DE9002130U1 - X-ray diffractometer - Google Patents

X-ray diffractometer

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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/207Diffractometry using detectors, e.g. using a probe in a central position and one or more displaceable detectors in circumferential positions

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Description

Siemens AktiengesellschaftSiemens AG

Röntgendiffraktometer
5
X-ray diffractometer
5

Die Erfindung bezieht sich auf ein Röntgendiffraktometer mit einem Röntgenstrahier, einem Detektor und einem Probenhalter, die relativ zueinander bewegbar in einem Goniometersystesa angeordnet sind.The invention relates to an X-ray diffractometer with an X-ray emitter, a detector and a sample holder, which are arranged so as to be movable relative to one another in a goniometer system.

1010

Bekannte Giffraktoeeter weisen ein Gonioiaeiersystem mit zwei konzentrischen Goniometerkreisen auf, wobei der Probenhalter auf dem inneren Goniometerkreis um eine durch die Probenoberfliche gehende Achset und der an dem äußeren C^niometerkreis bei .-tigte i^etektc- um die gleiche Achse schwenkbar sind.Known goniometers have a goniometer system with two concentric goniometer circles, whereby the sample holder on the inner goniometer circle can be pivoted about an axis passing through the sample surface and the detector attached to the outer goniometer circle can be pivoted about the same axis.

In de* Grundstellung liegen die Mittelachse <*<es Strahlengangs des Röntgenstrahlen (Primärstrahl) und die Mittelachse des Strahlengangs in den Detektor in der Oberflächenebene der Probe.In the basic position, the central axis of the X-ray beam path (primary beam) and the central axis of the beam path into the detector lie in the surface plane of the sample.

2020

Diffraktometer können als 2 Teta/Teta-Diffraktometer betrieben werden, bei dem die Probenoberfläche jeweils einen Winkel 2 reta zwischen Primärstrahl und auf der Oberfläche reflektiertem Strahl halbiert (1 : 2-Bedingung nach Bragg-Brentano), oder als 2 Teta/Omega-Diffraktometer, bei dem keine feste Zuordnung zwischen dem Winkel 2 Teta und der Winkelstellung der Probenoberfläche (Winkel Omega) besteht.Diffractometers can be operated as 2 Teta/Teta diffractometers, in which the sample surface halves an angle 2 reta between the primary beam and the beam reflected on the surface (1:2 condition according to Bragg-Brentano), or as 2 Teta/Omega diffractometers, in which there is no fixed relationship between the angle 2 Teta and the angular position of the sample surface (angle Omega).

Bei der Verwendung von relativ schweren und/oder gegen Erschütterungen empfindlichen, insbesondere flüssigkeitsgekühlten Halbleiterdetektorsystemen muß für die Bewegung des Detektors ein erheblicher mechanischer Aufwand getrieben werden.When using relatively heavy and/or vibration-sensitive, especially liquid-cooled semiconductor detector systems, considerable mechanical effort must be made to move the detector.

Die Erfindung, wie sie in den Ansprüchen gekennzeichnet ist, löst die Aufgabe, ein Röntgendiffraktometer zu schaffen, bei welchem bei nicht über das übliche hinäusgehendeffi ffiechanischen und konstruktiven Aufwand auch schwere und/oder gegen Mikrophonie empfindliche Detektoren eingesetzt werden können.The invention, as characterized in the claims, solves the problem of creating an X-ray diffractometer in which heavy and/or microphonic-sensitive detectors can be used without requiring mechanical and structural effort that goes beyond the usual.

622 02 01622 02 01

Es bedarf nur relativ geringfügiger Änderungen an dem Goniometersystem eines herkömmlichen Röntgendiffraktometers, um auch schwere, insbesondere flüssigkeitsgekühlte Halbleiterdetektoren einsetzen zu können.Only relatively minor changes to the goniometer system of a conventional X-ray diffractometer are required to be able to use heavy, particularly liquid-cooled semiconductor detectors.

Zur Erläuterung der Erfindung sind in den Figuren 1 und 2 das Aufbau- und Betriebsprinzip eines erfindungsgemäßen Röntgendiffraktometers dargestellt.To explain the invention, the construction and operating principle of an X-ray diffractometer according to the invention are shown in Figures 1 and 2.

Figur 3 zeigt schematisch ein Ausf^nrungsbeispiel. 10Figure 3 shows a schematic example of an embodiment. 10

In jen Figuren sind gleiche Teile mit den gleichen Bezugszeichen versehen. In those figures, like parts are provided with like reference symbols.

Das Goniometersystem 1 des Röntgendiffraktometers besteht im wesentlichen aus zwei konzentrischen Goniometerkreisen, die teller- oder ringscheibenförmig ausgebildet und mittels eines Getriebemotors drehbar sind. In der Mitte des inneren Goniometerkreises 2 ist eine Probenhalterung 4 für die Probe P derart angeordnet, daß die Drehachse des Goniometersystems in der Ebene der Probenoberfläche liegt.The goniometer system 1 of the X-ray diffractometer essentially consists of two concentric goniometer circles, which are shaped like plates or ring disks and can be rotated by means of a gear motor. In the middle of the inner goniometer circle 2, a sample holder 4 for the sample P is arranged in such a way that the axis of rotation of the goniometer system lies in the plane of the sample surface.

An dem äußeren Goniometerkreis 3 ist der Röntgenstrahier R befestigt. Die von dessen Brennfleck B ausgehende Röntgenstrahlung fällt durch die Aperturblende 5 auf die Probenoberfläche der Probe P, wird dort gebeugt und gelangt durch eine Streustrahlblende 6 und eine Detektorblende 7 in den ortsfest angeordneten Detektor D, beispielsweise einen mit flüssigem Stickstoff gekühlten Halbleiterdetektor auf Ge- oder Sl-Li-Basis. The X-ray emitter R is attached to the outer goniometer circle 3. The X-ray radiation emanating from its focal spot B falls through the aperture diaphragm 5 onto the sample surface of the sample P, is diffracted there and passes through a scattered beam diaphragm 6 and a detector diaphragm 7 into the stationary detector D, for example a Ge or Sl-Li-based semiconductor detector cooled with liquid nitrogen.

In der in Figur 1 dargestellten Position befinden sich der Röntgenstrahier R in seiner Anfang^position gegenüber dem ortsfesten Detektor D (2 Teta = 0#) wie auch dor Probenhalter 4 mit der Probe P (Omega «0*).In the position shown in Figure 1, the X-ray emitter R is in its initial position opposite the stationary detector D (2 Teta = 0 # ) as is the sample holder 4 with the sample P (Omega «0*).

In der Figur 2 ist die 90*-45'-Posltion dargestellt* d. hM der Röntgenstrahier R ist mit dem äußeren Goniometerkreis um 90* aus seiner Anfangslage gedreht (2 Teta = 90*), der Probenhalter 4 ,i)3.t der Probe P um den halben Winkel 2 Teta, entspre-In Figure 2, the 90*-45' position is shown* i.e. M the X-ray emitter R is rotated with the outer goniometer circle by 90* from its initial position (2 Teta = 90*), the sample holder 4 ,i)3.t of the sample P by half the angle 2 Teta, corresponding to

622 02 02622 02 02

7 ■J 7 ■J

90 G Ml 1 90 g ml 1

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chend Omega - 45". Strahlrichtung des Röntqenstrahlers und Einfallsrichtung des Strahls in den Detektor bilden einen Winkel von 90°.accordingly Omega - 45". Beam direction of the X-ray source and direction of incidence of the beam into the detector form an angle of 90°.

Figur 3 zeigt ein Goniometersystem 1, schematisch dargestellt in einer Ansicht von oben. Man erkennt den mit Hilfe einer Flanschverbindung 8 ortsfest an dem Goniometergehäuse 9 angebrachten Detektor D mit einer Halterung 10 für Blenden, beispielsweise Streustrahlblende 6 und die Detektorblende 7. Die Probenhalterung 4 mit der Probe P befindet sich zentrisch auf dem inneren Goniometerkreis, der als Scheibe ausgebildet und von dem äußeren Goniometerkreis 3 in Ringscheibenform umgeben ist.
Der Röntgenstrahier R ist mit Hilfe eines Winkelflansches 11 an dem äußeren Goniometerkreis 3 befestigt, welcher auch die Blendenbasis 12 zur Aufnahme von Aperturblenden 5 oder Monochromatoren trägt. Diametral gegenüber dem Röntgenstrahier R ist auf dem äußeren Goniometerkreis 3 ein Gegengewicht 13 befestigt, dessen Masse der des Röntgenstrahlen R entspricht.
Figure 3 shows a goniometer system 1, schematically shown in a view from above. The detector D can be seen, which is fixed to the goniometer housing 9 using a flange connection 8, with a holder 10 for apertures, for example the scattered beam aperture 6 and the detector aperture 7. The sample holder 4 with the sample P is located centrally on the inner goniometer circle, which is designed as a disk and is surrounded by the outer goniometer circle 3 in the form of an annular disk.
The X-ray emitter R is attached to the outer goniometer circle 3 by means of an angle flange 11, which also carries the diaphragm base 12 for receiving aperture diaphragms 5 or monochromators. Diametrically opposite the X-ray emitter R, a counterweight 13 is attached to the outer goniometer circle 3, the mass of which corresponds to that of the X-ray emitter R.

Das Goniometersystem 1 kann in an sich bekannter Weise entweder im 2 Teta/Teta- oder im 2 Teta/Omega-Modus betrieben werden.The goniometer system 1 can be operated in a conventional manner either in 2 Teta/Teta or in 2 Teta/Omega mode.

02 0302 03

Claims (5)

G &Iacgr; h 1 1 ^chutzansprücheG &Iacgr; h 1 1 ^protection claims 1. Röntgendiffraktometer mit einem Rö'ntgrnstrabler, einem Detektor und einem Probenhalter, die relativ zueinander bewägbar in einem Goniometersystem angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, daß der Detektor (D) ortsfest angeordnet, der zentrisch angeordnete Probenhalter (4) um eine durch die Oberfläche der Probe (P) gehende Mittelachse auf einem inneren Goniometerkreis (2) drehbar und der Röntgenstrahier (R) auf einem äußeren Goniometerkreis (3) schwenkbar befestigt ist.1. X-ray diffractometer with an X-ray diffractor, a detector and a sample holder, which are arranged in a goniometer system so that they can be weighed relative to one another, characterized in that the detector (D) is arranged in a stationary manner, the centrally arranged sample holder (4) is rotatable about a central axis passing through the surface of the sample (P) on an inner goniometer circle (2) and the X-ray emitter (R) is pivotably mounted on an outer goniometer circle (3). 2. Röntgendiffraktometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß der Röntgenstrahier (R) und der Probenhalter (4) unabhängig voneinander um die Mittelachse des Goniometersystems drehbar sind.2. X-ray diffractometer according to claim 1, characterized in that the X-ray emitter (R) and the sample holder (4) are rotatable independently of one another about the central axis of the goniometer system. 3. Röntgendiffraktometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß der Röntgenstrahier (R) mit der doppelten Winkelgeschwindigkeit des Probenhalters (4) drehbar ist.3. X-ray diffractometer according to claim 1, characterized in that the X-ray emitter (R) can be rotated at twice the angular velocity of the sample holder (4). 4. Röntgendiffraktometer nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß der Röntgenstrahier (R) mit Hilfe eines Flansches (11) an der Ringscheibe des äußeren Goniometerkreises (3) und diametral gegenüber ein Gegengewicht (13) befestigt ist.4. X-ray diffractometer according to claim 1, characterized in that the X-ray emitter (R) is attached by means of a flange (11) to the annular disk of the outer goniometer circle (3) and diametrically opposite a counterweight (13). 5. Röntgendiffraktometer nach Anspruch 1, dadurch5. X-ray diffractometer according to claim 1, characterized gekennzeichnet, daß der Detektor (D) ein mit flüssiaem Stickstoff aekühlter Halbleiterdetektor ist.characterized in that the detector (D) is a semiconductor detector cooled with liquid nitrogen. 03 0103 01
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4137673A1 (en) * 1991-11-15 1993-05-19 Siemens Ag Grazing X=ray reflectometer for rapid diffraction investigations - enabling surface property and thin film thickness determination

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9123072D0 (en) * 1991-10-30 1991-12-18 Sandoz Ltd Apparatus
EP0539626B1 (en) * 1991-10-30 1996-05-29 Koninklijke Philips Electronics N.V. X-ray examination apparatus
DE102016224940B3 (en) * 2016-12-14 2017-08-24 Bruker Axs Gmbh X-ray device with motor torque compensation at the detector circuit of the goniometer and method for operating an X-ray device

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1572719B2 (en) * 1967-08-05 1972-02-10 Lücke, Kurt, Prof Dr , 5100 Aachen X-RAY GONIOMETER FOR QUICK DETERMINATION OF THE TEXTURE OF CRYSTALLINE SAMPLES IN THE REAR AND RADIATION AREA
DE1950152C3 (en) * 1969-10-04 1978-08-10 Institut Max Von Laue - Paul Langevin, Grenoble (Frankreich), Niederlassung Institut Max Von Laue - Paul Langevin, Aussenstelle Garching, 8046 Garching Device for the simultaneous measurement of the intensity of several neutron single crystal interferences
FR2379294A1 (en) * 1977-02-08 1978-09-01 Cgr Mev NEUTRONIC RADIOTHERAPY DEVICE USING A LINEAR PARTICLE ACCELERATOR
DD149420A1 (en) * 1980-03-03 1981-07-08 Reinhard Arnhold X-ray diffractometer

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4137673A1 (en) * 1991-11-15 1993-05-19 Siemens Ag Grazing X=ray reflectometer for rapid diffraction investigations - enabling surface property and thin film thickness determination
DE4137673C2 (en) * 1991-11-15 2001-08-02 Bruker Axs Analytical X Ray Sy X-ray reflectometer

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