DE4438171A1 - Prüfvorrichtung und Verfahren zum Prüfen eines Prüfgegenstandes auf oberflächennahe Unregelmäßigkeiten - Google Patents
Prüfvorrichtung und Verfahren zum Prüfen eines Prüfgegenstandes auf oberflächennahe UnregelmäßigkeitenInfo
- Publication number
- DE4438171A1 DE4438171A1 DE19944438171 DE4438171A DE4438171A1 DE 4438171 A1 DE4438171 A1 DE 4438171A1 DE 19944438171 DE19944438171 DE 19944438171 DE 4438171 A DE4438171 A DE 4438171A DE 4438171 A1 DE4438171 A1 DE 4438171A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- test
- probe
- movement
- probes
- testing device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9013—Arrangements for scanning
- G01N27/9026—Arrangements for scanning by moving the material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Prüfvorrichtung zum Prüfen eines
Prüfgegenstandes auf oberflächennahe Unregelmäßigkeiten
Prüfungen von zumindest teilweise elektrisch leitenden Prüf
gegenständen auf oberflächennahe Fehler sind ein wichtiger
Teil der Qualitätskontrolle beispielsweise bei der Produk
tion von metallischem Halbzeug wie Rohren, Stäben, Profilen,
Drähten oder dergleichen. Hierbei häufig verwendete Prüfvor
richtungen nutzen magnetische Methoden, etwa die Streufluß- oder
die Wirbelstrommethode. Ziel ist unter anderem eine mög
lichst vollständige Prüfung der Oberflächen auf Fehler wie
beispielsweise Risse oder Fremdmaterialeinschlüsse. Die Prüf
methode soll dabei der Art und den Dimensionen der gesuchten
Fehler angepaßt sein. Aus Gründen der Wirtschaftlichkeit be
steht Bedarf an Prüfvorrichtungen, die entweder per se ko
stengünstig sind, und/oder die für wechselnde Prüfaufgaben,
etwa die Prüfung von Materialien mit unterschiedlichen Dimen
sionen, einsetzbar sind.
Weit verbreitet sind nach dem Wirbelstromprinzip arbeitende
Durchlaufspulen, durch die langgestreckte metallische Prüfge
genstände mit vorzugsweise rundem Querschnitt, etwa Rohre, so
hindurchbewegt werden, daß zwischen der Rohroberfläche und
der Durchlaufspule nur ein geringer Prüfabstand verbleibt.
Durch Beaufschlagung der Durchlaufspule mit Wechselspannung
werden im Prüfgegenstand vor allem im oberflächennahen Be
reich Wirbelströme induziert, deren induziertes Magnetfeld
auf die Durchlaufspulen zurückwirkt. Oberflächennahe Fehler
führen zu Störungen der induzierten Wirbelströme, was als
Änderung des auf die Durchlaufspule zurückwirkenden Magnet
feldes durch die Durchlaufspule detektierbar ist. Fehlersi
gnale können bei dieser dynamischen Methode aus dem Vergleich
fehlerfreier und fehlerbehafteter Bereiche gewonnen werden.
Durchlaufspulen sind kostengünstig und robust. Für Prüfungen
von Materialien unterschiedlicher Durchmesser werden übli
cherweise Durchlaufspulen mit entsprechend angepaßten festen
Innendurchmessern verwendet. Die Nachweisfähigkeit von Durch
laufspulen für kleinste Fehler, etwa im Mikrometer-Bereich,
ist begrenzt, ebenso die Nachweisfähigkeit für Längsfehler,
da deutliche Fehlersignale vorwiegend am Anfang und am Ende
eines Längsfehlers auftreten.
Aus der EP-0 561 251 A1 ist eine Prüfvorrichtung mit drei
identischen, in Durchlaufrichtung eines Prüfgegenstandes ge
sehen runden, hintereinander angeordneten Durchlaufspulen-An
ordnungen bekannt. Die Durchlaufspulen-Anordnungen können
senkrecht zur Durchlaufrichtung gegeneinander verschoben
werden, so daß sich in Durchlaufrichtung gesehen eine Durch
lauföffnung ergibt, die kleiner ist als die Durchlauföffnung
der drei Durchlaufspulen-Anordnungen und die von drei anein
andergrenzenden Kreissegmenten begrenzt wird. Auf diese Weise
kann auch ein Prüfgegenstand kleineren Durchmessers geprüft
werden, allerdings variiert der Prüfabstand zwischen den
einzelnen Segmenten der Durchlaufspulen und der Oberfläche
des Prüfgegenstandes relativ stark.
Bekannt sind auch Prüfgeräte mit Sondenträgern, an denen im
wesentlichen kleinflächig wirkende, beispielsweise nach dem
Wirbelstromprinzip arbeitende Prüfsonden derart gelagert
sind, daß sie bei rotierendem Sondenträger entlang der Ober
fläche eines durch den Sondenträger durchlaufenden Prüfge
genstandes entlang wendelförmiger Prüfbahnen geführt werden.
Die DE 37 39 190 A1 zeigt ein solches Prüfgerät, bei dem die
radiale Position der Prüfsonden am Sondenträger verstellbar
ist, so daß runde Prüfgegenstände verschiedener Durchmesser
unter im wesentlichen gleichen Meßbedingungen geprüft werden
können. Derartige Vorrichtungen können höchste Anforderungen
insbesondere bezüglich der Fehlerauflösung für Punkt- und
Längsfehler erfüllen, sie sind jedoch relativ aufwendig auf
gebaut und teuerer als Durchlaufspulen.
Es sind auch Prüfvorrichtungen vorgeschlagen worden, bei
denen in einem statischen Sondenträger eine oder mehrere an
rotierenden Haltern installierte Prüfsonden ebene Kreisbe
wegungen ausführen. Dadurch können an der Prüfvorrichtung
vorbeilaufende ebene Prüfteiloberflächen von der Breite des
Durchmessers der Kreisbewegung dynamisch mit guter Fehlerauf
lösung abgetastet werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Prüfvorrich
tung und ein Verfahren zu schaffen, die die Prüfung von Prüf
gegenständen unterschiedlicher Querschnittsdimensionen und
-formen ermöglichen. Die Prüfung soll eine gute Fehlerauflö
sung für sowohl Punkt- als auch Längsfehler erlauben.
Diese Aufgabe wird gelöst durch eine Prüfvorrichtung mit den
Merkmalen des Anspruchs 1 sowie durch ein Verfahren mit den
Merkmalen des Anspruchs 21.
Mit der Erfindung wird eine Prüfvorrichtung geschaffen, die
eine zur Prüfung geeignete Gesamtwirkfläche hat, die eine
Vielzahl von Sondenwirkflächen einzelner Prüfsonden aufweist.
Der Begriff "Sondenwirkfläche" einer Prüfsonde bezeichnet
einen flächigen Bereich, in dem Änderungen eines vom Prüfge
genstand ausgehenden Feldes in der Prüfsonde zu signifikanten
Änderungen führen, die zur Erzeugung von Meßsignalen genutzt
werden können.
Je nach Ausbildung der Prüfsonde kann die Sondenwirkfläche in
der Größenordnung von einigen Quadratmillimetern, aber auch
deutlich unterhalb eines Quadratmillimeters liegen. Sonden
wirkflächen mit Durchmessern von ca. 0,1 mm sind möglich. Es
können Prüfsonden mit unterschiedlich großen oder unter
schiedlich gestalteten Sondenwirkflächen kombiniert werden.
Die Ausdehnungen der Sondenwirkflächen bestimmen wesentlich
die Auflösung des Prüfverfahrens. Werden die Prüfsonden so
angeordnet, daß die Sondenwirkflächen in einer durch diese
aufgespannten Gesamtwirkfläche liegen, so kann eine Prüfung
einer im Vergleich zu den Sondenwirkflächen größeren Fläche
mit einer Auflösung durchgeführt werden, die von den (kleine
ren) Sondenwirkflächen bestimmt wird.
Der Verlauf der Gesamtwirkfläche kann so gewählt sein, daß
diese mindestens bereichsweise unter Einhaltung eines Prüfab
standes an die Oberfläche des Prüfgegenstandes anpaßbar ist.
Der Prüfabstand, das heißt der Abstand zwischen Oberfläche
des Prüfgegenstandes und Sondenwirkfläche, kann verschwinden
(schleifende Prüfsonden). Er kann im Millimeterbereich lie
gen, typischerweise bei 1 mm bis 2 mm, so daß die Prüfung be
rührungslos erfolgen kann. Der Prüfabstand ist dabei der
Reichweite der zur Prüfung verwendeten Felder anzupassen, die
vom Prüfgegenstand ausgehen. Bei Prüfungen, bei denen der
Prüfabstand für mehrere Prüfsonden im wesentlichen konstant
ist oder nur geringfügig variiert, wird die Interpretation
und Auswertung der Prüfsignale besonders einfach. Ein kon
stanter oder nur geringfügig variierender Prüfabstand ist
vorteilhaft. Die Relativbewegung zwischen Prüfsonden und
Prüfgegenstand erfolgt so, daß für jede Prüfsonde der Prüfab
stand im wesentlichen konstant bleibt.
Diese Vorteile können unter Verzicht auf bei der Prüfung be
wegliche Teile erreicht werden. Erfindungsgemäße Prüfvorrich
tungen können daher besonders einfach aufgebaut und robust
sein.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung kann der
Sondenträger bei der Prüfung im wesentlichen ortsfest und der
Prüfgegenstand langgestreckt und in einer Bewegungsrichtung
relativ zum Sondenträger bewegbar sein. Bei dieser Anordnung
wird in dem Bereich der Gesamtwirkfläche, der in einem geeig
neten Prüfabstand zur Oberfläche des Prüfgegenstandes ange
ordnet ist, eine Gesamtprüfbahn von der Breite des Bereiches,
in dem der Prüfabstand geeignet ist, geprüft.
Beispielsweise für eine großflächige Prüfung kann es vorteil
haft sein, wenn die Gesamtprüfbahn möglichst breit ist. Dies
kann dadurch erreicht werden, daß Prüfsonden in Bewegungs
richtung gesehen seitlich gegeneinander versetzt angeordnet
sind. Mit Vorteil kann eine Vielzahl von Prüfsonden in einer
gemeinsamen, in einem Winkel zur Bewegungsrichtung ausgerich
teten Ebene angeordnet sein. Diese Anordnung wird als Sonden
kette bezeichnet. Vorzugsweise kann die Ebene senkrecht zur
Bewegungsrichtung ausgerichtet sein.
Die Prüfsonden können so geschaltet sein, daß zur Auswertung
ein Gesamtsignal der Prüfsonden verwendet wird. Eine signifi
kante Änderung des Gesamtsignals zeigt dann ein Fehler oder
dergleichen irgendwo entlang der Breite der Gesamtprüfbahn in
dem gerade geprüften Abschnitt des Prüfgegenstandes an. Diese
Auswertung kann für viele Prüfaufgaben ausreichend sein.
Die Sonden, insbesondere die einer Sondenkette, können auch
so geschaltet sein, daß Einzelsignale von jeder Prüfsonde
oder von Prüfsondengruppen, insbesondere innerhalb einer Son
denkette, getrennt aufgezeichnet werden. Diese Aufzeichnung
erlaubt eine Lokalisierung von Fehlern entlang der Breite der
Gesamtprüfbahn. Dabei können die Einzelsignale der Prüfsonden
und/oder Prüfsondengruppen zeitgleich aufgenommen werden. Sie
können mehreren Auswerteeinrichtungen zugeführt werden. Es
können auch, beispielsweise durch geeignete elektronische An
steuerung, die Prüfsonden und/oder Prüfsondengruppen nachein
ander abgefragt werden und ihre Signale einer einzelnen Aus
werteeinrichtung, aber auch mehreren zugeführt werden.
Die Prüfsonden können so angeordnet sein, daß zwischen be
nachbarten Prüfsonden im Bereich der Sondenwirkflächen ein
Sondenabstand verbleibt. Dies kann von Vorteil sein, wenn
eine Wechselwirkung zwischen benachbarten Sondenwirkflächen
weitgehend verhindert werden soll. Diese Anordnung kann auch
ausreichen, wenn eine lückenlose Fehlersuche im Bereich der
Gesamtprüfbahn nicht notwendig ist und/oder die gesuchten
Fehler am Prüfgegenstandsumfang einen Bereich abdecken, der
größer ist als der in Bewegungsrichtung gesehene Sondenab
stand.
Wenn Wechselwirkungen zwischen benachbarten Prüfsonden weit
gehend vermieden werden sollen, kann es von Vorteil sein, daß
zwischen benachbarten Prüfsonden mindestens eine Abschirmung
gegen elektrische und/oder magnetische Felder vorgesehen ist.
Derartige Abschirmungen können die Zuordenbarkeit von Fehler
signalen zu einer bestimmten Prüfsonde verbessern.
Für eine lückenlose Oberflächenprüfung im Bereich der Gesamt
prüfbahn kann es von Vorteil sein, wenn die Sondenwirkflächen
in Bewegungsrichtung gesehen lückenlos aneinandergrenzen und/oder
einander teilweise überlappen. Diese Anordnung ist von
Vorteil, wenn eine Prüfung nach dem Motto "ungeprüft = feh
lerhaft" erfolgt. Auf diese Weise bleibt keine prinzipiell
detektierbare Unregelmäßigkeit im Gesamtprüfbereich unent
deckt.
Es kann vorteilhaft sein, wenn Prüfsonden in Bewegungsrich
tung gesehen versetzt hintereinander angeordnet sind, vor
zugsweise derart, daß die Sondenwirkflächen in Bewegungsrich
tung gesehen lückenlos aneinandergrenzen und/oder einander
teilweise überlappen. Durch eine derartige Anordnung können
die Vorteile der voneinander beabstandeten Sondenwirkflächen
mit dem Vorteil einer lückenlosen Prüfung der Materialober
fläche im Gesamtprüfbereich kombiniert werden.
In einfacher Weise kann eine derartige Anordnung beispiels
weise dadurch erreicht werden, daß bei einem Sondenträger die
Prüfsonden in mehreren, insbesondere zwei, vorzugsweise senk
recht zur Bewegungsrichtung ausgerichteten Ebenen angeordnet
sind. Diese Anordnung kann beispielsweise durch mehrere, ins
besondere zwei, Sondenketten, wie oben beschrieben, erfolgen,
die entsprechend versetzt in Bewegungsrichtung gesehen hin
tereinander angeordnet sind.
Es können auch mindestens zwei Sondenträger in Bewegungsrich
tung hintereinander angeordnet sein. Hintereinander angeord
nete Sondenträger können jeweils eine, aber auch mehrere Son
denketten aufweisen. Sie können in Umfangsrichtung gegenein
ander versetzt sein.
Werden mehrere Sondenträger in einer von der Bewegungsrich
tung abweichenden Richtung, vorzugsweise senkrecht zur Bewe
gungsrichtung, gegeneinander verschoben, so kann ein Prüfge
genstand von mehreren Sondenträgern abgetastet werden, wobei
die Gesamtprüfbereiche gegeneinander so versetzt sein können,
daß durchlaufende Prüfgegenstände prinzipiell auf beliebigen
Breiten und/oder über ihren gesamten Umfang bei einem Durch
lauf durch die Prüfvorrichtung geprüft werden können.
Bei einer bevorzugten Ausführungsform ist die Gesamtwirk
fläche in Bewegungsrichtung gerade und senkrecht zur Bewe
gungsrichtung mindestens abschnittsweise gekrümmt. Die Ge
samtwirkfläche kann beispielsweise in Bewegungsrichtung ge
sehen eine kreisförmige oder kreissegmentförmige Projektion
aufweisen. Mit Vorteil ist die Gesamtwirkfläche senkrecht zur
Bewegungsrichtung mit veränderlicher Krümmung gekrümmt, vor
zugsweise ellipsensegmentförmig. Die Vorteile einer veränder
lichen Krümmung liegen darin, daß je nach Krümmung des Prüf
gegenstandsquerschnitts im zu prüfenden Bereich ein Bereich
entsprechender Krümmung der Gesamtwirkfläche an den Prüfge
genstand angepaßt werden kann. Dies wird weiter unten noch
beschrieben werden.
Die obengenannten Vorteile bezüglich der Anpassung an insbe
sondere runde Gegenstände verschiedener Durchmesser können
dadurch genutzt werden, daß der Sondenträger im Bereich der
Gesamtwirkfläche in Form einer Rinne mit in Bewegungsrichtung
gesehen U-förmigem Verlauf ausgebildet ist und die Prüfsonden
mit ihren Sondenwirkflächen zum Inneren der Rinne hin ausge
richtet sind. Die U-Form kann die beschriebene Krümmung einer
halbierten Ellipse aufweisen. Durch eine einseitig geöffnete
Form, etwa eine U-Form, ist die Anpassung der Gesamtwirkflä
che an den Prüfgegenstand besonders einfach. Die Anpassung
kann von der Seite erfolgen. Dies erleichtert die Prüfung
insbesondere an langgestreckten Gegenständen. Diese müssen
nicht, wie bei Durchlaufspulen, durch eine allseitig ge
schlossene Öffnung geschoben werden, sondern die Prüfung kann
an jeder beliebigen Stelle der Längsachse des Prüfgegenstan
des sofort begonnen oder beendet werden.
Ein Sondenträger kann zur Prüfung ausreichen. Ist eine Anpas
sung nur bereichsweise möglich, beispielsweise weil bei einem
im Querschnitt runden Prüfgegenstand und einer elliptisch ge
krümmten Gesamtwirkfläche nur etwa entlang des halben Umfan
ges des Prüfgegenstandes die Gesamtwirkfläche so angepaßt
werden kann, daß ein geeigneter Prüfabstand verbleibt, können
mit Vorteil mehrere Sondenträger eingesetzt werden. Es können
vorzugsweise zwei, insbesondere identische Sondenträger sein,
die parallel zu einer senkrecht zur Bewegungsrichtung verlau
fenden ersten Verschiebungsrichtung gegeneinander verschieb
bar angeordnet sind. Sie können vorzugsweise mindestens teil
weise aneinander vorbei verschiebbar sein. Eine derartige
Prüfvorrichtung erlaubt es, eine Hälfte des Gesamtumfanges
des Prüfgegenstandes über die Gesamtwirkfläche des einen Son
denträgers, und die gegenüberliegende über die Gesamtwirk
fläche des anderen Sondenträgers zu untersuchen, nachdem die
Prüfabstände geeignet eingestellt wurden. Es können auch zwei
zusätzliche, vorzugsweise identische Sondenträger vorgesehen
sein, die in einer senkrecht zur Bewegungsrichtung verlaufen
den zweiten Verschiebungsrichtung parallel zueinander gegen
einander verschiebbar sind, vorzugsweise mindestens teilweise
aneinander vorbei. Die erste und die zweite Verschiebungs
richtung können im Winkel zueinander verlaufen, sie können
insbesondere in rechtem Winkel zueinander ausgerichtet sein.
Bei einer derartigen Vorrichtung stehen vier getrennt anpaß
bare Gesamtwirkflächen zur Verfügung, so daß die Bereiche pro
Gesamtwirkfläche, in denen ein geeigneter Prüfabstand einge
halten werden muß, geringer sein können als im Ausführungs
beispiel mit zwei Sondenträgern.
Die Erfindung ist allerdings nicht auf einen, zwei oder vier
Sondenträger beschränkt. Die Sondenträger bzw. deren Gesamt
wirkflächen müssen auch nicht identisch sein. Vorrichtungen
mit Sondenträgern mit identischen Gesamtwirkflächen haben
fertigungstechnische Vorteile und sind besonders zweckmäßig
für Prüfgegenstände mit axialsymmetrischen, insbesondere
runden Prüfquerschnitten. Durch geeignet geformte Gesamtwirk
flächen und entsprechende Anzahl von Sondenträgern mit ent
sprechenden Verschiebungsmöglichkeiten sind Gesamtwirkflä
chen fast an beliebige Prüfgegenstandsquerschnitte anpaßbar.
Die bisherigen Ausführungsbeispiele behandeln Prüfvorrichtun
gen mit im wesentlichen ortsfesten Sondenträgern. Der Begriff
"im wesentlichen ortsfest" kann kleinere Bewegungen um eine
Ruhelage mit einschließen. So sind bei einer Weiterbildung
der Erfindung Oszillatormittel zur Erzeugung einer Oszilla
tionsbewegung der Prüfsonden vorgesehen. Durch eine Oszilla
tionsbewegung der Prüfsonden ist sogar bei ruhendem Prüfge
genstand eine dynamische Prüfung möglich. Durch eine Oszilla
tionsbewegung der Prüfsonden, wird praktisch auch eine effek
tive Vergrößerung der Sondenwirkfläche herbeigeführt, da sich
der Prüfgegenstandsbereich, in dem Fehler zu Signalen in
einer Prüfsonde führen, entsprechend der Auslenkung der Prüf
sonde vergrößert.
Vorzugsweise erzeugen die Oszillatormittel eine im Winkel zur
Bewegungsrichtung, insbesondere senkrecht zu dieser, verlau
fende Bewegungskomponente der Prüfsonden. Die Ausrichtung der
Prüfsonden zur Prüfgegenstandsoberfläche soll zweckmäßiger
weise durch die Oszillationsbewegung nicht wesentlich von
einer optimalen Ausrichtung, beispielsweise senkrecht zur
Oberfläche, geändert werden. Bei geeigneter Anpassung von Os
zillationsfrequenz und Bewegungsgeschwindigkeit des Prüfge
genstandes kann eine Prüfsonde den Prüfgegenstand entlang
einer beispielsweise sinusförmigen Bahn abtasten. Bei ent
sprechender Überlappung der Bahnsegmente kann eine effektiver
Prüfbahn vollständig abtastbar sein, deren Breite von der
Amplitude der Oszillationsbewegung abhängt. Durch Oszillation
mit Bewegungskomponenten senkrecht zur Bewegungsrichtung kann
insbesondere auch die Detektionsfähigkeit für Längsfehler
deutlich verbessert werden. Längsfehler können im Winkel zu
ihrer Längsrichtung abgetastet werden, so daß bei der Oszil
lation im Wechsel fehlerhafte und fehlerfreie Bereiche Meßsi
gnale erzeugen können.
Eine senkrecht zur Bewegungsrichtung verlaufende Bewegungs
komponente der Prüfsonden kann mit Vorteil dadurch erreicht
werden, daß der Sondenträger um eine parallel zur Bewegungs
richtung verlaufende Schwenkachse schwenkbar gelagert ist und
daß die Oszillatormittel einen Schwenkantrieb für eine
Schwenkbewegung des Sondenträgers um die Schwenkachse auf
weisen. Die Auslenkung der Schwenkbewegung kann dabei auch
wesentlich größer sein als die Größenordnung der Sondenwirk
fläche.
Mit Vorteil können die Oszillatormittel eine zur Schwenkung
des Sondenträgers um die Bewegungsrichtung ausgebildete Ring
führung aufweisen. Diese kann einen Führungsring oder ein an
mehrere Führungselemente oder eine Führungsscheibe aufweisen;
diese Führungselemente können beispielsweise durch am Umfang
angreifende Lager, insbesondere Zapfenlager, geführt werden.
Als Schwenkantrieb kann vorzugsweise ein Exzenterantrieb vor
gesehen sein, der an dem Führungselement oder ggf. an einem
den oder die Sondenträger tragenden Trägerelement angreift.
Eine vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung, die sich durch
besondere Flexibilität auszeichnet, ist dadurch gekennzeich
net, daß die Prüfsonden mechanisch miteinander und/oder mit
dem Sondenträger verbunden sind und daß Einstellmittel zur
Einstellung der relativen Anordnung der Prüfsonden zueinander
vorgesehen sind. Die Einstellmittel können mit Vorteil
Schraub- und/oder Klemmittel aufweisen. Sie können insbeson
dere dazu dienen, die Prüfsonden in einer für die Prüfung op
timalen Stellung zur Prüfteiloberfläche festzustellen, bei
spielsweise jeweils im wesentlichen senkrecht zu dieser. Die
Prüfsonden können auch derart gegeneinander verschiebbar mit
einander und/oder mit dem Sondenträger verbunden sein, daß
ihre Relativpositionen zueinander so einstellbar sind, daß
ihre Gesamtwirkfläche erfindungsgemäß in Prüfabstand zu einem
Prüfgegenstand mit praktisch beliebiger Querschnittsform ge
bracht werden kann. Es kann somit eine flexible Anordnung
nach Art eines flexiblen Kurvenlineals geschaffen werden.
Diese Weiterbildung der Erfindung kann besonders geeignet
sein zur Prüfung komplizierter geformter Profile.
Bei einer weiteren Ausführungsform der Erfindung ist die Ge
samtwirkfläche im wesentlichen eben. Es sind Oszillatormittel
vorgesehen, durch die einzelne Prüfsonden in Oszillationsbe
wegung parallel zur Gesamtwirkfläche versetzbar sind. Mit
Vorteil sind Gruppen von Prüfsonden, insbesondere aber alle
Prüfsonden, in eine kollektive Oszillationsbewegung parallel
zur Gesamtwirkfläche versetzbar. Die Oszillationsbewegung
kann beispielsweise linear, elliptisch oder kreisförmig ver
laufen. Mit dieser Prüfvorrichtung können sich bewegende,
aber auch ortsfeste Prüfgegenstände im Bereich ebener Ober
flächen dynamisch geprüft werden, insbesondere auch lücken
los.
Die Anpassung der Gesamtwirkfläche an die Prüfteiloberfläche
kann zweckmäßigerweise mit dem Ziel möglichst gleicher Meßbe
dingungen für die zur Erzeugung von Prüfsignalen vorgesehenen
Prüfsonden erfolgen. Insbesondere soll der Prüfabstand für
diese Prüfsonden im wesentlichen konstant sein oder nur ge
ringfügig variieren. Prüfabstandsvariationen können mit Vor
teil dadurch berücksichtigt werden, daß den Prüfsonden zuge
ordnete Prüfabstands-Bestimmungsmittel vorgesehen sind. Dies
können beispielsweise Wirbelstrom-Absolutsonden sein, über
die aus der stark abstandsabhängigen Intensität von durch
Wirbelströme induzierten Magnetfeldern der Prüfabstand fest
stellbar ist. Durch geeignete Kompensationsmittel kann diese
Abstandsinformation zur Interpretation der Prüfsignale her
angezogen werden. Hierzu können gegebenenfalls rechnergestützte
Auswertemittel für die Abstandskompensation vorgesehen sein.
Die Prüfabstands-Bestimmungsmittel können auch Prüfsonden
aufweisen, deren Sondenwirkflächen nicht in der Gesamtwirk
fläche, sondern außerhalb dieser, insbesondere weiter von der
Prüfgegenstandsoberfläche entfernt, angeordnet sind. Prüfab
stands-Bestimmungsmittel können auch an einigen oder an allen
Prüfsonden integriert vorgesehen sein.
Mit Vorteil ist mindestens eine Prüfsonde als Wirbelstrom
sonde ausgebildet, vorzugsweise mit mindestens einer Ab
standswicklung. Die Wirbelstromsonden können je nach Prüfauf
gabe und geforderter Auflösung verschiedene Schaltprinzipien
aufweisen. Sie können als Absolut- und/oder Differenzsonden
ausgebildet sein. Bei einer bevorzugten Ausführungsform sind
alle Prüfsonden Wirbelstrom-Differenzsonden mit Abstandswick
lungen zur Bestimmung des Prüfabstandes zum Zwecke der Ab
standskompensation. Bei einer anderen Ausführungsform sind
Prüfsonden als Streuflußsonden ausgebildet. Es können auch
Wirbelstromsonden und Streuflußsonden kombiniert in einer
Prüfvorrichtung angeordnet sein.
Die beschriebenen Ausführungsformen sind besonders geeignet,
das erfindungsgemäße Verfahren zum Prüfen eines Prüfgegen
standes auf oberflächennahe Unregelmäßigkeiten zu realisie
ren, bei dem eine Vielzahl von Prüfsonden mit ihren Sonden
wirkflächen entlang einer durch die Sondenwirkflächen aufge
spannten Gesamtwirkfläche angeordnet werden, bei dem die Ge
samtwirkfläche zumindest bereichsweise unter Einhaltung eines
Prüfabstandes an die Oberfläche des Prüfgegenstandes angepaßt
wird und bei dem die Prüfsonden und der Prüfgegenstand rela
tiv zueinander bewegt werden. Die Relativbewegung kann eine
Oszillationsbewegung und/oder eine lineare Bewegung der Prüf
sonden relativ zum Prüfgegenstand umfassen. Bei der Relativ
bewegung soll der Prüfabstand jeder Prüfsonde zur Prüfgegen
standsoberfläche im wesentlichen konstant sein.
Diese und weitere Merkmale gehen außer aus den Ansprüchen
auch aus der Beschreibung und den Zeichnungen hervor, wobei
die einzelnen Merkmale jeweils für sich allein oder zu mehre
ren in Form von Unterkombinationen bei einer Ausführungsform
der Erfindung und auf anderen Gebieten verwirklicht sein und
vorteilhafte sowie für sich schutzfähige Ausführungen dar
stellen können, für die hier Schutz beansprucht wird. Ausfüh
rungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen darge
stellt und werden im folgenden näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 eine schematische Schnittansicht eines in
Prüfabstand zu einem Prüfgegenstand angeordne
ten Sondenträgers,
Fig. 2 Prinzipskizzen zur Erläuterung der Anpassung
von ellipsensegmentförmigen Gesamtwirkflächen
an im Querschnitt runde Prüfgegenstandsober
flächen,
Fig. 3 eine Perspektivansicht eines Sondenträgers,
Fig. 4 eine schematische Veranschaulichung der
Vorteile oszillierender Prüfsonden, und
Fig. 5 eine Vorrichtung mit zwei gegeneinander
verschiebbaren Sondenträgern, und
Fig. 6 eine schematische Darstellung einer Prüfvor
richtung mit schwenkbaren Sondenträgern.
Bei der schematischen Schnittzeichnung in Fig. 1 sind ein
Sondenträger 1 und ein senkrecht zur Zeichnungsebene bewegter
Prüfgegenstand 2 im Schnitt dargestellt. Im Sondenträger 1
sind eine Vielzahl von Prüfsonden, die im Beispiel als Wir
belstromsonden ausgebildet sind, in einer gemeinsamen, senk
recht zur Bewegungsrichtung ausgerichteten Ebene angeordnet,
wobei ausgewählte Prüfsonden mit dem Bezugszeichen 3, 4, 5
bezeichnet sind. Die langgestreckten Prüfsonden sind im we
sentlichen senkrecht zur Prüfgegenstandsoberfläche ausgerich
tet. Die Prüfsonden bilden eine Sondenkette und sind über An
schlußleitungen 6, die der elektrischen Versorgung der Prüf
sonden und der Übertragung von Signalen dienen, mit einem
Anschlußelement 7 verbunden, das mit einer (nicht gezeigten)
Auswerteeinheit verbindbar ist. Dem Prüfgegenstand 2, bzw.
dem gestrichelt gezeichneten, einen kleineren Durchmesser
aufweisenden Prüfgegenstand 8, sind die Prüfsonden mit ihren
Sondenwirkflächen 9 zugewandt. Die Sondenwirkflächen 9 span
nen eine in dieser Projektion halbelliptische, U-förmige Ge
samtwirkfläche 10 auf, die in einem leicht entlang des Um
fangs des Prüfgegenstandes variierenden Prüfabstand 11 zur
Oberfläche des Prüfgegenstandes angeordnet ist.
Die Gesamtwirkfläche 10 ist in Fig. 1 in Form einer Halb-Ellipse
ausgebildet, deren kurzer Halbmesser im Bereich der
äußeren Prüfsonden 5 und deren langer Halbmesser im Bereich
der mittleren Prüfsonde 3 verläuft. Für Prüfungen von runden
Prüfgegenständen verschiedener Durchmesser können die Halb
messer mit Vorteil so gewählt werden, daß der Prüfabstand 11
über einen möglichst großen Umfangsabschnitt nur so wenig
variiert, daß die Abstandsvariation nur so geringe Variatio
nen in der Intensität des Meßsignals verursacht, daß diese
entweder für den Meßzweck unerheblich oder durch Auswertung
abstandsspezifischer Signale mit Hilfe elektronischer Ab
standskompensation berücksichtigt werden kann.
Im gezeigten Beispiel kann dies für den großen Prüfgegenstand
2 etwa der gesamte obere halbe Umfang des Prüfgegenstandes
zwischen den mit A und A′ gekennzeichneten Punkten sein. Bei
Bewegung des Prüfgegenstandes 2 in Bewegungsrichtung relativ
zum Sondenträger (senkrecht zur Zeichenebene) wird dann eine
Gesamtprüfbahn abgetastet, die etwa die obere Hälfte des
Prüfgegenstandes 2 zwischen den Punkten A und A′ abdeckt. Ein
zur Verbindungslinie A-A′ spiegelsymmetrisch angeordneter,
mit dem Sondenträger 1 identischer Sondenträger könnte die
untere Hälfte des Prüfgegenstandes zwischen A′ und A abta
sten.
Für den kleineren Prüfgegenstand 8 sind die oben definierten
günstigen Meßbedingungen etwa im oberen Drittel des Umfanges
zwischen den mit B und B′ gekennzeichneten Punkten gegeben.
Bei entsprechender Anordnung in Umfangsrichtung gegeneinander
versetzter Sondenträger ist mit unveränderten Sondenträgern
auch für Prüfgegenstände mit kleineren Durchmessern eine
vollständige Abtastung des gesamten Umfanges möglich.
Die schematischen Abbildungen in Fig. 2 erläutern die Vor
teile der Anpassung von Gesamtwirkflächen mit kontinuierlich
veränderlicher Krümmung an Prüfgegenstände mit rundem Quer
schnitt und verschiedenen Radien. Die Projektion der Gesamt
wirkflächen ist in den Fig. 2a, 2b, 2c, 2d durch die Halbel
lipsen H1, H2, H3, H4 symbolisiert. Fig. 2a entspricht der
Konfiguration in Fig. 1 mit dem Prüfgegenstand 2 mit großem
Durchmesser, Fig. 2b derselben Konfiguration mit dem Prüfge
genstand 8 mit kleinem Durchmesser. Die Gesamtwirkfläche 10
aus Fig. 1 entspricht der mit H1 bezeichneten Gesamtwirkflä
che.
Fig. 2c zeigt, daß der Prüfgegenstand 2 durch zwei mit ihren
Öffnungen zueinander gerichteten, symmetrisch um den Prüfge
genstand 2 angeordneten Gesamtwirkflächen H1 und H2 so ab
tastbar ist, daß der Prüfabstand 11 entlang des gesamten Um
fanges des Prüfgegenstandes 2 nur geringfügig variiert. In
Fig. 2d sind die Gesamtwirkflächen H1 und H2 weiter in Rich
tung ihrer jeweiligen Öffnung auf den Prüfgegenstand 8 zu
geschoben, so daß die Gesamtwirkfläche H1 zumindest im Be
reich zwischen den Punkten C1 und C2 am Umfang des Prüfge
genstandes 8 in einem geeigneten Prüfabstand zu diesem ist
und die Gesamtwirkfläche H2 zumindest zwischen den Punkten C3
und C4. Zwei weitere Gesamtwirkflächen H3 und H4 sind wie H1
und H2 zueinander angeordnet, jedoch um 90° um die Bewegungs
richtung gegen H1 und H2 verdreht. Die Gesamtwirkfläche H3
ist zumindest im Bereich zwischen C1 und C3 in einem geeig
neten Prüfabstand zum Prüfgegenstand, genauso wie die Gesamt
wirkfläche H4 zumindest zwischen C2 und C4 zur Prüfung ge
eignet an die Oberfläche des Prüfgegenstandes 8 angepaßt ist.
Insgesamt decken die Gesamtwirkflächen den gesamten Umfang
des Prüfgegenstandes ab. Die Prüfsonden der Sondenträger
können so geschaltet sein, daß nur Signale von solchen Prüf
sonden ausgewertet werden, die jeweils im Prüfabstand 11 vom
Prüfgegenstand 8 entfernt zwischen den Projektionsschnitt
punkten C1 bis C4 liegen.
Es sind auch Kombinationen von mehr als vier Gesamtwirkflä
chen bzw. Sondenträgern möglich, die vorzugsweise paarweise
zueinander angeordnet und um die Bewegungsrichtung gegenein
ander verdreht sind. Die Gesamtwirkflächen können auch im
wesentlichen eben sein, so daß Flachbänder oder Prüfgegen
stände mit rechteckigem Querschnitt geprüft werden können,
insbesondere auch lückenlos.
Die Perspektivansicht in Fig. 3 veranschaulicht den Gesamt
aufbau des Sondenträgers in Fig. 1 insbesondere im Bereich
der Gesamtwirkfläche 10. Es ist zu sehen, daß in zwei senk
recht zur Bewegungsrichtung 12 verlaufenden Ebenen Sondenket
ten angeordnet sind, wobei die Sondenwirkflächen 9 der Prüf
sonden durch Kreise symbolisiert sind. Im Bereich der Prüf
sonde 4 ist parallel zur Bewegungsrichtung 12 durch eine
Schraffur eine Prüfbahn 13 angedeutet. Eine Bahn dieser
Breite würde bei Relativbewegung eines Prüfgegenstandes zum
Sondenträger 1 bzw. zur Prüfsonde 4 von dieser abgetastet
werden. Die Prüfsonden der beiden Sondenketten sind derart in
Bewegungsrichtung gesehen gegeneinander versetzt, daß die
Prüfbahnen der versetzt hintereinander angeordneten Prüfson
den aneinander angrenzen. Damit kann im gesamten Umfangsbe
reich des Prüfgegenstandes, der gegenüber der Gesamtwirkflä
che 10 liegt, eine lückenlose Prüfung durchgeführt werden.
Der Sondenträger 1 ist um eine parallel zur Bewegungsrichtung
12 verlaufende Schwenkachse in Richtung des Pfeils 14
schwenkbar, so daß er eine Oszillationsbewegung in dieser
Richtung ausführen kann. Eine Oszillationsbewegung in Rich
tung 14 kann zu einer effektiven Verbreiterung der Prüfbahn
jeder Prüfsonde führen.
Die Fig. 4a und 4b zeigen zur Illustration einen in Bewe
gungsrichtung 12 bewegten Prüfgegenstand 30 mit Längsfehler
31. Auf der Oberfläche ist jeweils schematisch die Projektion
32 einer Sondenwirkfläche einer Prüfsonde und punktiert je
weils den Verlauf einer zugehörigen Prüfbahn gezeigt. In
Fig. 4a ist die Prüfsonde unbeweglich und die Prüfbahn 33 der
Prüfbahnbreite 34 geradlinig. Der Längsfehler erzeugt wegen
des spitzen Winkels zwischen Längsfehler und Prüfbahn an den
mit S bezeichneten Orten eine relativ schwache Signaländerung
beim Übergang fehlerfrei/fehlerhaft bzw. umgekehrt und wird
nicht vollständig erfaßt, da der Abschnitt T außerhalb der
Prüfbahnbreite 34 liegt.
In Fig. 4b oszilliert die Prüfsonde in Umfangsrichtung des
Prüfgegenstandes senkrecht zur Bewegungsrichtung 12. Dadurch
entsteht eine im Vergleich zur Prüfbahnbreite 34 breitere
effektive Prüfbahn mit Breite 35. Sie entsteht aus der etwa
sinusförmigen Prüfbahn 36 einer oszillierenden Prüfsonde, bei
der Prüfbahnabschnitte teilweise überlappen können. Sie er
faßt den gesamten Längsfehler 31 und kreuzt diesen mehrfach
in stumpfem Winkel. Einige der Überkreuzungsstellen sind mit
S gekennzeichnet. Durch Abtastung im stumpfen Winkel, insbe
sondere bei etwa senkrechter Überkreuzung des Längsfehlers
durch die Prüfvorrichtung entstehen wegen des abrupten Über
gangs fehlerfrei/fehlerhaft bzw. umgekehrt relativ deutliche
Fehlersignale. Durch Oszillation der Prüfsonde kann somit
insbesondere die Detektionswahrscheinlichkeit für Längsfehler
erhöht werden.
Fig. 5 zeigt eine Prüfvorrichtung mit zentrischer Sondenträ
gerverstellung, die eine Grundplatte 15 und einen daran befe
stigten Befestigungswinkel 16 aufweist, an dem zwei Lager
böcke 17 derart miteinander fluchtend angeordnet sind, daß
sie eine Verstellspindel 18 aufnehmen können, die mittels
eines Dimensionsverstellungsrades 19 gedreht werden kann. Ein
einen Sondenträger 20 tragender Schlitten 21 ist auf einer
Führungsschiene 22 parallel zur Längsachse der Verstellspin
del 18 verschiebbar angeordnet. Am Schlitten 21 greift ein
Gewindeelement 23 an, das eine parallel zur Längsachse der
Verstellspindel 18 verlaufende durchgehende Bohrung mit In
nengewinde aufweist, mit dem ein Außengewindeabschnitt der
durch die Bohrung hindurchgreifenden Verstellspindel 18 in
Eingriff steht. Eine Drehung der Verstellspindel 18 bewirkt
somit eine Verschiebung des Sondenträgers 20 in eine erste
Verschiebungsrichtung 24 parallel zur Längsachse der Ver
stellspindel 18.
Der Befestigungswinkel 16 weist eine Durchgangsöffnung 25
auf, durch die hindurch ein Prüfgegenstand in Bewegungsrich
tung 12 bewegbar ist. Der Durchgangsöffnung können auf der
nicht sichtbaren Seite Einlaufdüsen für den Prüfgegenstand
zugeordnet sein, die den Prüfgegenstand führen und Seiten
bewegungen, durch die Prüfsonden beschädigt werden könnten,
verhindern können. Der Sondenträger 20 ist mit seiner Gesamt
wirkfläche zur gedachten Bahn eines durchlaufenden Prüfgegen
standes hin geöffnet. Jenseits der gedachten Durchlaufbahn
des Prüfgegenstandes ist ein zweiter Sondenträger, der
gleichfalls mit der Öffnung seiner Gesamtwirkfläche zum Prüf
gegenstand hin gerichtet ist, über einen Abstandshalter 27
auf einem Schlitten 28 befestigt, der auf einer Führungs
schiene 29 parallel zur ersten Verschiebungsrichtung 24 ver
schiebbar geführt ist. Auch der Schlitten 28 ist über ein
Gewindeelement 30 in Verschiebungseingriff mit der Verstell
spindel 18 gebracht, jedoch so, daß bei Drehung der Spindel
18 die Bewegungen der Sondenträger 20 und 26 aufeinander zu
bzw. voneinander weg verlaufen, was durch geeignete Ausbil
dung der Gewindeabschnitte auf Verstellspindel und in den
Gewindeelementen erreicht wird.
Die Anordnung erlaubt eine Verstellung der Sondenträger sym
metrisch zur zentralen Achse der Durchgangsöffnung 25. Eine
Stellung der Gesamtwirkflächen, wie sie in den Fig. 2a, 2d
gezeigt ist, bei der die Projektionen von Gesamtwirkflächen
sich gegenseitig überschneiden, wird dadurch ermöglicht, daß
der Sondenträger 26 und der Sondenträger 20 in Bewegungsrich
tung gesehen gegeneinander verschoben sind, was bei ansonsten
gleichem Aufbau im Bereich der Schlitten und der Führungs
schienen und identischen Sondenträgern in einfacher Weise
durch den Abstandshalter 27 ermöglicht wird. Die Vorrichtung
kann in einfacher Weise durch Automatisierung der Verstellung
der Verstellspindel, etwa durch Schrittmotoren oder derglei
chen, automatisiert werden. Es können Anzeigemittel zur An
zeige der Stellung der Sondenträger zueinander vorgesehen
sein, die reproduzierbare Einstellungen zulassen. Die Vor
richtung kann auch rechnergesteuert einstellbar sein.
Eine andere, nicht gezeigte Ausführungsform weist zwei zu
sätzliche Sondenträger auf, die in einer Richtung senkrecht
zur Bewegungsrichtung 12 und zur ersten Verschiebungsrichtung
24 verschiebbar sind. Damit kann eine Prüfung wie in der
Fig. 2d gezeigt, durchgeführt werden.
Die Funktionsweise der Vorrichtung ist nach den obigen Aus
führungen dem Fachmann offensichtlich. Ein zu prüfender Prüf
gegenstand, wie er beispielsweise aus einer kontinuierlich
arbeitenden Produktionsvorrichtung in Form einer Stange oder
eines Rohres heraustritt, wird durch die Durchgangsöffnung 25
geführt. Durch Verstellung der Verstellspindel werden die
Sondenträger 20, 26 so auf den Prüfgegenstand zubewegt, daß
die Gesamtwirkflächen der Sondenträger zur Prüfstandsoberflä
che im gesamten zu überprüfenden Bereich einen zur Prüfung
geeigneten Prüfabstand aufweisen. Die optimale Einstellung
für jeden Prüfteildurchmesser kann experimentell bestimmt und
dann immer wieder, ggf. automatisiert, entsprechend einge
stellt werden. Wenn der Prüfgegenstand bewegt wird, kann eine
kontinuierliche Prüfsignalaufnahme erfolgen. Werden nicht
tolerierbare Fehler angezeigt, so kann ein fehlerhafte Ab
schnitt, etwa durch Farbmarkierungen, markiert und später
ausgesondert werden.
Zweckmäßig kann bei runden Prüfgegenständen für jeden ge
wünschten Prüfgutdurchmesser eine Empfindlichkeitskalibrie
rung vorgenommen werden. Diese kann beispielsweise so erfol
gen, daß ein Kalibrierelement, etwa eine Kalibrierstange, des
zu prüfenden Querschnitts in die Prüfvorrichtung eingeführt
wird. Auf der Kalibrierstange kann ein definierter Längsriß
angebracht sein. Wird die Kalibrierstange bei angepaßten
Sondenträgern um seine Längsachse beispielsweise um 360° in
der Prüfvorrichtung gedreht, so kann dadurch von jeder Prüf
sonde ein Prüfsignal eines identischen, bekannten Fehlers
aufgenommen werden. Abweichende Abstände führen dabei zu
voneinander abweichenden Meßsignalen. Diese nun bekannten
Abweichungen können im Auswerteverfahren bei der tatsächli
chen Prüfung berücksichtigt werden. Beispielsweise können die
Empfindlichkeitseinstellungen bei verschiedenen Prüfsonden
verschieden sein und für jeden Prüfgutdurchmesser durch Kali
brierung bestimmt und beispielsweise elektronisch gespeichert
werden. Abweichungen im Prüfabstand können auch in der oben
beschriebenen Weise durch Prüfsonden mit Abstandskompensation
kompensiert werden, zumindest in einem Maße, daß eine Prüfung
der gewünschten Empfindlichkeit ermöglicht wird.
Fig. 6 stellt, schematisch in Bewegungsrichtung des Prüfge
genstandes 38 gesehen, wesentliche Elemente einer Prüfvor
richtung dar, bei der die Sondenträger 39, 40 in Richtung der
Pfeile 41 um den Prüfgegenstand 38 herum schwenkbar sind. Auf
einer runden Trägerscheibe 42, die in ihrer Mitte eine Durch
gangsöffnung 43 für den Prüfgegenstand aufweist, sind in
(nicht gezeigten) Linearführungen die Sondenträger 39, 40 in
radialer Richtung zur Bewegungsrichtung verschiebbar angeord
net und in der gezeigten radialen Stellung fixiert. Am Umfang
der Trägerscheibe 42 ist durch Schrauben 44 ein Führungsring
45 befestigt, dessen äußerer Umfang ein V-förmiges Profil
aufweist, das in entsprechend V-förmige Ringnuten der Lager
rollen 46 eingreift, die jeweils auf Zapfen 47 gelagert sind.
Die Zapfen 47 sind auf einem gemeinsamen (nicht gezeigten)
Halteelement befestigt.
An dem Halteelement ist weiterhin eine durch einen Elektromo
tor angetriebene Welle 48 gelagert, die eine Drehbewegung in
Richtung 49 ausführt. Die Welle 48 ist exzentrisch an der
Scheibe 50 befestigt, die mittels eines Wälzlagers im Lager
ring 51 des Antriebsarmes 52 voll drehbar gelagert ist. Der
Antriebsarm 52 greift an einem an der Trägerscheibe 42 befe
stigten Zapfen 53 an.
In Fig. 6 hat der Antriebsarm 52 etwa seinen unteren Totpunkt
erreicht. Bei Drehung der Welle 48 in Richtung 49 aus der ge
zeigten Situation heraus führt der Antriebsarm nach Art eines
Pleuels eine Kurbelbewegung aus, und der Zapfen 53 wird ef
fektiv in Richtung der Welle 48 bewegt, was eine begrenzte
Drehung des Führungsringes 45, der Trägerscheibe 42 und der
Sondenträger 39 entgegen dem Uhrzeigersinn verursacht. Nach
Erreichen des oberen Totpunktes, bei dem sich Welle 48 und
Zapfen 53 am nächsten sind, setzt eine begrenzte Bewegung der
genannten Elemente mit dem Uhrzeigersinn ein. Der gezeigte
Exzenterantrieb verursacht somit eine Schwenkbewegung der
Sondenträger und der an den Sondenträgern angeordneten Prüf
sonden in der bereits beschriebenen Weise. Alternativ zu dem
gezeigten Exzenterantrieb kann auch ein Kurbelantrieb vorge
sehen sein.
Insbesondere für höherfrequente Schwenk- bzw. Oszillationsbe
wegungen ist es vorteilhaft, die bei der Oszillationsbewegung
bewegte Masse möglichst gering zu halten. Dazu können mit
Vorteil leichte, verwindungssteife Materialien wie Titan
und/oder Faserverbundwerkstoffe auf Kohlenstoffbasis einge
setzt werden. Denkbar sind im übrigen auch Antriebe, bei
denen oszillierend angetriebene Zahnräder in eine Innen- oder
Außenverzahnung eines entsprechend gezahnten Führungsringes
oder dergleichen eingreifen.
Claims (23)
1. Prüfvorrichtung zum Prüfen eines Prüfgegenstandes auf
oberflächennahe Unregelmäßigkeiten mit mindestens einem
relativ zu dem Prüfgegenstand (2, 8; 30; 38) bewegbaren
Sondenträger (1; 20, 26; 39, 40), der eine Vielzahl von
Prüfsonden (3, 4, 5) aufweist, die mit ihren Sondenwirk
flächen (9) entlang einer durch die Sondenwirkflächen
aufgespannten Gesamtwirkfläche (10; H1, H2, H3, H4)
angeordnet sind, wobei die Gesamtwirkfläche (10; H1, H2,
H3, H4) mindestens bereichsweise unter Einhaltung eines
Prüfabstandes (11) an die Oberfläche des Prüfgegenstan
des (2, 8; 30; 38) anpaßbar ist.
2. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Sondenträger (1; 20, 26; 39, 40) bei der Prüfung
im wesentlichen ortsfest und der Prüfgegenstand (2, 8;
30; 38) langgestreckt und in einer Bewegungsrichtung
(12) relativ zum Sondenträger (1; 20, 26; 39, 40) beweg
bar ist.
3. Prüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 oder 2, da
durch gekennzeichnet, daß die Vielzahl von Prüfsonden
(3, 4, 5) in einer gemeinsamen, in einem Winkel, insbe
sondere senkrecht zur Bewegungsrichtung (12) ausgerich
teten Ebene angeordnet ist (Sondenkette).
4. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß zwischen benachbarten Prüf
sonden (3, 4, 5) mindestens eine Abschirmung gegen elek
trische und/oder magnetische Felder vorgesehen ist.
5. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Sondenwirkflächen (9) in
Bewegungsrichtung (12) gesehen lückenlos aneinandergren
zen und/oder einander teilweise überlappen.
6. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß Prüfsonden in Bewegungsrich
tung (12) gesehen versetzt hintereinander angeordnet
sind, vorzugsweise derart, daß die Sondenwirkflächen in
Bewegungsrichtung gesehen lückenlos aneinandergrenzen
und/oder einander teilweise überlappen.
7. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß mindestens zwei Sondenträger
(20, 26) in Bewegungsrichtung (12) hintereinander ange
ordnet sind.
8. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Gesamtwirkfläche (10;
H1, H2, H3, H4) in Bewegungsrichtung (12) gerade und
senkrecht zur Bewegungsrichtung (12) mindestens ab
schnittsweise gekrümmt ist, insbesondere mit veränder
licher Krümmung.
9. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß der Sondenträger (1; 20, 26;
39, 40) im Bereich der Gesamtwirkfläche (10; H1, H2, H3,
H4) in Form einer Rinne mit in Bewegungsrichtung (12)
gesehen U-förmigem Verlauf ausgebildet ist und die
Prüfsonden (3, 4, 5) mit ihren Sondenwirkflächen (9) zum
Inneren der Rinne hin ausgerichtet sind.
10. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß zwei vorzugsweise identische
Sondenträger (20, 26; 39, 40) vorgesehen sind, die
parallel zu einer senkrecht zur Bewegungsrichtung (12)
verlaufenden ersten Verschiebungsrichtung (24) gegen
einander verschiebbar sind, vorzugsweise mindestens
teilweise aneinander vorbei.
11. Prüfvorrichtung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeich
net, daß zwei zusätzliche, vorzugsweise identische Son
denträger vorgesehen sind, die in einer senkrecht zur
Bewegungsrichtung (12) verlaufenden zweiten Verschie
bungsrichtung parallel zueinander gegeneinander ver
schiebbar sind, vorzugsweise mindestens teilweise anein
ander vorbei, wobei die erste und die zweite Verschie
bungsrichtung im insbesondere rechten Winkel zueinander
ausgerichtet sind.
12. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß Oszillatormittel zur Erzeu
gung einer Oszillationsbewegung der Prüfsonden vorge
sehen sind.
13. Prüfvorrichtung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeich
net, daß die Prüfsonden durch die Oszillatormittel mit
einer im Winkel zur Bewegungsrichtung, insbesondere
senkrecht zu dieser, verlaufenden Bewegungskomponente
bewegbar sind.
14. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß der Sondenträger (1; 39, 40)
um eine parallel zur Bewegungsrichtung (12) verlaufende
Schwenkachse schwenkbar gelagert ist und daß die Oszil
latormittel einen Schwenkantrieb für eine Schwenkbewe
gung (14; 41) des Sondenträgers um die Schwenkachse auf
weisen.
15. Prüfvorrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeich
net, daß die Oszillationsmittel eine zur Schwenkung des
Sondenträgers (39, 40) um die Bewegungsrichtung ausge
bildete Ringführung (45, 46, 47) aufweisen und vorzugs
weise als Schwenkantrieb ein Exzenterantrieb (48, 50,
51, 52, 53) vorgesehen ist.
16. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfsonden mechanisch
miteinander und/oder mit dem Sondenträger verbunden sind
und daß Einstellmittel zur Einstellung der relativen
Anordnung der Prüfsonden zueinander vorgesehen sind.
17. Prüfvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß die Gesamtwirkfläche im wesentlichen eben ist und
daß Oszillatormittel zur Erzeugung einer vorzugsweise
mindestens gruppenweise kollektiven Oszillationsbewegung
der Prüfsonden parallel zur Gesamtwirkfläche vorgesehen
sind.
18. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß den Prüfsonden zugeordnete
Prüfabstands-Bestimmungsmittel vorgesehen sind.
19. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine Prüfsonde
eine Wirbelstromsonde ist, vorzugsweise mit mindestens
einer Abstandswicklung.
20. Prüfvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, daß mindestens eine Prüfsonde
eine Streuflußsonde ist.
21. Verfahren zum Prüfen eines Prüfgegenstandes (2, 8; 30)
auf oberflächennahe Unregelmäßigkeiten, bei eine Viel
zahl von Prüfsonden (3, 4, 5) mit den Sondenwirkflächen
(9) der Prüfsonden entlang einer durch die Sondenwirk
flächen aufgespannten Gesamtwirkfläche (10; H1, H2, H3,
H4) angeordnet wird, bei dem die Gesamtwirkfläche
zumindest bereichsweise unter Einhaltung eines Prüfab
standes (11) an die Oberfläche des Prüfgegenstandes (2,
8; 30) angepaßt wird und bei dem die Prüfsonden (3, 4,
5) und der Prüfgegenstand (2, 8; 30) relativ zueinander
bewegt werden.
22. Verfahren nach Anspruch 21, bei dem die Prüfsonden mit
einer Oszillationsbewegung relativ zum Prüfgegenstand,
im wesentlichen parallel zu dessen Oberfläche, bewegt
werden.
23. Verfahren nach Anspruch 21 oder 22, bei dem die Prüfson
den mit einer linearen Bewegung relativ zum Prüfgegen
stand, im wesentlichen parallel zu dessen Oberfläche,
bewegt werden.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944438171 DE4438171A1 (de) | 1994-10-26 | 1994-10-26 | Prüfvorrichtung und Verfahren zum Prüfen eines Prüfgegenstandes auf oberflächennahe Unregelmäßigkeiten |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19944438171 DE4438171A1 (de) | 1994-10-26 | 1994-10-26 | Prüfvorrichtung und Verfahren zum Prüfen eines Prüfgegenstandes auf oberflächennahe Unregelmäßigkeiten |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4438171A1 true DE4438171A1 (de) | 1996-05-02 |
Family
ID=6531695
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19944438171 Withdrawn DE4438171A1 (de) | 1994-10-26 | 1994-10-26 | Prüfvorrichtung und Verfahren zum Prüfen eines Prüfgegenstandes auf oberflächennahe Unregelmäßigkeiten |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4438171A1 (de) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008053778A1 (de) * | 2008-10-23 | 2010-04-29 | Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg | Prüfverfahren und Prüfvorrichtung zur Prüfung von langgestreckten Gegenständen mittels Durchlaufspule |
DE202012007180U1 (de) | 2012-07-25 | 2012-08-22 | Rohmann Gmbh | Vorrichtung zur Wirbelstromprüfung |
DE102012202800A1 (de) | 2012-02-23 | 2013-08-29 | Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg | Durchlaufspulenanordnung, Prüfvorrichtung mit Durchlaufspulenanordnung und Prüfverfahren |
WO2013124087A1 (de) | 2012-02-23 | 2013-08-29 | Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg | Durchlaufspulenanordnung, prüfvorrichtung mit durchlaufspulenanordnung und prüfverfahren |
-
1994
- 1994-10-26 DE DE19944438171 patent/DE4438171A1/de not_active Withdrawn
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008053778A1 (de) * | 2008-10-23 | 2010-04-29 | Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg | Prüfverfahren und Prüfvorrichtung zur Prüfung von langgestreckten Gegenständen mittels Durchlaufspule |
US9063095B2 (en) | 2008-10-23 | 2015-06-23 | Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg | Test method and test apparatus for testing elongated objects using coil |
DE102008053778B4 (de) * | 2008-10-23 | 2020-08-06 | Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg | Prüfverfahren und Prüfvorrichtung zur Prüfung von langgestreckten Gegenständen mittels Durchlaufspule |
DE102012202800A1 (de) | 2012-02-23 | 2013-08-29 | Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg | Durchlaufspulenanordnung, Prüfvorrichtung mit Durchlaufspulenanordnung und Prüfverfahren |
WO2013124087A1 (de) | 2012-02-23 | 2013-08-29 | Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg | Durchlaufspulenanordnung, prüfvorrichtung mit durchlaufspulenanordnung und prüfverfahren |
US9222916B2 (en) | 2012-02-23 | 2015-12-29 | Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg | Through-coil arrangement, test apparatus with through-coil arrangement and testing method |
CN103765204B (zh) * | 2012-02-23 | 2016-12-28 | 霍释特博士有限两合公司 | 馈通线圈组件、带有馈通线圈组件的测试装置和测试方法 |
DE202012007180U1 (de) | 2012-07-25 | 2012-08-22 | Rohmann Gmbh | Vorrichtung zur Wirbelstromprüfung |
DE102013107583A1 (de) | 2012-07-25 | 2014-01-30 | Rohmann Gmbh | Vorrichtung zur Wirbelstromprüfung |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE68902600T2 (de) | Kruemmungsmessung eines transparenten oder durchscheinenden materials. | |
DE3612651C2 (de) | ||
DE2611514C3 (de) | Oberflächen-Abtastprüfvorrichtung | |
DE112005002030T5 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Prüfen auf Fehler auf der Oberfläche von Werkstücken | |
DE69736737T2 (de) | Wirbelstrom-fehlerdetektor | |
DE102014212499A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Streuflussprüfung | |
DE3511564C2 (de) | ||
DE10045715A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung eines Werkstücks mittels Wirbelströmen | |
EP0590503B1 (de) | Kapazitiver Sensor zur Erfassung von Masse- und/oder Durchmesserschwankungen von langgestrecktem textilem Prüfgut | |
DE4438171A1 (de) | Prüfvorrichtung und Verfahren zum Prüfen eines Prüfgegenstandes auf oberflächennahe Unregelmäßigkeiten | |
DE3148609A1 (de) | Lunkerdetektor fuer kugelfoermige werkstuecke | |
EP1319946B1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Wirbelstromprüfung eines Prüflings mit einer planaren Oberfläche | |
EP0463128B1 (de) | Vorrichtung zur photoelektrischen überwachung eines laufenden fadens | |
EP2609421A1 (de) | Automatische prüfkopfpositionsabhängige einschallwinkelverstellung für ultraschallprüfköpfe | |
DE102005032244A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Fehlerdetektierung an einer Kante | |
DE10319947B4 (de) | Einrichtung zur Messung der Umfangsgestalt rotationssymmetrischer Werkstücke | |
DE202013103151U1 (de) | Vorrichtung zur zerstörungsfreien Wirbelstromprüfung eines Bauteils | |
DE3237950C2 (de) | Vorrichtung zum Feststellen von Fehlern an Dichtkanten von Lippendichtungen | |
DE4328711A1 (de) | Verfahren und Einrichtung zum Prüfen von langgestreckten Gegenständen mit von der Kreisform abweichendem Querschnitt | |
EP1682884A1 (de) | Verfahren zur quantitativen längenbestimmung eines weichzonenbereiches eines teilgehärteten werkstückes | |
DE2232081A1 (de) | Verfahren zur feststellung von diskontinuitaeten in metallischen prueflingen | |
DE102019104570A1 (de) | Verfahren und Messvorrichtung zur Funktionsprüfung einer Flügelchangierung | |
DE2855511A1 (de) | Wirbelstrom-pruefvorrichtung | |
WO2015176913A1 (de) | Prüfverfahren und prüfvorrichtung zur zerstörungsfreien werkstoffprüfung mittels sonden-array | |
DE19642981C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Abtasten einer Bauteiloberfläche mittels einer Wirbelstromsonde |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8130 | Withdrawal |