DE3249420C2

DE3249420C2 - Device for testing and sorting elongated electronic components, in particular integrated chips

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Publication number: DE3249420C2
Application number: DE19823249420
Authority: DE
Inventors: Ekkehard Ing.(Grad.) 8011 Zorneding Ueberreiter; Hans Heinrich Dipl.-Ing. 8000 München Willberg
Original assignee: Multitest Elektronische Systeme 8200 Rosenheim De GmbH
Current assignee: Multitest Elektronische Systeme 8200 Rosenheim De GmbH
Priority date: 1982-05-10
Filing date: 1982-05-10
Publication date: 1985-04-18
Also published as: DE3249420A1

Abstract

Bei einer Vorrichtung zum Prüfen und Sortieren von länglichen elektronischen Bauelemente, insbesondere integrierten Chips, soll verhindert werden, daß die durch Schwerkraft auf ein Stopelement vor der Prüfstation auftreffenden Bauelemente infolge des Aufschlages beschädigt werden. Dazu wird das Stopelement mit einem elastischen Puffer versehen. Um jedoch zu verhindern, daß die auftreffenden Bauelemente zurückfedern, wird außerdem dem Stopelement im Führungskanal eine Abbremseinrichtung für die Bauelemente vorgeschaltet.In a device for testing and sorting elongated electronic components, in particular integrated chips, the aim is to prevent the components hitting a stop element in front of the test station from being damaged as a result of the impact. For this purpose, the stop element is provided with an elastic buffer. However, in order to prevent the impacting components from springing back, a braking device for the components is also connected upstream of the stop element in the guide channel.

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Prüfen und Sortieren von länglichen elektronischen Bauelementen, insbesondere integrierten Chips, mit einer Prüfanordnung, der die Bauteile über einen Führungskanal durch Schwerkrafteinwirkung zugeführt werden, mit einem Stopelement im Führungskanal, welches eine Durchlaß- und eine Stopposition einnehmen kann, wobei das ankommende zu prüfende Bauelement auf das sich zunächst in der Stopposition befindliche Stopelement auftrifft, dann von diesem zwecks Durchführung der Prüfung festgehalten und nach der Prüfung durch Umstellung des Stopelementes in die Durchlaßposition für die Weiterbewegung freigegeben wird.The invention relates to a device for testing and sorting elongated electronic components, in particular integrated chips, with a test arrangement that controls the components via a guide channel are fed by gravity, with a stop element in the guide channel, which a Can take passage and a stop position, with the incoming component to be tested on the first hits the stop element located in the stop position, then from this for the purpose of implementation held during the test and after the test by moving the stop element into the open position is released for further movement.

Derartige Vorrichtungen sind bekannt (EP-OS 7 650 und US-PS 37 27 757). Bei diesen bekannten Vorrichtungen trifft das Bauelement im freien Fall auf das als Metallzunge ausgebildete Stopelement auf. Dadurch besteht insbesondere bei empfindlichen integrierten Chips die Gefahr einer Beschädigung.Such devices are known (EP-OS 7 650 and US-PS 37 27 757). In these known devices the component hits the stop element designed as a metal tongue in free fall. Through this there is a risk of damage, particularly in the case of sensitive integrated chips.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, Stoßbeschädigungen der zu prüfenden Bauelemente beim Auftreffen auf das Stopelement zu verhindern.The invention is based on the problem of impact damage to the components to be tested upon impact to prevent the stop element.

Die Aufgabe ist erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß das Stopelement einen elastischen Puffer aufweist und daß dem Stopelement im Führungskanal eine Abbremseinrichtung für die Bauelemente vorgeschaltet ist.The object is achieved according to the invention in that the stop element has an elastic buffer and that the stop element in the guide channel is preceded by a braking device for the components.

Der elastische Puffer aliein hätte zur Folge, daß die auf das Stopelement auftreffenden Bauelemente durch den elastischen Stoß einmal oder sogar mehrmals nach Art eines auf den Boden auftreffenden Balles zurückspringen. Da die mittels eines Prüfadapters vorgenommene Prüfung nur im Ruhezustand erfolgen kann, müßte entsprechend gewartet werden, bis das Bauelement zur Ruhe gekommen ist Das hätte eine unerwünschte Begrenzung der Arbeitsgeschwindigkeit der Vorrichtung zur Folge. Das Zurückfedern wird bei der erfindungsgemäßen Vorrichtung durch die Abbremseinrichtung verhindert Diese sorgt dafür, daß die Geschwindigkeit des Bauelementes vor dem Auftreffen auf das Stopelement so stark reduziert wird, daß ein Zurückfedem nicht mehr erfolgt Obwohl auch das Abbremsen Zeit erfordert, kann dadurch dennoch die Arbeitsgeschwindigkeit der Vorrichtung höher angesetzt werden als ohne Abbremseinrichtung.The elastic buffer alone would have the consequence that the on the stop element impacting components once or even several times due to the elastic impact Bounce back like a ball hitting the ground. Since the made by means of a test adapter Check can only be carried out in the idle state, would have to be waited accordingly until the component has come to rest that would have an undesirable limitation of the operating speed of the device result. In the device according to the invention, the springing back is effected by the braking device prevents this ensures that the speed of the component before hitting the Stop element is reduced so much that there is no longer a spring back, although braking is also possible Requires time, the operating speed of the device can nevertheless be set higher than without a braking device.

Die Abbremseinrichtung kann gemäß einer zweckmäßigen Weiterbildung der Erfindung von einem in den Führungskanal einschwenkbaren Bremshebel gebildet sein. Durch eine derartige Ausbildung der Abbremseinrichtung ist es möglich, Bauelemente unterschiedlicher Bauhöhe in gewünschter Weise abzubremsen.According to an expedient development of the invention, the braking device can be of one in the Guide channel pivotable brake lever be formed. Such a design of the braking device it is possible to brake components of different heights in the desired manner.

Vorzugsweise sollte die Abbremseinrichtung elektromagnetisch betätigbar sein.The braking device should preferably be able to be actuated electromagnetically.

Eine andere zweckmäßige Ausgestaltung der Erfindung kann darin bestehen, daß der Abbremseinrichtung in Bewegungsrichtung der Bauelemente im Führungskanal eine Detektorunordnung vorgeschaltet ist, die bei Ansprechen auf ein sich vorbeibewegendes Bauelement die Abbremseinrichtung in Funktion setzt Die Detektoranordnung erlaubt es, die Bremseinrichtung in bezug auf die Bewegung eines ankommenden Bauelementes gezielt zu steuern. Bei Ausbildung der Abbremseinrichtung als Bremshebel wird dieser beispielsweise zunächst vorgeschwenkt, um das Bauelement stärker abzubremsen und danach zurückgeschwenkt, um die Bremswirkung bis zum Auftreffen des Bauelementes auf das Stopelement zu vermindern.Another advantageous embodiment of the invention can consist in that the braking device a detector disorder is connected upstream in the direction of movement of the components in the guide channel In response to a component moving past, the braking device activates the detector arrangement allows the braking device with respect to the movement of an incoming component controlled in a targeted manner. When the braking device is designed as a brake lever, this is initially, for example pivoted forward in order to brake the component more strongly and then pivoted back in order to achieve the braking effect to reduce until the component hits the stop element.

Als Detektoranordnung wird vorzugsweise eine optische Detektoranordnung, wie z. B. eine Lichtschranke verwendet.An optical detector arrangement is preferably used Detector arrangement, such as. B. used a light barrier.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird nachfolgend anhand der Zeichnungen beschrieben.An embodiment of the invention is described below with reference to the drawings.

F i g. 1 zeigt in einer perspektivischen Teilansicht eine Vorrichtung gemäß der Erfindung.F i g. 1 shows a partial perspective view of a device according to the invention.

F i g. 2 zeigt eine Seitenschnittansicht eines Führungskanals der in F i g. 1 dargestellten Vorrichtung, entspre- chend der Schnittline IV-IV in F i g. J.F i g. FIG. 2 shows a side sectional view of a guide channel of the FIG. 1 shown device, corresponding corresponding to the section line IV-IV in F i g. J.

Fig.3 zeigt einen Querschnitt durch den in Fig.2 dargestellten Führungskanal im Bereich der Prüfanordnung.
In Fig. 1 ist eine Vorrichtung 1 gezeigt, die dazu dient. Bauteile, und zwar insbesondere integrierte Chips (IC), von einer diese Bauteile in einer Vielzahl enthaltenden Abgabeeinrichtung 2 an eine Aufnahmeeinrichtung abzugeben, die sich im unteren Teil der Fig. 1 befindet, dabei jedoch nicht näher dargestellt ist. Die betreffenden Bauteile werden dabei in bzw. auf Magazinstangen angeliefert, die auf entsprechende Stangen 4 in der Abgabeeinrichtung 2 aufgesetzt werden oder die durch diese Stangen 4 gebildet werden. An dieser Stelle sei bemerkt, daß die Abgabeeinrichtung 2 bei der in F i g. 1FIG. 3 shows a cross section through the guide channel shown in FIG. 2 in the area of the test arrangement.
In Fig. 1, a device 1 is shown which is used. Components, in particular integrated chips (IC), are to be delivered from a delivery device 2 containing a large number of these components to a receiving device which is located in the lower part of FIG. 1, but is not shown in more detail. The components in question are delivered in or on magazine rods which are placed on corresponding rods 4 in the delivery device 2 or which are formed by these rods 4. At this point it should be noted that the delivery device 2 in the case of the FIG. 1

»)5 dargestellten Vorrichtung schräg angeordnet ist, so daß sich die in dieser Abgabeeinrichtung 2 enthaltenen Bauteile unter der Wirkung der Schwerkraft zu bewegen vermögen. In die betreffende Bewegungsbahn ist eine») 5 device shown is arranged obliquely so that to move the components contained in this delivery device 2 under the action of gravity capital. There is a

Vereinzelungsanordnung eingefügt, die jedoch hier nicht näher erläutert werden solLSeparation arrangement inserted, which, however, will not be explained in more detail here

Zu der Vorrichtung gemäß Fi g. 1 gehört neben der Abgabeeinrichtung 2 eine Führungsanordnung 3, die eine Wärmekammer sein kann und in der die einzelnen Bauteile, wie das in F i g. 1 mit 23 bezeichnete Bauelement, einer Prüfung unterzogen werden können. Die Prüfung erfolgt mittels eines Prüf adapters 43, auf dessen Funktionsweise im Zusammenhang mit Fig.2 und 3 noch näher eingegangen werden wird. Dieser Prüfadapter 43 ist mit einer Meßanordnung 7 verbunden, beispielsweise über ein entsprechendes Verbindungskabel.To the device according to Fi g. 1 belongs next to the Dispensing device 2 a guide arrangement 3, which can be a heating chamber and in which the individual Components such as the one in FIG. 1 with 23 designated component, can be subjected to a test. the The test is carried out by means of a test adapter 43, the mode of operation of which is checked in connection with FIGS. 2 and 3 will be discussed in more detail below. This test adapter 43 is connected to a measuring arrangement 7, for example via a corresponding connecting cable.

An die Führungsanordnung 3 schließt sich gemäß F i g. 1 im wesentlichen eine Weichenanordnung 10 an. Diese Weichenanordnung Iß ist gemäß; F i g. 1 an einem Tragblock 9 angebracht, der über eine Tragplatte 8 mit der Führungsanordnung 3 verbunden ist. Zu der Weichenanordnung 10 gehören gemäß F"ig. 1 zwei Weichenteile 11 und 12, die übereinander liegend angeordnet sind und die jeweils durch einen zagehörigen Elektromagneten verschiebbar sind. Außerdem ,cehört zu der Weichenanordnung 10 noch ein Endteil 13. Zu den Weichenteilen 11,12 und dem Endteil 13 gehören Abführungskanäle 16,17 und 18 für die Chips.The guide arrangement 3 is connected according to FIG. 1 essentially a switch assembly 10. This switch arrangement Iß is according to; F i g. 1 attached to a support block 9, which has a support plate 8 with the guide arrangement 3 is connected. To the turnout arrangement 10, according to FIG. 1, two switch parts 11 and 12 belong, which are arranged one above the other are and each by an associated electromagnet are movable. Besides, listen to the switch assembly 10 also has an end part 13. The switch parts 11, 12 and the end part 13 include discharge channels 16, 17 and 18 for the chips.

In F i g. 4 und 5 ist ein Teil des in F i g. 1 mit 3 angedeuteten Bereiches gezeigt. Dieser Bereich umfaßt einen Führungskanal 40, in welchem die von einer hier nicht näher beschriebenen Vereinzelungsanordnung einzeln abgegebenen Bauteile einer Stillsetzanordnung zugeführt werden. In F i g. 2 ist diese Stillsetzanordnung als Stopelement 41 angedeutet, das durch einen Elektromagneten gesteuert in seiner Längsrichtung hin- und herbewegbar ist und das an seinem vorderen Ende einen elastischen Puffer trägt Auf diesem elastischen Puffer liegt gemäß F i g. 2 ein Bauelement 23; auf, welches zuvor von der Vereinzelungsanordnung abgegeben worden ist.In Fig. 4 and 5 is part of the in FIG. 1 with 3 indicated area. This area includes one Guide channel 40 in which the isolation arrangement not described in detail here individually dispensed components are fed to a shutdown arrangement. In Fig. 2 is this shutdown arrangement indicated as a stop element 41, controlled by an electromagnet in its longitudinal direction back and forth is movable and which carries an elastic buffer at its front end on this elastic buffer is according to FIG. 2 a component 23; on which one before has been submitted by the isolation order.

Oberhalb des in F i g. 2 angedeuteten Bauelementes 23 ist eine At bremseinrichtung 42 angedeutet, bei der es sich um einen Abbremshebel handelt, der in Richtung des angedeuteten Pfeils schwenkbar ist. Mit diesem Hebel ist ein hier nicht näher dargestellter Elektromagnet verbunden, der den Hebel infolge elektrischer Erregung schnell in den Führungskanal 40 einschwenken und danach wieder herausziehen kann.Above the in F i g. 2 indicated component 23 is an At braking device 42 indicated in which it is a brake lever that can be pivoted in the direction of the arrow indicated. With this lever an electromagnet, not shown here, is connected to the lever as a result of electrical excitation can swivel quickly into the guide channel 40 and then pull it out again.

Die Bewegung der Abbremseinrichtung 42 wird durch eine Detektoranordnung 44 gesteuert, die sich im oberen Teil des Führungskanals 40 befindet und bei der es sich um eine Lichtdetcktoranordnung handelt. Stellt diese Detektoranordnung 44 das Passieren eines Bauelementes ?3 fest, so wird der Abbremshebel in die Bewegungsbahn des betreffenden Bauelementes 23 eingeschwenkt, um dessen Bewegung abzubremsen. Durch das anschließende Zurückziehen des Abbremshebels wird dann das betreffende Bauelement 23 mit relativ geringer Geschwindigkeit an das Stopelement 41 abgegeben, ohne von diesem anschließend wieder nach oben zurückzufedern.The movement of the braking device 42 is controlled by a detector arrangement 44, which is located in the is located upper part of the guide channel 40 and which is a light detector arrangement. Provides If this detector arrangement 44 detects the passage of a component? 3, then the brake lever is in the movement path of the relevant component 23 pivoted in order to brake its movement. By the subsequent retraction of the brake lever is then the relevant component 23 with relative low speed delivered to the stop element 41 without then back up from this spring back.

Auf der linken Außenseite des in Fig.2 ausschnittweise angedeuteten Führungskanals ist ein Pfüfadapter 43 angedeutet, der mit Prüfkontakten versehen ist, die an entsprechenden Anschlüssen des Bauelementes 23 in Anlage gebracht werden können. Die betreffenden Prüfkontakte verlaufen dabei in der gleichen Richtung wie die Anschlüsse des Bauelementes 23. wobei die be- t-s treffenden Prüfkontakie jedoch von den Anschlüssen des Bauelementes 23 zunächst einen Abstand haben können. Diese Prüfkontakte, die in Fig. 3 mit 51 bzw. 52 bezeichnet sind, können zangenartig aasgebildet sein, um die Anschlüsse des Bauelementes 23 fest zu eingreifen. Nach erfolgter Überprüfung des Bauelementes 23 können die Prüfkontakte 51 und 52 wieder auseiaandergeführt werden, was in F i g. 3 durch Pfeile angedeutet ist An dieser Stelle sei angemerkt, daß dk: in Fig. 3 eingetragene Schnittlinie IV-IV die Schaittelbene zeigt in der der Führungskanal in F i g. 2 gezeigt ist Im übrigen sei an dieser Stelle noch angemerkt, daß der in F i g. 2 und 3 gezeigte Bereich des Führtmgs- bzw. firüfkanals Teil einer Wärmekammer sein kann, wobei auf das jeweilige Bauelement 23 beispielsweise ein Warmluftstrom geblasen wird. On the left outside of the section shown in Fig.2 Indicated guide channel, a Pfüfadapter 43 is indicated, which is provided with test contacts, the can be brought into contact with corresponding connections of the component 23. The concerned Test contacts run in the same direction as the connections of component 23, whereby the bet-s The relevant test contacts, however, from the connections of the component 23 can initially have a distance. These test contacts, shown in Fig. 3 with 51 and 52 are designated can be formed like pliers in order to firmly engage the connections of the component 23. After the component 23 has been checked, the test contacts 51 and 52 can be moved apart again will be what is shown in FIG. 3 is indicated by arrows. At this point it should be noted that dk: in FIG registered section line IV-IV shows the Schaittelplane in which the guide channel in FIG. 2 It should also be noted at this point that the in F i g. 2 and 3 shown area of the guide and firef channel Can be part of a heating chamber, with a stream of hot air being blown onto the respective component 23, for example.

Die Arbeitsweise der hinsichtlich seiner einzelnen Elemente vorstehend näher erläuterten Vorrichtung kann so sein, daß die Vereinzelungsanerdnung jeweils nur ein einzelnes Bauteil aus der Abgabeiäirichtung 2 freigibt und daß dieses Bauteil dann von selbst den Führungskanal 40 hinunterfällt um dann anschließend mittels des Prüfadapters 43 überprüft 2* werden. Erst auf die anschließende Freigabe des betreffenden Bauteiles von der betreffenden Stillsetzanordnung (Stopelement 41) kann dann die Vereinzelungsanordnung wieder in Betrieb gesetzt werden, um ein weiteres Bauteil abzugeben. Die Weichenanordnung wird dabei durch die Meßanordnung 7 so gesteuert daß die von der Stillsetzanordnung abgegebenen Bauteile an die Aufnahmeeinrichtung weitergeleitet werden, beispielsweise um sie nach verschiedenen Qualitätskriterien zu sortieren.The mode of operation of the device explained in more detail above with regard to its individual elements can be such that the isolation grounding in each case only a single component from the dispensing device 2 releases and that this component then falls down the guide channel 40 by itself and then subsequently by means of of the test adapter 43 are checked 2 *. First up the subsequent release of the relevant component from the relevant shutdown arrangement (stop element 41) the separating arrangement can then be put back into operation in order to deliver a further component. The switch arrangement is controlled by the measuring arrangement 7 so that the shutdown arrangement released components are forwarded to the receiving device, for example to them to sort according to different quality criteria.

Hierzu 2 Blatt ZeichnungenFor this purpose 2 sheets of drawings

Claims

Patent claims:

1. Device "for testing and sorting of elongated electronic components, in particular integrated chips, with a test arrangement, to which the components are fed through a guide channel by heavy craft action, with a Stop element in the guide channel, which can assume a passage and a stop position, the incoming component to be tested on the sjcft initially in the stop position Stop element strikes, then held by this for the purpose of carrying out the test and after the test released by moving the stop element into the open position for further movement is, characterized in that the: stop element (41) is an elastic buffer has ims? that the stop element (41) in the guide channel föS a braking device (42) for the components (23) is connected upstream

2. Vorrkfetung according to claim 1, characterized in that » that the braking device (42) can be pivoted into the guide channel (40) by one Brake lever is formed

3. Vorrichuing according to claim 1 or 2, characterized characterized in that the braking device (42) can be actuated electromagnetically

4. Apparatus according to claim 2 or 3, characterized in that the braking device (42) in the direction of movement of the components (23) in the guide channel (40) is preceded by a DelektoratOrdnung (44) when speaking on a passing component (23) A ^T braking device (42) sets in function

5. Apparatus according to claim 4, characterized in that the detector arrangement (44) is an optical one Detector arrangement is