DE4126473A1

DE4126473A1 - METHOD AND DEVICE FOR EXAMINING ELECTRONIC CIRCUITS

Info

Publication number: DE4126473A1
Application number: DE4126473A
Authority: DE
Inventors: Kazuo Emmoto
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 1990-08-22
Filing date: 1991-08-09
Publication date: 1992-03-05
Also published as: JPH04104074A; GB2247350A; GB2247350B; GB9117906D0; KR920004854A

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren nach dem Oberbegriff des Anspruches 1 bzw. 2 und eine Vorrichtung nach dem Ober begriff des Anspruches 4 zur Untersuchung elektronischer Schaltkreise, welche einen variablen Widerstand aufweisen.The invention relates to a method according to the preamble of claim 1 and 2 and a device according to the Ober Concept of claim 4 for the investigation of electronic Circuits that have a variable resistance.

Fig. 3 zeigt schematisch vereinfacht in Draufsicht eine Schaltkreisplatte 2, auf der sich der zu untersuchende elek tronische Schaltkreis befindet. Die Schaltkreisplatte 2 trägt unter anderem einen Transistor Q1, einen variablen Wi derstand (Potentiometer) 1, einen integrierten Schaltkreis 2a und dergleichen mehr. Fig. 4a zeigt die Möglichkeit, wie die Schaltkreisplatte 2 mit einem nicht dargestellten exter nen Testgerät verbindbar ist, um die Arbeitsweise des elek tronischen Schaltkreises auf der Schaltkreisplatte 2 zu te sten. Bei dem Beispiel von Fig. 4a ist die Schaltkreisplatte 2 über einen Steckverbinder 3 mit der Testvorrichtung ver bunden. Bei dem Beispiel gemäß Fig. 4b sind nadelförmige Tastspitzen 4 vorgesehen, welche zu der Testvorrichtung füh ren und welche in Anlage mit Kontaktpunkten auf der Unter seite der Schaltkreisplatte 2 sind, so daß das Testgerät oder die Testvorrichtung mit der Schaltkreisplatte 2 und dem sich darauf befindlichen elektronischen Schaltkreis verbind bar ist. Fig. 3 shows a schematic simplified top view of a circuit board 2 on which the electronic circuit to be examined is located. The circuit board 2 carries, among other things, a transistor Q 1 , a variable Wi resistor (potentiometer) 1 , an integrated circuit 2 a and the like. FIG. 4a shows the way in which the circuit board 2 with an unillustrated exter NEN test device is connectable to the operation of the elec tronic circuit on the circuit board 2 sten to te. In the example of FIG. 4a, the circuit board 2 is connected to the test device via a connector 3 . In the example of FIG. 4b, needle-shaped probe tips 4 are provided, which lead to the test device and which are in contact with contact points on the underside of the circuit board 2 , so that the test device or the test device with the circuit board 2 and the one located thereon electronic circuit is connectable.

Nachfolgend wird unter Bezug auf die Fig. 3 bis 4b eine bekannte Untersuchungsart näher erläutert. Gemäß den Fig. 4a oder 4b wird die Schaltkreisplatte 2 mit dem zu untersu chenden elektronischen Schaltkreis darauf, wobei der elek tronische Schaltkreis den variablen Widerstand 1 aufweist, über geeignete Verbindungsmittel, also entweder den Steck verbinder 3 oder die Tastspitzen 4 mit dem externen Testge rät verbunden. Eine Energiequelle oder auch ein Signalzug, beispielsweise das Signal mit der Wellenform A gemäß Fig. 3 zum Betrieb des elektronischen Schaltkreises wird diesem Schaltkreis zugeführt. Ein Stellknopf oder dergleichen des variablen Widerstandes 1 wird direkt von Hand oder über einen entsprechenden Stelltrieb bewegt, um den Widerstands wert des Widerstandes 1 zu ändern, wobei gleichzeitig der Ausgang vom integrierten Schaltkreis 2a über ein Meßinstru ment oder dergleichen überwacht wird. Auf diese Art und Weise wird die Arbeitsweise des elektronischen Schaltkreises untersucht oder getestet.A known type of examination is explained in more detail below with reference to FIGS. 3 to 4b. Referring to FIGS., The circuit board 2 with the to investi sponding electronic circuit thereon 4a or 4b, with the elec tronic circuit comprises the variable resistor 1, advises via suitable connection means, either the plug connector 3 or the probe tips 4 with the external Testge connected. An energy source or a signal train, for example the signal with the waveform A according to FIG. 3, for operating the electronic circuit is fed to this circuit. An adjusting knob or the like of the variable resistor 1 is moved directly by hand or via a corresponding actuator to change the resistance value of the resistor 1 , with the output from the integrated circuit 2 a being monitored via a measuring instrument or the like. In this way, the functioning of the electronic circuit is examined or tested.

Die Untersuchung wird somit derart durchgeführt, daß durch Änderung des Widerstandswertes des Widerstandes 1 durch ent sprechende Einstellbewegungen die sich ergebende Signalände rung des elektronischen Schaltkreises durch ein Voltmeter, einen Oszillographen oder dergleichen gemessen wird.The investigation is thus carried out in such a way that the resulting signal changes of the electronic circuit by a voltmeter, an oscilloscope or the like is measured by changing the resistance value of the resistor 1 by appropriate adjustment movements.

Selbst wenn die Testvorrichtung mit einem Peripherieschalt kreis und/oder einem geeigneten Mechanismus zum normalen Be treiben des elektronischen Schaltkreises ausgerüstet ist, ist es nötig, den variablen Widerstand 1 zu verstellen, um den elektronischen Schaltkreis zu untersuchen. Wenn bei spielsweise bei einem Verstärker, dessen Eingangsspannung durch den variablen Widerstand eingestellt wird in dem elek tronischen Schaltkreis vorhanden ist, muß der variable Wi derstand manipuliert und die sich ergebenden Änderungen im Ausgang des Schaltkreises überwacht werden, um den Betrieb des Verstärkers untersuchen zu können, selbst dann, wenn ein Steuerschaltkreis bereits vorhanden ist, um die Eingangs spannung des Verstärkers steuern zu können. In dem Fall, in dem der elektronische Schaltkreis den variablen Widerstand hat, der eine Spannungs-Wellenform dämpft oder verstärkt, muß der variable Widerstand ebenfalls direkt manipuliert werden, um überprüfen zu können, ob entsprechende Reaktionen im Ausgang des Schaltkreises normal oder abnormal auftreten.Even if the test device is equipped with a peripheral circuit and / or a suitable mechanism for normal operation of the electronic circuit, it is necessary to adjust the variable resistor 1 in order to examine the electronic circuit. If, for example, an amplifier whose input voltage is set by the variable resistor is present in the electronic circuit, the variable resistor must be manipulated and the resulting changes in the output of the circuit must be monitored in order to be able to examine the operation of the amplifier, even if a control circuit is already available to control the input voltage of the amplifier. In the event that the electronic circuit has the variable resistor that attenuates or amplifies a voltage waveform, the variable resistor must also be manipulated directly in order to be able to check whether corresponding reactions occur normally or abnormally in the output of the circuit.

Somit wird bei einem herkömmlichen Untersuchungsverfahren der Widerstandswert des Widerstandes 1 nur durch Einstellung entsprechender Stellmittel an dem Widerstand von Hand oder automatisch gesteuert. Bei vielen Schaltkreisplatten ist es jedoch schwierig, aufgrund der Anordnung, der Form oder der gleichen des Widerstandes 1 entsprechende Einstellvorgänge durchzuführen, was eine automatische Untersuchung stark be hindert. Darüber hinaus ist relativ viel Zeit nötig, den va riablen Widerstand 1 oder mehrere derartiger Widerstände auf der Schaltkreisplatte 2 zu betätigen, wobei darüberhinaus bei mehreren derartiger Widerstände die Gefahr besteht, daß einige hiervon übersehen werden.Thus, in a conventional examination method, the resistance value of the resistor 1 is only controlled manually or automatically by setting appropriate adjusting means on the resistor. With many circuit boards, however, it is difficult to carry out corresponding setting operations due to the arrangement, the shape or the same of the resistor 1 , which strongly prevents an automatic examination. In addition, a relatively large amount of time is required to actuate the variable resistor 1 or more of such resistors on the circuit board 2 , and there is also the risk that several of these resistors are overlooked.

Demgegenüber ist es Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Untersuchung elektroni scher Schaltkreise zu schaffen, mit dem bzw. mit der es mög lich ist, die Arbeitsweise eines elektronischen Schaltkrei ses ohne eigene Manipulationen an dem variablen Widerstand durchzuführen.In contrast, it is an object of the present invention Method and device for examining electronics to create circuits with which it is possible is the way an electronic circuit works ses without own manipulations on the variable resistor perform.

Die Lösung dieser Aufgabe erfolgt erfindungsgemäß durch die im Anspruch 1 bzw. 2 bzw. 4 angegebenen Merkmale.This object is achieved according to the invention by features specified in claim 1 or 2 or 4.

Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den jeweiligen Unteransprüchen.Advantageous further developments of the invention result from the respective subclaims.

Ein wesentlicher Vorteil der vorliegenden Erfindung ist, daß mit dem erfindungsgemäßen Verfahren bzw. der erfindungsge mäßen Vorrichtung die Möglichkeit geschaffen wird, einen elektronischen Schaltkreis mit geringem Zeit- und Kostenauf wand untersuchen zu können. A major advantage of the present invention is that with the inventive method or the fiction device is created the possibility of a electronic circuit with little time and cost to be able to examine the wall.

Ein weiterer wesentlicher Vorteil der vorliegenden Erfindung ist, daß mit dem erfindungsgemäßen Verfahren bzw. der erfin dungsgemäßen Vorrichtung eine automatische Untersuchung der artiger elektronischer Schaltkreise möglich gemacht worden ist.Another significant advantage of the present invention is that with the inventive method or the inventions device according to the invention an automatic examination of the like electronic circuits have been made possible is.

Weitere Einzelheiten, Aspekte und Vorteile der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung unter Bezugnahme auf die Zeichnung.Further details, aspects and advantages of the present Invention result from the following description with reference to the drawing.

Es zeigtIt shows

Fig. 1 schematisch vereinfacht eine Draufsicht auf ein Aus führungsbeispiel der vorliegenden Erfindung; Fig. 1 schematically simplified a plan view of an exemplary embodiment from the present invention;

Fig. 2 schematisch vereinfacht ein Beispiel, wie die erfin dungsgemäße Untersuchungsvorrichtung mit einer Schaltkreisplatte verbindbar ist; Fig. 2 schematically simplified an example of how the inventive device according to the invention can be connected to a circuit board;

Fig. 3 schematisch vereinfacht eine Draufsicht auf eine Struktur eines elektronischen Schaltkreises; Figure 3 a simplified schematic representation a plan view of a structure of an electronic circuit.

Fig. 4a schematisch vereinfacht eine bekannte Möglich keit, die Schaltkreisplatte mit einer Testvor richtung zu verbinden; und Fig. 4a schematically simplified a known possibility to connect the circuit board with a Testvor direction; and

Fig. 4b eine Ansicht ähnlich der von Fig. 4a einer wei teren bekannten Verbindungsmöglichkeit. Fig. 4b is a view similar to that of Fig. 4a another known connection option.

Fig. 1 zeigt in Draufsicht den Schaltkreisaufbau einer Aus führungsmöglichkeit der erfindungsgemäßen Vorrichtung und Fig. 2 zeigt in vereinfachter perspektivischer Darstellung die Verbindung der Vorrichtung von Fig. 3 mit einer Schalt kreisplatte. Mit dem Bezugszeichen 2 ist wieder die Schalt kreisplatte bezeichnet, welche den zu untersuchenden elek tronischen Schaltkreis trägt, wobei der elektronische Schaltkreis unter anderem den variablen Widerstand 1 (bei spielsweise ein Trimm- oder Stellpotentiometer oder dergl.), den Transistor Q1, den integrierten Schaltkreis 2a und der gleichen mehr trägt. Somit weist die Schaltkreisplatte 2 den gleichen Aufbau wie die Schaltkreisplatte gemäß Fig. 3 auf. Wenn ein Widerstandswert des variablen Widerstandes 1 durch Manipulation eines Stellknopfes verändert wird, ändert sich eine Spannung entsprechend der Verstellung des Widerstands wertes nach oben oder unten. Im Ergebnis wird die Spannung an einem Eingangsanschluß P1 abgeschwächt oder verstärkt und von einem Ausgangsanschluß P2 ausgegeben, so daß die Ar beitsweise des integrierten Schaltkreises 2a, der sich in einer nachgeschalteten Stufe befindet, ändern läßt. Fig. 1 shows a top view of the circuit structure from a possible implementation of the device according to the invention and Fig. 2 shows a simplified perspective view of the connection of the device of Fig. 3 with a circuit board. With the reference numeral 2 , the circuit board is again designated, which carries the electronic circuit to be examined, the electronic circuit including the variable resistor 1 (for example, a trimming or adjusting potentiometer or the like.), The transistor Q 1 , the integrated Circuit 2 a and the same carries more. The circuit board 2 thus has the same structure as the circuit board according to FIG. 3. If a resistance value of the variable resistor 1 is changed by manipulating an adjusting button, a voltage changes according to the adjustment of the resistance value up or down. As a result, the voltage at an input terminal P 1 is weakened or amplified and output from an output terminal P 2 , so that the Ar beitsweise of the integrated circuit 2 a, which is located in a downstream stage, can change.

Gemäß Fig. 1 ist ein Steuerschaltkreis 5 vorgesehen, der im wesentlichen einen Digital/Analog-Wandler 6 und ein Push- Pull-Gatter 7 als Ausgangspuffer aufweist. Als D/A-Wandler 6 kommt beispielsweise der Typ µPD6326C von NEC in Frage.Referring to FIG. 1, a control circuit 5 is provided which comprises essentially a digital / analog converter 6, and a push-pull gate 7 as an output buffer. For example, the type µPD6326C from NEC can be used as the D / A converter 6 .

Der Eingangsanschluß P1 des variablen Widerstandes 1 ist mit dem Referenzspannungs-Eingangsanschluß (Pin 16) des D/A- Wandlers 6 über eine Leitung 8 verbunden, wohingegen der Ausgangsanschluß P2 des variablen Widerstandes 1 mit einem Ausgangsanschluß des Gatters 7 über eine weitere Leitung 8 verbunden ist. Mit anderen Worten, die Schaltkreisplatte 2 ist mit dem Steuerschaltkreis 5 von der Unterseite der Schaltkreisplatte 2 her unter Verwendung der pin- oder steckerartigen Leitungen 8 verbunden, wie Fig. 2 zeigt.The input terminal P 1 of the variable resistor 1 is connected to the reference voltage input terminal (pin 16 ) of the D / A converter 6 via a line 8 , whereas the output terminal P 2 of the variable resistor 1 is connected to an output terminal of the gate 7 via a further line 8 is connected. In other words, the circuit board 2 is connected to the control circuit 5 from the bottom of the circuit board 2 using the pin-like lines 8 , as shown in FIG. 2.

Ein Ausgangsanschluß für eine Spannungsverminderung (Pin 15) des D/A-Wandlers 6 und ein Eingangsanschluß des Push-Pull- Gatters 7 sind miteinander über eine Transistorschaltung oder dergleichen verbunden. Ein Netzanschluß (Pin 1) des D/A-Wandlers 6 ist mit einer Energiequelle verbunden. Wei terhin ist ein Steuerimpuls-Eingangsanschluß (Pin 2) des D/A-Wandlers 6 mit einem Steuerimpulsgenerator 9 verbunden, der wiederum von einem nicht dargestellten Mikroprozessor gesteuert wird, um Steuerimpulse auszugeben, um die Spannung zu verringern. Ein Referenztaktsignal wird einem Taktein gangsanschluß (Pin 4) des D/A-Wandlers 6 zugeführt.An output terminal for voltage reduction (pin 15 ) of the D / A converter 6 and an input terminal of the push-pull gate 7 are connected to each other through a transistor circuit or the like. A mains connection (pin 1 ) of the D / A converter 6 is connected to an energy source. Wei terhin a control pulse input terminal (pin 2 ) of the D / A converter 6 is connected to a control pulse generator 9 , which in turn is controlled by a microprocessor, not shown, to output control pulses to reduce the voltage. A reference clock signal is supplied to a clock input terminal (pin 4 ) of the D / A converter 6 .

In dem D/A-Wandler 6 wird die am Pin 16 eingegebene Spannung als Referenzspannung verwendet. Eine Ausgangsspannung wird von dem D/A-Wandler 6 auf digitale Weise abhängig von dem Steuerimpuls am Pin 2 und der Referenzspannung erzeugt und über den Pin 15 an das Gatter 7 ausgegeben. Da die Ausgangs spannung unter Verwendung eines seriellen Signals in dem D/A-Wandler 6 generiert wird, ist ein Taktsignal nötig. Die Ausgangsspannung wird dem Ausgangsanschluß P2 des variablen Widerstandes 1 über das Gatter 7 zugeführt. Allgemein ge sagt, obwohl ein D/A-Wandler in der Lage ist, einen Strom auszugeben, ist es einem Strom nicht möglich, von außen in den D/A-Wandler einzutreten, wenn die Spannung an der Aus gangsseite höher als die Ausgangsspannung des D/A-Wandlers ist. Wenn jedoch ein Push-Pull-Gatter zwischen den D/A-Wand ler und die Ausgangsseite geschaltet ist, wie in der vorlie genden Ausführungsform dargestellt, wird es einem Strom mög lich, von außen in den D/A-Wandler einzutreten, ohne daß dem D/A-Wandler eine Last hinzugefügt wird.In the D / A converter 6 , the voltage entered at pin 16 is used as the reference voltage. An output voltage is generated by the D / A converter 6 in a digital manner depending on the control pulse at pin 2 and the reference voltage and is output to gate 7 via pin 15 . Since the output voltage is generated using a serial signal in the D / A converter 6 , a clock signal is necessary. The output voltage is supplied to the output terminal P 2 of the variable resistor 1 via the gate 7 . Generally speaking, although a D / A converter is capable of outputting a current, it is not possible for a current to enter the D / A converter from outside when the voltage on the output side is higher than the output voltage of the D / A converter is. However, when a push-pull gate is connected between the D / A converter and the output side, as shown in the present embodiment, it becomes possible for a current to enter the D / A converter from the outside without the need for a load is added to the D / A converter.

Nachfolgend wird das Untersuchungsverfahren gemäß der vor liegenden Erfindung näher erläutert.Below is the examination procedure according to the before lying invention explained in more detail.

Bei dem erfindungsgemäßen Untersuchungsverfahren wird die Arbeitsweise des elektronischen Schaltkreises auf der Schaltkreisplatte 2 unter Verwendung des Steuerschaltkreises 5 bestehend aus dem Wandler 6, dem Gatter 7 etc. und dem Im pulsgenerator 9 untersucht.In the inventive examination method, the operation of the electronic circuit on the circuit board 2 by using the control circuit is composed etc. and examined 5 from the converter 6, the gate 7 in the pulse generator. 9

Die Spannung am Eingangsanschluß P1 des variablen Widerstan des 1 wird dem Pin 16 des D/A-Wandlers 6 als Referenzspan nung über die Leitung 8 zugeführt. Ein Steuerimpuls von dem Impulsgenerator 9 wird dem Pin 2 des D/A-Wandlers 6 eingege ben, so daß am Pin 15 durch wahlweises Abschwächen der Span nungswellenform am Eingangsanschluß P1 des variablen Wider standes 1 ein Ausgangssignal ausgegeben wird. Eine Ausgangs spannung vom Pin 15 wird dem Push-Pull-Gatter 7 zugeführt und der Ausgang von diesem Gatter wird über die Leitung 8 dem Ausgangsanschluß P2 des variablen Widerstandes 1 zuge führt. Obwohl die Originalspannung am Ausgangsanschluß P2 manchmal tiefer oder höher sein kann als die Ausgangsspan nung des Gatters 7 abhängig von der Lage bzw. Stellposition des variablen Widerstandes 1, kann das Push-Pull-Gatter 7 die Ausgangsspannung so regeln, daß sie höher oder niedriger als die Originalspannung ist.The voltage at the input terminal P 1 of the variable resistor 1 is fed to the pin 16 of the D / A converter 6 as a reference voltage via the line 8 . A control pulse from the pulse generator 9 is the pin 2 of the D / A converter 6 ben, so that at the pin 15 by selective weakening of the voltage waveform at the input terminal P 1 of the variable resistance state 1, an output signal is output. An output voltage from pin 15 is fed to push-pull gate 7 and the output from this gate is fed via line 8 to output terminal P 2 of variable resistor 1 . Although the original voltage at the output terminal P 2 can sometimes be lower or higher than the output voltage of the gate 7 depending on the position of the variable resistor 1 , the push-pull gate 7 can regulate the output voltage so that it is higher or lower than the original voltage is.

Wenn, wie oben beschrieben, die Ausgangsspannung des vari ablen Widerstandes 1 über den Steuerschaltkreis 5 geändert wird, wird in dem elektronischen Schaltkreis auf der Schalt kreisplatte 2 eine Funktion erreicht, die identisch zu der ist, bei der der Stellknopf des variablen Widerstandes 1 von Hand betätigt wird. Wenn weiterhin ein bestimmter Steuerim puls dem Steuerschaltkreis 5 bzw. dem dortigen D/A-Wandler von dem Impulsgenerator 9 zugeführt wird, was durch entspre chende Programmierung des Mikrocomputers erfolgen kann, läßt sich die Arbeitsweise des elektronischen Schaltkreises ohne irgendwelche Manipulationen am variablen Widerstand 1 über prüfen. Infolgedessen wird die Untersuchungszeit verkürzt und die Untersuchung oder der Test kann automatisch mit ver besserter Genauigkeit durchgeführt werden.If, as described above, the output voltage of the variable resistor 1 is changed via the control circuit 5 , a function is achieved in the electronic circuit on the circuit board 2 , which is identical to that in which the control knob of the variable resistor 1 by hand is operated. Furthermore, if a certain Steuerim pulse the control circuit 5 or the local D / A converter is supplied by the pulse generator 9 , which can be done by programming the microcomputer accordingly, the operation of the electronic circuit can be done without any manipulation of the variable resistor 1 check. As a result, the examination time is shortened, and the examination or test can be performed automatically with improved accuracy.

Selbst wenn die vom variablen Widerstand 1 zu regelnde Span nung entweder Gleichspannung oder Wechselspannung ist oder auch eine hiervon abweichende beliebig komplizierte Wellen form hat, wird die Spannungswellenform, die vom variablen Widerstand 1 eingegeben wird korrekt und positiv widergege ben und verstärkt bzw. abgeschwächt werden. Die erfindungs gemäße Untersuchungsvorrichtung ist somit bei allen denkba ren Applikationsmöglichkeiten des Widerstandes 1 anwendbar.Even if the voltage to be controlled by the variable resistor 1 is either DC voltage or AC voltage or has an arbitrarily complicated wave form deviating therefrom, the voltage waveform that is input from the variable resistor 1 is correctly and positively reproduced and amplified or weakened. The examination device according to the invention can thus be used in all conceivable application possibilities of the resistor 1 .

Zusätzlich, selbst wenn die Ausgangsspannung des Widerstan des 1 nicht eine Gleichspannung ist, sondern verschiedene Arten von komplizierten Wellenformen aufweist, kann die Aus gangsspannung sicher gesteuert werden. Obwohl die Referenz spannung des D/A-Wandlers 6 für gewöhnlich vom Eingangsan schluß P1 des Widerstandes 1 abgegriffen wird, kann, wenn die Ausgangsspannung vom Widerstand 1 Gleichspannung oder eine einfache Sinus-Wechselspannung ist die Referenzspannung nicht notwendigerweise vom Eingangsanschluß P1 des Wider standes 1 abgegriffen werden, sondern kann von einem Schalt kreis, der ein Referenzsignal erzeugt oder einem Schaltkreis ausgegeben werden, der eine Spannungswellenform ähnlich der Ausgangswellenform des Widerstandes 1 erzeugt.In addition, even if the output voltage of the resistor of FIG. 1 is not a DC voltage but has various kinds of complicated waveforms, the output voltage can be controlled safely. 1 circuit, although the reference voltage of the D / A converter 6 is usually from Eingangsan P of the resistor 1 is tapped, the reference voltage when the output voltage from the resistor is 1 DC voltage or a simple sinusoidal AC voltage not necessarily from the input terminal P 1 of the opponent Standes 1 can be tapped, but can be output from a circuit that generates a reference signal or a circuit that generates a voltage waveform similar to the output waveform of the resistor 1 .

Obwohl der D/A-Wandler 6 als Treiberschaltkreis für den va riablen Widerstand 1 in der beschriebenen Ausführungsform verwendet wurde, kann beispielsweise ein Operationsverstär ker zu dem D/A-Wandler 6 hinzugefügt werden, so daß ein Schaltkreis geschaffen wird, der sowohl auf positives als auch auf negatives Potential ansprechen kann.For example, although the D / A converter 6 has been used as the driver circuit for the variable resistor 1 in the described embodiment, an operational amplifier can be added to the D / A converter 6 to provide a circuit which is both positive as well as respond to negative potential.

Claims

1. A method for examining the operation of an electronic circuit that includes a variable resistance, characterized by the following steps:
direct or indirect connection of an analog voltage output connection of a digital / analog converter ( 6 ) to a connection (P 1 ) of the variable resistor ( 1 );
Entering a specific reference voltage to a reference voltage terminal of the digital / analog converter ( 6 );
Entering a control signal which simulates the function of the variable resistor to a digital signal input connection of the digital / analog converter ( 6 );
Obtaining an output voltage from the digital / analog converter in accordance with the reference voltage and the control signal;
Applying the output voltage received by the digital / analog converter ( 6 ) to the other terminal (P 2 ) of the variable resistor ( 1 ); and
Monitoring the voltage at one connection of the variable resistor ( 1 ).

2. A method for examining the operation of an electronic circuit which includes a variable resistor, characterized by the following steps:
Interposition of a digital / analog converter ( 6 ) between a connection (P 1 ) and another connection (P 2 ) of the variable resistor ( 1 );
Inputting a control signal to a digital signal input terminal of the digital / analog converter ( 6 ) to simulate the function of the variable resistor ( 1 );
Applying an output from the digital / analog converter to the other terminal (P 2 ) of the variable resistor ( 1 ); and
Monitoring the voltage at one connection of the variable resistor ( 1 ).

3. The method according to claim 2, characterized in that the digital / analog converter ( 6 ) generates an output voltage corresponding to a voltage at one terminal of the variable resistor ( 1 ) and the control signal, the generated output voltage at the other terminal (P 2 ) of the variable resistor ( 1 ) is placed.

4. Apparatus for examining the operation of an electronic circuit that includes a variable resistor, characterized by:
a digital / analog converter ( 6 ) between an on circuit (P 1 ) and another terminal (P 2 ) of the variable resistor ( 1 ) for obtaining an output voltage corresponding to a voltage at one terminal and for applying the output voltage the other connection (P 2 ); and
Devices for outputting a control signal which simulates the function of the variable resistor ( 1 ) to a digital signal input terminal of the Digi tal / analog converter ( 6 ).

5. The device according to claim 4, characterized by a push-pull gate ( 7 ) between the digital / analog converter ( 6 ) and the other terminal (P 2 ) of the variable resistor ( 1 ) for modulating the output voltage, which is applied to the other connection (P 2 ).

6. The device according to claim 5, characterized by a first connection ( 8 ) for connecting a connection ses (P 1 ) of the variable resistor ( 1 ) with the Digi tal / analog converter ( 6 ); and a second connection ( 8 ) for connecting the other connection (P 2 ) of the variable resistor ( 1 ) to the push-pull gate ( 7 ).