DE3719148A1

DE3719148A1 - Device for testing and sorting electronic components, particularly ICs

Info

Publication number: DE3719148A1
Application number: DE19873719148
Authority: DE
Inventors: Hans-Heinrich Willberg; Ekkehard Ueberreiter; Ernst Schmied; Christian Mueller
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 1987-06-09
Filing date: 1987-06-09
Publication date: 1988-12-29

Abstract

A device for testing and sorting electronic components (3), particularly ICs, having an input magazine (4) and an output magazine (14) which in each case exhibit at least one magazine channel (16) for the components (3) to be supplied and removed, having a test probe (8) arranged between the input magazine (4) and the output magazine (14), by means of which probe the components (3) are contacted, and having a mandatory guide (7) for supplying the components (3) to the test probe (8) and forwarding them from the test probe (8), is to be developed in such a manner that, whilst ensuring a simple and small type of construction, relatively short cycle times and thus good power utilisation is possible. This is acheived by the fact that carrier parts (18, 98), which are arranged in a row, are provided for accommodating the components which can be moved past the test probe (8) in the longitudinal direction of the row. <IMAGE>

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Einrichtung nach dem Oberbegriff des Anspruches 1.The invention relates to a device according to the preamble of claim 1.

Es ist bekannt, bei einer Einrichtung dieser Art die Bauelemente unter Ausnutzung ihrer Schwerkraft in einem schräg verlaufenden Führungskanal durch Rutschen zum Prüfkopf zu transportieren und nach dem Prüfen auf gleiche Weise weiterzutransportieren.It is known in a device of this type that Components using their gravity in one sloping guide channel by sliding to the Transport the test head and after checking for the same Way to transport.

Dieser Transport durch Rutschen ist in zwei Anwendungsfällen problematisch.This slippery transport is in two use cases problematic.

Bei einer Einrichtung mit Klimakammer, bei der die Bauele mente bei von der Normaltemperatur abweichenden Temperaturen in einer Wärme- oder Kältekammer geprüft werden, ist die Gleitreibung zwischen den Bauelementen auf der schrägen Unterlage anders als bei Normaltemperatur. Wollte man weiterhin die Schwerkraft zur Fortbewegung der Bauelemente ausnutzen, müßte demnach ein anderer Neigungswinkel der Gleitbahn gewählt werden. Der Neigungswinkel ist jedoch kritisch. Ist die Neigung zu groß, dann führt dies zu einem Aufschlagen der Bauelemente auf das vorausge gangene Bauelement bzw. gegen vorhandene Stoppelemente mit der Folge, daß das plötzlich abgebremste Bauelement beschädigt werden kann. Eine zu geringe Neigung führt zu Transportverzögerungen oder auch zu einem Hängenbleiben des Bauelements, wodurch ein störungsfreier Betrieb beeinträchtigt bzw. ausgeschlossen wird.In a facility with a climate chamber, in which the components elements at temperatures deviating from the normal temperature be checked in a heating or cooling chamber the sliding friction between the components on the oblique Underlay different from normal temperature. You wanted to gravity continues to move the components would have to take advantage of a different angle of inclination the slideway can be selected. The angle of inclination is however critical. If the inclination is too great, then leads this to an impact of the components on the advance current component or against existing stop elements with the result that the suddenly braked component can be damaged. An incline that is too low leads to transport delays or to get caught of the component, which ensures trouble-free operation is impaired or excluded.

Der andere Anwendungsfall umfaßt die Prüfung und Sortierung von kleinen Bauelementen, wobei zu berücksichtigen ist, daß in der Regel das Gewicht eines Bauelements mit kleiner werdender Größe abnimmt. Die Entwicklung bringt es mit sich, daß die Bauelemente immer kleiner werden. Sogenannte SO-Elemente (small outline) haben derzeit Abmessungen von beispielsweise 3×4 mm. Diese Bauelemente sind so leicht, daß auch bei größerer Neigung eine sichere Fortbewe gung durch Rutschen nicht gewährleistet werden kann. Vielmehr besteht die Gefahr, daß das Bauelement hängenbleibt und sich dann plötzlich wieder löst, mit der Folge, daß es auf das vorausgehende Bauelement oder ein vorhandens Stoppelement aufprallt und beschädigt werden kann.The other use case involves checking and sorting of small components, taking into account that usually the weight of a component with less decreasing in size. Development brings it along themselves that the components are getting smaller and smaller. So-called SO elements (small outline) currently have dimensions of, for example, 3 × 4 mm. These components are like this easy, that even with greater inclination, safe movement cannot be guaranteed by slipping. Rather, there is a risk that the component gets stuck and then suddenly comes off again, with the result that it is on the previous component or an existing one Stop element bounces and can be damaged.

Die vorbeschriebene Problematik ergibt sich insbesondere dann, wenn beide vorbeschriebenen Anwendungsfälle zugleich vorliegen, d.h. wenn leichte und/oder kleine Bauelemente in einer Klimakammer, insbesondere Kältekammer, zu prüfen sind.The problem described above arises in particular then when both of the above-described use cases at the same time are present, i.e. if light and / or small components in a climatic chamber, especially a cold chamber are.

Bei einer Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektro nischen Bauelementen ohne Klimakammer ist es schon vor geschlagen worden, für die Zuführung und wieder Abführung der Bauelemente zum bzw. vom Prüfkopf einen Greifer vorzusehen, der die Bauelemente einzeln ergreift, zum Prüfkopf führt und nach dem Prüfen wieder weiterführt. Bei dieser Ausgestaltung sind verhältnismäßig lange Transportwege und somit auch verhältnismäßig lange Takt zeiten vorgegeben, wodurch die Leistungsfähigkeit der Einrichtung beeinträchtigt ist. Außerdem erfordert die Anordnung des Greifers und dessen Führung bzw. Antrieb einen erheblichen Bauaufwand und auch einen verhältnismäßig großen Raum, weshalb diese Ausgestaltung sich insbesondere nicht für eine Einrichtung mit einer Klimakammer eignet.In a device for checking and sorting electro components without a climate chamber are already there been beaten for feeding and discharging again the components to and from the test head a gripper to provide that grips the components individually to Probe heads and continues after testing. In this configuration are relatively long Transport routes and therefore also a relatively long cycle times, which increases the performance of the Facility is impaired. It also requires Arrangement of the gripper and its guidance or drive a considerable amount of construction work and also a proportionate one large space, which is why this configuration is particularly not suitable for a facility with a climatic chamber.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Einrichtung der eingangs gezeigten Art so auszugestalten, daß bei Gewährleistung einer einfachen und kleinen Bauweise verhältnismäßig kurze Taktzeiten und somit eine gute Leistungsausnutzung möglich ist.The invention has for its object a device the type shown at the beginning so that at Ensuring a simple and small design relatively short cycle times and therefore a good one Performance utilization is possible.

Bei der erfindungsgemäßen Ausgestaltung sind eine Mehrzahl Trägerteile vorhanden, mit denen die Bauteile zum Prüfkopf und nach dem Prüfen von diesem abgeführt werden. Eine solche Ausgestaltung ermöglicht eine Reihe von bedeutenden Vorteilen. Aufgrund der Mehrzahl vorhandener Trägerteile verringert sich der Taktweg zum und auch vom Prüfkopf auf einen Bruchteil des Weges, den die Bauteile während eines Taktes dann zurückzulegen haben, wenn nur ein Greifer vorgesehen ist. Die vorhandene Reihe Trägerteile stellt folglich einen Speicher dar, im Bereich dessen die Trägerteile mit den Bauteilen jeweils in einer Mehrzahl von Takten zum Prüfkopf zugeführt bzw. von diesem abgeführt werden. Die Zuführung und Abführung der Bauelemente zu bzw. von den Trägerteilen bzw. die Beladung bzw. Entladung der Trägerteile kann somit auch in einem verhält nismäßig großen Abstand vom Prüfkopf erfolgen, ohne daß die Leistungsfähigkeit der Einrichtung wesentlich beeinträchtigt wird.In the embodiment according to the invention there are a plurality Carrier parts available with which the components to the test head and be removed from it after testing. A such design enables a number of significant ones Advantages. Due to the majority of existing support parts the cycle path to and from the test head is reduced on a fraction of the way the components during of a bar then have to travel if only one Gripper is provided. The existing range of beam parts therefore represents a memory in the area of which the carrier parts with the components in each case in a plurality fed from cycles to the test head or removed from it will. The supply and discharge of the components to or from the carrier parts or the loading or Discharge of the carrier parts can thus behave in one distance from the test head without that the performance of the facility is essential is affected.

Ein weiterer Vorteil der erfindungsgemäßen Ausgestaltung besteht darin, daß aufgrund der Anordnung der Trägerteile in Reihe ein gemeinsamer Antrieb für alle Trägerteile vorgesehen werden kann. Auf diese Weise wird die gesamte Reihe gemeinsam angetrieben, wobei aufgrund der Mehrzahl vorhandener Trägerteile ein Beladen und/oder Entladen während des Prüfvorganges möglich ist. Hierdurch ist eine rationelle Fertigung gegeben. Another advantage of the configuration according to the invention is that due to the arrangement of the support parts in series a common drive for all carrier parts can be provided. This way the whole Row driven together, due to the majority existing carrier parts loading and / or unloading is possible during the test process. This is rational production.

Aufgrund der Anordnung der Trägerteile in einer Reihe ist es auch möglich, den Prüfkopf ohne wesentliche Leistungseinbußen in einem solchen großen Abstand von der Beladungs- und/oder Entladungsstation anzuordnen, daß eine Klimakammer lediglich im Bereich des Prüfkopfs angeordnet zu werden braucht. Andererseits ist es aufgrund der kleinen Bauweise auch möglich, die Beladungs- und/oder Entladungsstation in die Klimakammer einzubeziehen.Due to the arrangement of the support parts in a row it is also possible to use the test head without essential Performance loss at such a large distance from to arrange the loading and / or unloading station, that a climatic chamber only in the area of the test head needs to be arranged. On the other hand, it's due the small design also possible, the loading and / or Include discharge station in the climate chamber.

Die Erfindung bezieht sich auch auf eine solche Einrichtung, bei der eine Klimakammer, insbesondere eine Kältekammer vorgebeben ist. Bei einer solchen Einrichtung steht das Problem einer gesicherten Zuführung bzw. Abführung zum bzw. vom Prüfkopf, wie eingangs schon erläutert. Dieses Problem läßt sich durch eine Zwangsführung für die Bauelemente lösen, mit der sie zum Prüfkopf hin und von diesem weg transportiert werden. Bei einer bevorzug ten Ausgestaltung wird die Zwangsführung durch in Reihe angeordnete Trägerteile zur Aufnahme der Bauelemente gebildet, die in Reihenlängsrichtung am Prüfkopf vorbei bewegbar und somit zwangsgeführt sind.The invention also relates to such a device, in which a climate chamber, in particular a cold chamber is given. With such a facility stands the problem of a secure supply or discharge to or from the test head, as already explained at the beginning. This problem can be solved by a forced operation for loosen the components with which they go to the test head and be transported away from it. With one preferred th configuration is the forced control by in series arranged support parts for receiving the components formed in the longitudinal direction past the test head are movable and thus positively guided.

Bei Einrichtungen zum Prüfen und Sortieren von elektroni schen Bauelementen, insbesondere ICs steht ein weiteres Problem darin, daß in der Regel die Einrichtung dazu ausgelegt sein soll, Bauelemente unterschiedlicher Form und Größe zu prüfen und zu sortieren.In facilities for checking and sorting electronic There is another component, in particular ICs Problem in that usually the facility to do so should be designed, components of different shapes check and sort and size.

In einem solchen Fall bedarf es bei der Umstellung der Einrichtung auf Bauteile bestimmter Art nicht nur eines Austausches der die Bauelemente aufnehmenden Trägerteile, sondern auch des Prüfkopfes, mit dem die Bauelemente zu ihrer Prüfung in Kontakt gebracht werden. Eine wesent liche Verbesserung hinsichtlich dieses Problems wird durch die Ausgestaltung gemäß Anspruch 20 erreicht. In such a case, the changeover is required Setup on components of a certain type not just one Exchange of the carrier parts receiving the components, but also of the test head with which the components be brought into contact for their examination. An essential improvement with regard to this problem achieved by the configuration according to claim 20.

Bei dieser Ausgestaltung sind die Trägerteile in die Kontaktverbindung zwischen den Bauelementen und dem Prüfkopf einbezogen, und zwar in der Weise, daß sie prüfkopfspezifische Kontakte, deren Anordnung immer gleich ist bzw. an den jeweiligen Prüfkopf angepaßt ist, und bauelementspezifische Kontakte aufweisen, die an die am Bauelement vorhandenen Kontaktelemente angepaßt sind. Bei einer solchen Anordnung bedarf es beim Umrüsten der Einrichtung auf andere Bauteile lediglich eines Austausches der Trägerteile und nicht des Prüfkopfes.In this embodiment, the carrier parts are in the Contact connection between the components and the Probe included, in such a way that it Probe-specific contacts, their arrangement always is the same or adapted to the respective test head and have device specific contacts that adapted to the contact elements present on the component are. Such an arrangement requires conversion the installation on other components only one Exchange of the carrier parts and not of the test head.

Nachfolgend wird die Erfindung anhand von in vereinfachten Zeichnungen dargestellten bevorzugten Ausführungsbeispielen erläutert. Es zeigt:In the following, the invention is simplified on the basis of FIG Preferred embodiments shown in the drawings explained. It shows:

Fig. 1 eine erfindungsgemäß ausgestaltete Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von ICs in perspektifi scher Darstellung; Figure 1 shows a device according to the invention configured for inspecting and sorting of ICs in perspektifi shear representation.

Fig. 2 eine erste Zwangsführung der Einrichtung in vertikaler Schnittdarstellung; Figure 2 shows a first positive guidance of the device in a vertical sectional view.

Fig. 3 eine zweite Zwangsführung der Einrichtung in der Draufsicht;3 shows a second forced guidance of the device in plan view.

Fig. 4 einen Teil der zweiten Zwangsführung in der Vorderansicht; FIG. 4 shows a part of the second forced-flow in the front view;

Fig. 5 eine Antriebsvorrichtung der Einrichtung in der Draufsicht; Fig. 5 is a drive device of the device in plan view;

Fig. 6 eine Wendevorrichtung der Einrichtung in der Seitenansicht; Fig. 6 shows a turning device of the device in side view;

Fig. 7 eine Kontaktierungsvorrichtung der Einrichtung in vertikaler Schnittdarstellung; Figure 7 is a contacting device of the device in vertical sectional view.

Fig. 8 ein Tragteil der Einrichtung mit Halterung in der Vorderansicht; Figure 8 is a supporting part of the device holder in the front view.

Fig. 9 das Tragteil mit Halterung in der Draufsicht; Figure 9 shows the support member with bracket in plan view.

Fig. 10 ein abgewandeltes Tragteil in der Draufsicht; FIG. 10 is a modified support member in plan view;

Fig. 11 bis 14 zwei verschiedene ICs in verschiedenen Ansichten. Fig. 11 to 14 two different ICs in different views.

Die allgemein mit 1 bezeichnete Einrichtung zum Prüfen und Sortieren weist bei Aufzählung entlang der Durchgangs richtung 2 für die ICs 3 als Hauptkomponenten ein Eingangs magazin 4, eine Führungsstrecke 5, die in Fig. 2 darge stellte Zwangsführung 6, die zweite Zwangsführung 7, einen Prüfkopf 8, eine zweite Führungsstrecke 9, eine erste Wendevorrichtung 11, eine zweite Wendevorrichtung 12, eine Sortiervorrichtung 13 und ein Ausgangsmagazin 14 auf.The generally designated 1 for testing and sorting has an enumeration along the passage direction 2 for the ICs 3 as main components an input magazine 4 , a guide path 5 , which is shown in Fig. 2 Darge 6 , the second positive 7 , a test head 8 , a second guide section 9 , a first turning device 11 , a second turning device 12 , a sorting device 13 and an output magazine 14 .

Das vereinfacht als Eingangs-Magazinstange 15 dargestellte Eingangsmagazin 4 kann ein oder mehrere Magazinstangen 15 aufweisen, die durch bekannte rohrförmige Stangen mit Magazinkanälen 16 gebildet sind. Wenn das Eingangs magazin 4 mehrere parallel nebeneinanderliegende Magazin kanäle aufweist, ist entweder eine Verstellbarkeit des Eingangsmagazins 4 erforderlich, um die Magazinkanäle 16 mit der ersten Führungsstrecke 5 in Flucht zu bringen, oder es ist ein nicht dargestelltes sog. Shuttle vorhanden, mit dem die ICs vom jeweiligen Magazinkanal 16 zur ersten Führungsstrecke 5 transportiert werden können, die einen im Querschnitt im wesentlichen dem Magazinkanal 16 ent sprechenden Führungskanal 17 aufweist, der sich in Durchfüh rungsrichtung in Abschnitten durch die gesamte Einrichtung 1 erstreckt.This simplifies as an input magazine bar input magazine 4 shown 15, one or more magazine rods 15 have formed by known tubular rods with magazine channels sixteenth If the input magazine 4 has a plurality of magazine channels lying next to one another in parallel, either an adjustability of the input magazine 4 is required in order to bring the magazine channels 16 into alignment with the first guide path 5 , or there is a so-called shuttle (not shown) with which the ICs can be transported from the respective magazine channel 16 to the first guide section 5 , which has a cross section corresponding to the magazine channel 16 accordingly speaking guide channel 17 which extends in the direction of implementation in sections through the entire device 1 .

Das Ausgangsmagazin 14 weist wenigstens zwei Magazinkanäle 16 auf, was durch die Sortierfunktion der Einrichtung 1 zumindest in Gut- und Ausschußteile einer Klassifikation vorgegeben ist. Die Magazinkanäle 16 werden auch hier durch Magazinstangen 15 gebildet, die durch nicht darge stellte form- oder kraftschlüssige Steckverbindungen gehalten sind. Sowohl die Magazinstangen 15 des Eingangs magazins 4 als auch die des Ausgangsmagazins 14 sind in Durchgangsrichtung 2 geneigt angeordnet, so daß der Austritt (Entleerung) der ICs 3 aus den Eingangs-Magazin stangen 15 sowie der Eintritt (Befüllung) der ICs 3 in die Ausgangs-Magazinstangen 15 aufgrund der Schwerkraft der ICs 3 durch Rutschen erfolgt. Im Bereich zwischen der ersten Zwangsführung 6 und der ersten Wendevorrichtung 11 ist die Durchführungsrichtung 2 - abgesehen von der zweiten Zwangsführung 7 - senkrecht gerichtet. Dies wird durch eine Krümmung der ersten Führungsstrecke 5 erreicht, die durch ein den Führungskanal 17 aufweisendes Rohr bzw. Profil gebildet ist. Der Querschnitt des Führungs kanals 14 ist an den Querschnitt des vorhandenen ICs unter Wahrung eines Spiels angepaßt, so daß ein Verdrehen des ICs verhindert, daß Rutschen jedoch gewährleistet ist.The output magazine 14 has at least two magazine channels 16 , which is predetermined by the sorting function of the device 1 at least in good and reject parts of a classification. The magazine channels 16 are also formed here by magazine rods 15 , which are held by positive or non-positive plug connections provided Darge. Both the magazine bars 15 of the input magazine 4 and that of the output magazine 14 are arranged inclined in the passage direction 2 , so that the exit (emptying) of the ICs 3 from the input magazine bars 15 and the entry (filling) of the ICs 3 into the exit -Magazine rods 15 due to the gravity of the ICs 3 by slipping. In the area between the first positive guide 6 and the first turning device 11 , the feed-through direction 2 - apart from the second positive guide 7 - is directed vertically. This is achieved by a curvature of the first guide section 5 , which is formed by a tube or profile having the guide channel 17 . The cross section of the guide channel 14 is adapted to the cross section of the existing IC while maintaining a game, so that twisting of the IC prevents that slipping is ensured.

Die zweite Zwangsführung 7 für die ICs 3 wird durch eine Mehrzahl Tragteile 18 gebildet, die schrittweise auf einer Umlaufstrecke in der Durchführungsrichtung 2 bewegbar sind und allgemein mit 19 bezeichnete Aufnahmen zur Aufnahme der ICs 3 aufweisen. Die Tragteile 18 bzw. sog. Carrier werden in ihrer Durchgangsrichtung 2 durch einen einzigen, aus Vereinfachungsgründen nicht im einzelnen dargestellten Antrieb angetrieben, und sie sind hierzu durch ein band- bzw. kettenförmiges Glied miteinander verbunden. Die Tragteile 18 können auch Ketten- oder Bandglieder sein, so daß sie durch ihre Verbindung aneinan der eine Kette oder ein Band bilden. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel sind die Tragteile 18 an einem endlosen Stahl-Band 21 vorzugsweise aus Federstahl in Form eines flachen Bandes befestigt, das horizontal um zwei Umlaufräder 22, 23 läuft, von denen eines ein Antriebsrad ist. Die Umfangsflächen der Umlaufräder 22, 23 bilden im wesentlichen zylindrische Laufflächen für das Band 21. Der Abstand der sich vertikal erstreckenden Achsen 24, 25 der Umlaufräder 22, 23 ist durch wahlweise Parallelverlagerung der Achse 24 verstellbar und in der jeweiligen Verstellposition feststellbar. Eine solche Verstellvorrichtung 26 ist in der Fig. 3 angedeutet. Die Achsen 24, 25 sind an die Umlaufräder 22, 23 zwischen sich aufnehmenden Platten 27 gelagert, wobei die nicht angetriebene Achse 25 in einem schieberförmigen Lagerteil 28 gelagert ist, das in Führungsschlitzen 29 in den Platten 27 zwecks Veränderung des Achsabstandes verstellbar und mittels Stellschrauben 31 feststellbar ist.The second positive guide 7 for the ICs 3 is formed by a plurality of support parts 18 , which can be moved step by step along an orbital path in the through direction 2 and generally have receptacles designated 19 for receiving the ICs 3 . The carrying parts 18 or so-called carriers are driven in their passage direction 2 by a single drive, which is not shown in detail for reasons of simplification, and for this purpose they are connected to one another by a band or chain-shaped link. The support members 18 may also be chain or band links, so that they form a chain or a band by their connection to one another. In the present exemplary embodiment, the support parts 18 are fastened to an endless steel belt 21, preferably made of spring steel in the form of a flat belt, which runs horizontally around two planet wheels 22 , 23 , one of which is a drive wheel. The peripheral surfaces of the planet gears 22 , 23 essentially form cylindrical running surfaces for the belt 21 . The distance between the vertically extending axes 24 , 25 of the planet gears 22 , 23 can be adjusted by optionally parallel displacement of the axis 24 and can be determined in the respective adjustment position. Such an adjusting device 26 is indicated in FIG. 3. The axles 24 , 25 are mounted on the planet gears 22 , 23 between receiving plates 27 , the non-driven axle 25 being mounted in a slide-shaped bearing part 28 which is adjustable in guide slots 29 in the plates 27 for changing the center distance and by means of set screws 31 is noticeable.

Der Abstand a der Tragteile 18 voneinander ist jeweils gleich. Der Antrieb des Bandes 21 erfolgt schrittweise um eine diesen Abstand a entsprechende Strecke. Hierzu ist auf der angetriebenen Achse 24 ein in Fig. 5 darge stelltes Antriebsrad 32 befestigt, das an seinem Umfang in einer dem Abstand a entsprechenden Teilung axiale Schlitze 33 aufweist, in die mit geringem Spiel zwei auf einer Antriebsscheibe 34 einander diametral gegenüber liegend angeordnete Antriebszapfen 35 einfassen, wobei der Abstand der Antriebszapfen 35 voneinander der Teilung der Schlitze 33 entspricht. Die Drehachse 36 der Antriebs zapfen 35 befindet sich innerhalb des vom Antriebsrad 32 definierten Umkreises, so daß einer der Antriebszapfen 35 sich immer in einem Antriebsschlitz 34 befindet, wobei die Länge der Schlitze 33 so bemessen ist, daß die Antriebszapfen 35 bei ihrer Kreisbewegung in die Schlitze 33 eintauchen können. Eine solche Antriebsvorrich tung ist an sich bekannt.The distance a between the supporting parts 18 is the same in each case. The belt 21 is driven step by step by a distance corresponding to this distance a . For this purpose, on the driven axle 24, a drive wheel 32 shown in FIG. 5 is fastened, which has axial slots 33 on its circumference at a pitch corresponding to the distance a , into which, with little play, two drive pins arranged diametrically opposite one another on a drive disk 34 35 surround, the distance between the drive pins 35 corresponds to the division of the slots 33 . The axis of rotation 36 of the drive pin 35 is located within the radius defined by the drive wheel 32 , so that one of the drive pin 35 is always in a drive slot 34 , the length of the slots 33 being such that the drive pin 35 during its circular movement into the Can immerse slots 33 . Such Antriebsvorrich device is known per se.

Der Prüfkopf 8 ist auf der Außenseite des mit 37 bezeich neten Trumes des Bandes 21 angeordnet und zwar in einem solchen Abstand vom Band 21, daß die auf der Außenseite des Bandes 21 angeordenten Tragteile 18 in einem geringen Abstand d von den Kontakten 38 des Prüfkopfs 8 an letzterem vorbeibewegbar sind.The test head 8 is arranged on the outside of the designated 37 dreams of the belt 21 and at such a distance from the belt 21 that the arranged on the outside of the belt 21 support members 18 at a short distance d from the contacts 38 of the test head 8th can be moved past the latter.

Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel werden die Aufnahmen 19 in den Tragteilen 18 durch vertikal durchgehende Aufnahmeschächte 39 gebildet, deren Querschnitt an die Querschnittsform des ICs 3 angepaßt ist, und die einen Abschnitt des sich durch die gesamte Einrichtung 1 er streckenden Führungskanals 17 bilden. Damit die in den Aufnahmeschächten 39 aufgenommenen ICs 3 nicht nach unten durchrutschen ist unterhalb des Bandes 21 eine Begrenzungswand 41 angeordnet, auf der die ICs 3 während ihres Umlaufs gleiten und somit in den Aufnahmeschächten 39 gehalten werden. Der sich unmittelbar in Durchgangsrich tung 2 vor dem Prüfkopf 8 befindliche Abschnitt 42 der Begrenzungswand 41 (siehe Fig. 4) weist zum Prüfkopf 8 hin eine Steigung auf, die vorzugsweise höheneinstellbar und in der jeweilig eingestellten Position feststellbar ist. Hierdurch ist es möglich, die ICs auf eine genaue, den Kontakten 38 des Prüfkopfs 8 entsprechende Höhe zu bringen. Der Prüfkopf 8 ist vorzugsweise stationär an den Platten 27 bzw. an einem entsprechenden Gestell gehalten.In the present embodiment, the receptacles 19 are formed in the supporting parts 18 by vertically continuous receiving shafts 39 , the cross section of which is adapted to the cross-sectional shape of the IC 3 , and which form a section of the guide channel 17 extending through the entire device 1 . So that the ICs 3 received in the receiving shafts 39 do not slip downward, a boundary wall 41 is arranged below the belt 21 , on which the ICs 3 slide during their rotation and are thus held in the receiving shafts 39 . The section 42 of the boundary wall 41 (see FIG. 4) located directly in the direction of passage 2 in front of the test head 8 has an incline toward the test head 8 , which is preferably height-adjustable and lockable in the respectively set position. This makes it possible to bring the ICs to an exact height corresponding to the contacts 38 of the test head 8 . The test head 8 is preferably held stationary on the plates 27 or on a corresponding frame.

Die Tragteile 18 sind nicht nur am Prüfkopf 8, sondern auch an einer Beladungsstelle und an einer Entladungsstelle vorbeibewegbar, an denen sie mit ICs beladen und auch wieder entladen werden können. Beim vorliegenden Ausfüh rungsbeispiel befinden sich die Belade- und Entladestelle an ein und derselben mit 43 bezeichneten Stelle, die sich in Längsrichtung der von den Tragteilen 18 gebildeten Reihe 44 in einem Abstand c vom Prüfkopf 8 zwischen den einander zugewandten Enden der ersten und zweiten Führungsstrecke 5, 9 befindet.The support parts 18 can be moved past not only the test head 8 , but also a loading point and a discharge point, at which they can be loaded with ICs and also unloaded again. In the present exemplary embodiment, the loading and unloading points are located at one and the same, designated by 43 , which are located in the longitudinal direction of the row 44 formed by the supporting parts 18 at a distance c from the test head 8 between the mutually facing ends of the first and second guide sections 5 , 9 is located.

Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel ist der Einrichtung 1 eine Kältekammer 45 zugeordnet, in der sich die zweite Zwangsführung 7, d.h. die Umlaufräder 22, 33 sowie das Band 21 mit den Tragteilen 18 befinden. Wie eingangs schon beschrieben, ergeben sich aufgrund des Vorhandenseins der Kältekammer 45 dann Probleme, wenn die ICs 3 aufgrund ihrer Schwerkraft auf einer schrägen Gleitfläche zu bzw. abgeführt werden. Zur Vermeidung dieser Probleme sind die beiden Zwangsführungen 6, 7 vorgesehen, die eine gezielte, auf die Arbeitstakte abgestimmte Zuführung bzw. auch Abführung der ICs 3 gewährleisten. Da beim vorliegenden Ausführungsbeispiel eine gemeinsame Be- und Entladestelle 43 vorgesehen ist, kann die erste Zwangsführung 1 so angeordnet werden, daß mit ihr nicht nur die Zuführung der ICs 3 zur Beladestelle, sondern auch die Abführung der ICs 3 von der Entladestelle besorgt werden kann. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel erstreckt sich die erste Zwangsführung 6 von einer Stelle oberhalb der Kältekammer 45 durch letztere hindurch bis an eine Stelle unterhalb der Kältekammer 45, d.h. zwischen Bereichen oberhalb und unterhalb der Kältekammer 45, in denen in etwa Normaltemperatur herrscht. Es ist somit in diesen Normaltemperaturbereichen möglich, sowohl für die Zuführung als auch für die Abführung der ICs 3 zu bzw. von der ersten Zwangsführung 6 die Schwerkraft auszunutzen und Rutschen oder schräge Führungskanäle vorzusehen. Innerhalb der Kältekammer 45 ist zur Vermeidung der vorgenannten Probleme ein zwangsweiser Vorschub der ICs 3 erforderlich. Der Vorschub wird im Bereich der ersten Zwangsführung 6 durch Schubglieder 46 erzeugt, die in Durchführungsrich tung 2 verschiebbar sind. Beim vorliegenden Ausführungsbei spiel befinden sich die Schubglieder 46 an einem rechenför migen Vorschubteil 47, von dem sie zinkenförmig vorspringen (Fig. 2). Die Schubglieder 46 greifen durch einen vertikalen Schlitz 40, der sich in der Wand des die erste Führungs strecke 5 bildenden Führungsschachtes 48, in den Tragteilen 18 und im die zweiten Führungsstrecke 9 bildenden Führungs schacht 49 erstreckt. Das rechen- bzw. kammförmige Vorschub teil 47 ist durch einen allgemein mit 51 bezeichneten Antrieb auf einer angedeuteten rechteck- bzw. trapezförmigen Umlaufbahn 52 im Uhrzeigersinn verschiebbar, wobei die Schubglieder 46 in ihrer zwischen die ICs 3 fassenden Position in der Durchgangsrichtung 2 bewegbar sind und dabei die ICs 3 schrittweise der Be- und Entladestelle 43 zuführen, sowie von dieser abführen. Dabei sind die Takte des durch eine Exzenterkurbel 53 angetriebenen- Vorschubteils 47 auf die Takte der Tragteile 18 abgestimmt, und zwar ist die Haltezeit des Vorschubteils 47 und der Tragteile 18 im Bereich der Be- und Entladestelle 43 im wesentlichen gemeinsam. Um Störungen im Bereich der Zuführung der ICs 3 zum Vorschubteil 47 zu vermeiden, ist dem Führungsschacht 48 oberhalb des Vorschubteils 47 eine Vereinzelungsvorrichtung zugeordnet, oder die Anordnung ist so getroffen, daß die ICs 3 einzeln vom Vorschubteil 47 aufgenommen werden.In the present exemplary embodiment, the device 1 is assigned a cold chamber 45 in which the second positive guide 7 , ie the planet gears 22 , 33 and the belt 21 with the supporting parts 18, are located. As already described at the beginning, problems arise when the cold chamber 45 is present when the ICs 3 are moved in or out on an inclined sliding surface due to their gravity. In order to avoid these problems, the two positive guides 6 , 7 are provided, which ensure that the ICs 3 are fed or removed in a targeted manner that is matched to the work cycles. Since a common loading and unloading point 43 is provided in the present exemplary embodiment, the first positive guide 1 can be arranged such that it can be used not only to supply the ICs 3 to the loading point but also to remove the ICs 3 from the unloading point. In the present exemplary embodiment, the first positive guide 6 extends from a point above the cold chamber 45 through the latter to a point below the cold chamber 45 , ie between regions above and below the cold chamber 45 in which the temperature is approximately normal. It is therefore possible in these normal temperature ranges to use gravity for the feeding and also the removal of the ICs 3 to and from the first positive guide 6 and to provide slides or inclined guide channels. In order to avoid the aforementioned problems, a forced feed of the ICs 3 is required within the cold chamber 45 . The feed is generated in the region of the first positive guide 6 by thrust members 46, the device 2 can be moved in the execution direction. In the present game Ausführungsbei are the thrust members 46 on a rechenför shaped feed part 47 from which they protrude prong-shaped ( Fig. 2). The thrust members 46 engage through a vertical slot 40 which extends in the wall of the first guide section 5 forming guide shaft 48 , in the support members 18 and in the second guide path 9 forming guide shaft 49 . The rake-shaped or comb-shaped feed part 47 is displaceable in a clockwise direction by a drive generally designated 51 on an indicated rectangular or trapezoidal orbit 52 , the thrust members 46 being movable in the passage direction 2 in their position between the ICs 3 and feed the ICs 3 step-by-step to the loading and unloading point 43 and remove them from the latter. The clocks of the feed part 47 driven by an eccentric crank 53 are matched to the clocks of the support parts 18 , namely the holding time of the feed part 47 and the support parts 18 in the area of the loading and unloading point 43 is essentially common. To disturbances in the supply of the ICs 3 to avoid feed member 47, the guide shaft 48 is assigned a separation device above the feeding part 47, or the arrangement is such that the ICs 3 individually are absorbed by the feed member 47th

In der aus dem Führungsschacht 48 herausgezogenen Position der Schubglieder 46 ist dafür zu sorgen, daß die ICs 3 innerhalb der Führungsschächte 48, 49 in ihrer jeweiligen Höhenlage verbleiben. Dies wird beim vorliegenden Ausfüh rungsbeispiel durch Bremsglieder bewirkt, die entweder die ICs 3 gegen die Wandung der Führungsschächte 48, 49 drücken oder die ICs 3 unterseitig begrenzen. In beiden Fällen eignen sich vorzugsweise Federelemente. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel sind auf der dem Vorschub teil 47 gegenüberliegenden Seite der Führungsschächte 48, 49 Federn 54, vorzugsweise Blattfedern, angeordnet, die in die Führungsschächte 48, 49 hineinragen und somit die freie Bewegung der ICs 3 begrenzen. Die Federn 54 sind in im einzelnen nicht bezeichneten Freischnitten nach unten ausbiegbar und können somit beim zwangsweisen Vorschub der ICs 3 in eine letztere freigebende Position überdrückt werden. Es ist im Rahmen der Erfindung auch möglich, daß die Federn 54 die Bremsung dadurch herbei führen, daß sie gegen die ihnen zugewandte Seite der ICs 3 drücken. Die Anzahl bzw. der senkrechte Abstand zwischen den wirksamen Enden der Federn 54 entspricht dem Abstand d zwischen den Schubgliedern 46, wobei die Anordnung so getroffen ist, daß die Schubglieder 46 jeweils oberhalb des vorzuschiebenden ICs 3 in die Führungs schächte 48, 49 eintauchen und bei der anschließenden Anwärtsbewegung die ICs 3 vorschieben, wobei letztere nach Freigabe durch Überdrücken der sie begrenzenden Feder 54 gegen die nächst darunter befindliche Feder 54 fallen. Der Hub des Vorschubteils 47 entspricht in etwa dem Abstand d der Schubglieder 46 voneinander und ist zumindest um die Dicke e eines Schubgliedes 6 größer bemessen, als die Länge 1 der ICs 3. Es ist von Vorteil, den Hub bzw. die Abstände d größer als das längste der zu verarbeitenden ICs zu bemessen, um die gleiche erste Zwangsführung 6 auch für unterschiedliche lange ICs 3 einsetzen zu können. Im Bereich der Be- und Entladestelle 43 sowie auch im Bereich der Übergabestelle 55 zwischen dem Führungsschacht 49 und der ersten Wendevorrichtung 11 ist jeweils keine Feder 54 vorhanden. Hier liegen die ICs 3 jeweils auf dem zugehörigen Schubglied 46 auf.In the position of the thrust members 46 pulled out of the guide shaft 48 , care must be taken to ensure that the ICs 3 remain in their respective height within the guide shafts 48 , 49 . In the present exemplary embodiment, this is brought about by brake members which either press the ICs 3 against the wall of the guide shafts 48 , 49 or limit the ICs 3 on the underside. In both cases, spring elements are preferably suitable. In the present exemplary embodiment, springs 54 , preferably leaf springs, are arranged on the side of the guide shafts 48 , 49 opposite the feed part 47 , which protrude into the guide shafts 48 , 49 and thus limit the free movement of the ICs 3 . The springs 54 can be bent downwards in free cuts, which are not described in detail, and can thus be pressed into a releasing position when the ICs 3 are forcibly advanced. It is also possible within the scope of the invention that the springs 54 bring about braking by pressing against the side of the ICs 3 facing them. The number or the vertical distance between the effective ends of the springs 54 corresponds to the distance d between the thrust members 46 , the arrangement being such that the thrust members 46 in each case above the IC 3 to be pushed into the guide shafts 48 , 49 and at the subsequent upward movement advance the ICs 3 , the latter falling after release by overpressing the spring 54 delimiting them against the spring 54 located immediately below. The stroke of the feed part 47 corresponds approximately to the distance d of the thrust members 46 from one another and is dimensioned at least by the thickness e of a thrust member 6 larger than the length 1 of the ICs 3 . It is advantageous to dimension the stroke or the distances d larger than the longest of the ICs to be processed, in order to be able to use the same first positive guide 6 also for different long ICs 3 . In the area of the loading and unloading point 43 and also in the area of the transfer point 55 between the guide shaft 49 and the first turning device 11 , there is no spring 54 in each case. Here the ICs 3 each rest on the associated thrust member 46 .

Die erste Wendevorrichtung 11 wird beim vorliegenden Ausführungsbeispiel durch ein Rad 56 gebildet, das parallel zur Umlaufbahn der Tragteile 18, hier horizontal, drehbar unterhalb des Führungsschachtes 49 angeordnet ist und vorzugsweise auf der das Umlaufrad 23 antreibenden Antriebs welle 57 befestigt sein kann. Das Rad 56 trägt an seinem Umfang eine Mehrzahl Tragteile 58 für die ICs 3, die vorzugsweise von gleicher Ausgestaltung wie die Tragteile 18 seien, d.h. auch gleiche Aufnahmeschächte 39 aufweisen können. Die Teilung der Tragteile 58 am Umfang des Rades 56 ist gleich dem Abstand a der Tragteile 18 bzw. deren Teilung. Um das Durchrutschen der ICs durch die Tragteile 58 zu verhindern, ist unterhalb letzterer eine mit der Begrenzungswand 41 vergleichbare Begrenzungswand 59 vorgesehen, die im Bereich der Übergabestelle 61 zwischen der ersten und der zweiten Wendevorrichtung 11,12 unter brochen ist, so daß an der Übergabestelle 61 das jeweilige IC 3 durch Schwerkraft in die darunter befindliche zweite Wendevorrichtung 12 gelangt.The first turning device 11 is formed in the present embodiment by a wheel 56 which is arranged parallel to the orbit of the support members 18 , here horizontally, rotatably below the guide shaft 49 and preferably on the drive shaft 23 driving shaft 57 can be attached. The wheel 56 carries on its circumference a plurality of support parts 58 for the ICs 3 , which are preferably of the same configuration as the support parts 18 , ie can also have the same receiving shafts 39 . The division of the support parts 58 on the circumference of the wheel 56 is equal to the distance a between the support parts 18 or their division. In order to prevent the ICs from slipping through the support parts 58 , a boundary wall 59 comparable to the boundary wall 41 is provided below the latter, which is broken in the area of the transfer point 61 between the first and the second turning device 11 , 12, so that at the transfer point 61 the respective IC 3 reaches the second turning device 12 located below it by gravity.

Die zweite, in Fig. 1 und 6 dargestellte Wendevorrichtung 12 wird durch zwei einander diametral gegenüberliegende Arme 62 gebildet, die einen stumpfen Winkel w ₁ zwischen sich einschließen, der bezüglich dem Rad 56 radial nach außen offen ist, und die symmetrisch von einer antreibbaren Welle 63 ausgehen, die um eine Achse 64 drehbar gelagert ist, die in einer die Drehachse der Antriebswelle 57 und die Drehachse der Welle 63 schneidenden Ebene einen spitzen Winkel w ₂ mit der Horizontalen einschließt. In den Armen 62 sind endseitig offene Aufnahmeschächte 65 angeordnet, deren Querschnitt dem Querschnitt des durchzuführenden ICs 3 angepaßt ist, und die ebenfalls einen Abschnitt des sich durch die gesamte Einrichtung erstreckenden Führungskanal 17 bilden. Die Anordnung ist so getroffen, daß in der oberen Position des jeweiligen Armes 62 dieser senkrecht steht und sich unterhalb der Übergabestelle 61 befindet, so daß das sich im darüber befindlichen Tragteil 58 befindliche IC 3 aufgrund Schwer kraft in den sich darunter befindlichen Aufnahmeschacht 65 fallen kann. Die zweite Wendevorrichtung 12 wird ebenfalls taktweise gedreht, d.h. wenn das Rad 56 einen der Teilung entsprechenden Drehabschnitt ausführt, werden die Arme 62 um 180° gedreht, bzw. geschwenkt. Die Achse 64 liegt in der Winkelhalbierenden des Winkels w ₁. Der Winkel w ₃, den der jeweils untere Arm 62 mit der Horizon talen einschließt, entspricht der üblichen Neigung der Magazinkanäle 16, wodurch gewährleistet ist, daß die ICs durch Schwerkraft aus den Aufnahmeschächten 65 heraus rutschen, wenn die Arme 62 sich in ihrer unteren Position befinden. Damit die ICs 3 nicht unbeabsichtigt aus den Aufnahmeschächten 65 herausrutschen, ist eine in Fig. 1 andeutungsweise dargestellte, prinzipiell der Begrenzungs wand 41 entsprechende Begrenzungswand 66 vorgesehen, die im Bereich der vorher erwähnten Übergabestelle 61 und einer mit 67 bezeichneten Übergabestelle zwischen der zweiten Wendevorrichtung 12 und der Sortiervorrichtung 13 unterbrochen ist.The second turning device 12 shown in FIGS. 1 and 6 is formed by two diametrically opposed arms 62 which form an obtuse angle w ₁ between them, which is open radially outwards with respect to the wheel 56 , and which are symmetrical by a drivable shaft 63 go out, which is rotatably mounted about an axis 64 , which includes an acute angle w ₂ with the horizontal in a plane intersecting the axis of rotation of the drive shaft 57 and the axis of rotation of the shaft 63 . In the arms 62 open receiving shafts 65 are arranged at the ends, the cross section of which is adapted to the cross section of the IC 3 to be carried out, and which likewise form a section of the guide channel 17 extending through the entire device. The arrangement is such that in the upper position of the respective arm 62 this is vertical and is located below the transfer point 61 , so that the IC 3 located in the support member 58 above it can fall due to heavy force into the receiving shaft 65 located below it . The second turning device 12 is also rotated in cycles, ie when the wheel 56 executes a rotating section corresponding to the division, the arms 62 are rotated or pivoted through 180 °. The axis 64 lies in the bisector of the angle w ₁ . The angle w ₃ , which the respective lower arm 62 includes with the horizontal, corresponds to the usual inclination of the magazine channels 16 , which ensures that the ICs slide out of the receiving shafts 65 by gravity when the arms 62 are in their lower position are located. So that the ICs 3 do not accidentally slip out of the receiving shafts 65 , a hint shown in FIG. 1, in principle the boundary wall 41 corresponding boundary wall 66 is provided, in the area of the aforementioned transfer point 61 and a transfer point designated 67 between the second turning device 12 and the sorting device 13 is interrupted.

Die Sortiervorrichtung 13 weist ebenfalls eine Mehrzahl Tragteile 68 mit durchgehenden, dem Querschnitt der ICs 3 entsprechenden Aufnahmeschächten 39 auf, die schritt weise an der zweiten Sortiervorrichtung 12, d.h. an der Übergabestelle 67 vorbeibewegbar sind. Dabei befinden sich die Tragteile 68, die ähnlich oder gleich den Trag teilen 18 ausgebildet sein können, in der gleichen geneigten Position wie der jeweils untere Arm 62. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel ist die Sortiervorrichtung 13 in vergleichbarer Weise wie die zweite Zwangsführung 7 ausgebildet, d.h. die Tragteile 68 sind an einer umlaufen den Kette oder an einem umlaufenden Band 69 gehalten oder sie können auch Glieder einer solchen Kette sein. Das Band 69 läuft um Umlaufräder 71, 72, deren einen Abstand voneinander aufweisende Drehachsen 73 gegenüber der Horizontalen um den Winkel w ₃ geneigt sind, wobei die Aufnahmeschächte 39 der Tragteile 68 an der Übergabe stelle 67 mit dem jeweiligen Aufnahmeschacht 65 der zweiten Wendevorrichtung 12 fluchten. Das Band 69 wird ebenfalls schrittweise im Takt des Bandes 21, des Rades 56 bzw. der Arme 62 angetrieben, wobei die Stillstandszeiten der miteinander korrespondierenden Abschnitte des Führungs kanals 17 im wesentlichen gemeinsame Stillstandszeiten haben.The sorting device 13 also has a plurality of support parts 68 with continuous receiving shafts 39 corresponding to the cross section of the ICs 3 , which can be moved past the second sorting device 12 , ie the transfer point 67 , step by step. The support members 68 , which are similar or identical to the support members 18 , are in the same inclined position as the lower arm 62 . In the present embodiment, the sorting apparatus is designed in a comparable manner to the second forcing guide 7 13, that is, the supporting members 68 are attached to a circulating chain or held on a revolving belt 69, or they may be members of such a chain. The belt 69 runs around planet gears 71 , 72 , whose axes of rotation 73 are at a distance from one another and are inclined at an angle w _{3 with} respect to the horizontal, the receiving shafts 39 of the supporting parts 68 at the transfer point 67 being aligned with the respective receiving shaft 65 of the second turning device 12 . The belt 69 is also driven step by step in time with the belt 21 , the wheel 56 or the arms 62 , the downtimes of the mutually corresponding sections of the guide channel 17 having essentially common downtimes.

Die vorhandenen Ausgangs-Magazinstangen 15 sind in Flucht mit einer entsprechenden Anzahl Tragteile 68 angeordnet. Der Durchgang zwischen den Aufnahmeschächten der Tragteile 68 und zugehörigen Magazinstangen 15 wird durch Steuerglie der, z.B. in Form von nicht dargestellten Schiebern gesteuert, die quer zum jeweiligen Führungskanal 17 hin- und herbewegbar sind.The existing output magazine bars 15 are arranged in alignment with a corresponding number of support parts 68 . The passage between the receiving shafts of the support members 68 and associated magazine rods 15 is controlled by the control member, for example in the form of slides, not shown, which can be moved back and forth across the respective guide channel 17 .

Dem Prüfkopf 8 gegenüberliegend, d.h. innenseitig vom Trum 37 des Bandes 21 der zweiten Zwangsführung 7 befindet sich eine Kontaktierungsvorrichtung 75 mit einem Kontakt schieber 76, dem ein Antrieb 77 zwecks Vorschub des jeweiligen sich vor dem Prüfkopf 8 befindlichen Tragteils 18 zugeordnet ist. Der Antrieb 77 wird durch einen Fluid zylinder 78 gebildet, dessen Kolbenstange über ein Hebel gestänge 79 mit dem Kontaktschieber 76 zwecks dessen Hin- und Herbewegung verbunden ist. Zum Zwecke der Kon taktierung des sich im zugehörigen Tragteil 18 befindlichen ICs 3 wird der Kontaktschieber 76 mit seiner Stirnseite gegen das Band 21 in Richtung auf die Kontakte 38 des Prüfkopfs 8 verschoben, bis die Kontakte 38 das IC 3 kontaktieren. Aufgrund der Anordnung des Tragteils 18 am Band 21 ist die Kontaktbewegung ohne eine zusätzliche Führung des Tragteiles 18 gewährleistet, da das Band 21 ausgelenkt werden kann und zwar um eine im wesentlichen dem Abstand d entsprechende Strecke, die vorzugsweise nur wenige mm, z.B. 5 mm, zu betragen braucht. Die Kontak tierungsbewegung, d.h. die Bewegung des Tragteils 18 gegen die Kontakte 38 des Prüfkopfs 8 und die Rückbewegung erfolgt jeweils während der Stillstandszeit der schrittwei sen Bewegung des Bandes 21 sowie der darauf abgestimmten weiteren Teile der Einrichtung 1. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel ist der Kontaktiervorrichtung 75 ein Kontaktschlitten 81 zugeordnet, der das jeweilige Tragteil 18 auf seiner dem Prüfkopf 8 zugewandten Seite mit Anschlagstegen 82 oder Anschlagteilen klauenförmig übergreift und längs der Kontaktierungsbewegung in einem stationären Bauteil 83 der Einrichtung 1, das z.B. mit den Platten 27 verbunden ist, in einem Lager verschiebbar geführt und durch wenigstens eine Feder 84 zur dem Prüfkopf 8 abgewandten Seite hin beaufschlagt ist. Die Anordnung ist so getroffen, daß während der Kontaktierungsbewegung durch Vorschub des Tragteils 18 in Richtung auf den Prüfkopf 8 mittels des Kontaktschiebers 76 das Tragteil 18 zunächst gegen die Anschlagstege 82 stößt, hier zusätz lich ausgerichtet wird und dann mit dem Kontaktschlitten 81 gegen die Kontakte 38 verschoben wird. Die Rückbewegung des Kontaktierschlittens 81 ist durch nicht dargestellte Anschläge begrenzt. In dieser Ausgangsposition ist der Abstand f des Tragteils 18 von den Anschlagstegen 82 natürlich geringer als der Abstand c zwischen dem Tragteil 18 und den Kontakten 38 des Prüfkopfs 8. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel ist der Kontaktschieber 76 im Kontak tierschlitten 81 gelagert. Es ist jedoch auch möglich, insbesondere dann, wenn kein Kontaktierschlitten 81 vorhanden ist, den Kontaktschieber 76 unmittelbar im Bauteil 83 zu lagern.The test head 8 opposite, ie on the inside of the run 37 of the belt 21 of the second positive guide 7, there is a contacting device 75 with a contact slide 76 , to which a drive 77 for the purpose of advancing the respective support part 18 located in front of the test head 8 is assigned. The drive 77 is formed by a fluid cylinder 78 , the piston rod via a lever linkage 79 is connected to the contact slide 76 for the purpose of its back and forth movement. For purposes of clocking of the Kon is located in the associated support portion 18 of the ICs 3 contact slide 76 is slid with its end face against the belt 21 in the direction of the contacts 38 of the probe 8, the IC contact 3 until the contacts 38th Due to the arrangement of the support member 18 on the belt 21 , the contact movement is ensured without additional guidance of the support member 18 , since the belt 21 can be deflected and that by a distance corresponding essentially to the distance d , which is preferably only a few mm, for example 5 mm. needs to be. The contact processing movement, ie the movement of the support member 18 against the contacts 38 of the test head 8 and the return movement takes place during the idle time of the stepwise movement of the belt 21 and the other parts of the device 1 coordinated therewith. In the present exemplary embodiment, the contacting device 75 is assigned a contact slide 81 , which engages over the respective supporting part 18 on its side facing the test head 8 with stop webs 82 or stop parts and along the contacting movement in a stationary component 83 of the device 1 , which is connected, for example, to the plates 27 is connected, guided displaceably in a bearing and acted upon by at least one spring 84 to the side facing away from the test head 8 . The arrangement is such that during the contacting movement by advancing the support member 18 in the direction of the test head 8 by means of the contact slide 76, the support member 18 first abuts against the stop bars 82 , is additionally aligned here and then with the contact carriage 81 against the contacts 38 is moved. The return movement of the contacting slide 81 is limited by stops, not shown. In this starting position, the distance f of the support part 18 from the stop webs 82 is of course less than the distance c between the support part 18 and the contacts 38 of the test head 8 . In the present embodiment, the contact slide 76 is mounted in the contact animal slide 81 . However, it is also possible, particularly when there is no contact slide 81 , to mount the contact slide 76 directly in the component 83 .

Insbesondere dann, wenn die ICs 3 eine Dicke aufweisen, ist eine geringe Breite der Begrenzungswand 41 vorteilhaft. Eine solche ist jedoch hinsichtlich des Kontaktierungshubes c problematisch. Die Begrenzungswand 41 ist deshalb vorzugsweise im Bereich ihres dem Prüfkopf 8 vorgeordneten Abschnitts 42 längs der Kontaktierungsbewegung verschiebbar angeordnet. Er kann vorteilhaft durch ein hochkant angeord netes Band, z.B. Stahlband gebildet werden, das vorzugsweise im Bereich des Prüfkopfes 8 am Kontaktschieber 76 oder am Kontaktschlitten 81 gehalten ist und somit an diesem Ende mitbewegt werden kann.In particular, if the ICs 3 have a thickness, a small width of the boundary wall 41 is advantageous. However, this is problematic with regard to the contacting stroke c . The boundary wall 41 is therefore preferably arranged to be displaceable in the region of its section 42 upstream of the test head 8 along the contacting movement. It can advantageously be formed by a vertically arranged band, for example a steel band, which is preferably held in the area of the test head 8 on the contact slide 76 or on the contact slide 81 and can thus be moved at this end.

Zum Zweck der Kontaktierung ist es möglich, daß die Kontake 38 des Prüfkopfs 8 das Tragteil 18 durchfassen, um mit den Kontakten des sich darin befindlichen ICs 3 in Verbindung treten zu können. Beim Ausführungsbeispiel gemäß Fig. 8 und 9 weist das Tragteil 18 auf seiner dem Prüfkopf 8 zugewandten Seite zwei senkrechte Schlitze 86 auf, durch die hindurch die Kontakte 38 mit den Kontakten des ICs 3 in Verbindung treten können. In den Fig. 8 und 9 sind nicht nur diese Schlitze 86 dargestellt, sondern auch eine Schnellschlußverbindung 87, mittels der das Tragteil 18 leicht, handhabungsfreundlich und schnell am Band 21 oder 69 wahlweise eingeklipst bzw. ausgeklipst werden kann. Hierzu weist das Tragteil 18 an seiner dem Prüfkopf 8 abgewandten Seite zwei Federele mente 88 vorzugsweise in Form von gebogenen Blattfedern mit voneinanderweg oder aufeinanderzu gerichteten Rastungs nasen 89 mit Einlaufschrägen 90 auf, die den Rand wenigstens einer entsprechend groß bemessenen Ausnehmung 91 im Band 21 hintergreifen. Eine entsprechende Anordnung läßt sich auch am Umfang des Rades 56 der ersten Wendevor richtung 11 verwirklichen.For the purpose of contacting, it is possible for the contacts 38 of the test head 8 to pass through the supporting part 18 in order to be able to connect to the contacts of the IC 3 located therein. In the exemplary embodiment according to FIGS . 8 and 9, the supporting part 18 has two vertical slots 86 on its side facing the test head 8 , through which the contacts 38 can connect to the contacts of the IC 3 . In FIGS. 8 and 9 are shown not only these slots 86, but also a quick-fastening connection 87, by means of the supporting member 18 easily, easy to handle and quickly can optionally be clipped to the belt 21 or 69 and unclipped. For this purpose, the support member 18 has on its side facing away from the test head 8 two Federele elements 88 preferably in the form of curved leaf springs with mutually spaced or mutually facing locking lugs 89 with chamfers 90 which engage behind the edge of at least one correspondingly large recess 91 in the band 21 . A corresponding arrangement can also be realized on the circumference of the wheel 56 of the first Wendevor device 11 .

Die Federelemente 88 können an einem Abstand von der Rückseite des Tragteils 18 an den mit 90 gekennzeichneten Stellen durch Kolben, Nieten oder Schrauben befestigt sein.The spring elements 88 can be fastened at a distance from the rear of the support part 18 at the points marked 90 by pistons, rivets or screws.

An der Innenseite des Bandes 21 können Ansätze vorgesehen sein, die in nicht dargestellten Ausnehmungen am Umfang der Umlaufräder 22, 23 einfassen und somit die Position des Bandes 21 zu den Umlaufrädern 22, 23 sichern. Es ist auch möglich, die Anordnung so zu treffen, daß die Ansätze durch das Band 21 in Ausnehmungen 92 durchfassende rückseitige Ansätze 93 der Tragteile 18 gebildet sind (Fig. 9).On the inside of the belt 21 approaches can be provided, which surround in not shown recesses on the circumference of the planet gears 22 , 23 and thus secure the position of the belt 21 to the planet gears 22 , 23 . It is also possible to make the arrangement such that the projections are formed by the band 21 through summary in recesses 92 approaches back 93 of the support members 18 (Fig. 9).

Im Betrieb der Einrichtung 1 gelangen die zu prüfenden und zu sortierenden ICs 3, die beim vorliegenden Ausfüh rungsbeispiel sogenannten SO-Elemente sind, in Rückenlage (keine Kontakte an dieser Seite) durch Rutschen aufgrund der Schwerkraft in den Bereich der ersten senkrechten Zwangsführung 6 bzw. des Vorschubteils 47, wo es schritt weise in die Be- und Entladungsstelle 43 vorgeschoben wird, während weitere ICs im Sinne der schrittweisen Durchführung taktweise folgen. Im Bereich der Be- und Entladungsstelle 43 fällt das IC 3 in den Aufnahmeschacht 39 des an dieser Stelle vorhandenen Tragteils 18 und es wird anschließend in dieser Position auf der horizontalen Umlaufbahn des Bandes 21 schrittweise zum Prüfkopf 8 transportiert, wo das IC in vorbeschriebener Weise mit dem Prüfkopf 8 kontaktiert wird. Anschließend gelangt das IC 3 im Tragteil 18 wieder zur Be- und Entladungsstelle 43, wo es durch das Vorschubteil 47 nach unten zur Über gabestelle 67 geschoben wird, wobei aufgrund des zwangs weisen Vorschubs ein ungestörter Arbeitsfortschritt, d.h. eine sichere Zuführung bzw. Abführung sowohl im Bereich des Prüfkopfes 8 als auch im Bereich der Be und Entladungsstelle 43 gewährleistet ist. Die Bewegungen des Vorschubteils 47, des Bandes 21 und der ersten Wendevor richtung 9 sind so aufeinander abzustimmen, daß das zugehörige Schubglied 46 das IC 3 an der Be- und Entladungs stelle 43 und an der Übergabestelle 55 unterseitig zu stützen vermag. Erst dann, wenn nach Drehung des Umlaufrades 23 bzw. des Rades 56 das IC 3 unterseitig durch die Begrenzungswand 41 gestützt wird, kann das Vorschubteil 47 weiterbewegt, d.h. aus dem Führungsschacht 49 herausge schoben werden, um im Zuge des nächsten Arbeitstaktes das nächste IC 3 in den Bereich der Be- und Entladestelle 43 bzw. der Übergabestelle 55 zu fördern. Im Bereich der Wendevorrichtungen 11 und 12 wird das IC 3 zunächst um seine in dieser Position senkrechte Achse gedreht und dann in einer vertikalen Ebene geschwenkt, wodurch es eine mit seinem Rücken nach unten weisende Position erhält, in der es - wie schon im Eingangsmagazin 4 - problemlos zu rutschen vermag. Dabei erhalten die ICs durch die zweite Wendevorrichtung 12 eine weitere Drehung, so daß sie mit ihren rückwärtigen Enden in die Ausgangs-Ma gazinstangen 15 eingeführt werden können und sich in einer der Eingangsmagazin 4 entsprechenden Position befinden. Dabei wird die Sortiervorrichtung 13 derart verstellt, daß die von der zugeordneten Prüfeinheit als Gutteile befundenen ICs 3 in die zugehörige Ausgangs-Ma gazinstange 15 gelangen, während die weniger gut oder als Ausschußteile erkannten ICs 3 in hierfür bestimmte Ausgangs-Magazinstangen 15 gelangen. Hierzu ist eine nicht dargestellte Steuereinrichtung erforderlich, die im Sinne einer sog. Materialverfolgung die jeweiligen Aufnahmepositionen der als Gutteil, Sonderteil oder Ausschußteil bekannten ICs registriert, auf dem Weg der ICs bis zur Sortiervorrichtung speichert, wobei gleichzeitig neue Aufnahmepositionen in der ersten Wendevor richtung 11 zu registrieren und zu speichern sind, und die Bewegung der Sortiervorrichtung 13 so steuert, daß die ICs mit der registrierten Klassifikation in die zugehörigen Ausgangs-Magazinstangen 15 gelangen.In operation of the device 1 , the ICs 3 to be tested and sorted, which are so-called SO elements in the present embodiment, come to lie on their back (no contacts on this side) due to gravity sliding into the area of the first vertical positive guide 6 or of the feed part 47 , where it is pushed step by step into the loading and unloading point 43 , while further ICs follow in cycles in the sense of the gradual implementation. In the area of the loading and unloading point 43 , the IC 3 falls into the receiving shaft 39 of the support part 18 present at this point and it is then gradually transported in this position on the horizontal orbit of the belt 21 to the test head 8 , where the IC also follows in the manner described above the test head 8 is contacted. Subsequently, the IC 3 in the support part 18 again to the loading and unloading point 43 , where it is pushed down by the feed part 47 to the transfer point 67 , the undisturbed progress of the work, ie a safe supply and discharge both in Area of the test head 8 and in the area of the loading and unloading point 43 is guaranteed. The movements of the feed part 47 , the belt 21 and the first Wendevor direction 9 are to be coordinated so that the associated thrust member 46, the IC 3 at the loading and unloading point 43 and at the transfer point 55 can support on the underside. Only when, after rotation of the planet wheel 23 or the wheel 56, the IC 3 is supported on the underside by the boundary wall 41 , can the feed part 47 be moved further, ie be pushed out of the guide shaft 49 , to the next IC 3 in the course of the next work cycle to promote in the area of loading and unloading 43 and the transfer point 55 . In the area of the turning devices 11 and 12 , the IC 3 is first rotated about its vertical axis in this position and then pivoted in a vertical plane, as a result of which it is given a position with its back pointing downwards, in which it - as already in the input magazine 4 - can slide easily. The ICs are given a further rotation by the second turning device 12 , so that they can be inserted with their rear ends into the output magazine rods 15 and are in a position corresponding to the input magazine 4 . The sorting apparatus 13 is adjusted such that the, found from the associated test unit as good parts ICs 3 in the associated output Ma gazinstange 15 reach, during the recognized less well or as reject parts ICs 3 in this specific output Magazine rods reach 15th For this purpose, a control device (not shown) is required, which records the respective pick-up positions of the ICs known as good parts, special parts or reject parts in the sense of a so-called material tracking, on the way of the ICs to the sorting device, while at the same time adding new pick-up positions in the first Wendevor direction 11 are to be registered and stored, and controls the movement of the sorting device 13 in such a way that the ICs with the registered classification enter the associated output magazine bars 15 .

Die Anordnung der Wendevorrichtungen 11, 12 ermöglicht es, das Eingangs- und Ausgangsmagazin 4, 14 handhabungs freundlich an einer Seite, nämlich der Bedienungsseite der Einrichtung 1, und den Prüfkopf 8 an der Rückseite anzuordnen.The arrangement of the turning devices 11 , 12 makes it possible to arrange the input and output magazine 4 , 14 in a manner that is easy to handle on one side, namely the operating side of the device 1 , and the test head 8 on the rear.

Bei einer Umrüstung der Einrichtung 1 auf ICs 3 unter schiedlicher Art bzw. Größe ist es erforderlich, die Tragteile 18, 58 und 68, gleich ausgestaltet sein können, auszutauschen. Es ist aber auch möglich, die erste und zweite Zwangsführung 6, 7 und vorzugsweise auch die Kontaktierungsvorrichtung und die erste Führungsstrecke 5 zu einer schnell und einfach austauschbaren Baueinheit zusammenzufassen. Außerdem bedarf es in der Regel eines Austausches des Prüfkopfes 8, da nach der Umrüstung für andere ICs sich andere Kontaktbilder ergeben. Bei der in Fig. 10 dargestellten Tragteil-Art ist das mit 98 bezeichnete Tragteil in die Kontaktverbindung zwischen dem andeutungsweise dargestellten aufgenommenen IC 3 und dem Prüfkopf 8 einbezogen, und zwar mittels IC-spezifi schen Kontakten 99, die hier im Bereich der das IC aufneh menden Fassung bzw. des Aufnahmeschachtes 101 zwecks Kontaktierung mit den Kontaktelementen des ICs 3 angeordnet sind, und prüfkopfspezifischen Kontakten 102, die in immer gleicher Position mit den Kontakten 38 des Prüfkopfes 8 zusammenwirken. Bei einer solchen Anordnung bedarf es lediglich des Austausches der Tragteile 98. Der Prüfkopf braucht nicht ausgetauscht zu werden, da durch den Austausch der Tragteile 98 eine spezifische Leitungsverbindung zwischen dem zu prüfenden IC und dem Prüfkopf 8 geschaffen ist. Die Tragteile 98 stellen somit Leiterteile dar. Die die Kontakte 99 und 102 miteinander verbindenden Leitungen sind angedeutet und mit 100 bezeichnet.When converting the device 1 to ICs 3 of different types or sizes, it is necessary to replace the supporting parts 18 , 58 and 68 , which may be of the same design. However, it is also possible to combine the first and second positive guides 6 , 7 and preferably also the contacting device and the first guide section 5 to form a quick and easy-to-replace unit. In addition, it is usually necessary to replace the test head 8 , since after the conversion for other ICs, different contact patterns result. In the type of support part shown in FIG. 10, the support part designated 98 is included in the contact connection between the indicated IC 3 and the test head 8 , specifically by means of IC-specific contacts 99 , which here in the area of the IC Mend socket or the receiving shaft 101 are arranged for contacting the contact elements of the IC 3 , and probe-specific contacts 102 , which interact in the same position with the contacts 38 of the probe 8 . With such an arrangement, it is only necessary to replace the support parts 98 . The test head does not need to be replaced, since the exchange of the support parts 98 creates a specific line connection between the IC to be tested and the test head 8 . The support parts 98 thus represent conductor parts. The lines connecting the contacts 99 and 102 are indicated and designated 100 .

Für eine störungsfreie Kontaktierung zwischen den Kontakten des ICs 3 und den IC-spezifischen Kontakten 99 gibt es zwei vorteilhafte Möglichkeiten.There are two advantageous options for trouble-free contacting between the contacts of the IC 3 and the IC-specific contacts 99 .

Die eine Möglichkeit besteht darin, die IC-spezifischen Kontakte 99 am Tragteil 98 nachgiebig anzuordnen, so daß sie beim Ein- und Ausführen des ICs 3 in bzw. aus dem Aufnahmeschacht 101 überdrückt werden können.One possibility is to arrange the IC-specific contacts 99 on the supporting part 98 in a flexible manner, so that they can be overpressed when the IC 3 is inserted and removed into or out of the receiving shaft 101 .

Eine zweite Möglichkeit besteht darin, für das IC 3 im Aufnahmeschacht 101 in Richtung auf die IC-spezifischen Kontakte 99 ein größeres Bewegungsspiel B vorzusehen, so daß das IC ohne Klemmung seiner Kontakte mit den IC-spezifischen Kontakten 99 in den Aufnahmeschacht 101 bzw. aus diesem heraus geschoben werden können. Der Kontakt kann durch eine Verschiebung des ICs 3 gegen die IC-spezifischen Kontakte 99 nach dessen Positionierung im Aufnahmeschacht 101 erfolgen, wozu sich ein Stößel eignet, der in Fig. 10 andeutungsweise dargestellt und mit 103 bezeichnet ist. Für eine solchen zusätzlichen Stößel 103 bedarf es keines besonderen Antriebs, wenn er entgegen der Kontaktierungsbewegung z.B. mittels einer Feder elastisch in bzw. am Kontaktschieber 76 abgestützt ist. Dabei ist es von Vorteil, die Anordnung so zu treffen, daß zunächst der zusätzliche Stößel 103 das IC 3 gegen die IC-spezifischen Kontakte 99 drückt und dann der Kontaktschieber 76 das Band 21 bzw. das Tragteil 98 gegen die Kontakte 38 des Prüfkopfes 8 drückt.A second possibility is to provide a larger movement clearance B for the IC 3 in the receiving slot 101 in the direction of the IC-specific contacts 99 , so that the IC can move out of the receiving slot 101 without clamping its contacts with the IC-specific contacts 99 this can be pushed out. The contact can be made by moving the IC 3 against the IC-specific contacts 99 after it has been positioned in the receiving shaft 101 , for which purpose a plunger is suitable, which is indicated in FIG. 10 and is designated by 103 . No additional drive is required for such an additional plunger 103 if it is supported elastically in or on the contact slide 76 against the contacting movement, for example by means of a spring. It is advantageous to make the arrangement so that first the additional plunger 103 presses the IC 3 against the IC-specific contacts 99 and then the contact slide 76 presses the band 21 or the support member 98 against the contacts 38 of the test head 8 .

In den Fig. 11 bis 14 sind in Vorderansicht und Draufsicht beispielhaft zwei ICs 3 unterschiedlicher Art dargestellt. In Figs. 11 to 14 are shown in front view and plan view of an example of two ICs 3 different types.

Bei den in Fig. 11 und 12 dargestellten ICs 3 handelt es sich um ein sogenanntes leichtes bzw. kleines SO-Element mit Kontakten an den Schmalseiten. Das in Fig. 13 und 14 dargestellte IC 3 weist einen plattenförmigen Körper auf, mit Kontakten auf einer Breitseite.The ICs 3 shown in FIGS. 11 and 12 are a so-called light or small SO element with contacts on the narrow sides. The IC 3 shown in FIGS. 13 and 14 has a plate-shaped body with contacts on a broad side.

Zum Zweck einer störungsfreien Funktion der Einrichtung 1 ist es von Vorteil, an allen den Stellen, an denen eine falsche Position des durchzuführenden IC Klemmungen oder Funktionsstörungen hervorrufen kann, Kontrollmittel z.B. in Form von Lichtschranken vorzusehen, die eine falsche Position der der Einrichtung 1 zugeordneten Steuereinrichtung mitteilen und hierdurch eine Warnanzeige oder Betriebsstop einleiten. Solche Stellen sind insbeson dere die Übergabestellen 43, 55, 61, 67.For the purpose of a trouble-free function of the device 1 , it is advantageous to provide control means, for example in the form of light barriers, at all the points at which an incorrect position of the IC to be carried out can cause jams or malfunctions, in the wrong position of the control device assigned to the device 1 notify and thereby initiate a warning or operational stop. Such points are in particular the transfer points 43 , 55 , 61 , 67 .

Claims

1. Device for checking and sorting electronic components, in particular IC's,
with an input magazine and an output magazine, each of which has at least one magazine channel for the components to be supplied or removed,
with a test head arranged between the input magazine and the output magazine, with which the components are contacted,
and with a positive guidance for feeding the components to the test head and continuation from the test head, characterized in that support parts ( 18 , 98 ) arranged in a row are provided for receiving the components, which can be moved past the test head ( 8 ) in the longitudinal direction of the row.

2. Device according to claim 1, characterized in that the carrier parts ( 18 , 98 ) on an extending along the row and along the row movably arranged th rod-shaped carrier ( 21 ) are arranged, preferably the carrier ( 21 ) in the direction of the test head ( 8 ) is movably mounted, in particular can be bent out elastically.

3. Device according to claim 1 or 2, characterized in that the carrier is formed by a rotating or swiveling part and has at least one curved about the rotational or swiveling axis support section ( 21 ) for the carrier parts ( 18 , 98 ).

4. Device according to one of claims 1 to 3, characterized in that a contact slide ( 76 ) is provided with which the existing carrier part ( 18 , 98 ) or the carrier with the relevant component against the test head ( 8 ) is adjustable bar and preferably a contact element ( 81 , 82 ), which can be displaced parallel to the contact slide ( 76 ), is assigned to the existing carrier part ( 18 , 98 ).

5. Device according to one of claims 1 to 4, characterized in that the longitudinal direction extends horizontally and preferably the supply and in particular also the discharge to or from the carrier ( 21 ) runs vertically.

6. Device according to one of claims 1 to 5, characterized in that in the region of the supply and / or discharge of the components to or from the carrier parts ( 18 , 98 ) or to or from the carrier a further positive guidance for forcibly feeding or Removal of the components is assigned, preferably the supply and discharge being provided in the area of a common supply or discharge point ( 43 ) to which a common positive guide ( 6 ) for supplying and removing the components is assigned.

7. Device according to claim 6, characterized in that the positive guidance by thrust members ( 46 ), in particular a rake-shaped feed part ( 47 ) is formed, which engages with its rake-shaped projections between the construction elements, the feed part ( 47 ) transverse movements ( 52 ) is able to execute.

8. Device according to claim 7, characterized in that the possibly common supply and / or discharge is assigned at least one braking member for the components, which preferably by projecting into the supply and / or discharge channel ( 48 , 49 ) for the components and from this deflectable spring elements ( 94 ) is formed.

9. Device according to one of claims 6 to 8, characterized in that the removal for the components at least one, preferably two turning devices ( 11 , 12 ) are arranged downstream, preferably at least one of the turning devices ( 11 , 12 ), in particular the second Turning device ( 12 ) is formed by a rotating or swiveling part which has at least one support part ( 58 ) for the components in the region of its circumference.

10. The device according to claim 9, characterized in that the first turning device ( 11 ) is formed by a wheel ( 56 ) which has a plurality of carrier parts ( 58 ) on its circumference and preferably the second turning device ( 12 ) one or more diametrically opposite one another or has star-shaped opposite arms ( 62 ) on which support parts ( 68 ) are arranged.

11. Device according to one of claims 1 to 10, characterized in that the output magazine ( 14 ) has at least two magazine rows, the magazine rows a sorting device ( 13 ) is arranged upstream, that the sorting device ( 13 ) arranged in series support parts ( 68 ) for Includes components which can be moved past the turning device ( 12 ) in the longitudinal direction of the row, and that the support parts ( 68 ) are preferably arranged on a rod-shaped support ( 21 ) which extends along the row and is movable along the row.

12. Device according to one of claims 2 to 11, characterized in that the carrier is preferably circumferentially formed by a chain or a band ( 21 ) and in particular made of steel.

13. Device according to one of claims 1 to 12, characterized in that the carrier parts ( 18 , 58 , 68 , 98 ) are arranged interchangeably on the carrier ( 21 ) and the holder serving for this purpose by a positive and / or non-positive holding tion, in particular is formed by a spring catch.

14. Device according to one of claims 1 to 13, characterized in that the carrier parts ( 18 , 58 , 68 , 98 ) each have a recess ( 39 ) adapted to the cross section of the components and the recesses ( 39 ) are preferably formed continuously with one, in particular stationary boundary wall ( 41 ) on at least one side of the recesses ( 39 ).

15. Device according to claim 14, characterized in that a test head ( 8 ) upstream, extending substantially into the region of the test head ( 8 ) into section ( 42 ) of the boundary wall ( 41 ) along the recess ( 39 ) and / or preferably adjustable transversely thereto and lockable in the respective setting.

16. Device according to one of claims 1 to 15 or device for checking and sorting electronic components, in particular IC's,
with an input magazine and an output magazine, each of which has at least one magazine channel for the components to be supplied or removed,
with a test head arranged in a climatic zone between the input magazine and the output magazine, in which the components are contacted with a test base,
and with a guide path for feeding the components to the test head and continuing the same from the test head, characterized in that the guide path is formed by a positive guide ( 7 ).

17. The device according to claim 16, characterized in that the positive guidance ( 7 ) is formed by row arranged support parts ( 18 , 98 ) for receiving components ( 3 ) which are movable in the longitudinal direction of the test head ( 8 ), and that in a in the longitudinal direction of the row extending distance ( c ) from the test head ( 8 ) a loading and / or unloading point ( 43 ) for loading or unloading the carrier parts ( 18 , 98 ) is or are.

18. Device according to claim 16 or 17, characterized in that the carrier parts ( 18 , 98 ) on an extending along the row and along the row movably arranged th rod-shaped carrier ( 21 ) are arranged, preferably in the form of a particularly circulating chain or a band ( 21 ) which extends through the climate zone ( 45 ).

19. The device according to claim 18, characterized in that the carrier ( 21 ), the contacting device and preferably the test head ( 8 ) are assigned to an interchangeable unit.

20. Device according to one of claims 1 to 19 or device for checking and sorting electronic components, in particular ICs
with an input magazine and an output magazine, each of which has at least one magazine channel for the components to be supplied or removed,
with a test head arranged between the input magazine and the output magazine, with which the components are contacted,
and with a positive guidance for feeding the components to the test head and their continuation from the test head, characterized in that the component to be tested ( 3 ) is accommodated in or on a carrier part ( 98 ) during testing, the component-specific contact elements ( 99 ) for contacting the Has component and test head-specific contact elements ( 102 ) for contacting the test head ( 8 ), and the component-specific contact elements ( 99 ) and the test head-specific contact elements ( 102 ) are connected to each other.

21. Device according to claim 20, characterized in that a plurality of carrier parts ( 98 ) arranged in a row are movable past the test head ( 8 ) in the row longitudinal direction.

22. The device according to claim 20 or 21, characterized in that the or the carrier parts ( 98 ) continuous receiving shafts ( 39 ) for the components ( 3 ) and the component-specific contact elements ( 99 ) on the inside and the probe-specific clock elements ( 102 ) arranged on the outside are, preferably only arranged on the side facing the test head ( 8 ).