DE4140513C1

DE4140513C1 -

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Publication number: DE4140513C1
Application number: DE19914140513
Authority: DE
Inventors: Horst 4790 Paderborn De Hager
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1991-12-09
Filing date: 1991-12-09
Publication date: 1993-07-01
Anticipated expiration: 2011-12-10
Also published as: AU3085392A; WO1993011882A1; EP0570558A1

Abstract

An optical device for inspecting and sorting individual free falling objects (B) has a laser scanner (4) arranged at the periphery of an inspection zone (PZ). The reflected light is collected all around by the ends (3) of light guides and transmitted for evaluation purposes to a control device (ST) that controls a sorting device (5) arranged downstream of the inspection zone (PZ) according to predetermined inspection criteria. A light guide web (9) that surrounds the inspection zone (PZ) captures directly incident laser light and the evaluation of the reflected light is controlled depending on the captured direct laser light. This device is particularly suitable for sorting peeled potatoes and wet goods.

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum optischen Überprüfen und Sortieren von Objekten, insbesondere von Nahrungsmitteln, die seriell im freien Fall durch eine Prüfzone geleitet werden, um die mehrere Lichtquellen und mindestens ein Reflexlichtempfänger umfangsmäßig angeordnet sind, deren Lichtsignale opto-elektrisch gewandelt in einer Steuervorrichtung mit vorgegebenen Grenzwerten verglichen werden, bei deren Unter- oder Überschreitung ein Steuersignal in einem Mikroprozessor erzeugt wird, das eine Sortierweiche beaufschlagt, die unterhalb der Prüfzone angeordnet ist.The invention relates to a device for optical Checking and sorting objects, especially of Foods that are in free fall by a serial Are passed around the multiple light sources and test zone at least one reflex light receiver circumferentially are arranged, whose light signals are opto-electrical converted in a control device with predetermined Limit values are compared, with their under or Exceeding a control signal in a microprocessor is generated, which acts on a sorting switch, the is located below the test zone.

Eine derartige Vorrichtung ist aus DE 36 14 400 C1 bekannt, bei der insbesondere Agrarprodukte wie Erbsen, Bohnen o. ä. vereinzelt an einer optischen Prüfvorrichtung vorbeigeleitet werden, deren Produktfehler- Erkennungssignal eine nachgeordnete Produktweiche ansteuert, wodurch fehlerhafte Objekte ausgesteuert werden. In der optischen Prüfvorrichtung werden die vereinzelten Objekte von um den Transportweg umfangsseitig verteilten Lichtquellen beleuchtet. Das von den Prüfobjekten reflektierte Licht wird von zugeordneten Lichtempfängern aufgenommen und lichtelektrisch gewandelt bezüglich unzulässiger Signalfolgen ausgewertet. Die zur Beleuchtung verwandten Glühlampen erbringen eine Globalbeleuchtung der Objekte, und die Lichtempfänger erfassen ebenfalls das Objekt jeweils als Ganzes bezüglich eines dem Durchschnittsobjekt angepaßten Hintergrundes, so daß die empfangenen Signale nur eine Globalaussage über die optischen Eigenschaften eines Produktes erbringt, was nur für eine grobe Beurteilung, z. B. eines Reifegrades, ausreicht. Eine annähernd punktförmige Schadstelle, z. B. einen Wurmstich, einen Schimmelflecken etc., bringt diese Vorrichtung jedoch nicht zur Anzeige, wodurch ihr Einsatzgebiet sehr eingeschränkt ist. Außerdem eignet sich die Vorrichtung nur für die optische Begutachtung von trockenen Objekten, da feuchte Oberflächen, je nach deren Winkellage zur Lichtquelle und dem Lichtempfänger, wegen der unterschiedlichen Reflexionen stark schwankende Signale liefern.Such a device is from DE 36 14 400 C1 known in which in particular agricultural products such as peas, Beans or the like isolated on an optical test device are passed by, whose product defects Detection signal a downstream product switch controls, thereby controlling faulty objects will. In the optical test device, the isolated objects from around the transport route distributed light sources illuminated. That of the Test objects reflecting light is assigned by Light receivers added and converted photoelectrically evaluated with regard to impermissible signal sequences. The for Lighting related incandescent bulbs provide one Global lighting of the objects, and the light receivers also grasp the object as a whole a background adapted to the average object, so that the received signals are only a global statement about the optical properties of a product yield what only for a rough assessment, e.g. B. a degree of maturity, is sufficient. An approximately punctiform damaged area, e.g. B. a worm bite, a mold patch, etc., brings this Device, however, not for display, causing her Area of application is very limited. It is also suitable the device only for the optical assessment of dry objects, since damp surfaces, depending on their Angular position to the light source and the light receiver, because of of the different reflections fluctuating strongly Deliver signals.

Weiterhin ist eine optische Prüf- und Sortiervorrichtung bekannt, bei der die vereinzelten Objekte jeweils schräg von oben mit mehreren elektronischen Kameras mit elektrooptischen Zeilenumsetzern, sogenannten CCD-Arrays, mit hoher Geschwindigkeit abgetastet und deren Signale bezüglich vorgegebener Grenzwerte ausgewertet werden. Dies ermöglicht wegen der beschränkten Schärfentiefe der Kameraobjektive jedoch nur die genaue Erfassung kleiner Objekte mit annähernd gleichem Durchmesser oder gleicher Dicke, z. B. von Kartoffelstäbchen. Die Kameravorrichtungen und die Auswerteelektronik sind sehr aufwendig und kostspielig.Furthermore, an optical test and Sorting device known in which the isolated Objects each diagonally from above with several electronic cameras with electro-optical Line converters, so-called CCD arrays, with high Speed sampled and their signals regarding predefined limit values can be evaluated. This possible because of the limited depth of field Camera lenses, however, only capture the precise smaller Objects with approximately the same diameter or the same Thickness, e.g. B. of potato sticks. The camera devices and the evaluation electronics are very complex and expensive.

Weiterhin ist aus der DE 31 23 184 C2 eine Prüfvorrichtung bekannt, bei der ein radialer Laserstrahl axial zur Drehachse eines rotationssymmetrischen Prüfobjektes abgelenkt wird, das Objekt jeweils auf einer Drehvorrichtung zugeführt, dort beim Testen gehalten ist, wobei mehrere Reflexlichtempfänger bezüglich der verschiedenen Neigungen der Oberflächen des Objektes zum Laserstrahl verschieden ausgerichtet und axial versetzt um dieses angeordnet sind, deren elektrischen Signale einem Auswerteprozessor zugeführt sind, der abhängig von dem Auswerteergebnis ein Auswerfen des Objektes aus der Drehvorrichtung in verschiedene Ausgabeschächte ansteuert. Diese Vorrichtung eignet sich nur für in ihrer Gestalt genau vorgegebene Objekte und hat einen relativ geringen Durchsatz, da die Objekte einzeln erfaßt, gedreht und freigegeben werden müssen. Außerdem werden die achsennahen Bereiche nicht optisch erfaßt und bleiben somit ungeprüft. Es sind mehrere Photodioden für die Erfassung des Lichtes aus verschiedenen Abstrahlrichtungen erforderlich.Furthermore, DE 31 23 184 C2 is a test device known in which a radial laser beam axially Rotation axis of a rotationally symmetrical test object is distracted, the object in each case Rotary device fed, held there during testing, where several reflected light receivers with respect to different inclinations of the surfaces of the object to Laser beam differently aligned and axially offset this are arranged, the electrical signals one Evaluation processor are fed depending on the Evaluation result an ejection of the object from the Controls turning device in different output trays. This device is only suitable for in its shape precisely specified objects and has a relatively small Throughput since the objects are captured, rotated and individually must be released. In addition, the near-axis Areas are not optically recorded and therefore remain unchecked. There are several photodiodes for the detection of the light required from different radiation directions.

Weiterhin ist aus der DE 3 02 22 750 A1 eine optische Abtastvorrichtung für auf einem Band vorbeigeführte beleuchtete Objekte bekannt, wobei ein Bündel der vom Objekt reflektierten Strahlung über eine fokussierende und scannende optisch-mechanische Anordnung auf mehrere Reflexlichtempfänger, die für verschiedene Lichtwellenlängen empfindlich sind, geführt ist. Außerdem wird ein Teil des reflektierten Lichtes von Lichtleitfasern aufgenommen, deren eine Enden um das ausgewertete Lichtbündel angeordnet und mit einer Referenzfluoreszenzfarbe beschichtet sind und deren andere Enden auf eine Referenzphotozelle geführt sind, deren Signal als ein Farbreferenzsignal für die Auswertung der Signale der anderen Lichtempfänger dient. Diese Vorrichtung eignet sich nur zur Abtastung einer Objektseite und erfordert einen hohen mechanischen und optischen Aufwand sowie mehrere Photosensoren; trotzdem wird nur das Reflexlicht aus einer Richtung erfaßt.Furthermore, DE 3 02 22 750 A1 is an optical one Scanning device for passing on a tape Illuminated objects are known, with a bundle of those from Reflected radiation via a focusing and object scanning optical-mechanical arrangement on several Reflective light receivers for different Light wavelengths are sensitive, is guided. Furthermore becomes part of the reflected light from Optical fibers added, one end of which around the evaluated light beams arranged and with a Reference fluorescent paint are coated and their other Ends are guided to a reference photocell, the Signal as a color reference signal for the evaluation of the Signals from other light receivers are used. These Device is only suitable for scanning one Property side and requires a high mechanical and optical effort as well as several photo sensors; Nevertheless only the reflected light from one direction is detected.

Es ist Aufgabe der Erfindung, eine relativ einfache optische Prüf- und Sortiervorrichtung zu offenbaren, die Objekte stark unterschiedlicher Größe und unterschiedlicher Feuchtigkeit auch auf das Vorhandensein kleinflächiger Schadstellen unterschiedlicher Farbe sicher beurteilt und sortiert.It is an object of the invention to be a relatively simple one optical testing and sorting device to reveal the Objects of widely different sizes and different moisture also on the presence small areas of damage of different colors safely assessed and sorted.

Die Lösung der Aufgabe besteht, ausgehend von der bekannten Vorrichtung, darin, daß die Lichtquellen durch jeweils einen Laserscanner gebildet sind, deren Ablenkebenen im wesentlichen senkrecht zu einer Objektfallrichtung liegen, und diese Laser-Lichtquellen zyklisch nacheinander jeweils etwa für eine Ablenkperiode einen Objekt-Umfangssektor erfassen und daß die Lichtempfänger Lichtleiterfasern eines Lichtleiterbündels sind, deren Enden einem opto- elektrischen Reflexlicht-Wandler zugeführt sind, dessen Ausgangssignal, das Reflexlichtsignal, der Steuervorrichtung zu dem Vergleich mit den Grenzwerten und einer weiteren Auswertung zugeführt ist, und daß um die Prüfzone allseitig ein Direktlichtempfänger in einer solchen Höhe angeordnet ist, daß die Laserscannerstrahlen stets auf diesen treffen, wenn sie kein Objekt treffen, und daß dieser Direktlichtempfänger auf einen opto- elektrischen Direktlichtwandler führt, dessen Direktlichtsignal der Steuervorrichtung zugeführt ist.The solution to the problem, starting from the known device, is that the light sources are each formed by a laser scanner, the Deflection planes essentially perpendicular to one Object drop direction, and these laser light sources cyclically one after the other for about a deflection period an object perimeter sector and that the Light receiver fiber optic one Are fiber optic bundles, the ends of which are optically Electric reflective transducers are supplied, the Output signal, the reflected light signal, the Control device for comparison with the limit values and a further evaluation is supplied, and that around the A direct light receiver in one on all sides of the test zone is arranged in such a height that the laser scanner beams always hit them when they don't hit an object, and that this direct light receiver on an opto leads direct electric light converter, whose Direct light signal of the control device is supplied.

Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den Unteransprüchen angegeben.Advantageous configurations are in the subclaims specified.

Die Vorrichtung gestattet die optische Beurteilung von Objekten unterschiedlichen Durchmessers und unterschiedlicher Gestalt mit hoher Auflösung, da deren gesamte Oberfläche während des Passierens mit relativ dünnen Laserstrahlen geringer Dispersion eng beabstandet zeilenförmig abgetastet wird.The device allows the optical assessment of Objects of different diameters and different shape with high resolution because of their entire surface while passing with relative thin laser beams of low dispersion closely spaced is scanned in a line.

Weiterhin gestattet die Licht-Empfängervorrichtung, die aus sehr vielen unter verschiedenen Winkeln zur Objektoberfläche und zu den Laserstrahlen orientierten Lichtleiterenden besteht, die das empfangene Licht gebündelt zu einem elektro-optischen Wandler führen, die Beurteilung von trockenen und feucht-glänzenden Oberflächen, da die so bewirkte Mittelung des reflektierten Lichtes über viele Strahlungsrichtungen störende Glanzeffekte beseitigt. Furthermore, the light receiver device allows the from very many at different angles Object surface and oriented towards the laser beams Fiber optic ends, which is the received light bundled to lead to an electro-optical converter that Assessment of dry and moist-shiny Surfaces, since the averaging of the reflected light over many radiation directions annoying gloss effects eliminated.

Die Beurteilung von unterschiedlich großen Objekten wird dadurch erleichtert, daß die Steuerung der Signalauswertung so geschieht, daß direktes Laserlicht, das bei nicht vorhandenem Objekt auf der dem Laser gegenüberliegenden Seite auftritt, mit gesonderten Lichtempfängermitteln erfaßt wird und die Auswertung des reflektierten Lichtes bezüglich der Auswertezeit und der Auswerteschwellen abhängig von den Signalen des so erfaßten Lichtes gesteuert ist.The assessment of objects of different sizes will thereby facilitated that the control of the Signal evaluation happens so that direct laser light, if there is no object on the laser opposite side occurs, with separate Light receiver means is detected and the evaluation of the reflected light with respect to the evaluation time and the Evaluation thresholds depending on the signals of the so detected light is controlled.

Die opto-elektrischen Umsetzer bestehen wegen der Zusammenführung des reflektierten Lichtes und auch des direkten Lichtes mit getrennten Glasfaserbündeln aus je einer Photodiode, so daß eine sehr einfache serielle Signalauswertung der beiden Photodiodensignale möglich ist.The opto-electrical converters exist because of Merging the reflected light and also the direct light with separate glass fiber bundles from each a photodiode, making it a very simple serial Signal evaluation of the two photodiode signals possible is.

Die hohe Geschwindigkeit moderner elektronischer Mittel gestattet es, die Laser, die jeweils umfangsmäßig einen Winkelsegmentbereich des Objektes erfassen, nacheinander zyklisch zu aktivieren, wodurch Überschneidungen von Reflexlicht verschiedener Laserstrahlen bei der Auswertung nicht auftreten und nur ein einziger Auswerte- Elektronikkanal für die nacheinander auftretenden Zeilensegmentsignale, die die einzelnen Laser nacheinander erzeugen, benötigt wird.The high speed of modern electronic means allows the lasers, each circumferentially one Capture the angular segment area of the object, one after the other to activate cyclically, thereby overlapping Reflected light from various laser beams during evaluation do not occur and only a single evaluation Electronics channel for the successive Line segment signals that the individual lasers successively generate is needed.

Die Beurteilung des reflektierten Lichtes eines Prüflings wird durch eine mehrfache Analyse der gewonnenen Signalsequenzen, die einem Objekt zuzuordnen sind, vorgenommen. Vorzugsweise sind die dabei jeweils den Verhältnissen gemäß folgende Parameter vorzugeben: Ein Helligkeitsdurchlaßbereich, dessen oberer und unterer Helligkeitsgrenzwert einstellbar ist, eine untere zulässige Defektsignallänge in einer Zeilensegmentlänge, eine obere zulässige Anzahl von Zeilensegmenten mit einem Defektsignal bei einem Objekt, eine obere zulässige Anzahl von Defekten pro vorgegebener Objektzeilenlänge und eine maximale Defektsignallängensumme pro vorgegebener Objektzeilenlänge. Ein Defekt am Objekt ergibt bei der zeilenmäßigen Abtastung ein Signal außerhalb der zulässigen Helligkeitsgrenzwerte, also ein Defektsignal.The assessment of the reflected light of a test object is obtained through a multiple analysis of the Signal sequences that can be assigned to an object, performed. They are preferably each Specify ratios according to the following parameters: On Brightness pass band, its upper and lower Brightness limit is adjustable, a lower one permissible defect signal length in a line segment length, an upper allowed number of line segments with a Defect signal for an object, an upper permissible number of defects per given object line length and one maximum defect signal length sum per given Object row length. A defect in the object results in the line scan a signal outside of permissible brightness limit values, i.e. a defect signal.

Es ist vorteilhaft vorgesehen, die Laser und die Ablenkvorrichtungen der Laserstrahlen mit gereinigter Luft ständig in Richtung auf die Fördervorrichtung zu durchspülen, so daß neben dem Kühleffekt ein Reinigungseffekt erreicht wird, der Staubablagerungen im Strahlengang verhindert.It is advantageously provided that the laser and the Deflection devices of the laser beams with cleaned air constantly towards the conveyor rinse so that in addition to the cooling effect Cleaning effect is achieved, the dust deposits in the Beam path prevented.

In einer einfachen Ausführung ist es vorgesehen, nur einen Laser mit einer Ablenkvorrichtung und mehreren Ablenkspiegeln um den Objektbereich in verschiedenen Winkeln anzuordnen, so daß die verschiedenen Winkelsegmente nacheinander entweder direkt oder durch die Ablenkung durch jeweils einen der Spiegel laserstrahlmäßig beaufschlagt werden.In a simple version, only one is provided Laser with one deflector and several Deflecting mirrors around the object area in different Arrange angles so that the different Angular segments one after the other either directly or through the Deflection by means of one of the mirrors in the form of a laser beam be charged.

Die neuartige Vorrichtung ist besonders zur Gütebeurteilung und Sortierung von geschälten Objekten, insbes. Kartoffeln, geeignet. Sie ermöglicht es, die Kartoffel, ansatt wie bisher üblich auf eine Standardgröße stark herunter zu schälen, nur dünn zu schälen, so daß nur geringer Abfall anfällt, und die aussortierten Kartoffeln, die noch größere Fehlstellen oder tiefe Augen aufweisen, erneut der Schälvorrichtung zum Nachschälen zuzuführen, so daß eine optimale Kartoffelausnutzung stattfindet. Hierdurch wird außerdem der kostspielig zu entsorgende Schälabfall erheblich unter die üblichen 50% heruntergedrückt.The new device is especially for Quality assessment and sorting of peeled objects, especially potatoes, suitable. It enables the Potato, instead of a standard size, as usual peel down strongly, peel only thinly, so that only little waste and the sorted out potatoes, who have even larger imperfections or deep eyes, feed again to the peeling device for peeling, so that optimal potato utilization takes place. This also makes it expensive to dispose of Peeling waste significantly below the usual 50% depressed.

Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den Fig. 1 bis 7 dargestellt.Advantageous configurations are shown in FIGS. 1 to 7.

Fig. 1 zeigt eine Kartoffelschälanlage mit einer Prüf- und Sortieranlage im Kreislauf; Fig. 1 shows a potato peeling system with a testing and sorting system in the circuit;

Fig. 2 zeigt die Prüf- und Sortiervorrichtung, teilweise geöffnet; Fig. 2 shows the testing and sorting device, partially opened;

Fig. 3 zeigt einen Ausschnitt aus der Prüfvorrichtung; Fig. 3 shows a section of the test device;

Fig. 4 zeigt eine Vergrößerung eines Querschnitts einer Lichtleiterfaser zur Direktlichterfassung mit einem Strahlenverlaufschema; Fig. 4 shows an enlargement of a cross section of an optical fiber to direct light detection with an optical path diagram;

Fig. 5 zeigt einen Querschnitt eines Lichtleiterbandes, vergrößert; Fig. 5 shows a cross section of an optical fiber tape, enlarged;

Fig. 6 zeigt eine Aufsicht auf das Lichtleiterband in der Vorrichtung vergrößert mit Strahlenverlauf; Fig. 6 shows a plan view of the light guide tape in the device enlarged with the beam path;

Fig. 7 zeigt ein Blockschaltbild der Signalauswertevorrichtung. Fig. 7 shows a block diagram of the signal evaluation.

Fig. 1 zeigt eine Schälvorrichtung (1) bekannter Art, die auf dünnes Schälen eingestellt ist. In den Zuführtrichter (10) wird Rohware (A) eingebracht. Die geschälten Kartoffeln (B) verlassen die Schälvorrichtung (1) an der anderen Seite, von wo sie mit dem Elevator (11) abtransportiert und durch eine Vereinzelerschleuse (12) geleitet werden und nacheinander von oben dem Einlaß (20) der Prüf- und Sortiervorrichtung (2) zugeführt werden. Diese weist untenseitig einen ersten direkten Auslaß (21) auf, durch den die akzeptierten geschälten Kartoffeln (D) austreten, und einen zweiten, gesteuert beschickten Auslaß (22) auf, dem ein Förderer (23) nachgeschaltet ist, der die aussortierten Kartoffeln (C) in den Zuführtrichter (10) der Schälmaschine (1) befördert, wo ein Nachschälen erfolgt. Fig. 1 shows a peeling device ( 1 ) of known type, which is set to thin peeling. Raw material (A) is introduced into the feed hopper ( 10 ). The peeled potatoes (B) leave the peeling device ( 1 ) on the other side, from where they are removed by the elevator ( 11 ) and passed through a separating lock ( 12 ) and successively from above the inlet ( 20 ) of the testing and sorting device ( 2 ) can be fed. This has on the underside a first direct outlet ( 21 ) through which the accepted peeled potatoes (D) exit, and a second, controlled feed outlet ( 22 ), which is followed by a conveyor ( 23 ), which the sorted out potatoes (C ) in the feed hopper ( 10 ) of the peeling machine ( 1 ), where there is a subsequent peeling.

Fig. 2 zeigt die Prüf- und Sortiervorrichtung (2) teilweise geöffnet und geschnitten. Die Objekte, die Kartoffeln (B), die optisch zu beurteilen sind, fallen aus dem Einlaß (20) im freien Fall durch die Prüfzone (PZ) und von dort in die Sortierzone (SZ), von wo die Kartoffeln bei guter Beurteilung weiterfallen und zum Auslaß (21) rollen oder durch gesteuert betriebene Blasdüsen (5) abgelenkt in den zweiten Auslaß (22) fallen und dort herausrollen. Fig. 2 shows the testing and sorting device ( 2 ) partially opened and cut. The objects, the potatoes (B), which are to be assessed optically, fall from the inlet ( 20 ) in free fall through the test zone (PZ) and from there into the sorting zone (SZ), from where the potatoes continue to fall if judged well and roll to the outlet ( 21 ) or, deflected by controlled blow nozzles ( 5 ), fall into the second outlet ( 22 ) and roll out there.

Um die Prüfzone (PZ) ist ein flaches, ringförmiges, innen offenes Gehäuse (6, 61, 62) angeordnet, an dessen äußerer Ringwandung (6) umfangsmäßig gleich verteilt mehrere Laserscanner (4) angeordnet sind, deren alternierend austretende Laserstrahlen (E11, E12, E2, E3) durch schmale Schlitze (40) in den Ringinnenraum eintreten und den Zentralbereich in der Prüfzone (PZ) fächerartig überdeckend, horizontal pendelnd überstreichen, so daß die Prüflinge (B) insgesamt allseitig abgetastet werden.A flat, ring-shaped housing ( 6 , 61 , 62 ) is arranged around the test zone (PZ), on the outer ring wall ( 6 ) of which a plurality of laser scanners ( 4 ) are arranged, equally distributed over the circumference, the alternating laser beams (E11, E12 , E2, E3) enter the ring interior through narrow slits ( 40 ) and cover the central area in the test zone (PZ) in a fan-like manner, sweep horizontally, so that the test specimens (B) are scanned on all sides.

Zur Aufnahme des vom Prüfling (B) jeweils reflektierten Laserlichtes sind ringsum an der Ringwandung (6) die Stirnseiten (3) von Lichtleitern radial angeordnet. Die Lichtleiter sind nach außen geführt und verlaufen zu einem Lichtleiterbündel (30) gesammelt in eine Auswerte- und Steuervorrichtung (ST).The end faces ( 3 ) of light guides are arranged radially all around on the ring wall ( 6 ) to receive the laser light reflected by the test object (B). The light guides are guided to the outside and run together to form a light guide bundle ( 30 ) in an evaluation and control device (ST).

Weiterhin ist entlang der Ringwandung (6) ein Lichtleiterflachband (9) umlaufend angeordnet, das so angeordnet ist, daß das Laserlichtbündel (E11, E12, E2, E3) jeweils dann direkt darauffällt, wenn sich kein Prüfling (B) im Strahlengang befindet, d. h. wenn überhaupt kein Prüfling in der Prüfzone (PZ) ist oder der Laserstrahl gerade so weit seitlich abgelenkt ist, daß er an dem gerade vorhandenen Prüfling vorbei läuft, wie das bei dem Laserstrahl (E11, E12), der bis zum Fächerrand ausgelenkt ist, stets der Fall ist. Auch der Flachbandlichtleiter (9) ist endseitig zu einem Lichtleiterbündel (90) zusammengefaßt und der Steuervorrichtung (ST) zugeführt.Furthermore, a light guide flat band ( 9 ) is arranged all around the ring wall ( 6 ), which is arranged in such a way that the laser light beam (E11, E12, E2, E3) falls directly on it when there is no test object (B) in the beam path, ie if there is no test object in the test zone (PZ) at all or the laser beam is deflected sideways to such an extent that it passes the test object just present, as is always the case with the laser beam (E11, E12), which is deflected to the edge of the fan the case is. The flat ribbon light guide ( 9 ) is also combined at the end to form a light guide bundle ( 90 ) and fed to the control device (ST).

Die Steuervorrichtung (ST) steuert ihrerseits die Laserscanner (4) zyklisch an, und sie steuert die Ventile (50) der mit Druckluft (P) gespeisten Blasdüsen (5) an.The control device (ST) in turn controls the laser scanners ( 4 ) cyclically, and it controls the valves ( 50 ) of the blowing nozzles ( 5 ) fed with compressed air (P).

Fig. 3 zeigt einen vergrößerten Ausschnitt der Prüfvorrichtung, teilweise geöffnet. Der Laserscanner (4) besteht aus einer Laserdiode (7), deren Laserstrahl (E1), über einen elektromagnetisch gesteuerten periodisch verschwenkten Spiegel (8) abgelenkt, durch einen horizontalen Schlitz (40) in der Ringwandung (6) in den Ringraum eintritt. Der Ringraum ist durch eine Bodenplatte (62) und eine Deckplatte (61) weitgehend geschlossen, und es sind darin nur Öffnungen für den seriellen Durchtritt der Prüfobjekte. Die Ringwandung (6) weist stirnseitig innen umlaufende Stufungen (63, 64) auf, in denen die Deck- und Bodenplatte (61, 62) zentriert gehalten sind. Fig. 3 shows an enlarged section of the test device, partially opened. The laser scanner ( 4 ) consists of a laser diode ( 7 ), the laser beam (E1), deflected by an electromagnetically controlled periodically pivoted mirror ( 8 ), enters the annular space through a horizontal slot ( 40 ) in the ring wall ( 6 ). The annular space is largely closed by a base plate ( 62 ) and a cover plate ( 61 ), and there are only openings in it for the serial passage of the test objects. The ring wall ( 6 ) has on the inside on the inside circumferential steps ( 63 , 64 ) in which the top and bottom plates ( 61 , 62 ) are kept centered.

Die Ringwandung (6) weist außenseitig eine umlaufende Nut (65) auf, in der das Lichtleiterbündel (30) geführt ist, und von wo aus die Lichtleiterenden (3) durch Bohrungen (66) in den Ringinnenraum verzweigt sind. Auf dem gesamten Umfang der Ringwandung (6) sind 50 bis 100 Lichtleiterenden (3) gleichverteilt angeordnet, so daß jeweils am Objekt in sehr verschiedene Richtungen gestreutes Licht die verschiedenen Lichtleiterenden (3) trifft und durch das Lichtleiterbündel (30) zusammengeführt wird.The outside of the ring wall ( 6 ) has a circumferential groove ( 65 ) in which the light guide bundle ( 30 ) is guided and from where the light guide ends ( 3 ) are branched into the ring interior through bores ( 66 ). On the entire circumference of the ring wall ( 6 ) 50 to 100 light guide ends ( 3 ) are arranged evenly distributed, so that light scattered in very different directions on the object hits the different light guide ends ( 3 ) and is brought together by the light guide bundle ( 30 ).

Im Bereich der direkten Laserlicht-Strahlengänge (E3) ist oberhalb der Lichtleiterenden (3) das Lichtleiterband (9) umlaufend angeordnet. Die Lichtleiter des Bandes (9) sind so dicht benachbart zueinander angeordnet und haben einen so geringen Durchmesser, daß der Laserstrahl stets, wenn er kein Prüfobjekt trifft, mindestens einen Lichtleiter des Bandes (9) trifft.In the area of the direct laser light beam paths (E3), the light guide strip ( 9 ) is arranged all around the light guide ends ( 3 ). The light guides of the band ( 9 ) are so closely adjacent to each other and have such a small diameter that the laser beam always hits at least one light guide of the band ( 9 ) when it does not hit a test object.

Fig. 4 zeigt den schematisierten Strahlenverlauf in einer Lichtleiterfaser (91) des Lichtleiterbandes. Der Laserstrahl (E) durchdringt die Lichtleiterfaser (91) von der Seite und wird von deren Zylinderlinsenwirkung fokussiert. Der Focus (F) liegt auf der anderen Seite der Faser (91) auf der Ringwandung (6). Im Bereich des Strahlenaustritts aus der Faser (91) ist diese durch einen Anschliff (S) angerauht, so daß von innen auftreffendes Licht als Streulicht (ES) dort verteilt wird und ebenso von der reflektierenden Ringwandung (6) zurückkommendes Licht als Streulicht (ES) in die Lichtleiterfaser (91) verteilt wird. Fig. 4 shows the schematic beam path in an optical fiber ( 91 ) of the optical fiber ribbon. The laser beam (E) penetrates the optical fiber ( 91 ) from the side and is focused by its cylindrical lens effect. The focus (F) is on the other side of the fiber ( 91 ) on the ring wall ( 6 ). In the area of the radiation exit from the fiber ( 91 ), this is roughened by a bevel (S), so that light incident on the inside is distributed there as scattered light (ES) and light coming back from the reflecting ring wall ( 6 ) is also distributed as scattered light (ES) is distributed in the optical fiber ( 91 ).

Fig. 5 zeigt einen Ausschnitt des Lichtleiterbandes (9), vergrößert, im Querschnitt mit den schematisierten Nutzstrahlenverläufen des Laserstrahls (E) . Die einzelnen Lichtleiterfasern (91, 92, 93, 94) sind durch schmale Haltestege (95) miteinander verbunden und somit in definiert kurzem Abstand zueinander gehalten. Fig. 5 shows a section of the light guide tape ( 9 ), enlarged, in cross section with the schematic useful beam profiles of the laser beam (E). The individual light guide fibers ( 91 , 92 , 93 , 94 ) are connected to one another by narrow holding webs ( 95 ) and are thus held at a defined short distance from one another.

Fig. 6 zeigt eine Aufsicht auf das Lichtleiterband (9), vergrößert, mit dem Nutzstrahlengang. Das einfallende Laserlicht (E) und das von der Ringwandung (6) reflektierte Licht ist von dem Anschliff (S) der Faser teilweise so flach gestreut als Streulicht (SL) in die Faser abgegeben, daß der Winkel der Totalreflexion an der Faserwand unterschritten ist und eine Lichtleitung zu den Enden des Lichtleiters (91) erfolgt, wo das dort ankommende Licht ausgewertet wird. Fig. 6 shows a plan view of the light guide tape ( 9 ), enlarged, with the useful beam path. The incident laser light (E) and the light reflected from the ring wall ( 6 ) is partially scattered so flat as scattered light (SL) into the fiber by the bevel (S) of the fiber that the angle of total reflection on the fiber wall is below and light is guided to the ends of the light guide ( 91 ), where the light arriving there is evaluated.

Fig. 7 zeigt in einem Blockschaltbild die Steuervorrichtung (ST). Diese besteht aus einem programmgesteuerten Mikroprozessor (MP), der elektrische Schaltkreise über einen Adreßbus (AB) ansteuert und über einen Datenbus (DB) den jeweils angesteuerten Schaltkreis mit Daten versorgt oder Daten von diesen aufnimmt. Die zum Mikroprozessor (MP) externen Schaltkreise sind bei heute üblichen Verarbeitungsgeschwindigkeiten vorzusehen, um eine ausreichende Verarbeitungsgeschwindigkeit zu erreichen, die bei einer eingehenden Begutachtung frei fallender Objekte (B) zu erbringen ist. Sind schnellere Mikroprozessoren (MP) zu erschwinglichen Preisen erhältlich, so können die Funktionen der externen Schaltkreise ganz oder teilweise auch unmittelbar in solchen Prozessoren ausgeführt werden. Fig. 7 shows the control device (ST) in a block diagram. This consists of a program-controlled microprocessor (MP), which controls electrical circuits via an address bus (AB) and supplies the respective controlled circuit with data or receives data from it via a data bus (DB). The circuits external to the microprocessor (MP) are to be provided at the processing speeds which are customary today in order to achieve a sufficient processing speed which is to be achieved with an in-depth inspection of freely falling objects (B). If faster microprocessors (MP) are available at affordable prices, the functions of the external circuits can also be carried out in whole or in part directly in such processors.

Die zeitliche Steuerung des Funktionsablaufes in der Steuervorrichtung (ST) erfolgt durch einen elektronischen Uhrtaktgeber (CL). Dieser steuert einen Zeittaktzähler (CT), dessen obere Stellen über einen Decoder (D1) die vier Laser (L1-L4) nacheinander ansteuern.The timing of the functional sequence in the Control device (ST) is done by an electronic Clock clock (CL). This controls a time counter (CT), the upper digits of which via a decoder (D1) Control four lasers (L1-L4) in succession.

Ist kein Objekt (B) im Laserstrahlengang, so wird das direkte Laserlicht durch das Lichtleiterband (9) aufgenommen und durch das davon abgehende Lichtleiterbündel (90) auf einen Direktlichtempfänger (DL) geleitet und dort opto-elektrisch gewandelt und in einem ersten Verstärker (V1) verstärkt. Das so gewonnene Direktlichtsignal (DL) wird in einem ersten Schwellwert- Vergleicher (S1) ausgewertet, der beim Ausbleiben des Direktlichtes Lückensignale (L1, L2) abgibt, die also das Vorhandensein eines Objektes (B) im Laserstrahlverlauf signalisieren.If there is no object (B) in the laser beam path, the direct laser light is picked up by the light guide band ( 9 ) and passed through the light guide bundle ( 90 ) going to a direct light receiver (DL), where it is opto-electrically converted and in a first amplifier (V1 ) reinforced. The direct light signal (DL) obtained in this way is evaluated in a first threshold value comparator (S1), which emits gap signals (L1, L2) when the direct light is absent, which signals the presence of an object (B) in the laser beam path.

Ist ein Objekt (B) im Laserstrahlverlauf vorhanden, so entsteht Reflexlicht, das über das Lichtleiterbündel (30) aufgefangen und dem Reflexlichtempfänger (RL) zugeführt wird, dessen opto-elektrisch gewandeltes Signal in einem zweiten Verstärker (V2) verstärkt wird und dann auf einen zweiten Schwellwertvergleicher (S2) mit einem vorgegebenen oberen und einem unteren Schwellwert (SO, SU) verglichen wird. Diese jeweils vorzugebenden Schwellwerte (SO, SU) werden von dem Mikroprozessor (MP) über den Datenbus (DB) nacheinander an einen Digital-Analogwandler gegeben, dessen analogen Ausgangssignale in zwei Halteschaltungen (H1, H2) gespeichert werden, und von dort dem zweiten Schwellwertvergleicher (S2) zugeführt werden. Das Ausgangssignal des zweiten Vergleichers (S2) ist ein Fehlstellensignal (SF), das angibt, daß der zwischen den vorgegebenen Grenzwerten (SO, SU) liegende zulässige Helligkeitsbereich unter- oder überschritten ist.If an object (B) is present in the laser beam path, reflected light is generated, which is collected via the light guide bundle ( 30 ) and fed to the reflected light receiver (RL), whose opto-electrically converted signal is amplified in a second amplifier (V2) and then to one second threshold value comparator (S2) is compared with a predetermined upper and a lower threshold value (SO, SU). These respective threshold values (SO, SU) to be specified are successively given by the microprocessor (MP) via the data bus (DB) to a digital-to-analog converter, the analog output signals of which are stored in two holding circuits (H1, H2), and from there the second threshold value comparator (S2) are supplied. The output signal of the second comparator (S2) is a defect signal (SF) which indicates that the permissible brightness range between the predetermined limit values (SO, SU) is under or exceeded.

Liegt das Lückensignal (L2) und das Fehlstellensignal (SF) vor, so wird ein Zählvorgang in einem Zähler (CT1) freigegeben, dessen Zählerinhalt (Z) somit ein Maß für die Größe der Fehlstellen ist. Der Zählerinhalt (Z) wird gesteuert durch den Mikroprozessor (MP), über eine Rechnereinheit (ALU) mit in einem Registerblock (R1) abgespeicherten, vorgegebenen Vergleichswerten verglichen. Bei einer dabei festgestellten Grenzwertüberschreitung gibt der Mikroprozessor (MP) Steuersignale an die Weichensteuerung (50).If the gap signal (L2) and the defect signal (SF) are present, a counting process is released in a counter (CT1), the counter content (Z) of which is therefore a measure of the size of the defects. The counter content (Z) is controlled by the microprocessor (MP) and compared via a computer unit (ALU) with predetermined comparison values stored in a register block (R1). If the limit value is exceeded, the microprocessor (MP) sends control signals to the switch control ( 50 ).

Es ist vorgesehen, daß geprüft wird, ob entweder eine einzelne Fehlstelle eine Maximallänge überschreitet oder ob die Anzahl der Fehlstellen oder ob die Summe der Fehlstellenlängen eines Objektes oder eines Segmentes, die bei einem einzelnen Abtastvorgang eines der Laserstrahlen ermittelt wurden, weitere zugeordnete obere Grenzwerte überschreiten. Das Vorliegen eines Objektes bei einer Segmentabtastung wird dabei jeweils durch den Anfang und das Ende des Lückensignales (L1) an den Mikroprozessor (MP) gemeldet.It is envisaged that a check will be made as to whether either single defect exceeds a maximum length or whether the number of defects or whether the sum of the Defect lengths of an object or a segment, the one of the laser beams in a single scan were determined, further assigned upper limit values exceed. The presence of an object at a Segment scanning is in each case by the beginning and the end of the gap signal (L1) to the microprocessor (MP) reported.

Die beschriebenen Funktionen dieser Schaltungsanordnung lassen sich statt mit einer Rechnereinheit (ALU) und einem Registerblock (R1) auch mit voreinstellbaren Zählern ausführen, die jeweils mit den oberen Grenzwerten geladen werden und nach einem Herunterzählen während des Fehlstellensignales bei einem Nulldurchgang ein vom Mikroprozessor (MP) abfragbares Signal liefern.The described functions of this circuit arrangement can be used instead of one computer unit (ALU) and one Register block (R1) also with presettable counters run, each loaded with the upper limits and after counting down during the Void signals at a zero crossing on from Microprocessor (MP) deliver interrogable signal.

Der Mikroprozessor (MP) ist zur Eingabe der Grenzwerte und Vergleichswerte und des Programmes mit einer Eingabevorrichtung (E) in bekannter Weise verbunden und mit einem Programm- und Datenspeicher ausgerüstet. Hierdurch läßt sich die Vorrichtung mühelos auf das jeweils zu prüfende Gut und die Prüfbedingungen anpassen.The microprocessor (MP) is used to enter the limit values and Comparative values and the program with one Input device (E) connected in a known manner and equipped with a program and data memory. This allows the device to effortlessly on the adjust the goods to be tested and the test conditions.

Die Direktlichterfassung und die Streulichterfassung lassen sich auch jeweils mit gleichartigen Lichtleitervorrichtungen, insbesondere mit einem Lichtleiterband vornehmen. Da das Direktlicht eine höhere Lichtausbeute am Empfänger erbringt als das Streulicht, kann das Lückensignal auch aus dem gleichen Empfängersignal wie das Fehlstellensignal gewonnen werden, indem das Empfängersignal einem weiteren Schwellwertschalter mit einer hohen Schwellspannung zugeführt wird. Hierdurch ist nur ein Lichtleiterband und ein opto-elektrischer Wandler erforderlich.Direct light detection and scattered light detection can also be used with similar types Optical fiber devices, in particular with a Make fiber optic tape. Because the direct light is a higher Luminous efficacy at the receiver provides as the scattered light, the gap signal can also come from the same Receiver signal like the defect signal are obtained, by adding the receiver signal to another Threshold switch with a high threshold voltage is fed. As a result, there is only one light guide tape and an opto-electrical converter required.

Weiterhin läßt sich eine Abtastung des gesamten Objektumfanges mit einer reduzierten Anzahl von Laserscannern vornehmen, wenn in einem Teilbereich der Scannerablenkung, der neben der Prüfzone liegt, ein Spiegel angeordnet ist, der den Laserstrahl auf ein anderes Umfangssegment des Objektes lenkt. Auch beidseitig der Prüfzone lasen sich Umlenkspiegel anordnen, so daß bei einem Scannerablenkzyklus das Objekt aus drei verschiedenen Grundrichtungen fächerartig abgetastet wird.Furthermore, a scan of the entire Object scope with a reduced number of Make laser scanners if in a partial area of the Scanner distraction, which is next to the test zone A mirror is arranged that the laser beam on a directs another circumferential segment of the object. Also on both sides the test zone can be arranged deflecting mirror, so that at one scanner deflection cycle the object of three different basic directions are scanned in a fan-like manner.

Die Ansteuerung der Scanner-Ablenkspiegel erfolgt vorzugsweise mit linear steigenden und fallenden Strömen in Galvanometerspulen, so daß ein etwa linearer Zusammenhang zwischen der Dauer eines Fehlstellensignales und der Ausdehnung einer Fehlstelle besteht. Demgemäß erbringt die Zählung der Zeitimpulse während der Dauer eines Fehlstellensignales ein Zählergebnis, das der Fehlstellengröße direkt entspricht. Wird keine lineare Ablenkung gewählt sondern eine sinusförmige, so empfiehlt es sich, zur Eingrenzung des Linearitätsfehlers die Auslenkung so weit vorzunehmen, daß nur der mittlere, einigermaßen lineare, Bereich die Prüfzone durchschneidet. Die Ablenkgeschwindigkeit wird zweckmäßig so gewählt, daß eine allseitige Objektabtastung, also die gesamte zyklische Folge aller Laserabtastungen, in einer Zeit erfolgt, in der das Prüfobjekt die Fallstrecke in der Prüfzone um eine Laststrahldicke durchlaufen hat. Die Abtaststreifen schließen dadurch aneinander an. The scanner deflection mirror is activated preferably with linearly rising and falling currents in galvanometer coils, so that an approximately linear Relationship between the duration of a defect signal and the expansion of a defect exists. Accordingly provides the counting of the time impulses during the duration of a defect signal is a count result that the Defect size corresponds directly. Will not be a linear Distraction chosen but a sinusoidal one, so recommends it to limit the linearity error Deflection so far that only the middle, reasonably linear, area the test zone cuts through. The deflection speed becomes appropriate chosen so that an all-round object scanning, that is entire cyclic sequence of all laser scans, in one Time in which the test object traverses the falling distance in the Has passed through a test zone by a load beam thickness. The In this way, scanning strips adjoin one another.

Alternativ zur sektorweisen Umschaltung der Laser kann auch eine Umschaltung derselben mit der Uhrfrequenz erfolgen, so daß umlaufend eine punktförmige Abtastung erfolgt, wobei die Punkte eines Lasers räumlich nebeneinander liegen, wenn der Ablenkweg während eines Laserfolgezyklus etwa dem Laserstrahldurchmesser entspricht. Diese Art der Laseransteuerung erfordert eine langsamere Strahlablenkfrequenz, was die Lebensdauer des Scanners erhöht. Die Auswertung der Fehlerstellensignale erfolgt dann in den einzelnen Lasern zugeordneten Zählern im Zeitmultiplex. Die so gewonnenen Zählerinhalte werden dann in der vorbeschriebenen Weise ausgewertet.As an alternative to switching sectors by sector, the laser can also switching them at the clock frequency take place, so that a punctiform scanning all around takes place, the points of a laser spatially lie side by side if the deflection path during a Laser sequence cycle about the laser beam diameter corresponds. This type of laser control requires one slower beam deflection frequency, which extends the life of the Scanners increased. The evaluation of the fault location signals then takes place in the counters assigned to the individual lasers in time multiplex. The counter contents thus obtained will be then evaluated in the manner described above.

Als vorteilhaft hat es sich erwiesen, die Abtastebenen der verschiedenen Laser in unterschiedlichen Richtungen gegen die Bewegungsrichtung der Objekte leicht geneigt und/oder gegen diese leicht versetzt anzuordnen. Dadurch ergibt sich eine günstige Erfassung der in der Bewegungsrichtung liegenden Stirnseiten des Objektes, da diese von mindestens einem Laser jeweils in einem schrägen Auftreffwinkel abgetastet werden.It has proven to be advantageous to use the scanning planes of the different lasers in different directions the direction of movement of the objects slightly inclined and / or to be arranged slightly offset against this. This gives a favorable detection of the direction of movement lying end faces of the object, since these of at least one laser each in a slant Impact angles are scanned.

Die Vorrichtung läßt sich auch leicht in fachmännischer Weise so ausgestalten, daß rollende Objekte optisch vollständig abgetastet werden, indem mindestens zwei Laseranordnungen in der Bewegungsrichtung der Objekte um etwa einen halben Objektumfang versetzt hintereinander angeordnet sind. Die Lichtempfänger oder zumindest die optoelektrischen Wandler werden für beide Anordnungen vorteilhaft gemeinsam genutzt, weshalb sämtliche Laser nacheinander angesteuert werden und die Lichtleiter zusammengeführt sind. Die Abtastanordnungen und die Lichterfassungen umschließen dabei nur einen Teilkreis von etwas über 180°.The device can also be easily and expertly Design in such a way that rolling objects optically be fully scanned by at least two Laser arrangements around in the direction of movement of the objects about half an object's circumference offset one behind the other are arranged. The light receiver or at least that optoelectric converters are used for both arrangements advantageously shared, which is why all lasers can be controlled one after the other and the light guides are merged. The scanning arrangements and the Light captures only enclose a partial circle of just over 180 °.

Claims

1. Apparatus for the optical checking and sorting of objects (B), in particular of foods, which are passed serially in free fall through a test zone (PZ), around which a plurality of light sources ( 4 ) and at least one reflected light receiver are arranged, the light signals of which are opto -Electrically converted in a control device (ST) with predetermined limit values (SO, SU) are compared, below or below which a control signal is generated in a microprocessor (MP) which acts on a sorting switch ( 5 ) which is below the test zone ( PZ) is arranged, characterized in that the light sources ( 4 ) are each formed by a laser scanner, the deflection planes of which are essentially perpendicular to an object drop direction, and these laser light sources ( 4 ) cyclically one after the other, approximately for one deflection period, an object circumference sector detect and that the light receiver ( 3 ) optical fibers of an optical fiber bundle ( 30 ), the ends of which are fed to an opto-electrical reflected light converter (RL), the output signal, the reflected light signal (RS), of the control device (ST) for comparison with the limit values (SO, SU) and a further evaluation , and that a direct light receiver ( 9 ) is arranged on all sides around the test zone (PZ) at such a height that the laser scanner beams (E11, E12; E2, E3) always meet them when they do not hit an object (B), and that this direct light receiver ( 9 ) leads to an opto-electrical direct light converter (DL), the direct light signal (DS) of which is supplied to the control device (ST).

2. Apparatus according to claim 1, characterized in that the optical fibers of the light guide bundle ( 30 ) are each directed radially to the test zone (PZ) with one fiber end ( 3 ) and these fiber ends ( 3 ) of the light guide bundle ( 30 ) circumferentially around the test zone (PZ ) are evenly distributed.

3. Apparatus according to claim 2, characterized in that the optical fiber bundle ( 30 ) consists of 50 to 100 optical fibers.

4. Apparatus according to claim 2 or 3, characterized in that the optical fiber or the fiber ends ( 3 ) are arranged in height adjacent to and outside the deflection plane of the laser scanner ( 4 ).

5. Device according to one of the preceding claims, characterized in that the laser light sources ( 4 ) are a plurality of laser scanners ( 4 ) which are controlled cyclically one after the other.

6. Device according to one of claims 1 to 4, characterized characterized in that the laser scanner light in a first Deflection area in the test zone (PZ) the existing one Object (B) in a first circumferential sector immediately scans and in at least one other deflection area, redirected over a mirror, another object Scans the circumferential sector in the test zone (PZ).

7. Device according to one of the preceding claims, characterized in that the direct light signal (DS) is fed to a first threshold switch ( 51 ) whose output signals as gap signals (L1, L2) a releasing control of the evaluation of the reflected light signal (RS) in the control device ( ST) serves.

8. The device according to claim 7, characterized in that the direct light receiver ( 9 ) consists of an optical fiber ribbon ( 9 ) made of optical fibers ( 91 - 94 ) which are arranged closely adjacent in parallel one above the other and a grinding side of a directly irradiated laser light (E) ( S) have.

9. The device according to claim 8, characterized in that the optical fibers ( 91 - 94 ) of the optical fiber tape ( 9 ) are held at such a distance from an annular housing ( 6 ) surrounding the latter that the optical fiber ( 91 - 94 ) focused direct incident laser light (E) is focused on the reflecting surface of the housing ( 6 ).

10. Device according to one of claims 7 to 9, characterized in that the optical fibers ( 91 - 94 ) have such a diameter and such a small distance that the directly incident laser beam (E) always at least one of the optical fibers ( 91 - 94 ) meets.

11. Device according to one of the preceding claims, characterized in that an annular housing ( 6 ) is arranged around the test zone (PZ), on the ring wall ( 6 ) the light guide bundles ( 30 , 90 ) are held on the outside and the light guide band ( 9 ) is held on the inside and the optical fiber ends ( 3 ) are guided radially through bores ( 66 ) in the ring wall ( 6 ).

12. The apparatus according to claim 11, characterized in that the laser scanners ( 4 ) are mounted on the outside of the ring wall ( 6 ) and the laser beams (E11, E12; E2, E3) are guided through horizontal slots ( 40 ).

13. The apparatus according to claim 12, characterized in that cooling air is blown into the housing of the laser scanner ( 4 ), which exits through the slots ( 40 ) into the test zone (PZ).

14. Device according to one of claims 11 to 13, characterized in that the housing ( 6 ) is closed by an annular cover ( 61 ) and an annular bottom ( 62 ) except for object passages to the test zone (PZ).

15. The apparatus according to claim 14, characterized in that the annular wall ( 6 ) has end steps ( 63 , 64 ) in which the lid ( 61 ) and the bottom ( 62 ) are held centering.

16. Device according to one of the preceding claims, characterized in that the reflected light signal (RS) with the specifiable upper limit (SO) and the specifiable lower limit value (SU) is compared in such a way that always then a defect signal (SF) from one Threshold comparator (S2) is given if that Reflected light signal (RS) outside one of the limit values (SO, SU).

17. The apparatus according to claim 16, characterized characterized in that when the defect signal (SF) and there is no direct light signal (DS), a counter (CT1) is counted with clock pulses, its counter content (Z) each by a microprocessor (MP) can be read out in a controlled manner and timed to each previously active laser (L1-L4) assigned to and from Register block (R1) in the respective active laser (L1- L4) assigned register is transferred.

18. The apparatus according to claim 17, characterized characterized in that the direct light signal (DS) in one Threshold value comparator (S1) with a predefinable one Threshold value is compared, when it falls below at least one gap signal (L1, L2) from the Threshold value comparator (S1) is given, which for Control of the counter (CT1) and control of the Evaluations by the microprocessor (MP) is used.

19. The apparatus of claim 17 or 18, characterized in that the counter content (Z) is compared to an exceeding a predetermined minimum size with this and if the microprocessor (MP) exceeds the sorting switch ( 5 ).

20. The apparatus according to claim 18, characterized in that the counter contents (Z) over a predetermined period in which the gap signal (L2) is present, are summed and this counter sum is compared in each case with a predetermined maximum value, the sorting switch ( 5th ) is acted upon by the microprocessor (MP).

21. The apparatus according to claim 18, characterized in that the number of defect signals (SF) is counted over a predetermined period in which the gap signal (L2) is present, and this number of defects is compared with a predetermined maximum number, when the sorting switch ( 5 ) is acted upon by the microprocessor (MP).

22. Device according to one of the preceding claims, characterized in that the scanning planes of the Laser beams, (E11, E2, E3) against the direction of movement the objects (B) are inclined and / or offset differently are arranged.

23. The device according to claim 22, characterized in that the objects (B) in front of and / or in the test zone (PZ) are guided in a rolling manner and at least two laser scanners ( 4 ) and light detection arrangements ( 3 , 9 ) in the direction of movement of the objects (B ) are arranged offset by about half the circumference of the object and that the laser scanners ( 4 ) and the light detection arrangements ( 3 , 9 ) each circumferentially enclose a pitch circle of over 180 °.

24. The device according to claim 23, characterized in that all laser scanners ( 4 ) are operated in time-division multiplex and the light detection arrangements ( 3 , 9 ) are brought together to only one optoelectric converter (RL, DL).

25. Device according to one of the preceding claims, characterized in that the laser scanners ( 4 ) are driven cyclically in succession with the clock cycle and the fault location signal (SF) accordingly with the individual laser scanners ( 4 ) assigned counters (CT1) and / or registers of the Register block (R1) is evaluated.

26. The apparatus according to claim 25, characterized in that the control of the laser scanner ( 4 ) takes place cyclically at least so quickly that the deflection of the laser beam (E11, E2, E3) has in the meantime progressed by at most the thickness of the laser beam.

27. Device according to one of the preceding claims, characterized in that it is connected to the outlet of a peeling device ( 1 ), which is particularly suitable for potatoes, via a separator ( 12 ) and an outlet ( 22 ) of the device behind the sorting switch ( 5 ) is connected to a peeling machine feed shaft ( 10 ).