DE4330759A1

DE4330759A1 - Device for examining weather resistance and light-fastness

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Publication number: DE4330759A1
Application number: DE19934330759
Authority: DE
Original assignee: Suga Test Instruments Co Ltd
Current assignee: Suga Test Instruments Co Ltd
Priority date: 1993-09-10
Filing date: 1993-09-10
Publication date: 1995-03-16

Abstract

The present invention provides a device, using which sample bodies can be examined by exposing them to highly energetic radiation energy, so that a uniform radiation density is achieved over the entire surface area of the sample body. In this case, the internal space of a test chamber (1) is divided by a glass filter (2) into a lower section which forms a sample chamber (3) and an upper section which forms a lamp chamber (4). The sample chamber (3) has a sample base-plate (6) which is arranged at a predetermined distance from the glass filter (2) and on which sample bodies (19) are arranged. The lamp chamber (4) has a lamp (8) which is bent to an angle and permits a uniform radiation density over the entire surface area of the sample base-plate (6), the lamp (8) being arranged at a predetermined distance from the glass filter (2). A fan (11) for supplying cooling air to cool the internal space of the lamp chamber (4) and the lamp (8) is furthermore provided. <IMAGE>

Description

Die Erfindung betrifft eine Testvorrichtung zum Be schleunigen der Verwitterung und zum Bestimmen der Witte rungsbeständigkeit und des optischen Qualitätsverlusts von Beschichtungsmaterialien und Kunststoffen und insbesondere eine Testvorrichtung durch die auf die Gegenstandsoberflächen aller Probenkörper Licht gleichmäßig eingestrahlt werden kann.The invention relates to a test device for loading accelerate weathering and determine whitewash durability and the optical quality loss of Coating materials and plastics and in particular a test device through on the object surfaces all specimens of light are evenly irradiated can.

Herkömmliche Vorrichtungen zum Untersuchen der Witte rungs- und Lichtbeständigkeit, die nicht im einzelnen darge stellt sind, weil deren Aufbau bekannt ist, weisen eine in den Japanischen Industrienormen JIS B 7754 "Xenon Arc Lamp Type Light and Weather Fastness Test Apparatuses" beschrie bene Vorrichtung auf, die eine vertikal im Mittelabschnitt eines Testbehälters angeordnete Lichtquelle (z. B. eine ge rade, rohrförmige Xenonlampe) zum Untersuchen der Wit terungs- und der Lichtbeständigkeit, einen zylindrischen oder polygonförmigen Filter, der das Licht einer vorgegebe nen Wellenlänge bzw. in einem vorgegebenen Wellenlän genbereich durchläßt und um und in der Nähe der Lichtquelle angeordnet ist, und einen sich vertikal erstreckenden zylin drischen oder ringförmigen Probenrahmen aufweist, der in ei nem vorgegebenen Abstand (z. B. 480 mm) vom Mittelpunkt der Lichtquelle angeordnet und um diese drehbar ist, wobei das Licht einer vorgegebenen Wellenlänge bzw. in einem vorgege benen Wellenlängenbereich auf die Gegenstandsoberflächen der senkrecht zum Probenrahmen befestigten Probenkörper einge strahlt wird, um Untersuchungen bezüglich verschiedenen Witterungsbedingungen durchzuführen, indem eine Einrichtung zur Zufuhr von Wärme und Feuchtigkeit in den Innenraum des Testbehälters sowie eine Sprühvorrichtung gesteuert werden, um die Probenkörper Regenwetterbedingungen auszusetzen.Conventional devices for examining the white Resistance to light and light, which is not detailed are because their structure is known, have a the Japanese industrial standards JIS B 7754 "Xenon Arc Lamp Type Light and Weather Fastness Test Apparatuses " bene device on a vertically in the central section of a test container arranged light source (e.g. a ge straight, tubular xenon lamp) for examining the wit resistance to light and light, a cylindrical or polygonal filter, which the light of a given NEN wavelength or in a predetermined wavelength passes through and around and near the light source is arranged, and a vertically extending zylin has drische or annular sample frame, which in egg a specified distance (e.g. 480 mm) from the center of the Light source arranged and rotatable about this, the Light of a given wavelength or in a given one wavelength range on the object surfaces of the specimen fastened perpendicular to the sample frame is emitted to investigate various Weather conditions perform by a facility to supply heat and moisture into the interior of the Test container and a spray device can be controlled to expose the specimen to rainy weather conditions.

In der JP-B-13541/1980 wird eine Vorrichtung zum Unter suchen der Witterungs- und Lichtbeständigkeit beschrieben. Fig. 6 zeigt eine Querschnittansicht entlang der Außenlinie des Aufbaus dieser Testvorrichtung.JP-B-13541/1980 describes a device for searching for weather and light resistance. Fig. 6 shows a cross-sectional view along the outline of the structure of this test device.

Gemäß der Abbildung bestehen die Seitenwände 21 einer Probenkammer 3 aus im Querschnitt parabolförmigen Re flektoren, wobei eine gerade, röhrenförmige Xenonlampe 8 ho rizontal als Lichtquelle im Brennpunkt der Reflektoren ange ordnet ist, und wobei Probenkörper 19 auf einer horizontal am unteren Abschnitt des Innenraums der Probenkammer 3 angeordneten Probenbasisplatte 6 angeordnet sind. Zwischen den oberen Enden der Seitenwände 21 sind ein 1/3-zylindri scher Spiegel 22, der sich von der Xenonlampe 8 zu den Pro benkörpern hervorwölbt, und ein dachförmiger Hilfsspiegel 23 über der Xenonlampe 8 angeordnet, so daß ein Endabschnitt des Spiegels 23 einen Endabschnitt des Spiegels 22 berührt.As shown in the figure, the side walls 21 of a sample chamber 3 consist of cross-sectionally parabolic reflectors, a straight, tubular xenon lamp 8 being arranged horizontally as a light source in the focal point of the reflectors, and sample bodies 19 on a horizontally at the lower portion of the interior of the sample chamber 3 arranged sample base plate 6 are arranged. Between the upper ends of the side walls 21 are a 1/3-cylindri cal mirror 22 , which bulges from the xenon lamp 8 to the pro bulbs, and a roof-shaped auxiliary mirror 23 are arranged above the xenon lamp 8 , so that an end section of the mirror 23 has an end section of the mirror 22 touched.

Die wesentlichen Punkte des Aufbaus dieser Vorrichtung sind, daß die Lichtstrahlen von der Lichtquelle parallel ausgerichtet sind und auf alle Probenkörper 19 gleichmäßig eingestrahlt werden, und daß die Seitenwände 21 daher einen parabolischen Querschnitt aufweisen, wobei die Lichtquelle in deren Brennpunkt angeordnet ist. Außerdem haben der Spie gel 22 und der Hilfsspiegel 27, die in einem weiteren Sinn des Wortes optische Filter bilden, die gleiche Aufgabe wie die primären Aufgabe der in der JP-B-1199/1979 beschriebenen Vorrichtung, d. h. ausschließlich den ultravioletten Lichtbe reich (UV-Bereich) selektiv auf die Probenkörper einzustrah len und den eine Wärmequelle bildenden infraroten Lichtbereich (IR-Bereich) zu reflektieren, um die Dissipa tion der Wärme auszuführen.The essential points of the construction of this device are that the light beams from the light source are aligned in parallel and are uniformly irradiated onto all specimens 19 , and that the side walls 21 therefore have a parabolic cross section, the light source being arranged at its focal point. In addition, the mirror 22 and the auxiliary mirror 27 , which form optical filters in a broader sense of the word, have the same task as the primary task of the device described in JP-B-1199/1979, ie only the ultraviolet light region (UV -Selectively irradiate the specimen and reflect the infrared light area (IR area) forming a heat source in order to dissipate the heat.

Bei einer herkömmlichen Vorrichtung zum Untersuchen der Witterungs- und Lichtbeständigkeit, die in der vorstehend erwähnten JIS B 7754 beschrieben ist, werden Probenkörper auf einem flachen Probenhalter angeordnet, wobei die Unter suchungen durchgeführt werden, indem die Proben quadratisch angeordnet gegenüberliegend der Lichtquelle positioniert werden, so daß der Abstand zwischen der Lichtquelle und ei nem Probenkörper in der Mittelposition und der Abstand zwi schen der Lichtquelle und den Proben an den oberen bzw. den unteren Positionen verschieden wird. Daher ist die Ein strahlung auf die oberen, die zwischenliegenden bzw. die un teren Abschnitte der bestrahlten Oberflächen der Probenkör per nicht gleichmäßig, d. h., die Bestrahlungsdichte an den oberen und den unteren Abschnitten der bestrahlten Oberflä chen ist geringer als die des Mittelabschnitts. Wenn die Leistung der Lampe erhöht wird, um die Intensität des abge strahlten Lichts zu erhöhen, nimmt die thermische Energie proportional zu. Um diese Zunahme der thermischen Energie zu vermeiden, ohne die Probenkörper zu beeinflussen, wird der Aufbau der Vorrichtung notwendigerweise kompliziert, wodurch die Kosten der Vorrichtung hoch werden. Dadurch wird eine Testvorrichtung mit niedriger Wirtschaftlichkeit erhalten.In a conventional device for examining the Weather and light resistance, as in the above mentioned JIS B 7754, are test specimens arranged on a flat sample holder, the sub Searches are carried out by making the samples square arranged positioned opposite the light source be so that the distance between the light source and egg Nem specimen in the middle position and the distance between the light source and the samples at the top and the lower positions is different. Hence the one radiation on the upper, the intermediate or the un tere sections of the irradiated surfaces of the specimen per not evenly, d. i.e., the radiation density at the upper and lower sections of the irradiated surface Chen is less than that of the middle section. If the Power of the lamp is increased to the intensity of the abge to increase radiated light takes thermal energy proportional to. To increase this thermal energy without affecting the specimen, the Structure of the device necessarily complicated, whereby the cost of the device becomes high. This will make one Obtained test device with low economy.

Um diese Nachteile zu vermeiden, wurden verschiedene Testvorrichtungen vorgeschlagen, die eine Vorrichtung, bei der ein sich vertikal erstreckender zylindrischer Probenrah men vorgesehen ist, dessen oberer bzw. unterer Abschnitt um einen vorgegebenen Winkel zu einer Lichtquelle gebogen ist, um eine gleichmäßige Bestrahlung über die gesamte Oberfläche jedes Probenkörpers zu ermöglichen, wie beispielsweise in der japanischen Gebrauchsmusterveröffentlichung Nr. 16034/1989 beschrieben, eine Vorrichtung, bei der ein Pro benhalter durch Unterteilen eines solchen Probenrahmens in vertikale Abschnitte (im Querschnitt modifizierter C-förmi ger Probenhalter) und eine in der JP-B-700/1957 beschriebene Vorrichtung umfassen, bei der bogenförmige Probenhalter mit daran befestigten Proben kombiniert werden, um die gleiche Wirkung wie beim vorstehend erwähnten Probenhalter und eine gleichmäßige Einstrahlung auf die Oberfläche jedes Proben körpers zu erhalten.In order to avoid these drawbacks, several Test devices suggested that a device at which is a vertically extending cylindrical sample frame Men is provided, the upper or lower section around is bent at a predetermined angle to a light source, for uniform radiation across the entire surface enable each specimen, such as in Japanese Utility Model Publication No. 16034/1989, a device in which a Pro holder by dividing such a sample frame into vertical sections (cross-section modified C-shaped ger sample holder) and one described in JP-B-700/1957 Include device using the arcuate specimen holder samples attached to it can be combined to the same Effect as with the sample holder mentioned above and a uniform radiation onto the surface of each sample to maintain the body.

Wenn diese Probenrahmen bzw. -halter verwendet werden, ist jedoch die Größe der zu untersuchenden Proben begrenzt (im allgemeinen betragen die maximale Länge und Breite einer Probe ca. 150 mm bzw. 70 mm). Beispielsweise kann eine lang gestreckte Probe nicht als ganzes untersucht werden, so daß sie in kleinere Abschnitte aufgeteilt werden muß. Eine Probe mit einer großen Breite muß ebenfalls entsprechen der Krüm mung des Probenrahmens bzw. -halters gebogen werden. Daher muß ein Probenkörper, der nicht für den Probenrahmen bzw. -halter geeignet ist, immer in Abschnitte mit einer ge eigneten Größe unterteilt und untersucht werden, so daß die Herstellung dieser Probenkörper arbeitsaufwendig ist. Wenn ein Probenkörper nicht geteilt oder gebogen werden kann, muß ein Probenkörper mit einer bestimmten Größe zusätzlich her gestellt werden.If these sample frames or holders are used, however, the size of the samples to be examined is limited (in general, the maximum length and width are one Sample approx. 150 mm or 70 mm). For example, a long stretched sample cannot be examined as a whole, so it has to be divided into smaller sections. A sample with a large width must also correspond to the elbow the sample frame or holder. Therefore a specimen that is not suitable for the specimen frame or holder is suitable, always in sections with a ge suitable size are divided and examined so that the Manufacture of this specimen is labor intensive. If a specimen cannot be split or bent a specimen with a certain size be put.

Bei der in der JP-B-13541/1980 beschriebenen Testvor richtung von Fig. 6 sind die Wände 21 der Probenkammer 3 parabolförmig ausgebildet, wobei die Lampe 8 in deren Brenn punkt angeordnet ist, wodurch das aus parallelen Licht strahlen bestehende Bestrahlungslicht auf die Oberflächen der Probenkörper 19 gleichmäßig eingestrahlt wird. Es ist jedoch aufgrund des Aufbaus dieser Vorrichtung mit parabol förmigen Seitenwänden 21 und der Lampe 8 in deren Brennpunkt nicht möglich, Licht mit verschiedenen Bestrahlungsdichten auf Gegenstandsoberflächen mit gleichen Flächen einzustrah len, um beispielsweise durch die Verwendung mehrerer Lampen 8 höhere Bestrahlungsdichten zu erhalten. Wenn versucht wird eine höhere Bestrahlungsdichte zu erhalten, indem die Proben 19 näher zur Lampe 8 angeordnet werden, verringert sich bei einem solchen Aufbau der tatsächlich durch das Licht be strahlte Flächenbereich der Oberfläche. Um die durch die Lampe 8 erzeugte Wärme abzuführen, muß die Lampe 8 au ßerdem im Brennpunkt der parabolförmigen Seitenwände ange ordnet werden. Daher ist eine Wärmestrahlungsanordnung ein geschränkt, wobei eine Hochleistungslampe 8 bei dieser An ordnung nicht verwendet werden kann.In the Testvor direction of Fig. 6 described in JP-B-13541/1980, the walls 21 of the sample chamber 3 are parabolic in shape, the lamp 8 being arranged in the focal point thereof, whereby the radiation of parallel light existing on the surfaces the sample body 19 is irradiated uniformly. However, it is due to the structure of this device with parabolic side walls 21 and the lamp 8 in the focal point is not possible to len light with different radiation densities on object surfaces with the same surfaces len, for example, to obtain higher radiation densities 8 by using several lamps. If an attempt is made to obtain a higher radiation density by arranging the samples 19 closer to the lamp 8 , the surface area of the surface actually irradiated by the light is reduced in such a structure. In order to dissipate the heat generated by the lamp 8 , the lamp 8 must also be arranged in the focal point of the parabolic side walls. Therefore, a heat radiation arrangement is restricted, whereby a high-power lamp 8 cannot be used with this arrangement.

Weil die Bestrahlungsdichte bei der in der JP-B- 13541/1980 beschriebenen Vorrichtung nicht leicht erhöht werden kann, kann keine hochgradig beschleunigte Verwitte rung erreicht werden, was die Aufgabe der Witterungs- und Lichtbeständigkeitsuntersuchung ist. Außerdem kann der Flä chenbereich der Oberfläche der durch das Licht bestrahlten Probe nicht leicht vergrößert werden.Because the radiation density in the JP-B 13541/1980 device not slightly increased can not be a highly accelerated riots tion can be achieved, which is the task of weather and Lightfastness test is. In addition, the area area of the surface of the surface illuminated by the light Sample cannot be magnified slightly.

Bei einer Testvorrichtung, bei der beispielsweise zwei gerade, rohrförmige Xenonlampen 8 in einer vorgegebenen Winkelbeziehung zueinander angeordnet sind und einen vorge gebenen Biegungswinkel aufweisen, wie in Fig. 7 dargestellt, sind die Elektrodenabschnitte 24 der Lampen notwendigerweise in einem Spitzenabschnitt des gewinkelten Aufbaus angeord net. Weil an den Elektrodenabschnitten 24 kein Licht emit tiert wird, verringert sich die Intensität der optischen En ergie im Mittelabschnitt einer mit Licht zu bestrahlenden Oberfläche, wie in Fig. 8 dargestellt, wodurch keine gleich mäßige Bestrahlungsdichte auf der gesamten Oberfläche eines Probenkörpers erhalten werden kann.In a test device in which, for example, two straight, tubular xenon lamps 8 are arranged in a predetermined angular relationship to one another and have a predetermined bending angle, as shown in FIG. 7, the electrode sections 24 of the lamps are necessarily arranged in a tip section of the angled structure. Since no light is emitted at the electrode portions 24 , the intensity of the optical energy in the central portion of a surface to be irradiated with light is reduced, as shown in Fig. 8, whereby a uniform irradiation density cannot be obtained on the entire surface of a specimen.

Daher liegen die Schwierigkeiten bei diesem technischen Bereich in der Entwicklung einer Testvorrichtung, durch die die verschiedenartigen Probleme der vorstehend beschriebenen herkömmlichen Vorrichtungen gelöst werden können, wobei Wit terungs- und Lichtbeständigkeitsuntersuchungen bei einer Be strahlungsenergie mit hoher Intensität und einer gleichmäßi gen Bestrahlungsdichte auf die gesamte Gegenstandsoberfläche eines großstückigen Probenkörpers und mit sehr guter Wieder holbarkeit unter allen Testbedingungen durchgeführt werden können.Therefore, the difficulties lie with this technical Area in the development of a test device through which the various problems of those described above conventional devices can be solved, Wit Condition and light resistance tests for a Be radiation energy with high intensity and a uniformi radiation density on the entire object surface a large specimen and with a very good re feasibility under all test conditions can.

Um diese Probleme zu lösen, wurde eine verbesserte Vor richtung zum Untersuchen der Witterungs- und Lichtbeständig keit entwickelt, bei der der Innenraum eines Testbehälters horizontal durch einen Glasfilter, der für die optische En ergie einer vorgegebenen Wellenlänge bzw. eines vorgegebenen Wellenlängenbereichs durchlässig ist, in einen unteren Ab schnitt, der eine Probenkammer bildet, und einen oberen Ab schnitt geteilt wird, der eine Lampenkammer bildet, wobei die Probenkammer im unteren Abschnitt des Testbehälters eine in einem vorgegebenen Abstand vom Glasfilter angeordnete Probengrundplatte mit einer horizontalen Oberfläche auf weist, wobei die Lampenkammer im oberen Abschnitt des Test behälters eine oder mehrere horizontal, parallel angeord nete, winkelförmig gebogene Lampen aufweist, die in einem vorgegebenen Abstand vom Glasfilter angeordnet werden, wobei der Spitzenabschnitt jeder Lampe auf der Oberseite liegt, wobei der Biegungswinkel jeder Lampe so eingestellt wird, daß eine gleichmäßige Bestrahlungsdichte über die gesamte Oberfläche der Probengrundplatte ermöglicht wird, eine mit der Lampenkammer verbundene Vorrichtung zum Einleiten von Außen- bzw. Kühlluft in die Lampenkammer, um deren Innenraum sowie die darin angeordnete Lampe zu kühlen.In order to solve these problems, an improved forward has been made Direction to examine the weather and light resistant developed in which the interior of a test container horizontally through a glass filter which is used for the optical En energy of a predetermined wavelength or a predetermined Wavelength range is transparent, in a lower Ab section, which forms a sample chamber, and an upper Ab cut is divided, which forms a lamp chamber, wherein the sample chamber in the lower section of the test container arranged at a predetermined distance from the glass filter Sample base plate with a horizontal surface points, with the lamp chamber in the upper portion of the test container one or more horizontally, arranged in parallel nete, angularly curved lamps, which in one predetermined distance from the glass filter, where the tip section of each lamp is on the top, where the bend angle of each lamp is adjusted that a uniform radiation density over the entire Surface of the sample base plate is made possible with a device connected to the lamp chamber for introducing Outside or cooling air into the lamp chamber, around its interior and to cool the lamp arranged therein.

Außerdem wurde eine Vorrichtung zum Untersuchen der Witterungs- und Lichtbeständigkeit entwickelt, bei der meh rere winkelförmig angeordnete Lampen vorgesehen sind, die sich einander an deren Spitzenpositionen kreuzen und sich wechselseitig beabstandet erstrecken, wobei die Spitzenposi tionen an der Oberseite angeordnet sind.In addition, a device for examining the Weather and light resistance developed, at which meh rere angular lamps are provided, the cross each other at their top positions and each other extend mutually spaced, the top posi tions are arranged at the top.

Weil eine winkelförmig gebogene Lampe mit einem Bie gungswinkel verwendet wird, der dem Abstand zwischen der Lampe und der Oberfläche der Probengrundplatte entspricht, kann eine gleichmäßige Bestrahlungsdichte über die gesamte Oberfläche der Probengrundplatte erreicht werden. Die gleichmäßige Bestrahlungsdichte verändert sich bei allen Testbedingungen nicht. Weil eine unabhängige Lampenkammer vorgesehen ist, können deren Innenraum und die Lampe ausrei chend gekühlt werden, wobei der Wirkungsgrad beim Kühlen des Glasfilters zunimmt, der als Trennwand zwischen der Lampen kammer und der Probenkammer verwendet wird und das Licht ei ner vorgegebenen Wellenlänge bereitstellt, so daß eine Ver änderung des Transmissionsfaktors aufgrund der Erwärmung selten auftritt. Durch die zueinander parallele Anordnung der mehreren Lampen kann eine hochintensive Bestrahlungs dichte erreicht werden, wobei der bestrahlte Oberflächenbe reich insbesondere einer langgestreckten Probe vergrößert werden kann.Because an angularly curved lamp with a bend angle is used, which is the distance between the Lamp and the surface of the sample base plate, can have a uniform radiation density over the entire Surface of the sample base plate can be reached. The uniform radiation density changes in all Test conditions not. Because an independent lamp chamber is provided, the interior and the lamp can be sufficient be cooled accordingly, the efficiency in cooling the Glass filter increases, which acts as a partition between the lamps chamber and the sample chamber is used and the light egg provides a predetermined wavelength so that a ver Change in transmission factor due to warming rarely occurs. Due to the parallel arrangement of the multiple lamps can be a high intensity radiation density can be achieved, the irradiated surface area richly enlarged in particular an elongated sample can be.

Wenn mehrere solche Lampen in mehreren vertikalen Stu fen und in gekreuzter Weise angeordnet sind, kann über die gesamte Oberfläche der Probengrundplatte eine hochintensive und gleichmäßige Bestrahlungsdichte erreicht werden.If several such lamps in several vertical stu fen and are arranged in a crossed manner can over the entire surface of the sample base plate is a highly intensive one and uniform radiation density can be achieved.

Die Erfindung wird nachstehend unter Bezug auf die bei gefügten Abbildungen beschrieben; es zeigen:The invention is described below with reference to the added illustrations described; show it:

Fig. 1 eine schematische Querschnittansicht des Aufbaus eines Hauptabschnitts einer ersten Ausführungsform der er findungsgemäßen Vorrichtung zum Untersuchen der Witterungs- und Lichtbeständigkeit entlang der Linie A-A in Fig. 2; Fig. 1 is a schematic cross-sectional view of the structure of a main portion of a first embodiment of the inventive device for examining the weather and light resistance along the line AA in Fig. 2;

Fig. 2 eine schematische Querschnittansicht des Aufbaus eines Hauptabschnitts der ersten Ausführungsform entlang der Linie B-B in Fig. 1; Fig. 2 is a schematic cross-sectional view of the construction of a main portion of the first embodiment along the line BB in Fig. 1;

Fig. 3 eine Zeichnung zur Darstellung eines Verfahrens zum Befestigen einer bei der ersten Ausführungsform verwen deten Xenonlampe und die Form der Lampe; Fig. 3 is a drawing to show a method of attaching a xenon lamp used in the first embodiment and the shape of the lamp;

Fig. 4 die Draufsicht einer bei der ersten Ausführungs form verwendeten Probengrundplatte zur Darstellung der Punkte, bei denen die Bestrahlungsdichte gemessen wird; Figure 4 is a plan view of a sample base plate used in the first embodiment to illustrate the points at which the irradiance is measured.

Fig. 5 eine schematische Ansicht des Aufbaus von Xenon lampen bei einer dritten Ausführungsform; Fig. 5 is a schematic view of the structure of xenon lamps in a third embodiment;

Fig. 6 eine schematische Ansicht des Aufbaus zur Dar stellung eines Hauptabschnitts einer herkömmlichen Vorrich tung zum Untersuchen der Witterungs- und Lichtbeständigkeit; Fig. 6 is a schematic structural view for showing a main portion of a conventional device for examining weather and light resistance;

Fig. 7 eine Zeichnung zweier gerader, rohrförmiger Xe nonlampen, die in einem dachförmigen Aufbau angeordnet sind; und Fig. 7 is a drawing of two straight, tubular Xe nonlamps, which are arranged in a roof-shaped structure; and

Fig. 8 eine Zeichnung einer Lichtverteilungskurve der Xenonlampen von Fig. 7. Fig. 8 is a drawing of a light distribution curve of xenon lamps of Fig. 7.

Die Figuren zeigen einen Testbehälter 1, einen Glasfil ter 2, eine Probenkammer 3, eine Lampenkammer 4, eine Pro bengrundplatte 6, einen Temperatur- und Feuchtigkeitsregler 7, eine Xenonlampe 8, ein Gebläse 11, Isolier-Befesti gungselemente 14, Befestigungsstützen 15, Langlöcher 17, ein Steuerpult 18 und Probenkörper 19.The figures show a test container 1 , a Glasfil ter 2 , a sample chamber 3 , a lamp chamber 4 , a bengrundplatte 6 , a temperature and humidity controller 7 , a xenon lamp 8 , a blower 11 , insulating fasteners 14 , fastening supports 15 , elongated holes 17 , a control panel 18 and specimen 19 .

Fig. 1 und 2 zeigen schematische Ansichten des Aufbaus eines Hauptabschnitts einer ersten Ausführungsform der Er findung, wobei Fig. 1 eine Querschnittansicht entlang der Linie A-A in Fig. 2 und Fig. 2 eine Querschnittansicht ent lang der Linie B-B in Fig. 1 zeigt. Fig. 1 and 2 show schematic views of the structure of a main portion of a first embodiment of he invention, in which Fig. 1 shows a cross-sectional view taken along line AA in Fig. 2 and Fig. 2 is a cross-sectional view long ent the line BB in Fig. 1.

Gemäß diesen Abbildungen weist ein Testbehälter 1 einen rechteckigen Querschnitt auf, wobei der Innenraum des Behäl ters durch einen Flachplatten-Glasfilter 2, der nur für Licht in einem Wellenlängenbereich von 300-700 nm durch lässig ist, in einen unteren Abschnitt, der eine Probenkam mer 3 bildet, und einen oberen Abschnitt geteilt wird, der eine Lampenkammer 4 bildet. Der Glasfilter 2 ist auf einem bilderrahmenähnlichen Filterhalter 5 angeordnet, der an den Abschnitten der Innenfläche der Umfangswände des Testbehäl ters 1 befestigt ist, die in der gleichen Ebene liegen.According to these figures, a test container 1 has a rectangular cross section, the interior of the container through a flat-plate glass filter 2 , which is only permeable to light in a wavelength range of 300-700 nm, in a lower section, which is a sample chamber 3 forms, and an upper portion is divided, which forms a lamp chamber 4 . The glass filter 2 is arranged on a picture frame-like filter holder 5 , which is attached to the portions of the inner surface of the peripheral walls of the Testbehäl age 1 , which are in the same plane.

Eine flache Probengrundplatte 6 ist am Bodenabschnitt der Probenkammer 3 horizontal befestigt, wobei der Abstand zwischen der Oberfläche der Probengrundplatte 6 und der Un terfläche des Glasfilters 2 auf ca. 30 cm eingestellt wird. Ein Temperatur- und Feuchtigkeitsregler 7 ist in Kontakt mit der Außenfläche einer Seitenwand der Probenkammer 3 angeord net, um die Temperatur und die Feuchtigkeit im Innenraum der Probenkammer 3 zu regeln. Der Temperatur- und Feuchtigkeits regler, der nicht im Detail dargestellt ist, besteht aus be kannten Einrichtungen, wie beispielsweise aus einer Heizein richtung, einer Befeuchtungsvorrichtung oder einem Gebläse. Gegebenenfalls kann zusätzlich eine Kühlvorrichtung verwen det werden.A flat sample base plate 6 is horizontally attached to the bottom portion of the sample chamber 3 , the distance between the surface of the sample base plate 6 and the bottom surface of the glass filter 2 being set to about 30 cm. A temperature and humidity regulator 7 is angeord net in contact with the outer surface of a side wall of the sample chamber 3, to regulate the temperature and humidity in the interior of the sample chamber. 3 The temperature and humidity controller, which is not shown in detail, consists of be known devices, such as a heater, a humidifier or a blower. If necessary, a cooling device can also be used.

Eine Xenonlampe 8 (luftgekühlte 1.5 kW-Lampe), die durch winkliges Abbiegen einer geraden, rohrförmigen Lampe gebildet wird, ist stabil (wie später beschrieben wird) im Mittelabschnitt der Lampenkammer 4 angeordnet, wobei der Spitzenabschnitt der Lampe nach oben ausgerichtet ist. Die Lampenkammer 4 weist eine Außenluft-Einlaßöffnung 9 und eine Luft-Ausströmöffnung 10 auf, wobei ein Gebläse 11 zum Kühlen der Lampe 8 und des gesamten Innenraums der Lampenkammer 4 durch die Außenluft an der Außenluft-Einlaßöffnung 9 ange schlossen ist. Diese Kühlfunktion kann gegebenenfalls durch Kühlluft ausgeführt werden, die durch eine Kühlvorrichtung zugeführt wird.A xenon lamp 8 (air-cooled 1.5 kW lamp), which is formed by angularly bending a straight tubular lamp, is stably (as described later) arranged in the central portion of the lamp chamber 4 with the tip portion of the lamp facing upward. The lamp chamber 4 has an outside air inlet opening 9 and an air outflow opening 10 , a fan 11 for cooling the lamp 8 and the entire interior of the lamp chamber 4 being closed by the outside air at the outside air inlet opening 9 . This cooling function can optionally be carried out by cooling air which is supplied by a cooling device.

Fig. 3 zeigt ein Verfahren zum Befestigen einer bei dieser Ausführungsform verwendeten Xenonlampe 8 und die Form dieser Lampe. Fig. 3 shows a method of fixing a xenon lamp 8 used in this embodiment and the shape of this lamp.

Gemäß der Abbildung sind Isolierelemente 13 mit Bleidrähten 12 an beiden Enden einer Xenonlampe 8 befestigt, wobei der Abstand a zwischen den lampenseitigen Enden der Isolierelemente, der Durchmesser b des elektrischen Ent ladungsabschnitts eines rohrförmigen Xenonlampenkörpers und der Winkel e der Biegung des gewinkelten Abschnitts der Lampe jeweils ca. 40 cm, ca. 20 mm bzw. ca. 120° betragen. Der Abstand zwischen der Xenonlampe 8 und dem Glasfilter 2 ist durch den Abstand c zwischen der Unterfläche des Glas filters 2 und einer horizontalen Linie festgelegt, die die lampenseitigen Enden der Isolierelemente 13 miteinander ver bindet, und beträgt ca. 10 cm.As shown in the figure, insulating members 13 are fixed with lead wires 12 to both ends of a xenon lamp 8 , the distance a between the lamp-side ends of the insulating members, the diameter b of the electrical discharge portion of a tubular xenon lamp body, and the angle e of the bend of the angled portion of the lamp, respectively approx. 40 cm, approx. 20 mm or approx. 120 °. The distance between the xenon lamp 8, and the glass filter 2 is c by the distance between the lower surface of the glass filter 2 and a horizontal line determined that binds the lamp-side ends of the insulating members 13 ver each other, and is approximately 10 cm.

Die Xenonlampe 8 wird durch Einsetzen der an deren bei den Seiten befestigten Isolierelemente 13 in Durchgangsöff nungen in den Isolier-Befestigungselementen 14 und durch Montieren der erhaltenen Befestigungselemente an Befesti gungsstützen 15 angebracht, die durch Bolzen 16 stabil auf der Filterhalterung 5 angeordnet sind. Jedes der Isolier- Befestigungselemente 14 und der Befestigungsstützen 15 weist daher Langlöcher 17 auf, so daß die vertikale Position, die horizontale Position und der Arretierwinkel der Befesti gungselemente 14 eingestellt werden können. Die Isolier-Be festigungselemente 14 und die Befestigungsstützen 15 werden aus Isoliermaterial geschäumt. Das Verfahren zum Befestigen der Xenonlampe 8 ist nicht auf dieses Verfahren festgelegt, so daß jedes Verfahren verwendet werden kann, bei dem die Vertikal- und die Horizontalrichtung sowie der Arretierwin kel der Lampe 8 leicht eingestellt werden können und bei dem die Lampe 8 stabil angeordnet werden kann. The xenon lamp 8 is by inserting the at the sides of the insulating elements 13 in Durchgangsöff openings in the insulating fasteners 14 and by mounting the fasteners obtained on fastening supply supports 15 which are stably arranged by bolts 16 on the filter holder 5 . Each of the insulating fasteners 14 and the mounting brackets 15 therefore has elongated holes 17 so that the vertical position, the horizontal position and the locking angle of the fastening elements 14 can be adjusted. The insulating Be fastening elements 14 and the mounting supports 15 are foamed from insulating material. The method for fixing the xenon lamp 8 is not limited to this method, so that any method can be used in which the vertical and horizontal directions and the Arretierwin angle of the lamp 8 can be easily adjusted and in which the lamp 8 are arranged stably can.

Obwohl Fig. 2 keine detaillierte Ansicht zeigt, ist hierbei ein Steuerpult 18 mit einer aus einem Mikrocomputer bestehenden Steuervorrichtung vorgesehen, die die Zeitpunkte zum An- und Ausschalten der Lampe 8 steuert, den Mikrocompu ter mit einem Trocken- und Naßthermometer (nicht darge stellt) in der Probenkammer 3 verbindet und die Temperatur und die Feuchtigkeit in dieser Kammer einstellt und steuert, sowie die Testzeitdauer einstellt und steuert. Das Bezugszeichen 20 bezeichnet eine Tür, die verwendet wird, wenn die Proben 19 in die Probenkammer eingeführt bzw. dar aus entnommen werden.Although Fig. 2 does not show a detailed view, here a control panel 18 is provided with a control device consisting of a microcomputer, which controls the times for switching the lamp 8 on and off, the microcomputer with a dry and wet thermometer (not shown) connects in the sample chamber 3 and sets and controls the temperature and humidity in this chamber, and sets and controls the test period. Reference numeral 20 denotes a door that is used when the samples 19 are inserted into and removed from the sample chamber.

Wenn die Probenkammer 3 auf die gleiche Temperatur ein gestellt werden soll wie diejenige in der Position der Pro benkörper 19 auf der Probengrundplatte 6, wird ein Thermome ter (beispielsweise ein allgemein bei Vorrichtungen zum Un tersuchen der Witterungs- und Lichtbeständigkeit verwendetes Schwarzplattenthermometer) direkt auf der Probengrundplatte 6 angeordnet, das dann mit dem vorstehend erwähnten Tempera tursteuerfunktionsabschnitt verbunden werden kann, obwohl dieser Aufbau bei dieser Ausführungsform nicht verwendet wird. Um die Bestrahlungsdichte auf den Oberflächen der Pro ben 19 kontinuierlich zu messen, wird in der gleichen Weise wie dieses Thermometer ein lichtaufnehmender Abschnitt eines Bestrahlungsdichtenmeßinstruments angeordnet, um durch das Steuerpult 18 die Messung bzw. Aufzeichnung der Bestrah lungsdichte zu ermöglichen, wobei diese Funktion auch leicht durch bekannte Verfahren durchgeführt werden kann. Außerdem kann der Strom bzw. die Spannung der Lampe 8 gesteuert wer den, so daß die Bestrahlungsdichte auf den Oberflächen der Probenkörper 19 permanent bei einem vorgegebenen Wert gehal ten wird.If the sample chamber 3 is to be set to the same temperature as that in the position of the sample body 19 on the sample base plate 6 , a thermometer (for example a black plate thermometer generally used in devices for testing the weather and light resistance) is directly on the Sample base plate 6 is arranged, which can then be connected to the above-mentioned temperature control function section, although this structure is not used in this embodiment. In order to continuously measure the radiation density on the surfaces of the sample ben 19 , in the same manner as this thermometer, a light-receiving portion of a radiation density measuring instrument is arranged to enable the control panel 18 to measure or record the radiation density, and this function is also easy can be carried out by known methods. In addition, the current or voltage of the lamp 8 can be controlled who the, so that the radiation density on the surfaces of the specimen 19 is kept at a predetermined value.

Nachstehend werden die Details eines Experiments be schrieben, bei dem diese Ausführungsform der Vorrichtung verwendet wird. Tabelle 1 zeigt Bestrahlungsdichteverhält nisse an verschiedenen Positionen auf einer in Fig. 4 darge stellten Probengrundplatte. Die Probengrundplatte 6 bei der vorstehenden Ausführungsform hat eine quadratische Oberflä che mit 40 cm Seitenlänge.The details of an experiment using this embodiment of the device will be described below. Table 1 shows irradiance ratios at various positions on a sample base plate shown in FIG. 4. The sample base plate 6 in the above embodiment has a square surface with a side length of 40 cm.

Fig. 4 zeigt eine Draufsicht der Probengrundplatte 6, auf deren Oberseite unter rechten Winkeln in regelmäßigen Abständen angeordnete gerade Linien dargestellt sind. Die Schnittpunkte dieser Linien werden, wie in der Abbildung dargestellt, durch XY0, X1, X2, X3, X4, Y1, Y2, Y3, Y4, Y5, Y6, XY1, XY2, XY3, XY4, XY5, XY6, XY7, XY8 bezeichnet. Die Probengrundplatte 6 ist so angeordnet, daß der Punkt XY0 auf eine Linie ausgerichtet ist, die sich von der Spitzenposi tion der Xenonlampe 8 senkrecht zu einer geraden Linie er streckt, auf der die Schnittpunkte XY0, X1, X2, X3, X4 lie gen und die mit der Längsachse der Lampe 8 ausgerichtet ist. Die in Tabelle 1 dargestellten Werte sind Verhältniswerte, die durch Messen der Bestrahlungsdichte auf die vorstehend erwähnten Schnittpunkte erhalten wurden, wobei die Meßwerte in Relativwerte zum Wert 100 umgewandelt wurden, der die Be strahlungsdichte am Schnittpunkt XY0 darstellt. FIG. 4 shows a top view of the sample base plate 6 , on the top of which straight lines arranged at regular intervals are shown at right angles. The intersections of these lines are, as shown in the figure, by XY0, X1, X2, X3, X4, Y1, Y2, Y3, Y4, Y5, Y6, XY1, XY2, XY3, XY4, XY5, XY6, XY7, XY8 designated. The sample base plate 6 is arranged so that the point XY0 is aligned with a line extending from the top position of the xenon lamp 8 perpendicular to a straight line on which the intersection points XY0, X1, X2, X3, X4 lie and which is aligned with the longitudinal axis of the lamp 8 . The values shown in Table 1 are ratio values obtained by measuring the radiation density at the intersection points mentioned above, the measurement values being converted into relative values to the value 100, which represents the radiation density at the intersection point XY0.

Tabelle 1 Table 1

Gemäß dieser Tabelle wird im durch die vier Punkte XY1, XY2, XY3, XY4 definierten Bereich (Bereich von 40 cm × 30 cm) eine Bestrahlungsdichte von nicht weniger als 92% von derjenigen des Mittelpunkts XY0 erreicht.According to this table, the four points XY1, XY2, XY3, XY4 defined area (area of 40 cm × 30 cm) an irradiance of not less than 92% of that of the center XY0 reached.

Die Xenonlampe 8 wurde eingeschaltet, wobei Schwarz plattenthermometer an den in Tabelle 1 dargestellten Punkten angeordnet wurden. Wenn die Temperatur in der Probenkammer 3 so eingestellt wurde, daß das Thermometer am Mittelpunkt XY0 63°C anzeigte, lag die Temperatur an den anderen Punkten im Bereich von 63° ± 3°C, was der Temperatur bei einer Untersu chung gleich ist, die in der vorstehend bezeichneten JIS B 7754 beschriebenen wird.The xenon lamp 8 was switched on, black plate thermometers being arranged at the points shown in Table 1. When the temperature in the sample chamber 3 was set so that the thermometer at the center XY0 indicated 63 ° C, the temperature at the other points was in the range of 63 ° ± 3 ° C, which is the same as the temperature in one investigation in the above-mentioned JIS B 7754.

Nachstehend wird eine zweite Ausführungsform einer Vor richtung (nicht dargestellt) beschrieben, deren Aufbau im wesentlichen demjenigen der ersten Ausführungsform gleich ist. Bei der zweiten Ausführungsform sind zwei gleiche Xe nonlampen wie vorstehend beschrieben zueinander parallel an geordnet, wobei deren Längsachsen 20 cm beabstandet sind, um einen großflächigerer Bereich mit Licht einer höheren Ener gie zu bestrahlen, wobei die Lampen auf die gleiche Weise wie bei der ersten Ausführungsform befestigt werden.The following is a second embodiment of a pre direction (not shown), the structure of which is described in substantially the same as that of the first embodiment is. In the second embodiment, two are the same Xe nonlamps as described above in parallel to each other ordered, the longitudinal axes of which are spaced 20 cm apart a larger area with light from a higher energy to irradiate the lamps in the same way as in the first embodiment.

Bei der zweiten Ausführungsform der Vorrichtung sind die Lampen an Positionen angeordnet, die senkrecht über zwei parallelen Linien (die die Punkte Y2 bzw. Y3 durchlau fen) angeordnet sind, die von der die Punkte X1 und X4 in Fig. 4 verbindenden geraden Linie 10 cm beabstandet sind, so daß die Längsachsen der Lampen zu diesen beiden parallelen Linien ausgerichtet sind. Die Anzahl und die Leistung der Gebläsevorrichtungen zum Kühlen der Lampen und des Innen raums der Lampenkammer und diejenige der Regler zum Steuern der Temperatur und der Feuchtigkeit in der Probenkammer wer den dabei erhöht. Der Abstand zwischen der Unterfläche des Glasfilters und der Oberfläche der Probengrundplatte und derjenige zwischen der gleichen Unterfläche und den Xenon lampen werden auf die gleichen Werte eingestellt wie bei der ersten Ausführungsform.In the second embodiment of the device, the lamps are arranged at positions perpendicular to two parallel lines (passing through points Y2 and Y3, respectively) that are 10 cm from the straight line connecting points X1 and X4 in FIG are spaced so that the longitudinal axes of the lamps are aligned with these two parallel lines. The number and the power of the fan devices for cooling the lamps and the interior of the lamp chamber and that of the controllers for controlling the temperature and humidity in the sample chamber are increased. The distance between the bottom surface of the glass filter and the surface of the sample base plate and that between the same bottom surface and the xenon lamps are set to the same values as in the first embodiment.

Die Bestrahlungsdichtenverhältnisse in den gleichen Flächenbereichen (eine durch die vier Punkte XY1, XY2, XY3, XY4 definierte Fläche von 40 cm × 30 cm) wie bei der ersten Ausführungsform auf der in Fig. 4 dargestellten Probengrund platte 6 betrug nicht weniger als 95% des die Bestrahlungs dichte auf den Punkt XY0 darstellenden Referenzverhältnisses von 100, wobei die Bestrahlungsdichtenverhältnisse auf dem gesamten Flächenbereich (eine durch die vier Punkte XY5, XY6, XY7, XY8 definierte Fläche von 40 cm × 40 cm) der Ober fläche der Probengrundplatte nicht weniger als 90% betrug. Die Strahlungsenergie war etwa 1.8 mal so hoch wie bei der ersten Ausführungsform der Vorrichtung. Die Temperaturen der Schwarzplatten in diesem Flächenbereich lagen im Bereich von 63°C ± 3°C und waren somit dem Temperaturbereich bei der er sten Ausführungsform gleich.The radiation density ratios in the same surface areas (an area of 40 cm × 30 cm defined by the four points XY1, XY2, XY3, XY4) as in the first embodiment on the sample base plate 6 shown in FIG. 4 was not less than 95% of the the irradiation density on the reference ratio representing point XY0 of 100, the irradiation density ratios on the entire surface area (an area of 40 cm × 40 cm defined by the four points XY5, XY6, XY7, XY8) of the surface of the sample base plate not less than 90 % scam. The radiant energy was about 1.8 times that of the first embodiment of the device. The temperatures of the black plates in this area were in the range of 63 ° C ± 3 ° C and were therefore the same as the temperature range in the first embodiment.

Bei einer dritten Ausführungsform der vorliegenden Er findung sind zwei Xenonlampen 8, die mit denen bei der er sten Ausführungsform verwendeten Lampen identisch sind, so angeordnet, daß sich deren Spitzenpositionen kreuzen, so daß die Spitzenpositionen der beiden Lampen im wesentlichen in der gleichen senkrechten Linie angeordnet sind, wie in Fig. 5 dargestellt. Die beiden Xenonlampen 8 sind bei spielsweise so angeordnet, daß die Längsachse einer Lampe sich in die Richtung von X1, X4 in Fig. 4 erstreckt, wobei die Längsachse der anderen Lampe sich in die Richtung von Y5, Y6 erstreckt, wobei die Xenonlampen vertikal ca. 10 mm zwischen den Spitzenpositionen beabstandet sind. Der Abstand zwischen der Unterfläche des Glasfilters und der Oberfläche der Probengrundplatte und der Abstand zwischen der gleichen Unterfläche und der Xenonlampe, die sich in Richtung von X1, X4 erstreckt, wurden gleich eingestellt wie bei der ersten Ausführungsform.In a third embodiment of the present invention, two xenon lamps 8 , which are identical to those used in the first embodiment, are arranged so that their top positions intersect so that the top positions of the two lamps are arranged substantially in the same vertical line are, as shown in Fig. 5. The two xenon lamps 8 are arranged for example so that the longitudinal axis of one lamp extends in the direction of X1, X4 in Fig. 4, the longitudinal axis of the other lamp extending in the direction of Y5, Y6, the xenon lamps vertically approx Are 10 mm apart between the tip positions. The distance between the bottom surface of the glass filter and the surface of the sample base plate and the distance between the same bottom surface and the xenon lamp extending in the direction of X1, X4 were set the same as in the first embodiment.

Jede Xenonlampe 8 wird auf die gleiche Weise befestigt wie bei der ersten Ausführungsform und wie in Fig. 3 darge stellt, obwohl das Verfahren in Fig. 5 nicht dargestellt ist. Eine Xenonlampe (die sich in die Richtung von Y5, Y6 erstreckt) wird ca. 10 mm über der anderen Lampe angeordnet, wozu die Langlöcher 17 (siehe Fig. 3) in den Befestigungs elementen 15 verwendet werden.Each xenon lamp 8 is attached in the same manner as in the first embodiment and as shown in FIG. 3, although the method is not shown in FIG. 5. A xenon lamp (which extends in the direction of Y5, Y6) is arranged about 10 mm above the other lamp, for which purpose the elongated holes 17 (see FIG. 3) are used in the fastening elements 15 .

Diese Ausführungsform wird in ähnlicher Weise wie bei der zweiten Ausführungsform dadurch gebildet, daß die Anzahl bzw. die Leistung der Gebläsevorrichtungen 11 und der Temperatur- und Feuchtigkeitsregler 7, die in Fig. 1 darge stellt sind, erhöht werden, obwohl diese Einrichtungen in Fig. 5 nicht dargestellt sind.This embodiment is formed in a manner similar to that of the second embodiment by increasing the number or performance of the blower devices 11 and the temperature and humidity controllers 7 shown in FIG. 1, although these devices are shown in FIG. 5 are not shown.

In Tabelle 2 sind Verhältniswerte dargestellt, die durch Messen der Bestrahlungsdichte an jedem in Fig. 4 dar gestellten Punkt auf die gleiche Weise erhalten wurden wie bei der ersten Ausführungsform, wobei die Meßergebnisse in Verhältniswerte bezüglich eines Referenzverhältnisses von 100 umgewandelt wurden, das die Bestrahlungsdichte am Punkt XY0 darstellt.Table 2 shows ratio values obtained by measuring the irradiance at each point shown in Fig. 4 in the same manner as in the first embodiment, and the measurement results were converted into ratio values with respect to a reference ratio of 100, which the irradiance at Represents point XY0.

Tabelle 2 Table 2

Gemäß dieser Tabelle betragen die Bestrahlungsdichten verhältnisse im Flächenbereich von 40 cm × 40 cm der durch die vier Punkte XY5, XY6, XY7, XY8 definierten Fläche bei dieser Ausführungsform nicht weniger als 98% bezüglich der Bestrahlungsdichte im Mittelpunkt XY0, obwohl die entspre chenden Bestrahlungsdichtenverhältnisse bei der zweiten Ausführungsform nicht weniger als 90% betragen. Die Bestrah lungsdichten und die Temperaturen der Schwarzplatten im gleichen Flächenbereich waren denen bei der zweiten Ausfüh rungsform im wesentlichen gleich; die Bestrahlungsdichten waren ca. 1.8mal so hoch wie bei der Vorrichtung der ersten Ausführungsform und betrugen jeweils 63° ± 3°C.According to this table, the radiation densities are conditions in the area of 40 cm × 40 cm through the four points XY5, XY6, XY7, XY8 defined area of this embodiment not less than 98% with respect to the Irradiance at the center XY0, although the correspond appropriate radiation density ratios in the second Embodiment not less than 90%. The irradiated density and the temperatures of the black plates in the same area were those in the second execution approximately the same; the radiation densities were about 1.8 times as high as with the device of the first Embodiment and were each 63 ° ± 3 ° C.

Um bei diesen drei Ausführungsformen höhere optische Energien zu erreichen, können Xenonlampen mit höheren Lei stungen verwendet werden, wobei solche Lampen leicht befe stigt werden können, weil, wie vorstehend beschrieben, ein Verfahren verwendet werden kann, bei dem die Vertikal- und die Horizontalausrichtung sowie der Arretierwinkel einge stellt werden können.To get higher optical in these three embodiments Xenon lamps with higher lei can achieve energy stungen be used, with such lamps light Stigt because, as described above, a Method can be used in which the vertical and the horizontal orientation and the locking angle are turned on can be put.

Bei der vorliegenden Erfindung wird eine winkelförmig gebogene Lampe mit einem Biegungswinkel verwendet, der dem Abstand zwischen der Lampe und der Oberfläche der Proben grundplatte entspricht, so daß eine gleichmäßige Bestrah lungsdichte über die gesamte Oberfläche der Probengrund platte erhalten werden kann. Weil die Lampenkammer unabhän gig angeordnet ist, können deren Innenraum und die Lampe ausreichend gekühlt werden, wobei der Wirkungsgrad zum Küh len des als Trennwand zwischen der Lampenkammer und der Pro benkammer verwendeten Glasfilters, der für Licht einer vor gegebenen Wellenlänge durchlässig ist, erhöht wird, so daß keine Veränderung des Transmissionsfaktors aufgrund der Er wärmung auftreten kann. Außerdem können ohne besondere Mo difikation der Vorrichtung mehrere Lampen verwendet werden, wobei eine optische Energie mit höherer Intensität auf die Probenkörper eingestrahlt werden kann. Die erfindungsgemäße Vorrichtung kann darüber hinaus zum Untersuchen großstücki ger Probenkörper verwendet werden, indem die Oberflächen vergrößert werden, auf denen eine gleichmäßige Be strahlungsdichte erreicht wird.In the present invention, one becomes angular bent lamp with a bend angle used that the Distance between the lamp and the surface of the samples base plate corresponds, so that an even irradiation density over the entire surface of the sample base plate can be obtained. Because the lamp chamber is independent gig is arranged, the interior and the lamp be cooled sufficiently, the efficiency of the cooling len as a partition between the lamp chamber and the Pro benkammer glass filter used for light one before given wavelength is transmissive, is increased so that no change in the transmission factor due to the Er warming can occur. In addition, without special Mo dification of the device multiple lamps are used with a higher intensity optical energy on the Specimen can be irradiated. The invention The device can also be used to examine large pieces ger specimen can be used by the surfaces be enlarged on which a uniform loading radiation density is achieved.

Claims

1. Device for examining the weather and light resistance with:
a light source disposed in an upper portion of the interior of a test container used during the weather and light resistance examination, and a sample base plate disposed in a lower portion of the interior of the test container;
characterized in that
the interior of the test container is divided horizontally into a lower section, which forms a sample chamber, and an upper section, which forms a lamp chamber, by means of a glass filter which is transparent to the optical energy of a predetermined wavelength or a predetermined wavelength range, the sample chamber being in the lower section of the Test container has the sample base plate arranged at a predetermined distance from the glass filter with a horizontal top, the lamp chamber in the upper section of the test container one or more horizontally, in parallel arranged, angularly curved lamps which are arranged at a predetermined distance from the glass filter, the Top position of each lamp is on the upper side and the bending angle of each lamp is set so that a uniform loading radiation density over the entire top of the ben base plate is made possible, and a device connected to the lamp chamber for introducing outside air or forced cooling air into the lamp chamber, in order to cool the interior thereof and the lamp arranged therein, the high-intensity optical energy having a predetermined wavelength or a predetermined wavelength range under the temperature conditions in a normal weather and light resistance test is evenly radiated onto the sample body arranged on the top of the sample base plate.

2. Device according to claim 1, wherein a plurality of angular curved lamps are arranged facing each other cross their top positions and face each other in extend laterally spaced manner, the Spit zenpositionen the lamps arranged on the top are.