EP4483441A1 - Prüfvorrichtung und verfahren zum prüfen von segmenten für die energiezellen produzierende industrie - Google Patents

Prüfvorrichtung und verfahren zum prüfen von segmenten für die energiezellen produzierende industrie

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Publication number
EP4483441A1
EP4483441A1 EP23705501.7A EP23705501A EP4483441A1 EP 4483441 A1 EP4483441 A1 EP 4483441A1 EP 23705501 A EP23705501 A EP 23705501A EP 4483441 A1 EP4483441 A1 EP 4483441A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
contact
receiving sections
segments
testing device
contact surfaces
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
EP23705501.7A
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Nils Klaper
Jan Kreysern
Karsten Meinke
Johannes Müller
Christian Frédéric ADOLFF
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koerber Technologies GmbH
Original Assignee
Koerber Technologies GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Koerber Technologies GmbH filed Critical Koerber Technologies GmbH
Publication of EP4483441A1 publication Critical patent/EP4483441A1/de
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01M—PROCESSES OR MEANS, e.g. BATTERIES, FOR THE DIRECT CONVERSION OF CHEMICAL ENERGY INTO ELECTRICAL ENERGY
    • H01M10/00—Secondary cells; Manufacture thereof
    • H01M10/42—Methods or arrangements for servicing or maintenance of secondary cells or secondary half-cells
    • H01M10/4285—Testing apparatus
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
    • Y02E60/10—Energy storage using batteries

Definitions

  • the present invention relates to a testing device having the features of the preamble of claim 1 and a corresponding method having the features of the preamble of claim 12.
  • Energy cells or energy storage cells are used for galvanic accumulators, for example in motor vehicles, other land vehicles, ships and airplanes, in which a considerable amount of energy has to be stored so that it can be called up over longer periods of time.
  • energy cells have a structure made up of a large number of segments stacked to form a stack, referred to below as cell stack. These segments are formed by mono cells, for example.
  • Monocells are each alternating anode sheets and cathode sheets, also known as electrodes, separated from each other by separator sheets.
  • a mono cell thus typically has the layer sequence: separator - anode - separator - cathode.
  • the segments are pre-cut in the manufacturing process and then placed on top of each other to form the cell stacks in the predetermined order and connected to one another by lamination.
  • Devices for producing battery cells are known, for example, from WO 2016/041713 A1 and DE 10 2017 216 213 A1. It can happen that the segments are damaged during the manufacturing process. In the case of segments in the form of mono cells, for example, it can happen that the separator is damaged during production. If a mono cell with a damaged separator is used to form the cell stack, this can have a negative impact on functionality and service life.
  • Energy cells can also be fuel cells or solar cells, for example, segments of which can also be damaged during production.
  • test processes must be carried out taking into account the production output and the conveying speed of today's production systems. It is therefore known in principle from the prior art to provide test devices that travel with the segments in the production process and test the segments alternately. For this purpose, the test device actively contacts so-called conductor lugs, which are part of the electrodes. With such test methods, however, the performance of the machine is limited due to the discontinuous movements. Furthermore, the segments can be damaged when making contact with the conductor lugs.
  • the object of the present application is to provide an improved testing device for testing segments and a corresponding method.
  • the object is solved by the features of the independent claims. Further preferred embodiments of the invention can be found in the dependent claims, the figures and the associated description.
  • a testing device for testing segments that are suitable for forming a cell stack for the energy cell manufacturing industry is proposed, with a conveyor device having a plurality of receiving sections for receiving and transporting one segment each, with the receiving sections being activated by a movement of the conveying device can be moved relative to a stationary part of the testing device, the receiving sections each comprising at least two contact surfaces for electrical and/or signaling contacting of a segment received in the respective receiving section.
  • the segments positioned in the receiving sections can be transported by means of the conveyor device, it being possible for the segments to be checked during the transport process by means of the contact surfaces. For example, based on a measurement of the ohmic resistance between the at least two, preferably exactly two, contact surfaces, conclusions can be drawn about the system state of the respective segment. For example, if the segment is formed by a monocell as described above, then the ohmic resistance between two electrodes can decrease if the separator arranged between these electrodes is damaged. Furthermore, the contact surfaces as part of the receiving sections offer the advantage that an extremely gentle electrical contacting of the segment is made possible.
  • the segment to be tested lies with a separator on a contact surface of the respective receiving section, followed by an electrode, for example an anode, a further separator and a further electrode, for example a cathode.
  • an electrode for example an anode
  • a further separator for example a cathode.
  • the electrodes usually have the conductor lugs already mentioned at the outset, which protrude beyond the base area of the separators.
  • the arrester lugs also have a very small layer thickness and are therefore extremely sensitive.
  • the contact surfaces which are preferably aligned parallel to the contact surface of the receiving sections, allow the conductor lugs to be contacted in a particularly gentle manner. In order to improve the contact between the collector tabs and the contact surfaces, the contact surfaces can also protrude from the plane of the contact surface, so that the contact surfaces press against the collector tabs.
  • the conveying device is preferably formed by a drum which is mounted so as to be rotatable about an axis element and on the radially outer lateral surface of which the receiving sections are arranged.
  • the segments to be checked can be conveyed by means of a rotary movement, which is particularly simple and efficient.
  • the conveying device can also be formed by a linear conveying system, for example by a belt system.
  • the surface of the band has receiving sections with the respective contact surfaces.
  • the receiving sections each include a contact surface for supporting a segment, which is electrically insulated from the contact surfaces.
  • the cell stack can thus be reliably supported by the contact surface, while the conductor lugs are in contact with the contact surfaces for the purpose of electrical and/or signaling contact. In this way it can be ensured that the measurement of electrical parameters carried out via the contact surfaces is not adversely affected.
  • This can preferably be implemented by the contact surface being made of an electrically non-conductive material and the contact surfaces being electrically conductive.
  • the contact surfaces of the receiving sections can preferably be connected signal-wise and/or electrically to at least one measuring device. More preferably, the contact surfaces of each receiving section can be selectively connected to the at least one measuring device. In this way, a separate measuring device does not have to be provided for each receiving section, rather the contact surfaces of the receiving sections can be connected separately to the at least one measuring device
  • the signaling and/or electrical connection of one or more contact surfaces of a specific receiving section with the at least one measuring device can preferably be established and/or interrupted depending on the position of the conveyor device relative to the stationary part.
  • several measuring devices for measuring different parameters can also be provided, for example, which can be connected to the contact surfaces of a receiving section in succession or in parallel.
  • the at least one measuring device is preferably part of the stationary part. Thus, the measuring device does not have to be moved with the conveyor.
  • the signaling and/or electrical connection of one or more of the contact surfaces of one of the receiving sections to the at least one measuring device can be produced by means of at least one sliding contact device.
  • the sliding contact device can include, for example, contact skids and contact brushes that can be contacted with one another.
  • the contact skids which can be connected to the contact brushes on the radially inner surface of the drum, can be arranged, for example, on the radially outer lateral surface of the axle element.
  • the contact skids preferably do not extend over the entire circumference of the axle element, but only over a circumferential section, so that contacting of the contact surfaces of a receiving section is possible in a targeted manner for the period of time in which the respective contact brushes are in contact with the contact skids.
  • a reverse arrangement of the contact skids and the contact brushes is also possible, in which the contact brushes are arranged on the radially outer lateral surface of the axle element and the contact skids on the radially inner surface of the drum.
  • the signaling and/or electrical connection of one or more of the contact surfaces of a receptacle can Section with the at least one measuring device also take place through contactless transmission systems.
  • a plurality of measuring devices be provided, with the signaling and/or electrical connection of the contact surfaces of two or more receiving sections each having a different measuring device being able to be established in a temporally overlapping manner. Only a limited section of the movement device is available for the measurement process. Due to the temporal overlap when connecting, for example, adjacent recording sections with different measuring devices, the measuring process can be parallelized at least partially. A longer measurement interval is thus available overall for the measurements with each of the measuring devices, as a result of which higher-quality measurement results can be generated. Due to the design of the parallel connection, a parameter is available with which the available measuring time can be set independently of the production speed.
  • the receiving sections preferably each comprise a first and a second contact surface, which are arranged in the respective receiving section so as to be electrically isolated from one another. More preferably, the first and second contact surfaces are arranged in the respective receiving section in such a way that a segment positioned therein rests with its first electrode on the first contact surface and with its second electrode on the second contact surface. It has been shown that with such an arrangement of the contact surfaces, an efficient test of the respective segment can be carried out.
  • the segment is preferably a monocell with the four-layer structure described at the outset.
  • the disclosure content of this application should also explicitly include the proposed device together with one segment or several segments, for example in the form of the monocell, which is/are mounted in the receiving sections.
  • the receiving sections each have openings which can be subjected to a negative pressure in order to hold the segments. Holding the segments, in particular the collector tabs, can be done particularly gently by means of a vacuum, because there is no need for grippers or clamps that could damage the collector tabs.
  • the openings can be arranged on the contact surface and/or on the contact surfaces. Furthermore, the openings can be formed, for example, by retaining bores or by the pores of an air-permeable material.
  • the object mentioned at the outset is also achieved by a method for testing segments that are intended to form a cell stack for the energy cell-producing industry, the segments being tested by the testing device according to one of the preceding claims, the segments to be tested each being in a of the receiving sections are positioned.
  • the segments are checked while the conveyor is moving relative to the stationary part.
  • the detection of a defective segment can then lead to eject the segment from the manufacturing process; this can be done by means of the testing device itself or by means of a separate device, for example an ejection drum.
  • FIG. 1 shows a perspective view of a testing device
  • FIG. 4 shows a sectional view of a test device.
  • FIG. 1 shows a perspective view of a testing device 1 for testing segments 2, the segments 2 being suitable for forming cell stacks for the industry producing energy cells.
  • Battery cells can be formed by stacking such segments 2 on top of one another to form a cell stack (not shown).
  • the segment 2 shown in FIG. 1 has a four-layer structure with the layer sequence separator-electrode (for example anode)-separator-electrode (for example cathode). Segment 2 is therefore a so-called mono cell.
  • the testing device 1 of FIG. 1 can be arranged, for example, between a device (not shown) for producing the segments 2 and a cell stacking device (also not shown) for forming cell stacks.
  • the testing device 1 comprises a conveyor device 3 in the form of a drum, which is rotatably mounted on an axle element 8 so that it rotates about an axis of rotation 14 during operation. Furthermore, the testing device 1 comprises a plurality of measuring devices 10a, 10b, two of which are shown schematically.
  • the measuring devices 10a, 10b can be set up, for example, to measure an ohmic resistance. Of course, in principle measuring devices 10a, 10b are also conceivable, with which other parameters can be measured.
  • the axle element 8 and the measuring devices 10a, 10b are part of a stationary part 5 of the testing device 1, which therefore does not rotate with the conveyor device 8.
  • FIG. 1 also shows that a plurality of receiving sections 4 are arranged on the radially outer lateral surface of the drum-shaped conveyor device 3 and are each set up to receive a segment 2 .
  • the individual receiving sections 4 are each structurally separated from one another by a groove 15 , the grooves 15 being aligned parallel to an axis of rotation 14 of the conveying device 3 .
  • the conveyor device 2 can be rotated continuously or discontinuously by means of a drive unit, not shown. Only one of the receiving sections 4 is occupied by a segment 2 in FIG. In principle, however, several of the receiving sections 4 can also be occupied by a segment 2 in parallel during operation.
  • Each receiving section 4 comprises a first contact surface 6 and a second contact surface 7 with which the electrodes of the segment 2 mounted in the receiving section 4 can be contacted.
  • the contact surfaces 6, 7 are arranged in such a way that they make contact with so-called conductor lugs 16, 17, which are each part of one of the electrodes of the segment 2.
  • the segment 2 is in electrically conductive contact with the first contact surface 6 in the receiving section 4 by means of a first collector lug 11, which is part of an anode here.
  • a second conductor tab 12 which is part of a cathode here, is in electrically conductive contact with the second contact surface 7.
  • the segments 2 rest on contact surfaces 9, which in this exemplary embodiment are designed to be electrically non-conductive. So that the respective segment 2 can be held reliably and gently in the receiving section 4, openings (not shown) are provided on the contact surface 9 and the contact surfaces 6 and 7, which can be subjected to a negative pressure. Thus, the segments 2 can be gently held in the receiving section 4 due to the pressure difference that occurs in relation to the environment.
  • FIG. 2 shows an axle element 8 comprising a cylindrical outer surface 19 and a flange 18 at one end, which forms a stop for the drum-shaped conveyor device 3 (cf. FIG. 1) rotatably mounted on the axle element 8 .
  • the contact skids 20a, 20b as part of the sliding contact devices 13 are arranged radially on the outside on a cylindrical lateral surface 19 of the axle element 8 and that they extend over a partial section of the circumference. It can also be seen that the contact skids 20a, 20b are arranged in pairs. Although the individual contact skids 20a, 20b of a contact skid pair 23, 24 have the same length and arrangement in the circumferential direction in relation to the axis of rotation 14, they are arranged one behind the other in the direction of the axis of rotation 14. A first pair of contact runners 23 is associated with the first contact surfaces 6 and a second pair of contact runners 24 is associated with the second contact surfaces 7 .
  • the two contact skids 20a of the first and second contact skid pair 23 and 24 are electrically connected to a first measuring device 10a, while the two contact skids 20b of the first and second contact skid pair 23 and 24 are electrically connected to a second measuring device 10b.
  • the arrangement of the contact skids 20a and 20b in pairs allows the contact surfaces 6, 7 of adjacent receiving sections 4 to be connected to the measuring device 10a and 10b in a time-overlapping manner, that is to say connected in parallel.
  • FIG. 3 shows the contact brushes 21a, 21b arranged on the radially inner surface 22 of the drum-shaped conveying device 3, which can be contacted with the contact skids 20a, 20b shown in FIG. 2, depending on the rotational position of the conveying device 3 relative to the axle element 8.
  • the contact brush th 21a and 21b of adjacent receiving sections 4 have an offset in the direction of the axis of rotation 14, so that the contact brush 21a can be contacted with the contact skid 20a and the contact brush 21b with the contact skid 20b.
  • the contact skids 20a, 20b of a pair of contact skids 23, 24 (cf. FIG. 2) can be contacted alternately by the corresponding contact brushes 21a and 21b of adjacent receiving sections 4.
  • each of the contact surfaces 6, 7 is assigned its own contact brush 21a, 21b.
  • FIG. 4 shows the testing device 1 in a sectional view with a section orthogonal to the axis of rotation 14 in the plane of the first contact surfaces 6.
  • a segment 2 is mounted in a receiving section 4b, which is adjacent to the receiving section 4a.
  • a contact surface 6b of the receiving section 4b is shown, against which the conductor tab 11 of the segment 2 rests in an electrically conductive manner.
  • the contact surface 6b is in contact with a contact skid 20b (cf. FIG. 2), which cannot be seen in this sectional plane, and which is arranged behind the contact skid 20a shown here.
  • the contact skid 20b is covered by the contact skid 20a.
  • the receiving portion 4a adjacent to the receiving portion 4b comprises a contact surface 6a which, by means of the contact brush 21a, rests in an electrically conductive manner on the contact skid 20a visible in this sectional plane.
  • the contact brushes 21a and 21b of adjacent receiving sections 4a and 4b thus contact different contact runners 20a and 20b of one and the same contact runner pair 23 at the same time Contact skid 20a lifted, while the contacting of the contact brush 21b with the contact skid 20b still exists for a further defined rotational movement.
  • the measuring devices 10a and 10b (cf. FIGS. 1 and 2) can thus be electrically conductively connected to the contact surfaces 6, 7 of adjacent receiving sections 4a, 4b via the sliding contact devices 13 separately, but with a time overlap. Each of the measuring devices 10a, 10b is thus always only connected to the contact surfaces 6, 7 of a receiving section 4a or 4b.
  • the assignment of the contact brushes 21a, 21b and contact skids 20a, 20b to the conveyor device 3 and axle element 8 can also be interchanged, so that the contact brushes 21 can also be assigned to the axle element 8 and the contact skids 20 can also be assigned to the conveyor device 3.

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Abstract

Prüfvorrichtung (1) zum Prüfen von Segmenten (2), die zur Bildung eines Zellstapels für die Energiezellen produzierende Industrie geeignet sind, wobei eine Fördereinrichtung (3) mit mehreren Aufnahmeabschnitten (4) zum Aufnehmen und Transportieren jeweils eines Segments (2) vorgesehen ist, wobei die Aufnahmeabschnitte (4) durch eine Bewegung der Fördereinrichtung (3) relativ zu einem stationären Teil (5) der Prüfvorrichtung (1) bewegbar sind, wobei die Aufnahmeabschnitte (4) jeweils wenigstens zwei Kontaktflächen (6, 7) zum elektrischen und/oder signaltechnischen Kontaktieren eines in dem jeweiligen Aufnahmeabschnitt (4) aufgenommenen Segments (2) umfassen.

Description

Prüfvorrichtung und Verfahren zum Prüfen von Segmenten für die Energiezellen produzierende Industrie
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung mit den Merkmalen des Oberbegriffs von Anspruch 1 sowie ein korrespondierendes Verfahren mit den Merkmalen des Oberbegriffs von Anspruch 12.
Energiezellen oder Energiespeicherzellen, etwa Batteriezellen, werden für galvanische Akkumulatoren, beispielsweise in Kraftfahrzeugen, sonstigen Landfahrzeugen, Schiffen und Flugzeugen, verwendet, bei denen eine erhebliche Energiemenge über größere Zeiträume abrufbar gespeichert werden muss. Dazu weisen solche Energiezellen eine Struktur aus einer Vielzahl von zu einem Stapel gestapelter Segmente auf, nachfolgend Zellstapel genannt. Diese Segmente werden beispielsweise durch Monozellen gebildet. Monozellen sind jeweils sich abwechselnde Anodenblätter und Kathoden- blätter, die auch als Elektroden bezeichnet werden, die durch Separatorblätter voneinander getrennt sind. Eine Monozelle weist damit typischerweise die Schichtfolge: Separator - Anode - Separator - Kathode auf.
Die Segmente werden in dem Herstellungsprozess vorgeschnitten und dann zu den Zellstapeln in der vorbestimmten Reihenfolge aufeinandergelegt und durch Laminieren miteinander verbunden.
Vorrichtungen zur Herstellung von Batteriezellen sind beispielsweise aus der WO 2016/041713 A1 und der DE 10 2017 216 213 A1 bekannt. Es kann vorkommen, dass die Segmente während des Herstellungsprozesses beschädigt werden. Bei Segmenten in Form von Monozellen kann es beispielsweise vorkommen, dass der Separator bei der Produktion beschädigt wird. Wird eine Monozelle mit beschädigtem Separator für die Bildung des Zellstapels verwendet, so kann dies die Funktionsfähigkeit und die Lebensdauer negativ beeinträchtigen.
Energiezellen können beispielsweise auch Brennstoffzellen oder Solarzellen sein, bei denen ebenfalls Segmente bei der Produktion beschädigt werden können.
Es ist daher prinzipiell aus dem Stand der Technik bekannt, Segmente vor dem Stapelvorgang zu prüfen und gegebenenfalls aus dem Fertigungsprozess auszuschleusen, so dass nur einwandfreie Segmente zur Bildung eines Zellstapels verwendet werden.
Solche Prüfvorgänge müssen unter Berücksichtigung der Produktionsleistung und der Fördergeschwindigkeit heutiger Produktionsanlagen erfolgen. Es ist daher prinzipiell aus dem Stand der Technik bekannt, mit den Segmenten im Produktionsprozess mitfahrende Testeinrichtungen vorzusehen, die alternierend die Segmente prüfen. Hierzu kontaktiert die Testeinrichtung aktiv sogenannte Ableiterfähnchen, die Bestandteil der Elektroden, sind. Bei solchen Prüfverfahren ist jedoch aufgrund der diskontinuierlichen Bewegungen die Leistung der Maschine begrenzt. Weiterhin können die Segmente bei der Kontaktierung der Ableiterfähnchen beschädigt werden.
Aufgabe der vorliegenden Anmeldung ist es, eine verbesserte Prüfvorrichtung zum Prüfen von Segmenten sowie ein korrespondierendes Verfahren bereitzustellen. Die Aufgabe wird durch die Merkmale der unabhängigen Ansprüche gelöst. Weitere bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung sind den Unteransprüchen, den Figuren und der dazugehörigen Beschreibung zu entnehmen.
Entsprechend wird zur Lösung der Aufgabe eine Prüfvorrichtung zum Prüfen von Segmenten, die zur Bildung eines Zellstapels für die Energiezellen produzierende Industrie geeignet sind, vorgeschlagen, wobei eine Fördereinrichtung mit mehreren Aufnahmeabschnitten zum Aufnehmen und Transportieren jeweils eines Segments vorgesehen ist, wobei die Aufnahmeabschnitte durch eine Bewegung der Fördereinrichtung relativ zu einem stationären Teil der Prüfvorrichtung bewegbar sind, wobei die Aufnahmeabschnitte jeweils wenigstens zwei Kontaktflächen zum elektrischen und/oder signaltechnischen Kontaktieren eines in dem jeweiligen Aufnahmeabschnitt aufgenommenen Segments umfassen.
Die in den Aufnahmeabschnitten positionierten Segmente können mittels der Fördereinrichtung transportiert werden, wobei während des Transportvorgangs mittels der Kontaktflächen eine Prüfung der Segmente vorgenommen werden kann. Es können beispielsweise auf Basis einer Messung des ohmschen Widerstandes zwischen den wenigstens zwei, vorzugsweise genau zwei, Kontaktflächen Rückschlüsse auf den Systemzustand des jeweiligen Segments gezogen werden. Wird beispielsweise das Segment durch eine eingangs beschriebene Monozelle gebildet, dann kann sich der ohmsche Widerstand zwischen zwei Elektroden verringern, wenn der zwischen diesen Elektroden angeordnete Separator beschädigt ist. Weiterhin bieten die Kontaktflächen als Bestandteil der Aufnahmeabschnitte den Vorteil, dass eine äußerst schonende elektrische Kontaktierung des Segments ermöglicht wird. Wird beispielsweise ein Segment in Form einer Monozelle verwendet, dann liegt das zu prüfende Segment mit einem Separator auf einer Anlagefläche des jeweiligen Aufnahmeabschnitts auf, gefolgt von einer Elektrode, beispielsweise einer Anode, einem weiteren Separator und einer weiteren Elektrode, beispielsweise einer Kathode. Damit die Elektroden elektrisch kontaktierbar sind, weisen diese üblicherweise die bereits eingangs erwähnten Ableiterfähnchen auf, die über die Grundfläche der Separatoren hinausragen. Die Ableiterfähnchen weisen weiterhin eine sehr geringe Schichtdicke auf und sind daher äußerst empfindlich. Durch die Kontaktflächen, die vorzugsweise parallel zu der Anlagefläche der Aufnahmeabschnitte ausgerichtet sind, können die Ableiterfähnchen besonders schonend kontaktiert werden. Um die Kontaktierung zwischen den Ableiterfähnchen und den Kontaktflächen zu verbessern, können die Kontaktflächen auch aus der Ebene der Anlagefläche herausragen, so dass die Kontaktflächen gegen die Ableiterfähnchen drücken.
Vorzugsweise ist die Fördereinrichtung durch eine um ein Achselement rotierbar gelagerte Trommel gebildet ist, an deren radial außen liegenden Mantelfläche die Aufnahmeabschnitte angeordnet sind. Somit können die zu prüfenden Segmente durch eine Rotationsbewegung befördert werden, was besonders einfach und effizient ist. Alternativ kann die Fördereinrichtung auch durch ein lineares Fördersystem gebildet sein, beispielsweise durch ein Bandsystem. In diesem Fall weist beispielsweise die Oberfläche des Bandes Aufnahmeabschnitte mit den jeweiligen Kontaktflächen auf. Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform wird vorgeschlagen, dass die Aufnahmeabschnitte jeweils eine Anlagefläche zum Lagern eines Segments umfassen, die von den Kontaktflächen elektrisch isoliert ist. Somit kann der Zellstapel zuverlässig durch die Anlagefläche gelagert werden, während die Ableiterfähnchen zwecks elektrischer und/oder signaltechnischer Kontaktierung an den Kontaktflächen anliegen. Auf diese Weise kann sichergestellt werden, dass die über die Kontaktflächen vorgenommene Messung elektrischer Parameter nicht negativ beeinträchtigt wird. Vorzugsweise kann dies umgesetzt werden, indem die Anlagefläche aus einem elektrisch nichtleitenden Material hergestellt ist und die Kontaktflächen elektrisch leitend sind.
Vorzugsweise sind die Kontaktflächen der Aufnahmeabschnitte mit wenigstens einer Messeinrichtung signaltechnisch und/oder elektrisch verbindbar. Weiter vorzugsweise sind die Kontaktflächen jeweils eines Aufnahmeabschnitts selektiv mit der wenigstens einen Messeinrichtung verbindbar. Auf diese Weise muss nicht für jeden Aufnahmeabschnitt eine eigene Messeinrichtung vorgesehen sein, sondern es können die Kontaktflächen der Aufnahmeabschnitte separat mit der wenigstens einen Messeinrichtung verschaltet werden
Vorzugsweise ist die signaltechnische und/oder elektrische Verbindung einer oder mehrerer Kontaktflächen eines bestimmten Aufnahmeabschnitts mit der wenigstens einen Messeinrichtungen in Abhängigkeit von der Position der Fördereinrichtung relativ zu dem stationären Teil herstellbar und/oder unterbrechbar. Weiterhin können beispielsweise auch mehrere Messeinrichtungen zur Messung unterschiedlicher Parameter vorgesehen sein, die mit den Kontaktflächen eines Aufnahmeabschnitts nacheinander oder parallel ver- schaltete werden können. So können durch Verschaltung der Kon- taktflächen mit verschiedenen Messeinrichtungen nacheinander unterschiedliche Messungen vorgenommen werden, ohne dass das Segment von den Kontaktflächen eines Aufnahmeabschnitts entnommen werden muss.
Vorzugsweise ist die wenigstens eine Messeinrichtung Bestandteil des stationären Teils. Somit muss die Messeinrichtung nicht mit der Fördereinrichtung bewegt werden.
Vorzugsweise ist die signaltechnische und/oder elektrische Verbindung einer oder mehrerer der Kontaktflächen jeweils eines der Aufnahmeabschnitte mit der wenigstens einen Messeinrichtung mittels wenigstens einer Schleifkontakteinrichtung herstellbar. Die Schleifkontakteinrichtung kann beispielsweise Kontaktkufen sowie Kontaktbürsten umfassen, die miteinander kontaktierbar sind. Hierzu können beispielsweise an der radial außen liegenden Mantelfläche des Achselements die Kontaktkufen angeordnet sein, die mit den Kontaktbürsten an der radial innenliegenden Fläche der Trommel verbindbar sein. Die Kontaktkufen erstrecken sich vorzugsweise nicht über den gesamten Umfang des Achselements, sondern lediglich über einen Umfangsabschnitt, so dass gezielt die Kontaktierung der Kontaktflächen eines Aufnahmeabschnitts für die Zeitspanne möglich ist, in der die jeweiligen Kontaktbürsten die Kontaktkufen kontaktieren. Es ist grundsätzlich auch eine umgekehrte Anordnung der Kontaktkufen und der Kontaktbürsten möglich, bei der die Kontaktbürsten an der radial außenliegenden Mantelfläche des Achselements angeordnet sind und die Kontaktkufen an der radial innenliegenden Fläche der Trommel.
Grundsätzlich kann die signaltechnische und/oder elektrische Verbindung einer oder mehrerer der Kontaktflächen eines Aufnahmeab- Schnitts mit der wenigstens einen Messeinrichtung auch durch kontaktlose Übertragungssysteme erfolgen.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform wird vorgeschlagen, dass eine Mehrzahl an Messeinrichtungen vorgesehen ist, wobei die signaltechnische und/oder elektrische Verbindung der Kontaktflächen zweier oder mehrerer Aufnahmeabschnitte mit jeweils unterschiedlichen Messeinrichtung zeitlich überlappend herstellbar ist. Für den Messvorgang steht nur ein begrenzter Abschnitt der Bewegungseinrichtung zur Verfügung. Durch die zeitliche Überlappung bei der Verbindung beispielsweise benachbarter Aufnahmeabschnitte mit unterschiedlichen Messeinrichtung kann der Messvorgang wenigstens teilweise parallelisiert werden. Es steht so für die Messungen mit jeder der Messeinrichtungen insgesamt ein längeres Messintervall zur Verfügung, wodurch qualitativ hochwertigere Messergebnisse generiert werden können. Durch die Auslegung der Parallelschaltung steht ein Parameter zur Verfügung, mit dem die verfügbare Messdauer unabhängig von der Produktionsgeschwindigkeit einstellbar ist.
Vorzugsweise umfassen die Aufnahmeabschnitte jeweils eine erste und eine zweite Kontaktfläche, die voneinander elektrisch isoliert in dem jeweiligen Aufnahmeabschnitt angeordnet sind. Weiter vorzugsweise sind die erste und zweite Kontaktfläche derart in dem jeweiligen Aufnahmeabschnitt angeordnet, dass ein darin positioniertes Segment mit seiner ersten Elektrode an der ersten Kontaktfläche und mit seiner zweiten Elektrode an der zweiten Kontaktfläche anliegt. Es hat sich gezeigt, dass mit einer solchen Anordnung der Kontaktflächen eine effiziente Prüfung des jeweiligen Segments durchführen lässt. Vorzugsweise handelt es sich bei dem Segment um eine Monozelle mit dem eingangs beschriebenen vierlagigen Aufbau. Zum Offenbarungsgehalt dieser Anmeldung soll auch explizit die vorgeschlagene Vorrichtung samt einem Segment oder mehreren Segmenten, beispielsweise in Form der Monozelle, zählen, das bzw. die in den Aufnahmeabschnitten gelagert ist bzw. sind.
Gemäß einer weiteren bevorzugten Ausführungsform weisen die Aufnahmeabschnitte jeweils Öffnungen auf, die zum Halten der Segmente mit einem Unterdrück beaufschlagbar sind. Das Halten der Segmente, insbesondere der Ableiterfähnchen, kann mittels Unterdrück besonders schonend erfolgen, weil auf Greifer oder Klemmen verzichtet werden kann, die die Ableiterfähnchen beschädigen können. Die Öffnungen können an der Anlagefläche und/oder an den Kontaktflächen angeordnet sein. Weiterhin können die Öffnungen beispielsweise durch Haltebohrungen oder durch die Poren eines luftdurchlässigen Materials gebildet sein.
Grundsätzlich sind jedoch auch mechanische Halterungen, beispielsweise Greifer oder Hebel, denkbar, um die Segmente mit den Kontaktflächen zu kontaktieren.
Die eingangs genannte Aufgabe wird weiterhin gelöst durch ein Verfahren zum Prüfen von Segmenten, die zur Bildung eines Zellstapels für die Energiezellen produzierende Industrie vorgesehen sind, wobei die Segmente durch die Prüfvorrichtung gemäß einem der vorangehenden Ansprüche geprüft werden, wobei die zu prüfenden Segmente jeweils in einem der Aufnahmeabschnitte positioniert werden. Vorzugsweise erfolgt das Prüfen der Segmente während sich die Fördereinrichtung gegenüber dem stationären Teil bewegt. Die Detektion eines schadhaften Segments kann dann zum Aus- schleusen des Segments aus dem Fertigungsprozess führen; dies kann mittels der Prüfvorrichtung selbst oder mittels einer separaten Einrichtung, beispielsweise einer Auswurftrommel, erfolgen. Bezüglich der mit dem vorgeschlagenen Verfahren verbundenen technischen Wirkungen und Vorteile wird auf die vorangehenden Ausführungen im Zusammenhang mit der Prüfvorrichtung verwiesen.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand bevorzugter Ausführungsformen unter Bezugnahme auf die beigefügten Figuren erläutert. Dabei zeigt
Fig. 1 eine perspektivische Darstellung einer Prüfvorrichtung;
Fig. 2 ein Achselement sowie zwei Messeinrichtungen;
Fig. 3 eine Fördereinrichtung; und
Fig. 4 eine Schnittansicht einer Prüfeinrichtung.
Figur 1 zeigt in einer perspektivischen Darstellung eine Prüfvorrichtung 1 zum Prüfen von Segmenten 2, wobei die Segmente 2 zur Bildung von Zellstapeln für die Energiezellen produzierende Industrie geeignet sind. Durch das Aufeinanderstapeln solcher Segmente 2 zu einem nicht dargestellten Zellstapel können Batteriezellen gebildet werden. Das in Figur 1 dargestellte Segment 2 weist einen vierlagi- gen Aufbau mit der Schichtfolge Separator - Elektrode (beispielsweise Anode) - Separator - Elektrode (beispielsweise Kathode) auf. Bei dem Segment 2 handelt es sich damit um eine sogenannte Monozelle. Die Prüfeinrichtung 1 der Figur 1 kann beispielsweise zwischen einer nicht dargestellten Vorrichtung zum Herstellen der Segmente 2 und einer ebenfalls nicht dargestellten Zellstapelvorrichtung zum Bilden von Zellstapeln angeordnet sein.
Die Prüfvorrichtung 1 umfasst eine Fördereinrichtung 3 in Form einer Trommel, die auf einem Achselement 8 drehbar gelagert ist, so dass sie im Betrieb um eine Rotationsachse 14 rotiert. Weiterhin umfasst die Prüfvorrichtung 1 eine Mehrzahl von Messeinrichtungen 10a, 10b, von denen zwei schematisch dargestellt sind. Die Messeinrichtungen 10a, 10b können beispielsweise zur Messung eines ohmschen Widerstandes eingerichtet sein. Selbstverständlich sind grundsätzlich auch Messeinrichtungen 10a, 10b denkbar, mit denen andere Parameter gemessen werden können. Das Achselement 8 sowie die Messeinrichtungen 10a, 10b sind Bestandteil eines stationären Teils 5 der Prüfvorrichtung 1 , der also nicht mit der Fördereinrichtung 8 mitrotiert.
Weiterhin zeigt Figur 1 , dass an der radial äußeren Mantelfläche der trommelförmigen Fördereinrichtung 3 mehrere Aufnahmeabschnitte 4 angeordnet sind, die jeweils zur Aufnahme eines Segments 2 eingerichtet sind. Die einzelnen Aufnahmeabschnitte 4 sind jeweils durch eine Nut 15 konstruktiv voneinander getrennt, wobei die Nuten 15 parallel zu einer Rotationsachse 14 der Fördereinrichtung 3 ausgerichtet sind. Durch eine Rotation der Fördereinrichtung 3 um das Achselement 8 können die Segmente 2 auf einer Kreisbahn bewegt werden. Die Fördereinrichtung 2 kann dabei mittels einer nicht dargestellten Antriebseinheit kontinuierlich oder diskontinuierlich rotiert werden. In der Figur 1 ist nur einer der Aufnahmeabschnitte 4 mit einem Segment 2 belegt. Grundsätzlich können im Betrieb aber auch parallel mehrere der Aufnahmeabschnitte 4 mit einem Segment 2 belegt sein. Jeder Aufnahmeabschnitt 4 umfasst jeweils eine erste Kontaktfläche 6 und eine zweite Kontaktfläche 7 mit denen die Elektroden des in dem Aufnahmeabschnitt 4 gelagerten Segments 2 kontaktierbar sind. Die Kontaktflächen 6, 7 sind derart angeordnet, dass sie sogenannte Ableiterfähnchen 16, 17, die jeweils Bestandteil einer der Elektroden des Segments 2 sind, kontaktieren. Das Segment 2 ist in dem Aufnahmeabschnitt 4 mittels eines ersten Ableiterfähnchen 11 , das hier Bestandteil einer Anode ist, mit der ersten Kontaktfläche 6 elektrisch leitend in Kontakt. Weiterhin ist ein zweites Ableiterfähnchen 12, das hier Bestandteil einer Kathode ist, mit der zweiten Kontaktfläche 7 elektrisch leitend in Kontakt.
In den Aufnahmeabschnitten 4 liegen die Segmente 2 an Anlageflächen 9 auf, die bei diesem Ausführungsbeispiel elektrisch nichtleitend ausgeführt ist. Damit das jeweilige Segment 2 zuverlässig und schonend in dem Aufnahmeabschnitt 4 gehalten werden kann sind nicht dargestellte Öffnungen an der Anlagefläche 9 und den Kontaktflächen 6 und 7 vorgesehen, die mit einem Unterdrück beaufschlagbar sind. So können durch die sich gegenüber der Umgebung einstellende Druckdifferenz die Segmente 2 schonend in dem Aufnahmeabschnitt 4 gehalten werden.
Die Herstellung einer elektrisch leitenden Verbindung zwischen den Messeinrichtungen 10a, 10b und den Kontaktflächen 6, 7 erfolgt jeweils mittels einer Schleifkontakteinrichtung 13 umfassend jeweils eine Kontaktkufe 20a, 20b und eine Kontaktbürste 21a, 21 b, die anhand der Figuren 2, 3 und 4 näher erläutert wird. Figur 2 zeigt ein Achselement 8 umfassend eine zylindrische Mantelfläche 19 und einen Flansch 18 an einem Ende, der einen Anschlag für die auf dem Achselement 8 rotierbar gelagerte trommelförmige Fördereinrichtung 3 (vgl. Figur 1) bildet.
Ferner ist in Figur 2 erkennbar, dass die Kontaktkufen 20a, 20b als Bestandteil der Schleifkontakteinrichtungen 13 radial außen an einer zylindrischen Mantelfläche 19 des Achselements 8 angeordnet sind und diese sich über einen Teilabschnitt des Umfangs erstrecken. Ferner ist erkennbar, dass die Kontaktkufen 20a, 20b paarweise angeordnet sind. Die einzelnen Kontaktkufen 20a, 20b eines Kontaktkufenpaares 23, 24 weisen zwar in Umfangsrichtung in Bezug auf die Rotationsachse 14 die gleiche Länge und Anordnung auf, jedoch sind diese in Richtung der Rotationsachse 14 hintereinander liegend angeordnet. Ein erstes Kontaktkufenpaar 23 ist den ersten Kontaktflächen 6 zugeordnet und ein zweites Kontaktkufenpaar 24 ist den zweiten Kontaktflächen 7 zugeordnet. Die beiden Kontaktkufen 20a des ersten und zweiten Kontaktkufenpaares 23 und 24 sind elektrisch mit einer ersten Messeinrichtung 10a verbunden, während die beiden Kontaktkufen 20b des ersten und zweiten Kontaktkufenpaares 23 und 24 mit einer zweiten Messeinrichtung 10b elektrisch verbunden sind. Die paarweise Anordnung der Kontaktkufen 20a und 20b erlaubt es, die Kontaktflächen 6, 7 benachbarter Aufnahmeabschnitte 4 zeitlich überlappend, also parallelgeschaltet, mit den Messeinrichtung 10a und 10b zu verbinden.
In Figur 3 sind die an der radial innenliegenden Fläche 22 der trommelförmigen Fördereinrichtung 3 angeordneten Kontaktbürsten 21a, 21 b dargestellt, die je nach Verdrehposition der Fördereinrichtung 3 relativ zu dem Achselement 8 mit den in der Figur 2 dargestellten Kontaktkufen 20a, 20b kontaktierbar sind. Die Kontaktbürs- ten 21a und 21 b jeweils benachbarter Aufnahmeabschnitte 4, weisen einen Versatz in Richtung der Rotationsachse 14 auf, so dass die Kontaktbürste 21a mit der Kontaktkufe 20a kontaktierbar ist und die Kontaktbürste 21 b mit der Kontaktkufe 20b. Dies gilt sowohl für die Schleifkontakteinrichtungen 13 die den ersten Kontaktflächen 6 zugeordnet sind als auch für diejenigen, die den zweiten Kontaktflächen 7 zugeordnet sind. Auf diese Weise können die Kontaktkufen 20a, 20b eines Kontaktkufenpaares 23, 24 (vgl. Figur 2) abwechselnd durch die entsprechenden Kontaktbürsten 21a und 21 b benachbarter Aufnahmeabschnitte 4 kontaktiert werden.
Je nach Länge der Kontaktkufen 20a, 20b entlang des Umfangs der Achselements 8 und in Abhängigkeit der Rotationsgeschwindigkeit der Fördereinrichtung 3 gegenüber dem Achselement 8 kann die Dauer der elektrisch leitenden Verbindung der Kontaktflächen 6, 7 eines Aufnahmesegments 4 mit dem stationären Teil 5 festgelegt werden. In diesem Ausführungsbeispiel ist jeder der Kontaktflächen 6, 7 eine eigene Kontaktbürste 21a, 21 b zugeordnet.
Figur 4 zeigt die Prüfeinrichtung 1 in einer Schnittansicht mit einem Schnitt orthogonal zur Rotationsachse 14 in der Ebene der ersten Kontaktflächen 6. Es ist zu erkennen, dass ein Segment 2 in einem Aufnahmeabschnitt 4b, der dem Aufnahmeabschnitt 4a benachbart ist, gelagert ist. Weiterhin ist eine Kontaktfläche 6b des Aufnahmeabschnitts 4b gezeigt, an der das Ableiterfähnchen 11 des Segments 2 elektrisch leitend anliegt. Mittels einer Kontaktbürste 21 b die Kontaktfläche 6b mit einer in dieser Schnitteben nicht erkennbaren Kontaktkufe 20b (vgl. Figur 2) in Kontakt, die hinter der hier dargestellten Kontaktkufe 20a angeordnet ist. Die Kontaktkufe 20b wird in dieser Darstellung durch die Kontaktkufe 20a verdeckt. Der Aufnahmeabschnitt 4a, der dem Aufnahmeabschnitt 4b benachbart ist, umfasst dagegen eine Kontaktfläche 6a, die mittels der Kontaktbürste 21a an der in dieser Schnittebene sichtbaren Kontaktkufe 20a elektrisch leitend anliegt. Die Kontaktbürsten 21a und 21 b benachbarter Aufnahmeabschnitte 4a und 4b kontaktieren damit ge- lichzeitig unterschiedliche Kontaktkufen 20a und 20b ein und desselben Kontaktkufenpaares 23. Wird die trommelartige Fördereinrichtung 3 in Rotationsrichtung 25 gegenüber dem Achselement 8 weiterrotiert, dann wird die Kontaktierung der Kontaktbürste 21a mit der Kontaktkufe 20a aufgehoben, während die Kontaktierung der Kontaktbürste 21 b mit der Kontaktkufe 20b noch für eine definierte weitere Drehbewegung bestehen bleibt. Für die Kontaktkufen 20a, und 20b des Kontaktkufenpaares 24 gilt entsprechendes.
Die Messeinrichtungen 10a und 10b (vgl. Figuren 1 und 2) können so über die Schleifkontakteinrichtungen 13 separat, aber zeitlich überlappend mit den Kontaktflächen 6, 7 benachbarter Aufnahmeabschnitte 4a, 4b elektrisch leitend verbunden werden. Jede der Messeinrichtungen 10a, 10b ist damit immer nur mit den Kontaktflächen 6, 7 eines Aufnahmeabschnitts 4a oder 4b verbunden.
Grundsätzlich ist die Zuordnung der Kontaktbürsten 21a, 21 b und Kontaktkufen 20a, 20b zu Fördereinrichtung 3 und Achselement 8 auch vertauschbar, so dass die Kontaktbürsten 21 auch dem Achselement 8 und die Kontaktkufen 20 auch der Fördereinrichtung 3 zugeordnet sein können.

Claims

Ansprüche:
1. Prüfvorrichtung (1) zum Prüfen von Segmenten (2), die zur Bildung eines Zellstapels für die Energiezellen produzierende Industrie geeignet sind, wobei
- eine Fördereinrichtung (3) mit mehreren Aufnahmeabschnitten (4) zum Aufnehmen und Transportieren jeweils eines Segments (2) vorgesehen ist, wobei
- die Aufnahmeabschnitte (4) durch eine Bewegung der Fördereinrichtung (3) relativ zu einem stationären Teil (5) der Prüfvorrichtung (1) bewegbar sind, dadurch gekennzeichnet, dass
- die Aufnahmeabschnitte (4) jeweils wenigstens zwei Kontaktflächen (6, 7) zum elektrischen und/oder signaltechnischen Kontaktieren eines in dem jeweiligen Aufnahmeabschnitt (4) aufgenommenen Segments (2) umfassen.
2. Prüfvorrichtung (1) nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Fördereinrichtung (3) durch eine um ein Achselement (8) rotierbar gelagerte Trommel gebildet ist, an deren radial außen liegenden Mantelfläche die Aufnahmeabschnitte (4) angeordnet sind.
3. Prüfvorrichtung (1) nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Aufnahmeabschnitte (4) jeweils eine Anlagefläche (9) zum Lagern eines Segments (2) umfassen, die von den Kontaktflächen (6, 7) elektrisch isoliert ist.
4. Prüfvorrichtung (1) nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Kontaktflächen (6, 7) der Aufnahmeabschnitte (4) mit wenigstens einer Messeinrichtung (10a, 10b) signaltechnisch und/oder elektrisch verbindbar sind. Prüfvorrichtung (1) nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die signaltechnische und/oder elektrische Verbindung einer oder mehrerer Kontaktflächen (6, 7) eines bestimmten Aufnahmeabschnitts (4) mit der wenigstens einen Messeinrichtungen (10a, 10b) in Abhängigkeit von der Position der Fördereinrichtung (3) relativ zu dem stationären Teil (5) herstellbar und/oder unterbrechbar ist. Prüfvorrichtung (1) nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass die wenigstens eine Messeinrichtung (10a, 10b) Bestandteil des stationären Teils (5) ist. Prüfvorrichtung (1) nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass die signaltechnische und/oder elektrische Verbindung einer oder mehrerer der Kontaktflächen (6, 7) jeweils eines der Aufnahmeabschnitte (4) mit der wenigstens einen Messeinrichtung (10a, 10b) mittels wenigstens einer Schleifkontakteinrichtung (13) herstellbar ist. Prüfvorrichtung (1) nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass
- eine Mehrzahl an Messeinrichtungen (10a, 10b) vorgesehen ist, wobei
- die signaltechnische und/oder elektrische Verbindung der Kontaktflächen (6, 7) zweier oder mehrerer Aufnahmeabschnitte (4a, 4b) mit jeweils unterschiedlichen Messeinrichtung (10a, 10b) zeitlich überlappend herstellbar ist. Prüfvorrichtung (1) nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Aufnahmeabschnitte (4) jeweils eine erste und eine zweite Kontaktfläche (6, 7) umfassen, die voneinander elektrisch isoliert in dem jeweiligen Aufnahmeabschnitt (4) angeordnet sind. Prüfvorrichtung (1) nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die erste und zweite Kontaktfläche (6, 7) derart in dem jeweiligen Aufnahmeabschnitt (4) angeordnet sind, um ein darin positioniertes Segment (2) mit seiner ersten Elektrode (11) an der ersten Kontaktfläche (6) und mit seiner zweiten Elektrode (12) an der zweiten Kontaktfläche (7) anzulegen. Prüfvorrichtung (1) nach einem der vorangehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Aufnahmeabschnitte (4) jeweils Öffnungen aufweisen, die zum Halten der Segmente (2) mit einem Unterdrück beaufschlagbar sind. Verfahren zum Prüfen von Segmenten, die zur Bildung eines Zellstapels für die Energiezellen produzierende Industrie vorgesehen sind, dadurch gekennzeichnet, dass die Segmente durch die Prüfvorrichtung gemäß einem der vorangehenden Ansprüche geprüft werden, wobei die zu prüfenden Segmente jeweils in einem der Aufnahmeabschnitte positioniert werden.
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