de procesamiento de señales permite la adaptación de la impedancia entre la entrada (2001) de señales y los terminales de conexión de señales en la cavidad (2007) y entre la salida (2002) de señales y los terminales de conexión de señales en la cavidad (2007). the fixed and adjustable circuitry (2003, 2004 2005, 2006) of signal processing allows the impedance to be adapted between the signal input (2001) and the signal connection terminals in the cavity (2007) and between the output (2002 ) of signals and signal connection terminals in the cavity (2007). 2. El conjunto de la reivindicación 1 en el que: 2. The assembly of claim 1 wherein: la circuitería ajustable (2005, 2006) de procesamiento de señales comprende una circuitería de microcinta que comprende circuitería impresa formada en una cara de la primera de las capas de sustrato, quedando expuesta al aire dicha cara de la primera capa de sustrato tras la unión de las capas de sustrato y estando situada también dicha microcinta entre dicha cara expuesta al aire y un plano de tierra en la otra cara; y The adjustable signal processing circuitry (2005, 2006) comprises a micro-tape circuitry comprising printed circuitry formed on a face of the first of the substrate layers, said face of the first substrate layer being exposed to the air after joining the substrate layers and said micro tape also being located between said face exposed to the air and a ground plane on the other face; Y la circuitería fijada (2003, 2004) de procesamiento de señales comprende una circuitería de microcinta que comprende circuitería impresa encajonada entre dos capas de sustrato en el que dichas dos capas de sustrato están situadas, además, entre planos de tierra. The fixed signal processing circuitry (2003, 2004) comprises a micro-tape circuitry comprising printed circuitry encased between two substrate layers in which said two substrate layers are also located between ground planes.
3. 3.
El conjunto de la reivindicación 2 en el que dichos planos de tierra se forman metalizando caras de las capas de sustrato. The assembly of claim 2 wherein said ground planes are formed by metallizing faces of the substrate layers.
4. Four.
El conjunto de la reivindicación 1 en el que la circuitería integrada de procesamiento de señales comprende, además, circuitería acopladora de microondas. The assembly of claim 1 wherein the integrated signal processing circuitry further comprises microwave coupler circuitry.
5. 5.
El conjunto de la reivindicación 1 en el que: The assembly of claim 1 wherein:
las características de adaptación de la impedancia de la circuitería ajustable (2005, 2006) de procesamiento de señales son alterables por medio de la adición de componentes discretos (2102-2109) de circuito a las conexiones de las vías de señales en dichas zonas al descubierto de la superficie del sustrato, de tal forma que, mediante la adición de dichos componentes discretos (2102-2109) de circuito, se presenta un nivel de impedancia configurado por el usuario a la circuitería fijada (2003, 2004) en un punto de conexión entre la circuitería fijada y la ajustable. The adaptive characteristics of the impedance of the adjustable circuitry (2005, 2006) of signal processing are alterable by means of the addition of discrete circuit components (2102-2109) to the connections of the signal paths in said exposed areas of the substrate surface, such that, by adding said discrete circuit components (2102-2109), an impedance level configured by the user is presented to the circuitry set (2003, 2004) at a connection point between the fixed and adjustable circuitry.
6. 6.
El conjunto de la reivindicación 1 en el que dicha circuitería integrada de procesamiento de señales comprende, además, circuitería seleccionada del grupo que comprende circuitería de bloqueo de CC, circuitería de polarización de CC y una terminación de carga de RF. The assembly of claim 1 wherein said integrated signal processing circuitry further comprises circuitry selected from the group comprising DC blocking circuitry, DC polarization circuitry and an RF load termination.
7. 7.
El conjunto de la reivindicación 6 en el que el conjunto está configurado para la adición de un elemento añadido de circuito a la cavidad (2007), seleccionándose dicho elemento de circuito del grupo que comprende un circuito de microondas, un transistor, un diodo varactor, un diodo PIN y un diodo de Schottky. The assembly of claim 6 wherein the assembly is configured for the addition of an added circuit element to the cavity (2007), said circuit element being selected from the group comprising a microwave circuit, a transistor, a varactor diode, a PIN diode and a Schottky diode.
8. 8.
El conjunto de la reivindicación 1 en el que: The assembly of claim 1 wherein:
el conjunto comprende, además, una capa (2210) de reborde y la cavidad (2007) deja al descubierto una superficie superior de la capa (2210) de reborde, lo que permite el acoplamiento del elemento de circuito añadido en la cavidad (2007) con la capa (2210) de reborde. The assembly further comprises a flange layer (2210) and the cavity (2007) exposes an upper surface of the flange layer (2210), which allows coupling of the added circuit element into the cavity (2007) with the flange layer (2210).
9. 9.
El conjunto de la reivindicación 8 en el que dicha capa (2210) de reborde comprende un núcleo metálico sustancialmente homogéneo y dichas capas (2220, 2230) de sustrato compuesto comprenden material compuesto de flouropolímero. The assembly of claim 8 wherein said flange layer (2210) comprises a substantially homogeneous metal core and said composite substrate layers (2220, 2230) comprise flouropolymer composite material.
10. 10.
El conjunto de la reivindicación 1 en el que las capas (2220, 2230) de sustrato comprenden capas de sustrato cerámico que están unidas mediante adhesivo. The assembly of claim 1 wherein the substrate layers (2220, 2230) comprise ceramic substrate layers that are bonded by adhesive.
11. eleven.
El conjunto de la reivindicación 9 en el que el acoplamiento del elemento de circuito añadido a la capa (2210) de reborde comprende un acoplamiento térmico entre dicho elemento de circuito y la capa (2210) de reborde. The assembly of claim 9 wherein the coupling of the circuit element added to the flange layer (2210) comprises a thermal coupling between said circuit element and the flange layer (2210).
12. 12.
El conjunto de la reivindicación 11 en el que dicha capa (2210) de reborde consiste en dicho núcleo metálico y revestimientos metálicos añadidos a las superficies de dicho núcleo metálico. The assembly of claim 11 wherein said flange layer (2210) consists of said metal core and metal coatings added to the surfaces of said metal core.
13. 13.
El conjunto de la reivindicación 12 en el que dichos revestimientos metálicos añadidos a la superficie comprenden un metal que inhibe la oxidación de dicho núcleo metálico. The assembly of claim 12 wherein said metal coatings added to the surface comprise a metal that inhibits the oxidation of said metal core.
14. 14.
El conjunto de la reivindicación 1 en el que las vías de señales en diferentes superficies de sustrato están conectadas por medio de agujeros metalizados de interconexión. The assembly of claim 1 wherein the signal paths on different substrate surfaces are connected by means of metallic interconnecting holes.
15. fifteen.
Un procedimiento de fabricación de un conjunto (2000) según una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 14. A method of manufacturing an assembly (2000) according to any one of claims 1 to 14.
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