DE4120270A1 - DATA STORAGE MEDIUM, DATA STORAGE DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING THE DATA STORAGE DEVICE - Google Patents

DATA STORAGE MEDIUM, DATA STORAGE DEVICE AND METHOD FOR CONTROLLING THE DATA STORAGE DEVICE

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DE4120270A1
DE4120270A1 DE19914120270 DE4120270A DE4120270A1 DE 4120270 A1 DE4120270 A1 DE 4120270A1 DE 19914120270 DE19914120270 DE 19914120270 DE 4120270 A DE4120270 A DE 4120270A DE 4120270 A1 DE4120270 A1 DE 4120270A1
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Takayuki Kayane
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    • G11B20/00Signal processing not specific to the method of recording or reproducing; Circuits therefor
    • G11B20/10Digital recording or reproducing
    • G11B20/10009Improvement or modification of read or write signals
    • G11B20/10046Improvement or modification of read or write signals filtering or equalising, e.g. setting the tap weights of an FIR filter
    • G11B20/10203Improvement or modification of read or write signals filtering or equalising, e.g. setting the tap weights of an FIR filter baseline correction

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Description

Die Erfindung betrifft ein Datenspeichergerät, nämlich ein Magnetplattenspeichergerät und insbesondere ein Daten­ speicher-Medium, ein Datenspeichergerät und ein Steuer­ verfahren hierfür, wobei ein Lesesystem auf der Basis von Parametern, die aus dem Datenspeichermedium ausgelesen werden, gesteuert wird.The invention relates to a data storage device, namely a Magnetic disk storage device and especially a data storage medium, a data storage device and a control process for this, a reading system based on Parameters read from the data storage medium be controlled.

Das übliche bekannte Magnetplattengerät enthält ein System, das mittels eines Magnetkopfes auf einer Magnetplatte ge­ speicherte Daten in elektrische Signale transformiert und durch Vergleich dieser Signale mit einem festen Schwel­ lenwert (slice level) unterscheidet, ob diese elektrischen Signale 0 oder 1 sind.The usual known magnetic disk device contains a system that ge using a magnetic head on a magnetic disk stored data transformed into electrical signals and by comparing these signals to a fixed smolder lenwert (slice level) differentiates whether this electrical Signals are 0 or 1.

Das Magnetplattengerät weist dabei Zylinder mit mehreren Magnetplatten auf. Jede Magnetplatte eines Zylinders hat wiederum zwei Magnetköpfe auf jeder Plattenseite. Ferner ist der Schwellenwert als konstanter Wert zu den Magnet­ köpfen des gleichen Zylinder gesetzt.The magnetic disk device has cylinders with several Magnetic disks on. Every magnetic disk of a cylinder has again two magnetic heads on each side of the disc. Further is the threshold as a constant value to the magnet heads of the same cylinder set.

Aufgrund elektrischer oder mechanischer Eigenheiten der einzelnen Magnetplatte und des einzelnen Magnetkopfes kann jedoch der Fall eintreten, daß der Ausgangspegel jedes einzelnen Magnetkopfes nicht der gleiche ist für sämtliche Magnetköpfe. Folglich kann bei jedem Magnetkopf ein Lese­ fehler auftreten, da der Schwellenwert für diesen Magnet­ kopf ungeeignet und für jeden Magnetkopf der gleiche ist. Der Magnetkopf versucht daher beim Auftreten des Lese­ fehlers, die Daten nochmals aus der Magnetplatte auszu­ lesen. In den meisten Fällen erfolgt jedoch aufgrund des gleichen Schwellenwerts wiederum eine fehlerhafte Auslese der Daten des Magnetkopfs. Der Schwellenwert muß deshalb für jeden Magnetkopf auf einen optimalen Wert gesetzt werden. Zusätzlich zum Schwellenwert weist das Datenlese­ system des Magnetplattengeräts Einrichtungen auf, welche die Entscheidung, die unterscheidet, ob das elektrische Signal 0 oder 1 ist, beeinflussen. Diese Einrichtungen haben Parameter, wie z. B. eine zusätzliche Größe des Kosinus-Äquivalenzschaltkreises, einen Verstärkungsfaktor des Verstärkers und eine Fenster-Verschiebungsgröße des Komparators. Folglich müssen diese Parameter in gleicher Weise wie beim Schwellenwert in einen optimalen Wert gesetzt werden.Due to electrical or mechanical characteristics of the single magnetic disk and single magnetic head can however, the case will occur that the output level each single magnetic head is not the same for everyone Magnetic heads. As a result, one read can be performed on each magnetic head errors occur because of the threshold for this magnet  head is unsuitable and is the same for every magnetic head. The magnetic head therefore tries when the reading occurs error, the data from the magnetic disk again read. In most cases, however, is due to the faulty readout with the same threshold value the data of the magnetic head. The threshold must therefore set to an optimal value for each magnetic head will. In addition to the threshold, the data reading points System of the magnetic disk device facilities, which the decision that distinguishes whether the electrical Signal is 0 or 1. These facilities have parameters such as B. an additional size of Cosine equivalent circuit, a gain of the amplifier and a window shift amount of the Comparator. Consequently, these parameters must be the same Way like the threshold into an optimal value be set.

Die vorliegende Erfindung beruht auf den vorstehend aufge­ zeigten Problemen; sie sieht ein Datenspeicher-Medium zum Speichern von Daten und mindestens einen Parameter vor, der in ein Signalbearbeitungssystem gesetzt wird, wenn die Daten in Binärsignale transformiert werden, wobei dieser Parameter vorab in einem festen Bereich des Speicher- Mediums gespeichert wird.The present invention is based on the above showed problems; it sees a data storage medium for Storing data and at least one parameter before, which is placed in a signal processing system if the data is transformed into binary signals, whereby this parameter in advance in a fixed area of the memory Medium is saved.

Das Datenspeichergerät gemäß vorliegender Erfindung besitztThe data storage device according to the present invention has

  • (a) ein Datenspeicher-Medium zum Speichern von Daten und einen Parameter, der vorab in einem festen Bereich des Speicher-Mediums gespeichert ist;(a) a data storage medium for storing data and a parameter that is in advance within a fixed range the storage medium is stored;
  • (b) eine Leseeinrichtung zum Auslesen von Daten aus diesem Datenspeicher-Medium; und (b) a reading device for reading data therefrom Data storage medium; and  
  • (c) eine Signalbearbeitungseinrichtung, um die Daten, die durch die genannte Leseeinrichtung ausgelesen wurden, auf der Basis dieses Parameters in Binärsignale zu transformieren.(c) a signal processing device to process the data were read out by said reading device, based on this parameter in binary signals transform.

Ferner ist ein Steuerverfahren für das Datenspeichergerät vorgesehen, das erfindungsgemäß folgende Schritte aufweist:Furthermore, there is a control method for the data storage device provided that according to the invention comprises the following steps:

  • - Einschreiben von Parametern in ein Datenspeicher-Medium, um Daten, welche durch eine Leseeinrichtung ausgelesen werden, in Binärsignale zu transformieren, und zwar ent­ sprechend dem Zustand des Datenspeicher-Mediums und der Leseeinrichtung;Writing parameters into a data storage medium, around data read out by a reading device be transformed into binary signals, ent speaking of the state of the data storage medium and the Reading device;
  • - Setzen des Parameters zu einer Signalbearbeitungseinrich­ tung nach dem Auslesen; und- Setting the parameter to a signal processing device after reading out; and
  • - Auslesen dieser Daten auf der Grundlage dieses Parameters.- Read out this data based on this parameter.

Es zeigt sich, daß bei diesem Datenspeichergerät die Signal­ bearbeitungseinrichtung mittels der Leseeinrichtung die Lesedaten auf dem Datenspeicher-Medium korrekt transfor­ mieren kann, indem trotz charakteristischer Unregelmäßig­ keiten des magnetischen Mediums oder der Leseeinrichtung die Parameter auf optimale Werte gesetzt werden.It can be seen that the signal in this data storage device processing device by means of the reading device Transfor read data on the data storage medium correctly can lubricate by in spite of characteristic irregular of the magnetic medium or the reading device the parameters are set to optimal values.

Die Erfindung wird nachstehend anhand der Figuren noch näher erläutert. Es zeigt: The invention is explained in more detail below with the aid of the figures explained. It shows:  

Fig. 1 im Blockschaltbild den Aufbau eines ersten Aus­ führungsbeispiels eines Magnetplattengeräts nach der Erfindung; Figure 1 is a block diagram showing the structure of a first exemplary embodiment of a magnetic disk device according to the invention.

Fig. 2 eine Draufsicht auf ein Magnetplattengerät nach Fig. 1; FIG. 2 shows a plan view of a magnetic disk device according to FIG. 1;

Fig. 3 ein Kurvendiagramm eines Komparatorschaltkreises für ein Magnetplattengerät nach Fig. 1; Fig. 3 is a graph of a comparator circuit for a magnetic disk device shown in Fig. 1;

Fig. 4 ein Flußdiagramm einer Operation, mittels der ein Schwellenwert beim abschließenden Versandtest des Magnetspeichergeräts geschrieben wird; FIG. 4 shows a flow chart by means of a threshold value at the final shipment test of the magnetic storage device is written an operation;

Fig. 5 im Blockschaltbild den Aufbau eines zweiten Aus­ führungsbeispiels nach der Erfindung; Fig. 5 is a block diagram showing the structure of a second exemplary embodiment from the invention;

Fig. 6 ein Flußdiagramm einer Operation des zweiten Aus­ führungsbeispiels nach Fig. 5; und FIG. 6 is a flowchart of an operation of the second embodiment shown in FIG. 5; and

Fig. 7 ein Flußdiagramm, das eine Lesewiederholoperation des zweiten Ausführungsbeispiels zeigt. Fig. 7 is a flowchart showing a Lesewiederholoperation of the second embodiment.

Erstes AusführungsbeispielFirst embodiment

Fig. 1 ist ein Blockschaltbild, das den Aufbau eines ersten Ausführungsbeispiels eines Magnetspeichergeräts nach der Erfindung zeigt. Eine Magnetplatte 1 ist auf einer Achse 2 eines Spindelmotors drehbar befestigt. Ein Träger 4, der um eine Schwenkachse 3, die parallel zur Achse 2 ist, dreh­ bar ist, ist nahe der Magnetplatte 1 befestigt. Ein Magnet­ kopf 5, der am freien Ende des Trägers 4 befestigt ist, transformiert auf der Fläche der Magnetplatte 1 gespeicherte Daten in elektrische Signale. Ein am Ende des Trägers 4 be­ festigter Tauchspulenmotor 6 wirkt auf den Träger 4 derart ein, daß dieser den Magnetkopf 5 zum gewünschten Zylinder befördert. Das Magnetspeichergerät weist ferner mehrere auf der Achse 2 angeordnete Magnetplatten 1 auf, wobei je Plattenseite sämtlicher Magnetplatten 1 Magnetköpfe 2 ange­ ordnet sind. Fig. 1 is a block diagram showing the construction of a first embodiment of a magnetic storage device according to the invention. A magnetic plate 1 is rotatably mounted on an axis 2 of a spindle motor. A carrier 4 , which is rotatable about a pivot axis 3 , which is parallel to the axis 2 , is fastened near the magnetic disk 1 . A magnetic head 5 , which is attached to the free end of the carrier 4 , transforms data stored on the surface of the magnetic disk 1 into electrical signals. An at the end of the carrier 4 be fixed plunger motor 6 acts on the carrier 4 such that it conveys the magnetic head 5 to the desired cylinder. The magnetic storage device also has a plurality of magnetic disks 1 arranged on the axis 2 , with one magnetic head 2 being arranged on each disk side of all magnetic disks 1 .

Das vom Magnetkopf 5 abgegebene elektrische Signal wird einem Magnetkopfverstärker 10 zugeführt, der es verstärkt und anschließend in einen AGC-Verstärker 11 (automatische Verstärkungsregelung) einspeist. Der AGC-Verstärker 11 hebt das bereits verstärkte Signal nochmals auf einen festen Wert an und gibt es an einen Equalizer-Schaltkreis 12 ab. Der Equalizer-Schaltkreis 12 arrangiert eine Wellenform des vom AGC-Verstärker 11 abgegebenen elektrischen Signals und speist sie in einen Filterschaltkreis 13 ein. Der Filterschaltkreis 13 filtert Störsignale aus, welche das vom Equalizer-Schaltkreis 12 abgegebene elektrische Signal enthält und speist das gefilterte Signal in einen Differential-Schaltkreis 14 ein. Der Differential-Schalt­ kreis 14 beseitigt ungleichmäßig steile Teile des vom Filterschaltkreis 13 abgegebenen elektrischen Signals und speist das Signal anschließend in einen Komparator-Schalt­ kreis 15 ein. Dieser Schaltkreis vergleicht das gleichge­ machte Signal mit einem festen Schwellenwert (Kriterium­ wert) und gibt das verglichene Resultat an einen Impuls- Schaltkreis 16 ab. Dieser Impuls-Schaltkreis erzeugt schließ­ lich auf der Basis des verglichenen Resultats einen Daten­ impuls, d.h. 0 oder 1. The electrical signal emitted by the magnetic head 5 is fed to a magnetic head amplifier 10 , which amplifies it and then feeds it into an AGC amplifier 11 (automatic gain control). The AGC amplifier 11 raises the already amplified signal again to a fixed value and outputs it to an equalizer circuit 12 . The equalizer circuit 12 arranges a waveform of the electrical signal output by the AGC amplifier 11 and feeds it into a filter circuit 13 . The filter circuit 13 filters out interference signals, which contains the electrical signal emitted by the equalizer circuit 12 , and feeds the filtered signal into a differential circuit 14 . The differential circuit 14 eliminates unevenly steep parts of the electrical signal emitted by the filter circuit 13 and then feeds the signal into a comparator circuit 15 . This circuit compares the made signal with a fixed threshold value (criterion value) and outputs the compared result to a pulse circuit 16 . This pulse circuit finally generates a data pulse, ie 0 or 1, based on the compared result.

Eine CPU 17 (Zentralprozessereinheit) steuert jeden Teil des Magnetspeichergeräts, insbesondere speist sie den Schwellenwert in den Komparatorschaltkreis 15 ein, ferner speist sie dem Schwellenwert entsprechende Kontrolldaten in einen D/A-Wandler 18, d.h. einen Digital/Analogwandler ein. Der D/A-Wandler 18 wandelt das Kontrolldatum in ein Analogsignal und gibt es anschließend an einen Dispersions- Schaltkreis 19 ab. Der Dispersionsschaltkreis 19 disper­ giert das Analogsignal (=Kontrolldaten), um den festen Schwellenwert zu erhalten und gibt ein dispergiertes Analogsignal, d.h. den festen Schwellenwert, an den Kompa­ ratorschaltkreis 15 ab.A CPU 17 (central processing unit) controls each part of the magnetic storage device, in particular it feeds the threshold value into the comparator circuit 15 , and furthermore feeds control data corresponding to the threshold value into a D / A converter 18 , ie a digital / analog converter. The D / A converter 18 converts the control data into an analog signal and then outputs it to a dispersion circuit 19 . The dispersion circuit 19 disperses the analog signal (= control data) to obtain the fixed threshold value and outputs a dispersed analog signal, ie the fixed threshold value, to the comparator circuit 15 .

Nebenbei wird eine Information, welche den Schwellenwert festlegt, der von der CPU 17 dem Komparatorschaltkreis 15 zugeführt wurde, in die Systemzylinder (den peripher äußersten Zylinder) der Magnetplatte 1 eingeschrieben. D.h. daß ein Minimum-Schwellenwert, falls die Datenaus­ lesung durch den Magnetkopf 5 möglich ist, und ein Maximum-Schwellenwert, kurz bevor diese Datenauslesung möglich ist, in der Fertigung bzw. Fabrik in einem ab­ schließenden Versandtest des Magnetspeichergeräts gemessen werden. Ferner wird ein Mittelwert zwischen dem minimalen und maximalen Schwellenwert erhalten. Der Mittelwert wird in jeden Systemzylinder der Mehrfach-Magnetplatte als optimaler Schwellenwert eingeschrieben.Incidentally, information specifying the threshold value supplied from the CPU 17 to the comparator circuit 15 is written in the system cylinders (the outermost peripheral cylinder) of the magnetic disk 1 . That is, a minimum threshold value, if the data readout by the magnetic head 5 is possible, and a maximum threshold value, shortly before this data readout is possible, are measured in the production or factory in a final shipping test of the magnetic storage device. Furthermore, an average between the minimum and maximum threshold value is obtained. The mean value is written into each system cylinder of the multiple magnetic disk as the optimal threshold value.

Wie bereits vorstehend erwähnt wurde, ist es ein besonderes Merkmal dieses Ausführungsbeispieles, daß der Schwellenwert entsprechend der charakteristischen Unregelmäßigkeit in jeder Magnetplatte oder jedes Magnetkopfes bereits vorab in jeden Systemzylinder eingeschrieben wird und das Magnet­ speichergerät bei seiner späteren Inbetriebnahme mittels seines Magnetkopfes den Schwellenwert ausliest und zum Komparator-Schaltkreis 15 setzt.As already mentioned above, it is a special feature of this embodiment that the threshold value corresponding to the characteristic irregularity in each magnetic disk or magnetic head is already written in advance in each system cylinder and the magnetic storage device reads out the threshold value when it is commissioned later by means of its magnetic head and for Comparator circuit 15 sets.

Im folgenden wird anhand von Fig. 4 eine Schreiboperation des Schwellenwerts beim abschließenden Versandtest des Magnetspeichergeräts erläutert.A write operation of the threshold value in the final dispatch test of the magnetic storage device is explained below with reference to FIG. 4.

Zuerst wird der Schwellenwert des Komparator-Schaltkreises 15 beim Schritt SP1 null gesetzt. Dann, d.h. beim Schritt SP2 werden auf der Basis des Schwellenwertes die Daten aus der Magnetplatte 1 ausgelesen. Als nächstes wird ge­ testet, ob ein Lesefehler aufgetreten ist oder nicht. Hierbei wird der Fehlertest auf der Basis von CRC (zyklische Redundanzkontrolle) durchgeführt, wobei der Fehleranzeige- Code, der im letzten Bit des ID-Feldes ist, und das Daten­ feld auf der Magnetplatte benutzt werden. Wenn das Ergebnis des in Schritt SP3 durchgeführten Tests positiv ist, d.h. der Lesefehler beim Schritt SP3 auftritt, geht die Kontrolle auf Schritt SP4 über, wonach der Schwellenwert um ein Bit erhöht wird. Anschließend kehrt die Kontrolle zu Schritt SP2 zurück, bei dem die Daten aus der Magnetplatte 1 aus­ gelesen werden, wonach die Kontrolle zum Schritt SP3 über­ leitet. Wie bereits erwähnt wurde, werden die Schritte SP2 und SP4 fortlaufend durchgeführt, bis der Schwellen­ wert einen optimalen Wert erreicht hat.First, the threshold value of the comparator circuit 15 is set to zero in step SP1. Then, ie in step SP2, the data are read out from the magnetic disk 1 on the basis of the threshold value. Next, it is tested whether a reading error has occurred or not. The error test is carried out on the basis of CRC (cyclical redundancy control), whereby the error display code, which is in the last bit of the ID field, and the data field on the magnetic disk are used. If the result of the test carried out in step SP3 is positive, ie the reading error occurs in step SP3, control passes to step SP4, after which the threshold value is increased by one bit. The control then returns to step SP2, in which the data are read from the magnetic disk 1 , after which the control transfers to step SP3. As already mentioned, steps SP2 and SP4 are carried out continuously until the threshold value has reached an optimal value.

Wenn andererseits das Ergebnis aus Schritt SP3 negativ ist, d.h. wenn der Schwellenwert ein optimaler Wert wird und die Daten exakt ausgelesen wurden, schreitet die Kontrolle zu SP5. Beim Schritt SP5 wird der Schwellenwert des Schrittes SP3 als Minimum-Wert gesetzt. Als nächstes wird der Schwellenwert beim Schritt SP6 um ein weiteres Bit er­ höht und anschließend beim Schritt SP7 getestet, ob ein Lesefehler aufgetreten ist oder nicht. Falls das Ergebnis aus Schritt SP7 negativ ist, d.h. falls der Lesefehler nicht aufgetreten ist, kehrt die Kontrolle zu Schritt SP6 zurück, wonach der Schwellenwert um ein weiteres Bit erhöht wird. Die Schritte SP6 und SP7 werden durchgeführt, bis das Ergebnis von Schritt SP7 positiv wird, d.h. bis der Lese­ fehler auftritt und damit der Schwellenwert den optimalen Bereich überschreitet. Dann, d.h. wenn der Schwellenwert den optimalen Bereich überschreitet, wird das Ergebnis von Schritt SP7 positiv, und die Kontrolle schreitet zu Schritt SP8. Beim Schritt SP8 wird der Schwellenwert, falls der Lesefehler beim Schritt SP7 aufgetreten ist, als Maximum-Wert gesetzt. Als nächstes wird beim Schritt SP9 der Mittelwert (optimaler Wert) durch Berechnung von (Maximum-Wert+Minimum-Wert)/2 ermittelt, und zwar auf der Basis des beim Schritt SP8 bzw. SP5 erhaltenen maxi­ malen bzw. minimalen Werts. Anschließend wird der Mittel­ wert in den Systemzylinder als der optimale Schwellenwert eingegeben. Hiermit ist die vorerwähnte Schreiboperation des Schwellenwerts für alle Magnetplatten durchgeführt.On the other hand, if the result of step SP3 is negative, i.e. when the threshold becomes an optimal value and the data is read exactly, the control proceeds to SP5. At step SP5, the threshold of Step SP3 set as the minimum value. Next up  the threshold at step SP6 by another bit increases and then tested in step SP7 whether a Read error has occurred or not. If the result from step SP7 is negative, i.e. if the reading error if control has not occurred, control returns to step SP6 back, after which the threshold is increased by another bit becomes. Steps SP6 and SP7 are carried out until the The result of step SP7 becomes positive, i.e. until the read error occurs and thus the threshold the optimal Area exceeds. Then, i.e. if the threshold exceeds the optimal range, the result of Step SP7 is positive and control proceeds Step SP8. At step SP8, the threshold, if the read error occurred at step SP7, set as maximum value. Next is the step SP9 the mean (optimal value) by calculating (Maximum value + minimum value) / 2 determined, namely on the basis of the maxi obtained in step SP8 or SP5 paint or minimum value. Then the remedy value in the system cylinder as the optimal threshold entered. This is the aforementioned write operation of the threshold for all magnetic disks.

Falls, wie vorstehend erläutert wurde, der Schwellenwert entsprechend den charakteristischen Unregelmäßigkeiten der Magnetplatte oder des Magnetkopfes bereits vorab in den Systemzylinder eingeschrieben wurde, hat z. B. selbst das Ausgangssignal des Magnetkopfes 5 eine spezielle Wellen­ form - s. Fig. 3 -, die durch charakteristische Unregel­ mäßigkeiten der Magnetplatte 1 oder des Magnetkopfes 5 verursacht wird. Vorstehend erwähnten Schwellenwert setzt die CPU 17 zum Komparatorschaltkreis 15, so daß dieser in der Lage ist, den Pegel bzw. Wert des umformierten Signals aus dem Differentialschaltkreis 14 mit dem optimalen Schwellenwert zu vergleichen. Der Impulsschaltkreis 16 gibt folglich Impulsdaten als Referenzsignal B ab - s. Fig. 3 -.If, as explained above, the threshold value has already been previously written into the system cylinder in accordance with the characteristic irregularities of the magnetic disk or the magnetic head, z. B. even the output signal of the magnetic head 5 a special wave form - see. Fig. 3 -, which is caused by characteristic irregularities of the magnetic disk 1 or the magnetic head 5 . The above-mentioned threshold value sets the CPU 17 to the comparator circuit 15 so that it is able to compare the level of the converted signal from the differential circuit 14 with the optimal threshold value. The pulse circuit 16 consequently outputs pulse data as a reference signal B - s. Fig. 3 -.

Falls im übrigen der Maximum- und Minimumwert des Schwellen­ werts - wie dies Fig. 3 zeigt - durch ein Bezugssignal C gekennzeichnet sind, wird der Wert L auf der Basis des maximalen und minimalen Werts als Schwellenwert gesetzt. Ferner kann, falls ein durch den Schwellenwert L verur­ sachter Lesefehler auftritt, die CPU 17 das Lesesystem steuern, so daß nach Änderung des Schwellenwerts L die Auslesung der Daten wiederholt wird. Für den Fall, daß die CPU 17 den Schwellenwert aus der Magnetplatte 1 nicht aus­ lesen kann, kann das Magnetspeichergerät einen ROM (oder Speicher) aufweisen, der zeitweilig einen Schwellenwert L für die Eingabe in die CPU 17 speichert.In addition, if the maximum and minimum values of the threshold value - as shown in FIG. 3 - are identified by a reference signal C, the value L is set as a threshold value on the basis of the maximum and minimum values. Furthermore, if a reading error caused by the threshold value L occurs, the CPU 17 can control the reading system, so that after the threshold value L has been changed, the reading of the data is repeated. In the event that the CPU 17 cannot read the threshold from the magnetic disk 1 , the magnetic storage device may have a ROM (or memory) which temporarily stores a threshold L for input to the CPU 17 .

Obgleich im übrigen beim obigen Ausführungsbeispiel der Schwellenwert als Kontroll-Parameter des Lesesystems in einen speziellen Bereich der Magnetplatte 1 eingeschrie­ ben wird, kann trotzdem eine Information, die einen Lese­ pegel (reading level) beeinflußt, in die Magnetplatte eingeschrieben werden, wobei folgende Größen bzw. Bedin­ gungen zu beachten sind:Although in the above embodiment the threshold value is written as a control parameter of the reading system into a special area of the magnetic disk 1 , information which influences a reading level (reading level) can nevertheless be written into the magnetic disk, the following sizes or Conditions must be observed:

  • a) ein Parameter zur Änderung des Fenstermittewerts von VF0 (d.h. spannungsgesteuerter Oscillator mit PLL: Phasenregelschleife), der Pulssignale mit auf der Basis der Lesedaten fester Frequenz erzeugt; a) a parameter for changing the window mean of VF0 (i.e. voltage controlled oscillator with PLL: Phase locked loop), the pulse signals based on which generates fixed frequency read data;  
  • b) einen zusätzlichen Wert eines Kosinus-Äquivalenzschalt­ kreises (d.h. des Equalizer-Schaltkreises 12);b) an additional value of a cosine equivalent circuit (ie the equalizer circuit 12 );
  • c) einen Schreibstrom des Magnetkopfs;c) a write current of the magnetic head;
  • d) einen Vorkompensationswert zur Kompensation, um eine Pattern-Peak-Verschiebung des Leseimpulses zu ver­ ringern, wobei Pattern-Peak die Spitzen des Lesesignals sind und die Verschiebung den Unterschied zur idealen Position bedeutet;d) a pre-compensation value for compensation to a Verification pattern peak shift of the reading pulse wrestle, with pattern peak the peaks of the read signal are and the difference the difference to the ideal Position means;
  • e) mindestens ein Verstärkungsfaktor, der das Lesesystem setzt.e) at least one gain factor that the reading system puts.
Zweites AusführungsbeispielSecond embodiment

Im folgenden wird anhand von Fig. 5 ein weiteres Ausführungs­ beispiel nach der Erfindung erläutert, bei dem ein Lese­ system durch mehrere Parameter kontrolliert wird. Es wird hierbei auf die Beschreibung von Teilen der Fig. 5 ver­ zichtet, welche die gleiche Funktion haben wie die ent­ sprechenden Teile des ersten Ausführungsbeispieles.In the following a further embodiment example according to the invention is explained with reference to FIG. 5, in which a reading system is controlled by several parameters. Here, it is omitted the description of portions of FIG. 5 ver which have the same function as the ent speaking parts of the first embodiment.

Bei diesem Ausführungsbeispiel wird anstelle des Equalizer- Schaltkreises 12 der Kosinus-Äquivalenzschaltkreis 12 ver­ wendet. Dieser Schaltkreis besitzt einen Verzögerungs­ schaltkreis, einen Reduktionsschaltkreis usw. und erzeugt durch Verzögerung eines Eingangssignals ein Verzögerungs­ signal, wonach dieses und das Eingangssignal zusammen­ gesetzt werden. Beide Sginale, d.h. das Verzögerungssignal und das Eingangssignal, werden bei ihrem Zusammensetzen durch den Reduktionsschaltkreis reduziert. D.h. daß der Kosinus-Äquivalenzschaltkreis 12, die Verzögerungszeit und den Halbwert des Eingangssignals durch Änderung der Ver­ zögerungsgröße des Verzögerungsschaltkreises und des Reduktionsfaktors des Reduktionsschaltkreises ändert, und zwar aufgrund der Reduktion der Pattern-Peak-Verschie­ bung (Zeitverzögerung) des Eingangssignals und der auf eine außergewöhnliche Datenstruktur (data pattern) zurück­ zuführenden Bitauslese. Bei diesem Ausführungsbeispiel ist der Reduktionsfaktor des Reduktionsschaltkreises verändert. Das Ausgangssignal des Kosinus-Äquivalenzschaltkreises 12 wird über ein Tiefpaßfilter 13 in einen Differential- Schaltkreis 14, einen Amplitudenanzeigeschaltkreis 30 und einen Gate-Generator 31 eingespeist.In this embodiment 12, the cosine equivalent circuit 12 applies ver instead of the equalizer circuit. This circuit has a delay circuit, a reduction circuit, etc. and generates a delay signal by delaying an input signal, after which this and the input signal are put together. Both signals, ie the delay signal and the input signal, are reduced by the reduction circuit when they are assembled. That is, that the cosine equivalent circuit 12 , the delay time and the half value of the input signal by changing the delay amount of the delay circuit and the reduction factor of the reduction circuit changes due to the reduction of the pattern peak shift (time delay) of the input signal and to one Exceptional data structure (data pattern) leading back bit readout. In this embodiment, the reduction factor of the reduction circuit is changed. The output signal of the cosine equivalent circuit 12 is fed via a low-pass filter 13 into a differential circuit 14 , an amplitude display circuit 30 and a gate generator 31 .

Der Amplitudenanzeigeschaltkreis 30 zeigt eine Amplitude des vom Kosinsus-Äquivalenzschaltkreises 12 ausgegebenen Signals an und regelt entsprechend dieser Amplitude die Verstärkung des AGC-Verstärkers 11. Ferner wird von CPU 17 ein die Verstärkung regelndes Signal an den Amplitudenan­ zeigeschaltkreis 30 abgegeben. Das Ergebnis ist, daß der Amplitudenanzeigeschaltkreis 30 entsprechend dem Verstär­ kungsreglersignal die Verstärkung des AGC-Verstärkers 11 erhöht oder reduziert, und zwar trotz der vom Kosinus- Äquivalenzschaltkreis 12 abgegebenen Signalamplitude.The amplitude display circuit 30 displays an amplitude of the signal output by the cosine equivalent circuit 12 and regulates the gain of the AGC amplifier 11 in accordance with this amplitude. Furthermore, a gain regulating signal is output from the CPU 17 to the amplitude display circuit 30 . The result is that the amplitude display circuit 30 increases or decreases the gain of the AGC amplifier 11 in accordance with the gain control signal, despite the signal amplitude output from the cosine equivalent circuit 12 .

Der Pulsschaltkreis 32 transformiert das differenzierte Signal entsprechend einem Schwellenwert, der auf den vom Gate-Generator 31 abgegebenen Signal beruht, in Pulsdaten. Der Gate-Generator 31 gibt das Schwellenwert-Signal ab, das mit dem Differential-Signal synchronisiert ist, das ent­ sprechend dem Ausgangssignal des Tiefpaßfilters 13 vom Differential-Schaltkreis 14 ausgegeben wird. Hierbei wird der vom Gate-Generator 31 ausgegebene Betrag des Schwellen­ werts durch ein Steuersignal aus der CPU 17 justiert. Die vom Pulsschaltkreis 32 abgegebenen Pulsdaten werden einem Dekoder 33 und einer Phasenanzeigeschaltung 34 zugeführt. Die Phasenanzeigeschaltung 34 bildet einen PLL-Schaltkreis (Phasenregelschleife) mit variablem Frequenzoscillator 35. Die Phasenanzeigeschaltung 34 zeigt eine Phasendifferenz zwischen den Pulsdaten an, die einem Eingangsterminal und Daten, die einem anderen Eingangsterminal dieser Schaltung zugeführt wurden. Entsprechend der Phasendifferenz wird dabei ausgangsseitig eine entsprechende Spannung in den Frequenzoscillator 35 eingespeist. Dieser Frequenzgenerator erzeugt ein Signal mit entsprechend der jeweiligen Spannung bestimmter Frequenz das zum einen zum letztgenannten Ein­ gangsterminal der Phasenanzeigeschaltung 34 zurückgeführt und zum anderen als Unterscheidungsfenster-Signal (distinc­ tion window signal) in den Dekoder 33 eingespeist wird. Der Frequenzoscillator 35 erzeugt ein Signal, das eine bestimmte Frequenz hat, um entsprechend der Phasendifferenz die Spannung auf Null zu setzen. Nachdem die Frequenz des Ausgangssignals des Frequenzoscillators 35 halbiert ist, wird dieses Signal zur Phasenanzeigeschaltung 34 rückge­ koppelt.The pulse circuit 32 transforms the differentiated signal into pulse data in accordance with a threshold value that is based on the signal output by the gate generator 31 . The gate generator 31 outputs the threshold signal, which is synchronized with the differential signal, which is output accordingly from the output signal of the low-pass filter 13 from the differential circuit 14 . Here, the amount of the threshold value output by the gate generator 31 is adjusted by a control signal from the CPU 17 . The pulse data output by the pulse circuit 32 are fed to a decoder 33 and a phase display circuit 34 . The phase display circuit 34 forms a PLL (phase locked loop) circuit with a variable frequency oscillator 35 . The phase display circuit 34 displays a phase difference between the pulse data that is input to one input terminal and data that is supplied to another input terminal of this circuit. Corresponding to the phase difference, a corresponding voltage is fed into the frequency oscillator 35 on the output side. This frequency generator generates a signal with a frequency corresponding to the respective voltage, which on the one hand is fed back to the latter input terminal of the phase display circuit 34 and, on the other hand, is fed into the decoder 33 as a distinction window signal. The frequency oscillator 35 generates a signal which has a specific frequency in order to set the voltage to zero in accordance with the phase difference. After the frequency of the output signal of the frequency oscillator 35 is halved, this signal is fed back to the phase display circuit 34 .

Der Dekoder 33 erzeugt auf der Basis des eben erwähnten Unterscheidungsfenster-Signals aus dem Pulssignal ein Datenbit. Hiervon wird von der CPU 17 ein Steuersignal zum Dekoder 33 geführt, so daß dieser das Unterscheidungs­ fenster gemäß dem Steuersignal verschieben kann.The decoder 33 generates a data bit from the pulse signal on the basis of the discrimination window signal just mentioned. From this, a control signal is passed from the CPU 17 to the decoder 33 , so that it can move the differentiation window in accordance with the control signal.

Als nächstes führt eine Datenformatsteuerung 36 eine Schreiboperation durch, wobei mittels des Magnetkopfes aus der Magnetplatte ausgelesene Daten in das Puffer-RAM 37 eingeschrieben werden, und zwar mittels einer Schreibope­ ration, bei der zum Einschreiben in die Magnetplatte be­ stimmte Daten, die von einer peripheren Einrichtung, wie einem Hostcomputer geliefert werden, auf der Basis des Steuersignals der CPU 17 in den Puffer-RAM 37 eingeschrie­ ben werden. Die Datenformatsteuerung 36 transformiert Daten, die im Puffer-RAM 37 gespeichert sind, zum Daten­ format (data format) (entsprechend der SCSI; Kleinkomputer­ system-Schnittstelle) der Magnetplatte. D.h. daß in den Hostcomputer eingespeiste Daten und auch von diesem ausge­ gebene Daten im Puffer-RAM 37 gespeichert werden. Die durch den Magnetkopf 5 ausgelesenen Daten werden über einen Schnittstellen-Adapter 38 in den Hostcomputer eingespeist. Andererseits werden die Daten aus dem Hostcomputer durch den Schnittstellen-Adapter 38 zeitweise im Puffer-RAM 37 gespeichert.Next, a data format controller 36 performs a write operation in which data read out from the magnetic disk by the magnetic head is written into the buffer RAM 37 by means of a write operation in which data to be written into the magnetic disk is provided by a peripheral Device as supplied to a host computer can be written into the buffer RAM 37 based on the control signal of the CPU 17 . The data format controller 36 transforms data stored in the buffer RAM 37 to the data format (data format) (corresponding to the SCSI; small computer system interface) of the magnetic disk. That is, data fed into the host computer and data output from it are stored in the buffer RAM 37 . The data read out by the magnetic head 5 are fed into the host computer via an interface adapter 38 . On the other hand, the data from the host computer is temporarily stored in the buffer RAM 37 by the interface adapter 38 .

Ferner werden die Schreibdaten aus dem Hostcomputer über die Datenformat-Steuerung 36 zu einem Codierer 39 geführt. Dieser Codierer transformiert die Schreibdaten zu Daten, die mit dem Magnetkopfverstärker 10 übereinstimmen. Ferner wird von der CPU 17 ein Steuersignal mit Schreib- Vorkompensationswert in den Codierer 39 eingespeist und dieser Wert im Codierer 39 durch das oben erwähnte Steuer­ signal justiert. Die Schreib-Vorkompensation bedeutet hier, daß der Codierer 39, wenn die Schreibdaten gespeichert sind, eine Schreib-Zeitsteuerung (writing timing) kompen­ siert, wobei die Schreibdaten in die entgegengesetzte Richtung (gegen die Peak-Verschieberichtung) verschoben werden, um das Ausmaß der Pattern-Peak-Verschiebung herabzusetzen. Nachdem der Mangetkopfverstärker 10 die Schreibdaten auf einen bestimmten Wert verstärkt hat, speist er diese Daten in den Magnetkopf 5 ein. Der Magnet­ kopf wird dabei durch den Tauchspulenmotor 6 - s. Fig. 2 - in eine bestimmte Stellung auf der Magnetplatte 1 beför­ dert. Der Tauchspulenmotor 6 wiederum wird durch ein Signal einer Magnetkopf-Positionssteuerung 40 gesteuert, an welche die CPU 17 ein Steuersignal abgibt. Ferner speist die CPU 17 ein Kompensationssignal in die Magnetkopf-Positions­ steuerung 40 ein, durch das der Magnetkopf 5 mit festem Ausgleichswert für das ursprüngliche Positionssignal positioniert wird.Furthermore, the write data from the host computer are fed to an encoder 39 via the data format controller 36 . This encoder transforms the write data into data that matches the magnetic head amplifier 10 . Furthermore, a control signal with write precompensation value is fed into the encoder 39 by the CPU 17 and this value is adjusted in the encoder 39 by the control signal mentioned above. Here, the write precompensation means that when the write data is stored, the encoder 39 compensates for a writing timing, whereby the write data is shifted in the opposite direction (against the peak shifting direction) by the amount of Reduce pattern peak shift. After the Manget head amplifier 10 has amplified the write data to a certain value, it feeds this data into the magnetic head 5 . The magnetic head is driven by the moving coil motor 6 - s. Fig. 2 - beför changed in a certain position on the magnetic disk 1 . The voice coil motor 6 is in turn controlled by a signal from a magnetic head position controller 40 , to which the CPU 17 outputs a control signal. Furthermore, the CPU 17 feeds a compensation signal into the magnetic head position controller 40 , through which the magnetic head 5 is positioned with a fixed compensation value for the original position signal.

Mit der CPU 17 sind ein Festwert - ROM 41 - und ein Arbeits­ speicher - RAM 42 - verbunden. Das Festwert-ROM 41 speichert Standardwerte (Anfangswerte) der Parameter, die benötigt werden, um Daten, wie eine Tabelle, in die Magnetplatte 1 einzuspeichern oder aus dieser auszulesen. Das Arbeits­ speicher-RAM 42 speichert Paramter, die das Auslesen und Einschreiben von Daten regeln. Es wird als Wiederholungs­ zähler verwendet, der - wie später erläutert wird - die Anzahl der Wiederholungen speichert, in denen die Parameter eine Entscheidung gefällt haben. Mit der CPU 17 ist ferner ein History-Speicher-RAM 43 verbunden, das die Ent­ wicklung bzw. den Ablauf der Wiederholung einer Parameter- Entscheidung speichert.A fixed value ROM 41 and a working memory RAM 42 are connected to the CPU 17 . The fixed value ROM 41 stores standard values (initial values) of the parameters required to store or read out data such as a table in the magnetic disk 1 . The RAM RAM 42 stores parameters that regulate the reading and writing of data. It is used as a repetition counter, which - as will be explained later - stores the number of repetitions in which the parameters made a decision. A history memory RAM 43 is also connected to the CPU 17 and stores the development or the process of repeating a parameter decision.

Im folgenden wird anhand des Flußdiagramms nach Fig. 6 die auf oben erwähnte Anordnung beruhende Betriebsweise der Parameter-Entscheidung des Lesesystems erläutert.The mode of operation of the parameter decision of the reading system based on the above-mentioned arrangement is explained below with reference to the flow chart according to FIG. 6.

Wenn das Magnetspeichergerät an die Stromversorgung ange­ schlossen wird, wird das in Fig. 6 dargestellte Flußdia­ gramm wie folgt durchgeführt:
Zunächst wird beim Schritt SP12 jeder im Gerät gesetzte Parameter durch CPU 17 initiiert. Anschließend wird beim Schritt SP13 aus dem Festwert-ROM 41 ein Standartwert des R/W-Parameters ausgelesen und zu jedem Teil dieses Datenlesesystems, also zum Kosinusäquivalenzschaltkreis 12, zum Gate-Generator 31 und zum Dekoder 33 gesetzt. Im An­ schluß hieran wird beim Schritt SP14 der R/W-Parameter, der in die Magnetplatte 1 als Versandtermin eingeschrieben ist, ausgelesen. Der R/W-Parameter wird dabei gemäß dem Flußdiagramm nach Fig. 4 eingeschrieben. Im folgenden, d.h. beim Schritt SP15, wird getestet, ob der R/W-Parameter gemäß dem Standardwert im Schritt SP13 in der Lage ist, exakt zu lesen oder nicht, d.h. ob ein Lesefehler auftritt oder nicht. Falls das Testergebnis dieses Schrittes positiv ist, d.h. falls der Lesefehler beim Schritt SP15 auftritt, geht die Kontrolle auf Schritt SP30 über, bei dem eine Lese-Wiederholoperation erfolgt. Beim Schritt SP30 wird der R/W-Parameter auf der Basis des im Festwert-ROM 41 gespeicherten Standardwertes geändert, da die Zentralpro­ zessoreinheit CPU 17 nicht im Stande ist, die Daten der Magnetplatte mittels des im Schritt SP13 gesetzten R/W- Parameters zu lesen.
When the magnetic storage device is connected to the power supply, the flow diagram shown in FIG. 6 is carried out as follows:
First, in step SP12, each parameter set in the device is initiated by CPU 17 . Then, in step SP13, a standard value of the R / W parameter is read out of the fixed value ROM 41 and is set for each part of this data reading system, that is to say for the cosine equivalent circuit 12 , for the gate generator 31 and for the decoder 33 . At the conclusion of this, the R / W parameter, which is written into the magnetic disk 1 as the dispatch date, is read out in step SP14. The R / W parameter is written in accordance with the flow chart according to FIG. 4. In the following, ie at step SP15, it is tested whether the R / W parameter is able to read exactly according to the standard value in step SP13 or not, ie whether a reading error occurs or not. If the test result of this step is positive, ie if the reading error occurs in step SP15, control passes to step SP30, in which a read repeat operation takes place. In step SP30, the R / W parameter is changed on the basis of the standard value stored in the fixed value ROM 41 because the central processor unit CPU 17 is unable to add the data to the magnetic disk by means of the R / W parameter set in step SP13 read.

Im folgenden Schritt SP31 wird getestet, ob eine im Speicher- RAM 43 gespeicherte Anzahl von Wiederholungen über einer bestimmten Zahl liegt oder nicht. Falls beim Schritt SP31 das Ergebnis negativ ist, geht die Kontrolle auf Schritt SP14 über, bei dem der gespeicherte R/W-Parameter erneut ausgelesen wird. Tritt jedoch beim Schritt SP15 der Lese­ fehler erneut auf, so werden die Schritte SP30 und SP31 durchgeführt. Sollte, wie vorstehend erwähnt ist, der Lesefehler auftreten, obwohl der R/W-Parameter auf der Basis des Standardwerts gesetzt ist, dann wird, während der R/W-Parameter graduell durch Ausübung der Schrittfolge SP14, SP15, SP30 und SP31 geändert wird, die Auslesung der Daten aus der Magnetplatte 1 versucht. Falls das Ergeb­ nis aus Schritt SP31 positiv ist, d.h. wenn die Anzahl von Wiederholungen über der festen Zahl liegt, dann ist die Operation in diesem Flußdiagramm beendet, wenn die CPU 17 angezeigt hat, daß ein Lesefehler aufgetreten ist.In the following step SP31, it is tested whether or not a number of repetitions stored in the memory RAM 43 is above a certain number. If the result in step SP31 is negative, the control proceeds to step SP14, in which the stored R / W parameter is read out again. However, if the reading error occurs again in step SP15, steps SP30 and SP31 are carried out. As mentioned above, if the reading error occurs even though the R / W parameter is set based on the default value, then while the R / W parameter is gradually changed by executing the step sequence SP14, SP15, SP30 and SP31 who tried to read the data from the magnetic disk 1 . If the result of step SP31 is positive, that is, if the number of repetitions is above the fixed number, then the operation in this flowchart ends when the CPU 17 has indicated that a read error has occurred.

Falls andererseits das Ergebnis beim Schritt SP15 negativ ist, d.h. falls es möglich ist, R/W-Parameter der Magnet­ platte 1 auf der Basis des Standardwerts auszulesen, dann geht die Kontrolle auf Schritt SP16 über. Bei diesem Schritt wird der aus der Magnetplatte 1 ausgelesene R/W- Parameter zu mehreren Teilen des Datenlesesystems gesetzt, nämlich zum Kosinusäquivalenzschaltkreis 12, zum Amplituden­ schaltkreis 30 oder zum Gate-Generator 31. Als nächstes steuert die Kontrolle Schritt SP17 an und wartet hier auf einen Befehl des Hostcomputers, d.h. es wird getestet, ob ein Befehl ausgegeben wurde oder nicht. Falls der Host­ computer einen Befehl ausgibt, wird das Ergebnis dieser Entscheidung positiv, und die Kontrolle schreitet weiter zum Schritt SP18. Bei diesem Schritt wird getestet, ob der Befehl ein Lesebefehl ist oder nicht. Falls da Testergeb­ nis negativ ist, d.h. falls kein Lesebefehl vorliegt, schreitet die Kontrolle weiter zum Schritt SP32, bei dem eine dem Befehl gemäße Operation durchgeführt wird. Die Kontrolle kehrt anschließend zum Schritt SP17 zurück und wartet auf die nächste Befehlsausgabe.On the other hand, if the result at step SP15 is negative, that is, if it is possible to read out R / W parameters of the magnetic disk 1 based on the standard value, then control goes to step SP16. In this step, the R / W parameter read from the magnetic disk 1 is set to several parts of the data reading system, namely to the cosine equivalent circuit 12 , to the amplitude circuit 30 or to the gate generator 31 . The control then controls step SP17 and waits here for a command from the host computer, ie it is tested whether a command has been issued or not. If the host computer issues a command, the result of this decision is affirmative and control proceeds to step SP18. This step tests whether the command is a read command or not. If the test result is negative, ie if there is no read command, the control proceeds to step SP32, in which an operation according to the command is carried out. Control then returns to step SP17 and waits for the next command to be issued.

Wenn andererseits das Testergebnis des Schrittes SP18 positiv ist, d.h. wenn der Befehl des Hostcomputers der Lesebefehl ist, schreitet die Kontrolle zum Schritt SP19, bei dem Daten aus der Magnetplatte 1 ausgelesen werden. Beim folgenden Schritt SP20 wird getestet ob ein Lese­ fehler auftritt oder nicht. Falls dies zutrifft, d.h. der Lesefehler auftritt, schreitet die Kontrolle zum Schritt SP33, innerhalb dessen eine Lesewiederholoperation erfolgt.On the other hand, if the test result of step SP18 is positive, that is, if the command from the host computer is the read command, the control proceeds to step SP19, in which data is read out from the magnetic disk 1 . In the following step SP20 it is tested whether a reading error occurs or not. If this is the case, that is to say the reading error occurs, the control proceeds to step SP33, within which a read retry operation takes place.

Beim Schritt SP33 wird der R/W-Parameter auf der Basis des beim Schritt SP14 aus der Magnetplatte ausgelesenen R/W-Parameters geändert. Die Kontrolle schreitet dann zum Schritt SP34, wonach getestet wird, ob die Anzahl von Wiederholungen, die im Speicher-RAM 43 gespeichert ist, darüberliegt oder nicht. Falls das Testergebnis dieses Schrittes negativ ist, geht die Kontrolle zu Schritt SP19 über, wonach die Daten aus der Magnetplatte erneut ausge­ lesen werden. Beim anschließenden Schritt SP20 wird getestet, ob ein Lesefehler aufgetreten ist oder nicht. Falls der Lesefehler bei diesem Schritt wieder aufgetreten ist, werden die Schritte SP33 und SP34 durchgeführt. Falls, wie vorstehend erläutert wurde, der Lesefehler bei Benutzung des R/W-Parameters auftritt, obwohl der Parameter jedes Teils auf der Basis des R/W-Parameters der Magnetplatte 1 gesetzt ist, dann wird, während der R/W-Parameter graduell durch Ausübung der Schrittfolge SP19, SP20, SP33 und SP34 geändert wird, die Auslesung der Daten aus der Magnet­ platte 1 versucht. Falls das Testergebnis beim Schritt SP34 positiv ist, d.h. falls die Anzahl von Wiederholungen über der festgelegten Zahl ist, schreitet die Kontrolle zum Schritt SP35, bei dem CPU 17 anzeigt, daß ein Lesefehler aufgetreten ist. Die Kontrolle geht dann auf Schritt SP17 über und wartet wiederum auf einen Befehl des Hostcomputers. Falls jedoch das Ergebnis aus Schritt SP20 negativ ist, d.h. daß kein Lesefehler aufgetreten ist, begibt sich die Kontrolle nach Schritt SP21. Bei diesem Schritt wird der R/W-Parameter auf den Anfangswert zurückgeführt, der beim Schritt SP14 aus der Magnetplatte 1 ausgelesen wurde. Diese Operation bedeutet, daß der Lesefehler bei den Daten auftritt, die in eine spezielle Magnetplatte eingeschrieben wurden. Grund hierfür ist, daß der vorerwähnte R/W-Parameter kein Wert ist, der für die Daten sämtlicher Magnetplatten gültig ist. Im folgenden fährt die Konktrolle mit Schritt SP22 fort, bei dem eine Operation für die Lesedaten durch­ geführt wird. Die Kontrolle kehrt anschließend zum Schritt SP17 zurück, und die CPU 17 wartet erneut auf einen Befehl des Hostcomputers.At step SP33, the R / W parameter is changed based on the R / W parameter read from the magnetic disk at step SP14. Control then proceeds to step SP34, after which it is tested whether or not the number of repetitions stored in the memory RAM 43 is higher. If the test result of this step is negative, the control proceeds to step SP19, after which the data are read out from the magnetic disk again. In the subsequent step SP20, it is tested whether a read error has occurred or not. If the reading error occurred again at this step, steps SP33 and SP34 are carried out. As explained above, if the reading error occurs using the R / W parameter even though the parameter of each part is set based on the R / W parameter of the magnetic disk 1 , then the R / W parameter gradually becomes during the R / W parameter is changed by exercising the sequence of steps SP19, SP20, SP33 and SP34, the reading of the data from the magnetic disk 1 is attempted. If the test result at step SP34 is positive, that is, if the number of repetitions is above the specified number, control proceeds to step SP35, at which CPU 17 indicates that a read error has occurred. Control then passes to step SP17 and again waits for a command from the host computer. If, however, the result from step SP20 is negative, that is to say that no reading error has occurred, the control proceeds to step SP21. In this step, the R / W parameter is returned to the initial value read from the magnetic disk 1 in step SP14. This operation means that the reading error occurs on the data written in a special magnetic disk. The reason for this is that the aforementioned R / W parameter is not a value that is valid for the data of all magnetic disks. In the following, the control continues to step SP22, in which an operation for the read data is carried out. Control then returns to step SP17 and the CPU 17 waits again for a command from the host computer.

Nachstehend wird die Lese-Wiederholoperation bei den oben erwähnten Schritten SP30 und SP33 beschrieben.The following is the repeat read operation in the above described steps SP30 and SP33.

Zuerst wird beim Schritt SP50 die Zählung der Anzahl von Wiederholungen erhöht. Dann wird beim Schritt SP51 getestet, ob die Zählung 1 ist oder nicht. Falls sie 1 ist, d.h. daß der Lesefehler nur einmal auftritt, wird das Ergebnis aus Schritt SP51 positiv, und die Kontrolle geht über auf Schritt SP60, d.h. daß der R/W-Parameter nicht geändert ist und die Kontrolle zu dem in Fig. 6 gezeigten Flußdiagramm zurückkehrt, d.h. zu Schritt SP31 oder SP34.First, the number of repetitions is incremented at step SP50. Then, at step SP51, it is tested whether the count is 1 or not. If it is 1, that is, the reading error occurs only once, the result of step SP51 becomes positive, and control goes to step SP60, that is, the R / W parameter is not changed and the control becomes that in FIG. 6 returns the flowchart shown, ie to step SP31 or SP34.

Falls andererseits die Zählung, d.h. die Anzahl von Wieder­ holungen nicht 1 ist, also der Lesefehler mehr als zweimal auftritt, wird das Ergebnis beim Schritt SP51 negativ, und die Kontrolle geht über auf Schritt SP52, bei dem getestet wird, ob die Anzahl von Wiederholungen 2 ist oder nicht. Falls das Ergebnis beim Schritt SP52 positiv ist, d.h. der Lesefehler nur zweimal aufgetreten ist, schreitet die Kontrolle zu Schritt SP61. Bei diesem Schritt wird ein Kontroll- bzw. Steuersignal der CPU 17 in den Dekoder 33 eingespeist, dadurch das Unterscheidungsfenster um 5 nsec. nach vorwärts verschoben, wonach die Kontrolle im in Fig. 6 dargestellten Flußdiagramm fortfährt, d.h. mit Schritt SP31 oder SP34.If, on the other hand, the count, ie the number of repetitions, is not 1, that is to say the reading error occurs more than twice, the result at step SP51 becomes negative and control passes to step SP52, in which it is tested whether the number of repetitions 2 or not. If the result at step SP52 is positive, ie the reading error has occurred only twice, the control proceeds to step SP61. In this step, a control or control signal of the CPU 17 is fed into the decoder 33 , thereby the discrimination window by 5 nsec. shifted forward, after which control continues in the flowchart shown in Fig. 6, that is, with step SP31 or SP34.

Falls jedoch die Anzahl von Wiederholungen nicht 2 ist, fährt die Kontrolle mit SP53 fort, bei dem getestet wird, ob die Anzahl von Wiederholungen 3 ist oder nicht. Ist das Testergebnis dieses Schrittes positiv, d.h. ist der Lese­ fehler nur dreimal aufgetreten, schreitet die Kontrolle zum Schritt SP62. Bei diesem Schritt wird ein Steuersignal der CPU 17 in den Dekoder 33 eingespeist und dadurch das Unterscheidungsfenster um 5 nsec. nach rückwärts verschoben, wonach die Kontrolle im in Fig. 6 dargestellten Flußdia­ gramm fortfährt, d.h. mit Schritt SP31 oder SP34.However, if the number of repetitions is not 2, control continues with SP53, where it is tested whether the number of repetitions is 3 or not. If the test result of this step is positive, ie if the reading error has occurred only three times, the control proceeds to step SP62. In this step, a control signal of the CPU 17 is fed into the decoder 33 and thereby the discrimination window by 5 nsec. shifted backwards, after which the control continues in the flow diagram shown in FIG. 6, ie with step SP31 or SP34.

Sollte die Anzahl von Wiederholungen nicht 3 sein, dann geht die Kontrolle auf Schritt SP54 über, bei dem getestet wird, ob die Anzahl von Wiederholungen 4 ist oder nicht. Bei positivem Testergebnis, d.h. wenn der Lesefehler soeben viermal aufgetreten ist, fährt die Kontrolle mit Schritt SP63 fort. Bei diesem Schritt wird der beim Schritt SP61 oder SP62 verschobene Betrag des Unterscheidungsfensters auf 0 zurückgeführt und danach der Schwellenwert durch Einspeisung eines Steuersignals in den Gate-Generator 31 um 50 mV erhöht. Die Kontrolle fährt dann gemäß Flußdia­ gramm nach Fig. 6 fort, d.h. mit Schritt SP31 oder SP34. Falls die Anzahl von Wiederholungen nicht 4 ist, fährt die Kontrolle mit Schritt SP55 fort, bei dem getestet wird, ob die Anzahl von Wiederholungen 5 ist oder nicht. Ist das Ergebnis dieses Schrittes positiv, d.h. ist der Lesefehler genau fünfmal aufgetreten, dann erfolgt der Übergang der Kontrolle zu Schritt SP64, bei dem durch Einspeisen eines Steuersignals in den Gate-Generator 31 der Schwellenwert von 50 mV abgesenkt wird. Anschließend fährt die Kontrolle gemäß Flußdiagramm nach Fig. 6 fort, d.h. mit Schritt SP31 oder SP34.If the number of repetitions is not 3, then control passes to step SP54, where it is tested whether the number of repetitions is 4 or not. If the test result is positive, that is to say if the reading error has just occurred four times, the control proceeds to step SP63. In this step, the amount of the discrimination window shifted in step SP61 or SP62 is reduced to 0 and then the threshold value is increased by 50 mV by feeding a control signal into the gate generator 31 . The control then continues according to the flowchart of FIG. 6, ie with step SP31 or SP34. If the number of repetitions is not 4, control proceeds to step SP55, where it is tested whether the number of repetitions is 5 or not. If the result of this step is positive, ie if the reading error has occurred exactly five times, then control transfers to step SP64, in which the threshold value of 50 mV is lowered by feeding a control signal into the gate generator 31 . The control then continues according to the flowchart according to FIG. 6, ie with step SP31 or SP34.

Andererseits, d.h. falls die Anzahl von Wiederholungen nicht 5 ist, fährt die Kontrolle mit Schritt SP56 fort, bei dem getestet wird, ob die Anzahl von Wiederholungen 6 ist oder nicht. Falls das Testergebnis positiv ist, d.h. der Lese­ fehler gerade sechsmal aufgetreten ist, wird Schritt SP65 angesteuert. Bei diesem Schritt wird der beim Schritt SP63 oder SP64 geänderte Schwellenwert auf den früheren Wert zurückgeführt. Anschließend steigt durch Zufuhr eines Steuersignals zum Kosinusäquivalenzschaltkreis 12 der Aus­ gleichsbetrag um 5%, d.h. daß durch diese Operation der oben genannte Betrag der Verringerung klein wird. Folglich sinkt der Spitzenwert des Ausgangssignals des Kosinus­ äquivalenzschaltkreises 12, und sein Halbwert wird klein. Anschließend fährt die Kontrolle gemäß Flußdiagramm nach Fig. 6 fort, d.h. mit Schritt SP31 oder SP32.On the other hand, that is, if the number of repetitions is not 5, control proceeds to step SP56, where it is tested whether the number of repetitions is 6 or not. If the test result is positive, ie the reading error has just occurred six times, step SP65 is triggered. In this step, the threshold value changed in step SP63 or SP64 is returned to the previous value. Then, by supplying a control signal to the cosine equivalent circuit 12, the offsetting amount increases by 5%, that is, this operation makes the above-mentioned amount of reduction small. As a result, the peak value of the output signal of the cosine equivalent circuit 12 drops and its half value becomes small. The control then continues according to the flowchart according to FIG. 6, ie with step SP31 or SP32.

Falls die Anzahl von Wiederholungen nicht 6 ist, schreitet die Kontrolle mit Schritt SP57 fort und testet, ob die Anzahl von Wiederholungen 7 ist oder nicht. Bei positivem Testergebnis, d.h. bei gerade siebenmaligem Auftritt des Lesefehlers, geht die Kontrolle zu Schritt SP66 über. Bei diesem Schritt wird durch Einspeisung eines Steuersignals in den Kosinus-Äquivalenzschaltkreis 12 der Ausgleichsbetrag um 5% verringert, d.h. daß durch diese Operation die vor­ genannte Höhe der Verringerung groß wird. Die Folge ist, daß der Spitzenwert des Ausgangssignals des Kosinus-Äqui­ valenzschaltkreises 12 ansteigt und sein Halbwert groß wird. Anschließend kehrt die Kontrolle zum Flußdiagramm gemäß Fig. 6 zurück, d.h. zum Schritt SP31 oder SP32.If the number of repetitions is not 6, control proceeds to step SP57 and tests whether the number of repetitions is 7 or not. If the test result is positive, that is to say if the reading error occurs just seven times, the control proceeds to step SP66. In this step, by feeding a control signal into the cosine equivalent circuit 12, the compensation amount is reduced by 5%, that is, this operation makes the aforementioned amount of reduction large. The result is that the peak value of the output signal of the cosine equivalence circuit 12 rises and its half value becomes large. Control then returns to the flow chart of FIG. 6, that is, step SP31 or SP32.

Andererseits schreitet die Kontrolle, falls das Ergebnis beim Schritt SP57 negativ ist, selbst dann zum Schritt SP58, wenn die Anzahl von Wiederholungen nicht 7 ist. Bei diesem Schritt SP58 wird der Ausgleichsbetrag durch Zufuhr eines Steuersignals zum Kosinus-Äquivalenzschaltkreis 12 auf den früheren Wert zurückgeführt, wonach eine Rückkehr der Kontrolle zum Flußdiagramm gemäß Fig. 6, d.h. zum Schritt SP31 oder SP32 erfolgt.On the other hand, if the result at step SP57 is negative, the control proceeds to step SP58 even if the number of repetitions is not 7. At this step SP58, the compensation amount is returned to the previous value by supplying a control signal to the cosine equivalent circuit 12 , after which control returns to the flowchart shown in FIG. 6, that is, to step SP31 or SP32.

Nebenbei wird der Ablauf (history) des Wiederholvorgangs in den mit der CPU 17 verbundenen History-Speicher-RAM 43 gespeichert und, falls dies notwendig ist, in der oben erwähnten Fehler-Endoperation des Schrittes SP35 angezeigt oder ausgedruckt.Besides, the history of the repetition is stored in the history memory RAM 43 connected to the CPU 17 and, if necessary, displayed or printed out in the above-mentioned error end operation of the step SP35.

Bei oben erläuterten Ausführungsbeispielen kann das Block­ schaltbild den Bedürfnissen beliebiger Parameter angepaßt werden. Beide Ausführungsbeispiele haben zwar eine Magnet­ platte als Datenspeicher-Medium zum Gegenstand; im Rahmen dieser Erfindung kann jedoch auch ein optisches oder elektro­ statisches Speicher-Medium verwendet werden.In the exemplary embodiments explained above, the block Circuit diagram adapted to the needs of any parameters will. Both embodiments have a magnet disk as the object of data storage; as part of However, this invention can also be an optical or electro static storage medium can be used.

Claims (12)

1. Datenspeicher-Medium (1) zum Speichern von Daten, die ausgelesen und durch eine Signalbearbeitungseinrichtung (10-19; 30-43) in Binärsignale transformiert werden, dadurch gekennzeichnet, daß mindestens ein Parameter vor­ ab in einem bestimmten Bereich des Datenspeicher-Mediums (1) gespeichert und, bevor diese Daten in Binärsignale transformiert werden, zur Signalbearbeitungseinrichtung (10-19; 30-43) gesetzt wird.1. Data storage medium ( 1 ) for storing data that are read out and transformed by a signal processing device ( 10-19; 30-43 ) into binary signals, characterized in that at least one parameter before in a certain area of the data storage medium ( 1 ) stored and, before this data is transformed into binary signals, set to the signal processing device ( 10-19; 30-43 ). 2. Datenspeichergerät mit einem Datenspeicher-Medium (1) zum Speichern von Daten, einer Leseeinrichtung (5) zum Auslesen der Daten dieses Datenspeicher-Mediums und mit einer Signalbearbeitungseinrichtung (10-19; 30-43) zum Transformieren der mittels der Leseeinrichtung ausgelesenen Daten in Binärsignale, gekennzeichnet durch eine Signal­ bearbeitungseinrichtung (10-19; 30-43), welche die Daten auf der Basis mindestens eines Parameters trans­ formiert, der vorab im Datenspeicher-Medium (1) gespeichert ist.2. Data storage device with a data storage medium ( 1 ) for storing data, a reading device ( 5 ) for reading out the data of this data storage medium and with a signal processing device ( 10-19; 30-43 ) for transforming the data read out by means of the reading device in binary signals, characterized by a signal processing device ( 10-19; 30-43 ) which transforms the data on the basis of at least one parameter which is previously stored in the data storage medium ( 1 ). 3. Verfahren zum Steuern eines Datenspeichergeräts, das ein Datenspeicher-Medium (1) zum Speichern von Daten auf­ weist, eine Leseeinrichtung (5) zum Auslesen der Daten des Datenspeicher-Mediums und eine Signalbearbeitungseinrich­ tung (10-19; 30-43), um die durch die Leseeinrichtung ausgelesenen Lesedaten in Binärsignale zu transformieren, gekennzeichnet durch folgende Schritte:
  • - es wird ein Parameter, der in die Signalbearbeitungsein­ richtung (10-19; 30-43) gesetzt wird, in das Daten­ speicher-Medium (1) eingeschrieben, um gemäß den Bedin­ gungen dieses Datenspeicher-Mediums und der Leseeinrich­ tung (5) die Daten in Binärsignale zu transformieren;
  • - der Parameter wird nach dem Auslesen zur Signalbearbei­ tungseinrichtung (10-19; 30-43) gesetzt; und
  • - es werden die Daten auf der Basis dieses Parameters aus­ gelesen.
3. A method for controlling a data storage device which has a data storage medium ( 1 ) for storing data, a reading device ( 5 ) for reading out the data of the data storage medium and a signal processing device ( 10-19; 30-43 ), to transform the read data read out by the reading device into binary signals, characterized by the following steps:
  • - A parameter, which is set in the signal processing device ( 10-19; 30-43 ), is written into the data storage medium ( 1 ) in order in accordance with the conditions of this data storage medium and the reading device ( 5 ) transform the data into binary signals;
  • - The parameter is set after reading the signal processing device ( 10-19; 30-43 ); and
  • - The data are read out based on this parameter.
4. Datenspeichergerät nach Anspruch 2, dadurch die Signal­ bearbeitungseinrichtung (10-19; 30-43) folgende Merk­ male aufweist:
  • (a) eine Unterscheidungseinrichtung (15) zur Unterscheidung, ob der Parameter exakt ausgelesen wird oder nicht; und
  • (b) eine Speichereinrichtung (42) zum Speichern eines Sub­ stitutionsparameters anstelle dieses Parameters, falls das Ergebnis der Unterscheidung negativ ist.
4. Data storage device according to claim 2, characterized in that the signal processing device ( 10-19; 30-43 ) has the following features:
  • (a) a discriminator ( 15 ) for discriminating whether the parameter is read out exactly or not; and
  • (b) storage means ( 42 ) for storing a substitution parameter in place of this parameter if the result of the discrimination is negative.
5. Datenspeichergerät nach Anspruch 2, dadurch gekennzeich­ net, daß die Signalbearbeitungseinrichtung (10-19; 30-43)
  • (a) eine Fehleranzeigeeinrichtung (17) zur Unterscheidung, ob die Daten exakt ausgelesen worden sind oder nicht; und
  • (b) eine Kontrolleinrichtung zur Kompensation dieses Parameters aufweist, falls die Fehleranzeigeeinrichtung (17) einen Fehler anzeigt.
5. Data storage device according to claim 2, characterized in that the signal processing device ( 10-19; 30-43 )
  • (a) an error display device ( 17 ) for distinguishing whether the data have been read out exactly or not; and
  • (b) has a control device for compensating this parameter if the error display device ( 17 ) indicates an error.
6. Verfahren zum Steuern des Datenspeichergeräts nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der Leseschritt folgende Einzelschritte umfaßt:
  • - die Daten werden auf der Basis der vorab im Datenspeicher- Medium (1) gespeicherten Parameters ausgelesen;
  • - der Parameter wird, falls beim Ausleseschritt ein Fehler aufgetreten ist, kompensiert; und
  • - der Ausleseschritt wird nach dem Kompensationsschritt auf der Basis eines kompensierten Parameters wiederholt.
6. The method for controlling the data storage device according to claim 3, characterized in that the reading step comprises the following individual steps:
  • - The data are read out on the basis of the parameters previously stored in the data storage medium ( 1 );
  • - the parameter is compensated if an error occurred during the reading step; and
  • - The readout step is repeated after the compensation step on the basis of a compensated parameter.
7. Datenspeicher-Medium (1) nach Anspruch 1, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Parameter beim Transformieren der Daten in Binärsignale als Schwellenwert verwendet wird. 7. Data storage medium ( 1 ) according to claim 1, characterized in that the parameter is used as a threshold when transforming the data into binary signals. 8. Datenspeichergerät nach Anspruch 2, 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Parameter beim Transformieren der Daten in Binärsignale als Schwellenwert verwendet wird.8. Data storage device according to claim 2, 4 or 5, characterized characterized in that the parameter when transforming the Data in binary signals is used as a threshold. 9. Verfahren zum Kontrollieren des Datenspeichergeräts nach Anspruch 3 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Parameter beim Transformieren der Daten in Binärsignale als Schwellenwert verwendet wird.9. Method of controlling the data storage device according to claim 3 or 6, characterized in that the Parameters when transforming the data into binary signals is used as the threshold. 10. Datenspeicher-Medium (1) nach Anspruch 1, dadurch ge­ kennzeichnet, daß der Parameter ein Verstärkungsfaktor der Signalbearbeitungseinrichtung ist.10. Data storage medium ( 1 ) according to claim 1, characterized in that the parameter is an amplification factor of the signal processing device. 11. Datenspeichergerät nach Anspruch 2, 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Parameter ein Verstärkungsfaktor der Signalbearbeitungseinrichtung ist.11. Data storage device according to claim 2, 4 or 5, characterized characterized in that the parameter is a gain factor the signal processing device. 12. Verfahren zum Kontrollieren des Datenspeichergeräts nach Anspruch 3 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Parameter ein Verstärkungsfaktor der Signalbearbeitungs­ einrichtung ist.12. Method of controlling the data storage device according to claim 3 or 6, characterized in that the Parameter a gain factor of signal processing facility is.
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