DE4038791A1 - Integriert-optischer sensor - Google Patents
Integriert-optischer sensorInfo
- Publication number
- DE4038791A1 DE4038791A1 DE19904038791 DE4038791A DE4038791A1 DE 4038791 A1 DE4038791 A1 DE 4038791A1 DE 19904038791 DE19904038791 DE 19904038791 DE 4038791 A DE4038791 A DE 4038791A DE 4038791 A1 DE4038791 A1 DE 4038791A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- waveguide
- sensor
- face
- sensor according
- refractive index
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 30
- 239000000758 substrate Substances 0.000 title claims abstract description 26
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 title claims description 3
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims abstract description 21
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims abstract description 21
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims abstract description 21
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims abstract description 21
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 9
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 24
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 15
- GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N lithium niobate Chemical compound [Li+].[O-][Nb](=O)=O GQYHUHYESMUTHG-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 6
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 4
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 4
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 3
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 abstract 1
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 10
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 4
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 4
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 2
- 230000005693 optoelectronics Effects 0.000 description 2
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 description 2
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000002745 absorbent Effects 0.000 description 1
- 239000002250 absorbent Substances 0.000 description 1
- 230000003667 anti-reflective effect Effects 0.000 description 1
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005684 electric field Effects 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000005305 interferometry Methods 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000007774 longterm Effects 0.000 description 1
- 239000000382 optic material Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/45—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J9/02—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
- G01J2009/0226—Fibres
- G01J2009/023—Fibres of the integrated optical type
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J9/00—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength
- G01J9/02—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods
- G01J2009/0261—Measuring optical phase difference; Determining degree of coherence; Measuring optical wavelength by interferometric methods polarised
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/41—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
- G01N21/43—Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length by measuring critical angle
- G01N21/431—Dip refractometers, e.g. using optical fibres
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/061—Sources
- G01N2201/06113—Coherent sources; lasers
- G01N2201/0612—Laser diodes
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/08—Optical fibres; light guides
- G01N2201/0873—Using optically integrated constructions
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft einen integriert-optischen Sensor
zur Erfassung von Brechzahländerungen mit einem Substrat
körper aus einem optisch transparenten Werkstoff, in dem
ein monomodiger Wellenleiter vorgesehen ist, der sich
zwischen zwei Stirnflächen des Substratkörpers entlang
dessen Oberfläche erstreckt, wobei eine seitliche Begren
zungsfläche des Wellenleiters mit einem Meßfluid in
Kontakt bringbar ist und wobei eine Koppelfläche mit
Lichtstrahlung und ein Lichtdetektor mit dem in Reflexion
oder Transmission aus einer entsprechenden Koppelfläche
erhaltenen Meßsignal beaufschlagbar ist.
Ein derartiger integriert-optischer Sensor ist aus der
DE-Z Laser und Optoelektronik, Nr. 4, Seiten 323 bis 337
(1986) bekannt, bei der ein integriert-optisches Mach-
Zehnder-Interferometer beschrieben ist. Nachteilig an
diesem bekannten interferometrischen Sensor sind zunächst
die Knickpunkte, an denen sich der einzelne Wellenleiter
in die beiden Arme des Mach-Zehnder-Interferometers
verzweigt bzw. wiedervereinigt. In diesen Bereichen
treten Intensitätsverluste auf, die auch bei gekrümmten
Verzweigungen vorhanden sind. Aufgrund der symmetrischen
Struktur eines solchen Mach-Zehnder-Interferometers
lassen sich kleine Unterschiede in der Lichtphase
zwischen den beiden Interferometerarmen nur ungenau
erfassen und schwierig auswerten.
Aus der DE 38 14 844 A1 ist ein Brechzahlsensor in
Gestalt eines symmetrischen Wellenleiter-Mach-Zehnder-
Interferometers bekannt, bei dem nur einer der Wellen
leiterarme von der Meßflüssigkeit kontaktierbar ist. Mit
diesem Sensor sind nur Brechzahländerungen aufgrund der
Messung der Änderung der Phasengeschwindigkeit von
eingespeistem Licht erfaßbar, da sich das Ausgangssignal
ohne Bezugspunkt periodisch mit der Phasendifferenz
ändert. Bei diesem Interferometer wird ein analoges Aus
gangssignal erhalten, welches nur eine begrenzte relative
Empfindlichkeit von ca. 10-4 bis 10-5 zuläßt. Durch die
symmetrischen Wellenleiterarme gleicher Länge ist das
Ausgangssignal des Interferometers unabhängig von
Temperaturschwankungen.
Ein asymmetrisches Mach-Zehnder-Interferometer mit
verschieden langen Meß- und Referenzarmen läßt sich
dagegen mittels einer durchstimmbaren frequenzabhängigen
Lichtquelle leicht auswerten, weist jedoch eine starke
Temperaturabhängigkeit auf und ist daher für empfindliche
Langzeit-Messungen der Brechzahl eines beliebigen Meß
fluids ungeeignet.
Die DE 36 04 571 A1 zeigt ein integriert-optisches Element
mit einem doppelbrechenden Substrat und einem monomodigen
Wellenleiter, das einen Phasenschieber aufweist. Es wird
dabei eine TE-TM Modenkonversion direkt unter den Elek
troden bewirkt. Diese Anordnung ist jedoch nicht für
einen Einsatz als Sensor geeignet.
Ein weiterer Nachteil der bekannten integriert-optischen
Sensoren ist, daß er jeweils zwischen die benötigte
Lichtquelle und dem ihm zugeordneten Detektor angeordnet
werden muß, wohingegen bei vielen Meßproblemen eine
einseitige Lichtzuführung und Lichtableitung benötigt
wird.
Ausgehend von diesem Stand der Technik liegt der Erfin
dung die Aufgabe zugrunde, einen integriert-optischen
Sensor zur Erfassung von Brechzahländerungen zu schaffen,
der eine minimale Temperaturabhängigkeit bei hoher
Empfindlichkeit aufweist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß
der Wellenleiter doppelbrechend ist, daß die die Koppel
fläche beaufschlagende einfallende Lichtstrahlung durch
einen ersten Polarisator in der Ebene der Stirnfläche um
einen vorbestimmten Winkel gegenüber der Z-Achse verdreht
linear polarisierbar ist und daß die durch die Koppel
fläche hindurchtretende Lichtstrahlung durch einen zwei
ten Polarisator in der Ebene der Stirnfläche um einen
zweiten vorbestimmten Winkel gegenüber der Z-Achse ver
dreht linear polarisierbar ist.
Dadurch, daß sich der Wellenleiter doppelbrechend ist,
breitet sich die durch die eine Koppelfläche einfallende
Lichtstrahlung, die z. B. um 45 Grad gegenüber der Z-Achse
linear polarisiert ist, im Wellenleiter in einer TM-Mode,
die parallel zur Oberflächennormalen der seitlichen
Begrenzungsfläche polarisiert ist, und in einer TE-Mode,
die parallel zur Begrenzungsfläche polarisiert ist, aus.
Aufgrund der Doppelbrechung weisen die Moden unter
schiedliche Phasengeschwindigkeiten auf. An dem Licht
detektor beobachtet man daher nach dem Durchlaufen des
zweiten Polarisators ein Interferenzsignal gemäß dem
Phasenunterschied der beiden Moden. In einem einzigen
Wellenleiter ist so die Funktion eines zwei Arme umfas
senden Mach-Zehnder-Interferometer realisiert.
Vorteilhafterweise ist das Substratmaterial Lithiumnio
bat und der Wellenleiter erstreckt sich entlang der X-
oder Y-Schnittachse des Kristalls, so daß ein großer
Effekt der Doppelbrechung auftritt und eine TE-Mode und
eine TM-Mode mit stark unterschiedlicher Phasen
geschwindigkeit angeregt werden.
Bei einer Beaufschlagung der seitlichen Begrenzungsfläche
durch ein eine andere Brechzahl als Luft aufweisendes
Meßfluid verändern sich die Ausbreitungsgeschwindigkeiten
der beiden Moden unterschiedlich. Aus der sich in
Transmission durch Interferenz ergebenden Intensitätsver
änderung am Detektor läßt sich die Brechzahländerung
bestimmen. Bei einer vorherigen Eichung des Sensors mit
bekannte Brechzahlen aufweisenden Meßfluiden sind auch
absolute Brechzahlen ermittelbar.
Bei einer vorteilhaften Ausgestaltung der Erfindung sind
die Eintrittsstirnfläche und die Austrittsstirnfläche des
Sensors auf der gleichen Seite angeordnet. Durch das
Anbringen einer hochreflektierenden Spiegelschicht auf
der gegenüberliegenden Stirnfläche, in der sich die
Hauptachsen zweier in seitlicher Entfernung voneinander
verlaufenden Wellenleiterabschnitten des Wellenleiters
treffen, kann der die Empfindlichkeit erhöhende doppelte
Lichtweg in einem vorgegebenen Substrat verwendet und die
Lichtquelle sowie der Lichtdetektor auf einer Seite des
Sensors angeordnet werden.
Bei einer günstigen Ausgestaltung der Erfindung verlau
fen die beiden geraden Wellenleiterabschnitte in der
Oberfläche des Substrats jeweils mit einem kleinen Winkel
gegenüber der Hauptachse derart, daß sich ihre Hauptach
sen in der hochreflektierenden Spiegelschicht treffen.
Bei einem anderen vorteilhaften Ausführungsbeispiel der
Erfindung verlaufen die beiden Wellenleiterabschnitte im
wesentlichen parallel zur Hauptachse des Sensors und sind
erst in der Nähe der die Spiegelschicht aufweisenden
Stirnfläche aufeinander zugekrümmt, wobei sich ihre
Querschnitte adiabatisch aufweiten.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind
in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
Nachfolgend werden mehrere Ausführungsbeispiele der
Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert. Es
zeigt
Fig. 1 eine schematische Ansicht eines bekannten
integriert-optischen Mach-Zehnder-Interfero
meters,
Fig. 2 eine Ansicht eines integriert-optischen Sensors
gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der
Erfindung,
Fig. 3 einen integriert-optischen Sensor gemäß einem
zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 4 einen integriert-optischen Sensor gemäß einem
dritten Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 5 einen integriert-optischen Sensor gemäß einem
vierten Ausführungsbeispiel der Erfindung,
Fig. 6 einen integriert-optischen Sensor bei einem
Einsatz als Füllstandsmeßvorrichtung und
Fig. 7 einen integriert-optischen Sensor bei einem
Einsatz mit einer Spannungsmessung.
Die Fig. 1 zeigt einen bekannten integriert-optischen
Sensor 10, der als ein symmetrisches Mach-Zehnder-
Interferometer ausgestaltet ist. Der integriert-optische
Sensor 10 gemäß dem Stand der Technik verfügt über ein
optisch transparentes Substratmaterial, beispielsweise
über einen Lithiumniobatkristall 12, in dem ein Wellen
leiter 14 eingebracht ist. Der zum Beispiel durch
Titaneindiffusion hergestellte Wellenleiter 14 bildet
zwischen Koppelflächen 16 und 17 in den Stirnflächen 18
und 19 des Substrates 12 ein Zweistrahl-Interferometer.
Eine Begrenzungsfläche 22 des Wellenleiters 14 fluchtet
mit einer Oberfläche 24 des Substrates 12. Das Mach-
Zehnder-Interferometer verfügt über zwei Interfero
meterarme 25 und 26, von denen einer mit einem in der
Fig. 1 nicht dargestellten Meßfluid beaufschlagbar ist.
Zur Erfassung von Brechzahländerungen ist die Koppel
fläche 16 des Wellenleiters 14 mit monochromatischer
Lichtstrahlung beaufschlagbar, die zum Beispiel mit Hilfe
eines Lasers erzeugbar ist. Ein Großteil dieser Licht
strahlung wird in dem Wellenleiter 14 geführt; ein
kleinerer Anteil ragt aus der Begrenzungsfläche 22 in
das Meßfluid hinein. Eine Veränderung des Brechungsin
dexes des Meßfluids führt zu Phasenverschiebungen
innerhalb des zugeordneten Interferometerarmes 25 bzw.
26 und damit zu einer geänderten Ausgangstransmission
des Interferometers.
Die Fig. 2 zeigt in einer Draufsicht einen integriert-
optischen Sensor 40 gemäß einem ersten Ausführungsbei
spiel der Erfindung. Die von einer Laserdiode 68 abge
gebene Laserstrahlung 82 wird mit Hilfe einer Abbil
dungsoptik 83 auf die Koppelfläche 16 des integriert-
optischen Sensors 40 fokussiert. Die Breite des Substrats
12 beträgt zum Beispiel 0,5 Zentimeter, während die Länge
entlang der X- bzw. Y-Achse 54 zwischen eins und fünf
Zentimetern betragen kann. Die Höhe des Substrates in Z-
Richtung 52 beträgt etwa einen Millimeter.
Ein im wesentlichen halbkreisförmiger Wellenleiter 14,
der in der Zeichnung übertrieben breit dargestellt ist,
erstreckt sich zwischen den Stirnflächen des Sensors 40.
Der zum Beispiel durch Titan-Eindiffusion eingebrachte
doppelbrechende Wellenleiter 14 weist zum Beispiel eine
Breite von 4 Mikrometer und eine Tiefe von 3 Mikrometer
in der Oberfläche 24 auf.
Vorteilhafterweise sind die Stirnflächen 18 und 19 und
insbesondere die Koppelflächen 16 und 17 entspiegelt, so
daß ein reines Zweistrahl-Interferometer vorliegt.
Auf der Eintrittsstirnfläche 18 des Sensors 40 ist eine
Polarisationsfolie 70 aufgebracht, die die einfallende
Laserstrahlung 82 linear polarisiert, wobei die Polari
sationsrichtung um 45 Grad bezüglich der Z-Achse 52 in
der Ebene der Stirnfläche 18 verdreht ist. Das aus der
Austrittsstirnfläche 19 heraustretende Laserlicht 73
tritt durch einen zweiten analog angeordneten Polarisator
71 hindurch, bevor es einen Lichtdetektor 69 beauf
schlagt.
Auf der Oberfläche 24 des Sensors 40 ist ein Meßfenster
36 vorgesehen, in welchem das Meßfluid die Oberfläche 24
des Sensors 40 kontaktieren kann.
Der doppelbrechende Wellenleiter 14 ist im Substratkör
per 12 entlang der X-Schnittachse 54 des geschnittenen
Lithiumniobat-Substrats 12 angeordnet. Dadurch wird durch
das durch den Polarisator 70 linear polarisierte Licht
sowohl eine TM-Mode als auch eine TE-Mode in dem Wellen
leiter 14 angeregt. Die TM-Mode ist senkrecht zur
Normalen auf die Oberfläche 24 polarisiert und die TE-
Mode ist parallel zu dieser Oberfläche 24 polarisiert.
Aufgrund der Doppelbrechung im Wellenleiter 14 weisen
die beiden Moden unterschiedliche Phasengeschwindigkei
ten auf. Der Detektor 69 hinter dem Analysator 71
empfängt die austretende Laserstrahlung 73, die gemäß
dem Phasenunterschied zwischen den Phasen der TE- bzw.
der TM-Mode ein Interferenzsignal bildet. Die verschie
denen Oberflächen des Sensors 40, durch die die Laser
strahlung 82 bzw. 73 durchtritt, sind vorzugsweise
entspiegelt, um die Meßgenauigkeit zu erhöhen.
Die die Laserstrahlung 82 erzeugende Laserdiode 68 wird
mit einem sägezahnförmig modulierten Versorgungsstrom
beaufschlagt. Neben einer kleinen Intensitätsmodulation
tritt eine sägezahnförmige Frequenzänderung des Lichtes
auf, das in den Wellenleiter 14 eingekoppelt wird. Für
verschiedene Frequenzen breiten sich die TE-Mode und die
TM-Mode im doppelbrechenden Wellenleiter 14 verschieden
schnell aus. Die relative Phasenlage der beiden Moden ist
eine Funktion der Wellenlänge. Aus dem zweiten Polarisa
tor 71 tritt daher ein Meßlichtstrahl 73 aus, der beim
Durchlaufen der Laser-Frequenz ein sinusförmiges Intensi
tätsprofil aufweist. Aus dieser Relation ist die Brech
zahl einer die Oberfläche des Wellenleiters 14 kontaktie
rende Flüssigkeit bestimmbar. Die absolute Brechzahl
dieser Flüssigkeit ist durch eine vorherige Eichung der
jeweiligen Phasenverschiebung errechenbar.
Anstelle der oben beschriebenen Auswertung des sinus
förmigen Detektorsignals in Abhängigkeit vom Laserstrom
bzw. der Lichtwellenlänge kann man auch den Laserstrom
abhängig vom Meßfluid so regeln, daß der Ausgangsdetek
tor immer einen konstanten Intensitätswert anzeigt. Die
Größe des Laserstroms ist dann ein Maß für die Brechzahl
des Meßfluids. Die Intensität des Detektors stellt man
zweckmäßigerweise auf den Wert ein, bei dem das ungere
gelte sinusförmige Ausgangssignal seine größte Steigung
hat. Dadurch erreicht man eine hohe Meßempfindlichkeit
bei Meßfluiden, die nicht stark absorbierend sind.
Die Fig. 3 zeigt einen integriert-optischen Sensor 50
gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung.
Gleiche Merkmale tragen gleiche Bezugszeichen. Die aus
der Laserdiode 68 austretende Laserstrahlung 82 wird
vorzugsweise derart in eine polarisationserhaltende Faser
oder Lichtwellenleiter 84 eingespeist, dessen dioden
fernes Ende mit Stoßkopplung direkt auf der Oberfläche
des Polarisators 70 fixiert ist, daß die hauptsächliche
Polarisationsrichtung der Laserstrahlung 82 mit der Pola
risationsrichtung des Polarisators 70 übereinstimmt. Das
aus dem Wellenleiter 14 austretende Meßlicht wird in
einen Empfangslichtwellenleiter 85 eingekoppelt, der
durch Stoß mit der Oberfläche des zweiten Polarisators 71
verbunden ist. Das aus dem Empfangslichtwellenleiter 85
austretende Meßlicht 73 beaufschlagt den Lichtdetektor 69 und
wird wie bei dem Sensor 40 gemäß Fig. 2 ausgewertet.
In der Fig. 3 sind in zwei perspektivisch gezeichneten
Ausschnitten die Polarisatoren 70 und 71 dargestellt, in
denen anhand der Pfeile 72 die gleich angeordneten
Polarisationsrichtungen erkennbar sind.
Die Fig. 4 zeigt einen integriert-optischen Sensor 60
gemäß einem dritten Ausführungsbeispiel, bei dem die
Laserdiode 68 und der Detektor 69 auf derselben Seite
des Sensors 60 angeordnet sind. Das Laserlicht 82 der
Laserdiode 68 wird in den Sendelichtwellenleiter 84
eingekoppelt, der auf Stoß mit dem Polarisator 70 des
Sensors 60 verbunden ist.
Der in der Ebene der Oberfläche 24 des Substrates 12
verlaufende Wellenleiter 14 ist in zwei Wellenleiterab
schnitte 14′ und 14′′ unterteilt. Das aus dem Sende
lichtwellenleiter 84 austretende Laserlicht wird in dem
Polarisator 70 im 45-Grad-Winkel zu der Z-Achse 52 linear
polarisiert und in den geraden ersten Wellenleiterab
schnitt 14′ eingekoppelt, der in einem kleinen Winkel 21
in der Ebene der Oberfläche 24 des Sensors 60 zu der
Hauptachse des Substrates 12 geneigt ist. Auf die
gegenüberliegende Stirnfläche 19 des Sensors 60 ist ein
Spiegel 86 aufgebracht.
Der gerade zweite Wellenleiterabschnitt 14′′ verläuft
ebenfalls mit einem kleinen Winkel 21 zu der Hauptachse
des Substrates 12, wobei zwischen den beiden Wellenlei
terabschnitten 14′ und 14′′ der doppelte Winkel 21 aus
gebildet ist und sich die Hauptachsen der Wellenleiter
abschnitte 14′ und 14′′ in der Stirnfläche 19 des
Substrates 12, d. h. der Oberfläche des Spiegels 86 tref
fen. Der kleine Winkel 21 weist vorzugsweise einen Wert
zwischen 0,1 und 2 Grad und insbesondere zwischen 0,5 und
2 Grad auf.
Das Laserlicht 82 durchläuft nacheinander die Wellen
leiterabschnitte 14′ und 14′′ und verläßt so nach dem
doppelten Meßweg den Sensor 60 über den Polarisator 70,
der im Vergleich zu den Fig. 2 und 3 auch die Funktion
des zugeordneten zweiten Polarisators 71 übernimmt. Das
aus dem Polarisator 70 ausgekoppelte Licht wird in den
Empfangslichtwellenleiter 85 eingekoppelt, dessen Aus
gangsstrahlung den Detektor 69 beaufschlagt. Bei Mes
sungen beaufschlagt ein Meßfluid das Meßfenster 36.
Die Fig. 5 zeigt ein viertes Ausführungsbeispiel der
Erfindung, bei dem die Wellenleiterabschnitte 14′ und
14′′ in einem seitlichen Abstand voneinander in der
Oberfläche 24 parallel zu der Hauptachse des Substrats
12 verlaufen. Auf die eingangsseitige Stirnfläche 18 ist
wiederum der Polarisator 70 aufgebracht, während auf der
ausgangsseitigen Stirnfläche 19 wieder ein hochreflektie
render Spiegel aufgebracht ist.
In dem Bereich 87 des Sensors 65, der sich in der Nähe
des Spiegels 86 befindet, sind die ansonsten parallel
verlaufenden Wellenleiterabschnitte 14′ und 14′′ auf
einander zugekrümmt und vereinigen sich in unmittelbarer
Nähe des Spiegels 86. Dabei treffen wiederum ihre
Hauptachsen in der Oberfläche der Stirnfläche 19 zusam
men.
In dem Bereich der Zusammenführung der Wellenleiterab
schnitte 14′ und 14′′ ist eine adiabatische Aufweitung
88 der beiden Wellenleiterabschnitte 14′ und 14′′
vorgesehen, die eine Anregung weiterer Moden in den
Wellenleiterabschnitten 14′ und 14′′ vermeidet. Die
adiabatische Aufweitung 88 umfaßt, ausgehend von dem
gekrümmten Bereich der Wellenleiterabschnitte 14′ bzw.
14′′, eine derartige langsame und stetige Erhöhung der
Breite der Wellenleiterabschnitte 14′ und 14′′, daß die
ursprüngliche Feldverteilung des Lichtes nicht wesentlich
verändert wird und daß im Bereich vor dem Spiegel 86 die
Wellenleiterabschnitte 14′ und 14′′ viel breiter als der
Lichtfleck sind. Der Sensor 65 gestattet eine bessere
Lichtreflexion mit weniger Verlusten am Spiegel und eine
einfachere Ein- und Auskopplung des Lichtes in und aus
den Wellenleiterabschnitten 14′ bzw. 14′′.
Die Fig. 6 zeigt in einer schematischen Darstellung den
Einsatz eines Sensors 60 gemäß dem dritten Ausführungs
beispiel in einer Füllstandsmeßeinrichtung 90. Das Gefäß
91 der Einrichtung 90 ist mit einem z. B. ein bis fünf
Zentimeter hoch stehenden Meßfluid 58 gefüllt, das
insbesondere die Oberfläche 24 des Sensors 60 beauf
schlagt. Je nach Niveaustand 92 des Meßfluids 58 ist ein
mehr oder weniger großer Abschnitt der Oberfläche 24 mit
dem Meßfluid 58 beaufschlagt. Bei Veränderungen des
Flüssigkeitsstandes 92 verändern sich so die Phasenlagen
der TE-Mode und der TM-Mode zueinander und damit das
Ausgangssignal des Lichtdetektors 69, der durch das
Meßsignal 73 beaufschlagt wird. Als Lichtquelle ist
wiederum eine Laserdiode 68 vorgesehen, deren Lichtstrah
lung 82 über den Sendelichtwellenleiter 84 und den
Polarisator 70 in den ersten Lichtwellenleiterabschnitt
14′ eingekoppelt wird.
In einer Weitergestaltung des Flüssigkeitstandsmessers
ist der Sensor 60 in einem einseitig abgeschlossenen
barometrischen Rohr befestigt, daß mit einer einen großen
Brechzahlunterschied zu Luft aufweisenden Flüssigkeit
gefüllt ist. Ein kleines Volumen im Bereich des Sensors
60 ist mit einem Gas gefüllt oder weist ein Vakuum auf.
Durch Druckausübung auf die Flüssigkeit wird das Gas
zusammengepreßt bzw. das das Vakuum aufweisende Volumen
kleiner und der in die Flüssigkeit eintauchende Bereich
des Sensors 60 vergrößert, wodurch sich eine Änderung des
Ausgangssignals des Zweistrahl-Interferometers ergibt.
Die Fig. 7 zeigt in einer schematischen Darstellung den
Einsatz eines Sensors 60 gemäß dem dritten Ausführungs
beispiel bei einer Spannungsmessung.
Als Lichtquelle ist eine Laserdiode 68 vorgesehen, deren
Lichtstrahlung 82 über den Sendelichtwellenleiter 84 und
den Polarisator 70 in den ersten Lichtwellenleiterab
schnitt 14′ eingekoppelt wird, der in einem elektro-
optischen Substrat 12 wie z. B. Lithiumniobat angeordnet
ist. Das Meßsignal 73 wird über den Empfangslichtwellen
leiter 85 aus der durch den Polarisator 70 aus dem
zweiten Wellenleiterabschnitt 14′′ austretenden Strahlung
gewonnen.
Auf der Oberfläche 24 des Sensors sind zwei parallele
Streifenelektroden 95 in Richtung der Hauptachse des
Sensors 60 neben den Wellenleiterabschnitten 14′ und 14′′
in einem Abstand von einigen Mikrometern voneinander
angeordnet, die über Verbindungsleitungen 96 mit einer
Spannungsversorgung 97 verbunden sind.
Bei Veränderungen der an den Elektroden 95 anliegenden
Spannung ändert sich die Brechzahl in dem elektroopti
schen Material, so daß eine Änderung der durch die
Wellenleiterabschnitte 14′ und 14′′ transmittierten
Intensität auftritt. Insbesondere kann die Oberfläche 24
des Sensors 60 mit einem Meßfluid 58 bedeckt sein, wobei
die Elektroden 95 mit einer isolierenden Deckschicht
versehen sind. Änderungen der Brechzahl des Meßfluids 58
führen zu Veränderungen der Phasenlagen der TE-Mode und
der TM-Mode zueinander und damit zu Änderungen des
Ausgangssignals des Lichtdetektors 69, der durch das
Meßsignal 73 beaufschlagt wird. Der Lichtdetektor 69 ist
mit einer in der Fig. 7 nicht dargestellten Ansteuer
schaltung verbunden, die die Ausgangsspannung der Span
nungsversorgung 96 derart regelt, daß die von dem
Lichtdetektor 69 erfaßte Intensität gleich bleibt. Die
für die Änderung der Brechzahl charakteristische Intensi
tätsänderung des Meßlichtsignals 73 wird durch eine sehr
fein erfaßbare Spannungsänderung in der Spannungsversor
gung 96 versetzt.
Die in der Fig. 7 dargestellte Anordnung kann auch
benutzt werden, um elektrische Spannungen zu messen.
Hierzu werden die beiden Elektroden mit einer Spannung
beaufschlagt. Das elektrische Feld verändert über den
elektro-optischen Effekt die Brechzahl. Die Brechzahl
änderung in Z- und Y-Richtung ist verschieden, so daß
die TM- und TE-Mode sich verschieden ausbreiten. Man
erhält dann in einer Auswerteschaltung ähnlich wie beim
Flüssigkeitssensor Intensitätsunterschiede in Abhängig
keit von der angelegten elektrischen Spannung, wobei sich
Felder bis zu sehr hohen Frequenzen messen lassen.
Eine durch kleinere Temperaturschwankungen hervorgerufene
Brechzahländerung des Substrates 12 geht nicht in die
Messung ein, da sich die Differenz zwischen der effekti
ven Brechzahl für die TE-Mode und die TM-Mode im wesent
lichen nicht ändert.
Beim Auftreten von starken Temperaturschwankungen, bei
denen sich die Differenz zwischen der effektiven Brech
zahl für die TE-Mode und die TM-Mode ändert, ist es
vorteilhaft, einen zweiten, gegenüber dem Sensor 40, 50,
60 oder 65 identischen Referenzkanal in dem gleichen
Substrat 12 vorzusehen, der mit einem Deckschichtmaterial
auf der Oberfläche 24 überzogen ist, dessen Brechungsin
dex für in dem Sensor 40, 50, 60 und 65 auftretende
Temperaturen bekannt ist.
In allen Ausführungsbeispielen kann neben den beschrie
benen Weisen die Einkopplung und entsprechend die
Auskopplung der Laserstrahlung 82 und 73 auch durch auf
die Stirnflächen 18 bzw. 19 aufgebrachte Selfoc-Linsen
realisiert werden, die mit einem in vorbestimmter Weise
polarisierten Laserstrahl 82 beaufschlagt sind.
Mit den beschriebenen Sensoren 40, 50, 60 und 65 lassen
sich Brechzahlen von Flüssigkeiten oder sonstigen
Deckschichten, die auf der Oberfläche des Wellenleiters
14 aufgebracht werden, mit großer Genauigkeit bestimmen.
Für einen in Z-Achse geschnittenen Lithiumniobatkristall
12 lassen sich Brechzahldifferenzen zwischen den beiden
Moden von 0,02 erzielen. Damit kann eine Veränderung der
Brechzahl im Meßfluid von 10-5 sicher aufgelöst werden.
Claims (15)
1. Integriert-optischer Sensor zur Erfassung von
Brechzahländerungen mit einem Substratkörper (12) aus
einem optisch transparenten Werkstoff, in dem ein mono
modiger Wellenleiter (14) vorgesehen ist, der sich
zwischen zwei Stirnflächen (18, 19) des Substratkörpers
(12) entlang dessen Oberfläche (24) erstreckt, wobei eine
seitliche Begrenzungsfläche (22) des Wellenleiters (14)
mit einem Meßfluid (58) in Kontakt bringbar ist und wobei
eine Koppelfläche (16) mit Lichtstrahlung (82) und ein
Lichtdetektor (69) mit dem in Reflexion oder Transmission
aus einer entsprechenden Koppelfläche (17 bzw. 16)
erhaltenen Meßsignal (73) beaufschlagbar ist, da
durch gekennzeichnet, daß der Wellen
leiter (14) doppelbrechend ist, daß die die Koppelfläche
(16) beaufschlagende einfallende Lichtstrahlung (82)
durch einen ersten Polarisator (70) in der Ebene der
Stirnfläche (18) um einen vorbestimmten Winkel gegenüber
der optischen Achse (52) verdreht linear polarisierbar
ist und daß die durch die Koppelfläche (17 bzw. 16)
hindurchtretende Lichtstrahlung (73) durch einen zweiten
Polarisator (71; 70) in der Ebene der Stirnfläche (19
bzw. 18) um einen zweiten vorbestimmten Winkel gebenüber
der optischen Achse (52) verdreht linear polarisierbar
ist.
2. Sensor nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
sich der doppelbrechende Wellenleiter (14) im Substrat
körper (12) entlang der X- oder Y-Schnittachse (54) eines
geschnittenen Lithiumniobat-Kristalls (12) erstreckt.
3. Sensor nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß
der Wellenleiter (14) aus Titan-dotiertem Lithiumniobat
hergestellt ist.
4. Sensor nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die vorbestimmten Winkel einen Winkel
von 45 Grad gegenüber der Z-Achse (52) umfassen.
5. Sensor nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß ein erster Wellenleiterabschnitt
(14′) des Wellenleiters (14) zwischen der Eintrittsstirn
fläche (18) und der gegenüberliegenden Stirnfläche (19)
im wesentlichen entlang der Hauptachse des Sensors (60,
65) verläuft, daß ein zweiter Wellenleiterabschnitt
(14′′) des Wellenleiters (14) zwischen der besagten
Stirnfläche (19) und der Eintrittsstirnfläche (18) im
wesentlichen entlang der Hauptachse des Sensors (60, 65)
in seitlicher Entfernung von dem ersten Wellenleiterab
schnitt (14′) verläuft, daß die der Eintrittsstirnfläche
(18) gegenüberliegende Stirnfläche (19) mit einem hochre
flektierenden Spiegelmaterial (86) versehen ist und daß
die beiden Hauptachsen der Wellenleiterabschnitte (14′,
14′′) sich in der Stirnfläche (19) treffen.
6. Sensor nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Wellenleiterabschnitt (14′) und der zweite Wel
lenleiterabschnitt (14′′) im wesentlichen entlang der
Hauptachse des Sensors (65) verlaufen und daß die Wellen
leiterabschnitte (14′, 14′′) in der Nähe der Stirnfläche
(19) aufeinander zugekrümmt sind und sich in der Stirn
fläche (19) treffen.
7. Sensor nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß
die Wellenleiterabschnitte (14′, 14′′) sich unter
adiabatischer Aufweitung (88) in der Stirnfläche (19)
treffen.
8. Sensor nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß
der erste Wellenleiterabschnitt (14′) mit einem kleinen
Winkel (21) gegenüber der Hauptachse des Sensors (60)
verläuft, daß der zweite Wellenleiterabschnitt (64) mit
demselben kleinen Winkel (21) gegenüber der Hauptachse
des Sensors (60) verläuft, wobei zwischen den beiden
Wellenleiterabschnitten (14′, 14′′) der doppelte Winkel
(21) besteht.
9. Sensor nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
der Winkel (21) einen Wert zwischen 0,1 und 2 Grad
aufweist.
10. Sensor nach einem der Ansprüche 2 oder 3, dadurch
gekennzeichnet, daß Elektroden (95) auf der Oberfläche
(24) des Sensors (40, 50, 60, 65) vorgesehen sind, zwischen
denen der Wellenleiter (14, 14′, 14′′) verläuft, daß die
Elektroden (95) mit einer Spannungsversorgung (96)
verbunden sind, deren Ausgangsspannung von einer mit dem
Lichtdetektor (69) verbundenen Ansteuerschaltung derart
regelbar ist, daß die austretende Lichtstrahlung (73) bei
Brechzahländerungen des Meßfluids (58) konstant bleibt.
11. Sensor nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch
gekennzeichnet, daß die Stirnflächen (18, 19) entspiegelt
sind.
12. Sensor nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch
gekennzeichnet, daß die Koppelflächen (16, 17) entspie
gelt sind.
13. Sensor nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch
gekennzeichnet, daß ein Laser vorgesehen ist, mit dem
die Lichtstrahlung (73, 82) erzeugbar ist.
14. Sensor nach einem der Ansprüche 1 bis 13, dadurch
gekennzeichnet, daß die Lichtstrahlung über eine Wellen
länge im Bereich von 450 bis 1600 Nanometer verfügt.
15. Sensor nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch
gekennzeichnet, daß Elektroden (95) auf der Oberfläche
(24) des Sensors (40, 50, 60, 65) vorgesehen sind, zwischen
denen der Wellenleiter (14, 14′, 14′′) verläuft, daß die
Elektroden (95) mit einer zu erfassenden elektrischen
Spannung beaufschlagbar sind und daß die den Lichtdetek
tor (69) beaufschlagende austretende Lichtstrahlung (73)
mit einer Spannungs-Auswerteschaltung verbunden ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904038791 DE4038791A1 (de) | 1990-01-27 | 1990-12-05 | Integriert-optischer sensor |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE4002454 | 1990-01-27 | ||
DE19904038791 DE4038791A1 (de) | 1990-01-27 | 1990-12-05 | Integriert-optischer sensor |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4038791A1 true DE4038791A1 (de) | 1991-08-08 |
DE4038791C2 DE4038791C2 (de) | 1992-01-30 |
Family
ID=25889475
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19904038791 Granted DE4038791A1 (de) | 1990-01-27 | 1990-12-05 | Integriert-optischer sensor |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4038791A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5565978A (en) * | 1993-04-15 | 1996-10-15 | Japan Energy Corporation | Total-reflection type refractive index sensor |
WO2006032496A1 (de) * | 2004-09-22 | 2006-03-30 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Atr-sensorelement |
WO2015155349A1 (en) * | 2014-04-11 | 2015-10-15 | Danmarks Tekniske Universitet | Method of and system for identification or estimation of a refractive index of a liquid |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3604571A1 (de) * | 1985-02-23 | 1986-09-11 | International Standard Electric Corp., New York, N.Y. | Hf-phasenschieber, realisiert als integriert-optisches bauelement |
DE3814844A1 (de) * | 1988-05-02 | 1989-11-16 | Iot Entwicklungsgesellschaft F | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der brechzahl n einer substanz |
-
1990
- 1990-12-05 DE DE19904038791 patent/DE4038791A1/de active Granted
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3604571A1 (de) * | 1985-02-23 | 1986-09-11 | International Standard Electric Corp., New York, N.Y. | Hf-phasenschieber, realisiert als integriert-optisches bauelement |
DE3814844A1 (de) * | 1988-05-02 | 1989-11-16 | Iot Entwicklungsgesellschaft F | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der brechzahl n einer substanz |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
DE-Z.: Laser und Optoelektronik Nr. 4/1986, 323-337 * |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5565978A (en) * | 1993-04-15 | 1996-10-15 | Japan Energy Corporation | Total-reflection type refractive index sensor |
WO2006032496A1 (de) * | 2004-09-22 | 2006-03-30 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Atr-sensorelement |
WO2015155349A1 (en) * | 2014-04-11 | 2015-10-15 | Danmarks Tekniske Universitet | Method of and system for identification or estimation of a refractive index of a liquid |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4038791C2 (de) | 1992-01-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE60309291T2 (de) | (Faser-) Optischer Sensor mit geeigneter Modulation | |
DE3609507C2 (de) | Faseroptisches Interferometer | |
EP0856737B1 (de) | Magneto-optischer Stromsensor | |
DE68905757T2 (de) | Integrierte optikvorrichtung zur messung des brechungsindex einer fluessigkeit. | |
DE19514852C2 (de) | Verfahren und Anordnung zur Beschleunigungs- und Vibrationsmessung | |
DE19703128A9 (de) | Magnetooptischer Stromsensor | |
EP0682261A2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur optischen Ermittlung einer physikalischen Grösse | |
DE3877543T2 (de) | Optischer fibersensor. | |
EP0403468A1 (de) | Integriert-optisches interferenzverfahren | |
EP0340577A2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Brechzahl n einer Substanz | |
EP1299736A1 (de) | Faseroptischer stromsensor | |
DE3929340C2 (de) | ||
DE2806777C2 (de) | ||
DE4202185A1 (de) | Verfahren zur faseroptischen kraftmessung | |
DE69529033T2 (de) | Optisches Gerät zur Detektion einer Verschiebung | |
DE3311809A1 (de) | Interferometrisches, eichbares fabry-perot-sensorsystem mit doppelbrechendem monomode-lichtwellenleiter | |
DE4038791C2 (de) | ||
DE3611119C1 (de) | Sensoranordnung | |
DE3726411A1 (de) | Faseroptischer magnetfeldsensor | |
EP1421393B1 (de) | Optische stromsensoren | |
DE3920840C1 (en) | Integrated optical sensor detecting temp. and refraction index changes - has double refractive waveguide in substrate extending along X or Y axis of cut lithium-niobate crystal | |
EP0356670A1 (de) | Faseroptischer Stromsensor | |
DE4138222C1 (en) | Integrated optical sensor for refractive index measurement esp. of liq. - has Mach-Zehnder interferometer formed from two arms of optical waveguide, and acousto=optical mode converter with continuously variable frequency | |
EP3622246A1 (de) | Abstandsmessanordnung zur bestimmung eines abstandes zu einem objekt | |
DE68901681T2 (de) | Faseroptischer versetzungssensor. |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |