EP1252541A2 - Production method for an optical transmission assembly - Google Patents

Production method for an optical transmission assembly

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Publication number
EP1252541A2
EP1252541A2 EP01909501A EP01909501A EP1252541A2 EP 1252541 A2 EP1252541 A2 EP 1252541A2 EP 01909501 A EP01909501 A EP 01909501A EP 01909501 A EP01909501 A EP 01909501A EP 1252541 A2 EP1252541 A2 EP 1252541A2
Authority
EP
European Patent Office
Prior art keywords
shaped
wafer
rod
recess
submount
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
EP01909501A
Other languages
German (de)
French (fr)
Inventor
Ralf Dietrich
Mathias Kaempf
Wolfgang Gramann
Martin Weigert
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Infineon Technologies AG
Original Assignee
Infineon Technologies AG
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Filing date
Publication date
Application filed by Infineon Technologies AG filed Critical Infineon Technologies AG
Publication of EP1252541A2 publication Critical patent/EP1252541A2/en
Withdrawn legal-status Critical Current

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    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4201Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
    • G02B6/4246Bidirectionally operating package structures
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B6/00Light guides; Structural details of arrangements comprising light guides and other optical elements, e.g. couplings
    • G02B6/24Coupling light guides
    • G02B6/42Coupling light guides with opto-electronic elements
    • G02B6/4201Packages, e.g. shape, construction, internal or external details
    • G02B6/4204Packages, e.g. shape, construction, internal or external details the coupling comprising intermediate optical elements, e.g. lenses, holograms
    • G02B6/4214Packages, e.g. shape, construction, internal or external details the coupling comprising intermediate optical elements, e.g. lenses, holograms the intermediate optical element having redirecting reflective means, e.g. mirrors, prisms for deflecting the radiation from horizontal to down- or upward direction toward a device
    • GPHYSICS
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    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
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    • G02B6/4219Mechanical fixtures for holding or positioning the elements relative to each other in the couplings; Alignment methods for the elements, e.g. measuring or observing methods especially used therefor
    • G02B6/4228Passive alignment, i.e. without a detection of the degree of coupling or the position of the elements
    • G02B6/423Passive alignment, i.e. without a detection of the degree of coupling or the position of the elements using guiding surfaces for the alignment

Definitions

  • the present invention relates to a production method for an optical transmitter assembly with the features of claim 1.
  • Such transmitter assemblies are used, for example, in beam deflection recipes of fiber-optic transmitter components or combined transmitter / receiver components.
  • An output radiation beam is generated by an edge-emitting laser diode in these transmit modules and is preferably deflected by 90 ° in a first deflection.
  • the laser diode is mounted on a so-called submount, on which prism-optical elements made of glass for the deflection of the output radiation beam of the laser diode are also attached.
  • FIG. 1 shows an overall view of a fiber-optic transmission component in longitudinal section along an optical glass fiber 23 coupled to the component. It has an assembly platform 25, which is preferably made of metal and has a circular through opening on one longitudinal side. A transmitter module 100 is mounted on one side of this circular through opening and a recess is provided on the other side of the circular through opening, into which a tubular part of a beam deflection recipe 22, which holds a ball lens 26, projects.
  • the beam deflection recipe 22 also has a beveled surface on the inside, on which a deflection mirror 24 is provided.
  • the transmitter assembly 10 is mounted on a silicon submount 1 and essentially consists of an edge-emitting semiconductor laser 6 and glass prismatic elements 2a, 2b and 2c, between which a highly reflective interface is at a 45 ° angle to the laser beam or to the surface of the submount is formed.
  • a highly reflective interface is at a 45 ° angle to the laser beam or to the surface of the submount is formed.
  • one of the semiconductor lasers 6 emitted laser radiation beam at this interface is deflected by 90 ° in the direction of the submount 1 transparent to the laser radiation, passes through the circular through opening of the mounting platform 25 and is bundled by the ball lens 26.
  • the radiation beam then strikes the deflecting mirror 24 and is directed by the latter onto the entry surface of the glass fiber 23.
  • the transmitter assembly 100 has been manufactured by individually producing the prismatic deflection elements 2a, 2b and 2c, placing them on the submount 1, aligning them with one another and gluing or anodically bonding them.
  • the surfaces of the prism-optical elements were created using grinding and polishing techniques.
  • a mirror coating was applied to the prism surface that contributed to the beam deflection.
  • Such manufacturing processes are known, for example, from DE-A-198 10 624 and EP-A-0 660 467.
  • DE-A-42 11 899 describes a method for producing a microsystem, in which several wafers are connected to form a wafer array. The connection is made after the individual wafers have been structured.
  • the present invention has for its object to simplify the manufacturing process for an optical transmitter assembly and thus reduce the time required for manufacturing. This object is achieved by the features of patent claim 1.
  • the present invention thus describes a manufacturing method for an optical transmitter assembly, in which
  • a transparent submount wafer and a glass wafer are first connected to one another on their main surfaces, b) then a recess is formed in the glass wafer, which has at least one side wall which essentially forms a 45 ° angle with the surface of the submount wafer, c) a semiconductor laser is then mounted on the submount wafer in such a way that, during operation, it emits a radiation beam into the glass wafer in the direction of the at least one side wall of the recess, and d) the at least one side wall of the recess is acted on in such a way that it is for the radiation beam becomes highly reflective.
  • a submount wafer and a glass wafer are thus connected without there being any structured surfaces on the glass wafer.
  • the glass wafer is only structured after it has been connected to the submount wafer.
  • the transparent submount wafer preferably consists of a material of relatively high thermal conductivity, so that it has the properties of a heat sink.
  • a V-shaped recess is formed in method step b) and in method step d) at least one of the opposite side walls of the V-shaped recess is acted on in the manner described. For this it proves to be advantageous clinging when the opposite side walls form essentially a 90 ° angle with each other.
  • the V-shaped recess can advantageously be formed in that a V-shaped trench is produced in the glass wafer by means of a V-shaped saw blade, such as a cutting abrasive blade or the like.
  • the V-shaped recess can first be pre-sawn with a coarse-grained cut-off wheel and then sawed-in with a fine-grained cut-off wheel.
  • a rod-shaped element with a horizontal upper support surface which is essentially rectangular-triangular in cross section can be introduced into the V-shaped recess.
  • one of its equilateral side walls can be provided with a reflective coating.
  • the rod-shaped element can first be shaped as a rod with a rectangular cross-section, with an area of the rod on the surface of the sub-element before or after being introduced into the V-shaped recess. Mountwafer facing away is removed in such a way that a horizontal contact surface is formed. This can serve to arrange a light receiver on it so that the transmitter assembly can be used in a combined transmitter / receiver component.
  • a rod with a rectangular cross section can be obtained, for example, by providing a glass wafer with a reflective coating on a main surface and dividing it into a number of rods.
  • the submount wafer is preferably formed by a semiconductor wafer, in particular a silicon wafer, if it is sufficiently transparent for the required wavelength.
  • FIG. 3 is a V-shaped recess formed in the glass wafer of FIG. 2;
  • Fig. 4 is provided with a reflective coating
  • Fig. 6 positioned, reflection-coated rod of Fig. 5, which on its top to form a
  • Mounting surface is flattened
  • 2, 3 and 5 to 7 show an exemplary embodiment of the method according to the invention for producing an optical transmitter module on the basis of cross-sectional representations of the intermediate products after individual method steps.
  • FIG. 2 shows how a submount wafer 1 and a glass wafer 2 are first connected to one another on their main surfaces.
  • a semiconductor laser 6 is to be mounted on the submount wafer 1 in a later method step.
  • the submount wafer should have the properties of a heat sink, and thus consist of a material with the highest possible thermal conductivity. Silicon is used as the preferred material for the submount wafer 1.
  • cutouts 3 are preferably formed before the connection to the silicon wafer 1, which make it possible in the subsequent method step to have an area below the V-shaped one to be formed
  • These recesses 3 are preferably produced by wet chemical etching.
  • the glass wafer 2 is connected to the submount wafer 1 at regions in which no cutouts 3 have been produced.
  • Anodic bonding is preferably used as the connection technique.
  • FIG. 3 shows an intermediate product after removal of the areas of the glass wafer 2 that are not required. These areas are preferably removed by sawing.
  • Fig. 2 two dashed saw cut lines are indicated, through which the outer areas of the glass wafer 2 are separated.
  • a V-shaped trench 20 of a predetermined length is then produced in the glass wafer 2 by means of a V-shaped saw blade, in particular a V-shaped cutting abrasive blade. This sawing is indicated by two dash-dotted lines in FIG. 2.
  • the V-shaped trench 20 has a shape such that its side walls are inclined at 90 ° to one another and their imaginary cutting line lies on the surface of the submount wafer 1 and each form a 45 ° angle with the surface of the submount wafer 1.
  • the resulting side walls 5 thus also form a 45 ° angle with the direction of incidence of the laser beam of the semiconductor laser 6 to be assembled later (see FIG. 7).
  • the mentioned central recess 3 ensures that the V-groove sawing does not have to be carried out up to the surface of the submount wafer 1.
  • the V-shaped recess 20 can first be pre-sawn with a relatively coarse-grained cutting abrasive sheet and then sawn-in with a relatively fine-grained cutting abrasive sheet.
  • the sawing steps thus leave two optical prism elements 2a and 2b on the submount wafer 1, between which the aforementioned V-profile 20 was formed.
  • This The method for producing the optical prism elements 2a and 2b represents a simplification compared to the separate manufacture of the individual optical prism elements and placement on the submount wafer 1 known in the prior art.
  • Fig. 4 it is indicated how a plurality of so-called reflection rods 7 can be produced, which are intended to be inserted into the V-shaped profile.
  • a glass wafer 16 is provided with a reflective coating 9 and the same along saw cut lines 15 into individual rods 7
  • the reflection coating 9 can be a metallic coating or a dielectric layer sequence.
  • a single rod 7, which preferably has the same length as the V-shaped trench 20, is inserted into the V-groove and glued therein, the reflective coating 9 being arranged on the side surface of the V-groove on which the laser beam of the semiconductor laser 6 still to be assembled (see FIG. 7) enters the optical prism element 2a.
  • the rod 7 is thus arranged in the V-trench 20 in such a way that the reflection coating 9 forms a 45 ° angle to the direction of incidence of the laser beam.
  • the area of the rod 7 facing away from the submount wafer 1 can be removed in such a way that a flat mounting surface 10 can be formed.
  • the rod 7 is preferably ground down until a flat mounting surface has been achieved.
  • this flat mounting surface is polished in a suitable manner so that it can serve to receive and attach a light receiver 11 (see FIG. 7).
  • an elongated, rod-shaped element 12 with a rectangular-triangular cross section is positioned in the V-trench.
  • This rod-shaped element 12 preferably has the same length as the V-shaped trench.
  • the rod-shaped element 12 can also be applied to other than the above standing described manner are made. For example, it can be sawed out of a glass wafer in this form, the glass wafer either already having a reflective coating 9 or only then being applied to one of the side walls of the rod-shaped element 12.
  • FIG. 7 shows how a semiconductor laser 6, preferably an edge-emitting semiconductor laser 6, is mounted on the exposed surface 8 of the submount wafer 1 such that the laser beam S emitted by it falls into the optical prism element 2a and on the Reflective coating 9 of the rod-shaped element 12 is reflected downward at a 90 ° angle and passes through the transparent submount wafer 1.
  • a monitor diode 13 can either be arranged behind the semiconductor laser 6 and thus detects the small proportion of the laser radiation passing through the rear resonator mirror. It can also be arranged beyond the optical prism element 2b and thus detects the small proportion of the radiation passing through the reflection coating 9.
  • the light receiver 11 preferably a receiver diode, such as a PIN diode, can detect a received beam arriving in the optical fiber 23 (see FIG. 1), for example a small proportion passing through the reflective coating 9 and striking the light receiver 11.
  • the reflective coating 9 exhibits a wavelength-dependent reflectivity and transmissivity. points so that, for example, a transmission beam experiences a high reflectivity at a first wavelength, while a reception beam experiences a high transmissivity of the reflection coating 9 at a second wavelength.
  • the fully processed transmitter assembly shown in FIG. 7, as already described in connection with FIG. 1, can be connected to an assembly platform 25 to form a complete transmit component or combined transmit / receive component by the transparent submount wafer 1 is glued to a surface of the mounting platform 25.
  • An optical beam guiding device such as a beam deflection recipe with a fiber connection, can be mounted on the opposite surface of the mounting platform 25.

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Abstract

The invention relates to a photo-optical transmission assembly produced in the following manner: a glass wafer (2) is fixed onto a transparent submount (1) and a V-shaped recess (20) is subsequently created between optical prism elements (2a, 2b) using targeted sawcuts. A rod-shaped element (12) with a reflective coating (9) is inserted into the V-shaped recess (20), in such a way that laser illumination (S) from a semiconductor laser (6) is deflected by 90 DEG on the rod-shaped element (12) with reflective coating and penetrates the submount (1).

Description

Beschreibungdescription
Herstellungsverfahren für eine optische Sende- BaugruppeManufacturing process for an optical transmitter assembly
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Herstellungsverfahren für eine optische Sende-Baugruppe mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1. Derartige Sende-Baugruppen kommen beispielsweise in Strahlumlenkreceptacles von faseroptischen Sende- Bauelementen oder kombinierten Sende-/Empfangsbauelementen zum Einsatz. In diesen Sende-Baugruppen wird von einer kantenemittierenden Laserdiode ein Ausgangsstrahlungsbündel erzeugt und in einer ersten Umlenkung vorzugsweise um 90° umgelenkt. Zu diesem Zweck wird die Laserdiode auf einem soge- nannten Submount montiert, auf dem ebenfalls prismenoptische Elemente aus Glas für die Umlenkung des Ausgangestrahlungs- bündels der Laserdiode befestigt werden.The present invention relates to a production method for an optical transmitter assembly with the features of claim 1. Such transmitter assemblies are used, for example, in beam deflection recipes of fiber-optic transmitter components or combined transmitter / receiver components. An output radiation beam is generated by an edge-emitting laser diode in these transmit modules and is preferably deflected by 90 ° in a first deflection. For this purpose, the laser diode is mounted on a so-called submount, on which prism-optical elements made of glass for the deflection of the output radiation beam of the laser diode are also attached.
In Fig. 1 ist eine Gesamtansicht eines faseroptischen Sende- Bauelements im Längsschnitt entlang einer mit dem Bauelement gekoppelten optischen Glasfaser 23 dargestellt. Sie weist eine Montageplattform 25 auf, die vorzugsweise aus Metall gefertigt ist und auf ihrer einen Längsseite eine kreisförmige Durchgangsöffnung aufweist. Auf der einen Seite dieser kreis- förmigen Durchgangsöffnung ist eine Sende-Baugruppe 100 montiert und auf der anderen Seite der kreisförmigen Durchgangs- Öffnung ist eine Aussparung vorgesehen, in die ein rohrförmi- ger, eine Kugellinse 26 halternder Teil eines Strahlumlenkreceptacles 22 hineinragt. Das Strahlumlenkreceptacle 22 weist ferner im Inneren eine abgeschrägte Fläche auf, an der ein Umlenkspiegel 24 vorgesehen ist. Die Sende-Baugruppe 10 ist auf einem Silizium-Submount 1 montiert und besteht im wesentlichen aus einem kantenemittierenden Halbleiterlaser 6 und aus Glas gefertigten prismenoptischen Elementen 2a, 2b und 2c, zwischen denen eine hochreflektierende Grenzfläche in einem 45° -Winkel zum Laserstrahl oder zur Oberfläche des Sub- mounts gebildet ist. Somit wird ein von dem Halbleiterlaser 6 emittiertes Laserstrahlungsbündel an dieser Grenzfläche in Richtung auf den für die Laserstrahlung transparenten Submount 1 um 90° umgelenkt, tritt durch die kreisrunde Durchgangsöffnung der Montageplattform 25 hindurch und wird von der Kugellinse 26 gebündelt. Anschließend trifft das Strahlungsbündel auf den Umlenkspiegel 24 und wird von diesem auf die Eintrittsfläche der Glasfaser 23 gerichtet.1 shows an overall view of a fiber-optic transmission component in longitudinal section along an optical glass fiber 23 coupled to the component. It has an assembly platform 25, which is preferably made of metal and has a circular through opening on one longitudinal side. A transmitter module 100 is mounted on one side of this circular through opening and a recess is provided on the other side of the circular through opening, into which a tubular part of a beam deflection recipe 22, which holds a ball lens 26, projects. The beam deflection recipe 22 also has a beveled surface on the inside, on which a deflection mirror 24 is provided. The transmitter assembly 10 is mounted on a silicon submount 1 and essentially consists of an edge-emitting semiconductor laser 6 and glass prismatic elements 2a, 2b and 2c, between which a highly reflective interface is at a 45 ° angle to the laser beam or to the surface of the submount is formed. Thus, one of the semiconductor lasers 6 emitted laser radiation beam at this interface is deflected by 90 ° in the direction of the submount 1 transparent to the laser radiation, passes through the circular through opening of the mounting platform 25 and is bundled by the ball lens 26. The radiation beam then strikes the deflecting mirror 24 and is directed by the latter onto the entry surface of the glass fiber 23.
Bisher wurde die Sende-Baugruppe 100 dadurch hergestellt, daß die prismenoptischen Umlenkelemente 2a, 2b und 2c einzeln hergestellt wurden, auf den Submount 1 gelegt, aufeinander ausgerichtet und aufgeklebt oder anodisch verbondet wurden. Die Flächen der prismenoptischen Elemente wurden über Schleif- und Poliertechniken erzeugt. Auf die zur Strahlum- lenkung beitragende Prismenfläche wurde eine Spiegelbeschichtung aufgebracht. Derartige Herstellungsverfahren sind etwa aus der DE-A-198 10 624 und der EP-A-0 660 467 bekannt.So far, the transmitter assembly 100 has been manufactured by individually producing the prismatic deflection elements 2a, 2b and 2c, placing them on the submount 1, aligning them with one another and gluing or anodically bonding them. The surfaces of the prism-optical elements were created using grinding and polishing techniques. A mirror coating was applied to the prism surface that contributed to the beam deflection. Such manufacturing processes are known, for example, from DE-A-198 10 624 and EP-A-0 660 467.
Dieses Herstellungsverfahren erweist sich als relativ ura- ständlich, da die prismenoptischen Elemente 2a und 2b zunächst einzeln gefertigt werden müssen und anschließend einzeln in einer bestimmten Ausrichtung zueinander auf dem Submount befestigt werden müssen. Damit ist ein relativ hoher Zeitaufwand für die Fertigstellung einer einzelnen Sende- Baugruppe erforderlich.This manufacturing process proves to be relatively original, since the prism-optical elements 2a and 2b must first be manufactured individually and then individually attached to the submount in a specific orientation to one another. This means that a relatively large amount of time is required to complete an individual transmitter module.
Die DE-A-42 11 899 beschreibt ein Verfahren zur Herstellung eines Mikrosystems, bei dem mehrere Wafer zu einem Waferver- band verbunden werden. Die Verbindung erfolgt dabei, nachdem die einzelnen Wafer fertig strukturiert sind.DE-A-42 11 899 describes a method for producing a microsystem, in which several wafers are connected to form a wafer array. The connection is made after the individual wafers have been structured.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, das Herstellungsverfahren für eine optische Sende-Baugruppe zu vereinfachen und damit die für die Herstellung benötigte Zeit zu verringern. Diese Aufgabe wird durch die Merkmale des Patentanspruchs 1 gelöst .The present invention has for its object to simplify the manufacturing process for an optical transmitter assembly and thus reduce the time required for manufacturing. This object is achieved by the features of patent claim 1.
Die vorliegende Erfindung beschreibt somit ein Herstellungs- verfahren für eine optische Sende-Baugruppe, bei welchemThe present invention thus describes a manufacturing method for an optical transmitter assembly, in which
a) zunächst ein transparenter Submountwafer und ein Glaswa- fer an ihren Hauptoberflächen miteinander verbunden werden, b) anschließend in dem Glaswafer eine Ausnehmung geformt wird, die mindestens eine Seitenwand aufweist, die im wesentlichen einen 45° -Winkel mit der Oberfläche des Submountwafers bildet, c) danach auf dem Submountwafer ein Halbleiterlaser derart montiert wird, daß er im Betrieb ein Strahlungsbündel in den Glaswafer in Richtung auf die mindestens eine Seitenwand der Ausnehmung aussendet, und d) die mindestens eine Seitenwand der Ausnehmung derart beaufschlagt wird, daß sie für das Strahlungsbündel hochreflektierend wird.a) a transparent submount wafer and a glass wafer are first connected to one another on their main surfaces, b) then a recess is formed in the glass wafer, which has at least one side wall which essentially forms a 45 ° angle with the surface of the submount wafer, c) a semiconductor laser is then mounted on the submount wafer in such a way that, during operation, it emits a radiation beam into the glass wafer in the direction of the at least one side wall of the recess, and d) the at least one side wall of the recess is acted on in such a way that it is for the radiation beam becomes highly reflective.
Damit erfolgt erfindungsgemäß die Verbindung eines Submountwafers und eines Glaswafers, ohne daß an dem Glaswafer bereits strukturtierte Flächen vorliegen. Eine Strukturierung des Glaswafers erfolgt erst nach Verbindung mit dem Submountwafer.According to the invention, a submount wafer and a glass wafer are thus connected without there being any structured surfaces on the glass wafer. The glass wafer is only structured after it has been connected to the submount wafer.
Der transparente Submountwafer besteht bevorzugt aus einem Material relativ hoher Wärmeleitfähigkeit, so daß er die Ei- genschaften einer Wärmesenke aufweist.The transparent submount wafer preferably consists of a material of relatively high thermal conductivity, so that it has the properties of a heat sink.
In einem bevorzugten Ausführungsbeispiel wird im Verfahrens- schritt b) eine V-förmige Ausnehmung geformt und im Verfahrensschritt d) wird mindestens eine der sich gegenüberliegen- den Seitenwände der V-förmigen Ausnehmung in der beschriebenen Weise beaufschlagt. Dafür erweist es sich als vorteil- haft, wenn die sich gegenüberliegenden Seitenwände im wesentlichen einen 90° -Winkel miteinander bilden.In a preferred exemplary embodiment, a V-shaped recess is formed in method step b) and in method step d) at least one of the opposite side walls of the V-shaped recess is acted on in the manner described. For this it proves to be advantageous clinging when the opposite side walls form essentially a 90 ° angle with each other.
Als zweckmäßig und vorteilhaft erweist sich, wenn vor dem Verfahrensschritt a) in die mit dem Submountwafer zu verbindende Hauptoberfläche des Glaswafers an geeigneter Stelle Ausnehmungen, beispielsweise durch naßchemisches Ätzen, geformt werden, so daß der Glaswafer im Bereich dieser Ausnehmungen anschließend im Verfahrensschritt a) nicht mit dem Submountwafer verbunden wird. Dadurch können dann relativ leicht nach dem Verfahrensschritt a) oder dem Verfahrens- schritt b) die über den Ausnehmungen befindlichen und nicht benötigten Bereiche des Glaswafers vorzugsweise durch Sägen entfernt werden.It proves to be expedient and advantageous if, prior to method step a), recesses are formed at a suitable point in the main surface of the glass wafer to be connected to the submount wafer, for example by wet chemical etching, so that the glass wafer in the region of these recesses does not subsequently occur in method step a) is connected to the submount wafer. As a result, after process step a) or process step b), the areas of the glass wafer which are located above the recesses and are not required can preferably be removed by sawing.
Die V-förmige Ausnehmung kann vorteilhafterweise dadurch geformt werden, daß mittels eines V-förmigen Sägeblattes, wie eines Trennschleifblattes oder dergleichen, ein V-förmiger Graben in dem Glaswafer erzeugt wird. Dabei kann die V-för- mige Ausnehmung zuerst mit einem grobkörnigen Trennschleif- blatt vorgesägt und anschließend mit einem feinkörnigen Trennschleifblatt nachgesägt werden.The V-shaped recess can advantageously be formed in that a V-shaped trench is produced in the glass wafer by means of a V-shaped saw blade, such as a cutting abrasive blade or the like. The V-shaped recess can first be pre-sawn with a coarse-grained cut-off wheel and then sawed-in with a fine-grained cut-off wheel.
In einem vorteilhaften Ausführungsbeispiel, das noch zu er- läutern sein wird, bleiben nach Durchführung der geschilderten Sägeschritte nur noch zwei prismenförmige optische Glaselemente auf dem Submountwafer stehen.In an advantageous exemplary embodiment, which will still be explained, only two prismatic optical glass elements remain on the submount wafer after the sawing steps described have been carried out.
Im Verfahrensschritt d) kann in die V-förmige Ausnehmung ein im Querschnitt im wesentlichen rechtwinklig-dreieckiges stab- förmiges Element mit einer horizontalen oberen Auflagefläche eingebracht werden. Vor dem Einbringen des stabförmigen Elements kann eine seiner gleichseitigen Seitenwände mit einer Reflexionsbeschichtung versehen werden. Das stabförmige Ele- ment kann zunächst als im Querschnitt rechteckiger Stab geformt werden, wobei vor oder nach dem Einbringen in die V- förmige Ausnehmung ein Bereich des Stabes auf der dem Sub- mountwafer abgewandten Seite derart abgetragen wird, daß eine horizontale Auflagefläche gebildet wird. Diese kann dazu dienen, auf ihr einen Lichtempfänger anzuordnen, so daß die Sen- de-Baugruppe in einem kombinierten Sende- /Empfangs-Bauelement eingesetzt werden kann.In method step d), a rod-shaped element with a horizontal upper support surface which is essentially rectangular-triangular in cross section can be introduced into the V-shaped recess. Before the rod-shaped element is introduced, one of its equilateral side walls can be provided with a reflective coating. The rod-shaped element can first be shaped as a rod with a rectangular cross-section, with an area of the rod on the surface of the sub-element before or after being introduced into the V-shaped recess. Mountwafer facing away is removed in such a way that a horizontal contact surface is formed. This can serve to arrange a light receiver on it so that the transmitter assembly can be used in a combined transmitter / receiver component.
Ein im Querschnitt rechteckiger Stab kann beispielsweise dadurch gewonnen werden, daß ein Glaswafer auf einer Hauptoberfläche mit einer Reflexionsbeschichtung versehen wird und in eine Anzahl von Stäben zerteilt wird.A rod with a rectangular cross section can be obtained, for example, by providing a glass wafer with a reflective coating on a main surface and dividing it into a number of rods.
Der Submountwafer wird vorzugsweise durch einen Halbleiterwa- fer, insbesondere einen Siliziumwafer, gebildet, wenn er für die benötigte Wellenlänge ausreichend transparent ist.The submount wafer is preferably formed by a semiconductor wafer, in particular a silicon wafer, if it is sufficiently transparent for the required wavelength.
Wie bereits beschrieben, kann es erforderlich sein, zu einem beliebigen Zeitpunkt nach Durchführung des Verfahrensschrittes a) Abschnitte des Submountwafers außerhalb des zu formenden oder des bereits geformten Strahlumlenkabschnittes durch Entfernen entsprechender Bereiche des Glaswafers - vorzugsweise der über den geformten Ausnehmungen liegenden Bereiche - freizulegen, damit auf diesen Abschnitten des Submountwafers der Halbleiterlaser und gegebenenfalls eine Monitordiode montiert werden können.As already described, it may be necessary to expose sections of the submount wafer outside of the beam deflecting section to be shaped or the already shaped beam deflection section at any time after carrying out process step a) by removing corresponding areas of the glass wafer, preferably the areas lying above the shaped recesses the semiconductor laser and, if appropriate, a monitor diode can be mounted on these sections of the submount wafer.
Die Erfindung wird im folgenden anhand eines einzigen Ausführungsbeispiels in Verbindung mit den Figuren näher erläutert. Es zeigen jeweils in einer Querschnittsdarstellung:The invention is explained in more detail below on the basis of a single exemplary embodiment in conjunction with the figures. Each shows in a cross-sectional representation:
Fig. 1 eine Gesamtansicht eines faseroptischen Sende- Bauelements;1 shows an overall view of a fiber-optic transmission component;
Fig. 2 ein Submountwafer und ein Glaswafer, die an ihren Hauptoberflächen miteinander verbunden sind;2 shows a submount wafer and a glass wafer which are connected to one another on their main surfaces;
Fig. 3 in den Glaswafer der Fig. 2 geformte V-förmige Ausnehmung; Fig. 4 ein mit einer Reflexionsbeschichtung versehener3 is a V-shaped recess formed in the glass wafer of FIG. 2; Fig. 4 is provided with a reflective coating
Glaswafer als Ausgangsprodukt zur Herstellung von reflexionsbeschichteten Stäben;Glass wafers as a starting product for the production of reflection-coated rods;
Fig. 5 in die V-förmige Ausnehmung der Fig. 3 eingesetzter reflexionsbeschichteter Stab;Fig. 5 in the V-shaped recess of Figure 3 inserted reflection coated rod.
Fig. 6 positionierter, reflexionsbeschichteter Stab der Fig. 5, der an seiner Oberseite zur Bildung einerFig. 6 positioned, reflection-coated rod of Fig. 5, which on its top to form a
Montagefläche abgeflacht ist;Mounting surface is flattened;
Fig. 7 Anordnung der Fig. 6, bei der auf der Montagefläche ein Lichtempfänger und auf freigelegten Abschnitten des Submountwafers ein Halbleiterlaser und Monitordioden angeordnet sind.FIG. 7 arrangement of FIG. 6, in which a light receiver is arranged on the mounting surface and a semiconductor laser and monitor diodes are arranged on exposed sections of the submount wafer.
In den Fig. 2, 3 und 5 bis 7 ist ein Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Herstellung einer optischen Sende-Baugruppe anhand von Querschittsdarstellungen der Zwischenprodukte nach einzelnen Verfahrensschritten dargestellt.2, 3 and 5 to 7 show an exemplary embodiment of the method according to the invention for producing an optical transmitter module on the basis of cross-sectional representations of the intermediate products after individual method steps.
In Fig. 2 ist dargestellt, wie als erstes ein Submountwafer 1 und ein Glaswafer 2 an ihren Hauptoberflächen miteinander verbunden werden. Auf dem Submountwafer 1 soll in einem späteren Verfahrensschritt ein Halbleiterlaser 6 montiert werden. Aus diesem Grund soll der Submountwafer die Eigenschaften einer Wärmesenke aufweisen, somit aus einem Material möglichst hoher Wärmeleitfähigkeit bestehen. Als bevorzugtes Ma- terial für den Submountwafer 1 wird Silizium verwendet.FIG. 2 shows how a submount wafer 1 and a glass wafer 2 are first connected to one another on their main surfaces. A semiconductor laser 6 is to be mounted on the submount wafer 1 in a later method step. For this reason, the submount wafer should have the properties of a heat sink, and thus consist of a material with the highest possible thermal conductivity. Silicon is used as the preferred material for the submount wafer 1.
In der Hauptoberfläche des Glaswafers 2 werden bevorzugterweise vor dem Verbinden mit dem Siliziumwafer 1 Aussparungen 3 geformt, die es ermöglichen, im darauffolgenden Verfahrens- schritt einen Bereich unterhalb der zu formenden V-förmigenIn the main surface of the glass wafer 2, cutouts 3 are preferably formed before the connection to the silicon wafer 1, which make it possible in the subsequent method step to have an area below the V-shaped one to be formed
Aussparung und bestimmte Bereiche des Glaswafers 2 außerhalb der zu formenden prismatischen Strahlumlenkeinrichtung leicht abzutrennen. Diese Aussparungen 3 werden bevorzugt durch naßchemisches Ätzen erzeugt.Recess and certain areas of the glass wafer 2 outside the prismatic beam deflection device to be formed easily separate. These recesses 3 are preferably produced by wet chemical etching.
Dann wird der Glaswafer 2 an Bereichen, in denen keine Aus- sparungen 3 erzeugt wurden, mit dem Submountwafer 1 verbunden. Als Verbindungstechnik wird bevorzugt anodisches Bonden verwendet .Then the glass wafer 2 is connected to the submount wafer 1 at regions in which no cutouts 3 have been produced. Anodic bonding is preferably used as the connection technique.
In Fig. 3 ist ein Zwischenprodukt nach Entfernen der nicht benötigten Bereiche des Glaswafers 2 dargestellt. Diese Bereiche werden in bevorzugter Weise durch Sägen entfernt. In Fig. 2 sind zwei gestrichelte Sägeschnittlinien angedeutet, durch die die äußeren Bereiche des Glaswafers 2 abgetrennt werden. Oberhalb einer zentralen Aussparung 3 wird dann mit- tels eines V-förmigen Sägeblattes, insbesondere eines V-förmigen Trennschleifblattes, ein V-förmiger Graben 20 vorgegebener Länge in dem Glaswafer 2 erzeugt. Diese Sägung ist durch zwei strichpunktierte Linien in der Fig. 2 angedeutet. Der V-förmige Graben 20 weist eine derartige Form auf, daß seine Seitenwände um 90° gegeneinander geneigt sind und deren gedachte Schnittlinie auf der Oberfläche des Submountwafers 1 liegt und die jeweils einen 45°-Winkel mit der Oberfläche des Submountwafers 1 bilden. Die dabei entstehenden Seitenwände 5 bilden somit ebenfalls einen 45°-Winkel mit der Einfallsrich- tung des Laserstrahlbündels des später zu montierenden Halbleiterlasers 6 (s. Fig. 7). Die erwähnte zentrale Aussparung 3 sorgt dafür, daß bei der V-Nut-Sägung nicht bis an die Oberfläche des Submountwafers 1 gesägt werden muß.3 shows an intermediate product after removal of the areas of the glass wafer 2 that are not required. These areas are preferably removed by sawing. In Fig. 2 two dashed saw cut lines are indicated, through which the outer areas of the glass wafer 2 are separated. Above a central recess 3, a V-shaped trench 20 of a predetermined length is then produced in the glass wafer 2 by means of a V-shaped saw blade, in particular a V-shaped cutting abrasive blade. This sawing is indicated by two dash-dotted lines in FIG. 2. The V-shaped trench 20 has a shape such that its side walls are inclined at 90 ° to one another and their imaginary cutting line lies on the surface of the submount wafer 1 and each form a 45 ° angle with the surface of the submount wafer 1. The resulting side walls 5 thus also form a 45 ° angle with the direction of incidence of the laser beam of the semiconductor laser 6 to be assembled later (see FIG. 7). The mentioned central recess 3 ensures that the V-groove sawing does not have to be carried out up to the surface of the submount wafer 1.
Um Oberflächen mit geringer Rauhigkeit zu erzeugen, kann die V-förmige Ausnehmung 20 zunächst mit einem relativ grobkörnigen Trennschleifblatt vorgesägt und anschließend mit einem relativ feinkörnigen Trennschleifblatt nachgesägt werden.In order to produce surfaces with low roughness, the V-shaped recess 20 can first be pre-sawn with a relatively coarse-grained cutting abrasive sheet and then sawn-in with a relatively fine-grained cutting abrasive sheet.
Durch die Sägeschritte werden somit zwei optische Prismenelemente 2a und 2b auf dem Submountwafer 1 zurückgelassen, zwischen denen das erwähnte V-Profil 20 geformt wurde. Dieses Verfahren zur Erzeugung der optischen Prismenelemente 2a und 2b stellt eine Vereinfachung gegenüber den im Stand der Technik bekannten getrennten Herstellen der einzelnen optischen Prismenelemente und Aufsetzen auf dem Submountwafer 1 dar.The sawing steps thus leave two optical prism elements 2a and 2b on the submount wafer 1, between which the aforementioned V-profile 20 was formed. This The method for producing the optical prism elements 2a and 2b represents a simplification compared to the separate manufacture of the individual optical prism elements and placement on the submount wafer 1 known in the prior art.
In Fig. 4 wird angedeutet, wie eine Mehrzahl sogenannter Reflexionsstäbe 7 hergestellt werden kann, die dafür vorgesehen sind, in das V-förmige Profil eingesetzt zu werden. Ein Glaswafer 16 wird mit einer Reflexionsbeschichtung 9 versehen und entlang Sägeschnittlinien 15 in einzelne Stäbe 7 gleicherIn Fig. 4 it is indicated how a plurality of so-called reflection rods 7 can be produced, which are intended to be inserted into the V-shaped profile. A glass wafer 16 is provided with a reflective coating 9 and the same along saw cut lines 15 into individual rods 7
Breite zersägt. Die Reflexionsbeschichtung 9 kann eine metallische Beschichtung oder eine dielektrische Schichtenfolge sein. Anschließend wird gemäß Fig. 5 ein einzelner Stab 7, der vorzugsweise dieselbe Länge wie der V-förmige Graben 20 aufweist, in die V-Nut eingesetzt und darin eingeklebt, wobei die Reflexionsbeschichtung 9 auf derjenigen Seitenfläche der V-Nut angeordnet wird, auf der das Laserstrahlbündel des noch zu montierenden Halbleiterlasers 6 (s. Fig. 7) in das optische Prismenelement 2a eintritt. Der Stab 7 ist damit derart in dem V-Graben 20 angeordnet, daß die Reflexionsbeschichtung 9 einen 45° -Winkel zur Einfallsrichtung des Laserstrahlbündels bildet.Sawn width. The reflection coating 9 can be a metallic coating or a dielectric layer sequence. 5, a single rod 7, which preferably has the same length as the V-shaped trench 20, is inserted into the V-groove and glued therein, the reflective coating 9 being arranged on the side surface of the V-groove on which the laser beam of the semiconductor laser 6 still to be assembled (see FIG. 7) enters the optical prism element 2a. The rod 7 is thus arranged in the V-trench 20 in such a way that the reflection coating 9 forms a 45 ° angle to the direction of incidence of the laser beam.
Anschließend kann noch, wie in Fig. 6 dargestellt ist, der dem Submountwafer 1 abgewandte Bereich des Stabes 7 derart abgetragen werden, daß eine ebene Montagefläche 10 gebildet werden kann. Dabei wird der Stab 7 vorzugsweise abgeschliffen, bis eine ebene Montagefläche erzielt worden ist. Anschließend wird diese ebene Montagefläche in geeigneter Weise poliert, so daß sie zur Aufnahme und Befestigung eines Lichtempfängers 11 (s. Fig. 7) dienen kann.Subsequently, as shown in FIG. 6, the area of the rod 7 facing away from the submount wafer 1 can be removed in such a way that a flat mounting surface 10 can be formed. The rod 7 is preferably ground down until a flat mounting surface has been achieved. Subsequently, this flat mounting surface is polished in a suitable manner so that it can serve to receive and attach a light receiver 11 (see FIG. 7).
Im Ergebnis wird somit ein langgestrecktes, stabförmiges Element 12 mit rechtwinklig-dreieckigem Querschnitt in dem V- Graben positioniert. Vorzugsweise weist dieses stabförmige Element 12 dieselbe Länge wie der V-förmige Graben auf. Das stabförmige Element 12 kann auch auf andere als auf die vor- stehend beschriebene Weise hergestellt werden. Es kann beispielsweise in dieser Form aus einem Glaswafer ausgesägt werden, wobei der Glaswafer entweder bereits eine Reflexionsbeschichtung 9 aufweist oder diese erst anschließend auf eine der Seitenwände des stabförmigen Elements 12 aufgebracht wird.As a result, an elongated, rod-shaped element 12 with a rectangular-triangular cross section is positioned in the V-trench. This rod-shaped element 12 preferably has the same length as the V-shaped trench. The rod-shaped element 12 can also be applied to other than the above standing described manner are made. For example, it can be sawed out of a glass wafer in this form, the glass wafer either already having a reflective coating 9 or only then being applied to one of the side walls of the rod-shaped element 12.
Es ist ebenso denkbar, daß in dem V-förmigen Graben kein stabförmiges Element 12 eingesetzt wird, sondern daß die dem zu montierenden Halbleiterlaser 6 (s. Fig. 7) zugewandte Seitenfläche des V-förmigen Grabens mit einer geeigneten Refle- xionsbeschichtung versehen wird.It is also conceivable that no rod-shaped element 12 is used in the V-shaped trench, but that the side surface of the V-shaped trench facing the semiconductor laser 6 to be mounted (see FIG. 7) is provided with a suitable reflection coating.
In Fig. 7 ist schließlich noch dargestellt, wie auf der frei- liegenden Oberfläche 8 des Submountwafers 1 ein Halbleiterlaser 6, vorzugsweise ein kantenemittierender Halbleiterlaser 6, derart montiert wird, daß das von ihm emittierte Laserstrahlbündel S in das optische Prismenelement 2a einfällt und an der Reflexionsbeschichtung 9 des stabförmigen Elements 12 in einem 90° -Winkel nach unten reflektiert wird und durch den transparenten Submountwafer 1 hindurchtritt. Eine Monitordiode 13 kann entweder hinter dem Halbleiterlaser 6 angeordnet werden und detektiert somit den geringen Anteil der durch den rückwärtigen Resonatorspiegel hindurchtretenden Laser- Strahlung. Sie kann auch jenseits des optischen Prismenelements 2b angeordnet werden und detektiert somit den geringen Anteil der durch die Reflexionsbeschichtung 9 hindurchtretenden Strahlung.Finally, FIG. 7 shows how a semiconductor laser 6, preferably an edge-emitting semiconductor laser 6, is mounted on the exposed surface 8 of the submount wafer 1 such that the laser beam S emitted by it falls into the optical prism element 2a and on the Reflective coating 9 of the rod-shaped element 12 is reflected downward at a 90 ° angle and passes through the transparent submount wafer 1. A monitor diode 13 can either be arranged behind the semiconductor laser 6 and thus detects the small proportion of the laser radiation passing through the rear resonator mirror. It can also be arranged beyond the optical prism element 2b and thus detects the small proportion of the radiation passing through the reflection coating 9.
Der Lichtempfänger 11, vorzugsweise eine Empfängerdiode, wie ein PIN-Diode, kann einen in der Lichtleitfaser 23 (s. Fig. 1) ankommenden Empfangsstrahl detektieren, wobei beispielsweise ein geringer Anteil durch die Reflexionsbeschichtung 9 hindurchtritt und auf den Lichtempfänger 11 auftrifft. In ei- nem kombinierten Sende-/Empfangs-Bauelement kann jedoch auch vorgesehen sein, daß die Reflexionsbeschichtung 9 eine wellenlängenabhängige Reflektivität und Transmissivität auf- weist, so daß beispielsweise ein Sendestrahl bei einer ersten Wellenlänge eine hohe Reflektivität erfährt, während ein Empfangsstrahl bei einer zweiten Wellenlänge eine hohe Trans- missivität der Reflexionsbeschichtung 9 erfährt.The light receiver 11, preferably a receiver diode, such as a PIN diode, can detect a received beam arriving in the optical fiber 23 (see FIG. 1), for example a small proportion passing through the reflective coating 9 and striking the light receiver 11. In a combined transmitting / receiving component, however, it can also be provided that the reflective coating 9 exhibits a wavelength-dependent reflectivity and transmissivity. points so that, for example, a transmission beam experiences a high reflectivity at a first wavelength, while a reception beam experiences a high transmissivity of the reflection coating 9 at a second wavelength.
Schließlich kann die in der Fig. 7 dargestellte, fertigprozessierte Sende-Baugruppe, wie bereits im Zusammenhang mit der Fig. 1 beschrieben, zur Bildung eines kompletten Sende- Bauelements oder kombinierten Sende-/Empfangs-Bauelements mit einer Montageplattform 25 verbunden werden, indem der transparente Submountwafer 1 auf eine Oberfläche der Montageplattform 25 aufgeklebt wird. Auf die gegenüberliegende Oberfläche der Montageplattform 25 kann eine optische Strahlführungseinrichtung, wie ein Strahlumlenkreceptacle mit Faseranschluß, montiert werden. Finally, the fully processed transmitter assembly shown in FIG. 7, as already described in connection with FIG. 1, can be connected to an assembly platform 25 to form a complete transmit component or combined transmit / receive component by the transparent submount wafer 1 is glued to a surface of the mounting platform 25. An optical beam guiding device, such as a beam deflection recipe with a fiber connection, can be mounted on the opposite surface of the mounting platform 25.

Claims

Patentansprüche claims
1. Herstellungsverfahren für eine optische Sende-Baugruppe, wobei b) zunächst ein transparenter Submountwafer (1) und ein1. Manufacturing method for an optical transmitter assembly, wherein b) first a transparent submount wafer (1) and a
Glaswafer (2) an ihren Hauptoberflächen miteinander verbunden werden, b) anschließend in dem Glaswafer (2) eine Ausnehmung (20) geformt wird, die mindestens eine Seitenwand (5) auf- weist, die im wesentlichen einen 45° -Winkel mit der Oberfläche des Submountwafers (1) bildet, c) danach auf dem Submountwafer (1) ein Halbleiterlaser (6) derart montiert wird, daß er im Betrieb ein Strahlungsbündel in den Glaswafer (2) in Richtung auf die minde- stens eine Seitenwand (5) der Ausnehmung (20) aussendet, und d) die mindestens eine Seitenwand (5) der Ausnehmung (20) derart beaufschlagt wird, daß sie für das Strahlungsbündel hochreflektierend wird.Glass wafers (2) are connected to one another at their main surfaces, b) a recess (20) is then formed in the glass wafer (2), which has at least one side wall (5) which is essentially at a 45 ° angle with the surface of the submount wafer (1), c) then a semiconductor laser (6) is mounted on the submount wafer (1) in such a way that it operates a radiation beam in the glass wafer (2) in the direction of the at least one side wall (5) Emits recess (20), and d) the at least one side wall (5) of the recess (20) is acted on in such a way that it becomes highly reflective for the radiation beam.
2. Verfahren nach Anspruch 1, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß die im Verfahrensschritt b) geformte Ausnehmung (20) V-förmig ist und von den gegenüberliegenden Seitenwänden (5) mindestens eine wie im Verfahrensschritt d) beaufschlagt wird.2. The method according to claim 1, so that the recess (20) formed in method step b) is V-shaped and the opposite side walls (5) act on at least one as in method step d).
3. Verfahren nach Anspruch 2 , d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß - die sich gegenüberliegenden Seitenwände (5) der V-förmigen Ausnehmung (20) im wesentlichen einen 90° -Winkel miteinander bilden.3. The method of claim 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that - the opposite side walls (5) of the V-shaped recess (20) form a 90 ° angle with each other substantially.
4. Verfahren nach Anspruch 1 , d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß vor dem Verfahrensschritt a) in die mit dem Submountwafer (1) zu verbindende Hauptoberfläche des Glaswafers (2) Ausnehmungen (3) geformt werden, so daß der Glaswafer (2) im Bereich der Ausnehmungen (3) im Verfahrens- schritt a) nicht mit dem Submountwafer (2) verbunden wird, und - nach dem Verfahrensschritt a) oder dem Verfahrensschritt b) die über den Ausnehmungen (3) befindlichen Bereiche des Glaswafers (2) vorzugsweise durch Sägen entfernt werden.4. The method according to claim 1, characterized in that before step a) in the submount wafer (1) to be connected to the main surface of the glass wafer (2) recesses (3) are formed so that the glass wafer (2) in the region of the recesses (3) is not connected to the submount wafer (2) in method step a), and - after method step a) or method step b) the areas of the glass wafer (2) located above the recesses (3) are preferably removed by sawing.
5. Verfahren nach Anspruch 2, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß im Verfahrensschritt b) die V-förmige Ausnehmung (20) dadurch geformt wird, daß mittels eines V-förmigen Sägeblattes, wie eines Trennschleifblattes oder dergleichen, ein V-förmiger Graben in dem Glaswafer (2) erzeugt wird.5. The method according to claim 2, characterized in that in step b) the V-shaped recess (20) is formed in that by means of a V-shaped saw blade, such as a cutting disc or the like, a V-shaped trench in the glass wafer (2nd ) is produced.
6. Verfahren nach Anspruch 5 , d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß die V-förmige Ausnehmung (20) zuerst mit einem grobkör- nigen Trennschleifblatt vorgesägt und anschließend mit einem feinkörnigen Trennschleifblatt nachgesägt wird.6. The method according to claim 5, so that the V-shaped recess (20) is first sawn with a coarse-grained separating abrasive sheet and then is sawn-in with a fine-grained separating abrasive sheet.
7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß - im Verfahrensschritt d) in die V-förmige Ausnehmung (20) ein im Querschnitt im wesentlichen rechtwinklig-dreieckiges stabformiges Element (12) mit einer horizontalen oberen Auflagefläche eingebracht wird.7. The method according to any one of the preceding claims, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that - in method step d) in the V-shaped recess (20) a cross-section essentially rectangular-triangular rod-shaped element (12) is introduced with a horizontal upper contact surface.
8. Verfahren nach Anspruch 7, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß vor dem Einbringen des stabförmigen Elements (12) eine seiner gleichseitigen Seitenwände mit einer Reflexions- beschichtung (9) versehen werden.8. The method according to claim 7, so that one of its equilateral side walls is provided with a reflective coating (9) before the rod-shaped element (12) is introduced.
9. Verfahren nach Anspruch 7 oder 8 , d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß das stabförmige Element zunächst als im Querschnitt rechteckiger Stab (7) geformt wird und dann vor oder nach dem Einbringen in die V-förmige Ausnehmung (20) ein Bereich des Stabes (7) auf der dem Submountwa- fer (1) abgewandten Seite derart abgetragen wird, daß eine horizontale Auflagefläche (10) gebildet wird.9. The method according to claim 7 or 8, characterized in that the rod-shaped element is first shaped as a rod (7) with a rectangular cross-section and then before or after it is introduced into the V-shaped recess (20), a region of the rod (7) is removed in this way on the side facing away from the submounter (1) is that a horizontal bearing surface (10) is formed.
10. Verfahren nach Anspruch 9, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß - auf der Auflagefläche (10) ein Lichtempfänger (11) angeordnet wird.10. The method of claim 9, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that - a light receiver (11) is arranged on the support surface (10).
11. Verfahren nach Anspruch 9 oder 10, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß - der Stab (7) dadurch gewonnen wird, daß ein Glaswafer (16) auf einer Hauptoberfläche mit einer Reflexionsbeschichtung (9) versehen wird und in eine 7Anzahl von Stäben (7) zerteilt wird.11. The method according to claim 9 or 10, characterized in that - the rod (7) is obtained in that a glass wafer (16) is provided on a main surface with a reflective coating (9) and is divided into a 7 number of rods (7) ,
12. Verfahren nach Anspruch 9, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß der Stab (7) zur Bildung der horizontalen Auflagefläche (10) abgeschliffen und die gebildete Fläche anschließend poliert wird.12. The method according to claim 9, so that the rod (7) is ground to form the horizontal bearing surface (10) and the surface formed is then polished.
13. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß der Submountwafer (1) aus einem Halbleiter, insbesondere Silizium, gebildet ist.13. The method according to any one of the preceding claims, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t that the submount wafer (1) is formed from a semiconductor, in particular silicon.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 12, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß das stabförmige Element (12) oder der Stab (7) in die V- förmige Ausnehmung (20) eingeklebt wird.14. The method according to any one of claims 7 to 12, that the rod-shaped element (12) or the rod (7) is glued into the V-shaped recess (20).
15. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, d a d u r c h g e k e n n z e i c h n e t, daß zu einem beliebigen Zeitpunkt nach Durchführung des Verfahrensschrittes a) Abschnitte des Submountwafers (1) außerhalb des zu formenden oder des bereits geformten Strahlumlenkabschnittes durch Entfernen entsprechender Bereiche des Glaswafers (2) freigelegt werden, und auf diesen Abschnitten der Halbleiterlaser (6) und gegebenenfalls eine Monitordiode (13) montiert werden. 15. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that At any time after performing step a), sections of the submount wafer (1) outside of the beam deflection section to be shaped or already shaped are exposed by removing corresponding areas of the glass wafer (2), and on these sections the semiconductor laser (6) and, if appropriate, a monitor diode (13) can be installed.
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