DE931008C - Illumination device for phase contrast reflected light microscopes - Google Patents

Illumination device for phase contrast reflected light microscopes

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DE931008C
DE931008C DEL13245A DEL0013245A DE931008C DE 931008 C DE931008 C DE 931008C DE L13245 A DEL13245 A DE L13245A DE L0013245 A DEL0013245 A DE L0013245A DE 931008 C DE931008 C DE 931008C
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DE
Germany
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lens
diaphragm
approximately
phase contrast
illumination device
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Expired
Application number
DEL13245A
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German (de)
Inventor
Walter Klein
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Original Assignee
Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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Application filed by Ernst Leitz Wetzlar GmbH filed Critical Ernst Leitz Wetzlar GmbH
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/14Condensers affording illumination for phase-contrast observation

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

Beleuchtungsvorrichtung für Phasenkontrast-Auflicht-Mikroskope Bei Auflicht-Mikroskopen, die insbesondere für metallographische Zwecke gebraucht werden, hat man von dem bekannten Phasenkontrastverfahren Gebrauch gemacht. Hierfür ordnet man in der hinteren Brennebene des Mikroskopobjektivs die meist ringförmige Phasenschicht nach Z e r n i k e an, auf welche das Beleuchtungslicht als Bild einer ringförmigen Blendenöffnung abgebildet wird. Während beim Durchlicht-Mikroskop diese Blendenöffnung am Kondensor angebracht ist, muß im Auflicht-Mikroskop, bei dem das Mikroskopobjektiv selbst als Kondensor dient, eine besondere Blende angeordnet werden, die in der hinteren Brennebene des Objektivs abzubilden ist. Da die Lage der hinteren Brennebene für Objektive verschiedener Stärke verschieden ist, so ergibt sich die Aufgabe, die Abbildung der ringförmigen Blendenöffnung an verschiedenen Stellen des Strahlenganges zu bewirken. Da ferner auch die Durchmesser der ringförmigen Phasenschichten verschieden sind, so muß die Blendenöffnung auch in verschiedenen Größen abgebildet werden.Illumination device for phase contrast incident light microscopes At Incident light microscopes, which are used in particular for metallographic purposes, the known phase contrast method has been used. For this arranges the mostly ring-shaped phase layer is found in the rear focal plane of the microscope objective after Z e r n i k e to which the illuminating light as an image of a ring-shaped Aperture is imaged. While with the transmitted light microscope this aperture is attached to the condenser, must be in the reflected light microscope, in which the microscope objective itself serves as a condenser, a special diaphragm can be arranged in the rear focal plane of the lens is to be mapped. As the location of the back focal plane is different for lenses of different strengths, the task arises the image of the annular aperture at different points of the beam path to effect. Furthermore, since the diameters of the ring-shaped phase layers are also different are, the aperture must also be displayed in different sizes.

Diese Forderungen werden durch die Beleuchtungsvorrichtung nach der Erfindung erfüllt. Sie geht aus von einer Beleuchtungsvorrichtung für Phasenkontrast-Auflicht-Mikroskope mit Abbildung einer Blende auf eine Phasenschicht und einer die Gesichtsfeldblende auf das Objekt abbildenden Linse und besteht darin, daß bei einer solchen Vorrichtung zwischen der Blende und der Gesichtsfeldblende eine längs ihrer optischen Achse verschiebbare Linse angeordnet ist, die durch ihre Verschiebung veränderliche Bilder der Blende erzeugt, welche von der die Gesichtsfeldblende abbildenden Linse in die hintere Brennebene verschiedener Objektive abgebildet werden. In einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen Beleuchtungsvorrichtung ist die ringförmige Blendenöffnung dicht an einer Zerstreuungslinse, insbesondere auf der ebenen Fläche einer plankonkaven Linse selbst angebracht.These requirements are met by the lighting device according to the Invention fulfilled. It is based on an illumination device for phase contrast reflected light microscopes with an image of a diaphragm on a phase layer and a field diaphragm on the object imaging lens and consists in that in such a device between the diaphragm and the field diaphragm one along their optical axis Slidable lens is arranged, which by their displacement changeable images generated by the diaphragm, which of the lens imaging the field diaphragm into the rear focal plane of different lenses can be imaged. In One embodiment of the lighting device according to the invention is the ring-shaped Aperture close to a diverging lens, especially on the flat surface a plano-concave lens attached itself.

In der Zeichnung ist die erfindungsgemäße Beleuchtungsvorrichtung in einem Ausführungsbeispiel schematisch dargestellt.In the drawing is the lighting device according to the invention shown schematically in one embodiment.

Die Lichtquelle i wird durch die Kollektorlinse :2 auf der ringförmigen Blende 3 abgebildet, die sich auf der der Lichtquelle abgewandten Fläche der plankonkaven Linse 4 befindet. Die Linse 5 und die Linse 6 bilden die Ringblende 3 über den üblichen Strahlenteiler 7 an den Ort der Phasenschicht :8 ab, der in der hinteren Brennebene des Objektivs 9 liegen soll. Zwischen den Linsen 5 und 6 befindet sich die Gesichtsfeldblende io, welche durch die Linse 6 und das Objektiv in die Ebene des Objekts ii abgebildet wird. Die vom Objekt reflektierten Strahlen gehen teils durch die Phasenschicht, teils an ihr vorbei durch den Strahlenteiler zu dem Okular 12.The light source i is through the collector lens: 2 on the annular Aperture 3 shown, which is located on the surface facing away from the light source of the plano-concave Lens 4 is located. The lens 5 and the lens 6 form the ring diaphragm 3 above the usual Beam splitter 7 to the location of the phase layer: 8, the one in the back focal plane of the lens 9 should be. The field diaphragm is located between the lenses 5 and 6 io, which is imaged through the lens 6 and the objective in the plane of the object ii will. Some of the rays reflected by the object go through the phase layer, partly past it through the beam splitter to the eyepiece 12.

Die verschiedenen zu benutzenden Objektive sind in der Ebene 13 an den nicht dargestellten Mikroskoptubus zu befestigen, sie haben jedoch verschiedene Lagen ihrer hinteren Brennebene und somit der in dieser befindlichen Phasenschichten, deren Entfernung von der Ebene 13 in der Zeichnung mit x bezeichnet ist. Bei Objektiven mit großer Brennweite liegt die hintere Brennebene nahe der Ebene 13, und ihre Austrittspupille und dementsprechend ihre Phasenschicht ist groß, so daß ein großes Blendenbild auf diese entworfen werden muß, während dies bei Objektiven kurzer Brennweite umgekehrt ist. Diese verschiedenen Abbildungen lassen sich allein durch Verschieben der Linse 5 erreichen.The various lenses to be used are on level 13 to attach the microscope tube, not shown, but they have different Positions of their back focal plane and thus of the phase layers located in it, the distance of which from the plane 13 is denoted by x in the drawing. With lenses with a long focal length, the back focal plane is close to plane 13, and its exit pupil and accordingly their phase layer is large, so that a large aperture image this must be designed, while the reverse is true for short focal length lenses is. These different images can be seen just by moving the lens Reach 5.

Wählt man insbesondere die Brennweite der Linse 4: f1 =-4o mm, der Linse 5 : f2 = +r 16, der Linse 6: f3 = -f- 40, so erhält man folgende Werte für den Abstand x des Blendenbildes von der Fläche 13 und der Abbildungsvergrößerung h in Abhängigkeit von dem Abstand a zwischen der Blende 3 und der Linse 5 a = 0 8 16 x = 40 35 o Tf = 1 1,7 2,5 Man kann also durch Verschieben der Linse 5 die ringförmige Blendenöffnung genau auf verschieden große und verschieden von der Fläche 13 entfernte Phasenschichten abbilden. Man kann aber auch durch eine geringe Verschiebung der Linse 5 aus der Stellung für die genaue Abbildung heraus erreichen, daß das Beleuchtungslicht an der Phasenschicht vorbeigeht. Man erhält dann in bequemer Weise statt des Phasenkontrastbildes ein Hellfeldbild.If one selects in particular the focal length of lens 4: f1 = -4o mm, lens 5: f2 = + r 16, lens 6: f3 = -f- 40, the following values are obtained for the distance x of the aperture image from the surface 13 and the image magnification h as a function of the distance a between the diaphragm 3 and the lens 5 a = 0 8 16 x = 40 35 o Tf = 1 1.7 2.5 Thus, by moving the lens 5, the annular diaphragm opening can be reproduced precisely on phase layers of different sizes and at different distances from the surface 13. However, by slightly shifting the lens 5 from the position for precise imaging, it is also possible to ensure that the illuminating light bypasses the phase layer. A bright field image is then conveniently obtained instead of the phase contrast image.

Claims (1)

PATENTANSPRÜCHE: i. Beleuchtungsvorrichtung für Phasenkontrast-Auflicht-Mikroskope mit Abbildung einer Blende auf eine Phasenschicht und einer die Gesichtsfeldblende auf das Objekt abbildenden Linse, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Blende (3) und der Gesichtsfeldblende (io) eine längs ihrer optischen Achse verschiebbare Linse (5) angeordnet ist, die durch ihre Verschiebung veränderliche Bilder der Blende (3) erzeugt, welche von der die Gesichtsfeldblende abbildenden Linse (6) in die hintere Brennebene verschiedener Objektive abgebildet werden. z. Beleuchtungsvorrichtung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß die Blendenöffnung dicht an einer Zerstreuungslinse angeordnet ist. 3. Beleuchtungsvorrichtung nach Anspruch2, dadurch gekennzeichnet, daß die Brennweiten der Zerstreuungslinse etwa f i = -4o mm, der verschieblichen Linse etwa f2 = + 16 mm, der die Gesichtsfeldblende abbildenden Linse etwa f3 = + 40 mm sind. Angezogene Druckschriften: USA.-Patentschriften Nr. 2 553 108, 2 565 419; Journal of the Optical Society of America, Bd.40 (1950), S. 314 und 315; Archiv für Eisenhüttenwesen, Bd.23 (1952), S. 145 bis 15o; Prospekt vom Februar 1952: »Arbeits- und Forschungs-Mikroskop«, Zomi 542 der Fa. Zeiss Opton, S. 14 und 15;' Prospekt aus dem Jahre 195o: »Universal-Kameramikroskop«, Me F" der Fa. Reichert-Wien, S. 4 und 35.PATENT CLAIMS: i. Illumination device for phase contrast incident light microscopes with an image of a diaphragm on a phase layer and a lens which images the field diaphragm onto the object, characterized in that between the diaphragm (3) and the field diaphragm (io) a lens (5) which can be displaced along its optical axis is arranged, which generates variable images of the diaphragm (3) by its displacement, which are imaged by the lens (6) imaging the field diaphragm in the rear focal plane of various lenses. z. Lighting device according to Claim i, characterized in that the diaphragm opening is arranged close to a diverging lens. 3. Lighting device according to claim 2, characterized in that the focal lengths of the diverging lens are approximately fi = -4o mm, the displaceable lens approximately f2 = + 16 mm, the lens imaging the field diaphragm approximately f3 = + 40 mm. Energized publications: USA. Patent Nos 2,553,108, 2,565,419;. Journal of the Optical Society of America, 40, 314 and 315 (1950); Archiv für Eisenhüttenwesen, Vol. 23 (1952), pp. 145 to 15o; Brochure from February 1952: "Work and Research Microscope", Zomi 542 from Zeiss Opton, pp. 14 and 15; Brochure from 195o: "Universal camera microscope", Me F "from Reichert-Wien, pp. 4 and 35.
DEL13245A 1952-08-29 1952-08-29 Illumination device for phase contrast reflected light microscopes Expired DE931008C (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1215954B (en) * 1963-02-08 1966-05-05 Leitz Ernst Gmbh Photometers for observation instruments, especially microscopes

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2553108A (en) * 1946-08-10 1951-05-15 American Optical Corp Phase microscopy with reflected light
US2565419A (en) * 1948-06-09 1951-08-21 American Optical Corp Microscope attachment and the like

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