DE4023154A1 - Fabry-perot-resonator - Google Patents
Fabry-perot-resonatorInfo
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Description
Die Erfindung betrifft einen Fabry-Perot-Resonator mit
zwei Reflektoren, von denen wenigstens einer
teildurchlässig ist.
Fabry-Perot-Resonator mit zwei über ihre gesamte Fläche
teildurchlässigen Reflektoren, insbesondere für das ferne
Infrarot, Submillimeterwellen und Millimeterwellen, d. h.
für Wellenlängen zwischen im wesentlichen 50 µm und 10 mm
sind bekannt. Ein Träger ist als im allgemeinen
ringförmiger Spannrahmen für ein Metallgitter ausgebildet.
Mit Hilfe von zusätzlichen Spannungseinrichtungen sind die
Metallgitter über einer Öffnung des Trägers gespannt
gehalten.
Ein solcher Fabry-Perot-Resonator stellt ein
schmalbandiges Frequenzfilter dar. Nur Strahlung in einem
schmalen Frequenzband bei einer bestimmten Wellenlänge,
der Resonanzwellenlänge, wird in den Fabry-Perot-Resonator
hineingelassen. Alle anderen in der Strahlung enthaltenen
Wellenlängen werden nahezu vollständig reflektiert. Die
Resonanzwellenlänge ist durch den Abstand der Reflektoren
bestimmt. Die Strahlung mit der Resonanzwellenlänge dringt
durch einen teildurchlässigen Spiegel oder ein kleines
Loch oder durch Beugung an den Grenzflächen eines der
Resonatorspiegel in den Resonator ein und wird in diesem
gespeichert. Dabei tritt die für Resonatoren typische
Resonanzüberhöhung der Energiedichte im Vergleich zur
Energiedichte der einfallenden Strahlung auf.
Verwendet man als zweiten Reflektor ebenfalls einen
teildurchlässigen Reflektor, so verläßt die Strahlung den
Resonator in der ursprünglichen Ausbreitungsrichtung. Nach
Durchtritt durch den Resonator wird diese Strahlung mit
einem Spiegel oder einer entsprechenden
Fokussiereinrichtung auf einen Detektor fokussiert und in
ein Meßsignal umgewandelt. Durch Variation des Abstandes
der Resonatoren entsteht ein abstimmbares Frequenzfilter
für parallel auftreffende Strahlung. Bei der
Resonanzwellenlänge hat der Fabry-Perot-Resonator mit zwei
teildurchlässigen Reflektoren im Idealfall die
Transmissivität 1, d. h., alle Strahlung bei der
Resonanzwellenlänge tritt durch den Resonator hindurch.
Falls der zweite Resonator statt teildurchlässig,
vollständig reflektierend ist (Reflektivität 1), so tritt
der Speichereffekt für die Strahlung im Resonator ebenso
auf. Die gespeicherte Strahlung kann mit einem
Intra-Resonator (intra-cavity)-Detektor nachgewiesen
werden.
Die prinzipielle Funktionsweise ist dabei wie folgt. Beide
Metallgitter sind in einer ebenen, parallelen Anordnung
gespannt. Einfallende elektromagnetische Strahlung bei der
Resonanzwellenlänge wird sehr oft zwischen den
Metallgittern hin und her reflektiert. Da die Reflektoren
teildurchlässig für die elektromagnetische Strahlung sind,
verläßt an jeder Stelle des Reflektors ein Teil der
zwischen den Reflektoren befindlichen Strahlung den
Resonator, und zwar in Durchlaßrichtung, und wird mit
einem außerhalb des Resonators angeordneten Detektor
nachgewiesen. Strahlung, die nicht der Resonatorwellenlänge
entspricht, wird vom Fabry-Perot-Resonator weitgehend
reflektiert. Nur Strahlung aus einem engen Frequenzband
wird aufgenommen und hindurchgelassen. Der
Fabry-Perot-Resonator wirkt dabei als schmalbandiges
Durchlaßfilter. Durch Verändern des Abstands der
Reflektoren wird Strahlung in einem engen Frequenzband
um die Resonanzfrequenz detektiert.
Resonatoren dieser Art und insbesondere in dem oben
genannten Wellenlängenbereich werden z. B. in der
Astronomie eingesetzt. Übergänge zwischen Rotationsniveaus
leichter Moleküle, wie z. B. NH₃, sowie Übergänge zwischen
Feinstrukturniveaus von Atomen und Ionen sind so
nachweisbar. Eine weitere Anwendung finden diese
Resonatoren in der Laserspektroskopie, wo z. B. mit einem
CO₂-Laser ein Ferninfrarot-, Submillimeter- oder
Millimeterlaser optisch gepumpt wird und dessen
Emissionsspektrum analysiert wird. Auch thermische
Strahlung kann analysiert werden.
Dabei ist von Nachteil, daß die als Reflektoren
eingesetzten Metallgitter bei kleinen Wellenlängen bzw.
hohen Frequenzen nahezu durchsichtig sind. Dies führt zu
einer Überlagerung der hochfrequenten Strahlung mit der
Strahlung in dem eigentlich interessierenden
Frequenzbereich und erschwert oder verhindert deren
Detektion. Daher muß diesem
Kreuzgitter-Fabry-Perot-Resonator ein zusätzliches
optisches Tiefpaßfilter vorgeschaltet werden, das die
hohen Strahlungsfrequenzen unterdrückt. Da diese Filter im
allgemeinen bei einer Umgebungstemperatur von 4,2 K
betrieben werden, muß ein entsprechend aufwendiger
Kryostat zur Aufrechterhaltung der tiefen Temperaturen
verwendet werden, wodurch der Aufbau des Resonators
entsprechend komplex wird.
Ein weiterer Nachteil bei dem vorbekannten
Fabry-Perot-Resonator ist, daß eine Justierbarkeit während
des Einsatzes nicht möglich ist, denn die Überprüfung der
Parallelität der Metallgitter bzw. deren Abstand ist nur
in einem separaten Meßvorgang und nur unter Verwendung
sehr aufwendiger Ferninfrarotlaser möglich.
Weiterhin ist aufgrund der Ausbildung des Reflektors als
Metallgitter sowohl der Wellenlängenbereich als auch
dessen Ebenheit begrenzt. Diese Begrenzung der Ebenheit
hat eine Begrenzung der Schmalbandigkeit, und damit
zusammenhängend, der Güte des Fabry-Perot-Resonators zur
Folge.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, einen
Fabry-Perot-Resonator mit den Merkmalen des Oberbegriffs
von Anspruch 1 hinsichtlich der allgemeinen Eigenschaften
und der Einsatzmöglichkeiten bei gleichzeitiger
Vereinfachung des Aufbaus zu verbessern.
Diese Aufgabe wird bei dem erfindungsgemäßen
Fabry-Perot-Resonator dadurch gelöst, daß zumindest der
teildurchlässige Reflektor eine auf einem Trägersubstrat
aufgetragene supraleitende Schicht ist.
Bei anderen erfindungsgemäßen Ausführungsformen des
Resonators ist z. B. der andere Reflektor eine auf dem
selben Trägersubstrat oder auf einem zweiten
Trägersubstrat aufgetragene teildurchlässige supraleitende
Schicht oder eine undurchlässige supraleitende oder
normalleitende Schicht.
Da die supraleitenden Schichten bei kleinen Wellenlängen
stark absorbierend sind, ist ein zusätzliches Filter nicht
mehr notwendig. Außerdem läßt sich durch vorteilhafte
Kombination von Trägersubstrat und supraleitendem
Schichtmaterial der Absorptionsbereich bzw. der
Transmissionsbereich der Strahlung auswählen und in seinen
Grenzen einstellen. Als grundsätzliche Voraussetzung ist
zu beachten, daß das Trägersubstrat im interessierenden
Frequenzbereich durchsichtig ist. Alle anderen Frequenzen
werden durch Absorption in den supraleitenden Schichten
bzw. im Trägersubstrat ausgefiltert. Bei den
supraleitenden Schichten ist in diesem Zusammenhang der
Transmissionsbereich durch eine obere Grenzfrequenz
begrenzt, die der Supraleitungs-Energielücke (Gap)
entspricht. Oberhalb dieser Grenzfrequenz setzt eine
starke Absorption des supraleitenden Schichtmaterials ein.
Das Herstellen einer solchen supraleitenden Schicht ist
nach mehreren im Prinzip bekannten Verfahren möglich. So
kann z. B. mit Hilfe eines Excimerlasers nach dem Verfahren
der Laserablation eine supraleitende Schicht auf einem
Trägersubstrat aufgetragen werden. Aber ebenso ist die
Schichtauftragung mit Hilfe einer Sputtereinrichtung oder
ähnlicher anderer Verfahren möglich.
Durch die Verwendung der supraleitenden Schicht sind
nahezu alle Eigenschaften des Fabry-Perot-Resonators
verbessert. Die Beschränkung auf Wellenlängen oberhalb von
50 µm wie bei den Metallgittern entfällt. Je nach
Supraleiter kann die untere Grenzwellenlänge bis auf 10 µm
gesenkt werden. Dadurch ist der Resonator im Infraroten,
fernen Infrarot, Mikrowellenbereich, Submillimeter- und
Millimeterbereich einsetzbar.
Durch die Ausbildung der Reflektoren als supraleitende
Schichten ist die Ebenheit gegenüber einem Metallgitter
verbessert. Während ein Metallgitter bis auf Schwankungen
von etwa 1 µm eben ist, lassen sich Schichten mit
mindestens um einen Faktor 10 geringeren Unebenheiten
herstellen.
Weitere Vorteile des erfindungsgemäßen
Fabry-Perot-Resonators ergeben sich bei Betrachtung der
Intensität der durch einen Fabry-Perot-Resonator mit zwei
teildurchlässigen Reflektoren transmittierten Strahlung.
Da ein Resonator desto besser ist, je höher die Intensität
der transmittierten Strahlung ist, je geringer die
Halbwertbreite des Durchlaßbereiches ist, desto höher das
Auflösungsvermögen und desto größer der Kontrastfaktor
ist, lassen sich mit diesen Größen die allgemeinen
Eigenschaften von solchen Resonatoren vergleichen. Nach
der Airy-Formel ist die Transmissivität für
Parallelbestrahlung, d. h. ein Bündel parallel auf den
Resonator einfallender Strahlung, durch folgende Formel
gegeben:
δ ist dabei insbesondere abhängig vom Abstand der beiden
Reflektoren.
Resonanzen treten für δ=z · 2 π auf, wobei z=
1, 2, 3 . . . die Ordnung der Interferenzen angibt. Die
Resonanzwellenlänge ergibt sich aus der Kenntnis von δ.
Diese Größe ist im wesentlichen gegeben durch die
Beziehung δ=4 · π · nd · cos α/λ
wobei n der Brechungsindex des Mediums zwischen den
Reflektoren ist (n=1 für Vakuum), d der Abstand der
Reflektoren, λ die Wellenlänge der Strahlung und α der
Winkel zwischen der Richtung der Strahlungsausbreitung und
der Normalen der Reflektoren ist.
Zwei Betriebsweisen sind möglich: Parallele Strahlung
fällt unter dem Winkel α auf den Fabry-Perot-Resonator.
Dann treten Resonanzen auf der λ₂=2 · n · d · cos α/z
Für festes z kann die Resonanzfrequenz entweder durch
Änderung von α, d. h. durch Verkippen des gesamten
Fabry-Perot-Resonators gegen den einfallenden
Parallelstrahl, oder bei festem α (insbesondere λ=0) durch
Ändern von d variiert werden. Im zweiten Fall fällt
divergente Strahlung von einer nahezu punktförmigen
Lichtquelle ein. Dann entspricht jedem α
eine bestimmte Wellenlänge λ und
Strahlung mit konstantem λ liegt hinter dem
Fabry-Perot-Resonator auf einem Kreis.
F ist näherungsweise durch F=π · R½ · (1-R)-1 gegeben
wobei R den Reflexionsgrad (Reflektivität) der
Einzelschicht bezeichnet,
gegeben, wobei A und T den Absorptionsgrad (die
Absorptivität) bzw. den Transmissionsgrad
(Transmissivität) der Einzelschicht bezeichnen. Die
weiteren Größen zur Kennzeichnung der Eigenschaft eines
Resonators wie die Halbwertsbreite Γ der
transmittierten Strahlung, das Auflösungsvermögen und der
Kontrastfaktor hängen alle drei von der Größe F, die als
Finesse bezeichnet wird, ab. So ist die Halbwertsbreite Γ
proportional zu F-1 das Auflösungsvermögen (Güte des
Resonators): λΔ′λ proportional zu F-2.
Ein Resonator ist entsprechend dieser Abhängigkeiten desto
besser, je größer die Werte von τmax und F sind.
Bei Vergleich eines vorbekannten, mit einem Metallgitter
arbeitenden Resonator mit dem erfindungsgemäßen Resonator
läßt sich aufgrund der physikalischen Eigenschaften
supraleitender Schichten feststellen, daß für F Werte, die
in etwa um einen Faktor 10 größer sind, erreichbar sind.
Gleichzeitig kann τmax in etwa um einen Faktor 2 größer
sein. Entsprechend sind die Eigenschaften wie
Halbwertsbreite, Auflösungsvermögen und Kontrastfaktor bei
dem erfindungsgemäßen Resonator deutlich verbessert.
Des weiteren sind durch das supraleitende Schichtmaterial
Verwendungsmöglichkeiten gegeben, die beim vorbekannten
Resonator gar nicht möglich sind.
So ist neben einer passiben Schaltbarkeit, die im Prinzip
auch bei den Metallgitterresonatoren vorhanden ist, eine
aktive Schaltbarkeit, d. h. eine Änderung des
Transmissionsgrades, aufgrund der Verwendung von
supraleitenden Materialien möglich. Im Prinzip werden
dabei durch Energiezufuhr aufgrund der im Resonator
gespeicherten Strahlung Cooperpaare in der supraleitenden
Schicht aufgebrochen. Für eine gewisse Zeit, die der
Lebensdauer dieser aufgebrochenen Cooperpaare
(Quasiteilchen) entspricht, können diese verstärkt
Strahlung absorbieren und der Transmissionsgrad sinkt.
Nach einer Zeitspanne, die in etwa der Lebensdauer dieser
Quasiteilchen entspricht, kondensieren diese wieder als
Cooper-Elektronenpaare und absorbieren keine Strahlung
mehr. Der Transmissionsgrad erreicht dadurch den
ursprünglichen Wert bis sich dieser Vorgang durch erneute
Erzeugung von Quasiteilchen wiederholt. Auf diese Weise
ist die Absorption im Resonator für gewisse Zeiten jeweils
stärker bzw. schwächer und die transmittierte Strahlung
wird aktiv geschaltet.
Beim Aufbrechen von Cooperpaaren und der nachfolgenden
Anregung von Quasiteilchen entsteht Wärme, die selbst
wieder zum Aufbrechen weiterer Cooperpaare und zu einem
Absinken des Transmissionsgrades des
Fabry-Perot-Resonators führt. Falls die Abkühlzeit einer
Schicht, die durch die thermischen Transporteigenschaften
der Schicht und des Trägersubstrats und der Grenzfläche
dazwischen bestimmt ist, länger als die Lebensdauer der
Cooperpaare ist, bestimmt die Abkühlzeit die Schaltzeit
des Resonators. Die transmittierte Strahlung wird in
diesem Fall ebenfalls aktiv geschaltet.
Eine weitere Verwendungsmöglichkeit des erfindungsgemäßen
Resonators besteht im Aufbau eines Laserresonators für
Festkörperlaser für das ferne Infrarot, Submillimeter-
und Millimeterwellen. Ein solcher Laser ist z. B. der
Germaniumlaser. Der Laserresonator soll dabei entsprechend
dem erfindungsgemäßen Fabry-Perot-Resonator aufgebaut
sein. Der Resonator besteht im wesentlichen entweder aus
zwei planparallelen Reflektoren oder aus einem konkaven
und einem planen Reflektor, wobei die Reflektoren ganz
oder teilweise aus supraleitenden Schichten bestehen.
Diese können direkt auf den Resonatorkristall aufgebracht
werden. Eine solche Integration ist besonders interessant,
da Festkörperlaser im fernen Infrarot und
Submillimetergebiet tiefe Temperaturen für das aktive
Lasermaterial zur Voraussetzung haben.
Kreuzgitter-Reflektoren sind wegen ihrer Unebenheiten für
diese Anwendung ungeeignet.
Eine sehr wichtige Verwendungsmöglichkeit des
erfindungsgemäßen Resonators besteht im Aufbau eines
supraleitenden Fabry-Perot-Resonators mit gekrümmten
Reflektoren für höchstauflösende Spektroskopie im fernen
Infrarot, Submillimeter- und Millimeterwellengebiet. Dabei
ist einer der beiden Reflektoren konkav und der andere
plan. Es können aber auch beide Reflektoren konkav sein.
Ein solcher Fabry-Perot-Resonator hat gegenüber einem mit
nur planen Reflektoren den Vorteil eines wesentlich
höheren "Throughputs", d. h. er ist wesentlich
lichtstärker. Deshalb kann mit dem supraleitenden
Fabry-Perot-Resonator ein Auflösungsvermögen erreicht
werden, das um mindestens einen Faktor 100 höher liegt als
für Kreuzgitter-Fabry-Perot-Resonatoren.
Eine weitere Verbeserung ist durch Verwendung einer
Multipaß-Anordnung möglich. In diesem Fall müssen nur
Eintritts- und Austrittsbereich der Reflektoren mit
teildurchlässigen supraleitenden Schichten bedeckt sein,
während für die anderen Bereiche der Reflektoren auch
hochreflektierende Normalmetalle verwendet werden können.
Je nach Einsatzgebiet ist es dabei von Vorteil, wenn die
supraleitenden Schichten unstrukturiert oder zumindest
teilweise strukturiert sind. Unstrukturierte Schichte
zeichnen sich durch eine große effektive Fläche und eine
entsprechend vorteilhafte Verwendung als Reflektoren für
den Fabry-Perot-Resonator aus. Teilweise strukturierte
Schichten können gleichzeitig als voneinander isolierte
rechteckige oder kreisförmige Plättchen oder auch als
Kreuzgitter ausgebildet sein und bilden in dieser Form ein
Bandpaßfilter. Oder die Struktur ist streifenförmig und die
Schicht ist als Polarisator einsetzbar, wobei dieser einen
extrem hohen Polarisationsgrad und eine verschwindende
Absorption aufweist. Bei Verwendung eines
unstrukturierten Reflektors und eines strukturierten
Reflektors lassen sich weitere Einsatzmöglichkeiten, wie
z. B. die Polarisation der durchgehenden Strahlung
gleichzeitig mit der Interferenz der Strahlung,
verwirklichen.
Um eine Integration der supraleitenden Schichten z. B. im
Zusammenhang mit der Mikroelektronik zu ermöglichen, ist
es von Vorteil, wenn diese im physikalischen Sinne als
dünne Schichten ausgebildet sind. Auf einem gemeinsamen
Substrat ist so die Ausbildung sowohl eines
Fabry-Perot-Resonators und einer den Resonator umgebenden
Mikroelektronik möglich.
Bei einer vorteilhaften Ausführungsform ist jeweils eine
supraleitende Schicht auf einem Trägersubstrat
aufgetragen. Dadurch ergibt sich die Möglichkeit, die
Entfernung der Schichten auf einfache Weise zu variieren
und den Erfordernissen anzupassen. Es ist so möglich,
während einer Messung die Schichten mit Hilfe von
Laserstrahlung im Sichtbaren (z. B. eines He-Ne-Lasers) der
nach hinten reflektierten oder der durchgehenden
sichtbaren Strahlung zu justieren, während die
transmittierte Infrarot-, Submillimeter- oder
Millimeterwellenstrahlung weiterhin dem Detektor zugeführt
wird. Damit wird eine dynamische Justierung des
Fabry-Perot-Resonators möglich.
Grundsätzlich sind zwei Anordnungen der supraleitenden
Schichten insbesondere von Vorteil. Bei einer parallelen
Schichtanordnung ist der Resonator als schmalbandiges
Frequenzfilter für Parallelstrahlung einsetzbar. Bei einer
Anordnung der supraleitenden Schichten unter einem spitzen
Winkel zueinander kann der Resonator als optischer
Vielkanalanalysator für elektromagnetische Strahlung (im
Infrarot-, Submillimeter- und Millimetergebiet) eingesetzt
werden. Die Strahlung mit den verschiedenen
Frequenzteilchen wird dabei als paralleles Strahlenbündel
auf den Fabry-Perot-Resonator geleitet.
Um die supraleitenden Schichten in der Entfernung
zueinander zu variieren oder diese parallel zu justieren,
ist es von Vorteil, wenn eine Stelleinrichtung zur
Variation der Entfernung zwischen den supraleitenden
Schichten zumindest einem Trägersubstrat zugeordnet ist.
Die Stelleinrichtung kann z. B. drei piezoelektrische
Verstelleinrichtungen umfassen, die bei entsprechend
angelegter Spannung die Schichtebene zumindest einer
supraleitenden Schicht beliebig gegenüber der anderen
supraleitenden Schicht verschwenken oder in der Entfernung
zueinander einstellen können.
Um einen möglichst einfachen Aufbau des Resonators
zusammen mit dem Strahlungsdetektor zu erzielen, ist es
günstig, wenn der oder die Strahlungsdetektoren in
zumindest einer Schicht integriert sind. Zur Aufnahme
eines ganzen Spektrums kann auch eine Vielzahl von
Detektoren in Form eines Detektorarrays in einer Schicht
ausgebildet sein. Eine andere sehr günstige Variante
besteht darin, daß ein Detektor im Zwischenraum zwischen
den Reflektoren oder in deren Randbereich angeordnet ist.
Sowohl zum Auftragen der supraleitenden Schichten auf das
Trägersubstrat als auch für die Durchlässigkeit für
elektromagnetische Strahlung bei tiefen Temperaturen
unterhalb von der Sprungtemperatur TC ist es von Vorteil,
wenn das Trägersubstrat im wesentlichen aus Magnesiumoxid
(MgO) oder Silizium (Si) gebildet ist.
In diesem Zusammenhang ist es weiterhin von Vorteil, wenn
die supraleitenden Schichten aus einem
Hochtemperatur-Supraleiter gebildet sind. Da diese
Hochtemperatur-Supraleiter eine relativ große
Supraleitungs-Energielücke aufweisen, absorbieren diese
erst ab einer Wellenlänge, die kleiner als in etwa 10 µm
ist. Im Zusammenhang mit der sehr guten Durchsichtigkeit
der Trägersubstrate bei großen Wellenlängen sind auf diese
Weise die erfindungsgemäßen Resonatoren für den
Wellenlängenbereich von 10 µm bis 10 mm einsetzbar.
Aber auch Fabry-Perot-Resonatoren mit konventionellen
Supraleitern, wie z. B. Pb, PbTe, Nb oder Nb₃Sn, sind von
großem Interesse. Sie können u. a. zum Nachweis und der
Analyse der 3K-Hintergrundstrahlung im Weltraum
vorteilhaft eingesetzt werden.
Als besonders günstig hinsichtlich der Größe der
Gap-Energie sowie der Güte der supraleitenden Schicht
erweist sich der Hochtemperatur-Supraleiter mit einer
Zusammensetzung entsprechend der chemischen Formel
YBa₂Cu₃O7- δ. Andere Hochtemperatur-Supraleiter, wie
Bi₂Sr₂Ca₂Cu₃O₁₀ oder Tl₂Ba₂Ca₂Cu₃O₁₀ sowie
Modifikationen davon, wie z. Tl-Verbindungen mit Blei
oder auch andere Supraleiter-Verbindungen mit ähnlich
hoher Sprungtemperatur sind ebenso verwendbar. Besonders
vorteilhaft sind dabei Hochtemperatur-Supraleiter deren
Sprungtemperatur oberhalb der Siedetemperatur von
Stickstoff, d. h. 77 K liegt.
Bei einer vorteilhaften Ausführungsform des Resonators
beträgt die Dicke der supraleitenden Schichten in etwas 1000
Å. Auch dickere Schichten bis 4000 Å zur Erzielung
einer sehr großen Finesse sind von Interesse. Schichten
solcher Dicke lassen sich mit hoher Güte auf dem
Trägersubstrat auftragen und weisen einen vorteilhaften
Transmissionsgrad auf. Konventionelle Supraleiter mit
Anwendungen bei längeren Wellenlängen, ab etwa 0,3 mm,
sind schon in geringerer Schichtdicke ab etwa 300 Å
hochreflektierend. Diese Schichten und Schichten bis zu
einigen 1000 Å können leicht durch thermisches Verdampfen
auf verschiedene Trägersubstrate aufgebracht werden.
Die erfindungsgemäß vorgeschlagenen Lösungen und
vorteilhafte Ausführungsbeispiele davon werden im
folgenden anhand der in der Figur dargestellten Figuren
weiter erläutert und beschrieben. Es zeigt
Fig. 1 verschiedene Ausführungsformen des
erfindungsgemäßen Fabry-Perot-Resonators und
Fig. 2 einen Querschnitt einer Halte- und
Stelleinrichtung für eine Ausführungsform
des erfindungsgemäßen Resonators.
In Fig. 1a ist eine erste, einfachste Ausführungsform
des erfindungsgemäßen Fabry-Perot-Resonators 1
dargestellt. Auf einem im Querschnitt im wesentlichen
rechteckförmigen Trägersubstrat 2 ist auf den Längsseiten
jeweils eine supraleitende Schicht 3 bzw. 4 aufgetragen.
Der Abstand der beiden supraleitenden Schichten 3 und 4
ist durch die Dicke d des Trägersubstrats 2 gegeben. Eine
Modifizierung besteht darin, daß ein rundes oder anders
geformtes Trägersubstrat gewählt werden kann. Die Dicke
des Trägersubstrats kann im Bereich zwischen 0,1 mm und
100 mm gewählt werden. Der Durchmesser des runden
Substrats kann z. B. 10 mm oder größer, bis z. B. 100 mm
gewählt werden.
In Fig. 1 ist eine weitere Ausführungsform des
Resonators dargestellt. Auf jeweils einem im wesentlichen
im Querschnitt wieder rechteckförmigen Trägersubstrat 5
bzw. 6 entlang einer Längsseite eine supraleitende
Schicht 3 bzw. 4 aufgetragen. Die mit diesen Schichten
bedeckten Seitenflächen der Trägersubstrate 5 und 6 sind
einander zugewendet, während die unbedeckten Seitenflächen
8 und 9 voneinander wegweisen. Der Abstand d der beiden
supraleitenden Schichten 3 und 4 ist durch zwischen den
Schichten am oberen bzw. unteren Ende der Trägersubstrate
5 und 6 angeordnete, gleich lange Abstandselemente 7
bestimmt. Der Abstand d ist durch Einsetzen von
Abstandselementen verschiedener Länge, nahezu beliebig
einstellbar. Das Abstandselement kann dabei z. B. als Ring
ausgebildet sein. Der Abstand d kann wenige µm betragen
oder er kann im Bereich von 10 µm bis ca. 200 mm (oder
auch darüber) betragen. Bei großen Abständen wird der
Fabry-Perot-Resonator in hoher Ordnung betrieben und
erlaubt außerordentlich hohe Güten und Auslösungsvermögen.
Wiederum besteht eine Modifizierung darin, daß ein rundes
oder anders geformtes Trägersubstrat gewählt werden kann.
Im Falle eines runden Substrats beträgt der Durchmesser
z. B. etwa 10 mm. Bei großer Güte sind zur Reduzierung der
Beugungsverluste größere Durchmesser, bis 50 mm
verwendbar. Die Dicke des Trägersubstrats ist durch die
Ebenheit und das jeweilige Material bestimmt. Sie kann 1 mm
aber auch z. B. 10 mm oder 50 mm betragen.
In Fig. 1c ist eine der Fig. 1b entsprechende
Ausführungsform des erfindungsgemäßen Resonators
dargestellt. Bei diesem Resonator sind die
Abstandselemente 7 gemäß Fig. 1b nicht zwischen den
supraleitenden Schichten 3 und 4 und damit auch zwischen
den Trägersubstraten 5 und 6 angeordnet, sondern der
Abstand d der supraleitenden Schichten 3 und 4 ist z. B.
gemäß Fig. 2 einstellbar.
In Fig. 1d ist eine weitere Ausführungsform des
erfindungsgemäßen Resonators dargestellt. Die
Trägersubstrate 5 und 6 und die entsprechend bei den
Fig. 1b bzw. 1c aufgetragenen supraleitenden Schichten
3 und 4 sind unter einem spitzen Winkel zueinander
angeordnet. An einem unteren Ende beträgt der Abstand der
supraleitenden Schichten 3 und 4 auf diese Weise b,
während an dem entgegengesetzten, oberen Ende der Abstand
a beträgt. Bei dem in Fig. 1d dargestellten
Ausführungsbeispiel ist der Abstand a in diesem Fall
größer als der Abstand b. Eine Halte- und Stelleinrichtung
ist für diese Ausführungsform ähnlich wie für die
Ausführungsform gemäß Fig. 1c entsprechend Fig. 2
realisierbar. Während gemäß der Ausführungsform von Fig. 1d
das Trägersubstrat 6 mit der dazugehörigen
supraleitenden Schicht 4 um eine untere Kante um einen
spitzen Winkel gegenüber dem Trägersubstrat 5 und der auf
diesem aufgetragenen supraleitenden Schicht 3 verschwenkt
ist, ist es auch möglich, den spitzen Winekl zwischen den
beiden supraleitenden Schichten 3 und 4 durch
entsprechende Ausbildung z. B. des Trägersubstrats 6 zu
erzielen. In diesem Fall würde das Trägersubstrat 6 an
seinem oberen Ende eine größere Breite als an seinem
unteren Ende aufweisen. Der spitze Winkel ist dann nicht
durch Kippen des Trägersubstrats 6 einstellbar, sondern
ist durch die Neigung der unterhalb der supraleitenden
Schicht 4 verlaufenden Oberfläche des Trägersubstrats 6
gegeben.
In Fig. 2 ist eine Halte- und Stelleinrichtung 10 für den
erfindungsgemäßen Fabry-Perot-Resonator dargestellt. Der
Resonator ist durch die Trägersubstrate 5 und 6 sowie die
auf jeweils eine Seitenfläche derselben aufgetragenen
supraleitenden Schichten 3 und 4 gebildet. Die die
supraleitenden Schichten 3 und 4 tragenden Seiten der
Trägersubstrate 5 und 6 sind einander zugewendet, während
die Seitenfläche 8 und 9 nach außen zu den Öffnungen 20
und 22 weisen. Am oberen und unteren Ende eines jeden
Trägersubstrats sind diese durch entsprechende Haltenasen
13 und 14 bzw. 17 und 18 gehalten. Die Haltenasen sind an
einem Ende eines Haltearmes 11 und 12 bzw. 15 und 16
ausgebildet. Die oberen Haltearme 11 und 15 sind im
wesentlichen horizontal angeordnet und halten die
Trägersubstrate 5 und 6 durch ihre Haltemasen 13 und 17 am
oberen Ende, während die unteren Haltearme 12 und 16 die
unteren Enden mit Hilfe der Haltenasen 14 und 18 halten.
Die Länge der Haltearme 11, 12, 15 und 16 ist in Fig. 2
übertrieben dargestellt, um die Einrichtung 10 besser
beschreiben zu können.
Die das Trägersubstrat 5 haltenden Haltearme 11 und 12
sind durch einen im wesentlichen vertikalen
Verbindungsträger 19 miteinander verbunden. In diesem
Verbindungsträger 19 ist eine Öffnung 20 ausgebildet, das
sich nahezu über die gesamte Höhe des Trägersubstrats 5
parallel zu diesem erstreckt.
Unterhalb des unteren Haltearmes 12 ist mit dem vertikalen
Verbindungsträger 19 ein Horizontalträger 23 verbunden.
An dem dem vertikalen Verbindungsträger 19
gegenüberliegenden Ende des Horizontalträgers 23 ist ein
vertikaler Verbindungsträger 21 angeordnet. Dieser weist
eine der Öffnung 20 entsprechende Öffnung 22
auf.
Im Gegensatz zu den Haltearmen 11 und 12 des
Trägersubstrats 5 sind die Haltearme 15 und 16 des
Trägersubstrats 6 nicht direkt mit dem vertikalen
Verbindungsträger 21 verbunden. Zwischen den Haltearmen 15
und 16 und den senkrecht zum vertikalen Verbindungsträger
21 verlaufenden horizontalen Halterungen 24 und 25 sind
Piezoabstandsstelleinrichtungen 26 und 27 angeordnet. Mit
Hilfe der ersten Piezoabstandsstelleinrichtung 26 ist der
Abstand e von Haltearm 15 und Horizontalhalterung 24 und
mit Hilfe der Piezoabstandsstelleinrichtung 27 der Abstand
f vom unteren Haltearm 16 und zugeordneter
Horizontalhalterung 25 variierbar. Eine dritte
Piezoabstandsstelleinrichtung, die zusammen mit den
Stelleinrichtungen 26 und 27 eine beliebige Verstellung
des Trägersubstrats 6 und der zugehörige supraleitenden
Schicht 4 ermöglicht, ist nicht dargestellt. Durch
Veränderung der Abstände e und f ist der Abstand d der
supraleitenden Schichten 3 und 4 einstellbar. Außerdem ist
entsprechend des Ausführungsbeispiels aus Fig. 1d auch
ein unterschiedlicher Abstand a und b zwischen oberem Ende
und unterem Ende der Trägersubstrate 5 und 6 einstellbar.
Die Piezoabstandsstelleinrichtung ist gleichzeitig zum
Paralleljustieren der Schichten 3 und 4 ausgebildet.
Zusätzlich zur piezoelektrischen kann auch eine in der
Fig. 2 nicht dargestellte magnetische Verschiebung für
die Grobeinstellung des Abstandes des Resonatoren
zusätzlich angeordnet sein. Die
Piezoabstandsstelleinrichtung ist dann für die Justierung
und Feinabstimmung verwendbar. Mit der
Piezoabstandsstelleinrichtung ist ein Hub von einigen 10 µm
und mit der magnetischen Verschiebung von z. B. 1 mm
mögllich.
Im folgenden wird der prinzipielle Gesamtaufbau und die
Betriebsweise des Resonators beschrieben.
Der erfindungsgemäß vorgeschlagene Fabry-Perot-Resonator
wird, solange es noch keine Hochtemperatur-Supraleiter
bei Raumtemperatur gibt, gekühlt betrieben.
Die Betriebstemperatur muß deutlich kleiner sein als die
Sprungtemperatur Tc der supraleitenden Schichten, nämlich
kleiner als 2/3 Tc. Sie muß außerdem hinreichend tief
sein, um die Transparenz des Trägersubstrats im
gewünschten Wellenlängenbereich zu gewährleisten. Silizium
ist z. B. schon bei Raumtemperatur transparent. Bei
Integration mit Tieftemperatur-Strahlungsdetektoren
bestimmen diese die Betriebstemperatur.
Die Kühltemperatur kann entsprechend im Bereich um
1 K, bei einigen K oder auch bei 77 K liegen. Entsprechend
wird flüssiges Helium bzw. flüssiger Stickstoff als
Kühlflüssigkeit in einem Kältereservoir verwendet.
Die Kühlung des Fabry-Perot-Resonators erfolgt entweder
durch mechanischen Kontakt mit dem Kältereservoir oder mit
Hilfe von Heliumgas. Der supraleitende
Fabry-Perot-Resonator befindet sich in einem
entsprechenden Kryostaten und ist umgeben von Vakuum oder
von Heliumgas, das den Kälteaustausch übernimmt. Falls
sich der Resonator im Vakuum befindet, sind zwei Fenster
im Kyrostaten für den optischen Zugang ausgebildet. Diese
Fenster weisen für die gewünschte Strahlung eine hohe
Transparenz auf. Falls der Resonator mit
Helium-Austauschgas gekühlt wird, sind beiseitig jeweils
zwei Fenster für den optischen Zugang angeordnet. Ein
Fenster schließt jeweils den Kühlraum ab und ein zweites
die Vakuumkammer des Kyrostaten. Diese Fenster weisen
wiederum eine hohe Transparenz für die gewünschte
Strahlung auf.
Alternativ kann der Fabry-Perot-Resonator auch direkt mit
flüssigem Helium gekühlt werden.
Falls der Strahlungsdetektor im Fabry-Perot-Resonator
integriert ist, ist die Anordnung von im letzten Fall zwei
Fenstern und im ersten Fall einem Fenster für den
optischen Zugang einseitig zum Resonator ausreichend.
Die Stelleinrichtungen zur Verschiebung und Justierung der
Reflektoren des Fabry-Perot-Resonators sind durch
elektrische Impulse über elektrische Zuleitungen in dem
Kyrostaten steuerbar.
Claims (26)
1. Fabry-Perot-Resonator mit zwei Reflektoren, von denen
wenigstens einer teildurchlässig ist,
dadurch gekennzeichnet,
daß zumindest der teildurchlässige Reflektor
(3) eine auf einem Trägersubstrat (2;
5,) aufgetragene supraleitende Schicht (3) ist.
2. Fabry-Perot-Resonator nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die supraleitende Schicht (3) oder die supraleitenden
Schichten (3, 4) unstrukturiert oder zumindest teilweise
strukturiert sind.
3. Fabry-Perot-Resonator nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die supraleitende Schicht (3) oder die supraleitenden
Schichten (3, 4) als im physikalischen Sinne dünne
Schichten ausgebildet sind.
4. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß jeweils eine supraleitende Schicht (3; 4) auf einem
Trägersubstrat (5; 6) aufgetragen ist.
5. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorgehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die supraleitenden Schichtträger (3, 4) parallel
zueinander angeordnet sind.
6. Fabry-Perot-Resonator nach wengistens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die supraleitenden Schichten (3, 4) unter einem
spitzen Winkel zueinander angeordnet sind.
7. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine Stelleinrichtung (26, 27) zur Variation der
Entfernung zwischen den supraleitenden Schichten (3, 4)
zumindest einem Trägersubstrat (6) zugeordnet ist.
8. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß Strahlungsdetektoren in zumindest einer Schicht (3; 4)
integriert sind.
9. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Trägersubstrate (2; 5, 6) im wesentlichen aus
Magnesiumoxyd (MgO) gebildet sind.
10. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Trägersubstrate (2; 5, 6) aus Strontiumtitanat
(SrTiO₃) gebildet sind.
11. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Trägersubstrate aus Silizium (Si) oder Silizium
mit einer Deckschicht gebildet sind.
12. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Trägersubstrate (2; 5, 6) aus verschiedenen
Materialien gebildet sind.
13. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die supraleitenden Schichten (3, 4) aus einem
Hochtemperatur-Supraleiter gebildet sind.
14. Fabry-Perot-Resonator nach Anspruch 10,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Hochtemperatur-Supraleiter eine Verbindung
entsprechend der chemischen Formel Y Ba₂Cu₃O7- δ
(δO) ist.
15. Fabry-Perot-Resonator nach einem der vorangehenden
Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Hochtemperatur-Supraleiter eine Verbindung
entsprechend der chemischen Formel Tl₂Ba₂CaCu₂O₈
oder Tl₂Ba₂Ca₂Cu₃O₁₀ oder eine Mischung aus diesen
Verbindungen ist.
16. Fabry-Perot-Resonator nach einem der vorangehenden
Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Hochtemperatur-Supraleiter eine Verbindung
entsprechend der chemischen Formel Bi₂Sr₂Ca₂Cu₃O₁₀
oder Bi₂Sr₂CaCu₂O₈ oder eine Mischung aus diesen
Verbindungen ist.
17. Fabry-Perot-Resonator nach einem der vorangehenden
Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die supraleitenden Schichten aus konventionellen
supraleitenden Materialien, wie z. B. Blei (Pb),
Bleitellurid (PbTe), Niob (Nb) oder Niob-3-Zinn (Nb₃Sn)
bestehen.
18. Fabry-Perot-Resonator nach einem der vorangehenden
Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß eine oder beide Schichten Heteroschichten, bestehend
aus abwechselnd supraleitendem und nichtsupraleitendem
Material, sind.
19. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Dicke der Schicht (3; 4) in etwa 1000 Å beträgt.
20. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorangehenden Ansprüche
dadurch gekennzeichnet,
daß die Dicke der Schicht (3; 4) zwischen 100 Å und 5000 Å
beträgt.
21. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Dicke der beiden Schichten (3, 4) in etwa 4000 Å
beträgt und diese in der Mitte jeweils mit einem Loch
versehen sind, dessen Querschnittsfläche klein ist
gegenüber der Fläche der Resonatoren.
22. Fabry-Perot-Resonator nach wengistens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß einer der beiden Trägersubstrate oder beide
Trägersubstrate mit einem Loch versehen sind, dessen
Querschnittsfläche klein ist gegenüber der
Trägersubstratoberfläche.
23. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß die supraleitenden Schichten mit zusätzlichen
Schichten, z. B. Langmuir-Blodgett-Filmen, bedeckt sind.
24. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß der mit Hilfe der Schicht (4) gebildete Reflektor eine
konkave Krümmung besitzt.
25. Fabry-Perot-Resonator nach wenigstens einem der
vorangehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet,
daß beide mit Hilfe der Schichten (3, 4) gebildete
Reflektoren eine konkave Krümmung besitzen.
26. Fabry-Perot-Resonator nach Anspruch 25,
dadurch gekennzeichnet,
daß ein Reflektor aus einer Goldschicht und der andere aus
einer supraleitenden Schicht besteht.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904023154 DE4023154A1 (de) | 1990-07-20 | 1990-07-20 | Fabry-perot-resonator |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904023154 DE4023154A1 (de) | 1990-07-20 | 1990-07-20 | Fabry-perot-resonator |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4023154A1 true DE4023154A1 (de) | 1992-01-30 |
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ID=6410715
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE19904023154 Ceased DE4023154A1 (de) | 1990-07-20 | 1990-07-20 | Fabry-perot-resonator |
Country Status (1)
Country | Link |
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DE (1) | DE4023154A1 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1780521A1 (de) * | 2005-11-01 | 2007-05-02 | Olympus Corporation | Etalon und Herstellungsverfahren dafür. |
EP2075617A1 (de) * | 2006-10-18 | 2009-07-01 | Olympus Corporation | Variables spektralelement und endoskopsystem damit |
NO20151618A1 (no) * | 2015-11-29 | 2017-05-30 | Tunable Infrared Tech As | Optisk trykksensor |
-
1990
- 1990-07-20 DE DE19904023154 patent/DE4023154A1/de not_active Ceased
Non-Patent Citations (4)
Title |
---|
Fomin, N.V.: Possibility of using a Fabry-Perot resonator of study impedance characteristics of superconductors. Sov. Tech. Phys. Lett. 15(8), Aug. 1989, S. 622-3 * |
Holah, G.D., Smith, S.D.: Far infrared interference filters. Journal of Physics E, Vol. 10, Febr. 1977, S. 101-111 * |
Klein, N., Müller, G., Piel, H., Schurr, J.: Superconducting microwave resonators for physics experiments. IEEE Transactions on Magnetics, Vol. 25, No. 2, March 1989, S. 1362-5 * |
Reay, N.K., Ring, J., Scaddan, R.J.: A tunable Fabry-Perot filter for the visible. Journal of Physics E, Vol. 7, No. 8, Aug. 1974, S. 673-677 * |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1780521A1 (de) * | 2005-11-01 | 2007-05-02 | Olympus Corporation | Etalon und Herstellungsverfahren dafür. |
US7474412B2 (en) | 2005-11-01 | 2009-01-06 | Olympus Corporation | Etalon device and manufacturing method thereof |
EP2075617A1 (de) * | 2006-10-18 | 2009-07-01 | Olympus Corporation | Variables spektralelement und endoskopsystem damit |
EP2075617A4 (de) * | 2006-10-18 | 2014-03-19 | Olympus Corp | Variables spektralelement und endoskopsystem damit |
NO20151618A1 (no) * | 2015-11-29 | 2017-05-30 | Tunable Infrared Tech As | Optisk trykksensor |
NO343314B1 (no) * | 2015-11-29 | 2019-01-28 | Tunable As | Optisk trykksensor |
US10739220B2 (en) | 2015-11-29 | 2020-08-11 | Tunable InfraRed Technologies AS | Optical pressure sensor |
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