DE4332022C2 - Method and device for contactless detection of the angular position of an object, in particular when measuring elongated objects - Google Patents

Method and device for contactless detection of the angular position of an object, in particular when measuring elongated objects

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    • G01B11/26—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring angles or tapers; for testing the alignment of axes

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum berührungslosen Erfassen der Winkellage eines Objekts nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 sowie eine Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 4.The invention relates to a method for contactless detection of the angular position of an object according to the preamble of claim 1 and a device for Implementation of this method according to the preamble of patent claim 4.

Ein derartiges Verfahren und die entsprechende Vorrichtung sind beispielsweise aus der DE 38 21 046 A1 bekannt. Dort ist ein Verfahren zur optoelektronischen Winkelmessung vorgeschlagen, bei dem auf die Oberfläche des zu vermessenden Objekts unter vorgegebenen Winkeln eine erste und zweite optische Strahlung, die von einer gemeinsamen Lichtquelle ausgeht, gerichtet wird und an einem gemeinsamen Auftreffort auf der Oberfläche diffraktiert wird. Die am Auftreffort reflektierten und interferierten Strahlungen werden von einem Strahlungssensor erfaßt, wobei die Phasenänderung des vom Sensor abgegebenen Signals in bezug auf ein Referenzsignal zur Bestimmung der Winkellage des Objekts ausgewertet wird.Such a method and the corresponding device are for example from the DE 38 21 046 A1 known. There is a procedure for optoelectronic angle measurement proposed in the given on the surface of the object to be measured under Angle first and second optical radiation from a common one Light source goes out, is directed and at a common point of impact on the surface is diffracted. The radiations reflected and interfered at the point of impact become detected by a radiation sensor, the phase change being emitted by the sensor Signal related to a reference signal to determine the angular position of the object is evaluated.

Aus der DE 35 36 513 A1 ist eine Vorrichtung zur berührungslosen abschnittsweisen Ge­ staltmessung gekrümmter Oberflächen mittels eines rasterförmig arbeitenden optischen Detektors bekannt. Dabei wird am Objekt ein Lichtschnitt erzeugt, der unter einem zur Beob­ achtungsachse geneigten Winkel mit einem anamorphotischen System aufgenommen und auf den Empfänger abgebildet wird.DE 35 36 513 A1 describes a device for contactless Ge section by section shape measurement of curved surfaces by means of a grid-working optical Detector known. Here  a light section is created on the object, which can be respect axis inclined with an anamorphic system is recorded and mapped to the recipient.

In der DE 33 42 675 A1 sind ein Verfahren und eine Vorrichtung zur optischen Antastung von Werkstücken nach dem Triangulationsprinzip beschrieben. Dabei wird ein Lichtfleck unter einem Winkel auf das Meßobjekt projiziert und aus der mit einem positionsempfindlichen Detektor gemessenen Verschiebung des Bildes des Lichtflecks der Abstand zum Objekt bestimmt. Mit Hilfe eines Bildanalysegerätes wird zusätzlich die Form bzw. der Flächeninhalt des Lichtflecks gemessen und daraus die Neigung der Objektoberfläche zur Beobach­ tungsrichtung zwecks Erhöhung der Genauigkeit der Entfernungsbe­ stimmung ermittelt.DE 33 42 675 A1 describes a method and an apparatus for optical probing of workpieces according to the triangulation principle described. In doing so, a light spot is placed on the at an angle The target is projected and from that with a position sensitive Detector measured displacement of the image of the light spot Distance to object determined. With the help of an image analysis device is also the shape or the area of the light spot measured and from this the inclination of the object surface to the observer direction to increase the accuracy of the distance mood determined.

Ein weiteres Verfahren, sowie eine Vorrichtung zur berührungslosen Messung von Gestaltsabweichungen an Oberflächen ist aus der DE 39 19 893 A1 bekannt.Another method, as well as a device for contactless Measurement of shape deviations on surfaces is known from DE 39 19 893 A1 known.

Bei dem Verfahren wird ein Muster aus parallelen Lichtstreifen auf die Oberfläche eines Prüfobjekts projiziert und das an der Ober­ fläche reflektierte Licht unter einem zur Projektionsrichtung schrägen Winkel empfangen und zur Ermittlung der Gestaltsabwei­ chungen ausgewertet. Das an der Oberfläche reflektierte Streifen­ bild wird im wesentlichen in Streifenrichtung unter Bildung eines eindimensionalen Bildes gestaucht. Das eindimensionale Bild wird sodann unter Erfassung der Intensitätsverteilung in Längsrichtung des Bildes ausgewertet.In the process, a pattern of parallel strips of light is created projected the surface of a test object and that on the upper area reflected light under a to the projection direction receive oblique angle and to determine the shape deviation evaluations. The streak reflected on the surface image is formed essentially in the direction of the strip, forming a one-dimensional image compressed. The one-dimensional picture is then taking the intensity distribution in the longitudinal direction evaluated the image.

Derartige Verfahren finden beispielsweise beim Vermessen von länglichen Gegenständen wie unbesäumten Brettern und Modeln eine Anwendung. Aus der DE 91 16 037 U1 ist eine derartige Anwendung bekannt.Such methods are used, for example, when measuring elongated objects such as unedged boards and models Application. Such an application is known from DE 91 16 037 U1 known.

Der vorliegenden Erfindung liegt ausgehend vom Stand der Technik die Aufgabe zugrunde, ein einfaches aber präzises Verfahren zum berührungslosen Erfassen der Winkellage eines Objekts, auch in unzugänglicher Lage, das sich durch geringen gerätetechnischen Aufwand und einfache Handhabung auszeichnet, sowie eine Vorrichtung zur Durchführung dieses Ver­ fahrens zu schaffen.The present invention is based on the prior art based on the task of a simple but precise procedure for  contactless detection of the angular position of an object, even in an inaccessible location, which is due to low technical equipment and Easy handling, and a device for performing this Ver driving.

Die Lösung der Aufgabe erfolgt bezüglich des Verfahrens erfindungsgemäß durch die im Anspruch 1 aufgeführten Merkmale.The object is achieved with respect to the method according to the invention by Claim 1 listed features.

Der wesentliche Aufbau der Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach der Erfindung ergibt sich aus dem Patentanspruch 4.The essential structure of the device for performing the method according to the invention results from claim 4.

Besonders vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen des erfindungsgemäßen Verfahrens bzw. der Vorrichtung ergeben sich aus den Unteransprüchen.Particularly advantageous refinements and developments of the invention The method and the device result from the subclaims.

Im folgenden wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand der Figuren näher erläutert.An exemplary embodiment of the invention is explained in more detail below with reference to the figures.

Es zeigtIt shows

Fig. 1 ein Prinzipschaltbild der Lichtquellenansteuerung und Fig. 1 is a schematic diagram of the light source control and

Fig. 2 eine schematische Darstellung der erfindungsgemäßen Meß­ vorrichtung. Fig. 2 is a schematic representation of the measuring device according to the invention.

Fig. 3 die Anwendung des erfindungsgemäßen Verfahrens zum Ver­ messen von unbesäumten Brettern und Fig. 3 shows the application of the inventive method for measuring unedged boards and

Fig. 4 den gemessenen Signalverlauf bei der Anordnung nach Fig. 3. Fig. 4 shows the measured waveform in the arrangement of FIG. 3.

Die Fig. 1 zeigt eine schematische Darstellung der erfindungsgemäßen Vorrichtung. Ein Rechteckgenerator 1 erzeugt ein rechteckförmiges Signal der Frequenz f₀. Über einen Inverter 2 wird das invertierte Signal f0′ zur Verfügung gestellt. Mit diesen Signalen werden jeweils über eine Treiberstufe 3 die Lichtquellen 4 modu­ liert. Nach Fig. 2 bestrahlen diese beiden Lichtquellen 4 das zu vermessende Objekt 9. Sie sind beispielsweise symmetrisch links und rechts von diesem Objekt 9 angeordnet und auf dieses gerich­ tet. Über eine Linsen- oder eine Blendenanordnung 7 oder eine Kombination hieraus, erfolgt die Abbildung auf den optischen Emp­ fänger 5. Fig. 1 shows a schematic representation of the device according to the invention. A square wave generator 1 generates a rectangular signal of frequency f₀. The inverted signal f 0 ' is made available via an inverter 2 . With these signals, the light sources 4 are modulated via a driver stage 3 . According to FIG. 2, these two light sources irradiate 4 to be measured object 9. For example, they are arranged symmetrically to the left and right of this object 9 and directed towards it. Via a lens or diaphragm arrangement 7 or a combination thereof, the image is captured on the optical receiver 5 .

Dem optischen Empfänger 5 ist ein Wechselspannungsverstärker 6 nachgeschaltet, der eine Bandpaßcharakteristik um die Frequenz f₀ aufweist. Eine nachfolgende Auswerteelektronik 8 liefert bei­ spielsweise ein Spannungssignal das proportional zur Winkelabwei­ chung β des Objekts aus einer definierten Lage ist. Sind die Win­ kelverhältnisse wie in Fig. 2 eingezeichnet, so wird der Wechsel­ spannungsverstärker 6 kein (oder nur ein geringes) Signal liefern, da der optische Empfänger 5 das Meßobjekt 9 so sieht, als wäre es mit Gleichlicht bestrahlt.The optical receiver 5 is followed by an AC voltage amplifier 6 , which has a bandpass characteristic around the frequency f₀. A subsequent evaluation electronics 8 provides, for example, a voltage signal that is proportional to the angular deviation β of the object from a defined position. Are the Win angle ratios as shown in Fig. 2, the AC voltage amplifier 6 will deliver no (or only a small) signal, since the optical receiver 5 sees the test object 9 as if it were irradiated with constant light.

Dieser Effekt ergibt sich daraus, daß bei einer derartigen Be­ strahlung und einem "symmetrischen" Reflexionsverhalten des Meßob­ jektes 9 vom optischen Detektor 5 kein Wechsellicht gesehen werden kann, obwohl beide Lichtquellen mit der Frequenz f₀ pulsieren. Wenn die eine Lichtquelle erlischt, schaltet die zweite Licht­ quelle ein, so daß im Grunde genommen nur der Ort der Strahlungs­ quelle "springt", effektiv das Meßobjekt aber immer bestrahlt wird. Dies ändert sich jedoch, wenn das Objekt um den Winkel β verdreht und damit aus seiner Symmetrie gebracht wird. Dann wird die vom optischen Empfänger gesehene Lichtintensität beispiels­ weise der linken Lichtquelle größer und gleichzeitig die der rech­ ten Lichtquelle geringer. Der optische Empfänger empfängt Wechsel­ licht und der Wechselspannungsverstärker kann den Photostrom ver­ stärken. This effect results from the fact that with such a radiation and a "symmetrical" reflection behavior of the measuring object 9 from the optical detector 5 no alternating light can be seen, although both light sources pulsate with the frequency f₀. When one light source goes out, the second light source turns on, so that basically only the location of the radiation source "jumps", but effectively the object to be measured is always irradiated. However, this changes when the object is rotated by the angle β and thus brought out of its symmetry. Then the light intensity seen by the optical receiver, for example, the left light source is larger and at the same time that of the right light source is lower. The optical receiver receives alternating light and the alternating voltage amplifier can amplify the photocurrent.

Messungen mit einer Frequenz f₀, f0′ von 10 kHz ergaben ein li­ neares Verhalten bis zu Winkelabweichungen von ±40 Grad und Emp­ findlichkeiten von 40 bis 300 mV/Grad.Measurements with a frequency f₀, f 0 ′ of 10 kHz showed linear behavior up to angular deviations of ± 40 degrees and sensitivities of 40 to 300 mV / degrees.

Werden die Lichtquellen nicht nur beiderseits des zu vermessenden Objekts angebracht, sondern auch vorder- und hinterhalb desselben, so kann nicht nur die Winkellage um eine Achse sondern um zwei Achsen, d. h. die Winkellage einer Ebene im Raum, erfaßt werden.The light sources are not only to be measured on both sides of the Object attached, but also in front and behind it, So not only the angular position about an axis but about two Axes, d. H. the angular position of a plane in space.

Zum Vermessen länglicher Gegenstände wie beispielsweise unbesäum­ ter Bretter oder Modeln in werden die erfindungsgemäßen Vorrichtungen gemäß der Darstellung in Fig. 3 angeordnet. Der zu vermessende Gegenstand 9 wird dabei in der Transportrichtung F bewegt. Während dieser Transportbewegung wird durch die Meßvorrichtung A₁ bis An an n Stellen jeweils die Querabmessung des Gegenstandes 9 ermit­ telt, so daß sich in der Gesamtheit die Breite des betreffenden Objekts 9 über einen großen Bereich erfassen läßt.For measuring elongated objects such as untrimmed boards or models in the devices according to the invention are arranged as shown in Fig. 3. The object 9 to be measured is moved in the transport direction F. During this transport movement, the transverse dimension of the object 9 is determined by the measuring device A 1 to A n at n points, so that the overall width of the object 9 in question can be detected over a large area.

In Fig. 4 ist der gemessene Signalverlauf einer Meßvorrichtung Ai (i = 1 . . . n) bei der Anordnung nach Fig. 3 gezeigt. Bei diesem Signal handelt es sich um die Ausgangsspannung u der Auswerteelek­ tronik 8. Dieses Signal u ist proportional zur Winkelabweichung β des Objekts 9 aus einer definierten Lage in Abhängigkeit vom Ort x über dem Brettquerschnitt. Dabei erhält man Daten über die Breite der "Waldkanten" b₁, b₂ und über die Breite der Brettoberseite b₃ bzw. der Brettunterseite bo. Bei unbesäumten Brettern kann dann mit diesen Daten der Abstand der Sägeblätter eines Besäumautomaten so eingestellt werden, daß der Verschnitt minimal wird.In FIG. 4, the measured waveform of a measuring apparatus A is i (i = 1... N) in the arrangement of Fig. 3. This signal is the output voltage u of the evaluation electronics 8 . This signal u is proportional to the angular deviation β of the object 9 from a defined position depending on the location x over the board cross-section. This gives data on the width of the "forest edges" b₁, b₂ and on the width of the top of the board b₃ or the bottom of the board b o . With untrimmed boards, this data can then be used to set the distance between the saw blades of an automatic trimming machine so that the waste is minimal.

Claims (6)

1. Verfahren zur Bestimmung der Winkellage eines Objeks, bei dem
  • - die Lage des Objekts berührungsfrei optisch bezüglich der optischen Achse eines Detektors gemessen wird
  • - die optische Achse eine Fläche des Objekts schneidet
  • - die Fläche von mindestens einem Paar von Lichtquellen beleuchtet wird, das symmetrisch zur optischen Achse über der Fläche angeordnet ist
  • - die Lichtquelle alternierend mit der Frequenz f₀ die Fläche mit gleicher Lichtintensität anstrahlen
  • - ein Detektor das von dem mindestens einen Paar von Lichtquellen ausgehende und an der einen Fläche gestreute Licht empfängt
  • - aus der Signaldifferenz des vom Detektor alternierend gemessenen gestreuten Lichts die Winkelkomponente der Lage des Objekts bestimmt wird, die sich auf eine Drehung des Objekts um eine Achse bezieht, die senkrecht auf der Ebene steht, die von der optischen Achse des Detektors und dem mindestens einen Paar von Lichtquellen gebildet wird
  • - zur Bestimmung der vollständigen Winkellage des Objekts das Streulicht zumindest eines weiteren Lichtquellenpaares erfaßt wird, das eine weitere Ebene mit der optischen Achse des Detektors aufspannt.
1. Method for determining the angular position of an object in which
  • - The position of the object is measured optically without contact with respect to the optical axis of a detector
  • - The optical axis intersects a surface of the object
  • - The surface is illuminated by at least one pair of light sources, which is arranged symmetrically to the optical axis over the surface
  • - The light source alternately illuminate the surface with the same light intensity with the frequency f₀
  • a detector which receives light emanating from the at least one pair of light sources and scattered on one surface
  • - From the signal difference of the scattered light measured alternately by the detector, the angular component of the position of the object is determined, which relates to a rotation of the object about an axis that is perpendicular to the plane that of the optical axis of the detector and the at least one Pair of light sources is formed
  • - To determine the complete angular position of the object, the scattered light is detected at least one further pair of light sources, which spans a further plane with the optical axis of the detector.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektion des gestreuten Lichts über Photodioden erfolgt.2. The method according to claim 1, characterized in that the detection of scattered light takes place via photodiodes. 3. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektion des gestreuten Lichts mit Hilfe einer Abbildungsoptik erfolgt.3. The method according to any one of the preceding claims, characterized in that the scattered light is detected with the aid of imaging optics. 4. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch
  • - einen Generator (1) zur Erzeugung eines Signals mit der Frequenz f₀,
  • - einen Inverter (2) zum Invertieren des Signals der Frequenz f₀,
  • - Treiberstufen (3), zur Ansteuerung der
  • - mindestens zwei Lichtquellen (4) mit den Signalfrequenzen f₀ und -f₀ zum Bestrahlen des Objekts (3) wobei die Lichtquellen (4) hinsichtlich ihrer Intensität symmetrisch zu einer optischen Achse (S) angeordnet sind,
  • - mindestens einen optischen Empfänger (5) in der optischen Achse (S) oder nahe der optischen Achse (S) zum Detektieren des vom Objekt gestreuten Lichts,
  • - eine Abbildungsvorrichtung (7),
  • - eine Auswerteelektronik (8) die beispielsweise ein Spannungssignal das proportional zur Winkelabweichung (β) des Objekts aus einer definierten Lage ist, liefert.
4. Device for performing the method according to one of the preceding claims, characterized by
  • - A generator ( 1 ) for generating a signal with the frequency f₀,
  • - An inverter ( 2 ) for inverting the signal of the frequency f₀,
  • - Driver stages ( 3 ) for controlling the
  • at least two light sources ( 4 ) with the signal frequencies f₀ and -f₀ for irradiating the object ( 3 ), the intensity of the light sources ( 4 ) being arranged symmetrically with respect to an optical axis (S),
  • at least one optical receiver ( 5 ) in the optical axis (S) or close to the optical axis (S) for detecting the light scattered by the object,
  • - an imaging device ( 7 ),
  • - An electronic evaluation unit ( 8 ) which, for example, supplies a voltage signal which is proportional to the angular deviation (β) of the object from a defined position.
5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Generator (1) ein Rechteckgenerator ist.5. The device according to claim 4, characterized in that the generator ( 1 ) is a rectangular generator. 6. Vorrichtung nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Abbildungsvorrichtung (7) eine Linsenoptik, eine Blendenanordnung oder eine Kombination hieraus ist.6. The device according to claim 4 or 5, characterized in that the imaging device ( 7 ) is a lens optics, an aperture arrangement or a combination thereof.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19843176C1 (en) * 1998-09-21 2000-10-19 Siemens Ag Optical encoder for the detection of rotary and linear movements
DE10024156A1 (en) * 2000-05-19 2001-11-29 Gerd Reime Method and device for optoelectronic position determination of an object
DE102004062417A1 (en) * 2004-12-20 2006-06-29 Gerd Reime Device and method for the opto-electronic determination of the position of an object

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6268912B1 (en) 1996-02-13 2001-07-31 Amada Electronics Company, Ltd. Angle detection method for bending machine, angle detection apparatus and angle sensor
NL1002314C2 (en) * 1996-02-13 1997-08-14 Amada Metrecs Co Angle detection apparatus for bending machine such as press brake

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3322714C2 (en) * 1983-06-24 1986-05-15 Daimler-Benz Ag, 7000 Stuttgart Optical distance measuring device
DE3342675A1 (en) * 1983-11-25 1985-06-05 Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim METHOD AND DEVICE FOR CONTACTLESS MEASUREMENT OF OBJECTS
DE3536513A1 (en) * 1985-10-12 1987-04-23 Zeiss Carl Fa DEVICE FOR CONTACTLESS SECTIONS MEASURING THE DESIGN OF CURVED, OPTICALLY EFFECTIVE AREAS
DE3701082A1 (en) * 1987-01-16 1988-07-28 Ziegler Horst DEVICE FOR REMOTE MEASUREMENT OF THE TEMPERATURE
US5141317A (en) * 1988-06-22 1992-08-25 Robert Bosch Gmbh Method of optoelectronically measuring distances and angles
DE9116037U1 (en) * 1991-12-24 1993-01-28 Koller, Josef, Dipl.-Ing., 8261 Haiming, De

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19843176C1 (en) * 1998-09-21 2000-10-19 Siemens Ag Optical encoder for the detection of rotary and linear movements
US6313460B1 (en) 1998-09-21 2001-11-06 Siemens Aktiengesellschaft Optical encoder for detecting rotary and linear movements
DE10024156A1 (en) * 2000-05-19 2001-11-29 Gerd Reime Method and device for optoelectronic position determination of an object
DE102004062417A1 (en) * 2004-12-20 2006-06-29 Gerd Reime Device and method for the opto-electronic determination of the position of an object

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