DE4439922A1

DE4439922A1 - Circuit board test equipment with replaceable holding-down frame

Info

Publication number: DE4439922A1
Application number: DE4439922A
Authority: DE
Original assignee: TESTEC GUENTER SEIPOLD
Current assignee: TESTEC GUENTER SEIPOLD
Priority date: 1994-11-08
Filing date: 1994-11-08
Publication date: 1996-06-27

Abstract

The circuit board (PL) under test is arranged on a supporting frame (2) whose underside is accessible for test contact points (Sp) of an electrical test set. Holding-down pins (20) are brought to bear upon particular sites on the top surface of the board to ensure immobility and good contact with the test points. The pins are movable in x and y directions in the plane of the replaceable frame (6) which is screwed (22) into a holder (7). A vacuum is maintained under the supporting frame.

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Prüfen von Schaltungs platinen, mit einem Trägerrahmen zum Aufnehmen einer Prüfplatine, deren Unterseite Prüfkontaktspitzen zugänglich ist und gegen deren Oberseite eine Niederhalter zur Anlage bringbar ist.The invention relates to a device for testing circuit circuit boards, with a support frame for receiving a test board, the underside of the test contact tips is accessible and against their A hold-down device can be brought into contact with the top.

Zum Prüfen von mit elektronischen Bauteilen bestückten Platinen sind spezielle Vorrichtungen der obengenannten Art bekannt. Auf der Unter seite des Trägerrahmens wird ein Vakuum erzeugt, und die zu prüfende Platine wird derart in Relation zu einem in dem Rahmen gebildeten Fenster gehalten, das von der Unterseite des Rahmens und der Prüf platine her die Prüfkontaktspitzen gegen die Platine gedrückt werden können. Der Trägerrahmen wird mit der Platine durch Vakuum in Richtung auf die unterhalb der Platine befindlichen Prüf-Kontaktspitzen gehalten. Um eine definierte vertikale Lage der Platine während der gesamten Prüfzeit zu gewährleisten, wird von der Oberseite her ein Niederhalter an bestimmten Punkten mit der Platine in Berührung gebracht. Dadurch wird vermieden, daß die Platine durch den Druck der großen Anzahl von Nadeln nach oben bewegt wird.For testing printed circuit boards with electronic components special devices of the type mentioned above are known. On the sub A vacuum is created on the side of the support frame, and the one to be tested The board is thus made in relation to one formed in the frame Window held by the bottom of the frame and the test circuit board the test contact tips are pressed against the circuit board can. The carrier frame is vacuumed in with the board Direction to the test contact tips located below the circuit board held. To a defined vertical position of the board during the To ensure the entire test time is from the top Hold-down device touches the circuit board at certain points brought. This prevents the board from being pressed by the pressure of the large number of needles is moved up.

Bei den bisher bekannten Vorrichtungen war für jeden Typ von zu prüfenden Platinen ein spezieller Satz von Trägerrahmen und Nieder halter erforderlich. Der Trägerrahmen mußte entsprechend der Größe der zu prüfenden Platine vorbereitet werden, und auch der Niederhalter mußte so ausgelegt sein, daß die Oberseite der Platine an geeigneten freien Stellen von den Niederhalterelementen berührt wurde.In the previously known devices was for each type of testing boards a special set of support frames and low holder required. The support frame had to be according to the size the board to be tested, and also the hold-down device had to be designed so that the top of the board on suitable free areas were touched by the hold-down elements.

Die Bereitstellung von Trägerrahmen und Niederhalter für jeden Platinen-Typ erforderte einen beträchtlichen Zeitaufwand mit ent sprechend hohen Kosten.The provision of support frames and hold-downs for everyone The board type required a considerable amount of time with ent extremely high costs.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zum Prüfen von Schaltungsplatinen anzugeben, die sich für jeweils einen bestimmten zu prüfenden Typ von Platinen innerhalb kurzer Zeit bereitstellen läßt.The invention has for its object a device for testing of circuit boards to specify which are for a particular one can provide the type of boards to be tested within a short time.

Gelöst wird diese Aufgabe erfindungsgemaß dadurch, daß der Niederhalter als Wechselrahmen ausgebildet ist, an dem mehrere Niederhaltestifte gelagert sind, welche in der Ebene des Wechselrahmens verstellbar sind.This object is achieved according to the invention in that the Hold-down is designed as an interchangeable frame on which several Hold-down pins are stored, which are in the level of the removable frame are adjustable.

Bei den bislang üblichen Prüfvorrichtungen waren Trägerrahmen und Niederhalter durch ein Scharnier miteinander verbunden, wobei der Trägerrahmen und der Niederhalter für jeweils einen speziellen Platinentyp ausgebildet waren. Für einen anderen Platinentpy mußte der Trägerrahmen und insbesondere der damit gelenkig verbundene Niederhalter komplett neu gefertigt werden. Durch den erfindungsge maßen Vorschlag läßt sich mit einem für verschiedene Platinentypen gemeinsam zu verwendenden Grundsystem arbeiten, welches aus einem Grundträger und einem damit über ein Scharnier verbundenen Wechsel rahmenträger besteht. Der die Platine aufnehmende Trägerrahmen wird für jeden speziellen Platinentyp gefertigt, während der als Wechsel rahmen ausgebildete Niederhalter in nur einer einzigen Version gefertigt werden muß, da er auf Grund der Verstellbarkeit der in ihm gelagerten Niederhaltestifte für unterschiedlichste Platinen-Typen einstellbar ist. Der Wechselrahmen wird in den über ein Scharnier mit dem Grund rahmen verbundenen Halterahmen eingesetzt und mit diesem z. B. durch Schrauben fest verbunden. Dann kann bei eingesetzter Prüfplatine eine Justierung der Niederhaltestifte derart erfolgen, daß die freien Enden der Stifte an den geeigneten Stellen mit der Platine in Anlage kommen. Nachdem der Trägerrahmen für die spezielle Platine und der Nieder halte-Wechselrahmen eingerichtet sind, können diese Teile aus dem Grundgestell entnommen werden, um durch für anderen Platinen-Typen eingerichtete Elemente ersetzt zu werden.In the case of the test devices which have been customary to date, support frames and Hold-down device connected by a hinge, the Carrier frame and the hold-down for a special one Board type were trained. For another PCB type, the Support frame and in particular the articulated Hold-down devices can be manufactured completely new. Through the fiction Moderate suggestion can be made with one for different types of boards work together to use the basic system, which consists of a Basic carrier and a change connected with it via a hinge frame support exists. The carrier frame receiving the board becomes made for each special type of board, while as a change frame-shaped hold-down clamps are only produced in a single version must be because it is due to the adjustability of the stored in it Hold-down pins can be set for a wide variety of circuit board types. The removable frame is in the hinge with the bottom frame connected holding frame used and with this z. B. by Screws firmly connected. Then a Adjustment of the hold-down pins take place in such a way that the free ends of the The pins come into contact with the board at the appropriate places. After the support frame for the special board and the low hold removable frames are set up, these parts from the Base frame can be taken out by for other board types elements to be replaced.

Vorzugsweise ist der als Wechselrahmen ausgebildete Niederhalter derart gestaltet, daß sich die Niederhaltestifte in y- und x-Richtung versetzen lassen, d. h. innerhalb der durch den Wechselrahmen definieren Ebene. The hold-down designed as an interchangeable frame is preferably such designed that the hold-down pins move in the y and x directions let, d. H. within the level defined by the mobile rack.

Besonders bevorzugt lassen sich die Niederhaltestifte auch noch in der zu der genannten Ebene senkrechten Z-Richtung verstellen, um unter schiedlichsten Platinenformen Rechnung zu tragen.The hold-down pins can also be particularly preferably in the adjust the Z-direction perpendicular to the plane in order to under different board shapes to take into account.

In einer speziellen Ausführungsform weist der Wechselrahmen Füh rungsschienen zur in y-Richtung verstellbaren Lagerung von Stiftträgern auf. Die Stiftträger tragen jeweils mindestens einen, vorzugsweise zwei fixierbare Schlitten für jeweils einen Niederhaltestift. Dadurch ist es möglich, mit wenigen Handgriffen jeden einzelnen Niederhaltestift auf eine bestimmte Stelle (Koordinate) innerhalb des Wechselrahmens ein zustellen. Die Stiftträger sind z. B. jeweils in Form eines Paares von Gleitschienen ausgebildet, die endseitig von zweiteiligen Verbindungs platten gehalten werden, die ihrerseits auf den Führungsschienen ver schieblich und an diesen durch Klemmschrauben oder dergleichen fixier bar sind. Eine ähnlich Klemmeinrichtung dient zum Fixieren der einzelnen Schlitten auf den Stiftträgern.In a special embodiment, the removable frame has feet Guide rails for the adjustable mounting of pin carriers in the y direction on. The pin carriers each carry at least one, preferably two fixable slide for one hold-down pin each. That’s it possible to open each hold-down pin in a few simple steps a specific position (coordinate) within the change frame deliver. The pen carriers are e.g. B. each in the form of a pair of Slide rails formed, the end of two-part connection plates are held, which in turn ver on the guide rails slidably and fixed to this by clamping screws or the like are cash. A similar clamping device is used to fix the individual sledges on the pen carriers.

Wenn man den Wechselrahmen mit Hilfe eines L-Profils ausbildet, läßt sich der Wechselrahmen von oben oder von unten in den Grundrahmen einsetzen.If you design the removable frame using an L-profile, leave the change frame from above or from below into the base frame deploy.

Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen:In the following an embodiment of the invention based on the Drawing explained in more detail. Show it:

Fig. 1 eine Schnittansicht durch einen Teil einer Platinen-Prüfvor richtung, Fig. 1 is a sectional view of the direction of a board testing regulations and by a part,

Fig. 2 eine teilweise geschnittene perspektivische Ansicht eines Niederhalte-Wechselrahmens und Fig. 2 is a partially sectioned perspective view of a hold-down frame and

Fig. 3 eine Schnittansicht durch einen Stiftträger mit darauf sitzendem Schlitten für einen Niederhaltestift. Fig. 3 is a sectional view through a pin carrier with a carriage seated thereon for a hold-down pin.

In Fig. 1 ist nur der obere Teil einer Vorrichtung zum Prüfen von Schaltungsplatinen dargestellt. Unterhalb der in Fig. 1 zu sehenden Anordnung befindet sich ein Träger für eine Vielzahl von Prüfkontakt spitzen, von denen in Fig. 1 zwei Kontaktspitzen Sp stellvertretend dargestellt sind. Die Kontaktspitzen Sp sind mit einer hier nicht näher interessierenden elektrischen Prüfeinrichtung verbunden.In Fig. 1 only the upper part of a device for testing circuit boards is shown. Below the arrangement shown in FIG. 1 there is a carrier for a plurality of test contact tips, of which two contact tips Sp are shown in FIG. 1 as a representative. The contact tips Sp are connected to an electrical test device that is not of interest here.

Auf einem Basisträger 1 befindet sich ein Trägerrahmen 2. Unterhalb des Trägerrahmens 2 wird von einer hier nicht dargestellten Vorrichtung ein Vakuum erzeugt. In dem Trägerrahmen 2 ist ein Fenster 3 ausge bildet, auf dessen Rand der Rand einer zu prüfenden Schaltungsplatine T1 aufliegt. Durch das unter der Trägerplatte 2 erzeugte Vakuum wird die Platine gemaß Fig. 1 nach unten belastet. Die gemaß Fig. 1 nach oben gerichteten Druckkräfte der Vielzahl von Kontaktspitzen Sp üben auf die Platine Pl eine nach oben gerichtete Kraft aus und dieser Kraft wirkt ein Niederhalter entgegen, welcher den wichtigsten Bestandteil der vorliegenden Erfindung bildet.On a base carrier 1 there is a support frame. 2 A vacuum is generated below the support frame 2 by a device (not shown here). In the support frame 2 , a window 3 is formed, on the edge of which the edge of a circuit board T1 to be tested rests. Due to the vacuum generated under the carrier plate 2 , the circuit board is loaded downwards according to FIG. 1. The upward pressure forces according to FIG. 1 of the plurality of contact tips Sp exert an upward force on the circuit board P1 and this force is counteracted by a hold-down device which forms the most important component of the present invention.

Wie in Fig. 1 zu sehen ist, ist mit dem Grundrahmen 1 und dem Trägerrahmen über ein Scharnier 4 eine Wechselrahmenhalter 7 ver bunden, in den ein Wechselrahmen 6 eingesetzt ist. Der Wechselrahmen 6 ist an dem Wechselrahmen 7 mittels Schrauben 22 befestigt.As can be seen in Fig. 1, an interchangeable frame holder 7 is connected to the base frame 1 and the support frame via a hinge 4 , in which an interchangeable frame 6 is inserted. The interchangeable frame 6 is fastened to the interchangeable frame 7 by means of screws 22 .

Wie auch aus Fig. 2 hervorgeht, ist der Wechselrahmen 6 durch ein L-Profil gebildet, so daß sich der Wechselrahmen 6 mühelos in den Wechselrahmenhalter 7 einsetzen und mit diesem verbinden läßt.As can also be seen from FIG. 2, the interchangeable frame 6 is formed by an L-profile, so that the interchangeable frame 6 can be effortlessly inserted into the interchangeable frame holder 7 and connected to it.

An den Innenseiten der in Fig. 2 dargestellten Längselemente des Wechselrahmens 6 sind als Führungsschiene fungierende Leisten 14 angeformt, die mehrere Stiftträger tragen, von denen in Fig. 2 einer ausgezeichnet und einer gestrichelt angedeutet ist.On the inner sides of the longitudinal elements of the interchangeable frame 6 shown in FIG. 2, strips 14 , which act as a guide rail, are formed, which carry a plurality of pin carriers, one of which is marked in FIG. 2 and one is indicated by a dashed line.

Jeder Stiftträger wird gebildet durch ein Paar von im Querschnitt runden Schienen 10a, 10b, die endseitig von Doppelklemmstücken 18 aufge nommen werden, die mit Hilfe jeweils einer Schraube 16 an einer zugehörigen Leiste 14 fixierbar sind.Each pin carrier is formed by a pair of round cross-section rails 10 a, 10 b, the ends of which are taken up by double clamping pieces 18, each of which can be fixed to an associated strip 14 with the aid of a screw 16 .

Wie aus Fig. 1, 2 und 3 hervorgeht, sitzen auf jedem Paar von Schienen 10a, 10b zwei Schlitten 12, gebildet durch zwei gebogene Platten 13u und 13o, die beide durch eine Rändelschraube 19 zu sammenpreßbar sind, so daß sie fest auf den Schienen 10a, 10b sitzen.As is apparent from Fig. 1, 2 and 3, both seated on each pair of rails 10 a, 10 b two carriages 12, formed by two curved plates 13 u and 13 o, by a knurled screw 19 are sammenpreßbar so that they sit firmly on the rails 10 a, 10 b.

Wie aus Fig. 3 hervorgeht, besitzt die auf der Oberseite des Schlittens 12 befindliche Rändelschraube 19 eine in ein Innengewinde eines Niederhaltestifts 20 eingreifende Schraube, so daß der Niederhaltestift 20 auf der Unterseite des Schlittens 12 in Z-Richtung verstellbar ist. Durch Drehen in Richtung des Pfeils F läßt sich die Rändelschraube 19 lösen, so daß der Schlitten 12 in y-Richtung verfahrbar ist. Damit läßt sich von einem Schlitten 12 praktisch jede beliebige Koordinate innerhalb des Wechselrahmens 6 anfahren, wobei die Verstellung in Z-Richtung er möglicht, daß die Spitze 20a des Niederhaltestifts an der gewünschten Stelle mit der Platine Pl in Anlage kommt.As can be seen from FIG. 3, the knurled screw 19 located on the upper side of the slide 12 has a screw engaging in an internal thread of a hold-down pin 20 , so that the hold-down pin 20 on the underside of the slide 12 can be adjusted in the Z direction. The knurled screw 19 can be loosened by turning in the direction of the arrow F, so that the carriage 12 can be moved in the y direction. This can be approached by a carriage 12 practically any coordinate within the removable frame 6 , the adjustment in the Z direction he enables the tip 20 a of the hold-down pin comes into contact with the board Pl at the desired location.

Wenn gemäß Fig. 1 die Platine Pl auf dem Trägerrahmen 2 angeordnet ist, wird der Wechselrahmenhalter 7 entgegen der Pfeilrichtung P ver schwenkt, so daß die vorher eingestellten Niederhaltestifte 20 an vor bestimmten Stellen auf der Oberseite der Platine Pl in Anlage kommen und die Platine gegen ein Abheben nach oben schützen.If according to FIG. 1, the board Pl is disposed on the support frame 2, the exchangeable frame holder 7 is opposite to the direction of the arrow P pivots ver so that the preset hold-down pins 20 from specific locations on the top side of the board Pl in abutment and the circuit board come against protect an upward lift.

Wie in Fig. 2 gezeigt ist, ist zusätzlich zu dem oben beschriebenen, die Schienen 10a, 10b aufweisenden Stiftträger 11 noch ein weiterer, gestrichelt dargestellter Stiftträger 11′ vorgesehen. Auch dieser Stift träger 11′ läßt sich in y-Richtung verfahren und an einer gewünschten Stelle festklemmen. Auch der Stiftträger 11′ besitzt zwei Schlitten, die jeweils in x-Richtung verstellbar sind und jeweils einen Niederhalterstift tragen, der in Z-Richtung verstellbar ist.As shown in Fig. 2, in addition to the above-described, the rails 10 a, 10 b having pin carrier 11, yet another, dashed pin carrier 11 'is provided. This pin carrier 11 'can be moved in the y direction and clamp at a desired location. The pin carrier 11 'has two slides, which are each adjustable in the x direction and each carry a hold-down pin, which is adjustable in the Z direction.

Claims

1. Device for testing circuit boards, with a support frame ( 2 ) for receiving a test board (Pl), the underside of which is accessible to test contact tips (Sp), and against the top of which a hold-down device ( 6 , 20 ) can be brought into contact, characterized in that the hold-down device is designed as an interchangeable frame ( 6 ) on which several hold-down pins ( 20 ) are mounted, which are adjustable in the plane of the interchangeable frame ( 6 ).

2. Device according to claim 2, characterized in that the hold-down pins ( 20 ) are adjustable in the y and x directions.

3. Apparatus according to claim 1 or 2, characterized in that the hold-down pins ( 20 ) are additionally adjustable in the z direction, perpendicular to the plane of the change frame ( 6 ).

4. Device according to one of claims 1 to 3, characterized in that the interchangeable frame ( 6 ) guide rails ( 14 ) for adjustable in the y-direction storage of pin carriers ( 11 , 11 ').

5. The device according to claim 4, characterized in that the pin carrier ( 11 , 11 ') receive at least one fixable carriage ( 12 ) for each hold-down pin ( 20 ).

6. The device according to claim 4 or 5, characterized in that the pin carrier have a pair of slide rails ( 10 a, 10 b) for at least one carriage ( 12 ).

7. Device according to one of claims 1 to 6, characterized in that the removable frame ( 6 ) is formed by an L-profile ( 8 ).