DE378834C - Metal microscope - Google Patents

Metal microscope

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DE378834C
DE378834C DEH89377D DEH0089377D DE378834C DE 378834 C DE378834 C DE 378834C DE H89377 D DEH89377 D DE H89377D DE H0089377 D DEH0089377 D DE H0089377D DE 378834 C DE378834 C DE 378834C
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Description

lnetalltnikroskop. Das Verfahren, polierte Oberflächen undurchsichtiger Körper, z. B. von Erzen, Schlacken, Gesteinen, Metallen usw., im reflektierten polarisierten Licht zu beobachten, ist bekannt; die Anwendung dieses Verfahrens ist jedoch noch keineswegs allgemein. Ihrer Einführung stellen sich nämlich apparative Schwierigkeiten entgegen. Die bisher eingeführten Apparate, z. B. die 1Ietalhnikroskope, benutzen zur Beobachtung das gewöhnliche unpolarisierte Licht. Aus diesem Grunde sind die Objekttische durchweg nicht mit der Sorgfalt zentriert, wie es für die Beobachtung in polarisiertem Licht erforderlich ist. 'Man kann daher bei den bisher benutzten 'Metallmikroskopen den Objekttisch mit Objekt nicht drehen, ohne, insbesondere bei hoher Vergrößerung, mit dem Objekt aus der optischen Achse herauszukommen. Bei der Beobachtung in polarisiertem Licht muß man aber die Farbumschläge bzw. -auslöschungen bei Drehungen der Kristalle gegen die Polarisationsebene messen und hierzu naturgemäß die Objekte auch bei der Drehung genau in der optischen Achse bzw. im Gesichtsfeld erhalten. Versucht man daher die Beobachtung in polarisiertem Licht mit dem bekannten Metallmikroskop, so stößt man auf Schwierigkeiten.metal microscope. The process of making polished surfaces more opaque Body, e.g. B. of ores, slag, rocks, metals, etc., in the reflected polarized It is well known to observe light; however, the application of this procedure is still open by no means general. Their introduction poses technical difficulties opposite. The devices introduced so far, e.g. B. use the metal microscope normal unpolarized light for observation. For this Basically, the object tables are consistently not centered with the care as it is for observation in polarized light is required. 'One can therefore with the metal microscopes previously used 'do not rotate the stage with the object without, especially at high magnification, to get out of the optical axis with the object. When observing in polarized light, however, the color changes or extinctions must be observed measure when the crystals rotate against the plane of polarization and naturally for this purpose the objects exactly in the optical axis or in the field of view when rotating obtain. If one tries, therefore, the observation in polarized light with the known one Metal microscope, this is how you run into difficulties.

Es wurde zunächst versucht, diese Schwierigkeiten zu überwinden, indem die Nikols gemeinsam drehbar angeordnet wurden. Eine befriedigende Lösung konnte hiermit nicht bewirkt «-erden, da die Polarisationsebene des Lichtes bei der Spiegelung im Vertikalilluminator gedreht wird. Hieraus ergab sich die Notwendigkeit, Analysator und Polarisator je besonders zu drehen und die zusätzliche Drehung der Polarisationsebene im Vertikalilluminator durch Leerversuche zu eichen.An attempt was first made to overcome these difficulties by the Nikols were arranged to be rotatable together. Could be a satisfactory solution this does not cause «-erden, since the plane of polarization of the light when it is reflected is rotated in the vertical illuminator. Hence the need for analyzer and polarizer each to rotate separately and the additional rotation of the plane of polarization to be calibrated in the vertical illuminator by means of empty tests.

Dieses Verfahren ist zwar wissenschaftlich durchführbar, aber nicht geeignet für schnelle Beobachtung und somit unbrauchbar für die praktische Metallmikroskopie.This procedure is scientifically feasible, but not suitable for quick observation and therefore useless for practical metal microscopy.

Die Erfindung beseitigt die mitgeteilten Schwierigkeiten durch Anwendung eines in der Metallmikroskopie neuen Prinzips, nämlich in der gleichzeitigen Anwendung ein und desselben Nikolschen Prismas sowohl als Polarisator als auch als Analysator. Zur Erzielung dieser Wirkung wird ein Nikolsches Prisma zwischen Vertikalilluminator und Objekt drehbar angeordnet. Das Licht gelangt vom Vertikalilluminator in den Nikol in seiner Eigenschaft als Polarisator, wird polarisiert und fällt dann. auf das Objekt. Es wird vom Objekt reflektiert und erfährt hierbei die dem Objekt eigentümliche Beeinflussung, sei es Drehung der Polarisationsebene, sei es Umwandlung in elliptisch polarisiertes Licht. Darauf durchläuft es wiederum denselben Nikol, aber diesmal in umgekehrter Richtung, wobei das Nikol nunmehr als Analysator dient. Mit dem Nikol fest @ erbunden kann eine Feinbeobachtungseinrichtung «-erden, «1e z. B. eine Savartplatte, welche, da sie die gleichen Funktionen wie beim Polariskop hat, auch in gleicher Weise mit dem Nikol verbunden ist. Das vom Nikol kommende Licht bringt dann zunächst keine Interferenzstreifen hervor, da die beiden beim Eintritt des Lichtes in die Platte entstehenden Komponenten gleiche Intensität haben. Erst nachdem der Polarisationszustand des Lichtes durch Reflexion eine Änderung erfahren hat, treten die Streifen auf und ermöglichen somit die Beobachtung der durch das Objekt bedingten Einflüsse.The invention overcomes the difficulties reported by application a new principle in metal microscopy, namely the simultaneous application one and the same Nikolian prism both as a polarizer and as an analyzer. To achieve this effect, a Nikolsches prism is placed between the vertical illuminator and object rotatably arranged. The light reaches the from the vertical illuminator Nikol in his capacity as a polarizer, becomes polarized and then falls. on the object. It is reflected by the object and experiences what is peculiar to the object Influence, be it rotation of the plane of polarization, be it conversion into elliptical polarized light. Then it goes through the same Nikol again, but this time in the opposite direction, with the Nikol now serving as an analyzer. With Nikol A fine observation device can “-erden”, “1e z. B. a Savart platter, which, since it has the same functions as the polariscope, also in the same way Way is associated with Nikol. The light coming from Nicholas then brings first no interference fringes emerge, since the two when the light enters the The components produced by the plate have the same intensity. Only after the polarization state of the light has undergone a change due to reflection, the streaks appear and thus make it possible to observe the influences caused by the object.

Die neue Einrichtung ist aus der Zeichnung ersichtlich.The new facility can be seen in the drawing.

Die apparative Ausführung der Einrichtung gestaltet sich überaus einfach. Als Vertikalilluminator wird z. B. ein planparalleles Glas angewandt. Dieser wird mit dem Nikol zu einem einheitlichen Mikroskopzubehörteil verbunden. Die Verwendung jedes Metallmikroskops für die Beobachtung in polarisiertem Licht ist dann dadurch ermöglicht, daß dieser Zubehörteil an Stelle des sonst gebrauchten Vertikalilluminators an das Mikroskop angeschraubt wird.The design of the device is extremely simple. As a vertical illuminator z. B. applied a plane-parallel glass. This one will connected with the Nikol to form a uniform microscope accessory. The usage Any metal microscope for observation in polarized light is then through allows this accessory in place of the vertical illuminator that is otherwise used is screwed to the microscope.

Claims (1)

PATENT -A"TSPRÜCHE: i. Einrichtung zum Untersuchen von reflektierenden Körpern in polarisiertem Licht, dadurch gekennzeichnet, daß das Licht nach der Reflexion am Objekt den Polarisator nochmals durchläuft. a. Einrichtung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß sie mit einer Feinmeßeinrichtung,wie z. B. eine Savartplatte, verbunden ist, die von dem Licht vor und nach der Reflexion am Objekt durchlaufen wird. 3. Einrichtung nach Anspruch i, dadurch gekennzeichnet, daß der Polarisator mit dem Vertikalilluminator zu einem einheitlichen festen oder zerlegbaren Zubehörteil vereinigt ist. d. Einrichtung nach Anspruch i bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß zwischen der Savartplatte mit dem Qbj aktiv eine zur quantitativen Bestimmung der Anisotropie geeignete Vorrichtung eingeschaltet ist. PATENT -A "TSPRÜCHE: i. Device for examining reflecting bodies in polarized light, characterized in that the light passes through the polarizer again after reflection on the object. A. Device according to claim i, characterized in that it is equipped with a precision measuring device such as a Savart plate, through which the light passes before and after reflection on the object 3. Device according to Claim i, characterized in that the polarizer is combined with the vertical illuminator to form a unitary, fixed or dismountable accessory d. Device according to Claims 1 to 3, characterized in that a device suitable for the quantitative determination of the anisotropy is switched on between the Savart plate with the Qbj active.
DEH89377D 1922-04-05 1922-04-05 Metal microscope Expired DE378834C (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3277782A (en) * 1961-12-08 1966-10-11 Baker Instr Ltd C Illuminating apparatus for a microscope system using polarized light
EP0102714A2 (en) * 1982-08-25 1984-03-14 Kabushiki Kaisha Toshiba Fixed slit type photoelectric microscope

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