DE8124768U1 - Test clamp for integrated circuits - Google Patents
Test clamp for integrated circuitsInfo
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Description
ι. β -β · · · Iι. β-β · · · I
STANDARD ELEKTRIF LORENZ
AKTIENGESELLSCHAFT
'STUTTGARTSTANDARD ELECTRIFIC LORENCE
SHARED COMPANY
'STUTTGART
H.Metz-2H.Metz-2
Prüfklammer für integrierte SchaltungenTest clamp for integrated circuits
Die Erfindung betrifft eine Prüfklammer nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.The invention relates to a test clip according to the preamble of claim 1.
Derartige Prüfklammern zum Prüfen von integrierten Schaltungen sind handelsüblich. Sie werden bei der Fehlersuche auf mit integrierten Schaltungen bestückten Leiterplatten benutzt. Die in sogenannten dual-in-line-Gehäusen, d.h. quaderförmigen Gehäusen mit an den Längsseiten in der Pegel je acht rechtwinklig abgebogenen Anschlußfahnen, untergebrachten integrierten Schaltungen sind in der Leiterplatte eingelötet. Die Prüfklammern sind so gestaltet, daß sie manuell auf die integrierten Schaltungen aufgesetzt werden können. Dies geschieht wie bei einer Wäscheklammer durch Zusammendrücken der beiden Schenkel oberhalb des Gelenkes. Unterhalb des Gelenkes sind die Schenkel dann so weit gespreizt, daß sie sich bequem so auf das Bauelement setzen lassen, daß die Schenkelenden dieses übergreifen. In den Schenkelenden sind die Kontaktenden der Prüfstifte, die die Anschlußfahnen des Bauelementes berühren, freigeschnitten. Die Prüfstifte durchsetzen die Schenkel und stehen oben um so viel heraus, daß sich Leitungen anlöten lassen, welche die Prüfklammer mit einem Prüfgerät verbinden.Such test clips for testing integrated circuits are commercially available. They will help you troubleshoot used on printed circuit boards equipped with integrated circuits. The so-called dual-in-line housings, i.e. Cuboid housings with eight connection lugs, each bent at right angles, on the long sides in the level integrated circuits are soldered into the circuit board. The test clips are designed so that they can be placed manually on the integrated circuits. This is done like a clothespin by pressing the two legs together above the joint. The legs are like this below the joint Spread wide so that they can be comfortably placed on the component that the leg ends overlap it. The contact ends of the test pins are in the leg ends, that touch the terminal lugs of the component, cut free. The test pins penetrate the legs and stand out at the top by so much that lines can be soldered, which connect the test clamp with a test device associate.
Gei/V
03.08.1981Gei / V
08/03/1981
c 9 c 9
H.Metz-2H.Metz-2
Es hat sich gezeigt, daß beim Prüfen häufig ein schlechter Kontakt zwischen den Anschlußfahnen des Bauelementes und den Kontaktenden der Prüfklammer herrscht, der zu Fehldiagnosen führt. Untersuchungen ergaben, daß die Anschlußfahnen mit einer sehr dünnen, isolierenden Schicht versehen sind, die beim Löten der Leiterplatte in einer automatischen Lötanlage entsteht. Da ein nachträgliches Waschen der Leiterplatte auf der Bauelementeseite nicht möglich ist, mußte nach einer anderen Lösung dieses Problems gesucht werden.It has been shown that when testing there is often poor contact between the terminal lugs of the component and the contact ends of the test clamp, which leads to misdiagnosis leads. Investigations have shown that the terminal lugs are provided with a very thin, insulating layer that arises when soldering the circuit board in an automatic soldering system. There is a subsequent washing the circuit board on the component side is not possible, had to look for another solution to this problem will.
Der Erfindung liegt demnach die Aufgabe zugrunde, den Kontakt zwischen den Prüfstiften der Prüfklammer und den Anschlußfahnen des Bauelementes so zu verbessern, daß eine sichere Fehlersuche gewährleistet ist. Die Aufgabe wird durch die im Kennzeichen des Anspruchs 1 angegebenen Merkmale gelöst. In den Unteransprüchen s inet. !vorteilhafte Ausgestaltungen aufgezeigt. Durch die getroffenen Maßnahmen wird eine gute Kontaktgabe erreicht, weil die Nadelspitzen die Isolierschicht auf den Anschlußfahnen des Bauelementes durchdringen. Es sind wesentlich weniger Prüfwiederholungen notwendig und Fehldiagnosen kommen nur noch selten vor. Die Zeit- und Lohnersparnis ist beachtlich.The invention is therefore based on the object To improve contact between the test pins of the test clamp and the terminal lugs of the component so that a safe troubleshooting is guaranteed. The object is achieved by the features specified in the characterizing part of claim 1 solved. In the subclaims s inet. ! advantageous refinements shown. Through the measures taken, good contact is achieved because the needle tips the insulating layer on the terminal lugs of the component penetrate. There are far fewer test repetitions necessary and misdiagnoses rarely occur. The time and wage savings are considerable.
Die Erfindung wird an einem Ausführungsbeispiel beschrieben, das in der zugehörigen Zeichnung dargestellt ist. Darin zeigenThe invention is described using an exemplary embodiment which is shown in the accompanying drawing. In this demonstrate
Fig. 1 eine Prüfklammer mit erfindungsgemäßen Nadelspitzen an den Prüfstiften, in perspektivischer Ansicht;1 shows a test clip with needle tips according to the invention on the test pins, in perspective Opinion;
Fig. 2 die Prüfklammer nach Fig. 1 in auf ein Bauelement aufgesetztem Zustand, in Seitenansicht und teilFIG. 2 shows the test clip according to FIG. 1 on a component attached state, side view and part
weise geschnitten;wisely cut;
»4 *■··»4 * ■ ··
- 3 H.Metz-2 - 3 H.Metz-2
Fig. 3 einen Prüfstift der Prüfklammer nach Fig. 1 und 2, teilweise geschnitten.3 shows a test pin of the test clamp according to FIGS. 1 and 2, partially cut.
Die in den Figuren 1 und 2 dargestellte Prüfklammer 1 besteht im wesentlichen aus den beiden Schenkeln 4 und 5, die mittels des Gelenkes 6 miteinander verbunden sind. Das Gelenk wird von einem Stift gebildet, der von beiden Schenkeln nach innen vorstehende Augen durchsetzt. Das Gelenk 6 ist ungefähr in der Mitte angeordnet, so daß jeder Schenkel 4 bzw. 5 einen zweiarmigen Hebel darstellt. Zwischen den oberen Armen der beiden Schenkel 4 und 5 ist eine Druckfeder 7 eingefügt.The test clamp 1 shown in Figures 1 and 2 consists essentially of the two legs 4 and 5, which are connected to one another by means of the joint 6. The joint is formed by one pin, that of both Thighs inwardly protruding eyes interspersed. The joint 6 is arranged approximately in the middle, so that each leg 4 or 5 represents a two-armed lever. Between the upper arms of the two legs 4 and 5 is a compression spring 7 inserted.
Beide Schenkel 4, 5 der Prüfklammer 1 bestehen aus Isoliermaterial und werden auf der gesamten Höhe von metallenen Prüfstiften 8 durchsetzt, die an den Oberkanten der Schenkel noch überstehen. Die überstehenden Teile stellen die Anschlußenden 9 für Leitungen dar, durch die die Prüfklammer 1 mit einem Prüf- oder Anzeigegerät verbunden ist (nicht dargestellt). Anzahl und Abstand der Prüfstifte 8 ist der bzw. dem der Anschlußfahnen 3 von integrierten.Both legs 4, 5 of the test clamp 1 are made of insulating material and are penetrated at the entire height of metal test pins 8, which are on the upper edges of the Legs still survive. The protruding parts represent the connection ends 9 for lines through which the test clamp 1 is connected to a test or display device (not shown). Number and spacing of test pins 8 is the or that of the terminal lugs 3 of integrated.
Schaltungen 2 in dual-in-line-Gehäusen angepaßt.Circuits 2 adapted in dual-in-line packages.
Die unteren Arme der Schenkel 4 und 5 sind so gestaltet, daß sie zusammen ein dual-in-line-Gehäuse übergreifen können, wie dies aus Fig. 2 hervorgeht. Sie sind mit quer zur Drehachse des Gelenkes 6 verlaufenden Schlitzen versehen, die mit den Prüfstiften 8 zusammenfallen, so daß letztere am unteren Ende freistehend sind. Diese unteren Enden stellen die Kontaktenden 10 dar, die ein wenig federn können und abgeflacht sind, z.B. durch Quetschen, wie Fig. 3 erkennen läßt. Zur Verbesserung der Kontaktgabe sind die Kontaktenden 10 mit Nadelspitzen 12 ausgerüstet.The lower arms of the legs 4 and 5 are designed so that they together overlap a dual-in-line housing can, as can be seen from FIG. They have slots running transversely to the axis of rotation of the joint 6 provided that coincide with the test pins 8 so that the latter are free-standing at the lower end. These lower ends represent the contact ends 10 that a little can spring and are flattened, e.g. by squeezing, as Fig. 3 shows. To improve contact the contact ends 10 are equipped with needle tips 12.
- 4 H.Metz-2 - 4 H.Metz-2
Zu diesem Zweck sind die Kontaktenden 10 durchbohrt. In die Bohrung ipt die Nadelspitze 12 eingelötet und zwar so, daß die Spitze auf der Innenseite ein wenig übersteht, z.B. 0,"1 bis 0,2 mm. Der überschüssige Nadelteil 13 wird nach dem Löten abgetrennt (Fig. 3).For this purpose, the contact ends 10 are pierced. Into the bore, the needle tip 12 ipt soldered in such a way that the tip on the inside a little above is, for example, 0 mm "1 to 0.2. The excess needle part 13 is separated after the soldering (FIG. 3).
Zweckmäßig werden die Nadelspitzen 12 mit einem Rhodiumüberzug versehen, um gute Kontakteigensc] Härte und Abriebfestigkeit zu verbinden.The needle tips 12 are expediently coated with a rhodium provided in order to combine good contact properties, hardness and abrasion resistance.
|: überzug versehen, um gute Kontakteigenschaften mit großer| : coated to ensure good contact properties with great
Fig. 2 zeigt die Prüfklammer 1, nachdem sie auf eine integrierte Schaltung 2 aufgeklemmt wurde. Letztere ist mitFig. 2 shows the test clamp 1 after it has been integrated Circuit 2 was clamped. The latter is with
ihren Anschlußfahnen 3 in eine Leiterplatte LP eingelötet. Aus dieser Figur geht hervor, wie die Nadelspitzen 12 die Anschlußfahnen 3 kontaktieren.their connecting lugs 3 soldered into a printed circuit board LP. This figure shows how the needle tips 12 contact the connecting lugs 3.
Claims (3)
03.08.1981Ge i / V
08/03/1981
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE8124768U1 true DE8124768U1 (en) | 1982-02-11 |
Family
ID=1328902
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE8124768U Expired DE8124768U1 (en) | Test clamp for integrated circuits |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE8124768U1 (en) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3828148A1 (en) * | 1988-08-19 | 1990-02-22 | Ap Products Gmbh | CLIP OR CLAMP-LIKE TEST PLUG AND METHOD FOR PRODUCING SUCH A TEST PLUG |
DE102013211058B3 (en) * | 2013-06-13 | 2014-10-23 | Lisa Dräxlmaier GmbH | Current contact pliers for a four-wire measurement in the range of high voltage and high current |
-
0
- DE DE8124768U patent/DE8124768U1/en not_active Expired
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3828148A1 (en) * | 1988-08-19 | 1990-02-22 | Ap Products Gmbh | CLIP OR CLAMP-LIKE TEST PLUG AND METHOD FOR PRODUCING SUCH A TEST PLUG |
DE102013211058B3 (en) * | 2013-06-13 | 2014-10-23 | Lisa Dräxlmaier GmbH | Current contact pliers for a four-wire measurement in the range of high voltage and high current |
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