DE3432583A1 - Verfahren und vorrichtung zur messung von oberflaechenformen - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur messung von oberflaechenformen

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DE3432583A1
DE3432583A1 DE19843432583 DE3432583A DE3432583A1 DE 3432583 A1 DE3432583 A1 DE 3432583A1 DE 19843432583 DE19843432583 DE 19843432583 DE 3432583 A DE3432583 A DE 3432583A DE 3432583 A1 DE3432583 A1 DE 3432583A1
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Adolf Friedrich Prof. Dr.-Phys. 4300 Essen Fercher
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Fercher adolf Friedrich profdr-Phys
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Fercher adolf Friedrich profdr-Phys
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)

Description

  • Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Oberflächenformen
  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Messung von komplexen Oberflächenformen mit hoher Genauigkeit.
  • Die Messung von komplexen Oberflächenformen ist eine grundsätzliche Aufgabe im Bereich des Maschinenbaus, im Bereich des Industrie-Designs und in der Kraftfahrzeugtechnik, Beispielsweise besteht im Maschinenbau die Aufgabe, die Form einer Turbinenschaufel zu messen oder es besteht im Bereich des Industrie-Designs die Notwendigkeit, die genaue Form des Modells eines Kraftfahrzeugs zu bestimmen.
  • Die Messung von Oberflächenformen mit hoher Genauigkeit wird heute tiberwiegend mittels abtastender Koordinatenmepmaschinen durchgefunrt. Diese Maschinen tasten das Meßobjekt in diskreten Punkten ab und gewinnen so einen Satz dreidimensionaler Koordinaten (x,y,z) von Oberflächenpunkten.
  • Da die Bewegung des Tasters mechanisch erfolgt und dieser beim eigentlichen Meßvorgang die Oberfläche berührt, sind solche Maschinen entsprechend langsam. Andere Verfahren, die auf Basis von Mehrwellenlängenholographie oder mittels Moiré-Verfahren arbeiten, leiden darunter, daß als Meßergebnis nicht ein Satz dreidimensionaler Koordinaten entsteht, sondern ein Konturlinienbild, welches seinerseits noch ausgewertet werden sirup. Darüber hinaus ist bei diesen Verfahren die Auflösung in Beobachtungsrichtung von geringer Größte, und zwar insbesondere dann, wenn gleichzeitig ein großer Mepbereich in Beobachtungsrichtung erfaßt werden soll.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein berEhrungsfreies schnelles Verfahren zur Messung komplexer Oberflächenformen anzugeben, welches hohe Auflösung in Beobachtungsrichtung besitzt.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß die Objektoberfläche mit einem sich quer zur Beobachtungsrichtung bewegenden Lichtraster ausgeleuchtet wird derart, daß die in einem bestimmten Zeitintervall durch einen beliebigen Punkt laufenden Hell-Dunkel-Stellen des Lichtrasters ein Maß fUr die Oberflächenkoordinate dieses Punkts in Beobachtungsrichtung geben. Die Koordinaten quer zur Beobachtungsrichtung werden mittels einer Abbildungsoptik festgestellt. Der Lichtraster wird auf analoge Weise, wie bereits in anderem Zusammenhang beschrieben (Offenlegungsschrift Dr 25 43 493 Al, Verfahren und Anordnung zur Positionsmessung, P 25 43 493.9), hergestellt.
  • Die Erfindung wird anhand der folgenden Figuren beschrieben: Fig. 1: Anordnung zur Herstellung des bewegten Lichtrasters und zur Registrierung der Hell-Dunkel-Wechsel in beliebigen Punkten auf der Objektoberfläche Fig. 2: Vorrichtung zur Festlegung des Winkels ¢ Fig. 3: Geometrie im Interferenzfeld Fig. 4: Eine weitere Anordnung zur Messung von Oberflächenformen gemaß der Erfindung Fig. 5: Verlauf der elektrischen Signale am Referenzzahler Fig. 6: Verlauf der photoelektrischen Signale am digitalen MeßzAhler Fig. 7: Vorrichtung zur Gewinnung eines Signals ftlr die Nachfokussierung Die Zahlen bedeuten: 1 ... Laser 2 ... Laserstrahl 3 ... Fernrohr 4 ... Rotierender Umlenkspiegel 5 ... Fresnelsches Biprisma (FBP) 6 ... Interferenz feld 7 ... Prismenkante 8 ... Spiegelachse 9 ... Meßobjekt 10 ... Pbbildungsoptik 11 ... Lochblende 12 ... Photoempfänger 13 ... Digitalzähler 14 ... Optische Achse des Mepdetektors 15 ... Lichtschranke 16 ... Strahlteiler 17 ... Lochblende 18 ... Photoempfånger 19 ... Frequenznormal 20 ... Digitalzähler 21 ... Rechner 22 ... Photoempfänger 23 ... Photoempfänger 24 ... Lochblende 25 ... Lochblende 26 ... Strahlteiler 27 ... Strahlteiler Eine mögliche Ausführungsform der Vorrichtung zur Herstellung des bewegten Lichtrasters ist in Fig.l dargestellt. Ein aus dem Laser 1 austretendes Strahlenbündel 2 wird durch das Fernrohr 3 aufgeweitet und beleuchtet Uber einen Umlenkspiegel 4 ein Fresnelsches Biprisma (FBP) 5.
  • Die hinter den FBP interferierenden Teilbündel erzeugen als Lichtraster ein Interferenzfeld 6, bestehend aus äquidistanten Interferenzebenen mit einer Gitterkonstanten d von: d = #/(2.sinα) Dreht sich der Umlenkspiegel 4 um den Winkel #, dann dreht sich das Interferenzfeld um 2. #. Für ein Zylinderkoordinatensystem (Polarkoordinaten r, # und Aplikate z) mit der z-Achse in der Prismenkante 7 des FBP 5 ist dann die Anzahl N(r) der beim Zylinderradius r durch einen Punkt P wandernden Interferenzstreifen: N(r) = 49Q-rsina/\ Auf diese Weise ist der Abstand r eines Objektpunkts P auf einem Objekt 9 eindeutig festgelegt. Der Punkt P wird von einer Optik 10 auf eine Lochblende 11 abgebildet, deren Durchmesser kleiner sein muß als die Streifenbreite des Lichtrasters in diesem Bild. Der dahinter angeordnete Photoempfänger 12 gibt sein Signal an den digitalen Mepzähler 13, dieser registriert die Hell-Dunkel-Wechsel in P. Die anderen Zylinderkoordinaten z und f sind durch den Schnitt der optischen Achse 14 dieses Meßdetektors mit der Zylinderfläche r = konstant festgelegt.
  • Die Messung erfolgt dann schrittweise, wobei innerhalb eines jeden Schritts der Medetektor, bestehend aus Optik 10, Lochblende 11 und Photoempfånger 12, durch Schwenken der Achse 14 die Objektoberfläche punktweise abtastet und fur jeden Punkt der Zylinderradius r gemessen wird. Gleichzeitig muß fUr jeden Punkt auch die Stellung der Meßachse 14 registriert werden, was mittels eines Drehgebers möglich ist. Weil dies nicht Bestandteil der vorliegenden Erfindung ist und zum bekannten Stand der Technik gehört, wird hierauf nicht näher eingegangen. Nachdem ein solcher Schritt abeschlossen ist, wird entweder das Objekt 9 oder die Meßeinrichtung in Richtung der Prismenkante um eine Schrittgröpe verschoben und die beschriebene Messung wird wiederholt.
  • Alternativ kann anstelle des aus Optik 10, Lochblende 11 und Photoempfänger 12 bestehenden Mepdetektors auch eine Fernsehkamera, beispielsweise mit einer Diodenarrayröhre oder eine "Random Access Camera", wie sie z.B. von verschiedenen Firmen in Verbindung mit einem Rechner angeboten wird, eingesetzt werden. In diesem Falle erübrigt sich das mechanische Nachstellen der optischen Achse.
  • Der Winkel ¢ wird beispielsweise mit Hilfe einer Lichtschranke 15 auf der Achse 8 des Spiegels 4 festgelegt, s. Fig.2. Diese Lichtschranke liefert die Start- und StopSignale fUr den an den Photoenlpfänger angeschlossenen Digitalzahler 13. Dessen Zahlergebnis kann durch entsprechende Auslegung der Geometrie der Anordnung direkt zum Zahlenwert der r-Koordinate im beispielsweise metrischen System gemacht werden. Oder man multipliziert das Zahlergebnis in einem Rechner mit einer geeigneten Konstanten.
  • Die Auflösung dieses Verfahrens in Richtung Zylinderradius r ist gegeben durch die Gröpe der jeweiligen r-Koordinate gebrochen durch die Strei- fenzahl N(r). Siehe dazu die in Fig. 3 angegebenen Abmessungen im Interferenzfeld. Mit sinα = H/(2.L) und 2.#.L = H wird N(r) = (H/L)² . r/# Somit beträgt die Auflösung 6 6 = r/N(r) = A L2 Allerdings kann eine hohe Messgenauigkeit nur dann realisiert werden, wenn die Lichtschranke ihre Signale immer exakt in denselben Positionen abgibt, was nicht vorausgesetzt werden kann. Es ist daher sinnvoll, die Lichtschranke wegzulassen und die Start- und Stopsignale fUr den Digitalzähler auf andere Weise zu gewinnen: In Fig.4 ist zwischen Mepobjekt 9 und dem FBP 5 ein Strahlteiler 16 angebracht. Dieser lenkt einen Teil 6' des Interferenzfelds 6 auf einen Spalt 17 mit einem Referenz-Photoempfänger 18. Der Spalt 17 ist parallel zu den Interferenzstreifen des Interferenzfelds 6' orientiert. Das elektrische Signal URE des Photoempfängers 18 ist in Fig. 5 Uber der Zeit dargestellt, ebenso das Signal UFN des Frequenznormals 19. Sobald URE gut durchooduliert ist, also eine vorher festgelegte Amplitudengröße erreicht, wird beim nächsten Nulldurchgang von URE der Referenzzähler 20 durch seinen Trigger gestartet (Zeitpunkt tA) und sobald URE die festgelegte Amplitudengröpe wieder unterschreitet, wird beim darauf folgenden Nulldurchgang der Referenzzahler wieder gestoppt (Zeitpunkt tE). Aus den beiden Zählraten folgt fUr die mittlere relative Periodendauer des Referenzsignals: Analog wird beim Meßzåler 13 verfahren: Sobald die Amplitude von UpE (Fig.6) einen vorgewählten Minimalwert erreicht hat, startet beim nächsten Nulldurchgang von UpE (Zeitpunkt tA), ein Trigger im digitalen Mepzähler 13 zwei Zåhlvorgänge: Die Nulldurchgänge N von UpE werden gezåhlt, ebenso die Nulldurchgänge NF des Signals UFN des Frequenznornals 19. Sobald UpE wieder den vorgewählten Minimalwert unterschreitet, werden beide Zählvorgänge beim darauf folgenden Nulldurchgang gestoppt (Zeitpunkt tE). Aus den gezählten Nulldurchgängen ermittelt ein Rechner die relative Periodendauer des Meßsignals UpE zu: Aus den so gemessenen Periodendauern folgt die r-Koordinate direkt aus dem Verhältnis der Periodendauern von Referenz- und Meßdetektor: wobei L der optische Abstand des Spalts 17, gemessen Uber den Strahlteiler 16, von der Prismenkante 7 ist. Mit dieser Anordnung erhält man beispielsweise mit fFN = 10³fPE und einer Bündelhöhe von H = 2 cm bei einem Meßbereich von L = 1 m eine Auflösung von 1,5 µm (fPE ist die Frequenz des Photoempfängersignals, fFN jene des Frequenznormals).
  • Das erhaltene Ergebnis ist exakt fUr kleine Winkel 4>. Bei großen Winkeln 4> erzeugt das FBP 5 ein Interferenz feld mit etwas abweichender Gitterkonstanten d. Diese läßt sich fur ein gegebenes FBP in Abhängigkeit von # berechnen und die zugehörige Korrektur kann von dem Rechner 21 on-line ausgeführt werden.
  • Es sei auch darauf hingewiesen, daß die hier beschriebene elektronische Signalauswertung nur exemplarisch gemeint ist. Tatsächlich können auch andere Methoden und insbesondere auch andere Signalpegel zum Zahlen herangezogen werden.
  • Figur 4 zeigt noch eine weitere Alternative fur den Aufbau der Mepvorrichtung: Der Mepdetektor, bestehend aus Optik 10, Lochblende 11 und photoempfänger 12 kann so angeordnet werden, daß er Uber den Strahlteiler 16 auf das Objekt 9 blickt, also aus derselben Richtung, aus der das Meßobjekt auch van Interferenzfeld beleuchtet wird. Dadurch sieht der Meßdetektor keine Schatten auf der Objektoberfläche und es kann jeder beliebige Oberflächenpunkt gemessen werden.
  • Ferner ist in Figur 4 der Meßdetektor als Random-Access-Kamera oder Array-Kamera ausgebildet. Diese besteht im wesentlichen aus einer Abbildungsoptik 10 und einem rechnergesteuerten Photoempfänger-Array 12'.
  • Jeder einzelne Photoempfånger des Arrays 12' kann per Rechner abgefragt, d.h. sein Photosignal an den Ausgang des Meßdetektors gelegt werden. Die Lochblende 11 erübrigt sich hier. Die einzelnen Photoempfänger mUssen kleiner sein als der Streifenabstand im Bild der Objektoberfläche auf dem Array 12'. Polarwinkel f und Aplikate z werden durch die einzelnen Photoempfänger festgelegt.
  • Eine weitere Alternative besteht darin, wie in Fig. 1 einen Meßdetektor mit nur einem Photoempfänger zu benutzen und anstatt dessen optische Achse in ihrer Richtung zu steuern, die gesamte Vorrichtung in zweidimensionalen kartesischen Koordinaten Uber dem Objekt zu bewegen.
  • Zur Registierung der Hell-Dunkel-Wechsel im Meßpunkt ist es weiters notwendig, daß die Optik 10 den Meßpunkt auf die Lochblende 11 bzw. die Photoempfänger 12' abbildet. Ansonsten nimmt der Gleichanteil in Signal UPE zu, d.h. der Modulationsgrad von UpE sinkt. Fs ist somit eine laufende Nachfokussierung notwendig. Dies kann beispielsweise dadurch erfolgen, daß der Modulationsgrad des Signals UpE des Photoempfängers 12 mit dem Modulationsgrad zweier weiterer Photoempfänger 22 und 23, deren zugehörige Lochblenden 24 und 25 sich knapp vor und knapp hinter der Ebene der Lochblende 11 befinden, verglichen wird. Eine solche Anordnung ist in Fig. 7 dargestellt. Die Teile 26 und 27 sind Strahlteiler. Durch Vergleich des Modulationsgrads der 3 Empfängersignale erhält man eine Aussage, in welche Richtung die Optik 10 beispielsweise durch Verschieben längs ihrer optischen Achse 16 nachfokussiert werden mu.
  • Alternativ zur bisher beschriebenen Anordnung, bei welcher das Interferenzfeld mit Hilfe eines Fresnelschen Biprismas erzeugt wurde, gibt es eine ganze Reihe anderer Möglichkeiten. So kann z.B. anstatt des FBP in Verbindung mit dem Umlenkspiegel 4 ein auf der Achse 8 angeordneter rotierender Fresnelscher Doppelspiegel Anwendung finden. Weitere Moglichkeiten zur Erzeugung räumlicher Interferenzfelder sind z.B. in dem Lehrbuch von M. Bom und E. Wolf: Principles of Optics (Pergamxl Press, New York 1964) beschrieben. Prinzipiell lassen sich Verfahren, die mit geonietrischer Wellenfrontteilung arbeiten und Verfahren, die mit physikalischer Wellenfrontteilung arbeiten, unterscheiden.
  • Verfahren mit geometrischer Wellenfrontteilung: Fresnelscher Doppelspiegel Fresnelsches Biprisrna Youngsche Anordnung Billetsche Doppellinse Verfahren mit physikalischer Wellenfrontteilung: Beugungsgitter in Transmission Beugungsgitter in Reflexion Teilerplatte Polarisationsoptische Verfahren (vgl. M. E'rançon, Optical Interferometry, Academic Press, New York and London, 1966, Chapter VII) Anstatt einer Laserlichtquelle kann teilkohärentes Licht einer konventionellen Lichtquelle benutzt werden. Die Ausdehnung der rumlichen Interferenzen wird durch die beschränkte Kohärenz solcher Lichtquellen reduziert. Dies kommt einer Beschränkung des Meßbereichs des Verfahrens gleich.

Claims (9)

  1. Patentanspruche 1. Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Oberflachenformen dadurch gekennzeichnet, daß die Objektoberfläche von einem bewegten Lichtraster ausgeleuchtet wird derart, daß die Zahl der Hell-Dunkel-Wechsel in einem Objektpunkt ein eindeutiges Mag für eine Ortskoordinate des betreffenden Punkts ist und diese Zahl durch Abbildung des betreffenden Punkts auf einen Photodetektor aus dem Photosignal dieses Detektors auf elektronischem Wege ermittelt wird.
  2. 2. Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Oberflächenformen nach Anspruch 1 dadurch gekennzeichnet, daß der Lichtraster durch Interferenz zweier ebenen Wellen erzeugt wird.
  3. 3. Verfahren und Vorrichtung zur Messung von Oberflächenformen nach den obigen Anspruche dadurch gekennzeichnet, dap die Hell-Dunkel-Wechsel in den einzelnen Meßpunkten mittels einer Fernseh-Array-Kamera, einer Randcm-Access-Kamera oder einer anderen entsprechenden Vorrichtung registriert werden.
  4. 4. Verfahren und Vorrichtung nach den oben angeführten Ansprüchen dadurch gekennzeichnet, daß die zu messende Ortskoordinate mit Hilfe der Periodendauer der Hell-Dunkel-Wechsel an einem Meßdetektor und der Periodendauer der Hell-Dunkel-Wechsel an einem ortsfesten Referenzdetektor bestimmt wird.
  5. 5. Verfahren und Vorrichtung nach den obigen Ansprüchen dadurch gekennzeichnet, daß Polarwinkel und Aplikate eines Zylinderkoordinatensystems durch entsprechende Orientierung der Mepdetektorachse festgelegt werden.
  6. 6. Verfahren und Vorrichtung nach den obigen Ansprüchen 1 - 4 dadurch gekennzeichnet, daß Polarwinkel und Aplikate eines Zylinderkoordinatensystems durch die Photoempfängeradressierung einer zweidimensionalen rechnergesteuerten Random-Access-Kamera festgelegt werden.
  7. 7. Verfahren und Vorrichtung nach den obigen Ansprüchen 1 - 4 dadurch gekennzeichnet, daß eine eindimensionale rechnergesteuerte Random-Access-Kamera benutzt wird und durch Bewegen entweder der Kamera einschließlich der Beleuchtungsvorrichtung oder des Meßobjekts die Abtastbewegung in die zweite Koordinatenrichtung realisiert wird.
  8. 8. Verfahren und Vorrichtung nach den obigen Ansprüchen 1 - 4 dadurch gekennzeichnet, daß der Mepdetektor mit starr orientierter optischer Achse einschließlich der Beleuchtungsvorrichtung eine eindimensionale Abtastbewegung über die Objektoberfläche nacht.
  9. 9. Verfahren und Vorrichtung nach den obigen Ansprüchen 1 - 4 dadurch gekennzeichnet, daß der Meßdetektor mit starr orientierter Optik scher Achse einschlieplich der Beleuchtungsvorrichtung eine zweidimensionale Abtastbewegung über die Objektoberfläche macht.
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4338321C1 (de) * 1993-11-10 1995-01-12 Fraunhofer Ges Forschung Verfahren zur Erfassung einer Oberflächenverformung mittels Interferometrie
WO2013050007A1 (en) * 2011-10-03 2013-04-11 Ustav Pristrojove Techniky Akademie Ved Cr, V.V.I. Method and apparatus for measuring shape deviations of mechanical parts
CN106840030A (zh) * 2017-03-29 2017-06-13 中国科学院上海应用物理研究所 一种二维长程面形检测装置及检测方法

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