DE4109156A1 - Verfahren zur selektiven aushaertung eines films auf einem substrat - Google Patents
Verfahren zur selektiven aushaertung eines films auf einem substratInfo
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- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27D—DETAILS OR ACCESSORIES OF FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS, IN SO FAR AS THEY ARE OF KINDS OCCURRING IN MORE THAN ONE KIND OF FURNACE
- F27D99/00—Subject matter not provided for in other groups of this subclass
- F27D99/0001—Heating elements or systems
- F27D99/0006—Electric heating elements or system
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- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F27—FURNACES; KILNS; OVENS; RETORTS
- F27B—FURNACES, KILNS, OVENS, OR RETORTS IN GENERAL; OPEN SINTERING OR LIKE APPARATUS
- F27B17/00—Furnaces of a kind not covered by any preceding group
- F27B17/0016—Chamber type furnaces
- F27B17/0025—Especially adapted for treating semiconductor wafers
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur selektiven Erwärmung
einer dünnen Schicht bzw. eines Films auf einem Substrat gemäß
dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Ein Anwendungsbeispiel für das erfindungsgemäße Verfahren ist
die Erzeugung einer isolierenden Schicht, beispielsweise SiO2,
auf einem konventionellen integrierten Schaltkreis. Der Film
wird auf den integrierten Schaltkreis in einer flüssigen Form
aufgebracht. Nach der Aufbringung muß der Film ausgehärtet
werden, wobei Wärme benutzt wird, um ihn in einen festen Zu
stand umzuwandeln. Der Aushärteprozess beinhaltet im allgemei
nen das Austreiben von flüchtigen Molekülen oder Atomen. Bei
der Verwendung eines konventionellen Heizofens, der durch Kon
vektion heizt, wird dies bei relativ niedrigen Temperaturen
über lange Zeiten gemacht, um die Diffusion und das Ausströmen
der flüchtigen Bestandteile aus dem Film bei der Aushärtung zu
erlauben. Da sich zu erwärmende Materialien konvektiv von der
Außenseite nach innen erwärmen, beginnt die Oberfläche des
Films vor dem Inneren auszuhärten. Diese ausgehärtete Schicht
verhindert im wesentlich das Ausströmen oder die Diffusion der
flüchtigen Bestandteile aus dem übrigbleibenden nicht-ausge
härteten Film. Unter extremen Bedingungen können die flüchti
gen Bestandteile an dem Ausströmen gehindert werden und agglo
merieren, wobei sie Taschen oder Hohlräume bzw. Gasblasen in
nerhalb des Films bilden, die die Wirksamkeit des Films redu
zieren. Dieser Effekt geschieht eher, wenn hohe Temperaturen
verwendet werden. Folglich ist es notwendig, die Filme bei
niedrigen Temperaturen und für lange Zeiten zu behandeln, um
es dem Aushärteprozess zu erlauben, bis zur Vollendung fortzu
fahren ohne Verringerung der gewünschten Filmeigenschaften.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur
schnellen selektiven Aushärtung einer dünnen Schicht bzw. ei
nes Films auf einem Substrat zu schaffen, das die vorstehend
genannten Nachteile vermeidet.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die im kennzeichnen
den Teil des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmale gelöst.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den
Unteransprüchen.
Die Erfindung schafft ein Verfahren zur schnellen Aushärtung
eines Films auf einem Substrat durch selektives Erwärmen, wo
bei eine Aushärtung von innen nach außen erfolgt. Dies wird
durch Beleuchtung der Probe mit einer Lichtquelle erreicht,
die eine Spitzen-Wellenlänge aufweist, welche hauptsächlich
von dem untenliegenden Substrat absorbiert wird, da der oben
liegende Film für das Licht transparent ist. Daher wird das
Substrat zuerst selektiv durch direkte Absorption der Strah
lung erwärmt und der auszuhärtende Film wird gleichzeitig
durch Wärmeleitung von dem Substrat erwärmt. Der Film wird von
der inneren Grenzfläche zu der Oberfläche oder von innen nach
außen ausgehärtet.
Bei einer Ausführungsform ist das Substrat Silizium und der
Film kann ein dielektrischer Isolator in anfänglich flüssiger
Form sein wie beispielsweise ein spin-on-Glas (SOG). Die
Lichtquelle ist eine hauptsächlich mit Xenon gefüllte Gasent
ladungslampe, die eine maximale Emission bei einer Wellenlänge
aufweist, die von Silizium absorbiert wird, da das SOG für
diese Wellenlänge transparent ist.
Ein die Erfindung benutzendes Verfahren kann einen Film in Se
kunden oder Minuten vollständig aushärten, verglichen mit den
Stunden, die typischerweise bei dem Stand der Technik benötigt
werden. Wegen der von innen nach außen gerichteten Natur der
Aushärtung kann eine vollständigere Aushärtung des Films und
eine Beseitigung der ungewünschten flüchtigen Bestandteilen
erreicht werden.
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur schnellen Aushärtung
eines Films auf einem Substrat durch selektives Erwärmen.
Im folgenden werden bevorzugte Ausführungsformen des erfin
dungsgemäßen Verfahrens zur Erläuterung weiterer Merkmale an
hand der Zeichnungen beschrieben. Es zeigen:
Fig. 1A ein Schema eines Films auf einem Substrat, der
entsprechend der Erfindung ausgehärtet wird,;
Fig. 1B ein Diagramm der Temperatur als Funktion der
Zeit, das ein typisches zweistufiges Verfahren
zeigt unter Verwendung der Erfindung;
Fig. 2A u. 2B Vorder- und Seitenansichten einer erfindungs
gemäßen Ausführungsform, wobei das Substrat
vollständig beleuchtet wird;
Fig. 3 ein Schema einer Ausführungsform gemäß Fig. 2A
mit einem Kühlkörper;
Fig. 4A u. 4B Vorder- und Seitenansichten einer erfindungsge
mäßen Ausführungsform, bei der eine Lichtab
tastzeile quer über das Substrat bewegt wird;
und
Fig. 5 ein Schema der Ausführungsform gemäß Fig. 4A
mit einem Kühlkörper.
Fig. 1A zeigt eine Lichtquelle 10, die einen Film 12 und ein
Substrat 14 beleuchtet. Verunreinigungen 13 im Film 12 sind
gezeigt, die während eines Aushärteprozesses zu der Oberfläche
wandern. Die Lichtquelle 10 ist derart gewählt, Strahlung zu
emittieren, die eine Wellenlänge aufweist, welche von dem Sub
strat 14, aber nicht von dem Film 12 absorbiert wird. Wenn das
Substrat 14 warm wird, wird der Film 12 durch Wärmeleitung
ebenfalls erwärmt, wobei die Erwärmung an der Grenzfläche zwi
schen dem Film 12 und dem Substrat 14 beginnt. Durch die Er
wärmung von innen nach außen, anstelle von außen nach innen,
wird zuerst die Aushärtung oder Verkrustung der Außenseite
vermieden, die flüchtige Atome einfangen würde.
Ein Beispiel für die Lichtquelle ist im US-Patent 48 20 906
angegeben. In einer Ausführungsform ist die Lichtquelle eine
hauptsächlich mit Xenon gefüllte Langlichtbogengasentladungs
lampe und das Substrat 14 ist Silizium. Die Energie von Xenon
bei seiner Spitzenemissionswellenlänge ist größer als die
Energiebandlücke von Silizium und daher wird es von dem Sili
ziumsubstrat absorbiert. Die Energie von Xenon ist kleiner als
die Energiebandlücke des Films 12, der beispielsweise aus
spin-on-Glas sein kann, so daß es nicht absorbiert wird.
Eine Kammer, die zum Halten der Probe benutzt werden kann, ist
in dem US-Patent 47 55 654 gezeigt, auf das ausdrücklich ver
wiesen wird. Bei einer Ausführungsform wird ein inerter Boden
bzw. eine Schale benutzt, um eine große Anzahl von Proben zu
halten.
In Fig. 1B ist ein Diagramm eines typischen Prozesses gezeigt,
der die Erfindung benutzt. Die Probe kann zuerst auf eine er
ste, relativ niedrige Temperatur (typisch 400 bis 600°F) für
typisch 5 bis 30 Sekunden erwärmt werden. Die Verwendung die
ser niedrigen Temperatur erlaubt es dem Temperaturgradienten,
sich von dem Substrat durch den Film auszubreiten. Eine viel
höhere Temperatur würde im wesentlichen den ganzen Film so
schnell erwärmen, daß der Gradient zwischen der Substratgrenz
fläche und der Außenseite des Films nicht ausreichend sein
würde, um die flüchtigen Atome zu bewahren, eingefangen zu
werden.
Nach dieser ersten, relativ niedrigen Temperaturstufe kann die
Temperatur typischerweise auf 900 bis 1000°F erhöht werden, um
den Aushärteprozess zu vervollständigen, nachdem die flüchti
gen Atome eine Möglichkeit erhalten haben, auszuströmen. Die
ser zweite Schritt dauert 2 bis 20 Sekunden.
Die Fig. 2A und 2B sind Vorder- und Seitenansichten der An
ordnung, die detaillierter in dem US-Patent 47 55 654 gezeigt
sind. Die aus dem Film und dem Substrat bestehende Probe 18
wird unter einer Lichtquelle 18 angeordnet. Ein Reflektor 20
über der Lichtquelle konzentriert das Licht auf die Probe 16.
Ein Pyrometer 22 unterhalb der Probe 16 erfaßt das Infrarot
licht, das von der Probe abgegeben wird, wenn sie erwärmt
wird, und schafft eine Rückwirkung zu den Steuerungen der
Lichtquelle.
Fig. 3 zeigt eine ähnliche Anordnung zusätzlich mit einem
Kühlkörper 24. Eine durchgehende Öffnung 26 ist in der Mitte
des Kühlkörpers angeordnet, so daß das Pyrometer 22 die Probe
16 sehen kann. In einer Ausführungsform ist der Kühlkörper aus
Metall und wird mit Wasser gekühlt. Da das Substrat 14 mit dem
Kühlkörper in Kontakt gehalten wird, wird dies zusätzlich hel
fen, das Substrat kühl zu halten, während es dem Film 12 er
laubt wird, sich zu erwärmen.
Die Fig. 4A und 4B zeigen Vorder- und Seitenansichten einer
alternativen Ausführungsform, bei der eine Lichtquelle 28 und
ein Pyrometer 30 in Flucht zueinander relativ zur Probe 16
bewegt werden. Die Lichtquelle 28 und das Pyrometer 30 könnten
fest angeordnet sein, während die Probe 16 quer zu dem Spalt
zwischen ihnen bewegt wird. Alternativ kann die Probe 16 fest
angeordnet sein, während die Lichtquelle 28 und das Pyrometer
30 bewegt werden. Eine durch Zeilen 32 definierte Abtastzeile
beleuchtet jederzeit einen Teil der Probe 16. Ein Längsschlitz
31 erlaubt es dem Licht, zu dem Pyrometer 30 zu gelangen.
Fig. 5 zeigt die Ausführungsform gemäß Fig. 4A mit einem zu
sätzlichen Kühlkörper 34. Der Kühlkörper 34 kann einen Längs
schlitz aufweisen, der es dem Pyrometer 30 erlaubt, die Probe
16 jederzeit während der relativen Bewegung zu sehen.
Gemäß der Erfindung kann eine Reihe von Lampen beispielsweise
anstelle einer einzelnen Lampe verwendet werden.
Claims (4)
1. Verfahren zur selektiven Erwärmung einer dünnen Schicht
bzw. eines Films (12) auf einem Substrat (14) gekenn
zeichnet durch folgende Schritte:
Auswahl des Substrats und des Films derart, daß sie un terschiedliche Lichtabsorptionscharakteristiken aufwei sen,
Beleuchtung des Films und Substrats mit einer Lichtquel le (10), die eine Spitzen-Wellenlänge aufweist, die im wesentlichen von dem Substrat und im wesentlichen nicht von dem Film absorbiert wird.
Auswahl des Substrats und des Films derart, daß sie un terschiedliche Lichtabsorptionscharakteristiken aufwei sen,
Beleuchtung des Films und Substrats mit einer Lichtquel le (10), die eine Spitzen-Wellenlänge aufweist, die im wesentlichen von dem Substrat und im wesentlichen nicht von dem Film absorbiert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Substrat Silizium ist und der Film ein auf einer
Flüssigkeit basierendes Dielektrikum ist.
3. Verfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Dielektrikum ein Glas ist.
4. Verfahren nach Anspruch 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß es folgende Schritte aufweist:
Beleuchtung des Films und Substrats mit einer ersten Lichtintensität, um eine erste Temperatur für eine erste Zeitdauer zu erzeugen; und
anschließende Beleuchtung des Films und des Substrats für eine zweite Zeitdauer mit einer zweiten Lichtintensität, die größer als die erste Intensität ist, um den Film und das Substrat auf eine zweite Temperatur zu erwärmen, die größer als die erste Temperatur ist.
Beleuchtung des Films und Substrats mit einer ersten Lichtintensität, um eine erste Temperatur für eine erste Zeitdauer zu erzeugen; und
anschließende Beleuchtung des Films und des Substrats für eine zweite Zeitdauer mit einer zweiten Lichtintensität, die größer als die erste Intensität ist, um den Film und das Substrat auf eine zweite Temperatur zu erwärmen, die größer als die erste Temperatur ist.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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US07/499,913 US5047611A (en) | 1990-03-23 | 1990-03-23 | Method for selectively curing a film on a substrate |
Publications (1)
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE4109156A Withdrawn DE4109156A1 (de) | 1990-03-23 | 1991-03-20 | Verfahren zur selektiven aushaertung eines films auf einem substrat |
Country Status (5)
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IT (1) | IT1246118B (de) |
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8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |