DE9002807U1 - Laser-Profiltaster - Google Patents

Laser-Profiltaster

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DE9002807U1
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/2433Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring outlines by shadow casting

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

Beschreibung
Laser - Profiltaster zur berührungslosen Abtastung von Feinprofilen, besonders von Profilen von Sicherheitsschlüsseln.
Stand der Technik
Zur berührungslosen Abtastung von Feinprofilen werden Laser-Profiltaster verwendet, die aus einer Trägergabel, einem Las er lick ".-Sender mit Punktoptik und einem lichtempfindlichen Empfänger in Form einer Zv=^quadrar'endiode bestehen.
Zur Proiilabtsstung befindet sich das Feinprofil senkrecht zur optischen t .ider-Ernpf ängerachse zwischen op ti.·· ehern Sender und Empfänger. Bei Verschieben des Laser-Profiltasters in Profillängsrichtung, beispisltw- se i~ Schlüssellängsrichtung, wird der Senderlichtstrahl entweder vom Jrrofil verdeckt oder zur Belichtung auf den Empfänger freigegeben.
Das Abtasten de*. Feinprofile erfolgt nun durch ein dem Feinprofil vertikalem und horizontalem Folgen des Laser-Profiltasters derart, daß beispielsweise eine der lichtempfindlichen Siliziumflachen der Zweiquardrantendiode durch eine Hälfte des Laserpunktes beleuchtet und die andere unbeleuchtet ist.
Die Laserpunktteilung erfolgt dabei durch die Materialkante des Profils.
Laser-Profiltaster dieser Bauart erlauben ein binäres Zweipunktabtasten des Profiles gleichsam in Form einer Treppenstufe.
Desweiteren erlauben die verwendeten Zweiquadrantendioden eine Abtastungsgenauigkeit, die durch die Dicke der Isolationsschicht zwischen den beiden Siliziumquadranten bestimmt ist. Diese Schicht beträgt nach dem Stand der Technik einige hundertstel Millimeter.
Das vertikale und horizontale Folgen wird hier X. _ispielsweise durch Schrittmotoren realisiert, deren überlagerte Folgenbevejr.unger letztlich das zu ermittelnde Profil ergeben.
Aufgabe
Der im Anspruch 1 angegebenen Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, die Abtastgenauigkeit zu erhöhen und die Anzahl der Folgemotoren zu verringern.
Vorteile
Mit der Erfindung wird erreicht, daß unter wesentlicher Erhöhung der Abtastgenauigkeit durch Verwendung einer CCD - Zeile mit mehreren Hundert
oder mehreren Tausend Siliziumdiodenpunkten, deren Isolationstrennschichten wenige tausendstel Millimeter betragen, beleuchtet durch den vom abzutastenden Profil auf die CCD - Zeile freigegebenen Teil des lienienförmigen Laserstrahles der Vertikalfolgeantrieb entfällt.
Weiterbildung der Erfindung
Vorteilhafte Ausbildung der Erfindung sind in den Ansprüchen 2 und 3 angegeben.
Die Weiterbildung nach Anspruch 2 erlaubt eine kompakte Ausführung des Laser-Profiltasters.
Die Ausgestaltung nach Anspruch 3 ermöglicht den Einbau des Laser-Profiltasters unter beengten Platzverhältnissen.
Darstellung tier Krfindung
Kin Aus fiihrung she i.sp lc I wire! anhand dor Fi H) b i. s 4 erläutert . Ks zeilen:
Fig.l Eine Seitenansicht des Laser-Profiltasters ,lit dem von durch eine Haltevorrichtung (9) gehaltenem, abzutastenden Profil (7) geteiltem linienfö'rmigen Laserstrahl (8) und der auf Trägergabel (1) befestigten
elektronischen Auswertungspia tine (4) mit Platinenschutzgehäuse (6).
ig.2 Eine Vorderansicht der Figur 1 ohne Profilhaltevorrichtung (9).
Fig·3 Ein Schema des Abtastvorgangss mit horizontaler Folgebewegung (F) des Laser-Profiltasters zum feststehenden, abzutastenden Profil (P) sowie einer bildlichen Darstellung der Linienoptik (5).
Fig.4 Die Weiterbildung der Erfindung mit g<-
gekürzter Trägergabel (1) und separierter elektronischer Auswertungsplatine (4) mit Platinenschutzgehäuse (6).

Claims (3)

(,uLhar Sebastian, Dipl. - Ing, iJ &eegr; i. &ngr; &rgr; r s i t ä &iacgr; s s t r . 12 3 Bochum I An das Deutsche Patentamt Zwei.brückens traße 12 München 2 SchutzanSprüche
1. Laser-Profiltaster zur berührungslosen Abtastung von Feinprofilen, besonders von Profilen von Sicherheitsschlüsseln, bestehend aus Trägergabel (1), sich auf einer optischen Achse koaxial gegenüberliegenden Laserlicht-Sender
(2) mit Vorsatzoptik (5) und lichtempfindlichen Empfänger (3), sowie einer elektronischen Auswertungsplatine (4) mit Platinenschutzgehäuse (6),
dadurch gekennzeichnet, daß der lichtempfindliche Empfänger
(3) eine CCD-Zeile und die Vorsatzoptik (5) einen Linienoptik ist.
2. Laser-Profiltaster nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die elektronische Auswertungsplatine (4) mit Platinenschutzgehäuse (6) auf der Trägergabel (1) befestigt ist.
3. Laser-Profiltaster nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet, daß die elektronische Auswertungsplatine (4) mit Platinenschutzgehäuse (6) von der Trägergabel (1) separiert ist.
DE9002807U 1990-03-09 1990-03-09 Laser-Profiltaster Expired - Lifetime DE9002807U1 (de)

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