EP2321655A1 - Contactless loop probe - Google Patents

Contactless loop probe

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Publication number
EP2321655A1
EP2321655A1 EP09777210A EP09777210A EP2321655A1 EP 2321655 A1 EP2321655 A1 EP 2321655A1 EP 09777210 A EP09777210 A EP 09777210A EP 09777210 A EP09777210 A EP 09777210A EP 2321655 A1 EP2321655 A1 EP 2321655A1
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
loop probe
probe according
contactless
conductor
coupling structure
Prior art date
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Ceased
Application number
EP09777210A
Other languages
German (de)
French (fr)
Inventor
Thomas Zelder
Bernd Geck
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Rosenberger Hochfrequenztechnik GmbH and Co KG
Original Assignee
Rosenberger Hochfrequenztechnik GmbH and Co KG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Rosenberger Hochfrequenztechnik GmbH and Co KG filed Critical Rosenberger Hochfrequenztechnik GmbH and Co KG
Publication of EP2321655A1 publication Critical patent/EP2321655A1/en
Ceased legal-status Critical Current

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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/07—Non contact-making probes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/06772—High frequency probes
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/302—Contactless testing
    • G01R31/315—Contactless testing by inductive methods

Definitions

  • the present invention relates to a contactless loop probe for contactless coupling out of an RF signal for a contactless measuring system having at least one coupling structure and at least one electrically connected to the coupling structure via a first transition first signal conductor, which via a second transition with an output for electrical connection to the Measuring system is electrically connected, according to the preamble of claim 1.
  • EMC electromagnetic compatibility
  • H. Whiteside, RWP King "The loop antenna as a probe”
  • IEEE Transaction on Antenna and Propagation Vol. No. 3, pp. 291-297, May 1964
  • M. Kanda "An electromagnetic near-field sensor for simultaneous electric and magnetic-field measurements”
  • IEEE Transaction on Electromagnetic Compatibility Vol. 26, No. 3, pp. 102-110, August 1984, or MEG Upton, AC Marvin, " Improvements to an electromagnetic near-field sensor for simultaneous electric and magnetic field measurements, "IEEE Transaction on Electromagnetic Compatibility, Vol. 35, No. 1, pp. 96-98, February 1993.
  • a directional coupler is a four-port, which usually consists of two interconnected lines. The directional coupler has the task of separating the waves running back and forth on a line.
  • a possible coupling structure for the separation of the incoming and outgoing waves is the loop-directional coupler, which PP Lombardini, RF Schwartz, PJ Kelly, "Criteria for the design of loop-type Directional couplers for the L band" IEEE Transaction on Microwave Theory and Techniques, Vol. 4, No. 4, pp. 234-239, October 1956, and B. Mower, "An L-band loop-type coupler” IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. 9, No. 4, Pp. 362-363, July 1961.
  • a loop-wise coupler consists of a conductor loop which is positioned over or in a waveguide. In this case, any waveguide such as hollow lines, planar strip lines or coaxial cables can be used.
  • Schleifenrichtkopplers The application of a Schleifenrichtkopplers is varied. For example, F. De Groote et al. in 2005 (loc. cit.) and Yhland et al. 2006 (loc. Cit.) A loop-wise coupler as a component in a contactless measuring system.
  • Inductive and / or capacitive coupling structures are used to determine the scattering parameters of a test object (DUT) with a contactless, mostly vectorial measuring system.
  • the measuring probes are positioned in the electromagnetic near field above the signal lines of the test object.
  • these coupling structures either the current and / or the voltage of a signal line, which is connected directly to the test object, determined.
  • the waves traveling back and forth on the signal line are also measured, with directional couplers, in particular loop-wise couplers, being used as coupling structures for separating the two waves.
  • TRL GF Engen and CA Hoer, "Thru-reflect-line: An improved technique for calibrating the dual six-port automatic network analyzer, "IEEE Transaction on Microwave Theory and Techniques, Vol. 12, pp. 987-993, December 1979), as used in contact-based network analysis.
  • At least one measuring probe for example a conductor loop or two capacitive probes, is required for each test port of an unknown test object (DUT).
  • DUT unknown test object
  • contactless conductor loops made of coaxial semi-rigid leads are used (see F. De Groote, J. Verspecht, C. Tsironis, D. Barataud and J.-P. Teyssier, An improved coupling method for Time domain load-pull measurements ", European Microwave Conference, Volume 1, pp. 4 et seq., October 2005 and K. Yhland, J. Stenarson," Noncontacting Measurement of Power in Microstrip Circuits ", in 65th ARFTG, p. 205, June, 2006.
  • the invention has for its object to provide a contactless loop probe o.g. To improve the type of electrical properties.
  • the coupling structure is formed as an RF waveguide with at least one signal conductor and at least one reference conductor.
  • the contactless loop probe according to the invention is analytically better describable and the cutoff frequency is higher than non-impedance-controlled probes.
  • a controlled and, in particular, impedance-controlled propagation of electromagnetic high-frequency waves is available through the combination of signal conductor and reference conductor.
  • the coupling structure, the first transition, the first signal conductor, the second transition and the output are impedance-controlled in such a way that they have a coordinated impedance such that a high input reflection attenuation and a high directivity results.
  • the coupling structure is designed as a planar strip line or coplanar line, wherein the signal conductor is designed as a first planar conductor and the reference conductor as a second planar conductor.
  • the coupling structure is designed as a coaxial line with a signal conductor in the form of an inner conductor and a reference conductor in the form of an outer conductor, wherein the outer conductor has at least one opening through which the inner conductor is exposed.
  • the at least one opening comprises at least one rectangular opening, at least one oval opening and / or at least one circular opening.
  • the at least one opening is formed in such a way that the coupling structure, viewed in cross-section, has an outer conductor over at least part of the circumference.
  • the at least one opening comprises, for example, at least one rectangular opening, at least one oval opening or at least one circular opening.
  • the coupling structure is formed as a waveguide with a reference conductor in the form of an outer conductor and a signal conductor in the form of a cavity within the outer conductor, wherein the outer conductor has at least one opening through which the cavity is exposed.
  • the at least one first signal conductor is designed as an HF signal line, in particular as a coaxial line, planar strip line, coplanar line or waveguide
  • the first and / or second transition is / are the planar transition, coaxial transition, Coplanar transition, waveguide transition, planar coaxial transition, planar waveguide transition, coaxial waveguide transition, coplanar coaxial transition, coplanar waveguide transition or planar-coplanar transition formed.
  • the coupling structure has two ends, one end being electrically connected to the first signal conductor and the other end being electrically connected to a terminating resistor.
  • the coupling structure has two ends, each end being electrically connected to a signal conductor.
  • At least one output is designed as an HF signal line, in particular as a coaxial line, planar strip line, coplanar line or waveguide.
  • each two coupling structures are electrically connected to each other via a second signal line and respective first transitions.
  • At least one second signal line is designed as an HF signal line, in particular as a coaxial line, planar strip line, coplanar line or waveguide.
  • a device for determining a distance of the coupling structure from a conductor emitting a near field is additionally provided.
  • the device for determining the distance comprises an optical, electrical, mechanical and / or electromechanical distance sensor.
  • a device for determining a position of the loop probe in space is additionally provided.
  • the device for determining a position of the loop probe in space is an image sensor.
  • the loop probe has a housing, which is preferably sheathed with a ferrite material or an absorber material to avoid sheath waves.
  • a holder for fastening to the measuring system is additionally formed on the housing.
  • the housing is made of metal, plastic or an absorber material.
  • the first and / or the second junction is formed as a soldered, welded or glued electrical connection.
  • the loop probe additionally has a measuring amplifier for amplifying the coupled signals.
  • the loop probe additionally has a positioning device for positioning it in space, so that the loop probe is displaceable in at least one spatial direction.
  • the positioning device has, for example, at least one servomotor, in particular a stepping motor.
  • FIG. 1 shows a preferred embodiment of a contactless loop probe according to the invention in a perspective view
  • 2 shows the contactless loop probe according to FIG. 1 in a partially broken view
  • FIG. 1 shows a preferred embodiment of a contactless loop probe according to the invention in a perspective view
  • 2 shows the contactless loop probe according to FIG. 1 in a partially broken view
  • FIG. 1 shows a preferred embodiment of a contactless loop probe according to the invention in a perspective view
  • 2 shows the contactless loop probe according to FIG. 1 in a partially broken view
  • FIG. 3 is a coupling structure of the contactless loop probe of FIG. 1 in an enlarged view
  • FIG. 4 shows a schematic illustration of a first preferred embodiment of a coupling structure in the form of a planar conductor
  • FIG. 5 shows a schematic representation of a second preferred embodiment of a coupling structure in the form of a planar conductor
  • FIG. 6 shows a third preferred embodiment of a coupling structure in the form of a
  • FIG. 7 shows the third preferred embodiment of a coupling structure according to FIG. 6 in plan view
  • FIG. 8 shows the third preferred embodiment of a coupling structure according to FIG. 6 in a further side view
  • FIG. 9 shows a first preferred embodiment of an opening formed in an outer conductor of the coupling structure according to FIG. 6, FIG.
  • FIG. 10 shows a second preferred embodiment of an opening formed in an outer conductor of the coupling structure according to FIG. 6, FIG.
  • Fig. 11 shows a third preferred embodiment of a in an outer conductor of
  • Coupling structure according to FIG. 6 formed opening
  • FIG. 12 shows a fourth preferred embodiment of a coupling structure in the form of a
  • Coaxial line in perspective view 13 is a fifth preferred embodiment of a coupling structure in the form of a coaxial line in perspective view and
  • FIG. 14 shows a sixth preferred embodiment of a coupling structure in the form of a coaxial line in a perspective view.
  • the exemplary embodiment of a contactless loop probe according to the invention for contactless coupling out of an RF signal from a signal conductor (not shown) for a contactless measuring system comprises a coupling structure 10, two first signal conductors 12, each with one end of the Coupling structure 10 are electrically connected, and two outputs 14, which are each electrically connected to one of the first signal conductor 12.
  • the two ends of the coupling structure 10 are hereinafter referred to as "first port 16" (FIGS. 4, 5) and “second port 18" (FIGS. 4, 5).
  • the coupling structure 10 is designed as an HF waveguide with at least one signal conductor 24 and at least one reference conductor 26.
  • the contactless loop probe according to the invention is impedance-controlled.
  • FIGS. 4 and 5 show two exemplary embodiments of the coupling structure in the form of a planar conductor.
  • the planar conductor comprises an inner conductor 24 and an outer conductor 26 which terminate at the first gate 16 and the second gate 18, respectively.
  • 6 to 8 show an alternative embodiment for the coupling structure 10. This is formed from a coaxial conductor with an inner conductor 30 and an outer conductor 32.
  • a rectangular opening 34 is formed as a coupling slot, so that the inner conductor 30 is exposed in the region of the opening 34.
  • 9 to 11 show different embodiments for the opening 34, this may be rectangular (FIG. 9) or oval (FIG. 10) and also comprise a plurality of individual openings, as in FIG. 11 using the example with a plurality of circular openings 34 shown.
  • FIGS. 12 to 14 show various embodiments of the coupling structure 10 in the form of a coaxial line with opening 34 in the outer conductor 32, which is arranged near a signal line 36 for coupling out a signal passing through the signal line 36.
  • the non-contact loop probe is used for non-contact measurement system applications such as contactless vector network analysis.
  • the loop probe is positioned in the electromagnetic near field of an electrical signal line 36 (FIGS. 12 to 14). It forms together with the signal line 36 a coupler. A portion of the electromagnetic field of the signal line 36 is coupled out through the loop probe and directed to the output ports 16, 18 of the loop probe.
  • the contactless loop probe according to the invention is impedance-controlled. Impedance controlled loop probes have some advantages over non-impedance controlled probes. U. a. a high directivity can be achieved, less sheath waves are generated, they are analytically better describable and the cut-off frequency is higher than in non-impedance-controlled probes.
  • Impedance-controlled means that the probes are optimized for low reflection and high directivity, ie an impedance-controlled loop probe has a low insertion loss.
  • the impedance-controlled coupling structure 10 can be shaped almost arbitrarily.
  • the coaxial, non-contact loop probe as shown in Figs. 6-14, is formed as a shielded, impedance-controlled coaxial near-field probe. This comprises the coaxial line 30, 32 with a defined coupling slot 34 or with defined coupling holes 34. Examples of different coupling geometries are shown in FIGS. 9 to 11.
  • the coaxial contactless loop probe is used as a coupler in the near field of the RF or microwave line 36.
  • the coupling opening 34 and the coupling openings 34 in combination with the inner conductor 30 of the coaxial line are dimensioned so that the coaxial, non-contact loop probe (probe) a high power transmission with a low reflection factor between Tor 1 16 and Tor 2 18, ie, the geometry of the inner conductor 30 may have a different geometry in the region of the coupling opening (s) 34, as in the remaining coaxial line.
  • the entire probe has inductive and capacitive coupling characteristics and acts as a loop coupler.
  • the coupling structure consists of one or two coaxial conductors with a continuous or connected inner conductor. So that a coupling can be made with a second line, the outer shield (outer conductor) of the coaxial line is completely removed. This leads to a wave jump in the line and thus to reflections.
  • the loop coupler according to FIGS. 6 to 8 only one window 34 is removed from the coaxial shield 32, so that only minor reflections result when feeding a wave into the first port 16 or the second port 18. By changing the inner conductor geometry, these reflections can be further minimized.
  • FIGS. 12 to 14 Various embodiments are shown in FIGS. 12 to 14.
  • the coaxial line is surrounded by an absorber housing.
  • Coupling structure 10 as a planar, impedance-controlled two-wire loop, with an impedance controlled transition to two planar Koplanar ein, in turn, by means of an impedance controlled transition with two coaxial 12th are connected, trained.
  • the shape of the two-wire loop 10 can be arbitrary. Examples of two different forms are given in FIGS. 4 and 5.
  • the coupling structure is designed such that a coupling out of an electromagnetic wave from a waveguide 36 (supply of a DUT) is possible.
  • the coupling structure 10 has at least two further waveguides 12, which are connected to the coupling structure 10.
  • the waveguides 12 connected to the coupling structure 10 are generally equipped with a wave transition 14 for connecting the probe to a measuring system or complex terminating impedances.
  • the probe shown by way of example therefore essentially comprises at least one coupling structure 10 with at least two waveguides 12 and transitions 14, wherein all components are designed to be impedance-controlled together. Impedanzkontrolliert means that at a power supply in any waveguide of the coupling structure 10 is reflected only very little power and a high directivity is achieved when all other waveguides are closed impedance controlled.
  • the coupling structure 10 can also be connected to a plurality of waveguides 12 with impedance control, ie. H. the grinding probe can have more than two outputs 14.
  • the measuring probe has only one output 14, in which case the coupling structure 10 or one of the gates 16, 18 is terminated controlled impedance within the measuring probe housing 28.
  • the loop probe can also have more than one impedance-controlled coupling structure 10.
  • the individual coupling structures 10 are then connected to one another via an impedance-controlled waveguide or second signal conductor.
  • the probes may include a device (sensor) for distance control.
  • a device for distance control.
  • Various sensors are conceivable: optical, electrical, mechanical, electromechanical, etc.
  • the distance information can be communicated to the measuring system electrically, mechanically, visually or acoustically.
  • the impedance-controlled, non-contact loop probe optionally includes additional sensors with which it is possible to obtain an exact three-dimensional spatial
  • These sensors include, for example
  • Pattern recognition methods By means of the probes is an automated
  • the outer housing u. a. coated with ferrite and / or absorber materials.
  • the impedance-controlled, non-contact loop probe can be arbitrarily shaped and made of different waveguides such.
  • waveguides coaxial conductors, planar lines exist.
  • the coupling geometry is optimized for low reflection (impedance controlled) and a high directivity when coupling a loop probes with another waveguide such.
  • the geometry of the housing 28 may be designed arbitrarily shaped.
  • the individual planar lines are electrically connected, for example, to (bonding) wires.
  • the application of the impedance-controlled loop probe is preferably carried out in the field of measurement technology and E MV technology, as well as for the realization of directional couplers.
  • the measuring probe housing 28 may have a holder for mounting the measuring probe to / in a measuring system, as shown in FIGS. 1 and 2.
  • the first transition 20 between the coupling structure 10 and the waveguides 12 may be arbitrary, this being impedance-controlled in each case.
  • the transition is for example soldered, welded or glued.
  • the coupled signals are amplified by means of a measuring amplifier.
  • an amplifier is implemented in the impedance-controlled loop probe, for example in the individual waveguides 12 connected to the coupling structure 10.
  • This amplifier is also impedance controlled, i. its impedance is matched to the input impedance of the probe, so that low input reflections and a high directivity are present. This is then an active measuring probe.
  • the contactless loop probe is combined with a position device, so that the probe can be moved in all dimensions or only in one or two, etc.
  • the position device may be integrated in a probe holder or the housing 28 or connected via a holder with the loop probe or the housing 28.
  • the position device can be manually operated and / or motorized. So it can be active or passive. For example, the distance of the probe to the measuring substrate is adjusted or readjusted with the position device.
  • the positioner may include a control line for control.

Abstract

The invention relates to a contactless loop probe for the contactless decoupling of an HF signal for a contactless measuring system, comprising at least one coupling structure (10) and at least one first signal conductor (12) electrically connected to the coupling structure (10) by a first transition (20), said signal conductor being electrically connected by a second transition (22) to an output (14) for electrically connecting to the measuring system, wherein the coupling structure (10) is designed as an HF waveguide comprising at least one signal conductor (24; 30) and at least one reference conductor (26; 32).

Description

Kontaktlose Schleifensonde Contactless loop probe
Die vorliegende Erfindung betrifft eine kontaktlose Schleifensonde zum kontaktlosen Auskoppeln eines HF-Signals für ein kontaktloses Messsystem mit wenigstens einer Koppelstruktur und wenigstens einem mit der Koppelstruktur über einen ersten Übergang elektrisch verbundenen ersten Signalleiter, welcher über einen zweiten Übergang mit einem Ausgang zum elektrischen Verbinden mit dem Messsystem elektrisch verbunden ist, gemäß dem Oberbegriff des Anspruchs 1.The present invention relates to a contactless loop probe for contactless coupling out of an RF signal for a contactless measuring system having at least one coupling structure and at least one electrically connected to the coupling structure via a first transition first signal conductor, which via a second transition with an output for electrical connection to the Measuring system is electrically connected, according to the preamble of claim 1.
Die Verwendung von kontaktlosen Schleifen-Messsonden zum Detektieren von Störemissionen ist speziell in dem Bereich der elektromagnetischen Verträglichkeit (EMV) beispielsweise aus H. Whiteside, R. W. P. King," The loop antenna as a probe," IEEE Transaction on Antenna and Propagation, Band 12, Nr. 3, S. 291-297, Mai 1964; M. Kanda, "An electromagnetic near-field sensor for simultaneous electric and magnetic-field measurements," IEEE Transaction on Electromagnetic Compatibility, Band 26, Nr. 3, S. 102-110, August 1984 oder M. E. G. Upton, A. C. Marvin, "Improvements to an electromagnetic near-field sensor for simultaneous electric and magnetic field measurements," IEEE Transaction on Electromagnetic compatibility, Band 35, Nr. 1 , S. 96-98, Februar 1993 bekannt.The use of non-contact loop probes to detect spurious emissions is particularly useful in the field of electromagnetic compatibility (EMC), for example, in H. Whiteside, RWP King, "The loop antenna as a probe," IEEE Transaction on Antenna and Propagation, Vol. No. 3, pp. 291-297, May 1964; M. Kanda, "An electromagnetic near-field sensor for simultaneous electric and magnetic-field measurements," IEEE Transaction on Electromagnetic Compatibility, Vol. 26, No. 3, pp. 102-110, August 1984, or MEG Upton, AC Marvin, " Improvements to an electromagnetic near-field sensor for simultaneous electric and magnetic field measurements, "IEEE Transaction on Electromagnetic Compatibility, Vol. 35, No. 1, pp. 96-98, February 1993.
Weiterhin ist es beispielsweise aus K. W. Wagner, "Induktionswirkung von Wanderwellen in Nachbarleitungen," Elektrotechnische Zeitschrift, Band 35, S. 639- 643; 677-680; 705-708, 1914; P. P. Lombardini, R. F. Schwarte, P. J. Kelly, "Criteria for the design of loop-type directional couplers for the L band," IEEE Transaction on Microwave Theory and Techniques, Band 4, Nr. 4, S. 234-239, Oktober 1956; B. Mäher," An L-band loop-type coupler, "IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques11, Band 9, Nr. 4, S. 362-363, Juli 1961 ; F. De Groote, J. Verspecht, C. Tsironis, D. Barataud and J.-P. Teyssier, "An improved coupling method for time domain load-pull measurements" European Microwave Conference, Band 1 , S. 4ff, Oktober 2005 oder K. Yhland, J. Stenarson, "Noncontacting measurement of power in microstrip circuits," in 65th ARFTG, S. 201-205, Juni 2006, bekannt, Schleifensonden bei der Realisierung von Richtkopplern zu verwenden. Ein Richtkoppler ist ein Viertor, welcher in der Regel aus zwei miteinander verkoppelten Leitungen besteht. Der Richtkoppler hat die Aufgabe, die auf einer Leitung hin- und rϋcklaufenden Wellen zu trennen.Furthermore, it is for example from KW Wagner, "Induction effect of traveling waves in neighboring lines," Elektrotechnische Zeitschrift, Volume 35, p. 639- 643; 677-680; 705-708, 1914; PP Lombardini, RF Schwarte, PJ Kelly, "Criteria for the design of loop-type directional couplers for the L band," IEEE Transaction on Microwave Theory and Techniques, Vol. 4, No. 4, pp. 234-239, October 1956; Mower, "An L-band loop-type coupler," IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques 11 , Vol. 9, No. 4, pp. 362-363, July 1961; F. De Groote, J. Verspecht, C. Tsironis, D. Barataud and J.-P. Teyssier, "An Improved Coupling Method for Time Domain Load-Pull Measurements" European Microwave Conference, Vol. 1, p. 4ff, October 2005, or K. Yhland, J. Stenarson, "Noncontacting Measurement of Power in Microstrip Circuits," in 65th ARFTG , 201-205, June 2006, known to use loop probes in the realization of directional couplers. A directional coupler is a four-port, which usually consists of two interconnected lines. The directional coupler has the task of separating the waves running back and forth on a line.
Statt Schleifensonden werden in der EMV-Technik und für die Charakterisierung von elektrischen Bauteilen auch rein induktive oder kapazitive Sonden verwendet, wie beispielsweise aus T. Zelder, H. EuI, "Contactless network analysis with improved dynamic ränge using diversity calibration," Proceedings of the 36th European Microwave Conference, Manchester, UK, S. 478-481 , September 2006; T. Zelder, H. Rabe, H. EuI, "Contactless electromagnetic measuring System using conventional calibration algorithms to determine scattering Parameters," Advances in Radio Science - Kleinheubacher Berichte 2006, Band 5, 2007; T. Zelder, I. Rolfes, H. EuI, "Contactless vector network analysis using diversity calibration with capacitive and inductive coupled probes," Advances in Radio Science - Kleinheubacher Berichte 2006, Band 5, 2007 oder J. Stenarson, K. Yhland, C. Wingqvist, "An in-circuit noncontacting measurement method for S-parameters and power in planar circuits," IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Band 49, Nr. 12, S. 2567- 2572, Dezember 2001 , bekannt.Instead of loop probes, purely inductive or capacitive probes are used in EMC technology and for the characterization of electrical components, as for example from T. Zelder, H. EuI, "Contactless network analysis with improved dynamic range using diversity calibration," Proceedings of the 36th European Microwave Conference, Manchester, UK, p. 478-481, September 2006; T. Zelder, H. Rabe, H. EuI, "Contactless electromagnetic measuring system using conventional calibration algorithms to determine scattering parameters," Advances in Radio Science - Kleinheubacher Reports 2006, Vol. 5, 2007; T. Zelder, I. Rolfes, H. EuI, "Contactless vector network analysis using diversity calibration with capacitive and inductive coupled probes," Advances in Radio Science - Kleinheubacher Reports 2006, Vol. 5, 2007 or J. Stenarson, K. Yhland, Wingqvist, "An in-circuit noncontacting measurement method for S-parameters and power in planar circuits," IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. 49, No. 12, pp. 2567-2572, December 2001.
Eine mögliche Koppelstruktur zur Trennung der hin- und rücklaufenden Wellen ist der Schleifenrichtkoppler, welchen P. P. Lombardini, R. F. Schwartz, P. J. Kelly, "Criteria for the design of loop-type directional couplers for the L band" IEEE Transaction on Microwave Theory and Techniques, Band 4, Nr. 4, S. 234-239, Oktober 1956 und B. Mäher, "An L-band loop-type coupler" IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Band 9, Nr. 4, S. 362-363, Juli 1961 beschreiben. Ein Schleifenrichtkoppler besteht aus einer Leiterschleife, welche über oder in einem Wellenleiter positioniert wird. Dabei können beliebige Wellenleiter wie Hohlleitungen, planare Streifenleitungen oder Koaxialleitungen verwendet werden. Die Anwendung eines Schleifenrichtkopplers ist vielfältig. Zum Beispiel verwendeten F. De Groote et al. im Jahr 2005 (a.a.O.) und Yhland et al. 2006 (a.a.O.) einen Schleifenrichtkoppler als Komponente in einem kontaktlosen Messsystem.A possible coupling structure for the separation of the incoming and outgoing waves is the loop-directional coupler, which PP Lombardini, RF Schwartz, PJ Kelly, "Criteria for the design of loop-type Directional couplers for the L band" IEEE Transaction on Microwave Theory and Techniques, Vol. 4, No. 4, pp. 234-239, October 1956, and B. Mower, "An L-band loop-type coupler" IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. 9, No. 4, Pp. 362-363, July 1961. A loop-wise coupler consists of a conductor loop which is positioned over or in a waveguide. In this case, any waveguide such as hollow lines, planar strip lines or coaxial cables can be used. The application of a Schleifenrichtkopplers is varied. For example, F. De Groote et al. in 2005 (loc. cit.) and Yhland et al. 2006 (loc. Cit.) A loop-wise coupler as a component in a contactless measuring system.
Die Bestimmung von Streuparametern von innerhalb einer komplexen Schaltung eingebetteten elektrischen Bauteilen ist mittels der kontaktlosen Vektornetzwerkanalyse möglich. Dies ist beispielsweise beschrieben in T. Zelder, B. Geck, M. Wollitzer, I. Rolfes, and H. EuI, "Contactless network analysis System for the calibrated measurement of the scattering parameters of planar two-port devices" Proceedings of the 37th European Microwave Conference, München, Deutschland, S. 246-249, Oktober 2007. Im Vergleich zum herkömmlichen kontaktbehafteten Netzwerkanalyseverfahren werden die internen Richtkoppler eines Netzwerkanalysators durch kontaktlose Nahfeldmesssonden ersetzt, die direkt mit den vektoriellen Messstellen des Analysators verbunden sind.The determination of scattering parameters of embedded within a complex circuit electrical components is possible by means of contactless vector network analysis. This is described, for example, in T. Zelder, B. Geck, M. Wollitzer, I. Rolfes, and H. EuI, "Contactless network analysis system for the calibrated measurement of the scattering parameters of planar two-port devices" Proceedings of the 37th European Microwave Conference, Munich, Germany, pp. 246-249, October 2007. Compared to the conventional contact-based network analysis method, the internal directional couplers of a network analyzer are replaced by contactless near-field probes connected directly to the vectorial measurement sites of the analyzer.
Zur Bestimmung der Streuparameter eines Testobjektes (DUT) mit einem kontaktlosen, meist vektoriellen Messsystem werden induktive und/oder kapazitive Koppelstrukturen verwendet. Die Messsonden werden im elektromagnetischen Nahfeld über den Signalleitungen des Messobjektes positioniert. Mittels dieser Koppelstrukturen werden entweder der Strom und/oder die Spannung einer Signalleitung, welche direkt mit dem Testobjekt verbunden ist, bestimmt. Alternativ werden auch die hin- und rücklaufenden Wellen auf der Signalleitung gemessen, wobei dann Richtkoppler, insbesondere Schleifenrichtkoppler, als Koppelstrukturen zur Trennung der beiden Wellen verwendet werden. Um die Streuparameter zu messen, werden herkömmliche Kalibrierverfahren, wie beispielsweise TRL (G. F. Engen and C. A. Hoer, "Thru-reflect-line: An improved technique for calibrating the dual six-port automatic network analyzer," IEEE Transaction on Microwave Theory and Techniques, Band 12, S. 987-993, Dezember 1979), wie bei der kontaktbehafteten Netzwerkanalyse verwendet.Inductive and / or capacitive coupling structures are used to determine the scattering parameters of a test object (DUT) with a contactless, mostly vectorial measuring system. The measuring probes are positioned in the electromagnetic near field above the signal lines of the test object. By means of these coupling structures, either the current and / or the voltage of a signal line, which is connected directly to the test object, determined. Alternatively, the waves traveling back and forth on the signal line are also measured, with directional couplers, in particular loop-wise couplers, being used as coupling structures for separating the two waves. To measure the scattering parameters, conventional calibration techniques such as TRL (GF Engen and CA Hoer, "Thru-reflect-line: An improved technique for calibrating the dual six-port automatic network analyzer, "IEEE Transaction on Microwave Theory and Techniques, Vol. 12, pp. 987-993, December 1979), as used in contact-based network analysis.
Bei der kontaktlosen Vektornetzwerkanalyse wird für jedes Messtor eines unbekannten Testobjektes (DUT) mindestens eine Messsonde, beispielsweise eine Leiterschleife oder zwei kapazitive Sonden, benötigt. Beispielsweise werden kontaktlose Leiterschleifen, die aus koaxialen Semi-Rigid-Leitungen hergestellt sind, verwendet (vgl. F. De Groote, J. Verspecht, C. Tsironis, D. Barataud and J.-P. Teyssier, "An improved coupling method for time domain load-pull measurements", European Microwave Conference, Band. 1 , S. 4 ff, Oktober 2005 und K. Yhland, J. Stenarson, "Noncontacting measurement of power in microstrip circuits", in 65th ARFTG, S. 201-205, Juni, 2006. Alternativ werden ausschließlich kapazitive Sonden in den kontaktlosen Messsystemen eingesetzt (vgl. T. Zelder, H. EuI, "Contactless network analysis with improved dynamic ränge using diversity calibration", Proceedings of the 36th European Microwave Conference, Manchester, UK, S. 478- 481 , September 2006 und T. Zelder, H. Rabe, H. EuI, "Contactless electromagnetic measuring System using conventional calibration algorithms to determine scattering Parameters", Advances in Radio Science - Kleinheubacher Berichte 2006, Band 5, 2007. Die Messsysteme in T. Zelder, I. Rolfes, H. EuI, "Contactless vector network analysis using diversity calibration with capacitive and inductive coupled probes", Advances in Radio Science - Kleinheubacher Berichte 2006, Band 5, 2007 und J. Stenarson, K. Yhland, C. Wingqvist, "An in-circuit noncontacting measurement method for S-parameters and power in planar circuits", IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Band 49, Nr. 12, S. 2567-2572, Dezember, 2001 , wurden mit einer Kombination aus kapazitiven und induktiven Sonden realisiert. Die Besonderheit der Sonden in T. Zelder et al. (a.a.O.) ist, dass sie zusammen mit der Signalleitung auf demselben Substrat hergestellt sind.In contactless vector network analysis, at least one measuring probe, for example a conductor loop or two capacitive probes, is required for each test port of an unknown test object (DUT). For example, contactless conductor loops made of coaxial semi-rigid leads are used (see F. De Groote, J. Verspecht, C. Tsironis, D. Barataud and J.-P. Teyssier, An improved coupling method for Time domain load-pull measurements ", European Microwave Conference, Volume 1, pp. 4 et seq., October 2005 and K. Yhland, J. Stenarson," Noncontacting Measurement of Power in Microstrip Circuits ", in 65th ARFTG, p. 205, June, 2006. Alternatively, only capacitive probes are used in contactless measurement systems (see T. Zelder, H. EuI, "Contactless Network Analysis with Improved Dynamic Range Using Diversity Calibration", Proceedings of the 36th European Microwave Conference, Manchester, UK, pp. 478-481, September 2006 and T. Zelder, H. Rabe, H. EuI, "Contactless electromagnetic measuring system using conventional calibration algorithms to determine scattering parameters", Advances in Radio Science - Kleinheubacher Reports 2006, Vol. 2007. Tue Messrs. Zelder, I. Rolfes, H. EuI, "Contactless vector network analysis using diversity calibration with capacitive and inductive coupled probes", Advances in Radio Science - Kleinheubacher Reports 2006, Vol. 5, 2007 and J. Stenarson, K Yhland, C. Wingqvist, "An in-circuit noncontacting measurement method for S-parameters and power in planar circuits", IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Vol. 49, No. 12, pp. 2567-2572, December, 2001 , were realized with a combination of capacitive and inductive probes. The peculiarity of the probes in T. Zelder et al. (supra) is that they are fabricated together with the signal line on the same substrate.
Obwohl die kontaktlose Vektornetzwerkanalyse das Potenzial hat, kontaktlos Bauteile zu charakterisieren, wurde bislang keine kontaktlose Streuparametermessung von innerhalb einer Schaltung eingebetteten HF- und Mikrowellenkomponenten durchgeführt. Bisher wurden die Positionen der kontaktlosen Sonden während und nach der Kalibrierung nicht verändert, welches jedoch notwendig ist, wenn innerhalb einer Schaltung gemessen werden soll. Unter der Verwendung einer pseudo-kontaktlosen Messung, wurden in T. Zelder, B. Geck, M. Wollitzer, I. Rolfes, and H. EuI, "Contactless network analysis System for the calibrated measurement of the scattering parameters of planar two-port devices", Proceedings of the 37th European Microwave Conference, München, Deutschland, S. 246-249, Oktober 2007 unbekannte, eingebettete Zweitore charakterisiert. Eine pseudo-kontaktlose Messung bedeutet dabei, dass statt vollständig kontaktlosen Sonden gedruckte Koppelstrukturen verwendet werden.Although contactless vector network analysis has the potential to characterize non-contact components, no contactless stray-parameter measurement has been made of RF and embedded circuits within a circuit Microwave components performed. So far, the positions of the contactless probes have not been changed during and after the calibration, which is necessary, however, when measuring within a circuit. Using a pseudo-contactless measurement, T. Zelder, B. Geck, M. Wollitzer, I. Rolfes, and H. EuI, "Contactless network analysis system for the calibrated measurement of the scattering parameters of planar two-port Devices, Proceedings of the 37th European Microwave Conference, Munich, Germany, pp. 246-249, October 2007, characterized by embedded second-ports. In this case, a pseudo-contactless measurement means that printed coupling structures are used instead of completely contactless probes.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine kontaktlose Schleifensonde der o.g. Art hinsichtlich der elektrischen Eigenschaften zu verbessern.The invention has for its object to provide a contactless loop probe o.g. To improve the type of electrical properties.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine kontaktlose Schleifensonde der o.g. Art mit den in Anspruch 1 gekennzeichneten Merkmalen gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den weiteren Ansprüchen beschrieben.This object is achieved by a contactless loop probe o.g. Art solved with the features characterized in claim 1. Advantageous embodiments of the invention are described in the further claims.
Bei einer kontaktlosen Schleifensonde der o.g. Art ist es erfindungsgemäß vorgesehen, dass die Koppelstruktur als HF-Wellenleiter mit wenigstens einem Signalleiter und wenigstens einem Bezugsleiter ausgebildet ist.In a contactless loop probe o.g. It is inventively provided that the coupling structure is formed as an RF waveguide with at least one signal conductor and at least one reference conductor.
Dies hat den Vorteil, dass eine kontaktlose Schleifensonde mit kontrollierter Impedanz zur Verfügung steht, so dass eine hohe Richtdämpfung erzielt und weniger Mantelwellen erzeugt werden, wobei die erfindungsgemäße kontaktlose Schleifensonde analytisch besser beschreibbar und die Grenzfrequenz höher ist, als bei nicht impedanzkontrollierten Messsonden. Im Bereich der Koppelstruktur steht durch die Kombination von Signalleiter und Bezugsleiter eine kontrollierte und insbesondere impedanzkontrollierte Ausbreitung von elektromagnetischen Hochfrequenzwellen zu Verfügung. Zweckmäßigerweise sind die Koppelstruktur, der erste Übergang, der erste Signalleiter, der zweite Übergang und der Ausgang derart impedanzkontrolliert ausgebildet, dass diese eine aufeinander abgestimmte Impedanz derart aufweisen, dass sich eine hohe Eingangsreflexionsdämpfung und eine hohe Richtwirkung ergibt.This has the advantage that a contactless loop probe with controlled impedance is available, so that a high directivity is achieved and less sheath waves are generated, the contactless loop probe according to the invention is analytically better describable and the cutoff frequency is higher than non-impedance-controlled probes. In the area of the coupling structure, a controlled and, in particular, impedance-controlled propagation of electromagnetic high-frequency waves is available through the combination of signal conductor and reference conductor. Expediently, the coupling structure, the first transition, the first signal conductor, the second transition and the output are impedance-controlled in such a way that they have a coordinated impedance such that a high input reflection attenuation and a high directivity results.
In einer bevorzugten Ausführungsform ist die Koppelstruktur als Planarstreifenleitung oder Koplanarleitung ausgebildet, wobei der Signalleiter als ein erster Planarleiter und der Bezugsleiter als ein zweiter Planarleiter ausgebildet ist.In a preferred embodiment, the coupling structure is designed as a planar strip line or coplanar line, wherein the signal conductor is designed as a first planar conductor and the reference conductor as a second planar conductor.
In einer alternativen Ausführungsform ist die Koppelstruktur als Koaxialleitung mit einem Signalleiter in Form eines Innenleiters und einem Bezugsleiter in Form eines Außenleiters ausgebildet, wobei der Außenleiter wenigstens eine Öffnung aufweist, durch die der Innenleiter offen liegt. Die wenigstens eine Öffnung umfasst wenigstens eine rechteckige Öffnung, wenigstens eine ovale Öffnung und/oder wenigstens eine kreisförmige Öffnung. Hierbei ist die wenigstens eine Öffnung derart ausgebildet, dass die Koppelstruktur an jeder Stelle im Querschnitt betrachtet über wenigstens einen Teil des Umfangs einen Außenleiter aufweist. Hierdurch wird eine Kopplung der Koppelstruktur mit einem externen Feld erzielt. Die wenigstens eine Öffnung umfasst beispielsweise wenigstens eine rechteckige Öffnung, wenigstens eine ovale Öffnung oder wenigstens eine kreisförmige Öffnung.In an alternative embodiment, the coupling structure is designed as a coaxial line with a signal conductor in the form of an inner conductor and a reference conductor in the form of an outer conductor, wherein the outer conductor has at least one opening through which the inner conductor is exposed. The at least one opening comprises at least one rectangular opening, at least one oval opening and / or at least one circular opening. In this case, the at least one opening is formed in such a way that the coupling structure, viewed in cross-section, has an outer conductor over at least part of the circumference. As a result, a coupling of the coupling structure is achieved with an external field. The at least one opening comprises, for example, at least one rectangular opening, at least one oval opening or at least one circular opening.
In einer weiteren alternativen Ausführungsform ist die Koppelstruktur als Hohlleiter mit einem Bezugsleiter in Form eines Außenleiters und einem Signalleiter in Form eines Hohlraumes innerhalb des Außenleiters ausgebildet, wobei der Außenleiter wenigstens eine Öffnung aufweist, durch die der Hohlraum offen liegt.In a further alternative embodiment, the coupling structure is formed as a waveguide with a reference conductor in the form of an outer conductor and a signal conductor in the form of a cavity within the outer conductor, wherein the outer conductor has at least one opening through which the cavity is exposed.
Zweckmäßigerweise ist der wenigstens eine erste Signalleiter als HF-Signalleitung, insbesondere als Koaxialleitung, Planarstreifenleitung, Koplanarleitung oder Hohlleiter, ausgebildetExpediently, the at least one first signal conductor is designed as an HF signal line, in particular as a coaxial line, planar strip line, coplanar line or waveguide
Je nach Art der Koppelstruktur und der wenigstens zwei Signalleiter sind/ist der erste und/oder zweite Übergang als Planarübergang, Koaxialübergang, Koplanarübergang, Hohlleiterübergang, Planar-Koaxialübergang, Planar- Hohlleiterübergang, Koaxial-Hohlleiterübergang, Koplanar-Koaxialübergang, Koplanar-Hohlleiterϋbergang oder Planar-Koplanarübergang ausgebildet.Depending on the nature of the coupling structure and the at least two signal conductors, the first and / or second transition is / are the planar transition, coaxial transition, Coplanar transition, waveguide transition, planar coaxial transition, planar waveguide transition, coaxial waveguide transition, coplanar coaxial transition, coplanar waveguide transition or planar-coplanar transition formed.
In einer bevorzugten Ausführungsform weist die Koppelstruktur zwei Enden auf, wobei ein Ende mit dem ersten Signalleiter und das andere Ende mit einem Abschlusswiderstand elektrisch verbunden ist.In a preferred embodiment, the coupling structure has two ends, one end being electrically connected to the first signal conductor and the other end being electrically connected to a terminating resistor.
In einer alternativen Ausführungsform weist die Koppelstruktur zwei Enden auf, wobei jedes Ende jeweils mit einem Signalleiter elektrisch verbunden ist.In an alternative embodiment, the coupling structure has two ends, each end being electrically connected to a signal conductor.
Zweckmäßigerweise ist wenigstens ein Ausgang als HF-Signalleitung, insbesondere als Koaxialleitung, Planarstreifenleitung, Koplanarleitung oder Hohlleiter, ausgebildet.Expediently, at least one output is designed as an HF signal line, in particular as a coaxial line, planar strip line, coplanar line or waveguide.
In einer bevorzugten Ausführungsform sind zwei oder mehr Koppelstrukturen vorgesehen, wobei je zwei Koppelstrukturen über eine zweite Signalleitung und jeweilige erste Übergänge miteinander elektrisch verbunden sind.In a preferred embodiment, two or more coupling structures are provided, wherein each two coupling structures are electrically connected to each other via a second signal line and respective first transitions.
Zweckmäßigerweise ist wenigstens eine zweite Signalleitung als HF-Signalleitung, insbesondere als Koaxialleitung, Planarstreifenleitung, Koplanarleitung oder Hohlleiter, ausgebildet.Expediently, at least one second signal line is designed as an HF signal line, in particular as a coaxial line, planar strip line, coplanar line or waveguide.
Zum abstandskontrollierten Anordnen der Schleifensonde nahe einem Leiter, welcher ein elektromagnetisches Nahfeld aussendet, ist zusätzlich eine Vorrichtung zum Bestimmen eines Abstandes der Koppelstruktur von einem ein Nahfeld aussendendem Leiter vorgesehen.For distance-controlled arrangement of the loop probe near a conductor which emits an electromagnetic near field, a device for determining a distance of the coupling structure from a conductor emitting a near field is additionally provided.
Beispielsweise umfasst die Vorrichtung zum Bestimmen des Abstandes einen optischen, elektrischen, mechanischen und/oder elektromechanischen Abstandssensor. Zum kontrollierten, dreidimensionalen Anordnen der Schleifensonde nahe einem Leiter, welcher ein elektromagnetisches Nahfeld aussendet, ist zusätzlich eine Vorrichtung zum Bestimmen einer Position der Schleifensonde im Raum vorgesehen.By way of example, the device for determining the distance comprises an optical, electrical, mechanical and / or electromechanical distance sensor. For controlled, three-dimensional arrangement of the loop probe near a conductor which emits a near electromagnetic field, a device for determining a position of the loop probe in space is additionally provided.
Beispielsweise ist die Vorrichtung zum Bestimmen einer Position der Schleifensonde im Raum ein Bildsensor.For example, the device for determining a position of the loop probe in space is an image sensor.
Beispielsweise weist die Schleifensonde ein Gehäuse auf, welches zur Vermeidung von Mantelwellen bevorzugt mit einem Ferritwerkstoff oder einem Absorberwerkstoff ummantelt ist. Optional ist am Gehäuse zusätzlich eine Halterung zum Befestigen an dem Messsystem ausgebildet. Bevorzugt ist das Gehäuse aus Metall, Kunststoff oder einem Absorberwerkstoff hergestellt.For example, the loop probe has a housing, which is preferably sheathed with a ferrite material or an absorber material to avoid sheath waves. Optionally, a holder for fastening to the measuring system is additionally formed on the housing. Preferably, the housing is made of metal, plastic or an absorber material.
In einer bevorzugten Ausführungsform ist der erste und/oder der zweite Übergang als eine gelötete, geschweißte oder geklebte elektrische Verbindung ausgebildet.In a preferred embodiment, the first and / or the second junction is formed as a soldered, welded or glued electrical connection.
Zur Erhöhung der Messdynamik weist die Schleifensonde zusätzlich einen Messverstärker zum Verstärken der gekoppelten Signale auf.To increase the dynamic range, the loop probe additionally has a measuring amplifier for amplifying the coupled signals.
In einer bevorzugten Ausführungsform weist die Schleifensonde zusätzlich eine Positioniervorrichtung zum Positionieren derselben im Raum auf, so dass die Schleifensonde in wenigstens einer Raumrichtung verschiebbar ist. Die Positioniervorrichtung weist beispielsweise wenigstens einen Stellmotor, insbesondere Schrittmotor, auf.In a preferred embodiment, the loop probe additionally has a positioning device for positioning it in space, so that the loop probe is displaceable in at least one spatial direction. The positioning device has, for example, at least one servomotor, in particular a stepping motor.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand der Zeichnung näher erläutert. Diese zeigt in:The invention will be explained in more detail below with reference to the drawing. This shows in:
Fig. 1 eine bevorzugte Ausführungsform einer erfindungsgemäßen kontaktlose Schleifensonde in perspektivischer Ansicht, Fig. 2 die kontaktlose Schleifensonde gemäß Fig. 1 in teilweise aufgebrochener Ansicht,1 shows a preferred embodiment of a contactless loop probe according to the invention in a perspective view, 2 shows the contactless loop probe according to FIG. 1 in a partially broken view, FIG.
Fig. 3 eine Koppelstruktur der kontaktlose Schleifensonde gemäß Fig. 1 in vergrößerter Ansicht,3 is a coupling structure of the contactless loop probe of FIG. 1 in an enlarged view,
Fig. 4 eine schematische Darstellung einer ersten bevorzugten Ausführungsform einer Koppelstruktur in Form einer Planarleitung,4 shows a schematic illustration of a first preferred embodiment of a coupling structure in the form of a planar conductor,
Fig. 5 eine schematische Darstellung einer zweiten bevorzugten Ausführungsform einer Koppelstruktur in Form einer Planarleitung,5 shows a schematic representation of a second preferred embodiment of a coupling structure in the form of a planar conductor,
Fig. 6 eine dritte bevorzugte Ausführungsform einer Koppelstruktur in Form einer6 shows a third preferred embodiment of a coupling structure in the form of a
Koaxialleitung in Seitenansicht,Coaxial line in side view,
Fig. 7 die dritte bevorzugte Ausführungsform einer Koppelstruktur gemäß Fig. 6 in Aufsicht,7 shows the third preferred embodiment of a coupling structure according to FIG. 6 in plan view,
Fig. 8 die dritte bevorzugte Ausführungsform einer Koppelstruktur gemäß Fig. 6 in einer weiteren Seitenansicht,8 shows the third preferred embodiment of a coupling structure according to FIG. 6 in a further side view,
Fig. 9 eine erste bevorzugte Ausführungsform einer in einem Außenleiter der Koppelstruktur gemäß Fig. 6 ausgebildeten Öffnung,9 shows a first preferred embodiment of an opening formed in an outer conductor of the coupling structure according to FIG. 6, FIG.
Fig. 10 eine zweite bevorzugte Ausführungsform einer in einem Außenleiter der Koppelstruktur gemäß Fig. 6 ausgebildeten Öffnung,10 shows a second preferred embodiment of an opening formed in an outer conductor of the coupling structure according to FIG. 6, FIG.
Fig. 11 eine dritte bevorzugte Ausführungsform einer in einem Außenleiter derFig. 11 shows a third preferred embodiment of a in an outer conductor of
Koppelstruktur gemäß Fig. 6 ausgebildeten Öffnung,Coupling structure according to FIG. 6 formed opening,
Fig. 12 eine vierte bevorzugte Ausführungsform einer Koppelstruktur in Form einer12 shows a fourth preferred embodiment of a coupling structure in the form of a
Koaxialleitung in perspektivischer Ansicht, Fig. 13 eine fünfte bevorzugte Ausführungsform einer Koppelstruktur in Form einer Koaxialleitung in perspektivischer Ansicht undCoaxial line in perspective view, 13 is a fifth preferred embodiment of a coupling structure in the form of a coaxial line in perspective view and
Fig. 14 eine sechste bevorzugte Ausführungsform einer Koppelstruktur in Form einer Koaxialleitung in perspektivischer Ansicht.14 shows a sixth preferred embodiment of a coupling structure in the form of a coaxial line in a perspective view.
Die in Fig. 1 bis 3 beispielhaft dargestellte, bevorzugte Ausführungsform einer erfindungsgemäßen kontaktlosen Schleifensonde zum kontaktlosen Auskoppeln eines HF-Signals aus einem Signalleiter (nicht dargestellt) für ein kontaktloses Messsystem umfasst eine Koppelstruktur 10, zwei erste Signalleiter 12, die jeweils mit einem Ende der Koppelstruktur 10 elektrisch verbunden sind, und zwei Ausgänge 14, die jeweils mit einem der ersten Signalleiter 12 elektrisch verbunden sind. Die beiden Enden der Koppelstruktur 10 werden nachfolgend als "erstes Tor 16" (Fig. 4, 5) und "zweites Tor 18" (Fig. 4, 5) bezeichnet. Die elektrische Verbindung zwischen den Toren 16, 18 und den ersten Signalleitern 12 erfolgt über jeweilige erste Übergänge 20 und die elektrische Verbindung zwischen den ersten Signalleitern 12 und den Ausgängen 14 erfolgt über jeweilige zweite Übergänge 22. Alle vorgenannten Teile sind an bzw. in einem Gehäuse 28 der Schleifensonde angeordnet.The exemplary embodiment of a contactless loop probe according to the invention for contactless coupling out of an RF signal from a signal conductor (not shown) for a contactless measuring system comprises a coupling structure 10, two first signal conductors 12, each with one end of the Coupling structure 10 are electrically connected, and two outputs 14, which are each electrically connected to one of the first signal conductor 12. The two ends of the coupling structure 10 are hereinafter referred to as "first port 16" (FIGS. 4, 5) and "second port 18" (FIGS. 4, 5). The electrical connection between the ports 16, 18 and the first signal conductors 12 via respective first transitions 20 and the electrical connection between the first signal conductors 12 and the outputs 14 via respective second transitions 22. All the above parts are on or in a housing 28 arranged the loop probe.
Erfindungsgemäß ist die Koppelstruktur 10 als HF-Wellenleiter mit wenigstens einem Signalleiter 24 und wenigstens einem Bezugsleiter 26 ausgebildet.According to the invention, the coupling structure 10 is designed as an HF waveguide with at least one signal conductor 24 and at least one reference conductor 26.
Die Koppelstruktur 10, die ersten Übergänge 20, die ersten Signalleiter 12, die zweiten Übergänge 22 und die Ausgänge 14 weisen alle eine aufeinander abgestimmte Impedanz auf, so dass eine hohe Richtdämpfung erzielt wird. Hierdurch ist die erfindungsgemäße kontaktlose Schleifensonde Impedanzkontrolliert.The coupling structure 10, the first transitions 20, the first signal conductors 12, the second transitions 22 and the outputs 14 all have a coordinated impedance, so that a high directivity is achieved. As a result, the contactless loop probe according to the invention is impedance-controlled.
In Fig. 4 und 5 sind zwei beispielhafte Ausführungen der Koppelstruktur in Form einer Planarleitung dargestellt. Die Planarleitung umfasst einen Innenleiter 24 und eine Außenleiter 26, die jeweils am ersten Tor 16 und am zweiten Tor 18 enden. Fig. 6 bis 8 zeigen eine alternative Ausführungsform für die Koppelstruktur 10. Diese ist hierbei aus einem Koaxialleiter mit einem Innenleiter 30 und einem Außenleiter 32 ausgebildet. In dem Außenleiter ist eine rechteckförmige Öffnung 34 als Koppelschlitz ausgebildet, so dass der Innenleiter 30 im Bereich der Öffnung 34 frei liegt. Die Fig. 9 bis 11 zeigen verschiedene Ausführungen für die Öffnung 34, diese kann rechteckförmig (Fig. 9) oder oval (Fig. 10) ausgebildet sein und auch mehrere einzelne Öffnungen umfassen, wie in Fig. 11 am Beispiel mit mehreren kreisförmigen Öffnungen 34 dargestellt.FIGS. 4 and 5 show two exemplary embodiments of the coupling structure in the form of a planar conductor. The planar conductor comprises an inner conductor 24 and an outer conductor 26 which terminate at the first gate 16 and the second gate 18, respectively. 6 to 8 show an alternative embodiment for the coupling structure 10. This is formed from a coaxial conductor with an inner conductor 30 and an outer conductor 32. In the outer conductor, a rectangular opening 34 is formed as a coupling slot, so that the inner conductor 30 is exposed in the region of the opening 34. 9 to 11 show different embodiments for the opening 34, this may be rectangular (FIG. 9) or oval (FIG. 10) and also comprise a plurality of individual openings, as in FIG. 11 using the example with a plurality of circular openings 34 shown.
Fig. 12 bis 14 zeigen verschiedene Ausführungsformen der Koppelstruktur 10 in Form einer Koaxialleitung mit Öffnung 34 im Außenleiter 32, welcher nahe einer Signalleitung 36 zum Auskoppeln eines über die Signalleitung 36 laufenden Signals angeordnet ist.12 to 14 show various embodiments of the coupling structure 10 in the form of a coaxial line with opening 34 in the outer conductor 32, which is arranged near a signal line 36 for coupling out a signal passing through the signal line 36.
Die kontaktlose Schleifensonde dient für Anwendungen in einem kontaktlosen Messsystem beispielsweise einer kontaktlosen Vektornetzwerkanalyse. Die Schleifensonde wird dazu in das elektromagnetische Nahefeld einer elektrischen Signalleitung 36 (Fig. 12 bis 14) positioniert. Sie bildet zusammen mit der Signalleitung 36 einen Koppler aus. Einen Teil des elektromagnetischen Feldes der Signalleitung 36 wird durch die Schleifensonde ausgekoppelt und zu den Ausgangstoren 16, 18 der Schleifensonde geleitet. Die erfindungsgemäße, kontaktlose Schleifensonde ist impedanzkontrolliert. Impedanzkontrollierte Schleifensonden weisen gegenüber nicht impedanzkontrollierten Sonden einige Vorteile auf. U. a. kann eine hohe Richtdämpfung erzielt werden, es werden weniger Mantelwellen erzeugt, sie sind analytisch besser beschreibbar und die Grenzfrequenz ist höher als bei nicht impedanzkontrollierten Messsonden. Impedanzkontrolliert heißt, das die Messsonden auf Reflexionsarmut und eine hohe Richtdämpfung optimiert ist, d.h. eine impedanzkontrollierte Schleifensonde weißt eine geringe Einfügedämpfung auf. Die impedanzkontrollierte Koppelstruktur 10 kann nahezu beliebig geformt sein. Die koaxiale, kontaktlose Schleifensonde, wie in Fig. 6 bis 14 dargestellt, ist als eine geschirmte, impedanzkontrollierte, koaxiale Nahfeldmesssonde ausgebildet. Diese umfasst die Koaxialleitung 30, 32 mit einem definierten Koppelschlitz 34 bzw. mit definierten Koppellöchern 34. Beispiele verschiedener Koppelgeometrien sind in der Fig. 9 bis 11 dargestellt. Die koaxiale, kontaktlose Schleifensonde dient zum Einsatz als Koppler im Nahfeld der HF- bzw. Mikrowellenleitung 36. Die Koppelöffnung 34 bzw. die Koppelöffnungen 34 in Kombination mit dem Innenleiter 30 der Koaxialleitung sind so dimensioniert, dass die koaxiale, kontaktlose Schleifensonde (Messsonde) eine hohe Leistungsübertragung mit einem geringen Reflexionsfaktor zwischen Tor 1 16 und Tor 2 18 aufweist, d. h. die Geometrie des Innenleiters 30 kann im Bereich der Koppelöffnung(en) 34 eine veränderte Geometrie aufweisen, als in der restlichen Koaxialleitung. Die gesamte Messsonde besitzt induktive und kapazitive Koppeleigenschaften und wirkt als Schleifenkoppler.The non-contact loop probe is used for non-contact measurement system applications such as contactless vector network analysis. For this purpose, the loop probe is positioned in the electromagnetic near field of an electrical signal line 36 (FIGS. 12 to 14). It forms together with the signal line 36 a coupler. A portion of the electromagnetic field of the signal line 36 is coupled out through the loop probe and directed to the output ports 16, 18 of the loop probe. The contactless loop probe according to the invention is impedance-controlled. Impedance controlled loop probes have some advantages over non-impedance controlled probes. U. a. a high directivity can be achieved, less sheath waves are generated, they are analytically better describable and the cut-off frequency is higher than in non-impedance-controlled probes. Impedance-controlled means that the probes are optimized for low reflection and high directivity, ie an impedance-controlled loop probe has a low insertion loss. The impedance-controlled coupling structure 10 can be shaped almost arbitrarily. The coaxial, non-contact loop probe, as shown in Figs. 6-14, is formed as a shielded, impedance-controlled coaxial near-field probe. This comprises the coaxial line 30, 32 with a defined coupling slot 34 or with defined coupling holes 34. Examples of different coupling geometries are shown in FIGS. 9 to 11. The coaxial contactless loop probe is used as a coupler in the near field of the RF or microwave line 36. The coupling opening 34 and the coupling openings 34 in combination with the inner conductor 30 of the coaxial line are dimensioned so that the coaxial, non-contact loop probe (probe) a high power transmission with a low reflection factor between Tor 1 16 and Tor 2 18, ie, the geometry of the inner conductor 30 may have a different geometry in the region of the coupling opening (s) 34, as in the remaining coaxial line. The entire probe has inductive and capacitive coupling characteristics and acts as a loop coupler.
Bei herkömmlichen, nicht impedanzkontrollierten Schleifenkopplern besteht die Koppelstruktur aus einem bzw. zwei Koaxialleitern mit durchgehendem bzw. verbundenem Innenleiter. Damit eine Kopplung mit einer zweiten Leitung erfolgen kann, ist der äußere Schirm (Außenleiter) der Koaxialleitung vollständig entfernt. Dies führt zu einem Wellensprung in der Leitung und somit zu Reflexionen. Bei dem Schleifenkoppler gemäß Fig. 6 bis 8 ist nur ein Fenster 34 von dem Koaxialschirm 32 entfernt bzw. ausgespart, so dass sich nur geringfügige Reflexionen bei Einspeisung einer Welle in das erste Tor 16 bzw. das zweite Tor 18 ergeben. Durch eine Änderung der Innenleitergeometrie lassen sich diese Reflexionen weiter minimieren. Verschiedene Ausführungsformen sind in Fig. 12 bis 14 dargestellt. Optional ist bei der impedanzkontrollierten Schleifensonde die Koaxialleitung mit einem Absorbergehäuse umgeben.In conventional, non-impedance-controlled loop couplers, the coupling structure consists of one or two coaxial conductors with a continuous or connected inner conductor. So that a coupling can be made with a second line, the outer shield (outer conductor) of the coaxial line is completely removed. This leads to a wave jump in the line and thus to reflections. In the loop coupler according to FIGS. 6 to 8, only one window 34 is removed from the coaxial shield 32, so that only minor reflections result when feeding a wave into the first port 16 or the second port 18. By changing the inner conductor geometry, these reflections can be further minimized. Various embodiments are shown in FIGS. 12 to 14. Optionally, in the case of the impedance-controlled loop probe, the coaxial line is surrounded by an absorber housing.
Bei der impedanzkontrollierten Schleifensonde gemäß Fig. 1 bis 3 ist dieIn the impedance-controlled loop probe according to FIGS. 1 to 3, the
Koppelstruktur 10 als planare, impedanzkontrollierte Zweidraht-Schleife, mit einem impedanzkontrollierten Übergang auf zwei planare Koplanarleitungen, die wiederum mittels eines impedanzkontrollierten Überganges mit zwei Koaxialleitungen 12 verbunden sind, ausgebildet. Die Form der Zweidraht-Schleife 10 kann beliebig sein. Beispiele für zwei verschiedene Formen sind in Fig. 4 und 5 angegeben.Coupling structure 10 as a planar, impedance-controlled two-wire loop, with an impedance controlled transition to two planar Koplanarleitungen, in turn, by means of an impedance controlled transition with two coaxial 12th are connected, trained. The shape of the two-wire loop 10 can be arbitrary. Examples of two different forms are given in FIGS. 4 and 5.
Die Koppelstruktur ist derart ausgelegt, dass eine Auskopplung einer elektromagnetischen Welle von einem Wellenleiter 36 (Zuleitung eines DUTs) möglich ist. Die Koppelstruktur 10 weist mindestens zwei weitere Wellenleiter 12 auf, die an die Koppelstruktur 10 angeschlossen sind. Die an die Koppelstruktur 10 angeschlossenen Wellenleiter 12 sind in der Regel mit einem Wellenübergang 14 zur Verbindung der Sonde mit einem Messsystem oder komplexen Abschlussimpedanzen ausgestattet. Die beispielhaft dargestellte Sonde umfasst somit im Wesentlichen mindestens eine Koppelstruktur 10 mit mindestens zwei Wellenleitern 12 und Übergängen 14, wobei alle Komponenten zusammen impedanzkontrolliert ausgelegt sind. Impedanzkontrolliert heißt, dass bei einer Leistungseinspeisung in einen beliebigen Wellenleiter der Koppelstruktur 10 nur sehr wenig Leistung reflektiert wird und eine hohe Richtdämpfung erreicht wird, wenn alle anderen Wellenleiter impedanzkontrolliert abgeschlossen sind.The coupling structure is designed such that a coupling out of an electromagnetic wave from a waveguide 36 (supply of a DUT) is possible. The coupling structure 10 has at least two further waveguides 12, which are connected to the coupling structure 10. The waveguides 12 connected to the coupling structure 10 are generally equipped with a wave transition 14 for connecting the probe to a measuring system or complex terminating impedances. The probe shown by way of example therefore essentially comprises at least one coupling structure 10 with at least two waveguides 12 and transitions 14, wherein all components are designed to be impedance-controlled together. Impedanzkontrolliert means that at a power supply in any waveguide of the coupling structure 10 is reflected only very little power and a high directivity is achieved when all other waveguides are closed impedance controlled.
Statt mit zwei Wellenleitern 12 kann die Koppelstruktur 10 auch mit mehreren Wellenleitern 12 impedanzkontrolliert verbunden sein, d. h. die Schleifesonde kann mehr als zwei Ausgänge 14 besitzen.Instead of having two waveguides 12, the coupling structure 10 can also be connected to a plurality of waveguides 12 with impedance control, ie. H. the grinding probe can have more than two outputs 14.
In einer bevorzugten Ausführungsform besitzt die Messsonde nur einen Ausgang 14, wobei in diesem Fall die Koppelstruktur 10 bzw. eines der Tore 16, 18 innerhalb des Messsondengehäuses 28 impedanzkontrolliert abgeschlossen ist.In a preferred embodiment, the measuring probe has only one output 14, in which case the coupling structure 10 or one of the gates 16, 18 is terminated controlled impedance within the measuring probe housing 28.
Die Schleifensonde kann auch mehr als eine impedanzkontrollierte Koppelstruktur 10 aufweisen. Die einzelnen Koppelstrukturen 10 sind dann über einen impedanzkontrollierten Wellenleiter bzw. zweiten Signalleiter miteinander verbunden.The loop probe can also have more than one impedance-controlled coupling structure 10. The individual coupling structures 10 are then connected to one another via an impedance-controlled waveguide or second signal conductor.
Es kann mehr als eine Schleifensonde in einem gemeinsamen Gehäuse 28 untergebracht sein, beispielsweise ist bei einer elektromagnetischen Verkopplung der Koppelstrukturen 10 mit einem weiteren Wellenleiter 36 eines Messsubstrates ein kontaktloser, impedanzkontrollierte Doppelrichtkoppler realisiert.There may be more than one loop probe housed in a common housing 28, for example, in electromagnetic coupling the coupling structures 10 realized with a further waveguide 36 of a measuring substrate, a contactless, impedance-controlled Doppelrichtkoppler.
Die Messsonden kann eine Vorrichtung (Sensor) zur Abstandskontrolle beinhalten. Verschiedene Sensoren sind denkbar: optische, elektrische, mechanische, elektro- mechanische, etc. Die Abstandsinformation kann dem Messsystem elektrisch, mechanisch, optisch oder akustisch mitgeteilt werden.The probes may include a device (sensor) for distance control. Various sensors are conceivable: optical, electrical, mechanical, electromechanical, etc. The distance information can be communicated to the measuring system electrically, mechanically, visually or acoustically.
Die impedanzkontrollierte, kontaktlose Schleifensonde enthält optional zusätzlich Sensoren, mit denen es möglich ist, eine exakte dreidimensionale räumlicheThe impedance-controlled, non-contact loop probe optionally includes additional sensors with which it is possible to obtain an exact three-dimensional spatial
Positionierung zu gewährleisten. Diese Sensoren umfassen beispielsweise eineTo ensure positioning. These sensors include, for example
Miniaturkamera für die Detektierung von Positionierungsmarken mittelsMiniature camera for the detection of positioning marks by means of
Mustererkennungsverfahren. Mittels der Sonden ist eine automatisiertePattern recognition methods. By means of the probes is an automated
Sondenpositionierung möglich.Probe positioning possible.
Zur Unterdrückung von Mantelwellen ist das äußere Gehäuse u. a. mit Ferrit- und/oder Absorbermaterialien ummantelt.For suppression of sheath waves, the outer housing u. a. coated with ferrite and / or absorber materials.
Die impedanzkontrollierte, kontaktlose Schleifensonde kann beliebig geformt sein und aus verschiedenen Wellenleitern wie z. B. Hohlleitern, Koaxialleitern, planare Leitungen bestehen.The impedance-controlled, non-contact loop probe can be arbitrarily shaped and made of different waveguides such. As waveguides, coaxial conductors, planar lines exist.
Die Koppelgeometrie ist optimiert auf Reflexionsarmut (impedanzkontrolliert) und auf eine hohe Richtdämpfung bei Verkopplung einer Schleifensonden mit einem anderen Wellenleiter wie z. B. Hohlleitern, Koaxialleitern, planare Leitungen.The coupling geometry is optimized for low reflection (impedance controlled) and a high directivity when coupling a loop probes with another waveguide such. B. waveguides, coaxial conductors, planar lines.
Die Geometrie des Gehäuses 28 kann beliebig geformt ausgeführt sein.The geometry of the housing 28 may be designed arbitrarily shaped.
Bei der planar ausgeführten Koppelstruktur sind die einzelnen planaren Leitungen beispielsweise mit (Bond-) Drähten elektrischen verbunden. Die Anwendung der impedanzkontrollierten Schleifensonde erfolgt bevorzugt im Bereich Messtechnik und E MV-Technik, sowie für die Realisierung von Richtkopplem.In the case of the planar coupling structure, the individual planar lines are electrically connected, for example, to (bonding) wires. The application of the impedance-controlled loop probe is preferably carried out in the field of measurement technology and E MV technology, as well as for the realization of directional couplers.
Das Messsondengehäuse 28 kann eine Halterung zur Befestigung der Messsonde an/in einem Messsystem besitzen, wie in Fig. 1 und 2 dargestellt.The measuring probe housing 28 may have a holder for mounting the measuring probe to / in a measuring system, as shown in FIGS. 1 and 2.
Der erste Übergang 20 zwischen Koppelstruktur 10 und den Wellenleitern 12 kann beliebig ausgeführt ist, wobei dieser in jedem Fall impedanzkontrolliert ist. Der Übergang ist beispielsweise gelötet, geschweißt oder verklebt.The first transition 20 between the coupling structure 10 and the waveguides 12 may be arbitrary, this being impedance-controlled in each case. The transition is for example soldered, welded or glued.
Zur Erhöhung der Messdynamik werden die gekoppelten Signale mittels eines Messverstärkers verstärkt. Dazu ist in die impedanzkontrollierte Schleifensonde, beispielsweise in den einzelnen mit der Koppelstruktur 10 verbundenen Wellenleitern 12, ein Verstärker implementiert. Dieser Verstärker ist ebenfalls impedanzkontrolliert, d.h. dessen Impedanz ist auf die Eingangsimpedanz der Sonde abgestimmt, so dass geringe Eingangsreflexionen und eine hohe Richtdämpfung vorhanden sind. Hierbei handelt es sich dann um eine aktive Messsonde.To increase the measurement dynamics, the coupled signals are amplified by means of a measuring amplifier. For this purpose, an amplifier is implemented in the impedance-controlled loop probe, for example in the individual waveguides 12 connected to the coupling structure 10. This amplifier is also impedance controlled, i. its impedance is matched to the input impedance of the probe, so that low input reflections and a high directivity are present. This is then an active measuring probe.
In einer bevorzugten Weiterbildung der Erfindung ist die kontaktlosen Schleifensonde mit einer Positionseinrichtung kombiniert, so dass die Sonde in allen Dimensionen oder nur in einer oder zwei etc. verschoben werden kann. Die Positionseinrichtung kann in einem Sondenhalter oder dem Gehäuse 28 integriert sein oder über eine Halterung mit der Schleifensonde bzw. dem Gehäuse 28 verbunden sein. Die Positionseinrichtung kann manuell bedienbar sein und/oder motorisiert sein. Sie kann also aktiv oder passiv sein. Beispielsweise wird mit der Positionseinrichtung der Abstand der Sonde zum Messsubstrat eingestellt bzw. nachgeregelt. Die Positionseinrichtung kann zur Steuerung eine Steuerleitung enthalten. In a preferred embodiment of the invention, the contactless loop probe is combined with a position device, so that the probe can be moved in all dimensions or only in one or two, etc. The position device may be integrated in a probe holder or the housing 28 or connected via a holder with the loop probe or the housing 28. The position device can be manually operated and / or motorized. So it can be active or passive. For example, the distance of the probe to the measuring substrate is adjusted or readjusted with the position device. The positioner may include a control line for control.

Claims

Patentansprüche: claims:
1. Kontaktlose Schleifensonde zum kontaktlosen Auskoppeln eines HF- Signals für ein kontaktloses Messsystem mit wenigstens einer Koppelstruktur (10) und wenigstens einem mit der Koppelstruktur (10) über einen ersten Übergang (20) elektrisch verbundenen ersten Signalleiter (12), welcher ü- ber einen zweiten Übergang (22) mit einem Ausgang (14) zum elektrischen Verbinden mit dem Messsystem elektrisch verbunden ist, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t , dass die Koppelstruktur (10) als HF-Wellenleiter mit wenigstens einem Sig- nalleiter (24; 30) und wenigstens einem Bezugsleiter (26; 32) ausgebildet ist.1. Contactless loop probe for contactless coupling out of an RF signal for a contactless measuring system with at least one coupling structure (10) and at least one with the coupling structure (10) via a first transition (20) electrically connected first signal conductor (12), which ü over a second transition (22) is electrically connected to an output (14) for electrical connection to the measuring system, characterized in that the coupling structure (10) as an HF waveguide is provided with at least one signal conductor (24; 26, 32) is formed.
2. Kontaktlose Schleifensonde nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass die Koppelstruktur (10), der erste Übergang (20), der erste Signalleiter (12), der zweite Übergang (22) und der Ausgang (14) derart impedanzkontrolliert ausgebildet sind, dass diese eine aufeinander abgestimmte Impedanz derart aufweisen, dass sich eine hohe Eingangsreflexionsdämpfung und eine hohe Richtwirkung ergibt.2. Contactless loop probe according to claim 1, characterized in that the coupling structure (10), the first transition (20), the first signal conductor (12), the second junction (22) and the output (14) are formed so controlled impedance that these have a matched impedance such that there is a high input reflection loss and a high directivity.
3. Kontaktlose Schleifensonde nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Koppelstruktur (10) als Planarstreifenleitung oder Kopla- narleitung ausgebildet ist, wobei der Signalleiter als ein erster Planarleiter (24) und der Bezugsleiter als ein zweiter Planarleiter (26) ausgebildet ist.3. Contactless loop probe according to claim 1 or 2, characterized in that the coupling structure (10) is designed as nary Planarstreifenleitung or Kopla-, wherein the signal conductor as a first planar conductor (24) and the reference conductor as a second planar conductor (26) is formed ,
4. Kontaktlose Schleifensonde nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Koppelstruktur (10) als Koaxialleitung mit einem Signalleiter in Form eines Innenleiters (30) und einem Bezugsleiter in Form eines Außenleiters (32) ausgebildet ist, wobei der Außenleiter (32) wenigstens eine Öffnung (34) aufweist, durch die der Innenleiter (30) offen liegt. 4. Contactless loop probe according to claim 1 or 2, characterized in that the coupling structure (10) is designed as a coaxial line with a signal conductor in the form of an inner conductor (30) and a reference conductor in the form of an outer conductor (32), wherein the outer conductor (32). has at least one opening (34) through which the inner conductor (30) is exposed.
5. Kontaktlose Schleifensonde nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass die wenigstens eine Öffnung (34) wenigstens eine rechteckige Öffnung, wenigstens eine ovale Öffnung und/oder wenigstens eine kreisförmige Öffnung umfasst.5. Contactless loop probe according to claim 4, characterized in that the at least one opening (34) comprises at least one rectangular opening, at least one oval opening and / or at least one circular opening.
6. Kontaktlose Schleifensonde nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass die wenigstens eine Öffnung (34) derart ausgebildet ist, dass die Koppelstruktur an jeder Stelle im Querschnitt betrachtet über wenigstens einen Teil des Umfangs einen Außenleiter (32) aufweist.6. contactless loop probe according to claim 4 or 5, characterized in that the at least one opening (34) is formed such that the coupling structure at any point in cross-section over at least a portion of the circumference has an outer conductor (32).
7. Kontaktlose Schleifensonde nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Koppelstruktur (10) als Hohlleiter mit einem Bezugsleiter in Form eines Außenleiters und einem Signalleiter in Form eines Hohlraumes innerhalb des Außenleiters ausgebildet ist, wobei der Außenleiter wenigstens eine Öffnung aufweist, durch die der Hohlraum offen liegt.7. Contactless loop probe according to claim 1 or 2, characterized in that the coupling structure (10) is designed as a waveguide with a reference conductor in the form of an outer conductor and a signal conductor in the form of a cavity within the outer conductor, wherein the outer conductor has at least one opening through the cavity is open.
8. Kontaktlose Schleifensonde nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der wenigstens eine erste Signalleiter (12) als HF-Signalleitung, insbesondere als Koaxialleitung, PIa- narstreifenleitung, Koplanarleitung oder Hohlleiter, ausgebildet ist.8. Contactless loop probe according to at least one of the preceding claims, characterized in that the at least one first signal conductor (12) is designed as an RF signal line, in particular as a coaxial line, piano strip line, coplanar line or waveguide.
9. Kontaktlose Schleifensonde nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der erste und/oder zweite Ü- bergang (20, 22) als Planarübergang, Koaxialübergang, Koplanarübergang, Hohlleiterübergang, Planar-Koaxialübergang, Planar-Hohlleiterübergang,9. contactless loop probe according to at least one of the preceding claims, characterized in that the first and / or second Ü-transition (20, 22) as Planarübergang, coaxial transition, coplanar transition, waveguide transition, planar coaxial transition, planar waveguide transition,
Koaxial-Hohlleiterübergang, Koplanar-Koaxialübergang, Koplanar- Hohlleiterübergang oder Planar-Koplanarübergang ausgebildet sind/ist.Coaxial waveguide transition, coplanar coaxial transition, coplanar waveguide transition or planar coplanar transition are formed / is.
10. Kontaktlose Schleifensonde nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Koppelstruktur (10) zwei10. Contactless loop probe according to at least one of the preceding claims, characterized in that the coupling structure (10) has two
Enden (16, 18) aufweist, wobei ein Ende (16) mit dem ersten Signalleiter (12) und das andere Ende (18) mit einem Abschlusswiderstand elektrisch verbunden ist. Ends (16, 18), wherein one end (16) to the first signal conductor (12) and the other end (18) is electrically connected to a terminating resistor.
11. Kontaktlose Schleifensonde nach wenigstens einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Koppelstruktur (10) zwei Enden (16, 18) aufweist, wobei jedes Ende (16, 18) jeweils mit einem ersten Signalleiter (12) elektrisch verbunden ist.11. Contactless loop probe according to at least one of claims 1 to 9, characterized in that the coupling structure (10) has two ends (16, 18), each end (16, 18) each having a first signal conductor (12) is electrically connected ,
12. Kontaktlose Schleifensonde nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens ein Ausgang (14) als HF-Signalleitung, insbesondere als Koaxialleitung, Planarstreifenleitung, Koplanarleitung oder Hohlleiter, ausgebildet ist.12. Contactless loop probe according to at least one of the preceding claims, characterized in that at least one output (14) is designed as an RF signal line, in particular as a coaxial line, planar strip line, coplanar line or waveguide.
13. Kontaktlose Schleifensonde nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zwei oder mehr Koppelstrukturen (10) vorgesehen sind, wobei je zwei Koppelstrukturen (10) über eine zweite Signalleitung und jeweilige erste Übergänge (20) miteinander elekt- risch verbunden sind.13. Contactless loop probe according to at least one of the preceding claims, characterized in that two or more coupling structures (10) are provided, wherein each two coupling structures (10) via a second signal line and respective first transitions (20) are electrically connected to each other.
14. Kontaktlose Schleifensonde nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass wenigstens eine zweite Signalleitung als HF-Signalleitung, insbesondere als Koaxialleitung, Planarstreifenleitung, Koplanarleitung oder Hohllei- ter, ausgebildet ist.14. Contactless loop probe according to claim 13, characterized in that at least one second signal line is designed as an HF signal line, in particular as a coaxial line, planar strip line, coplanar line or hollow conductor.
15. Kontaktlose Schleifensonde nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zusätzlich eine Vorrichtung zum Bestimmen eines Abstandes der Koppelstruktur von einem ein Nahfeld aussendendem Leiter (36) vorgesehen ist.15. Contactless loop probe according to at least one of the preceding claims, characterized in that in addition a device for determining a distance of the coupling structure of a near-field emitting conductor (36) is provided.
16. Kontaktlose Schleifensonde nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zum Bestimmen des Abstandes einen optischen, e- lektrischen, mechanischen und/oder elektromechanischen Abstandssensor umfasst.16 contactless loop probe according to claim 15, characterized in that the device for determining the distance comprises an optical, e-lectric, mechanical and / or electromechanical distance sensor.
17. Kontaktlose Schleifensonde nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass zusätzlich eine Vorrichtung zum Bestimmen einer Position der Schleifensonde im Raum vorgesehen ist.17. Contactless loop probe according to at least one of the preceding claims, characterized in that in addition a device is provided for determining a position of the loop probe in the room.
18. Kontaktlose Schleifensonde nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung zum Bestimmen einer Position der Schleifensonde im18. Contactless loop probe according to claim 17, characterized in that the device for determining a position of the loop probe in
Raum ein Bildsensor ist.Space is an image sensor.
19. Kontaktlose Schleifensonde nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Schleifensonde ein Ge- häuse (28) aufweist.19. Contactless loop probe according to at least one of the preceding claims, characterized in that the loop probe has a housing (28).
20. Kontaktlose Schleifensonde nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse (28) mit einem Ferritwerkstoff oder einem Absorberwerkstoff ummantelt ist.20. Contactless loop probe according to claim 19, characterized in that the housing (28) is coated with a ferrite material or an absorber material.
21. Kontaktlose Schleifensonde nach Anspruch 19 oder 20, dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse (28) eine Halterung zum Befestigen an dem Messsystem aufweist.21. Contactless loop probe according to claim 19 or 20, characterized in that the housing (28) has a holder for fastening to the measuring system.
22. Kontaktlose Schleifensonde nach wenigstens einem der Ansprüche 19 bis 21 , dadurch gekennzeichnet, dass das Gehäuse (28) aus Metall, Kunststoff oder einem Absorberwerkstoff hergestellt ist.22. Contactless loop probe according to at least one of claims 19 to 21, characterized in that the housing (28) is made of metal, plastic or an absorber material.
23. Kontaktlose Schleifensonde nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der erste und/oder der zweite23. Contactless loop probe according to at least one of the preceding claims, characterized in that the first and / or the second
Übergang (20, 22) als eine gelötete, geschweißte oder geklebte elektrische Verbindung ausgebildet ist.Transition (20, 22) is designed as a soldered, welded or glued electrical connection.
24. Kontaktlose Schleifensonde nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Schleifensonde zusätzlich einen Messverstärker zum Verstärken der gekoppelten Signale aufweist. 24 contactless loop probe according to at least one of the preceding claims, characterized in that the loop probe additionally comprises a measuring amplifier for amplifying the coupled signals.
25. Kontaktlose Schleifensonde nach wenigstens einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Schleifensonde zusätzlich eine Positioniervorrichtung zum Positionieren derselben im Raum aufweist.25 contactless loop probe according to at least one of the preceding claims, characterized in that the loop probe additionally comprises a positioning device for positioning the same in the room.
26. Kontaktlose Schleifensonde nach Anspruch 25, dadurch gekennzeichnet, dass die Positioniervorrichtung wenigstens einen Stellmotor, insbesondere einen Schrittmotor, aufweist. 26. Contactless loop probe according to claim 25, characterized in that the positioning device has at least one servo motor, in particular a stepping motor.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014117300B4 (en) * 2014-11-26 2019-04-04 Technische Universität Dresden Arrangement and method for measuring an electronic structure
US11047951B2 (en) 2015-12-17 2021-06-29 Waymo Llc Surface mount assembled waveguide transition
JP6840838B2 (en) * 2016-09-09 2021-03-10 クオリティー ヴィジョン インターナショナル インコーポレイテッドＱｕａｌｉｔｙ Ｖｉｓｉｏｎ Ｉｎｔｅｒｎａｔｉｏｎａｌ， Ｉｎｃ． Articulated head for measuring instruments with multiple sensors
US11041880B2 (en) * 2017-12-01 2021-06-22 Tektronix, Inc. Contactless coupling between test and measurement system and a device under test
CN109884561B (en) * 2019-03-29 2021-04-20 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） Magnetic field detection module and magnetic field probe
JP7387285B2 (en) * 2019-04-26 2023-11-28 日置電機株式会社 probe device
US11747301B2 (en) 2020-12-22 2023-09-05 Industrial Technology Research Institute Magnetic field structure
US20220349937A1 (en) * 2021-04-30 2022-11-03 Xcerra Corporation Calibration System

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4894612A (en) * 1987-08-13 1990-01-16 Hypres, Incorporated Soft probe for providing high speed on-wafer connections to a circuit
US4829242A (en) * 1987-12-07 1989-05-09 Microelectronics And Computer Technology Corporation Multigigahertz probe
US4849689A (en) * 1988-11-04 1989-07-18 Cascade Microtech, Inc. Microwave wafer probe having replaceable probe tip
FR2681946A1 (en) 1991-09-27 1993-04-02 Thomson Csf DEVICE FOR BROADBAND HYPERFREQUENCY TESTING CARRIED OUT IN SITU.
US5539323A (en) * 1993-05-07 1996-07-23 Brooks Automation, Inc. Sensor for articles such as wafers on end effector
US5867020A (en) 1996-10-31 1999-02-02 Sematech, Inc. Capacitively coupled RF voltage probe having optimized flux linkage
JPH1123615A (en) * 1997-05-09 1999-01-29 Hitachi Ltd Connector and inspection system
DE19945178C2 (en) * 1999-09-21 2003-05-28 Rosenberger Hochfrequenztech Measuring tip for high-frequency measurement and method for its production
US7091915B1 (en) * 2001-09-24 2006-08-15 Pctel Antenna Products Group, Inc. Glass-mounted coupler and passive glass-mounted antenna for satellite radio applications
EP1316806A1 (en) 2001-11-28 2003-06-04 SP Sveriges Provnings- & Forskningsinstitut Non-contact measuring probe device for directional detection of an electromagnetic wave and measuring method
FR2871951B1 (en) * 2004-06-17 2006-09-08 Cnes Epic TRANSITION DEVICE ENABLES A WAVEGUIDE AND TWO REDUNDANT CIRCUITS EACH COUPLE TO A COPLANAR LINE
US7482814B2 (en) * 2004-08-27 2009-01-27 The Board of Regents University Community College System of Nevada on Behalf of the University of Nevada-Las Vegas Electric/magnetic field sensor
US7501833B2 (en) * 2004-10-20 2009-03-10 Wright State University Evanescent microwave microscopy probe and methodology
GB0505646D0 (en) * 2005-03-18 2005-04-27 Oxborrow Mark Solid-state maser oscillator of high frequency stability and low phase noise
DE202007010784U1 (en) * 2007-08-03 2007-10-04 Rosenberger Hochfrequenztechnik Gmbh & Co. Kg Contactless measuring system

Non-Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
None *
See also references of WO2010015315A1 *

Also Published As

Publication number Publication date
TWM370067U (en) 2009-12-01
CA2732189A1 (en) 2010-02-11
CN102112884B (en) 2013-08-14
HK1157018A1 (en) 2012-06-22
CN102112884A (en) 2011-06-29
US8963570B2 (en) 2015-02-24
WO2010015315A1 (en) 2010-02-11
DE202008010533U1 (en) 2008-10-30
CA2732189C (en) 2017-07-04
US20110267088A1 (en) 2011-11-03

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