DE60137579D1 - Anordnung zum test in einer elektromechanischen vorrichtung und mittel für eine solche anordnung - Google Patents

Anordnung zum test in einer elektromechanischen vorrichtung und mittel für eine solche anordnung

Info

Publication number
DE60137579D1
DE60137579D1 DE60137579T DE60137579T DE60137579D1 DE 60137579 D1 DE60137579 D1 DE 60137579D1 DE 60137579 T DE60137579 T DE 60137579T DE 60137579 T DE60137579 T DE 60137579T DE 60137579 D1 DE60137579 D1 DE 60137579D1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
testing
arrangement
test
electromechanical apparatus
piloting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE60137579T
Other languages
English (en)
Inventor
Patrice Meyer
Serge Lang
Jean-Michel Ritzenthaler
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
LARISYS
Original Assignee
LARISYS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by LARISYS filed Critical LARISYS
Application granted granted Critical
Publication of DE60137579D1 publication Critical patent/DE60137579D1/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2801—Testing of printed circuits, backplanes, motherboards, hybrid circuits or carriers for multichip packages [MCP]
    • G01R31/2806—Apparatus therefor, e.g. test stations, drivers, analysers, conveyors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
DE60137579T 2000-10-17 2001-10-16 Anordnung zum test in einer elektromechanischen vorrichtung und mittel für eine solche anordnung Expired - Fee Related DE60137579D1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR0013269A FR2815414B1 (fr) 2000-10-17 2000-10-17 Dispositif et procede pour assurer le test d'un appareil electromecanique
PCT/FR2001/003199 WO2002033431A1 (fr) 2000-10-17 2001-10-16 Dispositif pour assurer le test d"un appareil electromecanique et procede de determination des moyens composant un tel dispositif

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE60137579D1 true DE60137579D1 (de) 2009-03-19

Family

ID=8855423

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE60137579T Expired - Fee Related DE60137579D1 (de) 2000-10-17 2001-10-16 Anordnung zum test in einer elektromechanischen vorrichtung und mittel für eine solche anordnung

Country Status (6)

Country Link
EP (1) EP1327155B1 (de)
AT (1) ATE422053T1 (de)
AU (1) AU2002210648A1 (de)
DE (1) DE60137579D1 (de)
FR (1) FR2815414B1 (de)
WO (1) WO2002033431A1 (de)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2877460B1 (fr) * 2004-11-03 2007-05-25 Giat Ind Sa Procede pour determiner la fiabilite d'une carte electronique
RU186576U1 (ru) * 2018-11-09 2019-01-24 Газинур Абдулхакович Хабибуллин Автоматизированная система квалиметрии гиростабилизированных оптико-электронных систем вертолётов

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3039067A1 (de) * 1980-10-16 1982-04-29 Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt Verfahren zur pruefung von gedruckten schaltungsplatinen
DE3543699A1 (de) * 1985-12-11 1987-06-19 Rohde & Schwarz Verfahren zum pruefen der einzelnen bauelemente einer leiterplatte (in-circuit-test)

Also Published As

Publication number Publication date
FR2815414A1 (fr) 2002-04-19
EP1327155A1 (de) 2003-07-16
ATE422053T1 (de) 2009-02-15
AU2002210648A1 (en) 2002-04-29
WO2002033431A1 (fr) 2002-04-25
FR2815414B1 (fr) 2003-02-07
EP1327155B1 (de) 2009-01-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
ATE483186T1 (de) Verfahren und vorrichtung zum prüfen von halbleitern
EP1045438B8 (de) Testsondenkarte und Testverfahren für eine Halbleitervorrichtung
DE69900810T2 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Testen von ereignisgesteuerten Programmen
DE69617274D1 (de) Verfahren und vorrichtung für diagnostischen dns-test
DE60141131D1 (de) Vorrichtung und verfahren zum speicheltest im lateralfluss
DE69531079D1 (de) Verfahren und Vorrichtung mit rechnerabhängiger Identifizierung, die es ermöglicht, Software zu erproben
DE59912692D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum optischen Prüfen von Packungen
DE69716221T2 (de) Verfahren und vorrichtung zum betrieb eines transaktionsservers in einer privaten datenbankumgebung
DE60124350D1 (de) Verfahren und Vorrichtung für variable Flugzeugdatenakquisition
DE60021564D1 (de) Verfahren und vorrichtung für eine fühlerprüfung
DE60002636D1 (de) Sensor, Vorrichtung zum Anzeigen der Drahteinführung, Inspektionsverfahren und Inspektionsapparat für die Drahtmontage
DE69833477D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Entzerren für einen OFDM-Empfänger
DE69841981D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung und Prüfung vom Datenprüffeld
DE69717824T2 (de) Verfahren und vorrichtung zum software-test
HK1024560A1 (en) Apparatus for coupling a test head and probe card in a wafer testing system.
DE69616640D1 (de) Prüfkopf, Vorrichtung und Verfahren zum Testen von Eiern
DE68914411D1 (de) Vorrichtung und Verfahren zum Testen einer flüssigen Probe.
DE50109140D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Temperieren von Proben
DE69928780D1 (de) Verfahren und vorrichtung zum formationstesten
DE69932456D1 (de) VERFAHREN UND VORRICHTUNG ZUR KüHLUNG VON INTEGRIERTEN SCHALTUNGEN, DIE RüCKSEITIG OPTISCH GEPRüFT WERDEN
DE69933607D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Auftragen einer Probe
DE60137579D1 (de) Anordnung zum test in einer elektromechanischen vorrichtung und mittel für eine solche anordnung
DE69022925D1 (de) Halbleiteranordnung und Verfahren zum Test derselben.
DE60100738D1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Betrieb einer Motorbremse
DE69015699D1 (de) Verfahren und Gerät zum Testen von im Flug abrollenden optischen Fasern.

Legal Events

Date Code Title Description
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee