DE4138018C1 - - Google Patents

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DE4138018C1
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Hans-Ulrich 2152 Horneburg De Cohrs
Wilfried 2150 Buxtehude De Meyer
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National Rejectors Inc 2150 Buxtehude De GmbH
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National Rejectors Inc 2150 Buxtehude De GmbH
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    • GPHYSICS
    • G07CHECKING-DEVICES
    • G07DHANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
    • G07D5/00Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of coins, e.g. for segregating coins which are unacceptable or alien to a currency
    • G07D5/06Testing the hardness or elasticity

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Münzprüfeinrichtung nach dem Oberbegriff von Patentanspruch 1.The invention relates to a coin checking device according to the preamble of claim 1.

Zur Unterscheidung von echten und falschen Münzen können verschiedene Münzeigenschaften wie Münzabmessung, Prägung, elektromagnetische Eigenschaften bestimmt werden. Darauf gerichtete Prüfeinrichtungen sind bekannt. Ein Problem stellt das Unterscheiden von nicht-ferromagnetischen Münz­ legierungen wie CuNi 25 und Blei bzw. Bleilegierungen dar. In diesem Fall kann das höhere Gewicht der Bleilegierungen als Unterscheidungskriterium herangezogen werden. Can distinguish between real and false coins different coin properties such as coin size, coinage, electromagnetic properties can be determined. Thereon Directional test facilities are known. A problem represents the distinction from non-ferromagnetic coin alloys such as CuNi 25 and lead or lead alloys. In this case, the higher weight of the lead alloys can be used as a distinguishing criterion.  

Aus der DE-OS 36 11 678 ist eine Vorrichtung bekannt, bei der eine Münze entlang einer vorbestimmten Strecke fällt und auf ein piezoelektrisches Element trifft, das mit einer Massenbestimmungseinrichtung verbunden ist, um die Masse der Münze aus deren Aufschlag auf das piezoelektrische Mittel zu bestimmen. Die Massenbestimmungseinrichtung weist einen Integrator auf zur Integration des Ausgangs­ signals des piezoelektrischen Elements und zur Erzeugung eines der Münzmasse proportionalen Signals. Zur Absorption des Münzaufpralls kann eine mit dem piezoelektrischen Element verbundene Aufprallabsorptionseinrichtung vorgesehen sein.From DE-OS 36 11 678 a device is known in which drops a coin along a predetermined distance and strikes a piezoelectric element that is connected to a Mass determination device is connected to the mass the coin from its impact on the piezoelectric To determine means. The mass determination device has an integrator for integrating the output signals of the piezoelectric element and for generation a signal proportional to the coin mass. For absorption The coin impact can be achieved with the piezoelectric element connected impact absorption device provided be.

Aus der DE-OS 38 40 400 ist bekannt geworden, die durch Anschlag oder Aufprall erzeugten Eigenschwingungen einer Münze zur Münzprüfung heranzuziehen. Die Frequenz der er­ zeugten Eigenschwingungen, die von verschiedenen Einfluß­ größen wie Gewicht, Dicke, Material, Prägung etc. abhän­ gen, wird im freien Fall der Münze durch ein Mikrophon ge­ messen und einer Elektronik zur Prüfung zugeleitet.From DE-OS 38 40 400 has become known through Impact or impact generated natural vibrations one Use the coin to check the coin. The frequency of the he witnessed natural vibrations of various influence sizes such as weight, thickness, material, embossing etc. depend gene, is in the free fall of the coin by a microphone ge measure and sent to electronics for testing.

Die Messung der Eigenschwingung der Münze kann mit einem Sensor, der die Aufschlagfläche darstellt, kombiniert wer­ den, so daß das Ausgangssignal des Sensors, der ein piezo­ elektrisches Element aufweisen kann, mit den anderen Münz­ informationen zur Münzerkennung dient. Unterschiedliche Münztypen können anhand verschiedener Spannungsspitzen sowie des Spannungsverlaufs des Ausgangssignals unterschieden werden. Derartige Prüfeinrichtungen mit Masse- und Reso­ nanzfrequenzbestimmung sind von der EP-A 03 18 229 und der EP-A 03 56 582 bekannt.The measurement of the natural vibration of the coin can be done with a Sensor, which represents the impact area, who combined the so that the output signal of the sensor, which is a piezo may have electrical element with the other coin  information for coin recognition. Different Coin types can be identified using different voltage peaks as well of the voltage curve of the output signal will. Such test facilities with mass and Reso nanzfrequency determination are from EP-A 03 18 229 and EP-A 03 56 582 known.

Nachteilig bei diesen bekannten Prüfeinrichtungen ist, daß Änderungen in der Fallhöhe oder der Geschwindigkeit der Münze die Meßergebnisse beeinträchtigen. Die in dem DE-GM 90 13 836 beschriebene Münzprüfeinrichtung sieht deshalb als Münz-Annahmekriterium vor, den Gradienten mindestens eines Teils des durch Aufprall einer Münze auf einen Füh­ ler erzeugten Ausgangssignals mittels einer Differenzier­ schaltung zu bestimmen und mit einem vorbestimmten Wert zu vergleichen. Dazu ist ein Energie absorbierendes Element vorgesehen, wobei das Material des Elementes so gewählt ist, daß der Impuls der Münze im wesentlichen absorbiert wird, um das Aufhüpfen der Münze zu verhindern. Der Auf­ prall der Münze auf das Element veranlaßt eine Schwingung nicht nur im Element selbst, sondern auch in den umgeben­ den Teilen der Prüfeinrichtung. Dies wird durch einen piezoelektrischen Fühler gemessen, wobei die Unterschei­ dung zwischen echter und falscher Münze aufgrund der Gra­ dientenbildung im wesentlichen nicht von der Größe des Stoßes der Münze auf das Element abhängig ist, so daß die Prüfeinrichtung den Vorteil hat, daß sie weniger auf die Fallhöhe anspricht, aus der eine Münze auf die Aufprall­ fläche prallt.A disadvantage of these known test facilities is that Changes in the fall height or the speed of the Coin affect the measurement results. The in the DE-GM 90 13 836 coin validation device therefore sees as a coin acceptance criterion, the gradient at least part of that by impacting a coin on a lead ler generated output signal by means of a differentiator circuit to determine and with a predetermined value to compare. This is an energy absorbing element provided, the material of the element chosen so is that the momentum of the coin essentially absorbs to prevent the coin from jumping up. The up impact of the coin on the element causes an oscillation not only in the element itself, but also in the surrounding the parts of the test facility. This is done by a Piezoelectric sensor measured, the difference between real and false coin due to the gra formation essentially did not depend on the size of the  The coin depends on the element, so that the Test facility has the advantage that it is less on the Fall height appeals from which a coin to the impact surface bounces.

Sowohl bei der zuletzt beschriebenen Prüfeinrichtung als auch bei den zuvor dargestellten Systemen ist das Annahme­ kriterium die Münzmasse und/oder die Münzeigenschaften, welche die Eigenschwingung der Münze beeinflussen. Diese gemeinsam erfaßten Eigenschaften sind unter anderem Ge­ wicht, Dicke, Größe und Material der Münze. Nachteilig ist, daß Münzfalsifikate, die gewichtsidentisch zu den be­ treffenden Originalen sind, nicht zuverlässig erkannt wer­ den können. Stimmen zudem die Dicke und der Durchmesser der Falschmünze mit einer echten Münze überein, ist eine Unterscheidung mit den bekannten Prüfeinrichtungen nicht mehr sicher gewährleistet.Both in the test facility described last as this is also the case with the systems described above criterion the coin mass and / or the coin properties, which affect the natural vibration of the coin. These jointly recorded properties include Ge weight, thickness, size and material of the coin. Disadvantageous is that counterfeit coins that are identical in weight to the be true originals are not reliably recognized who that can. The thickness and diameter are also correct the counterfeit coin with a real coin is one No distinction with the known test facilities more guaranteed.

In letzter Zeit treten immer häufiger Münzfalsifikate aus Blei/Zinnlegierungen auf, die Gewichtsidentität und even­ tuell auch Abmessungsidentität zu echten Münzen, die z. B. aus einer CuNi 25 Legierung bestehen, aufweisen, so daß im wesentlichen nur das Merkmal Härte zwischen Falsifikat und Original unterschiedlich ist. Coin false certificates have been issued more and more recently Lead / tin alloys, the weight identity and even Dimensional identity to real coins, which e.g. B. consist of a CuNi 25 alloy, so that in essential only the characteristic hardness between false and Original is different.  

Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, eine Münz­ prüfeinrichtung zur Härtebestimmung von Münzen zu schaf­ fen, die falsche und echte Münzen zuverlässig unterschei­ det, wobei die Härtemessung von den anderen Münzeigen­ schaften wie Gewicht, Durchmesser, Dicke oder Prägung nicht wesentlich beeinflußt wird.The invention is therefore based on the object of a coin Test device for determining the hardness of coins that reliably differentiate between false and real coins det, the hardness measurement from the other coins such as weight, diameter, thickness or embossing is not significantly influenced.

Diese Aufgabe wird gelöst durch die Merkmale des Patentan­ spruchs 1.This object is achieved by the features of the patent saying 1.

Die Münzprüfeinrichtung nach der Erfindung weist einen Sensor auf, an dem die Münze anschlägt, und eine Auswerte­ elektronik, wobei die Anschlagfläche des Sensors relativ hart ist. Die Kontaktdauer der Münze mit der Anschlag­ fläche des Sensors dient als Kriterium für die Härtebe­ stimmung, wobei die Auswerteelektronik den Zeitraum be­ stimmt, der zwischen dem Ursprungswert des Ausgangssignals des Sensors bei dem Anschlagen der Münze und einer Wieder­ annäherung des Ausgangssignals an den Ursprungswert liegt, und vergleicht diesen Zeitraum mit einem vorgegebenen Wert.The coin checking device according to the invention has one Sensor on which the coin strikes and an evaluation electronics, the stop surface of the sensor relative is hard. The duration of contact of the coin with the stop The surface of the sensor serves as a criterion for the hardness level mood, the evaluation electronics be the period true between the original value of the output signal of the sensor when the coin is struck and again approximation of the output signal to the original value, and compares this period with a given value.

Es wurde erkannt, daß der Zeitraum, der sich aus dem An­ schlagzeitpunkt der Münze an dem Sensor und dem Zeitpunkt des Abspringens der Münze von dem Sensor ergibt, ein zu­ verlässiges Maß für die Münzhärte ist, da dieser Zeitraum im wesentlichen bestimmt wird durch das elastische und bei sehr weichen Materialien wie Blei auch plastischen Münz­ verhalten bzw. von der Federkonstanten der Münze sowie von der vorgegebenen Federkonstanten des Sensors. Dieser Zeit­ raum wird dadurch erfaßt, daß die Wiederannäherung des Ausgangssignals an den Ursprungswert, der zum Zeitpunkt des Anschlagens der Münze an dem Sensor vorlag, bestimmt wird. Die Härte der Anschlagfläche des Sensors muß genü­ gend hoch sein, zumindest größer als die des Münzmate­ rials, damit die erzeugte und vom Sensor erfaßte Münz­ schwingung zum überwiegenden Teil von der Münzhärte und nur zum geringen Teil von anderen Faktoren wie Münzmasse, Geschwindigkeit oder Sensorgeometrie abhängig ist.It has been recognized that the period of time resulting from the An Strike time of the coin on the sensor and the time of the coin jumping off the sensor results in a Reliable measure of coin hardness is because of this period  is essentially determined by the elastic and at very soft materials such as lead also plastic coin behave or from the spring constant of the coin and from the predefined spring constants of the sensor. This time space is captured by the fact that the rapprochement of the Output signal to the original value at the time when the coin was struck on the sensor becomes. The hardness of the sensor's contact surface must be sufficient be sufficiently high, at least larger than that of the coin mate rials, so that the coin generated and detected by the sensor vibration predominantly from the coin hardness and only to a small extent from other factors such as coin size, Speed or sensor geometry is dependent.

Das Anschlagen der Münze an den Sensor kann ein Aufprallen auf den Sensor nach freiem Fall der Münze oder ein An­ schlagen sein nach der Bewegung der Münze, z. B. entlang einer schiefen Ebene.Striking the coin against the sensor can cause an impact on the sensor after the coin falls freely or on be struck after moving the coin, e.g. B. along an inclined plane.

Nach einer Ausgestaltung der Erfindung weist der Sensor ein piezoelektrisches Element auf, wobei die durch eine mechanische Kraft erzeugte Spannung abgegriffen wird. Die­ ses Ausgangssignal kann über eine Schaltung einem Verstär­ ker zugeführt werden, an dem eine bekannte Auswertelek­ tronik angeschlossen ist, die den Zeitraum zwischen der ersten Nullspannung zum Zeitpunkt des Anschlagens der Münze an den Sensor und einer zweiten Nullspannung zum Zeitpunkt des Abspringens der Münze von dem Sensor be­ stimmt. In Abhängigkeit von dem Vergleich des bestimmten Zeitraums mit einem vorgegebenen Wert wird ein Annahmesig­ nal für die geprüfte Münze erzeugt, wobei bekannte Mittel wie Datenkonverter, Speicher, Komparator und Mikroprozes­ sor verwendet werden.According to one embodiment of the invention, the sensor a piezoelectric element, the by a mechanical force generated voltage is tapped. The This output signal can be connected to an amplifier via a circuit ker are supplied on which a known Ausekelek tronics is connected, the period between the  first zero voltage at the time of striking the Coin to the sensor and a second zero voltage to Time of the coin jumping off the sensor Right. Depending on the comparison of the particular Period with a given value becomes an acceptance sig nal generated for the coin tested, using known means such as data converter, memory, comparator and microprocesses sor be used.

Eine andere Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, eine elektrisch leitende Folie benachbart zum Sensor in dem Münzkanal anzuordnen. Die Folie ist mit einem Hochfrequenz­ generator verbunden, so daß eine von dem Generator erzeugte HF-Spannung über die Folie kapazitiv auf die Münze aufge­ koppelt werden kann. Bei dieser Ausführungsform stellt der Sensor einen Kontaktstift dar, der mit einem Widerstand verbunden ist. Für die Dauer des galvanischen Kontaktes von Münze und Kontaktstift fällt die auf die Münze aufge­ koppelte Spannung am Widerstand 14 ab. Dieser Zeitraum dient als Härtekriterium und wird nach Gleichrichtung der Spannung mittels eines Gleichrichters von der weiter oben beschriebenen Auswerteelektronik bestimmt.Another embodiment of the invention provides for an electrically conductive film to be arranged adjacent to the sensor in the coin channel. The film is connected to a high-frequency generator, so that an RF voltage generated by the generator can be capacitively coupled to the coin via the film. In this embodiment, the sensor is a contact pin that is connected to a resistor. For the duration of the galvanic contact of the coin and contact pin, the voltage coupled to the coin at the resistor 14 drops. This period serves as a hardness criterion and is determined by the evaluation electronics described above after rectifying the voltage by means of a rectifier.

Weitere Ausgestaltungen der Erfindung beziehen sich auf die Reduktion derjenigen, weiter oben genannten Münzfak­ toren die nicht die Münzhärte betreffen. Die Anschlag­ fläche des Sensors kann punkt- oder linienförmig sein, so daß die Berührungsfläche "Sensor-Münze" minimiert wird. Die Anschlagfläche kann z. B. eine Stahlkugel sein, auf die die Münze trifft, oder ein oberer Abschnitt des Kontakt­ stiftes. Der Sensor kann sich auf einem Gegenblock, z. B. einem Stahlklotz abstützen.Further refinements of the invention relate to the reduction of those Münzfak mentioned above  gates that do not affect the hardness of the coin. The stop surface of the sensor can be punctiform or linear, so that the contact area "sensor coin" is minimized. The stop surface can e.g. B. be a steel ball on the the coin hits, or an upper section of the contact donation. The sensor can be on a counter block, e.g. B. support a steel block.

Eine weitere Ausgestaltung der Erfindung sieht vor, daß der Sensor in die eine schiefe Ebene darstellende Münz­ laufbahn zumindest teilweise hineinragt, so daß unter­ schiedliche Münzeinwurfgeschwindigkeiten zumindest zum Teil ausgeglichen werden.Another embodiment of the invention provides that the sensor into the coin representing an inclined plane career at least partially protrudes, so that under different coin insertion speeds at least for Part be compensated.

Die erfindungsgemäße Münzprüfeinrichtung kann zuverlässig Münzfalsifikate, die z. B. aus relativ weichem Material wie Blei oder einer Bleilegierung bestehen, von Originalmünzen aus relativ hartem Material, z. B. CuNi 25 unterscheiden. Der von der Auswerteelektronik bestimmte Zeitraum ist im ersten Fall etwa 2- bis 6-fach länger als im zweiten Fall, wogegen sich der Einfluß von Münzmasse, Geschwindigkeit und Sensorgeometrie innerhalb 1/3 des Meßsignals bewegt. Damit liegt eine eindeutige Härtebestimmung des Münzmate­ rials vor, die eine zuverlässige Trennung von Originalen und Fälschungen gewährleistet.The coin checking device according to the invention can be reliable Coin false certificates, e.g. B. from relatively soft material such as Lead or a lead alloy consist of original coins made of relatively hard material, e.g. B. distinguish CuNi 25. The period determined by the evaluation electronics is in the first case is about 2 to 6 times longer than in the second case, the influence of coin mass, speed and sensor geometry moves within 1/3 of the measurement signal. This is a clear determination of the hardness of the coin mate rials before that a reliable separation from originals and counterfeiting guaranteed.

Ausführungsbeispiele der Erfindung werden nachfolgend an­ hand von Zeichnungen näher erläutert.Embodiments of the invention are described below hand explained in more detail by drawings.

Fig. 1 zeigt eine schematische Darstellung einer Münzprüf­ einrichtung nach der Erfindung. Fig. 1 shows a schematic representation of a coin testing device according to the invention.

Fig. 2 zeigt ein Schaltungsbild der Münzprüfeinrichtung nach Fig. 1. FIG. 2 shows a circuit diagram of the coin checking device according to FIG. 1.

Fig. 3 zeigt ein Ausgangssignal des Sensors nach Fig. 1. Fig. 3 shows an output signal of the sensor of FIG. 1.

Fig. 4 zeigt eine schematische Darstellung einer weiteren Ausführungsform einer Münzprüfeinrichtung nach der Erfindung. Fig. 4 shows a schematic representation of a further embodiment of a coin checking device according to the invention.

Fig. 5 zeigt ein Schaltungsbild der Münzprüfeinrichtung nach Fig. 4. FIG. 5 shows a circuit diagram of the coin checking device according to FIG. 4.

Fig. 6 zeigt ein Ausgangssignal des Sensors nach Fig. 4. FIG. 6 shows an output signal of the sensor according to FIG. 4.

Fig. 1 zeigt eine Münze 1, die eine Münzlaufbahn 2 hinun­ terrollt. In die Münzlaufbahn ragt ein Sensor 3 mit seiner Anschlagfläche 4, die eine Stahlkugel darstellt. Unterhalb der Stahlkugel ist ein piezoelektrisches Element 5 ange­ ordnet, das mit der Stahlkugel fest verbunden ist und sich auf einem Gegenblock 6 aus Stahl abstützt. Fig. 1 shows a coin 1 that rolls down a coin track 2 . A sensor 3 protrudes into the coin track with its stop surface 4 , which represents a steel ball. Below the steel ball is a piezoelectric element 5 is arranged, which is firmly connected to the steel ball and is supported on a counter block 6 made of steel.

Trifft die Münze 1 auf die Stahlkugel 4, entsteht am piezoelektrischen Element ein Spannungsverlauf gemäß Fig. 3, der über eine Schaltung 7 und einem Operationsverstär­ ker 8 einer Auswerteelektronik 9 zugeführt wird (Fig. 2).If the coin 1 strikes the steel ball 4 , a voltage curve according to FIG. 3 arises at the piezoelectric element, which is fed via a circuit 7 and an operational amplifier 8 to an evaluation electronics 9 ( FIG. 2).

Die Auswerteelektronik bestimmt den Zeitraum t1-t0, wobei t0 der Zeitpunkt ist, wenn die Münze auf den Sensor 3 trifft, und t1 der Zeitpunkt, wenn die Münze von der Stahlkugel 4 abspringt. Der gemessene Zeitraum wird mit einem vorgegebenen Wert verglichen, wobei in Abhängigkeit von diesem Vergleich ein Annahmesignal für die geprüfte Münze erzeugt wird und das Annahmekriterium die Münzhärte ist.The evaluation electronics determine the time period t 1 -t 0 , where t 0 is the point in time when the coin hits the sensor 3 and t 1 is the point in time when the coin jumps off the steel ball 4 . The measured time period is compared with a predetermined value, an acceptance signal being generated for the tested coin as a function of this comparison and the acceptance criterion being the coin hardness.

Dies soll im folgenden anhand einiger Versuchsreihen, die mit der beschriebenen Münzprüfeinrichtung durchgeführt wurden, erläutert werden:In the following, this should be based on a number of test series that performed with the coin validation device described were explained:

  • 1. Es wurden Messingscheiben mit unterschiedlichem Durch­ messer und Gewicht, aber gleicher Dicke getestet. Die gemessenen Zeiträume t1-t0 differierten um höchstens 20% zwischen der Scheibe mit dem größten Gewicht (10,3 g) und Durchmesser (31 mm) und der Scheibe mit den entsprechend geringsten Werten (3,4 g; 18 mm). Daraus ergibt sich, daß bei Münzen mit gleicher Härte die Faktoren Münzdurchmesser und Gewicht nur einen ge­ ringen Einfluß auf die Meßsignale haben.1. Brass disks with different diameters and weights but the same thickness were tested. The measured periods t 1 -t 0 differed by a maximum of 20% between the disk with the greatest weight (10.3 g) and diameter (31 mm) and the disk with the corresponding lowest values (3.4 g; 18 mm). It follows from this that with coins of the same hardness the factors coin diameter and weight have only a slight influence on the measurement signals.
  • 2. Es wurden 3 verschiedene CuNi 25 Münzen mit unterschied­ lichem Durchmesser und Gewicht mit entsprechend dimen­ sierten Blei/Zinnfalsifikaten verglichen, die um höch­ stens 5% vom Gewicht der Originale abwichen. Während die Meßwerte der Originalmünzen bei etwa 60 µs lagen, ergaben sich andererseits für die Falsifikate Werte von 150-180 µs. Damit ist gezeigt, daß bei annähernd glei­ cher Münzgeometrie und Münzmasse Falsifikate aus wei­ cherem Material zuverlässig von Originalen aus härterem Material unterscheiden lassen.2. 3 different CuNi 25 coins were distinguished Lich diameter and weight with corresponding dimensions lead / tin false certificates compared, the highest deviate at least 5% from the weight of the originals. While the measured values of the original coins were around 60 µs, on the other hand, the falsifications resulted in values of 150-180 µs. This shows that at approximately the same Coin geometry and coin mass falsified from white reliable material from originals made of harder Differentiate material.
  • 3. Falschmünzen, die neben der Geometrie und dem Gewicht auch im Prägebild mit den Originalen übereinstimmen, zeigten wie bei 2. ebenfalls 3-fach größere Meßwerte als die Originale.3. Counterfeit coins, in addition to the geometry and weight also match the originals in the embossed image, showed 3 times larger measured values as in the case of 2. than the originals.
  • 4. Scheiben aus reinem Blei, die bei gleicher Geometrie von keinem induktiven Meßsystem sicher von den Origina­ len zu trennen sind, wiesen 6-fach größere Meßwerte als die Originalmünzen auf.4. Pure lead washers with the same geometry from any inductive measuring system certainly from the origina len to be separated, measured values were 6 times larger than the original coins.

Die Messungen haben gezeigt, daß der bestimmte zeitliche Abstand von einem Falsifikat aus einer Bleimischung gegen­ über dem Original 200-300% und bei reinen Bleischeiben bis 600% größer ist. Der Einfluß von Münzmasse, Geometrie, Prägung etc. bewegt sich dagegen innerhalb eines Bereiches von 25%. Die oben dargestellten Versuchsreihen wurden mit deutschen und ausländischen Münzen durchgeführt.The measurements have shown that the specific temporal Distance from a false certificate from a lead mixture against over the original 200-300% and with pure lead discs up to 600% larger. The influence of coin mass, geometry, In contrast, embossing etc. moves within an area of 25%. The test series shown above were carried out with German and foreign coins carried out.

Bei der Ausführungsform gemäß Fig. 4 rollt eine Münze 1′ eine Münzlaufbahn 2′ hinunter. Im Bereich eines Sensors 3, ist eine elektrisch leitende Folie 10 angeordnet. Der Sen­ sor 3′ ist ein Kontaktstift, der mit seiner Anschlagfläche 11 in die Münzlaufbahn hineinragt. Der Kontaktstift stützt sich auf einem Gegenblock 6′ ab.In the embodiment according to FIG. 4, a coin 1 'rolls down a coin track 2 '. An electrically conductive film 10 is arranged in the area of a sensor 3 . The Sen sor 3 'is a contact pin, which projects with its stop surface 11 into the coin path. The contact pin is based on a counter block 6 '.

Beim Herunterrollen der Münze 1′ wird über die Folie 10 kapazitiv eine von einem HF-Generator 12 (Fig. 5) erzeugte HF-Spannung auf die Münze aufgekoppelt. Berührt die Münze den Kontaktstift 3′, so fällt für die Dauer des galvani­ schen Kontaktes von Münze und Kontaktstift die auf die Münze aufgekoppelte Spannung an einem Widerstand 13 ab. Mittels eines Gleichrichters 14 wird diese Spannung gleich­ gerichtet, wodurch der Spannungsverlauf nach Fig. 6 ent­ steht. Wie in der Ausführungsform gemäß den Fig. 1 bis 3, bestimmt eine Auswerteelektronik 9′ den Zeitraum t′0 bis t′i, der der Kontaktdauer der Münze 1′ mit der Anschlag­ fläche 11 des Sensors 3′ entspricht. Die weitere Auswer­ tung erfolgt wie weiter oben für die erste Ausführungsform beschrieben. Ebenso stimmen im wesentlichen die gemessenen Zeiträume t′0 bis ti mit den Zeiträumen in den Beispielen 1 bis 4 für die Ausführungsform gemäß den Fig. 1 bis 3 überein, so daß auch mit der zweiten Ausführungsform eine exakte Härtebestimmung von Münzen möglich ist.When the coin 1 'rolls down, an RF voltage generated by an RF generator 12 ( FIG. 5) is capacitively coupled onto the coin via the film 10 . If the coin touches the contact pin 3 ', the voltage coupled to the coin drops across a resistor 13 for the duration of the galvanic contact between the coin and the contact pin. This voltage is rectified by means of a rectifier 14 , as a result of which the voltage profile according to FIG. 6 arises. As in the embodiment according to FIGS. 1 to 3, an evaluation electronics 9 'determines the period t' 0 to t ' i , which corresponds to the contact duration of the coin 1 ' with the stop surface 11 of the sensor 3 '. The further evaluation takes place as described above for the first embodiment. Likewise, the measured periods t ' 0 to t i essentially coincide with the periods in Examples 1 to 4 for the embodiment according to FIGS. 1 to 3, so that an exact determination of the hardness of coins is also possible with the second embodiment.

Claims (10)

1. Münzprüfeinrichtung zur Härtebestimmung von Münzen mit einem Sensor an den die Münzen anschlagen, und einer Auswerteelektronik, dadurch gekennzeichnet, daß eine Anschlagfläche (4, 11) des Sensors (3, 3′) relativ hart ist und die Auswerteelektronik (9, 9′) die Kontaktdauer einer Münze (1, 1′) mit der Anschlagfläche (4, 11) des Sensors (3, 3,) auswertet, wobei ein Zeitraum bestimmt und mit einem vorgegebenen Wert verglichen wird, der zwischen dem Ausgangssignal des Sensors (3, 3′) bei dem Anschlagen der Münze (1, 1′) und einer Wiederannäherung des Ausgangssignals an den Ursprungswert liegt.1. Coin checking device for hardness determination of coins with a sensor to which the coins strike, and evaluation electronics, characterized in that a stop surface ( 4 , 11 ) of the sensor ( 3 , 3 ') is relatively hard and the evaluation electronics ( 9 , 9 ' ) evaluates the contact time of a coin ( 1 , 1 ') with the stop surface ( 4 , 11 ) of the sensor ( 3 , 3, ), a period of time being determined and compared with a predetermined value which is between the output signal of the sensor ( 3 , 3 ') when striking the coin ( 1 , 1 ') and a rapprochement of the output signal to the original value. 2. Münzprüfeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Sensor (3) ein piezoelektrisches Ele­ ment (5) aufweist.2. Coin checking device according to claim 1, characterized in that the sensor ( 3 ) has a piezoelectric element ( 5 ). 3. Münzprüfeinrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das Ausgangssignal über eine Schaltung (7) mit einem Verstärker (8) der Auswerteelektronik (9) zugeführt wird, die den Zeitraum zwischen einer ersten (t0) und einer zweiten (t1) Nullspannung bestimmt.3. Coin checking device according to claim 2, characterized in that the output signal via a circuit ( 7 ) with an amplifier ( 8 ) of the evaluation electronics ( 9 ) is supplied, the period between a first (t 0 ) and a second (t 1 ) Zero voltage determined. 4. Münzprüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Anschlagfläche (4) des Sensors (3) relativ klein, insbesondere punkt- oder linienförmig ist.4. Coin checking device according to one of claims 1 to 3, characterized in that the stop surface ( 4 ) of the sensor ( 3 ) is relatively small, in particular point or line-shaped. 5. Münzprüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß eine Stahlkugel die An­ schlagfläche (4) bildet.5. Coin checking device according to one of claims 1 to 4, characterized in that a steel ball forms the striking surface ( 4 ). 6. Münzprüfeinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß benachbart zum Sensor (3′) eine elek­ trisch leitende Folie (10) angeordnet ist, die mit einem Hochfrequenzgenerator (12) verbunden ist.6. Coin checking device according to claim 1, characterized in that adjacent to the sensor ( 3 ') an electrically conductive film ( 10 ) is arranged, which is connected to a high-frequency generator ( 12 ). 7. Münzprüfeinrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekenn­ zeichnet, daß der Sensor (3′) ein Kontaktstift ist, der mit einem Widerstand (13) und einem Gleichrichter (14) verbunden ist, der das Ausgangssignal der Auswerteelek­ tronik (9′) zuführt, die den Zeitraum zwischen einem ersten (t′0) und einem zweiten (ti) Spannungswert be­ stimmt.7. Coin checking device according to claim 6, characterized in that the sensor ( 3 ') is a contact pin which is connected to a resistor ( 13 ) and a rectifier ( 14 ) which supplies the output signal of the evaluation electronics ( 9 '), which determines the period between a first (t ′ 0 ) and a second (t i ) voltage value. 8. Münzprüfeinrichtung nach Anspruch 6 oder 7, dadurch ge­ kennzeichnet, daß ein oberer Abschnitt (11) des Sensors (3′) die Anschlagfläche bildet. 8. Coin checking device according to claim 6 or 7, characterized in that an upper portion ( 11 ) of the sensor ( 3 ') forms the stop surface. 9. Münzprüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Sensor (3, 3′) sich auf einem Gegenblock (6, 6′) abstützt.9. Coin checking device according to one of claims 1 to 8, characterized in that the sensor ( 3 , 3 ') is supported on a counter block ( 6 , 6 '). 10. Münzprüfeinrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Sensor (3, 3′) in eine Münzlaufbahn (2, 2′) zumindest teilweise hineinragt.10. Coin checking device according to one of claims 1 to 9, characterized in that the sensor ( 3 , 3 ') at least partially protrudes into a coin track ( 2 , 2 ').
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