DE600943C

DE600943C - Surface quality meter

Info

Publication number: DE600943C
Application number: DER87267D
Authority: DE
Original assignee: WALTER REICHEL DR ING
Current assignee: WALTER REICHEL DR ING
Publication date: 1934-08-04

Description

Oberflächengütemesser Mit dien bisherigen Oberflächengütemessern läßt sich eine größere metallene oder hölzerne Fläche nicht zahlenmäßig bewerten. Dies ist beim Gegenstand der Erfindung möglich, der noch den, Vorteil: hat, daß die zahlenmäßig: bewertete Oberfläche zugleich durch ein Linsensystem betrachtet werden lmnn.Surface quality meter With the previous surface quality meters do not evaluate a larger metal or wooden surface numerically. this is possible with the subject of the invention, which still has the advantage that the numerical: assessed surface can be viewed at the same time through a lens system.

Abb. i zeigt eine schematische Darstellung des neuen Oberflächengütemessers.Fig. I shows a schematic representation of the new surface quality meter.

'" Abb. 2 zeigt die Wiedergabe eines Risses auf der Oberfläche des zu untersuchenden Werkstückes.'"Fig. 2 shows the reproduction of a crack on the surface of the workpiece to be examined.

Gemäß der Abb. i wird von einer Lichtquelle a aus durch ein Linsensystem b ein senkrechtes Lichtstrahlbündel auf eine Drehscheibe cgeworfen, die mehrere Raster d von verschiedener Größe, z. B. i bis 6, eingesetzt erhält. Die verschiedenen Raster d werden unter dem parallelen Lichtbündel vorb.eigedreht, und es wird auf der Werkstück$ächee die Klarheit der verschieden abgebildeten Raster f mit dem Auge bzw. durch ein Linsensystem in der Vergrößerung betrachtet. Dasjenige Raster, das sich auf der Werkstückoberfläche am deutlichsten abbildet, liefert den zahlenmäßigen Wert für die Güte der Oberfläche, insofern:, als jedes Raster mit einer seiner Rasterzahl entsprechenden Feinheit versehen ist. Ist die Rasterzahl .größer, so wird sich ein solches Raster auf einer gröberen Oberfläche deutlich wiederspiegeln und ein feineres -Raster auf einer dementsprechend feineren Werkstückob.erfläche. Die Rastergröße ist mithin direkt abhängig von der Größe der Unebenheit der Oberfläche, so daß durch, diesen direkten Zusammenhang keine Relativwerte, sondern absolute Ob.erflächengütewerte gemessen, werden.According to Fig. I, from a light source a through a lens system b a vertical bundle of light rays thrown onto a turntable c containing several Grid d of various sizes, e.g. B. i to 6, used. The different Grids d are rotated past under the parallel light beam, and it will open the workpiece $ ächee the clarity of the differently depicted grid f with the eye or viewed through a lens system in magnification. The grid that is shown most clearly on the workpiece surface, provides the numerical Value for the quality of the surface, insofar as each grid has its own grid number appropriate fineness is provided. If the grid number is larger, a clearly reflect such a grid on a coarser surface and a finer one -Raster on a correspondingly finer workpiece surface. The grid size is therefore directly dependent on the size of the unevenness of the surface, so that by this direct connection is not relative values, but absolute surface quality values measured.

Ein weiterer Vorteil des neuen Meßgerätes besteht darin, daß nach Abb.2 über die Fläche ;eines Werkstückes laufende Risse und Kratzer, die bei: einer linearen oder punktuellen Messung in ihrer Gesamtheit zahlenmäßig nicht zu erfassen sind, sich in dem Raster a dadurch .äußern, daß sie sich als geschlängeIte, d. h. als ;gebrochene Rasterlinie b kennzeichnen. Die Brechung der Rasterfläche entsteht dadurch, daß das auf seiner sonst ebenen Fläche klar abgebildete Raster bei einem Kratzer oder Polierstrich sich bis auf den Grund dieser Rille, also auf einer muldenförmigen Fläche, abbilden: und je nach der Tiefe der Rille in Form einer verzerrten. Linie .erscheinen muß:Another advantage of the new measuring device is that after Fig.2 over the surface; cracks and scratches running on a workpiece, which in: one linear or punctual measurement cannot be numerically recorded in their entirety express themselves in the grid a by the fact that they are looped, i.e. H. mark as; broken grid line b. The refraction of the grid surface occurs in that the grid, which is clearly mapped on its otherwise flat surface, is a Scratches or polishing marks extend to the bottom of this groove, i.e. on a trough-shaped one Area, map: and depending on the depth of the groove in the form of a distorted. line must appear:

Claims

PATENT CLAIM: Upper surface quality meter, -marked by, a rotatable disc with grids of various sizes that form a vertical bundle of light rays are exposed, which images the grid on the surface of the workpiece. .