DE942518C - Device for compensating the symmetry errors of electron lenses - Google Patents

Device for compensating the symmetry errors of electron lenses

Info

Publication number
DE942518C
DE942518C DEP13554A DEP0013554A DE942518C DE 942518 C DE942518 C DE 942518C DE P13554 A DEP13554 A DE P13554A DE P0013554 A DEP0013554 A DE P0013554A DE 942518 C DE942518 C DE 942518C
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
auxiliary electrodes
magnetic poles
optical axis
compensate
order
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DEP13554A
Other languages
German (de)
Inventor
Dr Phil Otto Scherzer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss SMT GmbH filed Critical Carl Zeiss SMT GmbH
Priority to DEP13554A priority Critical patent/DE942518C/en
Application granted granted Critical
Publication of DE942518C publication Critical patent/DE942518C/en
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/46Arrangements of electrodes and associated parts for generating or controlling the ray or beam, e.g. electron-optical arrangement
    • H01J29/56Arrangements for controlling cross-section of ray or beam; Arrangements for correcting aberration of beam, e.g. due to lenses

Description

Einrichtung zur Kompensation der Symmetriefehler von Elektronenlinsen Die Güte elektronenoptischer Abbildungen wird beeinträchtigt, wenn die abbildenden Felder von der Rotationssymmetrie abweichen. Die Herstellung eines genau rotationssymmetrischen Aufbaus der Elektroden und Polschuhe ist äußerst schwierig und kostspielig. Bei Hochfrequenzlinsen entstehen Abweichungen von der Rotationssymmetrie Überdies durch die nicht genau rotationssymmetrische Ausbreitung der Hochfrequenzfelder. Um trotzdem mit verhältnismäßig einfachen Mitteln zu guten Abbildungen zu gelangen, wird eine Einrichtung zur Kompensation derartiger Symmetriefehler von Elektronenlinsen gemäß der Erfindung so getroffen, daß zusätzliche Hilfselektroden und/oder -magnetpole vorgesehen sind, durch die vorzugsweise einstellbare, nichtrotationssymmetrische Felder an einer Stelle des Strahlenganges außerhalb der Linse in deren Nähe erzeugt werden können, um damit durch Abweichungen von der Rotationssymmetrie hervorgerdenen Deformationen des Strahlenganges zu, bewirken. Zweckmäßig wird die Einrichtung so aasgebildet, daß die Hilfselektroden und/oder -magnetpole nichtrotationssymmetrisch um die optische Achse angeordnet und auf ein gemeinsames Potential bzw. gemeinsame Polstärke gebracht sind.Device for compensating the symmetry errors of electron lenses The quality of electron-optical images is impaired if the imaging Fields deviate from the rotational symmetry. The production of a precisely rotationally symmetrical Construction of the electrodes and pole pieces is extremely difficult and expensive. at In addition, high-frequency lenses cause deviations from the rotational symmetry the not exactly rotationally symmetrical propagation of the high-frequency fields. To anyway Getting good images with relatively simple means becomes one Device for compensating such symmetry errors of electron lenses according to of the invention made so that additional auxiliary electrodes and / or magnetic poles are provided by the preferably adjustable, non-rotationally symmetrical Fields generated at a point in the beam path outside the lens in its vicinity can thus be distinguished by deviations from the rotational symmetry Cause deformations of the beam path. This is how the facility is expedient Aas formed that the auxiliary electrodes and / or magnetic poles are non-rotationally symmetrical arranged around the optical axis and at a common potential or common Pole strength are brought.

Es sind bereits Einrichtungen zur Beseitigung von Bildfehlern bekanntgeworden, die bei Verwendung permanentmagnetischer oder elektromagnetischer elektronenoptischer Linsen entstehen. Man hat vorgeschlagen, den durch geringe Unsymmetrie des Aufbaus eines solchen Linsensystems oder andere Ursachen hervorgerufenen Astigmatismus, in diesem Falle einer von einem scheibenringförmigen Dauermagneten gebildeten Linse, durch unsymmetrische Verstärkung dieses Linsenmagneteil mittels eines oder mehrerer Streifen aus permeablem Material zu kompensieren. Bei Einrichtungen, die mit elektromagnetisch erregten Magnetfeldern arbeiten, ist ferner eine Anordnung von Hilfsspulen innerhalb des Linsenkerns vorgesehen worden. Es handelt sich in diesen bisher bekanntgewordenen Fällen aber stets u!rn die Fehlerkompensation am Ort der Linse, wobei also Eingriffe in den Aufbau der Linsen selbst vorgenommen werden. Derartige Maßnahmen sind verhältnismäßig schwierig und umständlich durchzuführen und haben insbesondere bei komplizierteren Linsenformen nur geringe Wirkung. Überraschenderweise hat sich gezeigt, daß es nicht nötig ist, die Kompensation am Ort der Unsymmetrie, d. h. innerhalb der Linse selbst vorzunehmen. Es ist vielmehr durch zusätzliche Anbringung von Hilfselektroden bzw. Hilfsmagnetpolen an einer einzigen Stelle des Strahlenganges außerhalb der Linse in deren Nähe möglich, die über die Länge des Strahlenganges verteilten Unsymmetrien so weit umschädlich zu machen, daß sie die Bildgüte nicht mehr störend beeinträchtigen.Devices for eliminating image errors have already become known, those when using permanent magnetic or electromagnetic electron-optical Lenses are created. It has been suggested that due to the slight asymmetry of the structure astigmatism caused by such a lens system or other causes, in this case a lens formed by a disk ring-shaped permanent magnet, by asymmetrical reinforcement of this lens magnet part by means of to compensate for one or more strips of permeable material. For facilities which work with electromagnetically excited magnetic fields is also an arrangement has been provided by auxiliary coils within the lens nucleus. It is in These previously known cases, however, always include the error compensation on Location of the lens, i.e. interventions in the structure of the lenses themselves will. Such measures are relatively difficult and cumbersome to carry out and have little effect, especially with more complex lens shapes. Surprisingly it has been shown that it is not necessary to adjust the compensation at the location of the asymmetry, d. H. within the lens itself. Rather, it's through additional Attachment of auxiliary electrodes or auxiliary magnetic poles at a single point of the Beam path outside the lens in their vicinity possible over the length of the To make the beam path distributed asymmetries so far harmful that they No longer disturb the image quality.

Der Symmetriefehler, der die elektronenoptische Abbildung am meisten stört, ist der Astigmatismus erster Ordnung. Er bewirkt, daß die von der Objektmitte ausgehende Elektronenbahn die optische Achse teils vor, teils hinter der Gaußschen Bildebene schneidet, je nachdem, in welcher der durch die optische Achse gelegten Ebenen sie das Objekt verlassen. Dieser Fehler kann dadurch beseitigt werden, daß man in der Nähe der Linse nichtrotationssymmetrisch angeordnete Elektroden anbringt und auf geeignete Potentiale auflädt.The symmetry error that affects electron optical imaging the most disturbs, the astigmatism is first order. It causes the from the center of the object outgoing electron orbit the optical axis partly in front of, partly behind the Gaussian The image plane intersects, depending on which one is laid by the optical axis Lay them out of the object. This error can be eliminated by non-rotationally symmetrically arranged electrodes are attached near the lens and charges to suitable potentials.

Die Zeichnung zeigt in schematischer - Darstellung ein Ausführungsbeispiel einer Einrichtung gemäß der Erfindung. Es sind acht sternförmig um die optische Achse angeordnete -Elektroden vorgesehen, die aurd die Potentiale U1, U2 und -U1, -U2 aufgeladen sind. Durch geeignete Wahl von U" U2 ist es stets möglich, den Astigmatismus erster Ordnung zu beseitigen. Von den durch die- Feldunsymmetrie verursachten Fehlern erster Ordnung bleibt dann nur eine Verzeichnung übrig, die alle Kreise zu derart gelegenen Ellipsen verformt, daß sie notfalls bei der licht- oder elektronenoptischen Weitervergrößerung des Elektronenbildes korrigiert werden kann. Die gleiche Wirkung kann erzielt werden, wenn an Stelle der Hilfselektroden Hilfsmagnetpole von entsprechend einstellbarer Polstärke verwendet werden. Diese Anordnung bietet zudem den Vorteil, daß das. Korrekturfeld durch die Elektroden elektrischer Linsen nicht beeinflußt wird.The drawing shows a schematic representation of an exemplary embodiment of a device according to the invention. There are eight -electrodes arranged in a star shape around the optical axis, which are charged to the potentials U1, U2 and -U1, -U2. By a suitable choice of U "U2 it is always possible to eliminate the first-order astigmatism. Of the first-order errors caused by the field asymmetry, only a distortion remains that deforms all circles into ellipses that are located in such a way that, if necessary, at the The same effect can be achieved if, instead of the auxiliary electrodes, auxiliary magnetic poles of appropriately adjustable pole strength are used. This arrangement also offers the advantage that the correction field is not influenced by the electrodes of electrical lenses .

Die in der Zeichnung mit negativen Potentialen bezeichneten Hilfselektroden können auch fortgelassen werden, denn die dadurch auftretende schwache Sammelwirkung der Kompensationseinrichtung ist leicht durch eine entsprechende Verringerung der Linsenb.rechkraft auszugleichen.The auxiliary electrodes marked with negative potentials in the drawing can also be omitted, because the resulting weak collecting effect the compensation device is easy by a corresponding reduction in To compensate for lens refractive power.

Das gleiche gilt für eine Kompensationseinrichtung mit Hilfsmagnetpolen. In beiden Fällen ist es nicht nötig, daß die Hilfselektroden U1 und U2 bzw. die entsprechenden Hilfsmagnetpole in der gleichen, zur optischen Achse senkrechten Ebene liegen.The same applies to a compensation device with auxiliary magnetic poles. In both cases it is not necessary that the auxiliary electrodes U1 and U2 or the corresponding auxiliary magnetic poles in the same perpendicular to the optical axis Lie level.

Besonders zweckmäßig ist es, daß Kompensationssystem drehbar um die optische Achse anzuordnen, weil in diesem Falle zwei einander gegenüberstehende Hilfselektroden oder Magnetpole ausreichen, wenn ihre Verbindungslinie in die jeweilige Hauptrichtung des Astigmatismus gedreht wird.It is particularly useful that the compensation system rotatable around the to arrange optical axis, because in this case two opposing Auxiliary electrodes or magnetic poles are sufficient if their connecting line is in the respective Main direction of astigmatism is rotated.

Allgemein lassen sich die Symmetriefehler in folgender Weise klassifizieren: Ist das elektrische oder magnetische Potential P in seiner Fourierzerlegung nach dem um die optische Achse gezählten Winkel t9 gegeben durch P = Psym + P6 cos (e + a (» + P1 cos (2 Ü + Öl) + P, cos ((n + i) 0 + ö,) + . . . so bestimmt das Funktionenpaar P, d" in seiner Abhängigkeit von den beiden anderen Raumkoordinaten eine Gruppe von Symmetriefehlern, deren niedrigster von n-ter Ordnung ist. Für jeden einzelnen dieser Fehler wie auch für mehrere zusammen ergeben sich ähnliche KompensationsmÖglichkeiten wie für den durch P1 bedingten Astigmatismus erster Ordnung. Die Beseitigung der durch P, bedingten Fehler bringt nur dann keine Fehler von geringerer als n-ter Ordnung mit sich,. wenn sie durch wenigstens n + i sternförmig um die optische Achse angeordnete Hilfselektroden oder -magnetpole geschieht.In general, the symmetry errors can be classified as follows: Is the electrical or magnetic potential P in its Fourier decomposition according to the angle t9 counted around the optical axis given by P = Psym + P6 cos (e + a (»+ P1 cos (2 Ü + Oil) + P, cos ((n + i) 0 + ö,) +... So the function pair P, d "determines a group of symmetry errors, the lowest of which is of the nth order, depending on the other two spatial coordinates For each and every one of these errors, as well as for several together, there are compensation possibilities similar to those for the first-order astigmatism caused by P1 it takes place through auxiliary electrodes or magnetic poles arranged in a star shape around the optical axis at least n + i.

Claims (7)

PATENTANSPRÜCHE: i. Einrichtung zur Kompensation der Symmetriefehler von Elektronenlinsen, dadurch gekennzeichnet, .daß zusätzliche Hilfselektroden und/oder --magnetpole vorgesehen sind, durch die vorzugsweise einstellbare nichtrotationssymmetrische Felder an einer Stelle des Strahlenganges außerhalb der Linse in deren Nähe erzeugt werden können. PATENT CLAIMS: i. Device to compensate for symmetry errors of electron lenses, characterized in .that additional auxiliary electrodes and / or - Magnetic poles are provided, by means of which preferably adjustable non-rotationally symmetrical Fields generated at a point in the beam path outside the lens in its vicinity can be. 2. Einrichtung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Hilfselektroden und/oder -magnetpale nichtrotationssymmetrisch um die optische Achse angeordnet und/oder ausgebildet und auf geeignete Potentiale bzw. Polstärken gebracht sind. . 2. Device according to claim i, characterized in that the auxiliary electrodes and / or magnetic pale arranged non-rotationally symmetrically about the optical axis and / or are formed and brought to suitable potentials or pole strengths. . 3. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Hilfselektroden bzw. -magnetpole so angeordnet und die von ihnen erzeugten Felder so gewählt sind, daß sie den Astigmatismus erster Ordnung- kompensieren. q.. 3. Device according to claim 2, characterized in that the auxiliary electrodes or magnetic poles are arranged and the fields generated by them are selected so that that they compensate for the first order astigmatism. q .. Einrichtung zur Kompensation des Astigmatismus erster Ordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß acht sternförmig um die optische Achse angeordnete Hilfselektroden oder -magnetpole vorgesehen sind. Compensation facility first order astigmatism according to claim 2, characterized in that eight Auxiliary electrodes or magnetic poles arranged in a star shape around the optical axis are provided are. 5. Einrichtung zur Kompensation des Astigmatismus erster Ordnung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß zwei Paare von Hilfselektroden oder -magnetpolen vorgesehen sind, die gegeneinander um 45° um die optische Achse verdreht sind. 5. Device for compensating the first order astigmatism according to claim 2 or 3, characterized in that two pairs of auxiliary electrodes or magnetic poles intended are rotated against each other by 45 ° about the optical axis. 6. Einrichtung zur Kompensation des Astigmatismus erster Ordnung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß zwei in verschiedenen, zurr optischen Achse senkrechten Ebenen angeordnete, aus Hilfselektroden oder -magnetpolen bestehende Teilsysteme vorgesehen sind. 6. Establishment to compensate for the first-order astigmatism according to claim 2 or 3, characterized in that characterized in that two planes in different planes perpendicular to the optical axis arranged subsystems consisting of auxiliary electrodes or magnetic poles are provided are. 7. Einrichtung zur Kompensation des Astigmatismus erster Ordnung nach Anspruch 2, 3 und 6, dadurch gekennzeichnet, daß die beiden Teilsysteme aus nur je zwei Hilfselektroden oder -magnetpolen bestehen. B. Einrichtung zur Kompensation des Astigmatismus erster Ordnung nach Anspruch 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Hilfselektroden und/oder -magnetpole um die optische Achse drehbar angeordnet sind. g. Einrichtung zur Kompensation des Astigmatismus erster Ordnung nach Anspruch 2, 3 und 8, dadurch gekennzeichnet, daß nur zwei Hilfselektroden oder -magnetpole vorgesehen sind. io. Einrichtung zur Beseitigung von Symmetriefehlern n-ter Ordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß zwecks Beseitigung von Unsymmetriefehlern von n-ter Ordnung mindestens n -i- i sternförmig um die optische Achse angeordnete Hilfselektroden oder -magnetpole vorgesehen sind. i i. Verfahren zur Kompensation der Symmetriefehler von Elektronenlinsen mit Einrichtungen nach Anspruch 2 oder folgenden, dadurch gekennzeichnet, daß die nach der Kompensation eines Teiles der Symmetriefehler verbleibende elliptische Verzeichnung der Kreise bei der licht- oder elektronenoptischen Weitervergrößerung des- elektronenoptischen Bildes beseitigt wird. Angezogene Druckschriften: Britische Patentschrift Nr. 553 466.7. Device for compensating for the first-order astigmatism according to claim 2, 3 and 6, characterized in that the two subsystems consist of only two auxiliary electrodes each or magnetic poles exist. B. Device to compensate for astigmatism first Arrangement according to Claim 2 or 3, characterized in that the auxiliary electrodes and / or magnetic poles are arranged to be rotatable about the optical axis. G. Facility to compensate for the first-order astigmatism according to claims 2, 3 and 8, characterized in that characterized in that only two auxiliary electrodes or magnetic poles are provided. ok Device for eliminating symmetry errors of the nth order according to claim 2, characterized in that in order to eliminate asymmetry errors of n-th Order at least n -i arranged in a star shape around the optical axis auxiliary electrodes or magnetic poles are provided. i i. Procedure to compensate for symmetry errors of electron lenses with devices according to claim 2 or the following, characterized in that that the elliptical remaining after the compensation of a part of the symmetry error Distortion of the circles in the light or electron optical further enlargement of the electron optical image is eliminated. Printed publications: British U.S. Patent No. 553,466.
DEP13554A 1948-10-02 1948-10-02 Device for compensating the symmetry errors of electron lenses Expired DE942518C (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEP13554A DE942518C (en) 1948-10-02 1948-10-02 Device for compensating the symmetry errors of electron lenses

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEP13554A DE942518C (en) 1948-10-02 1948-10-02 Device for compensating the symmetry errors of electron lenses

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE942518C true DE942518C (en) 1956-05-03

Family

ID=7364674

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEP13554A Expired DE942518C (en) 1948-10-02 1948-10-02 Device for compensating the symmetry errors of electron lenses

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE942518C (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1125564B (en) * 1958-09-13 1962-03-15 Philips Nv Shadow x-ray microscope with an electron optical system and a device for eliminating astigmatism
DE1133838B (en) * 1958-09-06 1962-07-26 Zeiss Carl Fa Beam source for generating a high-intensity electron beam
DE1187335B (en) * 1958-04-24 1965-02-18 Tesla Np Device for compensating the axial astigmatism of electron lenses

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB553466A (en) * 1940-03-13 1943-05-24 Philips Nv Improvements in or relating to cathode-ray tubes

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB553466A (en) * 1940-03-13 1943-05-24 Philips Nv Improvements in or relating to cathode-ray tubes

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1187335B (en) * 1958-04-24 1965-02-18 Tesla Np Device for compensating the axial astigmatism of electron lenses
DE1133838B (en) * 1958-09-06 1962-07-26 Zeiss Carl Fa Beam source for generating a high-intensity electron beam
DE1125564B (en) * 1958-09-13 1962-03-15 Philips Nv Shadow x-ray microscope with an electron optical system and a device for eliminating astigmatism

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1063286B (en) Method and device for adjusting the position of the focal spot generated by a cathode ray on the anti-cathode of an X-ray tube
DE112012001937B4 (en) Spin rotator
DE112014003890T5 (en) Apparatus charged with a charged particle beam
DE2730985A1 (en) IRRADIATION DEVICE
DE1537981B2 (en) COLOR TELEVISION PLAYBACK DEVICE WITH AN ELECTRON BEAM TUBE WITHOUT ANISOTROPIC ASTIGMATISM
DE1236097B (en) Electron lens for correcting a rotationally symmetrical, magnetic electron lens
DE69817618T2 (en) VIENNA FILTER
DE102005050810A1 (en) Electron optics corrector of third order opening errors and anisotropic azimuthal components of the outer axial coma of the third order uses at least three coaxial hexapolar fields and spherical lenses
DE942518C (en) Device for compensating the symmetry errors of electron lenses
DE938862C (en) Deflection arrangement for cathode ray tubes
DE975071C (en) Electron beam tube with a collecting electrode
DE899095C (en) Arrangement on a transmission electron microscope
DE60037071T2 (en) Magical energy filter
DE840421C (en) Device with electron optics and associated correction process
DE202008018179U1 (en) Device for the spatial representation of samples in real time
DE761193C (en) Toric lens for electrical corpuscular rays
DEP0013554DA (en) Device for compensating the symmetry errors of electron lenses
DE112014006444B4 (en) Charged particle beam device and method for correcting spherical aberration
DE971018C (en) Electron-optical system, equivalent to a light-optical prism
DE757913C (en) Braun tube with baffles
DE873729C (en) Device for reducing the astigmatic error of electron-optical systems
DE765083C (en) Electron microscope or scanning electron microscope
DE2949851C2 (en) Device for magnetizing a convergence device for inline color picture tubes
DE1539761A1 (en) Device for the electrostatic deflection of charged particles
DE722438C (en) Arrangement for automatic target acquisition by aircraft